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东精精密轮廓仪

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东精精密轮廓仪相关的仪器

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  • 可对大型重型工件进行高精度测量的工作台回转型真圆度、圆柱度测量机。主要特点: 1.采用新开发的高精度空气轴承。 2.适用于风力发电、大型工作机械用的高精度轴承评价。 3.采用富有移动柔性的R轴,从小径到大径工件都能测量对应。合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
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  • 中图仪器SJ5800中图国产精密轮廓仪接触式粗糙度仪可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。工作原理SJ5800中图国产精密轮廓仪接触式粗糙度仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度,采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标,计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定,最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来,通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。 5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。SJ5800中图国产精密轮廓仪接触式粗糙度仪可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测 2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。 4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。典型应用部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱0~300mmZ轴±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时)扫描速度(扫描轴)0.05~5mm/s直线度(扫描轴)≤0.2μm/100mm测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调)粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围)粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。滚子分析(选配)滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度,分段不同公差仪器尺寸(长×宽×高)600×350×890(mm)仪器总重量110Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。工作原理利用光学干涉原理,照明光束经半反半透分光镜分成两束光,分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光,并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉,在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差,根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条文出现的位置解析出被测样品的相对高度。中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。中图仪器W系列微纳米超精密3D光学形貌轮廓仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • SJ5800中图仪器精密触针式粗糙度测量轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标,通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。仪器操灵活、智能、简单,高稳定测量专业轴承。SJ5800中图仪器精密触针式粗糙度测量轮廓仪可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。 操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。测量功能 1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.SJ5800中图仪器精密触针式粗糙度测量轮廓仪支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。典型应用部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm(标准测杆)(±12mm:两倍标准测杆)粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002;仪器尺寸(长×宽×高)600×350×850mm仪器总重量约95Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SJ5800国内精密二维粗糙度轮廓仪一体机采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。 9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.SJ5800国内精密二维粗糙度轮廓仪一体机具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。 2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。 SJ5800国内精密二维粗糙度轮廓仪一体机可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测产品特点1.纳米级光学传感器,可大量程(24mm)测量轴承圆弧沟槽表面粗糙度;2.拔插式测杆、0.5mN超低测力保护工件测量面;3.多方向运动轴保护措施,确保测针、保护仪器关键部位;4.具备轴承沟道测量功能:桃形沟尺寸、圆弧沟道、油沟形状、角度及对称度、套圈越程槽、成品轴承外圈凹槽距离、轴承滚道与挡边角度测量、倒角R及倒角尺寸,对称、非对称、对数曲线滚子凸度及滚子球基面测量功能;5.