电流分布测试仪

泄漏电流测试仪是用于测量电器的工作电源通过绝缘阻抗或分布参数阻抗产生的与工作无关的泄漏电流的仪器，其输入阻抗模拟人体阻抗，泄漏电流测量包括接触电流和保护导体电流的测量，具有适应测试范围广、测试精度高的优点。具有操作简单、读数方便、精度高、体积小，是各级计量部门首选的泄漏电流测试仪器。 泄漏电流测试仪能够将测试的直流和各种频率正弦波、三角波、方波等波形的交流电流， 以及各种复合波交流电流转换为有效值；除了测试地线漏电流外，还可测试可接触件之间的漏电流，以及其他部位的漏电流。泄漏电流测试仪具有测试电压、泄漏电流、测试时间同时显示的功能，测试报警值可连续任意设定，相位可自动转换，具有合格、不合格声光报警，击穿保护等功能。 泄漏电流测试仪适用于家用电器和电机、电脑、电子电气设备、电子仪器等其他电器产品的安全测试需求，也是实验室、技术监督部门不可缺少的检测设备，泄漏电流测试仪广泛应用于石油天然气管道、煤气管道、油库、电气化铁路、地铁以及相关维护工程等。

微孔分布测试仪主要应用领域：催化剂，广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域；吸附剂，如活性炭、分子筛、活性氧化铝等，广泛用于环保领域；颜填料，无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等；陶瓷材料原料，氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等；新型电池材料，如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料；发光稀土粉末材料；磁性粉末材料，如四氧化三铁、铁氧体等；纳米粉体材料，包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料，纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等；其他，如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等　　微孔分布测试仪的主要特性：　　测试时间：多点BET法比表面积平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟　　主要功能：可实行BET比表面积（多点及单点）测试，Langmuir比表面积测试，炭黑外比表面积测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；　　真空系统：极限真空度6×10-2Pa　　微孔分布测试仪测量范围：比表面积≥0.01M2／g至无规定上限，孔尺寸0.7～400nm；　　样品数量：可同时测定1-4个样品；　　测量精度：≤±2％；　　微孔分布测试仪的压力控制：高精度压力传感器，数字显示，精度0.2％，独特的充气与抽气速度自动控制系统　　运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试　　测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗量极小　　微孔分布测试仪的吸附过程：样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少　　软件系统：在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；

我单位需购买一台激光衍射粒度分布测试仪，测试样品为对苯二甲酸，现用筛分法测定粒度分布，粒度从45um到大于250um,平均粒度在110－－130um之间。现要求如下：1当然要准确。2分析速度快。3能同时给出体积比和重量比 4仪器操作简单，但用工作站控制。 5仪器维护方便，比如样品池易清洗，更换镜头方便或不用换镜头。初步打算选择英国马尔文公司Mastersizer 2000型或美国贝克曼LS系列。请各位老大给个建议，特别是用过的老大！！！如果那位有LS系列的详细资料请发给我邮箱zyxdbox@yeah.net谢谢！！！！

我公司须购买安标测试仪器，其中泄漏电流测试仪，要求符合《GB-4793.1-2007 测量、控制和实验室用电器设备的安全要求 第一部分：通用要求》。《GB12113-2003-T 接触电流和保护导体电流的测量方法》（是测量接触电流、泄漏电流仪器的基础性标准） 上述两个标准对测试仪器的输入电阻有了新的规定，要求在100Hz和1MHz以下能够模拟人体电阻，使测试结果符合人体接触电流的实际情况。但是，经过咨询，目前所了解的仪器生产厂都不能达到标准要求。新的标准《JJG 843-2007 泄露电流测试仪（检测规程）》却不符合上述标准？这是为什么？[em0715]

http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em0818.gif有出售各类泄漏电流测试仪，请速提供资料！急用！YD2653系列泄漏电流测试仪高亮度荧光屏VFD显示，醒目、美观相位自动转换过零启动、过零切断功能测试时间、报警值可连续设定测试数据自动保存可选配PLC接口型号YD2653YD2653A电压测试范围50V-250V(AC)电压显示分辨率1v电压显示准确度3%电流测量范围0.01mA-20mA电流显示分辨率0.01mA(2-20)mA 0.001mA(0.001-2)mA电流上下限设置0.01mA-20mA电流显示准确度3%隔离变压器容量500VA[/

