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单色铝射线光仪
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单色铝射线光仪相关的方案
奥龙集团:利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
一、实验目的1.概括了解X射线衍射仪的结构及使用。2.练习用PDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。图实2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样( )及探测器(2 )进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
奥龙集团:Y-2000型X射线衍射仪测定钛铁矿中金红石含量的一种方法
99.5%),配制成一定比便的混合样品,使加入的纯金红石型二氧化钛在混合样品中所占一定的比例R′。3 试验条件本试验使用的钛铁矿样品为广西某矿。试验在国产X射线衍射仪上进行,试验参数:扫描方式:连续扫描 波长:1.54178KX滤光片:Ni 驱动方式:双轴联动扫描速度:0.01度/秒 单色器:石墨弯晶单色器 X光管:Cu靶 发散狭缝:1° 探测器:正比探测器 管电压:30KV 防散射狭缝:1° 起始角度:22° 管电流:20mA 接收狭缝:0.2° 终止角度:30°4 试验结果 本试验所配的混合样品R′为2%,对钛矿粉和混和样品分别有X射线衍射仪进行检测,得出X射线衍射图谱。由峰型处理软件得出IR,I R′,代入公式中,计算出钛矿中的金红石含量,结果如下:R′IRI R′金红石含量(R)2%1 9501 9551.9%2%1 9231 9401.9%2%1 9641 9731.9%5 结论 随着钛白行业的日益发展,钛铁矿资源日趋紧张,矿的质量也参差不齐,结生产带来了不稳定因素,尤其是某些矿中含量不定的少量金红石,对生产的收率和操作难度都带来了较大的影响。 本方法是作者从事质检工作的过程中发现的,试验在丹东射线仪器有限责任公司生产的Y-2000型X射线衍射仪上进行,虽然检测的为微含量物质,系统误差影响较大,但本试验采用净积分强度计算的方法,有效地降低了杂峰的影响,使测定的准确度有了进一步的提高,并且结果且有较高的可信度,在我厂的生产实践中也证明了这一点。目前,已用这种方法进行了多次检测,取得了较好的效果。
IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用
在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时,对于系统稳定性的要求提出了更高的要求。在整个过程中实验过程中,必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力,表现出优异的性能。IDS3010在40小时内具有优于1.25nm的稳定性,并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300pm的分辨率。因此,IDS3010是对所述X射线显微镜装置中使用的所有部件进行机械控制的不二选择,使得整个X射线显微镜实现了40nm的分辨率,而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45nm。
XRD应用分享 | X射线反射率
作为一种非破坏性的表面敏感技术,X 射线反射率(XRR)普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。 当X射线的入射角高于临界角时,X 射线束可以部分地透射进薄膜从而在界面反射。
X射线激发的时间分辨光谱解析闪烁体能量转移过程
液体闪烁体探测器被广泛用于中微子和天体粒子检测实验。linear alkylbenzene (直链烷基苯 (LAB))这种液体闪烁体被广泛应用于大规模检测测试中。LAB 是一种极具发展潜力的闪烁体,因为它成本低、闪点高、毒性低,使其比之前常用的有毒和易燃有机闪烁体更易处理。LAB 通常与2,5-二苯基氧佐尔(2,5-diphenyloxazole,PPO) 一起使用,可提高发光效率并将发射光谱延长至到更长的波长。LAB/PPO闪烁体探测系统已用于Daya-Bay1和 RENO2中微子检测实验,也是即将推出的 SNO+3和JUNO4探测器的闪烁体。使用爱丁堡仪器 FLS1000 和 XS1 X射线样品室附件研究了 LAB/PPO 在不同 PPO 浓度下的 X 射线激发发光衰减特性。随着PPO的浓度从1g/L增加到 20 g/L,主要衰变组分的寿命从 7.1ns减少到 1.7 ns。XS1 X射线样品室附件将 FLS1000 PL光谱仪的功能扩展到 X射线领域,为开发新型闪烁体材料创造了强大的表征工具。
能量色散 X 射线荧光能谱仪 (EDXRF) 分析空气过滤器
美国国家环境保护局 (U.S. EPA) 承诺改善美国的空气质量,这使得愈加迫切需要监测住宅、工业和娱乐场所过滤器采集的大气颗粒物中的特定元素。X射线荧光光谱法由于其无损检测特性、超高的灵敏度而成为了分析与空气监测样品的方法。Thermo Scientific™ ARL™ QUANT’X 型能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 是测定空气过滤器采集的多种元素浓度的理想选择。台式仪器能够分析元素周期表中从钠到镅的元素,并且需要制备的样品最少。ARL QUANT’X 型能谱仪配备了先进的硅漂移探测器 (SDD),具有出色的分辨率,可减少光谱干扰,同时具备出色的响应能力。确保达到较大的立体角,可有效收集X射线。高通量铑阳极管的设计保证了可从X射线管直接激发,或通过选择九种不同的滤波器定制激发,提高了对各种元素的灵敏度。
