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单色铝射线光仪

仪器信息网单色铝射线光仪专题为您提供2024年最新单色铝射线光仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括单色铝射线光仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的单色铝射线光仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合单色铝射线光仪相关的耗材配件、试剂标物,还有单色铝射线光仪相关的最新资讯、资料,以及单色铝射线光仪相关的解决方案。

单色铝射线光仪相关的仪器

  • D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标: ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围:-110~168°●角度精度:0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 ●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸:1868x1300x1135mm ●重量:770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化(DBO)布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射
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  • Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪(XPS)是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台,ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术,打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置,带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身,操作便捷,快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合,实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术,使得XPI成像分辨率达1um,所得数据无探测器背底特征,无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm~900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点,确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合,用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度,确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具,可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统,可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件,包括: 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 单色能量色散X射线荧光元素分析仪产品介绍: 单色能量色散X射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品,能进行更为che底的分析 , 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测;可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向:可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具;快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测;技术参数:测试时间(单位:S):30s-1200s检测元素范围:Al-U之间的40种元素探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、药品、水质、土壤等电源:110-240 VAC工作温度:-5℃-50℃重量:<9 kg尺寸:30cmW*23cmL*26cmH
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  • DCCX-Beam™ 是一款可输出单色、聚焦X射线的X射线激发系统,它由低功率的X射线光管和双曲弯晶组成。这种即开即用的解决方案为要求的分析应用提供了高质量的x射线激发光束和突破性的性能。DCC X-Beam结构紧凑,易于使用的特点使得其可以直接集成到的客户的分析系统中。 特点与优势极高的单色X光通量对于XRF应用具有超高灵敏度聚焦X射线光束 增强空间分辨能力集成风冷系统集成快门模式遵从PTB条例无油封装即开即用功能安全联锁功能包含计算机控制软件可选项可提供PCS50控制电源DCCX-Beam™ 可以应用于对单色X射线光束有需求的多种应用。不同的镜片光学设计可以使其适用于XRF,XRD,XRR和医学的成像应用。双弯晶单色器使得输出的X光具有极高的单色性,Ka/Kb 比率高达1000:1。高的单色性其可以提高收集数据的质量和探测的灵敏度。如下是DCC X-Beam典型型号的输出参数。XOS同时可以根据客户的需求,提高定制的解决方案。
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  • X射线衍射弯晶 400-860-5168转3524
    弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备, 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等;同时致力于开发多种 结构的弯晶构型,包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试, 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律,即当入射X射线与晶体晶格相互作用时,会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状,能够精确控制X射线的衍射效应,从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1,衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一,使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试,对各种弯晶材料进行了全面的研究,总结出相应的的性能特点,可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶,并对各种弯晶构型做了详细测试,综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用,XRF能够在激发端有效降低荧光背景,检出限相比传统能谱方案降低一个数量级,如硫的检出限可达到1ppm以下,符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦,部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时,检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级,测硫方案符合ASTM 7039标准;部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值,还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务,将设计、制作和调试打包成一体,为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器,即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持,保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。
