电位粒径测定仪

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

仪器简介：吸液管法（沉降法）土壤粒径测定仪 08.16 过去也称机械分析，是土壤科学最古老的测定技术之一。土壤基质由不同比例的、粒径粗细不一，形状和组成各异的颗粒（通称土粒）组成，一般分为砾、砂、粉粒和粘粒4级。 砾是最粗的土粒，我国主要农区土壤并不多见，只是在土石区，近河滩的山坡土壤中才出现砾，以致影响土壤的基质特征。 粗砂的比表面积小，表面只能吸附少量水分子（包括水汽分子），在其表面形成极薄的水分子导。粗砂粒间的孔隙粗，大多超过毛管孔径，所以它所保持的水是在粗砂粒间的接触点，为弯月面力所保持。在与植物根接触时也能被吸收。这种情况在砂砾混合或以砾为主时更为明显。 细砂和粗粉粒的矿物组成与砂粒类似，两者的性质相近。它们已有明显 的表面吸附分子能力，颗粒间孔隙的孔径表现为最活跃的毛管作用，毛管水上升迅速，上升高度可达2～3。中、细粉粒的矿物组成仍与砂粒相同，但表面积增大，表现出不同程度的属粘粒范围的若干性质。表面吸附水分子的力和毛管力都较强。毛管水毛管水上升运动缓慢，上升高度可能相当高，但需时间很长，速度过慢，实践意义不大。 粘粒是土壤中最细部分，粘粒矿物是扁平的片状或盘状，具有极大的比表面积，粘粒表面有负电荷与其邻近的土壤水中的阳离子形成双电层。巨大的表面积和表面负荷使粘粒有极强的吸附水分子能力，形成与其粒径比较相对厚的水层或水膜。粘粒间的孔隙极细，粘粒吸附的水膜就有可能充满或堵塞这些极细的孔隙。粘粒孔隙在吸附水膜外侧可能还有少许空间借助毛管作用保持少量水分，在水膜不堵塞孔隙的前提下，孔隙越细毛管力越强。不言而喻，粘粒在一定含水量范围表现极强的粘结性、粘着性和可塑性，干缩湿胀的程度极高，经湿润后的干粘粒容易出现较厚的结皮，并且形成坚硬的坷垃和土块，要极大的力量才能调皮敲破打碎，因而需要很高的耕作技术才能得到较好耕作质量。所有粘粒含量较高的土壤，尽管有较多的作物养分却很难管理。但在田间情况下，除碱土外，粘粒大多会团聚成才粒或团粒，可以一定程度上缓角耕作难的情况。 吸液管法（沉降法）土壤粒径测定仪 08.16对粒径分析的目的，就是为了测定不同直径土壤颗粒的组成，并进而确定土壤的质地。土壤颗粒组成在土壤形成和土壤的农业利用中具有重要意义。农业实践表明，土壤质地直接影响土壤水、肥、气、热的保持和运动，并与作物的生长发育有密切的关系。技术参数：08.16.SA　吸液管设备，桌面型 使用基本装置，可同时测量7份样品。 吸液管设备可放在实验桌上。 标准装置包括：带吸液管支架的滑槽，桌架，玻璃水箱，带自动调温器和搅拌器的加热工具，吸液管上部部件和下部部件，吸液气囊，玻璃样本筒，橡皮制动器和六偏磷酸钠。 08.16.SB　吸液管设备，墙面型 标准装置包括：带吸液管支架的滑槽，墙上支架，玻璃水箱，带自动调温器和搅拌器的加热工具，吸液管上部部件和下部部件，吸液气囊，玻璃样本筒，橡皮制动器和六偏磷酸钠。主要特点：优点 ◆ 吸液管设备符合标准NEN 5753和ISO/DIS 11277. ◆ 工作高度符合人体工程学. ◆ 整套设备免于震动，因为玻璃箱与加热工具及搅拌器是彼此独立的. ◆ 吸液管支架和滑槽带有抗磨损的塑料带齿滑轮. ◆ 设备插入深度达340毫米.

一、产品介绍NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）具备粒径、浓度、电位多维度检测能力二、技术原理：纳米库尔特是一种单颗粒检测方法，每个穿孔的粒子在瞬间产生与粒子体积成比例的电流改变量，持续时间与粒子的速度成正比，从而与流体的流速成反比。通过微电流检测系统记录每个粒子的电脉冲信号，再经过智能分析软件计算，即可准确地得到样品颗粒浓度、粒径、zeta电位、形态等全面的分析结果。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter G系列纳米粒度仪（粒径+浓度+电位）一次检测可同时获得粒径、浓度、电位信息媲美电镜的粒径测量精度精准的浓度测量和准确性单颗粒Zeta电位检测四、应用案例细胞外囊泡《MISEV》最新指南推荐《MISEV2023》评价“RPS测量结果确实与TEM数据具有非常高的一致性。"RPS技术作为“非光学”原理，成为电镜、流式等正交验证。NanoCoulter纳米粒度仪为EVs研究提供精确的粒径分布分析，更宽的粒径LOD(50-800nm),和极宽的浓度LOD(5×107-2x1011particles/mL)。外泌体分离方法探究外泌体来源复杂，往往需要经过多次分离才能得到较纯净的外泌体。不同的分离手段对外泌体的粒径和浓度会产生极大影响，借助NanoCoulter纳米粒度仪可快速准确的判断不同纯化方法的优劣性。外泌体纯度研究Triton X-100是一种表面活性剂，可裂解外泌体的膜结构。可通过对比裂解前后外泌体样品的颗粒数变化，得到样本纯度。 Triton X-100处理后的外泌体样品中颗粒数目明显下降，该样本纯度=(1-破膜后/破膜前)*100%=87.2%。该方法可快速实现外泌体纯度的定量检测。脂质体纳米颗粒脂质体稳定性研究不同的脂质体药物稳定性会差异巨大，稳定性决定后续的药物使用情况，通过NanoCoulter纳米粒度仪可以精准判断脂质体的稳定性， 下图为两个脂质体样本经过漩涡震荡不同时间的浓度变化情况，可以看出样本二的稳定性更好。LNP粒径组成&电位分析粒径及粒径分布是LNP的重要CQA参数之一，不同方法制备出来的LNP粒径分布差异巨大，且往往是DLS检测容易忽视的。 NanoCoulter纳米粒度仪能真实反映LNP组分中的粒径分布情况，同时给出"自定义"粒径区间内的浓度及组分比例，以及每一颗纳米粒的 zeta电位与粒径对应关系。病毒颗粒腺病毒批间差控制腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter纳米粒度仪可对腺病毒的浓度、粒径分布、 电位进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。痘病毒团聚分析病毒的保存条件对病毒团聚影响较大，团聚较多感染能力就会相应降低，NanoCoulter纳米粒度仪具备的粒径分辨率比拟电镜，是除电镜外，准确获得样本团聚情况的方法。如图，两种保存条件下，条件2中的病毒颗粒明显分散得更好。纳米磁珠磁珠的均一性是磁珠的一项重要参数，磁珠容易团聚，因此需要通过超声的手段对磁珠的颗粒进行分散，如图所示，使用三种不同的超声方法对纳米磁珠进行分散，NanoCoulter纳米粒度仪可以精准得到颗粒的粒径与浓度，超声方法A整体的分散性更好。乳胶微球胶乳微球包被抗体后，往往会发生团聚，影响后续的实验，需要经过超声或者其他处理来分散。使用NanoCoulter纳米粒度仪对包被前 后的微球进行粒径分析，可精准看到包被前后的团聚情况。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、浓度浓度测量范围：1×10⁶ -1×1012particles/mL浓度测量准确度：回收率100±6%浓度测量准确度：CV%5%3、电位电位测量范围：±200mV4、上样量：3-50μL（稀释后200μL）5、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 116、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg7、重量：8 kg

