太谱测量

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

PMEye-3000光致发光光谱成像（PL-Mapping）测量系统是卓立汉光最新研制的，用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等，在生产线上的质量控制和实验室中的产品研发检测。该系统对样品的PL谱进行Mapping二维扫描成像，扫描结果以3D方式进行显示，使检测结果更易于分析和比较。该系统的软件窗口界面友好，操作简单，只需简单培训就能使用。测试原理：PL（光致发光）是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一种用于提供半导体材料的电学、光学特性信息的光谱技术，可以研究带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等。应用领域举例：LED外延片，太阳能电池材料，半导体晶片，半导体薄膜材料等检测与研究。 主要特点：◆ PLMapping测量◆ 多种激光器可选◆ Mapping扫描速度：180点/秒◆ 空间分辨率：50um◆ 光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆ Mapping结果以3D方式显示◆ 最大8吋的样品测量◆ 样品精确定位◆ 样品真空吸附◆ 可做低温测量◆ 膜厚测量一体化设计，操作符合人体工学PMEye3000 PL Mapping测量系统采用立式一体化设计，关键尺寸根据人体工学理论设计，不管是样品的操作高度和电脑使用高度，都特别适合于人员操作。主机与操作平台高度集成，方便于在实验室和检测车间里摆放。仪器侧面设计有可收放平台，可摆放液晶显示器和鼠标键盘。仪器底部装有滚轮，方便于仪器在不同场地之间的搬动。模块化设计PMEye-3000 PL Mapping测量系统全面采用模块化设计思想，可根据用户的样品特点来选择规格配置，让用户有更多的选择余地。激发光源、样品台、光谱仪、探测器、数据采集设备都实现了模块化设计。操作简便、全电脑控制PMEye-3000 PL Mapping测量系统，采用整机设计，用户只需要根据需要放置检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，避免了用传统方式固定样品而造成的损坏；可对常规尺寸的LED外延片样品进行精确定位，提高测量重复精度。两种测量方式,用途更广泛系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。监控激发光源,校正测量结果一般的PL测量系统只是测量荧光的波长和强度，而没有对激发光源进行监控，而激发光源的不稳定性将会对PL测量结果造成影响。PMEye-3000 PL Mapping测量系统增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对PL测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差。激光器选配灵活PMEye-3000 PL Mapping测量系统有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个405nm波长高稳定激光器。用户可以根据测量对象选配不同的激光器，使PL检测更加精准。可选配的激光器波长有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置选配激光器波长为：325nm。自动Mapping功能PMEye-3000 PL Mapping测量系统配置200× 200mm的二维电控位移台，最大可测量8英寸的样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等，扫描速度可高达每秒180个点，空间分辨率可达50um。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。 软件功能丰富,操作简便我们具有多年的测量系统操作软件开发经验，,熟悉试验测量需求和用户的操作习惯，从而使开发的这套PMEye-3000操作软件功能强大且操作简便。MEye-3000操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量，给定光谱范围的X-Y Mapping测量及根据测量数据进行峰值波长、峰值强度、半高宽、给定波长范围的荧光强度计算并以Mapping显示，Mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎涵盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。

组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成：在许多应用领域如材料学、生物学（叶绿素和类胡萝卜素）、生物医学（恶性病的荧光诊断）和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪，在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%，波长要长于激发光，而且是散射光。在荧光测量系统中，一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源，因其具有良好的单色性，杂散光低，能够较少的影响荧光的检测；2. 在光路上使用垂直90°配置，避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪，可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机系统优点：可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，通过不同配件的选择，不仅可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量；系统采用一体化的光学调校，可以完全固定在一块精密光学平板上，只需要在初次安装时进行调校，实际应用过程中只需要对样品进行简单调整，确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源：TLSE1805i-X150可调单色光源，采用150W氙灯● 激发光功率：0.3mW（@500nm，单色）● 激发光谱范围：250-1500nm（可选200-1500nm）● 激发光谱带宽：0.15-10nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 荧光光谱仪光谱范围：200-2500nm● 荧光光谱带宽：0.1-8nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.25nm（Ex），±0.2nm（Em）● 波长重复性：±0.1nm（Ex，Em）● 光探测器：光子计数级光电倍增管，200-850nm● 数据采集器：DCS200PC单光子计数器，计数率：100Mcps● 系统灵敏度：纯水拉曼峰信噪比：1,000:1（RMS@带宽5nm，积分时间1s）● 超大样品室设计，便于操作，并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器，特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算

SGM1040系列光谱测量工具包SGM1040系列光谱测量工具包此款产品是针对一般可见光和近红外测量透过率和吸光度的测试系统，此系统配置的高性能光谱仪覆盖了350 ~ 1020nm的波长范围，配合平衡光源、ND Filter、RGB片和比色皿等，借助特殊设计的多功能测试平台，可灵活实现各种测试， 完全满足教学使用要求。 该套产品所有部件均可打包在防水箱内，方便实际现场教学。 SGM1040系列光谱测量工具包特征■ 光谱范围 350 ~1020 nm■ 标准配置平衡光源，满足可见、近红外测试需求■ 高度集成的光谱测量平台，可实现透过率、吸收度等快速测量■ 丰富的附件配给■ 用户界面友好■ 适用严苛的环境（优异的温湿度、震动、与撞击稳定性。） ■ 内置CPU和内存、支持颜色参数计算■ 非常精确的连续多重曝光■ 适合物理,生物化学实验室和工业生产线SGM1040系列光谱测量工具包典型实验应用：■ 灯源光谱测量实验实验目的：认识各灯源的光谱特性实验内容：测量卤素灯灯源光谱、色温与色纯度■ 透射光谱测量实验实验目的：认识透过率及其测量方式。通过透过率测量实验，藉以获得未知物的透过率特性。数据库完整的情况下，还能根据未知物的透过率特性，判断未知物为何物。实验内容：测量红色试片、绿色试片、蓝色试片透过率■ 吸光度测量实验实验目的：掌握吸光度值测试方法，绘制工作曲线实验内容：使用比色皿测定某液体溶液的吸光度光谱，对其进行定量鉴别。SGM1040系列光谱测量工具包订购信息： 光谱测量工具包配件数量SGM1040-VNIR微型光谱仪1套SGT-SE12-BA测试组件（含光源）1套测试组件清单平衡光源1比色皿架1准直镜2光纤准直镜1光纤1光谱测量软件1石英比色皿（方形）1塑料比色皿（方形）1ND Filter(15%, 50%, 75%)1组RGB测试片1组SMA905适配器1组多功能测试平台1组防水保护箱1 规格/型号 SGM1040-VNIR 波长范围(nm) 350 ~1020 入口狭缝宽度（_m） 25 分辨率(FWHM) 1.3 nm CCD 索尼 ILX554B 2048像素 CCD线型传感器 积分时间 1ms ~ 65sec 动态范围 1800:1 信噪比 200:1 波长重复性（nm） +/- 0.05 （连续 100次测量 (汞-氩灯)） 波长准确度（nm） ± 0.3 温度稳定性 0.04nm/℃ 数据传输 USB 2.0 @ 480 Mbps (高速) 光谱仪光纤接口 SMA 905 体积 86(宽) x 110(长) x 31.4(高) mm

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。系统组成：激发光源+ 样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数● 激发光源：HeCd激光器● 激发光功率：20mW● 激发波长：325nm● 瑞利散射截止滤光片，OD6● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.2nm● 波长重复性：±0.1nm● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