某计量院校准某品牌泄露电流测试仪出不了CNAS校准证书，说该设备不在授权范围，但又提供不出对外公布证据，提前查询能力表也没提，请问如何投诉？费用，时间都有损失

JJG843-2007泄漏电流测试仪

[color=#3f3f3f]日前，山东省计量科学研究院电子与电磁计量研究所根据泄漏电流测试仪的实际工作状态，提出了采用宽频电流源法对测量网络进行校准的方案，研制了高频电流源，理论推导了输入输出电流的关系，设计了利用高频电流源对泄漏电流测试仪测量网络进行校准的方法，通过直接输入电流的方式对泄漏电流测量网络进行校准，最终通过实验验证了方法的可行性，相对于高频电压源法，该方法更符合实际工作状态。[/color][color=#3f3f3f]据介绍，泄漏电流测试仪通过模拟人体阻抗网络，仿真人体接触电气设备时的实际状况，以此测量电气设备的泄漏电流。电气设备一般采用交流供电，随着电子开关技术被广泛应用于电源系统和设备中，电路中产生了高频谐波电压和高频谐波电流，这些高频信号流过人体时同样对人体造成伤害，因此泄漏电流的测量不仅局限于工频，同样要考虑高频信号。[/color][color=#3f3f3f]根据泄漏电流的人体效应（感知或反应、摆脱、电灼伤），GB/T 12113（IEC 60990接触电流和保护导体电流的测量方法）分别定义了不同的测量网络。目前国际上主要利用高频电压源对泄漏电流测试仪的测量网络进行计量，GB/T 12113给出了采用高频电压源进行校准的方法。[/color][color=#3f3f3f]2018年7月，国际精密电磁测量大会（CPEM2018）在法国巴黎举行，来自美国NIST、中国NIM、英国NPL等50个国家的500多位电磁领域计量专家参会，山东省计量院研究员马雪锋参加了此次会议并现场张贴了论文《利用宽频电流源法对泄漏电流测试仪测量网络的校准》，得到了与会专家的关注，实验方法得到了同行的认可。[/color]

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒分布测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出粒度分布就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目

[align=center][size=21px]南京长盛[/size][size=21px]CS2675BX[/size][size=21px]泄漏电流测试[/size][size=21px]仪使用[/size][size=21px]心得[/size][/align][align=left][/align][align=left][size=16px] 电气安全性指标里有泄漏电流、漏电流、[/size][size=16px]接触电流[/size][size=16px]等，这几个指标看起来有点类似，但实际上还不太一样，漏电流是做绝缘强度时的漏电流，泄漏电流是被测设备接在[/size][size=16px]242VAC[/size][size=16px]电源上测试的零火线对地线的泄漏电流，[/size][size=16px]接触电流[/size][size=16px]有人接触或模拟人接触时仪器对地的电流。下面说说泄漏电流测试及泄漏电流测试[/size][size=16px]仪使用[/size][size=16px]心得。[/size][/align][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230924093518_6184_2369266_3.jpeg[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230924096531_6859_2369266_3.jpeg[/img][/align][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230924107718_8047_2369266_3.jpeg[/img][/align][align=left][size=16px] 用[/size][size=16px]泄漏电流测试仪[/size][size=16px]测试设备[/size][size=16px]泄漏电流[/size][size=16px]，需要先把被测设备接到泄漏电流测试仪的测试端口上，仪器前面板和后面板都有测试端口。设置测试电压，按国标要求电压是[/size][size=16px]242V[/size][size=16px]交流电压，持续时间是[/size][size=16px]30s[/size][size=16px]。[/size][size=16px]点击设备前面板上绿色启动键，[/size][size=16px]泄漏电流测试仪[/size][size=16px]对被测设备就有了[/size][size=16px]242VAC[/size][size=16px]的输出电压，被测设备开始工作。如果有紧急情况或停止[/size][size=16px]实验按[/size][size=16px]一下前面板上红色停止键即可。如果被测设备泄漏电流过大有危险时，[/size][size=16px]泄漏电流[/size][size=16px]测试仪[/size][size=16px]会自动[/size][size=16px]停止测试。测试零火线仪器前面板上有对应的零火线测试按键，按下或按上即可。仪器前面板右侧还有[/size][size=16px]在[/size][size=16px]通和断的条件下[/size][size=16px]对被测仪器[/size][size=16px]测试[/size][size=16px]的按键，还有测试一类仪器（台式仪器）和二类仪器（落地柜式仪器）测试的接口。功能还是挺多的，能测多种不同规格的仪器多个测试项目。[/size][/align][align=left][size=16px] 该款[/size][size=16px]泄漏电流测试[/size][size=16px]仪[/size][size=16px]功能[/size][size=16px]较多，方便不同规格和接线方式的仪器的测试，可测试项目也较多，操作简单，安全可靠，价格还便宜，很适合常规测试和检验使用。[/size][/align]