产品特色：搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、相变温度新增大范围分子量测定及解析功能(SLS法)0~90℃宽阔的温控范围使用动态电泳光散射法量测胶体粒子的分散凝集性、交互作用、表面改质等指标性的界达电位以及粒径、粒径分佈除保有低浓度溶液量测功能，更强化了量测浓溶液中的界达电位和粒径、粒径分佈的能力粒径范围0.6nm～10μm，浓度范围0.00001%～40%实际量测电渗流（Electroosmotic flow），具备高度可靠性的界达电位量测能力搭配平板样品容器（选配），可对应平面或薄膜状样品量测支援低介电常数样品容器（选配）支援业界最微量的(130μl～)可拋式样品容器量测范围：分子量360 ~ 2000 × 104浓度范围粒径：0.00001%~40%（乳胶112nm：0.00001～10%、胆汁酸：～40%）Zata potential : 0.001%～40%界达电位-200 ~ 200 mV电子迁移率-20 ~ 20 μm cm / Vsec粒径、粒径分佈0.6 nm ~ 10 μm ELSZ-2000ZS量测原理：射感光元件：高感度APD样品容器：Zata potential: 矩形样品容器、 高浓度用样品容器或微量(130μl~)可拋式样品容器粒径/分子量：方形样品容器温度范围:0 ~ 90℃ （具备梯度功能）电源规格:100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz尺寸:380（W） × 600（D） × 210（H）mm重量:约22kg界达电位 & 粒径量测仪ELSZ-2000ZS特色量测范围规格应用范围量测范例选配附件联络我们ELSZ-2000ZS 界达电位 & 粒径量测系统~zeta potential、粒径、粒径分佈~產品特色搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、相变温度新增大范围分子量测定及解析功能(SLS法)0~90℃宽阔的温控范围使用动态电泳光散射法量测胶体粒子的分散凝集性、交互作用、表面改质等指标性的界达电位以及粒径、 粒径分佈除保有低浓度溶液量测功能，更强化了量测浓溶液中的界达电位和粒径、粒径分佈的能力粒径范围0.6nm～10μm，浓度范围0.00001%～40%实际量测电渗流（Electroosmotic flow），具备高度可靠性的界达电位量测能力搭配平板样品容器（选配），可对应平面或薄膜状样品量测支援低介电常数样品容器（选配）支援业界最微量的(130μl～)可拋式样品容器量测范围分子量360 ~ 2000 × 104浓度范围粒径：0.00001%~40%（乳胶112nm：0.00001～10%、胆汁酸：～40%）Zata potential : 0.001%～40%界达电位-200 ~ 200 mV电子迁移率-20 ~ 20 μm cm / Vsec粒径、粒径分佈0.6 nm ~ 10 μm规格样式ELSZ-2000ZS量测原理 雷射都卜勒法（Laser Doppler）光源 半导体雷射感光元件 高感度APD样品容器 Zata potential: 矩形样品容器、 高浓度用样品容器或微量(130μl~)可拋式样品容器粒径/分子量：方形样品容器温度范围 0 ~ 90℃ （具备梯度功能）电源规格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm重量 约22kg应用范围除应用於表面化学、无机材料、半导体、高分子聚合物、生物、药剂、医学领域等以微粒子為主的分析外，更适用於薄膜或平面样品表面物质的实验与研究。新机能材料领域领域?燃料电池领域（奈米炭管、Fullerene、机能性薄膜、催化、奈米金属）?生物科技领域（奈米胶囊、网状高分子聚合物、DDS、生物奈米粒子、奈米微气泡…等）陶瓷及顏料工业领域?陶瓷（硅土、铝土、氧化鈦…等）?无机溶胶表面改质、分散、凝聚控制?顏料（黑碳、有机顏料）分散、凝聚控制?泥浆状（Slurry）样品?彩色滤光片?悬浮矿物质取样材料吸著力研究半导体领域?硅晶圆表面所附著之异物解析?研磨剂、添加剂与晶圆表面之相互作用研究?CMP Slurry高分子及化学工业领域?涂料或黏著剂乳液、乳剂分散或凝聚状态，医药、工业用乳胶表面改质?电解质高分子机能性研究（Polystyrene sulfonate、Poly carboxylic acids…等），机能性奈米微粒医药、食品工业领域?食品乳化剂、香料、医疗、化妆品等乳液、乳剂分散、凝聚状态，蛋白质机能性?微脂体、液胞分散与凝聚控制，界面活性剂（微胞）机能性量测范例印表机墨水界达电位测试硫胺素（维他命B1）& 乳胶粒子的粒径分佈聚苯乙烯乳胶混合样品使用平板样品容器的量测范例界达电位用微量可拋式样品容器的量测范例BSA分子量（4℃）F40分子量（25℃）蛋白质的变性温度解析隐形眼镜平板电位解析毛髮样品界达电位解析

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。

简介通过图像处理自动跟踪电泳粒子，测量它们的流动性，并自动计算单个粒子的Zeta电位。 整个测量过程可以被直观地掌握。ZEECOM ZC-3000是一种可视化的测量仪器，它消除了与黑匣子仪器相关的焦虑感。此外，ZC-3000自动跟踪颗粒的布朗运动，使得测量颗粒粒径分布成为可能。测量原理 ZEECOM Zeta电位分析仪使用显微镜在监视器上观察粒子电泳迁移，同时执行图像处理以确定粒子迁移速度，然后将其转换为Zeta电位值。为了消除由测量池中的静电荷引起的电渗流引起的误差，在静止层上测量ζ电位，其位置可以通过测量池的宽度和深度计算。(软件会自动执行此计算。)ZC-3000通过图像分析跟踪粒子的随机移动，通过应用爱因斯坦-斯托克斯关系式，根据移动距离和各种参数(液温、粘度)自动计算粒径，求出粒径分布。特点显微镜电泳法结合先进的图像处理用颗粒直接观察方式测量单个颗粒的Zeta电位通过图像处理对微粒子的游动进行自动实时跟踪多种测量模式1.ZETA电位和柱状图。这是一种标准的测量方法，在设定的测量条件下计算固定层上颗粒的Zeta电位。 测量结果可以以柱状图的形式输出。2. 测量池中的流速分布在测量池的每个位置测量流速，并绘制其分布图。可以检查电渗流的湍流情况，并根据静止层和位移，在任何位置进行测量。3.通过测量的pH值（测量等电点）　输入分散剂的pH值，从Zeta电位随pH值的变化分析等电点和pH值的反应。4.沉降和上升速度的测量　在沉降和上升速度测量中，粒子跟踪方向被设定为Y轴方向，以测量沉降团块和粗大粒子的沉降速度，以及上升气泡和空心粒子的上升速度。技术参数测量原理显微镜电泳法（ZETA电位） 布朗运动测量法（粒径分布）Zeta电位测量范围-200～200mV流动性-20～20cm2/sec?VZeta电位粒径范围0.02μm～100μm　＊可见性取决于颗粒的性质和介质电压0至350 V DC * 可用于电极的电压（与外部电源兼容）光源LED（透过?杂散光）半导体激光（杂散光）相机单色CCD视频摄像机物镜10倍物镜（可选：可添加不同放大倍数的镜头）视频输出NTSC视频信号Cell stage0.001mm间距数字显示 * 精度0.01mm测量池水性体系标准池（可选:各种用途测量池)尺寸(W)x(D)x(H)mm300×610×398重量25kg电源100V　1A　50/60Hz 主要应用水处理、废水处理、絮凝剂和分散剂开发、絮凝控制、矿物、微生物、浮游生物、石棉、气泡、土木工程、土壤和选矿技术。功能性材料开发、记录材料、颜料、陶瓷、催化剂、聚合物、炭黑、碳纳米管、打印机/墨水/调色剂开发、水性/非水性溶剂涂料、燃料电池、涂层材料（汽车零件、电子零件）、纸张生产、表面活性剂等。红细胞、细胞、蛋白质、DDS、脂质体、载体、制药等