近年来，钙钛矿型闪烁体及钙钛矿型 X 射线直接探测器被广泛研究及报道。在发光闪烁体层面，钙钛矿纳米晶闪烁体通过溶液即可制得，成本极低，且具备全色彩可调谐辐射发光的特点。在直接探测层面，铅卤钙钛矿材料因其具备较大的原子序数、高吸收系数等优点，在 X 射线直接探测领域同样表现出非常优异的性能。卓立汉光能够提供基于 X 射线的稳态发光光谱，荧光寿命，瞬态光谱以及 X 射线探测成像的相关测量方案。能够提供全套涵盖 X 射线激发源、光谱仪、稳态及瞬态数据处理、成像测量（CMOS 成像，单像素成像，TFT 面阵成像）、辐射剂量表、辐射安全防护等，辐射防护防护满足国标《低能射线装置放射防护标准》（GBZ115-2023）。如下陈述我们几种测量方案及相关配置明细( 一 ) 稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒 X 射线和 TCSPC 测量原理的方法纳秒脉冲 X 射线 稳态和寿命测量数据( 二 ) X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲 X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵 X 射线成像 成像测量结果( 三 ) 技术参数稳态光谱及荧光寿命采集基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法包含：皮秒脉冲激光器、光激发X 射线管、TCSPC 或条纹相机。 由皮秒脉冲激光器激发“光激发X 射线管”发射出X-ray 作用于样品上，样品发射荧光，经光谱仪分光之后，由探测器探测光信号，数据采集器读取数据。皮秒X 射线测量荧光寿命原理图纳秒脉冲X 射线150KV 纳秒脉冲X 射线* 安全距离要求：a：3 米，b：6 米，c：30 米稳态和寿命测量数据NaI 样品在管电压50KeV，不同管电流激发下的辐射发光光谱 纳秒X 射线激发的荧光衰减曲线X 射线探测成像X 射线探测成像光路图X 射线探测成像及脉冲X 射线实现光电流衰减测量TFT 集成的面阵X 射线成像TFT 传感芯片规格TFT 读取系统规格成像测量结果 CMOS 成像实物图分辨率指标：TYP39 分辨率卡的X 射线图像。测试1mm 厚的YAG(Ce) 时，分辨率可以优于20lp/mm 手机充电头成像测试密码狗成像测试技术参数稳态X 射线激发发光测量光源 能量：4-50KV，功率：0-50W 连续可调，靶材：钨靶，铍窗厚度 200μm样品位置辐射剂量：0-25Sv/h光路透射和反射双光路，可切换 光谱范围200-900nm（可扩展近红外）监视器内置监视器方便观察样品发光，可拍照快门可控屏蔽快门，辐射光源最大功率下，关闭快门，样品位置辐射剂量小于10uSv/h辐射防护满足国标《X 射线衍射仪和荧光分析仪卫视防护标准》（GBZ115-2023）样品支架配备粉末、液体、薄膜样品架成像测量模块成像面积：直径20mm（可定制更大面积：120mm×80mm）成像耦合光路附件，样品测试夹具相机参数：颜色：黑白，分辨率：20MP, 5472 (H) x 3648 (V)，像元尺寸：2.4μm×2.4μm，量子效率：84%@495nm，暗电流：0.001e-/pixel/s，制冷温度：-15℃，成像分辨率：优于20lp/mm瞬态X 射线激发发光测量光源皮秒脉冲X 射线源纳秒脉冲X 射线源*405nm ps 激光二极管：波长：100Hz-100MHz 可调，峰值功率：400mW@ 典型值，脉冲宽度：100ps光激发X 射线光管：辐射灵敏度：QE10%（@400nm），靶材：钨，操作电压：40KV，操作电流：10μA@ 平均值，50μA@ 最大值 电压：150KV脉冲宽度：50ns重复频率：10Hz平均输出剂量率：2.4mR/pulse数据采集器TCSPC 计数器条纹相机（同时获得光谱和寿命）示波器瞬时饱和计数率：100Mcps 时间分辨率(ps)：16/32/64/128/256/512/1024/…/33554432通道数：65535死时间：＜ 10ns支持稳态光谱采集数据接口：USB3.0最大量程：1.08μs @16ps，67.1μs@1024ps， 2.19s@33554432ps 光谱测量范围：200-900nm时间分辨率：=5ps,( 最小档位时间范围+ 光谱仪光路系统)探测器：同步扫描型通用条纹相机ST10测量时间窗口范围：500ps-100us( 十档可选)工作模式：静态模式，高频同步模式以及 低频触发模式；系统光谱分辨率：0.2nm@1200g/mm单次成谱范围：=100nm@150g/mm静态（稳态）光谱采集，瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集模拟带宽：500 MHz通道数：4+ EXT实时采样率：5GSa/s( 交织模式），2.5GSa/s( 非交织模式)存储深度：250Mpts/ch( 交织模式)，125 Mpts/ch( 非交织模式) 寿命尺度500ps-10μs100ps-100μs 100ns-50msX 射线探测成像 方式CMOS 成像单像素探测器TFT 集成的面阵探测器配置成像耦合光路附件，样品测试夹具相机参数：颜色：黑白分辨率：20MP, 5472 (H) x 3648 (V) 像元尺寸：2.4μm×2.4μm量子效率：84%@495nm暗电流：0.001e-/pixel/s制冷温度：-15℃XY 二维电动位移台：XY5050：行程：X 轴50mm，Y 轴50mm，重复定位精度1.5μm，水平负载4Kg；XY120120：行程：X 轴120mm，Y 轴120mm，重复定位精度3μm，水平负载20KgTFT 阵列传感芯片（可提供直接型和间接型芯片）：背板尺寸（H×V×T）：44.64×46.64×0.5 mm，有源区尺寸（H×V）：32×32mm，分辨率（H×V）：64×64， 像素大小：500×500μmTFT 读出系统：成像规格：解析度：64 行×64 列，数据灰阶：支持256 灰阶显示，数据通信方式：WIFI 无线通讯，数据显示载体：手机/ 平板（Android 9.0以上操作系统、6GB 以上运行内存）辐射剂量测定辐射计量表探测器：塑料闪烁体, Ø 30x15 mm连续长期辐射：50 nSv/h ... 10 Sv/h连续短期辐射：5 μSv/h ... 10 Sv/h环境剂量当量测量范围：10 nSv ... 10 Sv连续的短时辐射响应时间：0.03 s相对固有误差：连续和短期辐射：±15% 最大137 Cs 灵敏度：70 cps/(μSvh-1 )剂量率变化0.1 to 1 μSv/h 的反应时间 ( 精度误差 ≤ ±10%) 2 s全光产额测量方案 闪烁晶体的光产额（也称为光输出或光子产额）是指晶体在受到电离辐射（如γ 射线、X 射线或粒子）激发后，发射光子（通常是可见光）的数量。光产额通常以每单位能量沉积产生的光子数来表示，单位可以是光子/MeV。光产额是衡量闪烁晶体性能的重要参数之一，它是衡量闪烁体材料性能的重要指标之一，也直接关系到该材料在实际应用中的灵敏度和效率。常见的闪烁晶体包括碘化钠（NaI），碘化铯（CsI），和氧化镧掺铈（LaBr3）等。不同的晶体材料会有不同的光产额，这取决于其发光机制、能带结构、以及材料的纯度和缺陷等因素。研究闪烁体材料的光产额对于提高其性能、拓展其应用具有重要的意义。一些常见闪烁晶体的光产额值如下：碘化钠（NaI(Tl)）：约38,000 photons/MeV氯化铯（CsI(Tl)）：约54,000 photons/MeV氧化铈掺杂的氧化镧（LaBr3）：约63,000 photons/MeV钇铝石榴石掺杂铈离子（YAG:Ce）：约14,000 photons/MeV 光产额越高，意味着该晶体能够在相同的能量沉积条件下产生更多的光子，从而在探测器中生成更强的信号，通常也会导致更好的能量分辨率。卓立汉光提供一整套包含同位素源、屏蔽铅箱（被测器件及光路）、光电倍增管、高压电源、闪烁体前置放大器、谱放大器、多道分析仪及测试软件，实现闪烁体的光产额测量。同位素源Na-22（或 Cs-137 可选），屏蔽铅箱（被测器件及光路），充分保证测试人员安全 光电倍增管 光谱范围：160-650nm，有效面积：46mm 直径，上升时间：≤ 0.8ns 高压稳压电源 提供：0-3000V 闪烁体前置放大器 :上升时间＜ 60ns积分非线性≤ ±0.02%计数率：250 mV 参考脉冲的增益偏移 0.25%，同时应用 65,000/ 秒的 200 mV 随机脉冲的额外计 数速率，前置放大器下降时间：信号源阻抗为 1 MΩ，则下降时间常数为 50 μs 谱放大器高性能能谱，适合所有类型的辐射探测器（Ge、Si、闪烁体等） 积分非线性（单极输出）: 从 0 到 +10V0.025%噪声：增益 100 时，等效输入噪声 5.0uV rms；手动模式下，增益＞ 1000 时，等效输入噪声 4.5uV rms；或者自动模式下，增益 100 时，等效输入噪声 6.0uV rms温度系数（0 到 50° C）单极输出：增益为 +0.005%/'C，双极输出：增益为 +0.07%/'C，直流电 平为 +30μV/° C误差：双极零交叉误差在 50:1 动态范围内 ±3 ns增益范围：2.5-1500 连接可调，增益是 COARSE（粗调）和 FINE GAIN（微调增益）的乘积。单极脉冲形状：可用开关为 UNIPOLAR（单极）输出端选择近似三角形脉冲形状或近似高斯脉冲形状。配置专用 3kv 高压电源 2K 通道多道分析仪ADC: 包括滑动标度线性化和小于 2us 的死区时间，包括存储器传输 积分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内≤士 0.025%。 差分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内小于士 1%。 增益不稳定性 : 士 50 ppm/° C死区时间校正 : 根据 Gedcke-Hale 方法进行的延长的实时校正。 USB 接口 :USB 2.0 到 PC 的数据传输速度最高可达 480Mbps操作电脑/ 光学平台 尺寸：1500*1200*800mm台面 430 材质，厚度 200mm，带脚轮。固有频率：7-18Hz，整体焊接式支架