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  • X射线散射弯晶 400-860-5168转3524
    弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备, 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等;同时致力于开发多种 结构的弯晶构型,包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试, 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律,即当入射X射线与晶体晶格相互作用时,会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状,能够精确控制X射线的衍射效应,从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1,衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一,使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试,对各种弯晶材料进行了全面的研究,总结出相应的的性能特点,可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶,并对各种弯晶构型做了详细测试,综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用,XRF能够在激发端有效降低荧光背景,检出限相比传统能谱方案降低一个数量级,如硫的检出限可达到1ppm以下,符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦,部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时,检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级,测硫方案符合ASTM 7039标准;部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值,还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务,将设计、制作和调试打包成一体,为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器,即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持,保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。
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  • 岛津X射线衍射仪XRD-6100 采用θ/2θ扫描方式,岛津特有的全聚焦弯晶后单色器,具有世界最高的X射线衍射效率,达到50%以上;独立的X射线光管控制系统,提高光管使用寿命的同时,也降低了操作人员接触X射线辐照的几率,达到本质安全防护等级;该机型整体配置技术成熟,稳定性较高,维护费用最低。
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  • X射线能量色散弯晶 400-860-5168转3524
    弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备, 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等;同时致力于开发多种 结构的弯晶构型,包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试, 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律,即当入射X射线与晶体晶格相互作用时,会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状,能够精确控制X射线的衍射效应,从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1,衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一,使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试,对各种弯晶材料进行了全面的研究,总结出相应的的性能特点,可以为客户提供优化设计的支持。石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶,并对各种弯晶构型做了详细测试,综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用,XRF能够在激发端有效降低荧光背景,检出限相比传统能谱方案降低一个数量级,如硫的检出限可达到1ppm以下,符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦,部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时,检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级,测硫方案符合ASTM 7039标准;部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值,还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务,将设计、制作和调试打包成一体,为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器,即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持,保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。
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  • X射线双曲弯晶 400-860-5168转2943
    使用双曲弯晶(DCC)可获得三维聚焦高度单色光。云母,石墨,硅,锗等晶体材料适用能量范围为1.5-58KeV。该晶体是基于布拉格衍射定律来实现对X光的反射。 特点&优势 • X-ray 三维点对点聚焦 • 高度单色光 • 俘获角度大 • 高射线强度增益 • 长焦距 • 超低本底背景 • 高探测灵敏度应用• 单色光 XRF• 单晶 XRD• 粉末 XRD• 微区分析• X-ray 反射 (Metrology)• X-ray 成像提供更好的 P/B 比例,为医学成像应用提高了对比度• 波长色散光谱仪 (WDS)典型应用:单色化X射线荧光单晶XRD粉末XRD波长色散光谱仪高衬度医学X射线成像X射线反射