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 Standard工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测范围： 粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV NicompZ3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。技术优势1、APD&PMT双检测器；2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；5、钯电极；6、精确度高，最接近样品真实值；7、复合型算法： 高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换8、快速检测，可以追溯历史数据；9、结果数据以多种形式和格式呈现；10、符合USP,CP等个多药典要求；11、无需校准；12、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块专利；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；3000/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益最大化。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有专利的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1. 前言2. 动态光散射粒度仪原理3. 动态光散射理论：光的干涉4. 粒子的扩散效应5. Stoke-Einstein方程式6. 自相关函数原理7. ZETA电势电位原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图最新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电倍增管（PMT)MT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图 工作原理光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。Zeta电势电位原理 1.1 什么是ZETA电势电位1.2 STERN双电子层1.3 DLS散射系统是如何测ZETA电位的？ 什么是ZETA电势电位Zeta电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。我们知道胶体系统中有两个相，分散相和连续相，分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小，因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝，微粒的粒径改变，性能也可能发生变化，如果不加以控制，絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀，接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时，我们需要维持微粒的稳定与分散，其中一个方法就是增强微粒表面电荷，然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥，随着微粒电荷的增加，微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散，带正电荷还是带负电荷并不重要，重要的是电荷的绝对值。我们研究微粒表面电荷的方法就是Zeta电势电位。STERN双电子层图 1胶团模型胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是最高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。图 2 STERN双电子层模型STERN双电子层即为胶核表面以及扩散层共同形成的电子层模型，值得注意的是扩散层中带电离子是分布在连续相中，因此其与分散介质息息相关（例如：通过水分散的体系，扩散层离子浓度以及扩散层宽度与水有很大关联），所以扩散层都没有明确的边界。DLS散射系统如何测ZETA电位目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。图 3 仪器内部光路图图3是Nicomp Z3000设备内部的光路图，激光通过一个分光器分成两组光路，一组通过反射镜直接进入检测器，另一组经过一个可调节的滤光片后，再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化，从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算，微粒由于带电量或是带点符号不同，其在电场作用下的运动状态也会不同，这种运动状态我们用电泳淌度μ（带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率）来表征，我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化，结合电场强度，相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ，最终ZETA电位通过公式：换算得出。η为分散剂的剪切粘度，ε为分散剂的介电常数。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3nm-10μm数字相关器通道数1024分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90 ℃激光光源35mW激光光源检测角度10°-170°（0.7°步进）检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)PMT(高性能光电检测器) 可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，2G内存，USB接口外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）配件大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。自动稀释系统模块（选配）将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块（选配）提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY) 化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 Plus工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering,检测范围：粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

SZ100全自动粒度仪和Zeta电位测定仪纳米粒度/Zeta电位分析仪概要：纳米颗粒系列仪器可以灵活地测量分析微粒的物理性质。它可用于粒度大小分析仪，也可用于Zeta电位、分子量（MW）和维里系数（A2）的测量。SZ-100的典型应用包括：纳米粒子、胶体、乳胶和亚微细粒悬浮液的测量。粒度分析通过动态光散射（DLS）实现，对于不同物理性质的样品，其测量动态范围为：0.3nm-8um.它的检测下限受样品浓度、散射光强度和存在的大粒度干扰粒子的影响，监测上限受样品的浓度影响，因为动态散射光的运动模式来自于布朗运动而非重力沉降。离子表面电荷具有用测量Zeta电位悬停的特征。将样品注射进样品池，由粒子电泳淌度得出Zeta电位。样品的Zeta电位通常作为散布稳定性的指示，大数量级的Zeta电位值表明静电稳定悬浮将会保持稳定，Zeta电位的测量通常作为PH或者其他化学过程中的变化，以帮助配方设计师创造出保存期限更长的新产品。相反地，识别条件在Zeta电位为零时（也就是说样品在等电点）允许为粒子絮凝化和分离选择最佳条件。这款仪器还能够用于测量分子量、蛋白质、聚合物和其他分子的第二维里系数。操作者准备几种已知浓聚物的溶液，然后用系统的静态光散射模式去创建一个Debye图，通过这个结果可以算出MW和A2. 规格：粒度：动态光散射（DLS）技术测量范围：粒子直径：0.3nm-8.0um 测量精度： 颗粒大小：符合ISO13321/22412，NIST可追踪的聚苯乙烯乳液粒子的标准：100nm测量精度=+-2% 浓度： 下限：0.1mg/mL(溶解酵素)上限：40wt%(取决于样品) 测量时间：通常2分钟（粒度测量）取样单元： 比色池取样量：12um-4mL (取决于样品池的容量)B)Zeta电位：激光多普勒电泳技术测量范围： -200~200mV测量时间：通常大约2分钟取样单元：专用一次性样品池取样量：100ul(对于一次性样品池)C)分子量：静态光散射Debye图技术测量范围：MW：1*10^3-2*10^7g/mol样品池：比色池物理参数： 供电电源:AC100-240V,50/60Hz,150VA 激光器：DPSS 532nm,10mW ClassI 接口：USB2.0 外形尺寸：385（D）*528（W）*273（H）mm 重量：约25kg 使用温度范围：1-90度（粒度测量），1-70度（Zeta电位测量） 工作温湿度：15-35度，相对湿度=85% 冷凝控制：净化端口连接有效产 品 说 明：超宽动态光散射测量范围:　0.3nm～8000nmZeta电位测量范围：-200 to +200mV静态光散射测量分子量范围：1*10^3 to 2*10^7Da通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。在单一纳米粒子专用光学系统中，采用更低杂散光90° 检测光学系统。双光路系统（90° 和173° ）适用于更宽浓度范围的样品测量，可以进行泥浆、颜料等高浓度样品以及蛋白质、聚合物等低浓度样品的测定。 Zeta电位测定通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池，可以测定仅100&mu L的样品。主要特点： ◎超小体积设计，将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta 电位、分子量测定)的测定囊括于一身。◎从 PPM 级的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原液状态下进行测量。◎微小容量电泳样品池是 HORIBA Scientific 独自研发，可以测定取样调查仅100&mu L的 Zeta 电位。　◎适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用。　　◎操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果

粒径在线检测仪 摘要:POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身,为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。粒径在线检测仪POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。POU在线检测系列最小可以测试计数到150nm，浓度高达10million个/mL的样品。可以满足高浓度slurry磨料浆在线测试要求，是PSS最新最全能性的颗粒计数器系列产品。粒径在线检测仪?仪器参数：粒径测量范围(可选)150nm – 2500μm分析方法单颗粒激光测量技术（SPOSPAT）可用溶剂水和绝大多数有机溶剂流速（稀释系统）60 – 180 mL/min分析软件（可选）Windows 运行环境，标准软件或符合 21 CFR Part 11 规范分析软件电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz外形尺寸主机1（计数器）：20 cm *45 cm * 20cm；主机2（自动稀释系统）：25cm * 45 cm * 56cm；重量约30Kg粒径在线检测仪Particle Sizing System （美国PSS粒度仪公司）是一家专注于帮客 户解决粒度问题近40年的专业科技公司，公司总部位于美国佛罗里达州圣巴巴拉市，公司自1977年创 立以来，一直为颗粒检测分析领域提供技术领先的仪器设备。 公司总部位于加利福尼亚洲的圣巴巴拉，有5个应用中心或销售代表处 分布在世界各地，每个中心或代表处都配备应用/技术支持、销售和服务人员。此外，我们还有40多个 分销商或销售代理公司遍布在美国、欧洲及亚洲各地。 PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术（dynamic light scattering, DLS）和光阻法（Light obscuration or light extinction, 也有人称之 为“消光法"，）技术以及单颗粒（Single Particle Optical Sizing, SPOS）技 术，检测范围从纳米到微米级，既可以检测平均粒径，zeta电位值，又可以对产品中的颗粒进行计数 ，尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子（Large Particle Count, LPC）， 可以精准地检测出。目前PSS粒度仪是市场上唯一一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析 仪。 PSS的单颗粒（SPOS)技术，能对样品的颗粒数目进行量化， 打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限，不仅能检测颗粒大小，更能 对颗粒进行计数。这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果，大 大助力于其研发和生产。 PSS的团队由科学家和工程师组成，可以提供从实验室到生产流水线的 多种技术解决方案。如果您有粒度检测、分析或颗粒度问题困扰，欢迎随时来函来电垂询。