OmniRS系列组合式激光拉曼光谱测量系统 OmniRS系列组合式拉曼光谱测量系统，采用模块化的设计，选用了性能优良的光学组件，可根据实验的需要，灵活的选择所需的组件，如双单色仪、激光器、数据采集器等，适用于科研院所、高等院校物理实验室和化学实验室的拉曼光谱及荧光光谱的测量，结构简单、便于调整及测量、灵敏度高、稳定性好。 OmniRS系列拉曼光谱系统的典型架构包含如下几个部分：激光器一台，光谱仪一台，样品室及样品架（包括三维可调垂直样品架，水平液体样品架，固体、粉末样品架等），CCD一台，控制软件一套，电脑一台，小型光学平台一张。OmniRS-532型组合式拉曼光谱测量系统OmniRS-532型组合式拉曼光谱测量系统，采用532nm波长DPSS全固态激光器作为激发光源，高分辨率、低杂散光的长焦距影像校正光谱仪作为分光器，进口陷波滤光片或边缘截止型滤光片作为陷波滤波器，采用进口科研级制冷型CCD作为信号采集器，配有多种附件，适用于液体、固体样品的分析。系统采用USB2.0通讯接口，方便用户自行选择笔记本电脑作为控制电脑。?OmniRS-Micro型组合式显微拉曼光谱测量系统OmniRS-Micro型组合式显微拉曼光谱测量系统采用显微光路，相比较于常规光路来说，显微光路具有更高的收集效率，使得系统具有更高的灵敏度。参数规格表(*)主型号**OmniRS-532OmniRS-Micro拉曼光谱范围200-4,000 cm-1（典型值）分辨率≤5cm-1激光器标配：532nm（100mW，TEM00）选配：488nm、632.8nm、785nm等光谱仪规格焦距500mm，影像校正，三光栅塔台，USB接口光谱仪光谱范围200-2500nm探测器制冷型CCD2000×256200-1100nmPMTH-S1-R1527200-670nm暗计数100cps制冷型CCD2000×256200-1100nmPMTH-S1-R1527200-670nm暗计数100cps数据采集器-DCS202PC光子计数率：5Mcps-DCS202PC光子计数率：5Mcps是否显微光路非显微光路显微光路*规格参数为532nm激光条件下的典型值，依据所选激发波长的改变会有所改变，详情请洽询！**组合式系统依据不同的测量需求可以有多种选择，表格仅给出常用推荐型号和规格，详情请洽询！拉曼光谱仪典型应用：● 化合物官能团分析● 分子动力学研究● 高校实验室应用：● 仪器分析/定量分析● 物理化学实验分析● 有机化学实验分析● 碳纤维/碳纳米管拉曼光谱分析● 表面分析/单层薄膜分析● 聚合物组织结构分析● 细胞组织研究测试实例：（酒精：激发波长：532nm）

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

荧光光谱仪在许多领域中被广泛应用，如：材料学（宽禁带半导体材料发光特性检测）、生物学（叶绿素和类胡萝卜素检测）、生物医学（恶性病的荧光诊断）和环境监测中都可以用到荧光检测技术。 OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，吸收了我公司 15 年的光谱系统设计、制造经验，通过不同配件的选择，不仅可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如 PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量，有效解决了传统荧光分光光度计光谱范围有限及拓展功能不足的问题。 OmniFluo “卓谱”系统采用高性能“谱王”Omni-λ系列光谱仪 / 单色仪、高灵敏度单通道或多通道探测器，采用单光子计数技术或锁相放大技术，极大的提高了荧光探测的灵敏度，使得纯水拉曼信噪比达到 1000:1 以上的水平。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统将 PL 和 PLE 两种荧光测试需求完美结合，采用模块化设计，可以根据需要进行系统架构的灵活调整，实现常温及低温下的荧光光谱、激发光谱测量。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统性能特点 ■ 模块化的结构设计——各功能模块完美结合，根据需要进行选择，后续升级方便■ 合理的空间布局——在满足功能需求的前提下尽可能占用更少的空间，且方便测量操作■ 超宽光谱范围*——200nm-2500nm■ 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性■ 宽波段、高输出功率光源——150W、500W氙灯光源可选■ 多种激光器波长可选*——266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等■ 量子产率测量功能可选**——扩展选项■ 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项■ 超低温测量附件可选**——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定；**选配项，请详细咨询。OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统参数规格表(*) 主型号OmniFluo光谱测量范围200-2500nm荧光光谱分辨率0.1nm激发光源基于150W或500W氙灯可调单色光源激发光输出带宽0.1nm-30nm激光器可选波长266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm /1064nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs 512×1单点 PMT 单点制冷型 InGaAs探测光谱范围200- 1000nm800-2200nm200-870nm800- 2500nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器

FS系列云台高光谱测量系统是结合高光谱相机和云台设备的测量系统，可实现对拍摄区域的 实时监控，支持自动扫描，网络连接。可应用于河道、湖泊、林业、农业、塔基等基于高光 谱技术的分析监测领域。光谱范围：390-1010nm 光谱通道数：1200光谱分辨率：2.5nm 云台水平范围：360°云台垂直范围：正90°～ 负90° 网络连接：支持云台高光谱测量系统技术参数云台高光谱测量系统分光方式光栅图像分辨率1920*1920动态范围12 bits光谱通道数1200光谱范围390-1010nm光谱分辨率2.5nm狭缝宽度25um透射效率≥60%杂散光水平≤0.5%像素大小5.86um*5.86um探测器类型CMOS标配镜头焦距12mm，16mm，25mm，35mm，50mm可选最小工作距离100mm视场角25°最小曝光时间21us**曝光时间10秒信噪比600/1相机镜头接口C/EF口成像功能有ROI功能，可以实现单个区域ROI辅助成像功能辅助取景摄像头实现对拍摄区域的监控传感器成像面尺寸11.3*7.1mm云台水平范围水平360°垂直范围正90°~负90°巡航扫描方式预置点，自动扫描，帧扫描，全景扫描网络客户端支持wins10级以上系统支持协议IPv4/IPv6，HTTP,HTTPS接口协议FIGSPEC SDK接口接口USB3.0/1000M网络接口一般规范工作温湿度负20°C~40°C；湿度小于80%