求版友提供 JJG843—2022泄漏电流测试仪检定规程电子版！？谢谢

序号 设备名称 设备型号 1 灼热丝试验仪 ZRS-2 2 漏电起痕实验仪 LDQ-1 3 针焰实验仪 ZY-1 4 淋水测试仪 LS-1 5 通用安全组合测试仪 SI-40 6 泄漏仪负载电源 XLLD-20 7 电源恒温鼓风-燥箱 101-3 8 防尘实验箱 10 盐水喷雾实验机 HT-8052C 11 电子式电动破裂强度实验机 HT-8020A 12 微电脑万能材料实验机 HT-8506A 13 电脑式伺服控制材料实验机 HT-2102 14 老化实验机 HT-8047A 15 恒温横湿试验箱 HS-500 16 无纸记录仪 EX-2 17 电流电压校准仪 JJ2671-AV 18 大型立式分布光度计 GMS-2000 19 光谱仪 WLD-1C 20 漆膜附着力实验仪 QFZ-II 22 三坐标测量仪 PH10MQ请各位知道的要务必帮忙啊，小弟先谢过了!

大家好，请问大家根据《JJG843-2007泄漏电流测试仪 》检泄漏电流仪时，用到的滑动电阻器多大的呢？哪一家公司，型号是什么？我们已经有一台8846A数字多用表了。

汪心妍；马雪锋；李文强；贾茹；王大龙；刘晓山东省计量科学研究院摘要：文章对[url=http://www.gfjl.org/forum.php?mod=forumdisplay&fid=31]JJG[/url] 843—2022《泄漏电流测试仪[url=http://www.gfjl.org/thread-599-1-1.html]检定规程[/url]》中的部分新修订条款和执行过程中遇到的难点及疑问进行了解释和说明，从适用范围、准确度等级、测量网络、泄漏电流示值[url=http://www.gfjl.org/thread-175264-1-1.html]误差[/url]、试验电压示值误差等方面进行阐述，便于计量检定人员加深对该规程的理解，正确执行该规程。（原件见附件）[font=Tahoma, &][color=#444444][/color][/font]

请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒计数测试？2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪，想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内，给出颗粒数就可以已经问过SGS,天祥，华测都没这个测试项目另公司还有一台Beckman Coulter LS13320, 不知道可不可以做2-50um 这样的规格，不过好像只能做分布，不计数的本人做化学仪器类的，对物理类的不懂请大家帮帮忙