X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。
熔融制样-X射线荧光光谱法测定铝土矿中主次组分
样品用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融,以消除矿物效应和粒度效应,并铸成适当形状的玻璃片,用X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立主次组分的校准曲线,实现对铝土矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析铝土矿样品,分析结果与标准值在允许误差范围内,能满足此类样品日常检测的需要。
4D原位同步辐射X-射线层析显微测量以及激光加热研究油页岩热解
采用LaVison的DVC体视全场形变应变分析软件包,对动态X-射线断层扫描结果数据进行分析。同时辅以激光加热,观察到了页岩油样件内部,随着温度升高,裂纹断裂的产生和发展。将X-射线断层扫描,DVC和激光加热结合起来研究页岩油热解过程,可以对优化碳氢燃料提取过程提供有用信息。
奥龙集团:应用X射线衍射仪分析铝基氧化铜吸附剂的硫化性能
介绍了制备DS01 型铝基氧化铜脱硫剂的方法。对脱硫剂进行了烟气循环脱硫2再生的实验 ,采用 X射线衍射分析了铝基氧化铜对硫氧化物的吸附性能。热态实验和测试分析表明 ,DS01型铝基氧化铜吸附剂硫化性能稳定 含量 6.2%CuO 的吸附剂在 X2射线衍射图谱上没有发现 CuO晶相 ,表明吸附剂表面出现单层分散 使用该脱硫剂进行烟气多次循环脱硫,CuO微晶粒并没有发生明显的团聚现象,表明吸附剂多次循环使用其活性不减。
X射线荧光光谱法测定铝合金中主次元素
铝及铝合金的性质概括起来主要有以下几个方面:?比重小、导电性好、导热性好、强度高、可塑性好、抗腐蚀性强。变形铝及铝合金牌号众多,共计约130个牌号;铸造铝及铝合金约30个牌号。按照YST860-2020《铝及铝合金中化学元素的分析方法 X射线荧光光谱法》的要求,我们展开实验。经过实验得出,X射线荧光光谱法可以很好的测试和覆盖Al、Cu、Si、Mg、Mn、Zn、Cr、Ni、Ti、Pb、Sn、Ga、Zr等元素的分析,测试精度良好,准确度可以达到标准的要求。
IDS3010在X射线成像中提高分辨率的应用
在硬X射线成像中,每个探针平均扫描时间的减少对于因为束流造成的损伤是至关重要的。此外,系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中,扫描时间主要取决于装置的稳定性。Attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010(升之后的型号为IDS3010),被用于优化由多层波带片(MZP)和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性的测量。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。Attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量,装置的成像分辨率被提高到了± 10nm。
波长色散型X射线荧光光谱仪可快速分析氧化铝中主次成分
氧化铝是一种用途非常广泛的工业原材料, 由于硬度较大可用作磨料,抛光粉。高温烧结的氧化铝,称人造刚玉或人造宝石,可制机械轴承或钟表中的钻石。氧化铝也用作高温耐火材料,制耐火砖、坩埚、瓷器、人造宝石等,氧化铝也是炼铝的原料。而在实际的生产过程中,需要测定其中的主次元素含量,但在高纯的氧化铝粉中,杂质组分一般都在几十个ppm的浓度水平。近些年中国的氧化铝工业快速发展,产量远远高于世界平均水平,X射线荧光光谱法作为标准分析方法《GB/T6609.30-2009》,可以准确、快速进行化学组分的测定,为生产控制提供参考也就显得尤为重要。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质
本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分,采用粉末压片法制样,以氧化铝行业标准样品建立校准曲线,曲线线性良好,正确度在可接受范围之内,相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验,确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察,同一样品重复测定多次,极差在允许范围之内,方法精度良好,满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
深度制冷直接探测CCD相机在XUV、软X射线和极紫外(EUV)光谱中的应用
在研发过程中,工程师发现发现这种直接检测CCD和光栅的组合可以简化设置。使用宽度为25um或更小的狭缝,可以很容易地检测到汞184.9nm的发射线。这意味着可以在不制冷的传感器甚至光谱仪中没有真空的情况下观察到汞发射线。以这种方式在空气和环境温度CCD探测器中操作,可以在工作台上设置和聚焦251MX仪器。在初始测试期间,不需要操作真空系统或提高探测器的性能。
“安保卫士”?“排爆专家”?奥林巴斯X射线衍射技术“拍了拍”自己!