杭州专谱光电技术有限公司在光谱仪器、激光器系统及配件，生物光学和量子光学等领域和应用有非常多的经验和解决方案，同时也组建了一支专业的销售和服务团队。目前公司在光谱仪器和激光检测系统方面有自己的研发能力，开发出了便携式土壤重金属分析仪（LIBS）、便携式红宝石标压系统、显微拉曼测量系统等。同时公司时刻关注全球 前沿的技术和产品，目前代理包括微型光纤光谱仪、红外光谱仪，飞秒激光器，纳秒激光器，可调谐激光器，窄线宽激光器，He-Ne激光器等各种激光器和配件。同时代理各类光电检测设备，包括功率计、能量计、光束质量分析系统、脉宽测量探测器和自相关仪、偏振态测量系统。还有代理各类光学配件，包括光学元器件，位移系统，滤波片。 材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射，研究材料的较敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据。ProSp-RTM-UV/VIS 全角度光谱测量系统，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪，通过对入射和接收两臂的角度控制，实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用，如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 测量方式有：反射光谱测量（上反射和下反射）、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成，我们仅需要选择测量方式、设置测量参数，调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式， 即我们可以把入射臂和接收臂，运行到任意的角度位置进行光谱测量。功能描述全角度测量：接收端 0-360°，发射端 0-270°；高角度分辨率：分辨率达 0.01°；全光谱测量：光谱范围 250-2500nm，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪；不同测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式；自动测量模式：通过软件设置（测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循 环次数、积分时间等），实现不同模式的自动测量，中间不需人为干预；手动测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量；灵活的光源选择：自带钨灯光源和外接光源；可扩展：可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件； 应用领域微纳光学材料学生物技术 矿物分析纸币防伪LED 光源液晶显示材料镀膜不同角度的反射率谱线选配产品光谱角度测量模式可定制显微光谱角分辨系统

产品关键词：瞬态光电流、瞬态光电压、瞬态光电荷、TPV、TPC、TPQ、电荷抽取、开路电压上升衰减、载流子复合寿命、电池器件内部载流子、瞬态光电压谱、瞬态光电流谱、载流子动力学、Charge Extraction，CE、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）、探测器瞬态上升、下降时间、TRTF、载流子浓度、电荷载流子寿命、电荷载流子迁移率、载流子寿命、电荷载流子密度瞬态光电流/光电压/光电荷测量系统瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测量平台，集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式，包括最早于2020年帝国理工首次报道的瞬态光电荷TPQ测量功能。设备应用瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测试是揭示光伏、光催化、光电导等光电器件微观工作机理的关键手段。利用TPV、TPC、TPQ检测的数据进行分析，可以得到器件内部载流子的传输、积累、复合等动力学过程的相关信息。TPV、TPC、TPQ测试是直接基于最终的工况器件进行的，因而得到的参数可以直接反映工况条件下的光物理过程，这是一个相对于其它检测手段的很大的优势。TranPVC基于东谱科技的MagicBox主机研制而成，是专为光伏、光催化、光探测等研究领域开发的高性能TPV、TPC、TPQ测量平台，集成了数种最前沿的瞬态测量模式，为光电器件的机理研究提供了强有力的、便捷的测试工具。设备发展 2017年，开始向业内提供搭建式的TPV、TPC测试系统TranPVC 100；2019年，率先在业内推出全自动化、高度集成化的TPV、TPC测试系统TranPVC 300； 2020年，推出集成Charge Extraction（CE）和探测器时间响应功能的TranPVC升级版TranPVC 600，同时推出大功率稳瞬态白光光源HiFire；2021年，推出全球首款商业化瞬态光电荷TPQ测量仪，并将TPQ功能集成到TranPVC系列产品中，从而将TranPVC的产品名称扩展为“瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪”，同时对全系列的产品进行了升级，得到了新一代在售的TranPVC产品TranPVC 900；2023年，在TranPVC 900产品矩阵中，新增J900和Y900系列，新发布on-off TPV/TPC功能，为客户提供更多高性价比的产品选项。主要功能TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等。主要应用□ 太阳能电池器件：硅基太阳能电池、有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池、铜铟镓硒太阳能电池、碲化镉太阳能电池等□ 光探测器：光电二极管、光电晶体管□ 光电导器件□ 光催化器件□ 其它光电转换器件产品特点□ 集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式；□ 测试条件设置功能丰富，典型的如光强（偏置）、激发波长、脉冲频率、电压等，为构建丰富的测试场景提供条件，有利于综合评估器件性能；□ 具有自动化、高度集成化的特点，测试过程由软件控制，使用便捷，对操作人员的专业技能要求低；□ 软件自带拟合功能，方便对数据进行灵活分析；□ 样品台带位移功能，方便对同一基片上的不同子器件进行测试，多子器件测试切换由软件进行，测试效率高；□ 集成样品仓，方便更换样品和电学互联，样品仓可视化监测系统，实时观察测试光照射器件情况，便于调整样品的光斑照射位置；□ 样品夹具可实现惰性气体氛围测试，器件不封装的情况下，可从手套箱转移测试，满足多样化的测试需求；□ 所有光路均置于封闭暗箱内，无外界光源影响，光路进行了优化设置，一般不需要额外调整光路；□ 集成光阑，可调节激发光斑；□ 可灵活耦合不同类型激光器；□ 可集成偏置光，方便进行光偏压测量；□ 可集成其他定制功能。规格型号测试样例论文推荐太阳能电池领域采用TranPVC测试的相关论文典型用户：华南师范大学、华北电力大学、江西师范大学、华南理工大学、太原理工大学、华中科技大学、上海交通大学、深圳技术大学、兰州大学、陕西科技大学、南京邮电大学、哈尔滨工程大学...

一、产品介绍：超声多普勒胎儿测量仪检测装置(以下简称FS-3),是超声多普勒胎儿仪(以下简称胎儿仪)和超声多普勒胎心监护仪的最大综合灵敏度及心率的标准测量装置,它符合国家行业标准YY0448—2003,适用于各计量部门以及生产胎心仪和超声多普勒胎心监护仪的标卓厂家用来测量胎心仪和超声多普勒胎心监护仪的最大综合灵敏度值,心率,多普勒信号电压,噪声电压和超声频率等的测量,它是一种多功能的测量装置.FS—3采用单片机控制,汉语菜单显示,操作简单,方便易学. 二、技术指标1最大综合灵敏度的不确定度： 6dB2最大综合灵敏度测量的重复性优于： ±3dB 3最大综合灵敏度的测量范围： （70—120）dB4超声频率测量范围： (1.5—6)MHz5超声频率测量准确度优于： ±1%6心率测量范围： （50—250）次/分7心率测量准确度优于： ±0.2%8工作温度： 15°C--30°C9供电电源电压： 50Hz220V±10%10消耗功率： 25W