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  • 仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准,许多X晶体学家伴随着D/max一起成长,D/max也陪伴着晶体学家而发展,D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW(新型旋转阳极靶) 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路,转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下) 8. 全自动调整(使用专用调试工具及软件),保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有: 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析
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  • 产品信息 产品名称:X射线分离行为分散仪 产品型号:LUMiReader X-Ray 产品介绍:LUMiReader X-Ray是特殊设计的分散体系分析仪:为了实时研究“完全透明到完全不透明”乳浊液、悬浊液、浆料、泡沫和粉剂的分散性、稳定性、分离和聚合现象。用全方位视野解决您具挑战性的分散体系问题。光线到不了的地方,我们的仪器可以。 我们的解决方案将X射线与久经检验的STEP- 技术结合在一起,容许高空间分辨率、短采样间隔和强大的检测技术。LUMiReader X-Ray使用的是单色平行X射线。超过1600个传感器记录下投射光束,给出的分辨率远超20mm高的整个样品管。实时记录的整个样品的动力学传输曲线会被转变成稳定性和分离度。颗粒浓度、沉积物堆积密度和X射线衰减量也可在消光图谱的基础上计算出来。 获得的空间-时间消光图谱让您能够测量并理解系统中的颗粒稳定性、相位差和沉积物聚合。 不管分散颗粒和液滴的形状或浓度,您现在可以优化您的配方,测量其稳定性并进行准确的保质期测试。实地、实时、无干扰且无破坏。 典型应用是制陶、化妆品、制药、颜料&染料、建筑材料和填充料,以及处理复杂乳浊液、泥浆和淤泥的采矿业和石油业。 无需稀释,无需预处理。对不透光或浓度高的样品,都能分析并解读。 针对您需要理解的不透光分散体系、泡沫、乳浊液或不可稀释的或稀释会产生未知副作用和后果的纯净微乳液的问题,LUMiReader X-Ray是您的贴心助手。 LUMiReader X-Ray设计时的想法是:让您能分析和理解集中且完全不透光的乳浊液和悬浊液。 LUMiReader X-Ray操作简单,容易上手。经过认证、工厂预校准且准备进入市场。原理 STEP 技术™ - 空间和时间的消光图谱 我们仪器的核心在于STEP技术(空间、时间消光图谱)。这项技术具有灵活性,能让您拥有洞察力,能让您对乳液和悬浮液有深入的理解。使用光源照射整个样品,并且使用多个传感器接收透过样品管后的光强度,得到消光图谱,我们就可以检测到样品成分和分离过程中样品的变化。 STEP-技术会给您带来快速、自由和灵活的测试手法。您可以选择对您的样品采用多点测试或采用单一点测试。您可以分析分散相粒子的沉淀和分层,以及真实的浓度范围。此外,您还可以测量:稳定性、粒径分布、沉淀/乳液和澄清率,推测保质期,特定产品,观察凝聚结,测量絮凝率和絮体强度,观察厚度和沉淀/乳液层密度,研究胶体的结晶,等等。 产品优势l - 在原位分析透明和不透明的微粒系统l - 没有稀释的乳液或悬浮液l - 信号不依赖于粒子形状l - 观测/研究复杂的分散行为l - 研究各种不稳定机制l - 多组分体系高分辨率l - 检测阶段和沉积物中的浓度梯度l - 确定平均和空间分辨堆积密度l - 可长期存储信息的样本行为连续监测l - 使用任何连续相的分散剂l - 实时,非侵入性和非破坏性l - 高质量控制,过程监控和研发的最终分析器操作简便、快速应用领域研磨料电池炭黑催化剂包覆颗粒化妆品陶瓷建筑材料润滑油磁性粒子微乳液金属矿物粉体纳米混悬剂油砂油漆涂料颜料硬质泡沫塑料有机硅乳液固体电解质产品规格测量原理单能X射线衰减相分离法高浓度分散体(透明或不透明)原位沉积物分析填充密度和结构稳定性分析几秒钟到几天或几周固结测量同时结合lumifuge,LUMiSizer符合标准ISO/TR 13097 CFR 21 Part 11样品种类 悬乳剂,悬浮液,乳液,泥浆,粉末,泡沫样品数1个样品容量0.3 ml 到 1.6 ml浓度高达 100%颗粒a任何形状,从纳米到微尺度,没有限制。 光源单能X射线,17.48 keV,最大20W,40V,空气和油冷却单色仪石墨干扰性没有运动部件尺寸(WxHxD), Weight47 x 24 x 44 cm, 25 kg电源24 V, 220 W, 适配器 (100 V to 240 V) 安全全辐射防护系统;辐射 1μSV/h(BFS 03 / 13 V R?V)辐射控制要求无,仪器可在任何地方使用。
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  • X射线波长色散弯晶 400-860-5168转3524
    弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备, 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等;同时致力于开发多种 结构的弯晶构型,包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试, 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律,即当入射X射线与晶体晶格相互作用时,会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状,能够精确控制X射线的衍射效应,从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1,衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一,使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试,对各种弯晶材料进行了全面的研究,总结出相应的的性能特点,可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶,并对各种弯晶构型做了详细测试,综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用,XRF能够在激发端有效降低荧光背景,检出限相比传统能谱方案降低一个数量级,如硫的检出限可达到1ppm以下,符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦,部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时,检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级,测硫方案符合ASTM 7039标准;部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值,还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务,将设计、制作和调试打包成一体,为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器,即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持,保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。
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  • 面探微区X射线衍射仪 400-860-5168转0879