[align=center][size=18px][color=#131b59][b]1、耐电压测试仪结构及组成[/b][/color][/size][/align][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](1)升压部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]调压变压器、升压变压器及升压部分电源接通及切断开关组成。[/size][size=14px]220V电压通过接通，切断开关加到调压变压器上调压变压器输出连接升压变压器。用户只需调节调压器就可以控制升压变压器的输出电压。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](2)控制部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]电流取样，时间电路、报警电路组成。控制部分当收到启动信号，仪器立即在接通升压部分电源。当收到被测回路电流超过设定值及发出声光报警立即切断升压回路电源。当收到复位或者时间到信号后切断升压回路电源。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](3)显示[/size][/font][/b][/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px]电路[/size][/font][/b][/size][size=14px]显示器显示升压变压器输出电压值。显示由电流取样部分的电流值，及时间电路的时间值一般为倒计时。[/size][size=14px]以上是传统的耐电压试验仪的结构组成。随着电子技术及单片，计算机技术飞速发展 程控耐电压测试仪这几年也发展很快，程控耐压仪与传统的耐压仪不同之处主要是升压部分。程控耐压仪高压升压不是通过市电由调压器来调节，而是通过单片计算机控制产生一个50Hz或60Hz的正弦波信号再通过功率放大电路进行放大升压，输出电压值也由单片计算机进行控制，其它部分原理与传统耐压仪差别不大。[/size][align=center][/align][align=center][size=18px][color=#131b59][b]2、耐电压测试仪的选用[/b][/color][/size][/align][size=14px] 选用耐压仪最重要的是2个指标，最大输出电压值及最大报警电流值一定要大于你所需要的电压值和报警电流值。一般被试产品标准中规定了施加高压值及报警判定电流值。如果施加的电压越高，报警判定电流越大，那么需要耐压仪升压变压器功率就越大，一般耐压仪升压变压器功率有0.2kVA、0.5kVA、1kVA、2kVA、3kVA等。最高电压可以到几万伏。最大报警电流500mA-1000mA等。所以在选择耐压仪时一定要注意这2个指标。功率选太大就会造成浪费，选的太小耐压试验不能正确判断合格与否。根据IEC414或(GB6738-86)中规定选择耐压仪的功率方法，我们认为是比较科学的。[/size][size=14px]“首先将耐压仪的输出电压调到规定值的50%，然后接上被试品，当观测到的电压降小于该电压值的10%时，则认为耐压仪的功率是足够的。[/size][size=14px] 也就是如果某一产品的耐压试验的电压值为3000伏，先把耐压仪的输出电压调到1500伏后接上被试品，如果此时耐压仪输出电压下降的值不大于150伏，那么耐压仪的功率是足够的。被试品的带电部分与外壳之间存在分布电容。电容存在一个CX容抗，当一个交流电压施加在这CX电容两端就会引成一个电流。这个电流的大小与CX电容的容量成正比与施加的电压值成正比，当这个电流大到或超过耐压仪最大输出电流时，这台耐压仪就不能正确判别试验合格与否。[/size]

漏电开关测试仪，又叫漏电开关检测仪、漏电保护器测试仪、剩余电流动作保护器检测仪、剩余电流动作保护器测试仪、是工程质量监督站和建筑公司必备的检测仪器，可以测量漏电开关的动作时间和动作电流。最新的 LCT—GX2型漏电保护器测试仪主要用于测试漏电保护器的漏电动作电流、漏电不动作电流以及漏电动作时间。单相、三相漏电保护器均可测试。漏电保护器 动作特性 单片机 断电检测 低压配电系统中装设漏电保护器（剩余电流动作保护器）防止电击事故的有效手段之一，也是防止漏电引起电气火灾和电气设备损坏事故的技术措施。 漏电开关测试仪主要用于测试漏电保护器的漏电动作电流,漏电不动作电流以及漏电动作时间，适用于检测漏开关/电源插头线的导通极性,绝缘,线芯高压性能。漏电开关测试仪可广泛应用于供电部门，农电部门，漏电保护器生产厂家，建筑、矿山、机床等行业的劳动安检部门以及广大电工。

变压器直流电阻测试仪的主要功能及特点如下：　　1、采用高速16位A/D转换器，测量数据稳定，重复性好。　　2、自动程控电流源技术，电流源共设1000个电流档位，由内部微控制器根据被测电阻自动控制，从而达到比较宽的测量范围和最佳的测量状态，无须手动切换电流换档。　　3、响应速度快，在测量状态可以直接转换分接开关，仪器会自动提示，新的电阻值很快就会显示出来。　　4、高度智能化设计，功能设置巧妙先进，可自动判断测试线虚接、断线等故障。　　5、智能化功率管理技术，可有效减轻仪器内部发热。　　6、变压器直流电阻测试仪可储存120次测量数据，掉电不丢失。　　7、全部汉字菜单及操作提示，直观方便。　　8、保护功能完善，能可靠保护反电势对仪器的冲击，具有自动放电指示功能。　　9、变压器直流电阻测试仪可显示测量电流和测量时间。