土壤氧化还原电位测定仪【详细说明】土壤氧化还原电位测定仪详细资料：可测量pH值、温度、毫伏值、氧化还原电位(ORP)。微电脑处理器，测量精度高、重复性好、自动温度补偿，操作简单。配通用电极，满足常规pH的测量。土壤氧化还原电位测定仪技术指标：测量范围：0.00-14.0pH ±1999mv 0.0-100℃解 析 度：0.01pH 1mV 0.1℃精　 度：0.05pH 0.5℃ 1mV 0.1mV(200mV以内)校正方式：一点或二点手动校正(pH4.0、9.18)温度补偿：0-50℃自动温度补偿配套电极：通用复合pH电极(一个铂电极，一个甘汞电极)输入阻抗：1012Ω电　　源：4×12V AA电池，连续工作时间大于20小时适用环境：0-50℃ 85%RH仪器尺寸：200×85×40重　　量：500g

1:氧化还原电位测定仪/氧化还原电位仪/氧化还原检测仪 型号：DP-421DP-421型氧化还原测定仪用于测量各种溶液的氧化还原电位。在成份分析、质量监测、环境监测等域有着为重要的应用。仪器还具有测量pH值、电电位(mV)值能。当配上相应的离子选择电时，能测量多种相应的离子浓度。 ● 能够测量pH值、氧化还原电位及用标准曲线法测量离子浓度。 ● pH自动校正，有效避免误操作成校正数据丢失。 ● 电状态及斜率显示，随时提醒电使用情况。 ● 自动、手动温度补偿智能切换。 ● 关机后能长时间保持校正数据达10年。 氧化还原电位测定仪/氧化还原电位仪/氧化还原检测仪主要参数：1.仪器别：0.022.测量范围： pH：（0.00～14.00）pH mV：（-1999～1999）mV 温度：-5.0～105.0（℃） 注：温度探头为选购件，200元/支3.电子单元基本误差： pH：± 0.02 mV：0.2％（FS） 温度：0.5（℃）4.输入阻抗：1× 1012&Omega 5.稳定性：± 0.026.温度补偿范围：0～100（℃） 2:里氏硬度计 型号：HY-HARTIP3000它具有度，体积小，操作简便，测量范围广等特点。特别适用于大型，重型的铸锻件。例如轧辊，透平轴等，以及应用于已经安装并且不能拆卸的组件。例如压力容器，透平机等设备的现场硬度测试。所以，里氏硬度计被广泛应用于石油化、航天航空、电力、煤气、汽车、船舶、铁路、机械等行业。 为了使我公司的里氏硬度计与瑞士口的硬度计互换使用，其探头关键件的材料均从瑞士口，不仅保证了产品质量，同时也与瑞士产品保持同水平。HY-HARTIP3000型分体，菜单式操作，无需培训，可同时配多种不同型号探头，即插即用，所有探头均可互换。产品优点：大屏幕显示，可同时显示多个测量结果 分体，可更换多种探头 RS232接口，可连接微型打印机或计算机 可分组存储960个数据 自动计算平均值 参数型 号HY-HARTIP3000显 示EL背光，点阵图形液晶显示 度± 0.5％@HL＝800测 量 范 围200 － 960L硬 度 转 换HL－HRC-HRB－HB-HV-HSD温 度－10℃ to ＋45℃数据输出接口RS232数据输出计算机或打印机存 储960组数据统 计平均值、值、小值、均方根值电 源四节1.5V干电池外 观 尺 寸195× 84× 38mm重 量550g配置标 准 配 置HY-HARTIP3000 主机D型 冲击装置D型 标准测试块四节1.5V 干电池携 带 箱毛 刷小 支 撑 环使 用 说 明 书可 选 附 件异 型 支 撑 环冲击装置：DC、D+15、G、C、E、DL数 据 管 理 软 件微 型 打 印 机皮 套打印机或电脑连线 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

一、土壤氧化还原电位测定仪产品介绍土壤氧化还原电位测定仪主要用于现场原位测试新鲜或湿润土壤的氧化还原电位，水（介质）氧化还原电位、PH、温度等数据的测量。符合《HJ746-2015土壤氧化还原电位的测定电位法》标准。土壤氧化还原电位(ORP/Eh)作为土壤环境条件的一个综合性指标，已沿用很久，它表征介质氧化性或还原性的相对程度，对土壤的化学和生物学过程有重要的影响，是理解土壤的性质和过程的重要参数。氧化还原电位越高，氧化性越强，氧化还原电位越低，还原性越强。电位为正表示溶液显示出一定的氧化性，为负则表示溶液显示出一定的还原性。水质氧化还原电位（oxidationreduction potential ORP）是非常重要的水质指标之一，它虽然不能独立反应水质的好坏，但是能够综合其他水质指标来反应水生系统中的生态环境。1.工业污水处理：用于水处理上的氧化还原系统,主要是铬酸的还原与氰.化.物的氧化；2.水的消毒与应用：氧化还原电位能衡量对游泳池水、矿泉水及自来水的消毒效果。因为水中大肠菌的杀菌效率与氧化还原电位有关,所以氧化还原电位是水质的可靠指标；3.养殖行业：氧化还原电位可以反映出水中某些无机物的浓度、水生生物状态、水中含氧量，体现水质宏观氧化还原性，是判断水质状况的一个综合指标。二、土壤氧化还原电位测定仪产品参数（1）ORP：测量范围 -2000mV——2000mV 分辨率 0.1mV 误差范围 ±10mV（2）PH： 测量范围 0——14PH 分辨率0.1PH 误差范围：0.05PH（3）温度：测量范围 5——60℃ 分辨率：0.1℃ 误差范围 ±1℃（4）外接电源：DC 5V /2A（5）额定功率：3W（6）电池容量：6000mAh三、土壤氧化还原电位测定仪产品特点●ARM Cortex-M3架构处理器，Android系统。●标准Type-c充电，可直接使用手机充电器为设备进行充电。●连续检测，数据采集时间可按min设定。●支持校准●具有自动温度补偿功能，支持手动温度补偿●配套专用ORP电极、参比电极和不锈钢空心杄，可直接插入土壤●具有读数锁定功能(自动读数)，测量结果为终结果，无需换算和计算●检测结果可上传。●检测结果可导出Excel表格，连接电脑进行查看。●检测结果存储容量500万条，支持数据存储、查阅。●支持Wi-Fi，检测结果直接传至监管平台●3.5寸彩色触摸屏，提供更好的用户体验。●具有自动背光及自动关机功能；；●P65防护等级。四、土壤氧化还原电位测定仪配置清单序号名称数量单位1铝箱1个2主机1台3ORP电极1套4参比电极1套5PH电极1套6校准配件1套7取土探针1套8饱和氯.化.钾溶液100ml1瓶9ORP标准液 220mv±15mv1瓶1050ml塑料烧杯1个11充电器1个12Type-c数据线1根13说明书1份14合格证1份15保修卡1份