    仪器简介:测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。 技术参数 1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶)2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm范围为-60度 &ndash +144度 3. 一次收集24. 专用观察样品的CCD摄像头5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um)6. 入射端前置单色器7. 附件齐全主要特点: 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性2. 薄膜样品的物相分析3. 织构分析4. 应力分析5. 纤维分析6. 高温测试
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  • 仪器介绍 X' Pert3 X射线衍射仪是预校准光路全模块化的X射线衍射仪可实现多种功能应用。不同光路系统及各种样品台等附件均可以实现更换。测角仪由于采用DOPS直接光学编码器,直流马达驱动,消除机械误差。配备多种光路及样品台模块:入射光有可编程发散狭缝、Mirror镜(平行光)、Lens镜(多毛细管透镜)、Monocapillary(单毛细管透镜)、 Hybird ( 平行光单色器)光源的利用效率;
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  • X射线吸收谱仪 400-860-5168转1382
    X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能:X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势:最高光通量产品:光子通量高于1000000光子/秒/ev,采谱效率数倍于其他产品,获得和同步辐射一样的数据质量;优异的稳定性:光源单色光强度稳定性优于0.1%,重复采集能量漂移50meV 1%探测极限: 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用:新能源:燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化: 纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态,与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等, 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学:用于各种材料表征,复杂体系和无序结构材料的研究, 放射性核素研究,表面、界面材料的相关性质研究,材料的动态变化过程研究。生物大分子:用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构,如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学:广泛用于玻璃,土壤,塑料,煤,铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析;动植物组织等样品分析;重金属污染检测等。
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  • 仪器简介:Miniflex600系列是世界上体积很小、 重量很轻的便携式X射线衍射仪。 主要特点: 台式X射线衍射仪MiniFlex600,外型小巧方便,具有近于高端分析仪器的测试性能,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域,是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析;Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查,劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪;Miniflex600系列是世界上体积非常小、重量非常轻的便携式X射线衍射仪。 * 打破以往X射线分析仪器常规,以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准; * 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计,使仪器移动、安装均能简单自如完成,可充分调整光学系统; * 安装后接入电源即可开始使用,操作简单,初学者也能轻松自如; * 具有超高性价比的MiniFlex600,为您开创轻松自由的X射线新时代。技术参数: 1. 很小很轻的X射线衍射仪。主机宽约1400px,高1625px,深925px;重量约76kg。 2. 测角仪为垂直式,放置样品方便。 3. 测角仪配程序式可变狭缝,改善低角度P/B,提高高角度强度。 4. 安全设计,放置样品时自动关闭X射线。 5. 非常优化的光路及新探测器,强度提高3倍 6. 软件丰富 7. 附件可配 8. 计数端单色器,扣除K&beta 荧光X射线,提高P/B比 9. 旋转样品台 10.六样品自动交换器。 主要的应用软件有: 1. 多重记录 2. 定性分析 3. 定量分析 4. ICDD数据库管理 5. 环境粉尘专用定量软件
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  • 仪器简介:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件(理学独有)11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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  • 仪器简介:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件(理学独有)11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等 主要特点:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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  • 仪器简介: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。 技术参数:1. X射线发生器功率为3KW 2. 测角仪为水平测角仪 3. 测角仪最小步进为1/10000度 4. 测角仪配程序式可变狭缝 5. 高反射效率的石墨单色器 6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有) 7. 小角散射测试组件 8. 多用途薄膜测试组件 9. 微区测试组件 10. In-Plane测试组件(理学独有) 11. 高速探测器D/teX-Ultra 12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC 13. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等主要特点: 组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有:1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld结构分析5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析
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  • 小型X射线光管 400-860-5168转2831