[align=center][/align][align=center][img=,361,450]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190701/156197148029231.jpg[/img][/align][align=center][b]显微热分布测试系统[/b][/align]LED的诞生是现代生活的一大进步，LED在逐渐成长的过程中，伴随许多失效、故障等问题，然而这些问题的罪魁祸首首指发热问题，LED的发热不均往往会成为LED功能降低甚至失效的原因，为此，金鉴采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造高精智能化的测试体系,整合出一套显微热分布测试系统，价格远低于由国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正应证了“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”这句话。金鉴显微热分布测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清芯片晶道；高低温数显精密控温系统，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。[b]与传统红外热像仪相比，金鉴显微热分布测试系统优点显著：[/b][align=center][img=,715,864]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154647612434531.jpg[/img][/align][color=#666666][/color][color=#666666][/color][align=center][/align][b]应用领域：[/b][color=#666666]芯片电极设计、芯片来料检验、失效分析、灯具热分布测量、灯具灯珠芯片升温热分布动态采集、集成电路失效分析、无损失效分析。[/color][color=#666666][/color][b][/b][color=#666666][b]金鉴显微热分布测试系统特点：[/b][/color][b]1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。[/b]LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微热分布测试系统可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。[align=center][img=,500,323]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364372896451.jpg[/img][/align][align=center]芯片热分布图[/align][align=left][b]2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效[/b]LED光源的光热性能受温度的影响较大，脱离实际工作温度所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。而金鉴自主研发的显微热分布测试系统配备有高低温数显精密控温平台，能稳定控制灯珠引脚温度和基板温度，模拟模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。该测试平台还配备有水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题，该系统还可以稳定控制样品台温度维持在0℃-室温，适用于一些需要保持低温工作的器件。[/align][b]3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测[/b]金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可以保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。工程师可以利用显微热分布测试系统记录灯具发热红外视频，分析出在不同的工作时间，灯具温度变化和温度分布情况，在此基础，达到分析评估LED灯具散热效果，寻找异常温度区域，定位关键失效点。（1）手机可直接录制1000帧热像视频，没有电脑也能自动采集数据。（2）自定义采样速率（最快5帧/秒）。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20170822/150338472976931.gif[/img][/align][align=center][b]灯具温升变化图[/b][/align][align=center][img=,666,300]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364376732981.jpg[/img][/align][align=center][b]灯珠芯片温升变化图[/b][/align][b]4.热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。[/b]专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。[align=center][/align][b]5.支持12个点，12个框和3条线的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。[/b][align=center][img=,399,377]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364402379501.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]时间温度曲线： [/b] [align=center][img=,399,256]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364403442621.jpg[/img][/align][b]三维温度图：[/b][align=center] [img=,399,287]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364428040661.jpg[/img] [/align][b]6.手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。[/b][align=center][b] [img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364429058891.jpg[/img][/b][/align]手机可直接录制1000帧热像全辐射视频；温变过程实时捕捉；没有PC也能自动采集数据。[b]7. 定制化的热像分析软件[/b]金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR针对LED产业开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，更适合LED失效分析、研发测试，纠正多种错误测温方式，开发新的应用领域。具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。[align=center][/align][b]案例一：[/b]客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH[align=center][img=,666,200]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180824/153509640881861.jpg[/img][/align]灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。[b]案例二：[/b]某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。