具备轴承沟道,内孔及端面表面粗糙度测量功能;6.分离式操作控制台,控制X、Z轴移动,使得测针顺利进入工件测量位置7.可将数据扫描点输出到CAD、ASCII格式文件,方便细节观察工件表面缺陷。部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱0~300mmZ轴±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时)扫描速度(扫描轴)0.05~5mm/s直线度(扫描轴)≤0.2μm/100mm测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调)粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围)粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。滚子分析(选配)滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度, 分段不同公差仪器尺寸(长×宽×高)600×350×890(mm)仪器总重量110Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 标注:购买前务必与我司确认*终价格。店铺产品所有报价均为未税单价(可议价),店铺标注价格不作为*终成交单价,如果购买数量较多的话可以找客服沟通确认*终单价!!!注意:网上标价不是醉低价,请询价,询价很简单,但询价会有大惊喜!!!日韩产品带购哪家强?中国济南找千斗!我公司专业提供日本、韩国等国外工业产品,日本小野/日置/欧姆龙/图技/大菱/DKK/拓普康/佐藤/KEM/强力/东京精密等品牌,产品一手货源,价格极具竞争力,欢迎咨询洽谈!我公司是韩国东都位移传感器/测量仪,东山光栅尺的代理商,愿与贵方建立长期稳定合作关系,双赢共进。我们不做所有产品,我们只做自己的优势产品!!!选择我们是明智之举!日本原装进口东京精密轮廓仪专用测针DM45082日本东京精密测针DM45082原装现货发售,数量有限,先到先得
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  • 中图仪器SJ5800国内精密接触式粗糙度轮廓仪器品牌采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。SJ5800国内精密接触式粗糙度轮廓仪器品牌可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测 3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。 11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.SJ5800国内精密接触式粗糙度轮廓仪器品牌具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。 4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。典型应用部分技术参数 型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱0~300mmZ轴±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时)扫描速度(扫描轴) 0.05~5mm/s直线度(扫描轴)≤0.2μm/100mm测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调)粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围)粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。滚子分析(选配)滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度,分段不同公差仪器尺寸(长×宽×高)600×350×890(mm)仪器总重量110Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 218系列 — Contracer (轮廓测量仪)CV-2100系列 实现『简便 准确 快速』测量的轮廓形状测量仪操作面板集中设置于主机前侧飞梭轮快速垂直移动台架●与测量操作相关的配置集中设置在主机前面,大幅缩短了操作流程。●对X轴位置定位时,可在全测量范围内通过电动飞梭轮粗微调整,轻松进行。●装配了新开发的可以简便快速垂直移动的台架(仅CV-2100M4装配), Z轴方向的测量高度可以轻松快速的接近或退避。●Z1轴(检出器)装配高精度圆弧标尺,通过直读取测针尖端的圆弧轨道,减少检测机构导致的误差,确保高精度和高分辨力。可以像模拟方式那样切换测量倍率,也可以在整个测量范围内进行测量,而不需要对每个倍率进行校正。CV-2100M4 CV-2100N4测量范围 X轴 Z1轴 (检出器) 100mm50mm上下移动量 (Z轴立柱) 350mm—X轴倾角范围 ±45º分辨力 X轴 Z1轴 0.1µm0.1µm驱动方式 X轴 上下移动 (Z轴立柱) 电动 (0 - 20mm/s)手动 (快速上下移动、微动) —测量速度 0.02、 0.05、 0.1、 0.2、 0.5、 1.0、 2.0、 5.0mm/s直线度 (X轴水平位置时) 2.5µm/100mm指示精度(20ºC)X轴 Z1轴 ± (2.5+0.02L) µm L:测量长度 (mm)±(2.5+|0.1H|) µm H=为水平位置上的测量高度±25mm以内测量方向 向前/向后测量面方向 向下测力 30±10mN (3gf)测针跟踪角度(以标准配件测针为例) 向上77º、向下87º (根据表面粗糙度而定)尺寸 (幅度×深度×高度) 745×450×885mm 651×143×138.5mm质量 145.8 kg 5.8 kg* 仪器本体的一部分采用天然石材,所以表面会有些纹理的情况。* CV-2100N4无法单独进行测量。需要使用固定台座(特别附属品)或者安装在客户自己准备的夹具上使用。 本公司代理三丰量具量仪,三丰卡尺,千分尺,高度尺,圆度仪,粗糙度仪,硬度计,轮廓仪,东京精密粗糙度轮廓仪,东京精密三坐标,东京精密圆度仪,高低温试验箱、冷热冲击试验箱、盐雾试验机、拉力试验机以及各类影像仪,二次元,影像二次元,影像三坐标,带探头影像仪,经济型三坐标,接触式影像仪,3D影像仪,三坐标测量仪,进口三坐标,国产三坐标,龙门式三坐标,桥式三坐标,悬臂式三坐标,便携式三坐标,关节臂三坐标,并备有德国三坐标样机及轮廓仪样机供展示,并提供关节臂三坐标,手持式三坐标测量机,便携式关节臂三坐标现场测量服务,欢迎天津,北京,廊坊,石家庄,沧州,泊头,任丘,黄骅,秦皇岛,山东,济南,济宁,黄岛,东营,临沂,威海,江苏,上海,大连,青岛,烟台,聊城,邢台,武汉,四川等地客户来电垂询!