    小型X射线光管 我们的M25, M47, M54和M237微型x射线光管是精密x射线发生器,专为需要小尺寸和低功耗的应用而设计。该源包括一个微型密封x射线管与传输型端窗和高压电源封装在一个单一的辐射屏蔽单元。光源是专门设计用于手持式,便携式或台式x射线仪器的组件。小型X射线光管特点:紧凑的设计-理想的手持,便携式和台式仪器低功耗-兼容电池操作易于操作-模拟控制接口集成设计-无高压电缆加工金属外壳-精密安装和校准x射线Omnishield&trade - 360度轻重量辐射屏蔽宽锥角- 110度全宽x射线锥角螺纹适配器准直应用-可选小型X射线光管应用:◆ X射线荧光分析(XRF)◆ 金属分选◆ OEM◆ 过程控制◆ 科研◆ 教学◆ X射线成像医学 小型X射线光管指标参数:M25M54M237M47Metal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramic5kV-50kV5kV-50kV35kV-70kV5kV-50kV0-200uA0-200uA5-200uA0-200uA4W4W10W10WTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentBe,125umBe,125umBerylliumBe,125umTransmissionTransmissionTransmissionTransmissionAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,W2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)5-12VDC5-12VDC11VDC11VDCGrounded anodeGrounded anodeGrounded anodeGrounded anode<0.1%<0.1%<0.1%<0.1%Silicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shielded -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃Air cooLEDAir cooledAir cooledAir cooled90% max(non-condensing)90% max(non-condensing)30%-90%90% max(non-condensing)Approx,385gApprox,385g<700gApprox,400g 另外,可提供X射线滤光片等器件,详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 新的D8 ADVANCE 衍射仪——真正的“智能化”衍射仪布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供全球保证!先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。元器件自动识别及配置元器件互换无需调整,弹指间实现光路互换在一台设备上集成多功能,而且轻松实现功能互换系统智能纠错技术指标: ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围:-110~168°●角度精度:0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管 ●探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸:1868x1300x1135mm ●重量:770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了布鲁克X射线衍射仪 D8 ADVANCE的操作,使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用,该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预,即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换,且无需人工干预,是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化(DBO)布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能,可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外,LYNXEYE全系列探测器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器,适用于所有波长(从Cr到Ag),具有高计数率和好的角分辨率,是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率,着实出色,是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它,您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100%过滤,而且无需金属滤波片,因此数据也不会存在伪影,如残余K?和吸收边。同样,也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证:交货时保证无坏道!应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射
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  • 产品介绍:由狭缝造成的寄生散射是X射线分析中是众所周知的问题,用户和制造商不得不调整实验装置以避免这种现象。更低光子通量造成实验时间增加,更大光束截捕器造成分辨率下降,额外配置防散射针孔造成光束塑形针孔到样品距离增加,以及总体更低信噪比造成数据质量下降。新型SCATEX针孔基本不产生寄生散射,并且克服了上述问题: 因此,防散射针孔可被移除,系统尺寸缩小,分辨率与光子通量提高,数据质量得到改善。 产品特点:无针孔寄生散射分辨率与光子通量增强针孔的调整校准更加简便快速无需放散射针孔可提供特殊的解决方案同步辐射以及家庭实验室SAXS系统成功验证应用介绍:常规实验室系统上的应用常规实验室中的SAXS仪器通常使用三针孔准直系统,其中前两个针孔用于限定光束的大小与发散角, 第三个针孔充当防辐射针孔以用来吸收孔径产生的寄生散射,如下图所示。与此相反,SCATEX针孔在常规实验室SAXS装置应用中具有很高的潜力,因为其提高光子通量同时降低主光速路径长度。下图中体现了SCATEX针孔大幅度抑制寄生散射。Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.图中的两种类型针孔(即市售Pt/Ir常规针孔和SCATEX锗针孔),其大小相同(均为300μm),其最后的成像效果都是在同样的没有放置防辐射针孔的两针孔SAXS设备条件下进行的。所测试的孔被在一次束并作为光束限定针孔居中地对准。同步辐射上的应用无散射锗针孔以下测试都是C.Gollwitzer在同步辐射(BESSY II)的PTB的具有四晶体单色器光束线站上进行,其输出能量为8kev,光通量大于1010ph/s。所有的测试针孔作为光束限定针孔被放置于主光束中心进行校准,同时没有使用防辐射针孔。下面对不同的针孔进行了比较:1、铜箔的500μm针孔;2、市售的500μmPt/Ir针孔;3、锗制SCATEX针孔。即使在10倍的测量时间下,SCATEX针孔引起的寄生散射少2- 3个数量级。由于SCATEX针孔优异的结构质量,其展示了在更高Q值空间散射的减少和环形的散射图案。Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.公司介绍:德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善,为重工业,化学,制药,半导体产业,生命科学和纳米技术提供解决方案,是可靠,高效和用户友好型产品,具备德国制造的精髓。