[b]对漏电灯珠通电光学显微镜观察：[/b]金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。[align=center][img=,380,176]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364441723001.jpg[/img][/align][b]对漏电灯珠显微红外观察：[/b]使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。[align=center][img=,500,340]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364442845471.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]死灯芯片负极金道FIB切割：[/b]根据显微热分布测试系统仪的测试数据，金鉴工程师把芯片失效原因定位到芯片自身结构问题上，因此对死灯灯珠芯片靠近负极电极烧毁位置下方的金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，铝（Al）层与第1层铬（Cr）层结合良好。芯片负极的铝层厚度约为100nm。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364468261691.jpg[/img][/align][b]死灯芯片正极金道FIB切割：[/b]金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364469315711.jpg[/img][/align][b]案例三[/b]：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。[b]对大尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615185081841.gif[/img][/align][b]对小尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615186735561.gif[/img][/align][align=center][/align][b]案例四：分析固晶工艺[/b]1. 某公司灯珠发生死灯，开封后可以观察到外延层烧毁、金道烧毁、电极脱落。[align=center][img=,500,376]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616504555201.png[/img] [/align]进一步对失效品灯珠进行金相切片，可以观察到失效品灯珠芯片与固晶胶存在剥离现象。（备注：固晶胶采用的导热绝缘胶）[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616575577541.png[/img] [/align]3. 进一步取固晶胶剥离与未剥离的灯珠芯片，使用金鉴实验室自主研发的热分布测试仪，对固晶胶剥离与未剥离芯片进行热分布测试比对，比对结果如下图所示：[align=center][img=,666,226]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650720866911.png[/img][/align]结果显示：固晶胶剥离灯珠芯片表面温度比未剥离芯片表面温度高约110℃，温度相差极大。分析原因，固晶胶脱落导致热量无法通过灯珠支架顺利传导出去，造成芯片周围环境温度变高，灯珠芯片温度升高。该芯片负极区域发热量大，芯片工作环境温度升高时，芯片负极区容易出现温度过高烧毁。 [b]案例五：判定多芯片灯珠发热情况[/b]客户送测LED灯珠，委托金鉴进行灯珠体检，帮助提升其产品性能和质量。[b]显微热分布测试灯珠芯片热分布：[/b][align=center][img=,666,283]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650721893231.png[/img][/align]从热分布图中我们发现，该灯珠两颗芯片发热量不一致，A芯片表面温度为61.4℃，B芯片表面温度为70.7℃，温度相差9.3℃，这种情况将会严重影响灯珠性能及可靠性。其原因是：LED芯片较小的电压波动会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片热功率出现差异。客户针对此种情况，加强对来料芯片电压分BIN的卡控后，杜绝了该种异常现象，其灯珠性能及可靠性得到大大提高。[b]案例六：显示屏热分布监测[/b]PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！[align=center][img=,666,289]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650722679251.png[/img][/align][b]案例七：定位电源失效区域[/b]委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190107/154682171825381.png[/img][/align][b]案例八：电源失效分析 [/b]委托单位反馈该款电源在使用约一年时间后出现烧毁失效，委托金鉴查找电源失效原因。金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行温度测试，碳膜电阻R9温度高达157.4℃，热敏电阻温度为101.0℃。一般建议碳膜电阻的最佳工作温度为70℃以下，热敏电阻的工作温度在120℃以内，而该电源中碳膜电阻在157.4℃温度下满载工作，因此工程师迅速锁定了该异常点。[align=center][img=,500,348]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190226/155117698126591.png[/img][/align][align=center][/align][align=center][img=,400,158]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126072273961.jpg[/img][/align][align=center][/align][quote][quote]（1）实测尺寸：I=15.84mm；D=5.3mm ； H=22.3mm。[/quote][quote]（2）参照电阻色环可知碳膜电阻R9阻值为68kΩ±5%。[/quote][quote]（3）根据电阻尺寸与额定功率的关系可知，该碳膜电阻R9的额定功率为2W，进而由欧姆定律P=U2/R可推算出其额定电压为369V。[/quote][/quote]由于碳膜电阻R9的实测工作温度为157.4℃，根据如下电力减轻曲线可知，155℃温度下的实际使用功率应为额定功率的5%左右，即0.1W左右，根据欧姆定律P=U2/R推算在155℃温度下可以使用的实际额定电压U=82V。而实际使用碳膜电阻R9的电压为366V，说明碳膜电阻R9处于超负荷使用状态，长期超负荷使用可能导致电阻值出现漂移，进而造成同一回路中的其他器件烧毁，发生电源烧毁失效。[align=center][img=,550,337]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126323736781.png[/img][/align][align=center][/align]对正常电源和烧毁电源中的碳膜电阻进行电阻测试，结果显示：正常电源碳膜电阻阻值为67.5kΩ，烧毁的电源同一回路中的碳膜电阻阻值为88.3kΩ，证实碳膜电阻阻值已出现漂移。[align=center][img=,500,210]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126342955601.png[/img][/align]电阻参数在高温下出现漂移，长期使用会影响电阻的寿命和可靠性，建议委托单位优化电源设计，避免电源器件在高温下长期超负荷使用。