产品关键词：瞬态光电流、瞬态光电压、瞬态光电荷、TPV、TPC、TPQ、电荷抽取、开路电压上升衰减、载流子复合寿命、电池器件内部载流子、瞬态光电压谱、瞬态光电流谱、载流子动力学、Charge Extraction，CE、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）、探测器瞬态上升、下降时间、TRTF、载流子浓度、电荷载流子寿命、电荷载流子迁移率、载流子寿命、电荷载流子密度▌ 产品简介国际领先的瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测量平台，集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式，包括最早于2020年帝国理工首次报道的瞬态光电荷TPQ测量功能（独家）。瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测试是揭示光伏、光催化、光电导等光电器件微观工作机理的关键手段。利用TPV、TPC、TPQ检测的数据进行分析，可以得到器件内部载流子的传输、积累、复合等动力学过程的相关信息。TPV、TPC、TPQ测试是直接基于最终的工况器件进行的，因而得到的参数可以直接反映工况条件下的光物理过程，这是一个相对于其它检测手段的很大的优势。TranPVC基于东谱科技的MagicBox主机研制而成，是专为光伏、光催化、光探测等研究领域开发的高性能TPV、TPC、TPQ测量平台，集成了数种最前沿的瞬态测量模式，为光电器件的机理研究提供了强有力的、便捷的测试工具。产品演进历程：2017年，开始向业内提供搭建式的TPV、TPC测试系统TranPVC 100；2019年，率先在业内推出首款全自动化、高度集成化的TPV、TPC测试系统TranPVC 300； 2020年，推出集成Charge Extraction（CE）和探测器时间响应功能的TranPVC升级版TranPVC 600，同时推出大功率稳瞬态白光光源HiFire；2021年，推出全球首款商业化瞬态光电荷TPQ测量仪，并将TPQ功能集成到TranPVC系列产品中，从而将TranPVC的产品名称扩展为“瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪”，同时对全系列的产品进行了升级，得到了新一代在售的TranPVC产品TranPVC 900；2023年，在TranPVC 900产品矩阵中，新增J900和Y900系列，新发布on-off TPV/TPC功能，为客户提供更多高性价比的产品选项。▌ 产品特点□ 集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式；□ 测试条件设置功能丰富，典型的如光强（偏置）、激发波长、脉冲频率、电压等，为构建丰富的测试场景提供条件，有利于综合评估器件性能；□ 具有自动化、高度集成化的特点，测试过程由软件控制，使用便捷，对操作人员的专业技能要求低；□ 软件自带拟合功能，方便对数据进行灵活分析；□ 样品台带位移功能，方便对同一基片上的不同子器件进行测试，多子器件测试切换由软件进行，测试效率高；□ 集成样品仓，方便更换样品和电学互联，样品仓可视化监测系统，实时观察测试光照射器件情况，便于调整样品的光斑照射位置；□ 样品夹具可实现惰性气体氛围测试，器件不封装的情况下，可从手套箱转移测试，满足多样化的测试需求；□ 所有光路均置于封闭暗箱内，无外界光源影响，光路进行了优化设置，一般不需要额外调整光路；□ 集成光阑，可调节激发光斑；□ 可灵活耦合不同类型激光器；□ 可集成偏置光，方便进行光偏压测量；□ 可集成其他定制功能。▌ 产品功能□ 瞬态光电压TPV□ 瞬态光电荷TPQ□ 开路电压上升与衰减Voc Rise and Decay□ On-off TPV□ 瞬态光电流TPC□ 电荷抽取Charge Extraction CE□ 探测器瞬态响应Photodetector Response□ On-off TPC▌ 产品应用□ 太阳能电池器件√ 硅基太阳能电池√ 有机太阳能电池√ 钙钛矿太阳能电池√ 铜铟镓硒太阳能电池√ 碲化镉太阳能电池等□ 光探测器√ 光电二极管√ 光电晶体管□ 光电导器件□ 光催化器件□ 其它光电转换器件▌ 规格型号规格配置E900S900W900N900J900Y900TPV√√√√√√TPC√√√√√√CE√√√×××Voc Rise and Decay×√√×××TPQ×√××××Photodetector Response×√××××On-off TPV可选配On-off TPC可选配* 可选配置/部件：□ Mic-微秒激光器；□ Tuna-可调脉宽激光器；□ 其它品牌激光器；□ 变温恒温器：√ TEC电子变温；√ 气体快速变温MagicK；√ 液氮低温恒温器；√ 液氦低温恒温器；□ 卤素灯白光偏置光源；□ on-off测试模块。▌ 测试案例

产品关键词：噪声、探测器瞬态响应时间、探测器上升下降时间、比探测率D*、3dB、噪声等效功率NEP、线性动态范围LDR、响应度R、噪声频谱密度、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）暗电流、光电流、开关比、外部量子效率（EQE）、噪声电流、响应带宽3db截止频率▌ 产品简介FineDet 990是东谱科技针对光电转换器件开发的综合性能测试平台，适用于光电导、光伏、光探测器等各种类型的器件。FineDet 990作为行业中第一款匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台，具有丰富的测试功能，可以得到这些器件全面的性能参数，包括光谱响应参数（光谱响应度、内量子效率、外量子效率、探测率等）、瞬态响应参数（响应时间、3dB截止频率等）、噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）、伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、稳定性测试参数等。▌ 产品特点匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台□ 测试功能丰富：√ 太阳能电池/光探测器光谱响应度标定系统；√ 太阳能电池/光探测器量子效率测量系统；√ 光探测器噪声测量系统；√ 太阳能电池/光探测器伏安特性测量系统；√ 光探测器瞬态响应测量系统□ 设备集成度高，主机集成单色仪、光学调制部件、电学检测部件等，使用便捷，测试效率高；□ 配置高清可视化系统，通过摄像头方便看到测试光照射器件情况，调整样品的光斑照射位置；□ SolarYield测试软件，参数设置、数据采集、位置调整、能量标定、存储等均通过软件完成。具有模块化适配特征□ 针对太阳能电池，可以选配AM1.5G光谱响应测试模块；□ 针对微小器件，可以选配显微探针测试模块；□ 针对变温场景，可以选配MagicK变温测试模块；□ 针对空气老化样品，可以选用HiSam多功能测试夹具。▌ 产品功能□ 外量子EQE、IPCE、内量子IQE、□ 光谱响应度；□ 噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）；□ 伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、□ 探测率、比探测率等；□ 瞬态响应参数（线性动态范围LDR、响应时间、3dB截止频率、瞬态光电流TPC、瞬态光电压TPV等）；□ 稳定性测试参数等。▌ 规格型号▌ 产品应用□ 光电导器件□ 太阳能电池器件√ 硅基太阳能电池√ 有机太阳能电池√ 钙钛矿太阳能电池√ 铜铟镓硒太阳能电池√ 碲化镉太阳能电池等 光探测器√ 光电二极管√ 光电晶体管等 光催化器件 其它光电转换器件。▌ 测试案例

显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼、反射和透射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。 系统由光谱仪、激光器（或其他光源）、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析； 特别是，此系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维空间扫描测量功能 显微光谱测量系统应用领域：植物叶片研究；激光材料评价；半导体材料分析；生物和细胞测试；光子晶体测试；珠宝、古籍检测 纳米材料分析； 显微光谱测量系统搭建模式：拉曼测量 拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量.荧光测量 显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接，也可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。另外，模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量. 反射/透射测量 使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射反射/光谱测量.显微光谱测量系统参数：产品名称显微拉曼显微荧光光谱范围200-4000波数 @532nm185-1100nm分辨率18波数@25μm 狭缝2.5nm@5um狭缝设计思路显微镜+便携式光谱仪连接方式SMA905光纤，一端接口连接光谱仪SMA905光纤，另一端连接激光器；或自由空间输入光源激发源532nm拉曼专用激光器功率：0～300mw连续可调复合光源(汞灯等)激光器(405nm/532nm/785nm等)信噪比500:1(若需更高信噪比，可更换为制冷型CCD，信噪比可达到1000:1)A/D16位探测器滨松科学级，薄型背照式CCD杂散光 0.1% @ 600nm线性度99%动态范围10000:1暗噪声50RMS@18位积分时间4ms-65 s显微镜4X平场消色差物镜，数值孔径：0.1，工作距离：30mm10X平场消色差物镜，数值孔径：0.25，工作距离：10.2mm40X平场消色差物镜，数值孔径：0.65，工作距离：0.7mm100X平场消色差物镜，数值孔径：1.25，工作距离：0.2mm二维平移台手动调节 双层钢丝结构载物平台（康宁玻璃台面），尺寸：302mm×152mm；78mm×32mm，1mm/格，精度0.1mm 电动调节（选配） 行程：50mmx50mm；重复定位精度：2um；移动分辨率：1um；