土壤氧化还原电位测定仪详细资料：可测量pH值、温度、毫伏值、氧化还原电位(ORP)。微电脑处理器，测量精度高、重复性好、自动温度补偿，操作简单。配通用电极，满足常规pH的测量。土壤氧化还原电位测定仪技术指标：测量范围：0.00-14.0pH ±1999mv 0.0-100℃解 析 度：0.01pH 1mV 0.1℃精　 度：0.05pH 0.5℃ 1mV 0.1mV(200mV以内)校正方式：一点或二点手动校正(pH4.0、9.18)温度补偿：0-50℃自动温度补偿配套电极：通用复合pH电极(一个铂电极，一个甘汞电极)输入阻抗：1012Ω电　　源：4×12V AA电池，连续工作时间大于20小时适用环境：0-50℃ 85%RH仪器尺寸：200×85×40重　　量：500g

一、土壤氧化还原电位测定仪仪器用途 霍尔德QX6530型智能便携式氧化还原电位测定仪是一种适用于对土壤和水(介质)Eh、mV、pH测量的便携式仪器，可测量氧化还原电位(Eh)、mV、pH和温度。由于采用了微电脑处理器，所以该仪器具有操作简便，测量精度高，可靠性好等优点，可广泛应用于环境保护对土壤、污水，废水的检测，水产养殖对水质的监测，以及工业循环水对水质的监控检测。 二、土壤氧化还原电位测定仪技术指标 测量范围：-600mV—+1999mV0.00-14.00pH0.0-50.0℃ 解析度：1mV0.01pH0.1℃ 测量精度：1mV(200mV以内)0.05pH0.5℃ 校正方式：手动切换三点自动校正（pH9.18，6.86，4.01缓冲溶液） 温度补偿：5-35℃自动温度补偿 输入阻抗：1KMΩ 电源：锂电池1500mAh 适用环境：0-50℃≤80%RH 配套电极：铂电极和甘汞电极对或者氧化还原电极复合pH电极温度传感器 电源：4×12VAA电池，连续工作时间大于20小时 测量时间：30-45min 仪器尺寸：200×85×40 重量：500g 装箱清单 主机1台 铂电极和甘汞电极对(或者氧化还原电极)1套 复合pH电极(或者pH电极和甘汞电极对)1套 温度传感器1支 缓冲液1套 充电器1只 土壤氧化还原电位测定方法1份 使用说明书1份 铝合金箱1个

Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息 仪器型号：N3000 Plus 工作原理：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） 检测范围： 0.3nm-10.0μm Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 技术优势 1、PMT&APD双检测器自由选配； 2、多角度检测（multi angle）模块； 3、可搭配不同功率光源； 4、精确度高，接近样品真实值； 5、快速检测，可以追溯历史数据； 6、结果数据以多种形式和格式呈现； 7、符合USP,CP等个多药典要求； 8、无需校准； 9、复合型算法： （1）高斯（Gaussion）单峰算法与Nicomp多峰算法自由切换 10、模块化设计便于维护和升级； （1）可自动稀释模块（选配）； （2）自动进样系统（选配）； （3）搭配多角度检测器（选配）； 380/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。 Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。 图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。 Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，取得收益。 产品优势 模块化设计 Nicomp 380纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。 自动稀释模块 自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。 380/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对小粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。 雪崩二极管 (APD-LDC)超高灵敏度检测器 Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军用级雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。

仪器简介：3090型发动机废气排放颗粒物粒径谱仪为TSI公司基于在电子迁移技术方面近40年的经验，特别为发动机尾气颗粒物的测定设计的颗粒物的粒径分布测定仪。早期的亚微米分级技术需要稳定的气溶胶，因此无法满足发动机台架测试和底盘测功机的要求。EEPS使用一个特殊的充电系统和多级静电计同时获得所有粒子粒径的信号。静电计的电流数据由仪器内置的一个高性能数字信号处理芯片实时处理。这可以修正多电荷的情况和与静电计之间的延时情况。然后数据经过进一步处理后在32个等间距（正态分布）的粒径通道中显示结果。3090的检测范围是5.6～560nm, 它有22个电量检测器与32数据通道提供精细的分辨率、配合高速的检测速度，能在每秒钟内提供10颗粒分布。本仪器的独特设计使得它具备极高灵敏度、瞬间检测速度，能够提供颗粒物粒径分布的快速测定，可瞬态测试循环中发动机废气排放的颗粒物排放的动力学行为。 3090型的坚固性、时间分辨率和精确性使得它成为一个满足各类应用需求的高效测量工具。它特别适用于测量现有技术无法满足的快速变化的气溶胶。当气溶胶大小和浓度足够稳定以进行粒径分布测量时，扫描迁移率粒度测定仪（SMPS）能够达到更高的粒径分辨率。SMPS的测量时间从30秒到5分钟不等，EEPS分光计则每0.1秒就能得到一个完整的颗粒物粒径分布。技术参数：1.粒径范围： 5.6-560 nm 2.分辨率：每十进制16个通道,共32个通道 3.时间分辨率：0.1秒出一个粒径分布 4.采样流量： 50 L/min主要特点：1.快速的响应与测定 2.分辨率高 3.三维的粒径分布图像

ATF-500饮料食品酸度/盐分测定仪(电位滴定法)Acidity/Salinity Titrate for Drinks and FoodsGB/T 12456-2008 食品中总酸的测定范围: 本标准适用于果蔬制品、饮料、乳制品、饮料酒、蜂产品、淀粉制品、谷物制品和调味品等食品中总酸的测定。pH电位法方法提要: 根据酸碱中和原理，用碱液滴定试液中的酸，溶液的电位发生"突跃"时，即为滴定终点，按碱液的消耗量计算食品中的总酸含量。GB/T 12457-2008 食品中氯化钠的测定范围: 本标准规定了间接沉淀滴定法、电位滴定法测定食品中氯化钠的分析步 骤；并提供了直接沉淀滴定法测定食品中氯化钠的分析步骤。本标准的间接沉淀滴定法和直接沉淀滴定法适用于肉类制品、水产制品、蔬菜制品、腌制食品、调味品、淀粉制品中氯化钠的测定，不适用于深颜色食品中氯化钠的测定；电位滴定法适用于上述各类食品和深颜色食品中氯化钠的测定。电位滴定法方法提要: 试液经酸化处理后，加入丙酮，以玻璃电极为参比电极，银电极为指示电极，用硝酸银标准滴定溶液滴定试液中的氯化钠。根据电位的"突跃"，确定滴定终点。按硝酸银标准滴定溶液的消耗量，计算食品中氯化钠的含量。ATF-500饮料食品酸度/盐分测定仪(电位滴定法) 主要特点：1. 低价，高效，经济实用型。2. 液晶显示屏幕，画面清晰。3. 滴定喷嘴采用防止扩散设计。4. 滴定管具有安全保护套。5. 满足优良实验室和良好作业规范。ATF-500饮料食品酸度/盐分测定仪(电位滴定法) 技术参数：测量范围: 电位: -2000～2000mV，pH: 0.00～14.00pH，温度: 0～100℃。滴定管容量: 20mL玻璃滴定管(选件有: 50mL、10mL、5mL、1mL)。20mL滴定管精密度: ± 0.02mL，重复性: ± 0.01mL，分辨率: 0.001mL。显示屏幕: 液晶屏幕显示，16字x2行。显示内容: 滴定资料(滴定量、电位、温度等)，状态讯息。界面: 三组RS-232C，外接打印机、电子天平和计算机。构造: 主机和滴定管一体型，搅拌器内装有扩大器。自动滴定管: 主机内置一台(ATF-500A/ATF-500S)，主机内置两台(ATF-500C)。电源: AC100~240V, 50/60HZ, 300W。尺寸: 主机: 288(W)x468(D)x481(H)mm，搅拌器: 118(W)x225(D)x336(H)mm。重量: 约10kg。ATF-500A饮料食品总酸测定仪。ATF-500S饮料食品氯化钠测定仪。ATF-500C饮料食品总酸/氯化钠测定仪。