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  • TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀,专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测,可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物,进行定量和半定量多重元素微量分析,为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧,便于携带和运输,非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点,是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面,使得操作简单、直观,即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素,也可以根据检测需求进行元素扩展,分析近30个元素,大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比,TXRF采用特殊几何配置,有效降低了辐射暴露风险,更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持,确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析,非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计,缩短了探测器到样品距离,提高了荧光产量,适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品,降低了散射和荧光背景,实现了更低的背景噪声,检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备,国产TXRF通常具有更高的性价比,同时设计用于低能耗运行,需要的样品量少,减少了对昂贵试剂和标准物质的需求,另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品,成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm(L×H×W)重量≤15KG(不含电池)核心技术全反射X射线荧光(TXRF)元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl,颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器,超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等
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  • X射线衍射仪 (XRD) 伊凡智通软包电池作为电池和电池材料的一种组装方式,在科研和工业领域发挥越来越重要的作用。原位XRD作为表征电池材料在充放电过程中的结构变化重要手段,也已被学术和工业界广泛接受。常规原位XRD采用的是反射式的扣式电池模具,虽然组装方便,可以重复使用,但由于密封性的问题,其长期循环性往往得不到保证。而软包电池可以循环上千次,更有利于研究材料的长期循环性能。软包电池原位透射XRD系统采用钼靶X光管,光学器件为聚焦Johansson单色器。 探测器为1维阵列X射线探测器。X射线从软包电池的一侧垂直入射,衍射光从另外一侧穿出后汇聚在探测器表面。从而获得高强度和高分辨的X射线图谱。原位透射XRD可以获得软包电池全部深度范围内的衍射信号,而且可以同时获得正负极材料的原位XRD信息。原位透射XRD允许样品具有特定的厚度,尤其是聚焦透射XRD,样品可以具有一定的厚度而衍射峰的分辨率不受影响。X射线衍射仪 (XRD) 伊凡智通本设备可以和电化学工作站连用, 实现充放电和XRD数据采集的精确控制。 软包样品台可以实现-30摄氏度到300摄氏度的温度控制, 以进行软包电池在不同温度下的原位XRD测试和电池的高温失效研究。 原位透射XRD光路示意图钴酸锂软包电池原位透射XRD数据展示 单个数据测量时间: 300秒
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  • 产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线,X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中,对于光束的在线表征,可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90%的透射率,可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱(XES)。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏,如在电池研究中,2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏,如在电池研究中,2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断,x射线自由电子激光,桌面x射线激光原位X射线发射谱测量
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  • Thermo Scientific K-Alpha,一体化结构的X射线光电子能谱仪(XPS)。性能先进、高性价比、操作简便、结构紧凑,是现代实验室和企业的shou选仪器。采用全新的生产技术,在K-Alpha的设计中集合了所有这些优势。K-Alpha X射线光电子能谱仪Thermo Scientific* K-Alpha是一款完全集成的单色化小光斑X射线光电子能谱(XPS)系统。性能卓越,拥有成本降低,易用性提高和尺寸紧凑使得K-Alpha成为许多现有以及新研发的表面分析应用领域理想解决方案。K-Alpha是专为多用户环境推出的di一款XPS工具,从样品进入到报告生成完全实现自动化工作流程。专为生产率而设计,从研究分析到日常测试Thermo Scientific K-Alpha是一款完全集成的X射线光电子能谱。获奖的zui新版K-Alpha平台特征光谱性能显著提高,提供更高计数率和更快分析时间,改善化学探测能力。分析选配件包括一个角分辨XPS倾斜模块和一个循环惰性气体手套箱,用于转移空气敏感样品。K-Alpha带来一系列激动人心的新软件特征,旨在进一步增强用户体验。K-Alpha是专为多用户环境而设计,先进的单色X射线光电子能谱性能与智能自动化及直观控制相结合,同时满足有经验XPS分析人员及新人对此项技术的需求。强大的性能 可选区域光谱 深度剖析刻蚀 微聚集单色器 快照采集 高分辩率化学态光谱 绝缘样品分析 定量化学成像 无与伦比的易用性Avantage,完整XPS软件包具备: 控制——Avantage软件控制所有硬件 界面——点击样品实验导航 定义——自动化样品传送 采集——谱图、成像、剖析和线扫描 诠释——元素和化学态识别 过程——定量、峰拟合和实时剖析显示 光谱——成像处理,PCA,相分析,TFA、 NLLSF、PSF删除,光学/XPS像叠加 报告——自动化报告生成,简易输出至其它软件包 Avantage索引数据档案管理 审计跟踪记录 系统性能记录 校准要求——全谱仪源除气和设置 全遥控操作主要特征分析器——180°双聚集半球分析器-128通道检测器X射线源——铝Ka微聚集单色器-可获取的光斑大小(5微米步长30至400微米)离子枪——能量范围100至4000 eV电荷中和——又束流-超低能量电子束样品安装——四轴样品台-60 x60毫米样品区域-zui大样品厚度20毫米真空系统——2个220 l/s涡轮分子泵用于进样室和分析室–自动开机,3灯丝TSP数据系统——Avantage数据系统–过程许可–计算机选配件——倾斜角分辨XPS模块–惰性气体手套箱用于空气敏感样品安装产品应用领域氧化石墨烯的物理化学变化测控、半导体晶片上的超薄薄膜结构分析、分层太阳能电池、触摸屏复合涂层的检测评估、等离子表面改性、钢铁表面钝化工艺评估、BN玻璃、MEA燃料电池、耐磨镀层石油催化剂成像、食品安全——聚合物包装材料、MAGCIS深度剖析单一头发纤维。