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  • 光学轮廓仪 400-860-5168转5919
    一、产品概述:光学轮廓仪是一种高精度的测量仪器,利用光学技术对材料表面的轮廓和形貌进行非接触式测量。它通过分析反射光和干涉图样,能够获取样品表面的微观特征,广泛应用于材料科学、电子制造和精密工程等领域。二、设备用途/原理:设备用途光学轮廓仪主要用于测量材料表面的粗糙度、形貌和高度变化。常见应用包括半导体器件的表面特性分析、光学元件的质量检测、涂层厚度测量以及微结构的表征。这些数据对于材料的性能评估、质量控制和研发过程至关重要。工作原理光学轮廓仪的工作原理基于光的干涉和反射现象。仪器发射光束照射到样品表面,反射回来的光与参考光束进行干涉。通过分析干涉图样的变化,仪器能够精确测量样品表面的高度和形貌特征。由于采用非接触式测量,光学轮廓仪能够避免对样品的损伤,适合用于脆弱或敏感材料的表征。最终生成的轮廓图可以提供详细的表面特征信息,帮助研究人员进行深入分析。三、主要技术指标:1. 测量模式:PSl, USl, VSl, 选配的 Film2. 大扫描量程:≤10 mm3. 横向分辨率:4. 0.38 um minimum (Sparrow criterion)5. 0.13 um (with AcuityXR)6. 垂直分辨率:0.01 nm7. 台阶高度重复性:0.75% 0.125% 1 sigma repeatability8. 大扫描速度:122 um/sec (with laser reference)9. 样品反射率范围:0.05% to 100%10 .样品尺寸:350 mm * 304 mm x 304 mm (H x D * W) ;249 mm H 自动样品台11. 大样品重量:45 kg (77 kg without standard stage)12. XY 品台:300 mm 自动样品台13. Z 轴聚焦:249(350 mm 不带自动台)14. 光源:利双LED光源15. 物镜: 16. Parfocal: 2.5X, 5x, 10X, 20X, 50X,100X, 115X17. LWD: 1X, 2X, 5X,10X18. TTM: 2x, 5X, 10x, 20X: Bright Field: 10X19. Single-objective adapter Optional motorized five-position turret20. 放大器:0.55X,0.75X,1X,1.5X, 2X auto-sensing modules
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  • Nano Step系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3)应力测量:可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1)单区域测量模式:完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度,即可开始测量。2)多区域测量模式:完成Focus后,根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式,一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3)3D测量模式:完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置,并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置,一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机,在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径,在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针,当需要执行换针操作时,可现场快速更换扫描测针,并根据软件中的标定模块进行快速标定,确保换针后的精度和重复性,减少维护烦恼。磁吸针实物外观图(330μm量程)NS系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用 部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH 温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 标注:购买前务必与我司确认*终价格。店铺产品所有报价均为未税单价(可议价),店铺标注价格不作为*终成交单价,如果购买数量较多的话可以找客服沟通确认*终单价!!! 注意:网上标价不是醉低价,请询价,询价很简单,但询价会有大惊喜!!!日韩产品带购哪家强?中国济南找千斗!我公司专业提供日本、韩国等国外工业产品,日本小野/日置/欧姆龙/图技/大菱/DKK/拓普康/佐藤/KEM/强力/东京精密等品牌,产品一手货源,价格极具竞争力,欢迎咨询洽谈!我公司是韩国东都位移传感器/测量仪,东山光栅尺的代理商,愿与贵方建立长期稳定合作关系,双赢共进。我们不做所有产品,我们只做自己的优势产品!!!选择我们是明智之举! 日本原装进口东京精密轮廓仪专用测针DM45082日本东京精密测针DM45082原装现货发售,数量有限,先到先得