瑞士丹青QuadDualpurpose高精度坐标测量机转台，符合ISO10360-3标准。精密旋转轴专 门开发用于增强CMM灵活性提高生产力和效率。可选择水平或垂直进行部件检查，例如 大型航空发动机前部的叶片。兼容夹具接口HSK, Lang, Schunk, Gewefa (可定制)

高度集成双光束一体化设计光谱响应测量系统，自动程序化控制测量，整合了Natural卤光灯光谱、Constant Energy恒定能量和Content Photon恒定光子测量模式，用来测试各种不同的电池器件光谱响应SR/光电转换效率IPCE。主要特点高度集成一体化设计双光束技术：测试样品的同时实时检测光强变化光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量一键实现自动化测试无需繁琐的参数设置，操作便捷蓝牙通讯可远程实现所有控制一个电源键实现系统开机100%信号处理技术+快速傅里叶转换自动化样品安装台，样品精密对准技术规格测量方式：IPCE和SR波长范围：340nm~1000nm光源：3400K 卤光灯光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量样品接收到的单色光功率：1~100uW(400~1000nm范围)测量技术：双光束技术，同步样品信号和检测器信号快速采集处理滤光片：多达5个高阶滤光片偏置光：LED白光光源，输出功率软件可控用户界面：人性化设计，操作简单便捷，测试数据txt输出通讯方式：蓝牙设备功率要求：100~240VAC（50~60Hz）设备尺寸：91cm×47cm×29cm重量：20kg软件控制界面IPCE测试光谱响应SR测试IV Data分析FFT傅里叶转换光照模式：Natural卤光灯光谱● 照射光功率光照模式：Constant Energy 恒定光功率● 绿线为10uW的恒定光功率光照模式：Constant Photon 恒定光通量● 绿色线为1.0E13 /s 恒定光通量

瞬态光电流/瞬态光电压测量系统（TPC/TPV），用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

简介：瞬态光电流（TPC)/瞬态光电压（TPV）测量系统主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC； 主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

PMEye-3000光致发光光谱成像（PL-Mapping）测量系统是卓立汉光最新研制的，用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等，在生产线上的质量控制和实验室中的产品研发检测。该系统对样品的PL谱进行Mapping二维扫描成像，扫描结果以3D方式进行显示，使检测结果更易于分析和比较。该系统的软件窗口界面友好，操作简单，只需简单培训就能使用。测试原理：PL（光致发光）是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一种用于提供半导体材料的电学、光学特性信息的光谱技术，可以研究带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等。应用领域举例：LED外延片，太阳能电池材料，半导体晶片，半导体薄膜材料等检测与研究。 主要特点：◆ PLMapping测量◆ 多种激光器可选◆ Mapping扫描速度：180点/秒◆ 空间分辨率：50um◆ 光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆ Mapping结果以3D方式显示◆ 最大8吋的样品测量◆ 样品精确定位◆ 样品真空吸附◆ 可做低温测量◆ 膜厚测量一体化设计，操作符合人体工学PMEye3000 PL Mapping测量系统采用立式一体化设计，关键尺寸根据人体工学理论设计，不管是样品的操作高度和电脑使用高度，都特别适合于人员操作。主机与操作平台高度集成，方便于在实验室和检测车间里摆放。仪器侧面设计有可收放平台，可摆放液晶显示器和鼠标键盘。仪器底部装有滚轮，方便于仪器在不同场地之间的搬动。模块化设计PMEye-3000 PL Mapping测量系统全面采用模块化设计思想，可根据用户的样品特点来选择规格配置，让用户有更多的选择余地。激发光源、样品台、光谱仪、探测器、数据采集设备都实现了模块化设计。操作简便、全电脑控制PMEye-3000 PL Mapping测量系统，采用整机设计，用户只需要根据需要放置检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，避免了用传统方式固定样品而造成的损坏；可对常规尺寸的LED外延片样品进行精确定位，提高测量重复精度。两种测量方式,用途更广泛系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。监控激发光源,校正测量结果一般的PL测量系统只是测量荧光的波长和强度，而没有对激发光源进行监控，而激发光源的不稳定性将会对PL测量结果造成影响。PMEye-3000 PL Mapping测量系统增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对PL测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差。激光器选配灵活PMEye-3000 PL Mapping测量系统有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个405nm波长高稳定激光器。用户可以根据测量对象选配不同的激光器，使PL检测更加精准。可选配的激光器波长有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置选配激光器波长为：325nm。自动Mapping功能PMEye-3000 PL Mapping测量系统配置200× 200mm的二维电控位移台，最大可测量8英寸的样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等，扫描速度可高达每秒180个点，空间分辨率可达50um。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。 软件功能丰富,操作简便我们具有多年的测量系统操作软件开发经验，,熟悉试验测量需求和用户的操作习惯，从而使开发的这套PMEye-3000操作软件功能强大且操作简便。MEye-3000操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量，给定光谱范围的X-Y Mapping测量及根据测量数据进行峰值波长、峰值强度、半高宽、给定波长范围的荧光强度计算并以Mapping显示，Mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎涵盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。

显微荧光光谱测量系统，可视化定位使观测者可以检测样品上不同表面状态的荧光信号，同时在计算机上同步显示所检测位置的微区状态，便利了荧光微区检测，使得“所见即所测”成为可能。该平台将优化的共焦显微模块与优良的荧光测量系统相结合，光学设计匹配无限远显微光学系统，优化的光路设计，灵活的结构模块组合，可依据客户要求定制不同波长的显微荧光检测平台，同时新产业公司提供的的激光器和光谱仪设备，为客户提供了更多的选择空间。特点　 可调节稳频激光，避免波长漂移及样品损坏 保证激光焦平面与物镜视场焦平面重合以达到共焦 高稳定性探测器，提高了光谱采集效率及准确性 模块化设计，可自行组装，操作简单，携带方便 波长范围及分辨率可定制应用　 晶体微区荧光光谱检测 微区稀土元素荧光光谱检测 量子点荧光标记微区光谱测量 微纳光子器件微区PL光谱测量 ■ 产品型号 Mic-F-Sys 405/ 532系列型号 ■ 基本组成 荧光模块、荧光检测系统、显微镜 ■ 产品参数 显微镜显微镜型号GMM-580Z轴调焦系统粗微动同轴调焦微动格值：2um带锁紧和限位装置X/Y移动平台尺寸210mm*140mm平台移动范围50mm*75mm相机500万像素成像系统ISH500 (可选择)显微物镜5X-100X (可选择)相机图像芯片CMOS, 彩色, 逐行扫描芯片尺寸1/2.5 英寸有效像素500 万像素尺寸2.2um*2.2um分辨率(H×V)2592*1944帧频5fps(2592 ×1944 全分辨率)21fps(1280*960)25fps (1024 ×768)38fps (640 ×480)色彩深度24bit信噪比54dB工作温度(℃)0-60数据接口高速USB2.0镜头接口标准C-mount激光器波长(nm)405±5 (波长可定制)532±1 (波长可定制)模式Near TEM00TEM00功率稳定性1%,3%,5%1%,3%,5%操作模式CWCW预热时间(分钟)510工作温度(℃)10-3510-35预期寿命(小时)1000010000保修期1年1年光谱仪波长范围200-1100nm（光谱仪波段及分辨率可订制）光学分辨率(nm)0.75nm FWHM像素数量(pixels)3648像元尺寸8um*200um尺寸(mm)149*105*46重量(g)840信噪比300:1积分时间4ms-10s功耗450mA@5VDC数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin荧光探头光谱范围(nm)405-850532-1100激发波长(nm)405532探头焦距(mm)7.5探头主体材料黑色阳极氧化铝材质光纤配置两根排列的单芯纤 (100μm激发光光纤, 200μm接收光纤) , N.A.=0.22, SMA905接口, PVC护套/金属护套，光纤长度：1m 软件光谱分析Spectral Analysis 软件相机成像ISCapture操作系统Windows XP/Win7 (32位和64位)