便携式土壤ORP(氧化还原电位）测定仪Soilstik探头为扁平设计，可在野外原位直接测量土壤的ORP，测量精度高且易于维护，是进行野外土壤调查和研究的理想工具。土壤氧化还原电位（Eh/ORP）作为土壤或水环境条件的一个综合性指标，已沿用很久，它表征介质氧化性或还原性的相对程度。长期以来氧化还原电位是采用铂电极直接测定法。即将铂电极和参比电极直接插入土壤或水等介质中来测定。●土壤EH计特点：易于使用，成本效益高扁平电极，测量土壤、半固体、固体和液体的 ORP值——无电极折损或堵塞更新指示灯告诉您需要更换电极的时间——避免主观猜测校准警报告诉您何时需要重新校准，以确保精确度存储器记录和回查 15 个按次序排列的带标记读数，可对变化进行探测读数稳定时，显示稳定指示 数据储存，自动关闭电源指示及电池电量低指示防水设计（IP57），浮于水中，并在潮湿环境中保护测定仪内含传感器保护帽、冲洗瓶、2 节 CR2032 电池，说明书便携式土壤ORP(氧化还原电位）测定仪Soilstik技术指标：显示 数字LCD显示屏ORP测量范围 -900~1000mVORP分辨率 1 mvORP精度 ±4mv工作环境 0~50℃，小于80%RH短期内存 15个读数电池 4块CR2032电池自动关机 无操作后10分钟尺寸 37×175×42MM重量 120克

一、产品介绍NanoCoulter E 纳米粒度仪（粒径+浓度）具备粒径、浓度多维度检测能力二、技术原理：在电解质液体中的芯片孔两侧有正负电极，当加上电压，电流通过小孔时，小孔周边会产生一个“电感应区”，随着每个颗粒通过小孔，颗粒会置换出对等体积的导电液体，瞬间增加了该电感应区的电阻，形成一个电位脉冲。仪器通过对电脉冲的准确测量分析，从而获得纳米颗粒的表征数据。电脉冲的幅度和粒径成正比，数量和浓度成正比。由于颗粒是逐一通过纳米孔，因此实现了真正意义上的单颗粒检测。三、产品优势：1、无需校准傻瓜式操作，无需热机，无需校准。只需扫描检测卡预制的二维码即可完成所有参数设置。2、无需清洗可抛弃型非侵入式检测卡；测样前无需清洗仪器和样本槽，直接上样就可进行测试3、智能软件审计追踪功能，符合21 CFR part 11；存储每个颗粒的完整脉冲信息，方便研发用户进行多角度分析4、NanoCoulter E 纳米粒度仪（粒径+浓度）一次检测可同时获得粒径、浓度、电位信息媲美电镜的粒径测量精度精准的浓度测量和准确性 四、应用案例细胞外囊泡《MISEV》最新指南推荐《MISEV2023》评价“RPS测量结果确实与TEM数据具有非常高的一致性。"RPS技术作为“非光学”原理，成为电镜、流式等正交验证。NanoCoulter纳米粒度仪为EVs研究提供精确的粒径分布分析，更宽的粒径LOD(50-800nm),和极宽的浓度LOD(5×107-2x1011particles/mL)。外泌体大小分布与团聚研究NanoCoulter E系列具备超大量程，可精准测量外泌体样本中大囊泡的含量，搭配不同量程的芯片，得到不同粒径范围的颗粒浓度。超高灵敏度的单颗粒检测快速判断样本处理前后的微弱变化，快速推进外泌体的研究开发。脂质体纳米颗粒脂质体稳定性研究不同的脂质体药物稳定性会差异巨大，稳定性决定后续的药物使用情况，通过NanoCoulter E 纳米粒度仪可以精准判断脂质体的稳定性， 下图为两个脂质体样本经过漩涡震荡不同时间的浓度变化情况，可以看出样本二的稳定性更好。LNP粒径区间比例分析粒径及粒径分布是LNP的重要CQA参数之一，不同方法制备出来的LNP粒径分布差异巨大，且往往是DLS检测容易忽视的。 NanoCoulter E 纳米粒度仪能真实反映LNP组分中的粒径分布情况，同时给出"自定义"粒径区间内的浓度及组分比例。病毒颗粒腺病毒培养与纯化工艺优化腺病毒生产中的培养基成分、温度、pH值、细胞培养方式等都影响着产毒效率。NanoCoulter E 纳米粒度仪可对腺病毒的浓度、粒径分布进行实时监测，快速评估不同批次间的差异，优化生产工艺和参数。腺病毒批次间差异控制不同纯化方法的腺病毒总颗粒浓度痘病毒团聚分析病毒的保存条件对病毒团聚影响较大，团聚较多感染能力就会相应降低，NanoCoulter纳米粒度仪具备的粒径分辨率比拟电镜，是除电镜外，准确获得样本团聚情况的方法。如图，两种保存条件下，条件2中的病毒颗粒明显分散得更好。纳米磁珠磁珠的均一性是磁珠的一项重要参数，磁珠容易团聚，因此需要通过超声的手段对磁珠的颗粒进行分散，如图所示，使用三种不同的超声方法对纳米磁珠进行分散，NanoCoulter纳米粒度仪可以精准得到颗粒的粒径与浓度，超声方法A整体的分散性更好。乳胶微球胶乳微球通过包被抗体，与样本中的抗原特异性结合，引起溶液浊度的变化，而微球的粒径会直接影响到免疫比浊试剂的灵敏度。NanoCoulter精确区分工艺前后微球的粒径与浓度变化。均一且分散稳定的裸微球在修饰及包被工艺中因表面性质变化而容易发生团聚现象。通常需要经过超声的方式来分散胶乳微球，通过NanoCoulter检验粒径分布，从而筛选合适的分散条件。五、技术参数1、粒径粒径检测范围：50-2000nm粒径测量准确度：回收率100±6%粒径测量精确度：CV%3%2、浓度浓度测量范围：1×10⁶ -1×1012particles/mL浓度测量准确度：回收率100±6%浓度测量准确度：CV%5% 3、上样量：3-50μL（稀释后200μL）4、软件：Windows系统，中英文操作软件，提供3Q认证具备审计追踪，符合FDA21CFR Part 115、尺寸：27 cm x16.5 cm x19 cmkg6、重量：8 kg

青岛新业环保科技有限公司 XY-411型便携式氧化还原电位测定仪 XY-411型是数字显示便携式氧化还原电位测定仪，用于测量各种溶液的氧化还原电位，以掌握氧化还原的相关参数或氧化还原状态、氧化还原能力。在成份分析、质量监测、环境监测等领域有着极为重要的应用。仪器还可用于精密测量各种溶液的pH值；当配上相应的离子选择电极时，能测量多种相对应的离子浓度（选择电极之电位mV值）。　　仪器主要设计特点　　&bull 高可靠性设计　　&bull 先进的电路结构 　　&bull 高清晰度数字显示( 3 1/2 )　　&bull 采用工程塑料外壳 主要技术参数1.测量范围： ORP电位：-1999～1999（mV） pH：0.00～14.00（pH） 2.准确度： ORP电位：0.1％（FS） pH：±0.01 ±1个字 3.稳定性：±0.01 4.电源：4节7号电池