大家好，请问大家根据《JJG843-2007泄漏电流测试仪 》检泄漏电流仪时，用到的滑动电阻器多大的呢？

耐压测试仪是指给变压器规定的绕组外施一电压，该电压不低于2倍的额定电源电压，频率不小于2倍最低额定频率；要求在该电压按规定持续的时间内绕组无灼热、飞弧、击穿或损伤等迹象；要求耐压测试仪前后额定工作电源下的空载电流和功耗无明显的变化。 耐电压强度也可称耐压强度、介电强度、介质强度。绝缘物质所能承受而不致遭到破坏的最高电场强度称耐电压强度。在试验中，被测样品在要求的试验电压作用之下达到规定的时间时，耐压测试仪自动或被动切断试验电压。一旦出现击穿电流超过设定的击穿（保护）电流，能够自动切断试验电压并发出声光报警。以确保被测样品不致损坏。 耐压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪，也有称介质击穿装置、绝缘强度测试仪、高压试验仪、高压击穿装置、耐压试验仪等。耐压试验仪将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分（一般为外壳）之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验。电器在长期工作中，不仅要承受额定工作电压的作用，还要承受操作过程中引起短时间的高于额定工作电压的过电压作用（过电压值可能会高于额定工作电压值的好几倍）。在这些电压的作用下，电气绝缘材料的内部结构将发生变化。当过电压强度达到某一定值时，就会使材料的绝缘击穿，电器将不能正常运行，操作者就可能触电，危及人身安全。 耐压试验仪相对于变压器的主绝缘即绕组之间以及绕组与铁芯之间的绝缘而言，变压器还有另外一项重要的绝缘指标---纵绝缘。纵绝缘是指变压器绕组具有不同电位的不同点和不同部位之间的绝缘，主要包括绕组匝间、层间和段间的绝缘性能，而国家标准和国际电工委员会（IEC）标准中规定的“耐压测试仪”则是专门用于检验变压器纵绝缘性能的测试方法之一。 耐压测试仪主要达到如下目的： 检测绝缘耐压受工作电压或过电压的能力。检查电气设备绝缘制造或检修质量。排除因原材料、加工或运输对绝缘的损伤，降低产品早期失效率。检验绝缘的电气间隙和爬电距离。耐压测试仪是测量各种电器装置、绝缘材料和绝缘结构的耐电压能力的仪器，该仪器能调整输出需要的交流（或直流）试验电压和设定击穿（保护）电流。在试验中，样品在要求的试验电压作用之下达到规定时间时，耐电压测试仪自动或被动切断试验电压；一旦出现击穿，电流超过设定击穿（保护）电流，能够自动切断输出并同时报警，以确定样品能否承受规定的绝缘强度试验。它可以直观、准确、快速、可靠地测试各种被测对象的受电压、击穿电压、漏电流等电气安全性能指标，并能在IEC或国家安全标准规定的测试条件下，进行工频和直流以及电涌、冲击波等不同形式的介电性能试验。