组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成：在许多应用领域如材料学、生物学（叶绿素和类胡萝卜素）、生物医学（恶性病的荧光诊断）和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪，在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%，波长要长于激发光，而且是散射光。在荧光测量系统中，一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源，因其具有良好的单色性，杂散光低，能够较少的影响荧光的检测；2. 在光路上使用垂直90°配置，避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪，可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机系统优点：可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成，通过不同配件的选择，不仅可以实现荧光光谱测量，还能够实现功能的多样化，如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量；系统采用一体化的光学调校，可以完全固定在一块精密光学平板上，只需要在初次安装时进行调校，实际应用过程中只需要对样品进行简单调整，确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源：TLSE1805i-X150可调单色光源，采用150W氙灯● 激发光功率：0.3mW（@500nm，单色）● 激发光谱范围：250-1500nm（可选200-1500nm）● 激发光谱带宽：0.15-10nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 荧光光谱仪光谱范围：200-2500nm● 荧光光谱带宽：0.1-8nm（连续可调@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.25nm（Ex），±0.2nm（Em）● 波长重复性：±0.1nm（Ex，Em）● 光探测器：光子计数级光电倍增管，200-850nm● 数据采集器：DCS200PC单光子计数器，计数率：100Mcps● 系统灵敏度：纯水拉曼峰信噪比：1,000:1（RMS@带宽5nm，积分时间1s）● 超大样品室设计，便于操作，并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器，特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算

一、无人机高光谱测量系统技术特点 ● 采用大疆M300RTK（大疆M600Pro可选）作为飞行承载平台； ● 采用高信噪比超高速光谱扫描成像器件，提供高稳定性的光谱图像采集； ● 采用自研的高效率低功耗图像处理算法，大大延长了整机飞行时间，降低了系统功耗； ● 通过实时测量植物、水体、土壤等地物的光谱图像信息，应用与精准农业，农作物长势与产量评估，森林病虫害监测与防火监测，海岸线与海洋环境监测，湖泊与流域环境监测等应用； ● 系统设计紧凑，成像光谱仪主机光谱分辨率高达2.5nm； ● 整机组成：高稳定性云台、高光谱成像仪、嵌入式数据采集处理存储单元、无线图传系统、GPS-RTK导航系统、地面接收工作站、地面控制系统，反射率校准板。二、无人机高光谱技术参数飞行单元参数（M300RTK）尺寸尺寸（展开，不包含桨叶）：810×670×430 mm（长×宽×高）尺寸（折叠，包含桨叶）：430×420×430 mm（长×宽×高）对称电机轴距895 mm重量（含下置单云台支架）空机重量（不含电池）：3.6 kg空机重量（含双电池）：6.3 kg单云台减震球最大负重930g最大起飞重量9 kg工作频率2.4000-2.4835 GHz；5.725-5.850 GHz发射功率（EIRP）2.4000-2.4835 GHz：29.5 dBm（FCC）；18.5dBm（CE）18.5 dBm（SRRC）；18.5dBm（MIC）5.725-5.850 GHz：28.5 dBm（FCC）；12.5dBm（CE）28.5 dBm（SRRC）悬停精度（P-GPS）垂直：±0.1 m（视觉定位正常工作时）±0.5 m（GPS 正常工作时）±0.1 m（RTK 定位正常工作时）水平：±0.3 m（视觉定位正常工作时）±1.5 m（GPS 正常工作时）±0.1 m（RTK 定位正常工作时）RTK 位置精度在 RTK FIX 时：1 cm+1 ppm（水平）1.5 cm + 1 ppm（垂直）最大旋转角速度俯仰轴：300°/s 航向轴：100°/s最大俯仰角度30° （P模式且前视视觉系统启用：25°）最大上升速度S 模式：6 m/s,P 模式：5 m/s最大下降速度（垂直）S 模式：5 m/s P 模式：4 m/s最大倾斜下降速度S 模式：7 m/s最大水平飞行速度S 模式：23 m/s, P 模式：17 m/s最大飞行海拔高度5000 m（2110 桨叶，起飞重量≤7 kg）/ 7000 m（2195 高原静音桨叶，起飞重量≤7 kg）最大可承受风速15m/s（起飞及降落阶段为12m/s）最大飞行时间55 min支持云台安装方式下置单云台、上置单云台、下置双云台、下置单云台+上置单云台、下置双云台+上置单云台IP 防护等级IP45GNSSGPS+GLONASS+BeiDou+Galileo工作环境温度-20°C 至 50°C高光谱相机参数照明方式被动照明（不含光源）分光方式透射光栅光谱范围400-1000nm光谱波段1200光谱分辨率2.5nm狭缝宽度25um透射效率＞60%杂散光＜0.5%空间像素数最大1920（软件可设置）像素大小5.86um成像速度全波段128Hz,ROI后可实现3300Hz探测器CMOSSNR(Peak)600/1相机输出USB3.0或千兆网相机接口C-Mount配件USB3.0传输线或千兆网传输线ROI多个区域嵌入式数据采集处理存储单元I7处理器 512GSSD存储● 操作方便，无需专业无人机操控手，可实现单人操作● 通过地面站实时观测飞机采样地点并可利用地面站设置逐点采集的航线数据预览及矫正功能：辐射度校正、反射率校正、区域校正支持批处理● 实时常用植被指数计算功能● 支持自定义实时分析模型输入功能● ENVI多种数据格式完美兼容三、无人机高光谱应用领域1、地质与矿产资源勘察2、精准农业、农作物长势与产量评估3、森林病虫害监测与防火监测4、海岸线与海洋环境监测5、草场生产力及草场监测6、湖泊与流域环境监测7、遥感教学与科研8、气象研究9、生态环境保护及矿山环境监控10、水质检测，土壤监测11、农畜产品品质检测12、军事、国防和国土安全13、灾害防治

便携α谱氡及氡子体测量仪产品介绍：便携α谱氡及氡子体测量仪&bull 自给式内置泵，内置检测器探头，*报灯，子报*装置，配合电池操作，充分体现了此检测仪的便携性。&bull 固态硅离子注入检测器和可靠的1024通道分析仪为嵌入式处理器主板提供准确的信息收集，该处理器主板主要执行α光谱分析。&bull 内置集成7LPM泵，锂离子电池和充电设备增强了便携性，可以运行10个小时以上。&bull SabreAlert在出厂时配置，用于测量α潜能浓度（PAEC）的氡及氡子体检测仪。产品特点：&bull 重量2.7千克&bull 10小时持续运行&bull 使用Alpha峰形拟合进行核素单独测量计数-减少了误报*&bull 可执行快速响应（快速）和高灵敏度（连续）测量&bull 可使用内部泵或配备外部泵，以提高流速并提高灵敏度&bull 本地测量快速和连续剂量，浓度和流量以及选配的Alpha光谱均可记录&bull 无线802.11g RadNet输出选件，用于远程监控&bull 在10 µ R / hγ背景下进行30分钟时长的分析，且测量对象为Cs-137，MDC小于2x10-9μCi /cc&bull 配备氡测量模式，显示PAEC并指示氡子体平衡比&bull 可选择国际标准单位或美标产品功能：&bull Alpha峰形拟合新型的α峰形拟合用于将光谱从其组成核素中分离出来，并对氡子体和一个或两个用户定义的感兴趣的同位素进行光谱计数。Alpha峰形拟合是一种使用多个α同位素峰的轮廓来创建*适合实际光谱计数的复合曲线的技术。由于各个核素峰是独立确定的，因此核素的分离不受氡子体平衡变化的影响，并且导致误报的可能性非常低。对于218Po拖尾的*拟合可提供出色的灵敏度，在许多情况下，其灵敏度可优于大部分40 LPM的非拟合仪器的采样率。