土壤氧化还原电位测定仪主要用于现场原位测试新鲜或湿润土壤的氧化还原电位，水（介质）氧化还原电位、PH、温度等数据的测量。符合《HJ746-2015土壤氧化还原电位的测定电位法》标准。氧化还原电位(ORP/Eh)作为土壤环境条件的一个综合性指标，已沿用很久，它表征介质氧化性或还原性的相对程度，对土壤的化学和生物学过程有重要的影响，是理解土壤的性质和过程的重要参数。氧化还原电位越高，氧化性越强，氧化还原电位越低，还原性越强。电位为正表示溶液显示出一定的氧化性，为负则表示溶液显示出一定的还原性。产品特点： ●安卓智能操作系统，ARM Cortex-M3架构处理器；●标准Type-c充电，可直接使用手机充电器为设备进行充电；●连续检测，数据采集时间可按min设定；●支持校准；●具有自动温度补偿功能，支持手动温度补偿；●配套专用ORP电极、参比电极和不锈钢空心杄，可直接插入土壤；●具有读数锁定功能(自动读数)，测量结果为终结果，无需换算和计算；●检测结果可上传；●检测结果可导出Excel表格，连接电脑进行查看；●检测结果存储容量500万条，支持数据存储、查阅；●支持Wi-Fi，检测结果直接传至监管平台；●3.5寸彩色触摸屏，提供更好的用户体验；●具有自动背光及自动关机功能；●IP65防护等级；产品参数： （1）ORP：测量范围 ：-2000mV-2000mV； 分辨率 ：0.1mV； 误差范围：±10mV；（2）PH： 测量范围：0-14PH； 分辨率：0.1PH； 误差范围：0.05PH；（3）温度：测量范围：5-60℃； 分辨率：0.1℃； 误差范围：±1℃；（4）外接电源：DC5V/2A；（5）额定功率：3W；（6）电池容量：6000mAh ；配置清单： 1、铝箱1个；2、主机1台；3、ORP电极1套；4、参比电极1套；5、PH电极（选配）1套；6、校准配件1套；7、取土探针1套；8、饱和氯化钾溶液（100ml）1瓶；9、ORP标准液（220mv±15mv）1瓶；10、50ml塑料烧杯1个；11、充电器1个；12、Type-c数据线1根

便携式氧化还原电位测定仪 天尔TE-1914采用3.5寸彩色触摸屏，无需化学试剂，环保无污，运用高精度数字电极，具有实时数据传送，4G通讯模块，可检测项目有COD，TOC，氨氮，浊度，悬浮物，叶绿素，蓝绿藻，余氯，pH，溶解氧，温度，电导率，ORP，TDS，水中油，盐度等项目，适应于各种工作环境，专业水质检测仪系统，内置高容量锂电池，仪器性能稳定、测量准确、测定范围广、功能强大、操作简单、是一款为客户在野外，实验室提供检测，监察，数据管理融为的一体手持式水质检测系统 . 便携式氧化还原电位测定仪 天尔TE-1914功能特点 ※ 3.5寸彩色触摸屏,5个触摸感应功能模块※ 手持式设计，内置大容量充电锂电池，待机时间长；※ 采用传感器新技术、无需试剂，无污染、经济、便捷，精度高，响应快；※ 整机按照人工学设计，外观流行时尚，携带方便；※ 可长时间在野外工作，中文界面，操作简单、快速；※ 采用高精度数字电极，可进行温度补偿，从而实现更稳定准确的测量值；※ 双电源供电模式，内置大容量锂电池，支持户外检测；配备专用适配器为设备供电，可在实验室进行检测；便携式氧化还原电位测定仪 天尔TE-1914厂家直销、支持定制、质保三年

苏州市粉末粒径测试土壤粒径检测：粒度测定方法有多种，常用的有筛析法、沉降法、激光法、小孔通过法、吸附法等。筛析法是zui简单的也是用得zui早和应用zui广泛的粒度测定方法，利用筛分方法不仅可以测定粒度分布，而且通过绘制累积粒度特性曲线，还可得到累积产率50％时的平均粒度。粒度测试的目的微小颗粒态物质在日常生活和工业生产中有着很广泛的应用尺寸的大小和分布情况直接关系到工业流程产品质量以及能源消耗和生产过程的安全性。因此，准确方便地测量微小颗粒的直径、粒径，并得到粒径分布函数成为一个非常有意义的课题。常用测试方法的种类1、筛析法(sieving method)：让粉体试样通过一系列不同筛孔的标准筛，将其分离成若干个粒级，分别称重，求得以质量百分数表示的粒度分布。适用于0.02～100mm之间的粒度分布。电沉积筛(微孔筛)可达0.005mm。由于制造工艺的原因，出厂筛子筛孔尺寸难保一致；使用过程中变形导致筛孔尺寸不准——校准。优点：成本低，使用容易。缺点：对小于400目38u的干粉很难测量。测量时间越长，得到的结果就越小。不能测量射流或乳浊液在测量针状样品时这会得到一些奇怪的结果。难以给出详细的粒度分布，操作复杂，结果受人为因素影响较大，所谓某某粉体多少目，是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。如果不指明筛余量“目”的含义是模糊的，给沟通带来不便。2、显微镜法(microscopic method)：显微镜法测量的样品量极少，取样和制样时，要保证样品有充分的代表性和良好的分散性。样品制备后即可用显微镜一个一个测定颗粒，求出统计平均径；测定的颗粒数一般需几百个以上才有意义。光学显微镜测量时，常在目镜中插入一块刻有标尺或几何图形的玻片，由人眼通过目镜直接观测；或将显微镜的颗粒图像/照片投影到一个备有标尺或几何图形的屏幕上，通过对比确定粒度。3、库尔特计数法（coulter counter method）：将被测粉体分散在电解质溶液中，在该导电液中置一开小孔的隔板，并将两个电极分别于小孔两侧插入导电液中。在压差作用下，颗粒随导电液逐个通过小孔。每个颗粒通过小孔时产生的电阻变化表现为与颗粒体积或直径成正比的电压脉冲。4、沉降法（sedimentation method）重力沉降法特点：适合测量不大(50?8?6m )不小(1?8?6m)的粒子。离心沉降法特点：与重力沉降法相比，离心沉降时间减小。可测小粒径粒子，粒子尺寸下限一般为0.1m两种沉降法都只能测相同密度的粒子；重复性好。