目前利用X射线光谱的相关检测技术已经逐渐成熟,并被广泛使用。奥林巴斯的X射线衍射仪(XRD)有助于执法人员顺利完成工作,因为这些衍射仪可以对各种物质进行定性和定量的相分析,可分析的物质包、爆炸物/危险物,以及需由法医专家和海关人员分析的材料。这款分析仪带有一个用于处理样品的独特系统,因为无需完成复杂的样品准备工作,因此操作人员可以方便地将分析仪运送到不同的地点。
GNR X射线衍射仪(XRD)对石棉的测试
APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X射线管具有优良的重现性和稳定性;创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作,双重安全电路保护设计。
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
X射线照射导致有机物的表面老化
介绍了在X 射线照射后受到损伤的两种有机物的测定事例。该损伤导致的化学状态或者成分变化对XPS 测定数据的分析带来重大影响。因此,建议在尽可能低的X 射线功率下进行测定,但需要注意的是,照射X 射线强度和得到的信号强度成正比
空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法
近年来,流行病学研究表明,暴露在富含颗粒物(PM)的空气环境中会对健康产生不利影响。这些研究表明,为了了解它对人类健康的影响,不仅需要了解这些颗粒物的来源、传输媒介,而且还必须研究它们的化学组成及物理性质。本文使用X射线驻波及全反射X射线荧光法两种方法检测大气中PM2.5含量。
矿物的X射线衍射测试报告
本实验中,使用浪声映SHINE型X射线衍射仪进行测试,将岩石制成150-200目的粉末样品,在给定的测试条件下,用X射线衍射仪对样品进行扫描 ,取得相应岩石的X射线衍射图谱 ,利用软件进行矿物定性解 译和半定量分析。
普析:X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究
由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1小时烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20~30℃)吸水16至24小时;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比。该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本。
X射线荧光光谱仪一“眼”识铂_助力汽车催化剂回收
汽车催化剂中的铂元素,作为一种贵金属,通过奥林巴斯X射线荧光光谱仪的分类和适当处理,分拣出汽车催化剂中的铂元素,实现资源的循环利用,使得原本被废弃的铂族金属在未来还有“发光发热”的时刻。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Br
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Br等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Zn
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Zn等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料Ca
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂中Ca等元素进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料
岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂成份进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。
X射线衍射仪对药品的动态研究
X射线衍射是用于医药产品结构和物相表征的金标准。是药物发现到预配制、配方,再到稳定性、质量控制等一系列过程中常见的表征技术。在研究原料药的固体剂型、结晶度和生物利用度等方向都有具体的应用。具体的说,XRD通常会被应用于特定原料药的多晶型、盐和共晶的研究。此外,XRD还用于跟踪产品的结晶过程,用于测定最终产品的结晶度、配方的稳定性以及在受控环境下的反应活性。根据应用范围和测量需求,应当选用不同类型的XRD仪器和配置。例如:在QA/QC实验室中,台式XRD仪器将是多晶型和盐筛选问题最经济有效的解决方案,并且可以用于确定物质的结晶度;而立式高分辨率XRD则更加适用于药物的广泛研究。
使用X射线衍射仪和能量色散X射线荧光能谱仪研究 5G 天线开发中的陶瓷材料
随着对无线数据传输需求的逐年增长,人们对传输速度和存储容量的需求也在不断扩大。考虑到 6 GHz 以下的传输频段已经过于拥堵,因此,人们正在研究将 10 GHz 以上的大部分未使用的频谱用于第五代无线数据传输平台 (5G)。为确保产品的质量和性能,控制混合物和原始化合物的化学和结构组成都至关重要。对于常规质量控制/质量保证 (QC/QA) 过程,以及在研究实验室中进行的更为复杂的分析,最简单、最方便的解决方案是将能量色散X射线荧光能谱仪 (EDXRF) 和X射线衍射仪 (XRD) 组合使用。
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