真空度测试仪的使用注意事项如下：　　1、真空度测试仪属精密仪器，电路板布线密度较大，一般要求存放于较干燥的地方。若环境较潮湿，则应经常通电。　　2、若测试后电流值显示为零，应检查灭弧室表面是否清洁。因为表面不清洁可能使漏电的变化值大于电离电流值，这样，测量值减去漏电后小于零，而被仪器判为零。发生这种情况后，将灭弧室表面檫干净，再做试验，一般来说这样得到的真空度值较精确。　　3、在使用真空度测试仪时，高压输出线不得触及人体，以防触电。　　4、高压指示灯亮时，不要触及高压线和磁控电流线，以防触电。　　5、拆装打印纸在仪器先断电的情况下进行，以免损坏打印机。换纸时，将前面板打开，用食指和拇指捏紧打印机两端的两夹片轻轻拖出打印机，使出纸口略高于仪器面板，但不能拖出距离太大，将新纸端口部分剪成尖头状，插入打印机的进纸口，打开仪器电源开关，按下打印键，使纸从打印机的上端走出一段距离，插入面板出口缝导出。盖好打印机面板，装纸完毕。　　6、真空度测试仪无任何用户可维修的部件,如出现故障,请专业人员维修,或与供应商联系,切勿擅自打开仪器,以免发生意外或造成不必要的损失。　　7、真空度测试仪真空度测量范围在9.999×10-1～1×10-5之间,离子电流测量范围在9.999×10-1～1×10-7之间，当真空管的真空度大于10-2Pa或离子电流大于500uA时建议该真空管报废。　　8、若真空管内压力等于大气压（即真空管破损），真空度测试仪测量范围内,本仪器则拒绝检测，返回初始状态。

耐压绝缘测试仪对各种高压电气设备、电器元件、绝缘材料进行工频或直流高压下的绝缘强度试验。 耐压绝缘测试仪是交流安全通用测试仪器,适合家用电器及低压电器的安全测试.漏电流值由粗调和细调旋钮调节。漏电流超差时自动切断测试电压，并发出声光报警信号。有外控端子。

表面电位测试、粒度测试、比表面积测试、氮气吸附法测孔径分布、氮气吸附法测孔容、压汞法测孔径分布、压汞法测孔隙率（或气孔率）、压汞法测孔容。表面电位/激光粒度测试仪器 型号：zeta plus（made in USA)；粒度测试范围：3nm~3um。比表面仪（氮气吸附法）型号：ASPA2010（made in USA） 孔径测试范围：1.7nm~300nm。压汞仪 型号：poresizer9320(made in USA) 孔径测试范围10nm~360um。流变仪 型号：SR5上海硅酸盐研究所国家重点实验室电话：52412224

耐压测试仪的基本原理：把一个高于正常工作的电压加在被测设备的绝缘体上，并持续一段规定的时间，如果其间的绝缘性足够好，加在上面的电压就只会产生很小的漏电流。如果一个被测设备绝缘体在规定的时间内，其漏电电流保持在规定的范围内，就可以确定这个被测设备可以在正常的运行条件下安全运行。耐压测试仪的主要构成：1）升压部分　　调压变压器、升压变压器及升压部分电源接通及切断开关组成。 　　220V电压通过接通，切断开关加到调压变压器上调压变压器输出连接升压变压器。用户只需调节调压器就可以控制升压变压器的输出电压。 （2）控制部分　　电流取样，时间电路、报警电路组成。控制部分当收到启动信号，仪器立即在接通升压部分电源。当收到被测回路电流超过设定值及发出声光报警立即切断升压回路电源。当收到复位或者时间到信号后切断升压回路电源。 （3）显示电路　　显示器显示升压变压器输出电压值。显示由电流取样部分的电流值，及时间电路的时间值一般为倒计时。 （4）程控耐压测试仪以上是传统的耐电压试验仪的结构组成。随着电子技术及单片，计算机技术飞速发展；程控耐压测试仪这几年也发展很快，程控耐压仪与传统的耐压仪不同之处主要是升压部分。程控耐压仪高压升压不是通过市电由调压器来调节，而是通过单片计算机控制产生一个50Hz或60Hz的正弦波信号再通过功率放大电路进行放大升压，输出电压值也由单片计算机进行控制，其它部分原理与传统耐压仪差别不大。

电池测试仪，主要用于检测电流、电压、容量、内阻、温度、电池循环寿命，并给出曲线图。电池测试仪有多个通道可供选择。可以单点启动，单点控制，同时测不同型号、类型的电池（镍氢，镍镉，锂电等）。电池测试仪根据电池的形态及电池组装后的成品分类，测试仪又可分为：电芯测试仪，成品电池测试仪，手机电池测试仪，笔记本电池测试仪，移动DVD电池测试仪，蓄电池测试仪，都可以做综合性能测试。