空气动力学粒径谱仪型号：3321 空气动力学粒径谱仪3321型（APS3321）是高性能、多用途的新一代粒子测量仪器，其所具有的独特设计可以同时测量如下2个属性： 空气动力学粒径：APS 3321通过精密的飞行时间（TOF）技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径。其粒径测量范围达0.5-20μm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒子形状相关。从而避免了折射系数和米散射仪器。此外，飞行时间测量粒径所具有的单调对曲线确保了在整个粒径测量范围内和高分辨率。 光学散射强度：通过光学散射测量技术。APS 3321的测量粒径可以过到0.37-20μm。虽然学光散射强度并不总是颗粒物粒径的可靠表征参数。但它仍然是人们感兴趣的一项参数。APS 3321可以分别提供同一粒子的空气动力学粒径和光学散射强度这两项参数的数据。并单独存储。 通过同一个传感器测定的每一个粒子的空气动力学粒径和光学散射强度的信号，你可以得到关于气溶胶组成成分的令人振奋的新认识。APS 3321使用美国专利*技术的连续双峰光学系统检测粒子重叠事件（多个粒子同时到过检测区域）的发生频率。并且辨认接近检测限的微弱信号。因此得到的检测结果是坚实、可靠的高质量的数据 APS 3321具有美观大方的外观和结构简单、操作便利的前面板（包括控制旋钮和内置显示屏）。控制旋钮方便用户在显示屏上扫描方式查看数据。监测或控制仪器的不同功能。此外该仪器还具有微处理控制的体积流量控制器，大气压力校正，独立的鞘气采样泵和总样气采样泵。这些功能保证了APS 3321可以在各种条件下正常运行并保持自动校正。粒子仪器管理软件（AIM）是基于32位WINDOWS程序的采样软件，它保证每一台空气动力学径谱仪仪3321都具有完整的系统和数据控制功能。 应用APS 3321型空气动力学粒径谱仪测量粒子的粒径谱分布，其应用领域非常广泛。包括：l 呼吸毒性研究l 药品输送研究l 生物毒性检测l 大气科学l 环境空气监测l 室内空气质量监测 l 滤膜和洁净室检测l 用于校正粒子仪器的气溶胶的特性研究l 喷雾剂测量技术l 基于空气动力学粒径测量仪器的性能评价l 粉末粒径分布l 基础研究 技术参数型号3321检测技术使用单独的高速处理器在加速气流中检测单颗粒的飞行时间粒径范围0.5-20μm（空气动力直径）0.37-20μm（光散射直径）空气动力学直径解析率0.02μm(1μm)、0.03μm（10μm）分辨率粒径分辨率32通道/10倍粒径。总共52通道。非相关模式下1024位原始飞行时间数据（4ns/位）光散射强度分辨率16通道光散射强度。64通道原始光散射强度数据检测粒子种类悬浮的颗粒物和不挥发性液体最 大颗粒物检测浓度1000个/cm3在0.5μm时。重叠事件发生概率5%；1000个/cm3在10μm时。重叠事件发生概率10%：可用数据上限为10000个/cm3最 小颗粒物检测浓度0.001个/cm3浓 度量程±10%计数值加上统计计数偏差空气动力学粒径最 大处理速度200000个/s总采样流量5.0L/min鞘气流量4.0L/min样气流量1.0L/min操作温度10-40度大气压力校正在400到1030mbar内自动校正（在700-1030mbar内完全校正）激光源30mV.655nm二极管激光器检测器雪崩式光电倍增管（APD）前显示面板320 x 240象素工作温度10-40度工作湿度10-90%电源电压110-240VAC.50/60Hz.100W或24VDC通讯方式RS-232(9针)接口输出方式数字I/O配置模拟输出BNC(0-10V)脉冲模拟输出BNC飞行时间数字输出BNC外置控制器用15针接口（3个输入，3个输出）。2个模拟输入接口外形尺寸气溶胶进样口外径3/4英寸外箱尺寸38 x 30 x 18cm重量10kg

Zeta电位测定 美国MAS典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZeta电位测定 美国MAS优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

仪器简介：可实现快速便捷的颗粒的电位滴定测试。在分散体系中，同性带电离子的静电排斥作用是分散体避免凝聚保持稳定的主要原因，故带电粒子界面的表征是必不可少的。当颗粒离子化后，总电荷和电荷密度是需要知道的重要参数。电荷测量是通过建立动电信号来完成的。根据不同的测量原理，有电泳法，电声法Zeta电位，以及STABINO测试所得的流动电位。这些是经常被提到的电位参数，来源于作用在颗粒界面双电层上离子云的剪切力，如图1。所有这些被测变量都与位于剪切面的颗粒界面电位（PIP）即Zeta电位成正比关系。为了建立界面电位，要么通过电泳法或电声法建立的电场，要么通过机械应力作用于流动电位和电声法仪器。通过这样做，来源于溶液中的外部松散附着的离子被带走，显露出可被直接测量的界面电位。电位滴定的目的根据不同的粒径区间，可通过Smoluchowski, Henry’s 等公式计算Zeta电位。要想正确的计算Zeta电位，粒径范围是需要特别注意的。特别是在100nm以下的粒径范围内，关于Zeta电位的正确计算方法，目前学术界还存在着争议。究竟得到一个绝对的数值对于现实是否必要，这也是存在疑问的。此外，某一个点的Zeta电位值并不能清楚的描述整个样品体系。界面电位总是依赖于离子环境，严格的讲，如果没有所处的离子环境，那么粒子的界面电位也就无从谈起。PH值的微小变化都可能导致颜料悬浮体变的不稳定，尽管它之前的Zeta电位很高。因而，深入研究Zeta电位对滴定物的滴定曲线是非常有价值的。这些滴定物质可以是酸碱性物质，离子型表面活性剂或聚电解质。说到这，很多有价值的结果都可以通过电位滴定得到，有的可用于识别悬浮液的稳定和不稳定区域，有的用于表征导致聚合或颗粒反应的凝聚剂或催化剂的用量。测量流动电流电位通过驱动活塞在圆筒中做上下往复运动（如图2），圆筒壁和活塞间隙中的液体会上下发生流动。作用在固定颗粒界面上的剪切力，会导致颗粒的离子云发生转移。这些固定的颗粒，有的是因为大分子或小颗粒对器壁的粘附，有的是因为大颗粒的惰性所致。在样品底部平静的区域，几乎没有离子的位移。因而，就可以获取到圆筒底部和较高部位的振荡信号。多功能流动电位测试法所适用粒径范围，表明流动电位是最通用的方法，0.3nm的大分子溶液和300μm的颗粒悬浮液或乳液都可以用流动电位法来测定。该方法允许的导电性范围从零至50mS/cm，样品浓度范围从0.01至10vol%或更高。粘度的上限为300mPas。在此粘度下，将滴定液混入样品的有效性是存在问题的。除了样品和滴定液的浓度外，无需其他样品参数。最后但同样重要的是，如果zeta电位是非常重要的，在许多 应用中，流动电位乘以常数因子就可以校正为Zeta电位。流动电位用于电荷滴定的高效STABINO在一台仪器上具备了混和，均化和信号测试的功能，使其滴定测试更为简单有效。通常一个典型的滴定循环需要5-15分钟。

EDM 665 宽粒径气溶胶粒径谱仪&bull 仪器简介EDM665 WRAS(Wide Range Aerosol System)宽粒径气溶胶粒径谱仪,是将光学粒径谱（OPC）和扫描电迁移率粒径谱仪（SMPS+C）结合起来分析颗粒物粒径的设备，光学粒径谱（OPC）主要用于微米级的颗粒的监测，监测31个通道；扫描电迁移率粒径谱仪（SMPS+C）用于纳米颗粒研究，监测44个通道。粒径监测范围为5nm到32μm，共分为70多个通道，系统软件将自动绘制粒径和浓度分布图。系统带有自动采样、干燥除湿系统，可在无人监管条件下连续监测长达1月。可安装GPS和无线传输系统。。&bull 仪器优势&bull 宽范围，5.0nm ~ 32μm，71个粒径通道&bull 浓度范围1 ~ 107P/cm3&bull 独立监测系统，全自动，可长期无人监守工作&bull 48cm仪器固定架&bull SMPS，CPC，软件，在线实时监测，远程控制， GPS，认证，可靠稳定。&bull 仪器应用&bull 环境研究&bull 气溶胶研究&bull 移动气溶胶研究&bull 路旁监测&bull 引擎排放研究&bull 健康效应研究&bull 性能参数&bull SMPS+C测量原理静电分类和冷凝生长检测粒径范围M–DMA (5 – 350 nm) L–DMA (10 – 1094 nm)最小扫描时间150s浓度范围107 p/cm3采样流量0.3 L/min&bull 光学设备粒径范围250nm – 32μm粒径浓度1 ~ 2×103P/cm3采样流量1.2 L/min可重复性3%最大量程&bull 电源110 – 220 VAC, 50 – 60 Hz&bull 功率100 – 150 W&bull 温度范围- 20 to + 40°C (- 4 to 104°F), RH 95%&bull 尺寸（LWH）49 x 28 x 65 cm (19.3 x 11 x 25.6 in)&bull 重量38 kg

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，电导率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品特点 DT-700非水电导率测定仪简便测定非水系统的电导率手提型,容易使用,成本低测量范围宽: 0-200μs/m 从跨度1pS/m-200μs/m高精度测量: ±2%探头耐热温度: -20 – 200 ℃液晶显示屏 USB接口连接外存储器