太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统 描述：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys-AIO时域光谱系统是Rainbow Photonics基于有机晶体开发的实验室级别的太赫兹光谱成像解决方案。它在测量透射和反射系统上提供了强大的灵活性，不需要对光学器件进行重新排序即可切换。太赫兹时域光谱仪它是基于有机晶体，具有高信噪比、结构紧凑、操作灵活、易于安装等优点，并且其工作频率范围极广，覆盖了光导天线不能达到的高频区域。TeraSys-AIO配有所有光学，机械和电子元件。包括太赫兹探测器，光学延时线，泵浦源，电子配件，湿度传感器，清洗室，专用软件和笔记本电脑等，为客户提供了全套的太赫兹时域解决方案！太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys - AiO太赫兹时域光谱仪非常适用于高达20THz太赫兹范围内的材料光谱分析，可用于半导体材料研究、材料检测、高分子生物学、纳米科学以及太赫兹成像等应用方面的研究。Rainbow Photonics附属于苏黎世联邦理工学院非线性光学实验室，于1997年成立。公司基于非线性有机晶体产生和探测THz，研发出了一系列新颖的THz光谱仪产品，频谱范围覆盖了光导天线不能达到的高频区域。典型的时域光谱仪结构原理：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统针对不同的样品、不同的测试要求、不同的太赫兹波与样品的作用方式，可以采用透射式、反射式等不同的探测模式。其中，最常见的为透射模式。图3为其结构装置图。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统工作原理：太赫兹时域光谱仪是一种利用脉冲THz波进行光谱检测的装置，在测量中能够同时获得THz脉冲的振幅和相位信息，通过对时间波形进行傅里叶变换能直接得到样品的吸收系数、折射率等光学参数，具有很高的探测灵敏度和较宽的探测带宽，是一种非常有效的光谱测试手段。通过其在基础科研领域和食品药品安全领域的示范应用，可带动其在生物医学、半导体材料、工业加工、文物检测、石油勘探等领域的潜在应用。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统产品特点：l 频率覆盖范围广l 高信噪比l 结构紧凑，方便安装l 操作灵活l 可提供透射式和反射式两种方案l 配有功能强大的软件和数据包 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统应用范围：l 材料检测l 高分子生物学l 化学结构分析l 安全检查l 半导体材料研究l 纳米科学l 太赫兹成像 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统技术参数：产品尺寸（包含泵浦）：550*450*280mm光谱范围: 透射 0.3-14THz 反射 0.3-8THz动态范围：透射 70dB 反射 40dB信噪比（@4THz）:透射 60dB 反射 35dB扫描范围：60ps频率分辨率：100GHz可升级选项： 太赫兹成像模块 扫描范围：50*50mm 泵浦源参数：泵浦类型：高功率超快铒光纤激光器脉冲长度：20fs平均功率：200mW峰值功率：120kW中心波长：1565nm重复频率：80MHz 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统频谱图：使用DSTMS作为太赫兹波发生和探测装置的TeraSys-AIO系统的透射和反射频谱图如下：

CCD光谱响应测量系统，半导体光谱响应测量系统 该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统，使该系统能够在恒定的光强下，在样品表面连续照射均匀度高的单色光。规格：目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身波长范围:300 - 1300 nm光源:氙灯/卤素灯有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2

便携式水中油光谱测量分析仪产品介绍： 便携式水中油光谱测量分析仪多合一手持式便携式和台式设备提供全实时光谱法，用于测量和分析以及连续的实时测量，并立即获得结果。它具有灵活、耐用的探头，用于测量、数据记录和图形表示。HT405P/HT280P是wei一使用全尺寸光谱仪进行测量的手持式碳氢化合物测量设备。如数据表所示，显示器显示了一个图形/绘图，这是测量全谱的油，而不是单点测量。该光谱仪对排除任何干扰，获得可靠、准确的水中含油量非常有用。 便携式水中油光谱测量分析仪该报价包括一个完整的包装，包括基本单元，探头，测量室，校准套件，充电电源和支架。分析仪可以存储多个校准配置文件。该设备配有内置可充电电池。该分析仪适合在现场使用，也可以在实验室作为工作台来验证在线测量。产品特点：HT405P 和 HT280P 便携式仪表，这是石油和天然气行业数十年创新经验的结晶。这些jian端的手持设备经过精心制作，为当今最复杂、最可kao的碳氢化合物测量提供了解决方案。HT405P 和 HT280P 以客户启发的创新为核心设计，旨在应对石油和天然气行业的独te挑战。这些设备证明了我们致力于突破技术界限以更有效地满足行业需求的承诺。HT405P/HT280P 的核心功能是其卓yue的多功能性。这些工具既可以作为手持设备使用，也可以作为便携式台式设备使用，可在现场和实验室环境之间无缝转换。这种适应性确保了无论设置如何，都能实现不间断的测量能力。嵌入式可充电电池保证连续运行，使设备成为远程或现场测量任务的理想选择。集成的 10.1 英寸彩色触摸屏显示屏提供身临其境的用户体验，为直观导航和实时数据可视化提供了一个平台。HT405P/HT280P 在基于 Linux 的 PC 平台上运行，不仅提供稳定性，而且提供效率，确保可kao和一致的性能。通过简单直观的界面，设置和控制变得毫不费力，使用户能够根据其特定的测量需求配置设备。HT405P/HT280P 配备灵活耐用的探头，即使在具有挑战性的环境中也能确保准确的测量，从而提高采集数据的可靠性。集成用于测量的全尺寸光谱仪使这些设备与众不同，可实现全面的光谱范围分析并提高测量精度。通过连续的实时测量提供即时结果的能力使用户能够当场做出明智的决策。碳氢化合物测量包括原油、凝析气、多环芳烃、苯酚和润滑剂等物质，使设备符合不同的行业要求。此外，生成的结果可以与 USEPA 1664B 和 ISO 9377-1 等实验室方法相关联，从而为测量的准确性和可靠性增加一层信心。HT405P/HT280P 提供标准的 12 个月保修，强调了对质量的承诺，保证了我们对客户满意度和支持的承诺。凭借其复杂的功能、适应性和实时功能，这些设备重新定义了石油和天然气行业的碳氢化合物测量。无论是在现场还是在实验室，HT405P 和 HT280P 都能提供准确性、效率和明智的决策。

TeraBEAM太赫兹光束测量分析仪,多功能太赫兹模块应用于致冷与非致冷热红外相机。产品介绍：TeraBEAM 是致力于宽波段红外与太赫兹2D 与3D 成像的阵列照相机。是使用商业化与实验室型的红外太赫兹与亚太赫兹源进行的多功能新型成像装置。关键技术参数：位于80GHz 与110GHz 的2D 实时MMW 光束测量图-非致冷2D 阵列大探测面积-太赫兹与亚太赫兹的2D 与3D 束成像-多光谱可选(0.1-30THz)-适用于大范围THz 与MMW 源电子二极管( Gunn, IMPATT.TUNNETT)返波管（BWO）量子级联激光器分子激光自由电子激光- 易于使用实验室与工业应用-2D 与3D 空间束成像(建立准直)-连续光与脉冲太赫兹源优化-2D 成像与断层摄影-多光谱源测量大视场与宽波段太赫兹与亚太赫兹照相机技术参数@0.1 THz参数TeraBEAMTeraCAM产品尺寸60x60x300 mm3200x200x300 mm3工作温度室温非冷却红外探测器室温冷却红外探测器电源矢量电压矢量电压插头IEEE1394/EthernetIEEE1394/Ethernet感应探测区域40x40 mm240x40 mm2像素尺寸200&mu m100&mu m空间分辨率毫米(衍射极限) 毫米(衍射极限)光谱范围0.1-30THz (l0&mu m -3mm)0.1-30THz (l0&mu m -3mm)最小测量信号 50&mu w/cm2 per pixel &mu w/cm2 per pixel采集率1-10 Hz10-30Hz