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  • 面探微区X射线衍射仪D/max RAPID  测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。   技术参数   1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶)   2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm   范围为-60度 – +144度?3. 一次收集2   4. 专用观察样品的CCD摄像头   5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um)   6. 入射端前置单色器   7. 附件齐全   主要特点:   面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。   主要的应用有:   1. 粉末样品的物相定性   2. 薄膜样品的物相分析   3. 织构分析   4. 应力分析   5. 纤维分析   6. 高温测试
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  • QC3 高分辨率X射线衍射仪简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的zui新机型,专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史,并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化,并可根据客户产品的具体需求,度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂,实现半导体晶圆片的自动化装载,在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片,或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片,并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单,有效减少人工操作及干预,提高测试效率。 产品特色及优势• 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射,未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。• 与前期质量控制型设备相比,提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下,可提高测试精度。在相同测试精度的条件下,将提高测试速度。• 降低了设备及附件的购置和维护成本。• 更低的运行成本。• XRGProtect™ 可以有效延长X射线光管的使用寿命。• 环保的绿色工作模式,待机时有效降低能耗。• 可依据客户需求,选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂,具备多片批次式同时测试的功能,提高生产测试效率。• 操作简便,无需专业人才操作。• 完全自动化准直、测量晶圆片,数据分析自动化• 工业界ling先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。• 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。• 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。
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  • 仪器简介:岛津X射线衍射仪XRD-6100 采用θ/2θ扫描方式,岛津特有的全聚焦弯晶后单色器,具有世界最高的X射线衍射效率,达到50%以上独立的X射线光管控制系统,提高光管使用寿命的同时,也降低了操作人员接触X射线辐照的几率,达到本质安全防护等级;该机型整体配置技术成熟,稳定性较高,维护费用最低。 售后服务:岛津制作所具有遍布世界各地的产品销售和售后服务网络,自1923年在柏林开办事务所以来,岛津的科学技术不断向全世界展开,目前岛津在世界各地建立了几十家分公司和十多家的独资企业,成为世界上分析仪器领域最大的供应商之一。岛津制作所于1978年在北京设立了在中国大陆的第一家办事处以来,已陆续设立了上海、广州、沈阳、成都、南京、重庆、云南、西安等13个分公司。以上办事处直接负责日本岛津制作所在中国大陆地区的业务;目前岛津公司在上海,北京,广州,沈阳,成都设立了分析测试应用中心,分析中心配备有岛津公司最新型号的各类分析仪器,旨在提高中国分析人员分析应用技术的水平和加强中日双方在分析领域的学术交流与合作。
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  • TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀,专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测,可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物,进行定量和半定量多重元素微量分析,为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧,便于携带和运输,非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点,是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面,使得操作简单、直观,即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素,也可以根据检测需求进行元素扩展,分析近30个元素,大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比,TXRF采用特殊几何配置,有效降低了辐射暴露风险,更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持,确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析,非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计,缩短了探测器到样品距离,提高了荧光产量,适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品,降低了散射和荧光背景,实现了更低的背景噪声,检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备,国产TXRF通常具有更高的性价比,同时设计用于低能耗运行,需要的样品量少,减少了对昂贵试剂和标准物质的需求,另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品,成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm(L×H×W)重量≤15KG(不含电池)核心技术全反射X射线荧光(TXRF)元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl,颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器,超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等
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