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  • 东京精密 华东地区一级代理 昆山铭尚精密机电有限公司东京精密表面粗糙轮廓一体测量机1600G特点:1、自动要素排定功能,AI功能;2、充实了轮廓度评价;3、尺寸线显示功能(轮廓);4、形状的合成功能;5、测量效率高,CNC功能欢迎进入我司官网了解详细产品信息
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  • 中图仪器SuperViewW1白光干涉3d高倍光学轮廓仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能。它能以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。SuperViewW1白光干涉3d高倍光学轮廓仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)SuperViewW1白光干涉3d高倍光学轮廓仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能; (3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施 在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。应用领域SuperViewW1白光干涉3d高倍光学轮廓仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术, 可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测 产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.SJ5800接触式轮廓仪粗糙度仪器具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。 4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3.自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。产品特点1.纳米级光学传感器,可大量程(24mm)测量轴承圆弧沟槽表面粗糙度; 2.拔插式测杆、0.5mN超低测力保护工件测量面;3.多方向运动轴保护措施,确保测针、保护仪器关键部位;4.具备轴承沟道测量功能:桃形沟尺寸、圆弧沟道、油沟形状、角度及对称度、套圈越程槽、成品轴承外圈凹槽距离、轴承滚道与挡边角度测量、倒角R及倒角尺寸,对称、非对称、对数曲线滚子凸度及滚子球基面测量功能;5.具备轴承沟道,内孔及端面表面粗糙度测量功能;6.分离式操作控制台,控制X、Z轴移动,使得测针顺利进入工件测量位置7.可将数据扫描点输出到CAD、ASCII格式文件,方便细节观察工件表面缺陷。SJ5800粗糙度轮廓仪可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm(标准测杆)(±12mm:两倍标准测杆)粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002;仪器尺寸(长×宽×高)600×350×850mm仪器总重量约95Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • “小身材,大作用”——一个简单的比喻,恰当地总结了中图仪器新上线的SuperView WM100便携式光学3D表面轮廓仪的特点,作为业内精密微纳测量仪器制造商,中图仪器不断地丰富旗下的显微测量产品序列,在基于对SuperView W1机型的深入研究基础上,新推出的mini型光学3D表面轮廓仪SuperView WM100,以回应市场对小型化、便携式光学3D表面轮廓仪的需求。图.WM100光学3D表面轮廓仪轻便的机身,简约的设计——没有控制箱、无须隔震台,如图所见,即是全部。SuperView WM100型光学3D表面轮廓仪采用了新的设计方法,内置了控制系统和隔振模块,整机仅由一台轻便的仪器主机和笔记本电脑组成,完成了从“重量级”到“轻量化”的转变,却又能够适应从嘈杂的车间到安静的检测室等各种应用环境,成功地将具有0.1nm纵向分辨率的光学检测仪器打造成了可以快速而便捷地走进客户应用现场的利器,开了亚纳米级检测仪器“上车即走,上桌即用”的新局面,让客户足不出户却又能现场体验这款高精度检测仪器的强大性能。简约而不简单,SuperView WM100型光学3D表面轮廓仪,有着不逊色于其前辈SuperView W1的测量稳定性,在能代表仪器性能的粗糙度RMS重复性和台阶高测量重复性上达到优于0.008nm和0.1%的技术指标。同时电动化的运动轴设计让仪器在客户现场演示时能够展现所有的自动化功能,满足客户的测量需求,完好地呈现中图仪器在纳米检测领域的技术实力。借助中图仪器遍布全国的销售网络和技术服务网点,SuperView WM100型光学3D表面轮廓仪会坐上快专车,以迅捷的速度赶赴客户现场展现3D显微测量的奥秘。
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  • Dektak XTL探针式轮廓仪 400-860-5168转4679
    Dektak XTL™ 探针式轮廓仪可容纳高达 350mm x 350mm 的样品,为大型晶圆和面板制造带来Dektak ® 传奇的可重复性。Dektak XTL 具有空气振动隔离设计和全封闭工作站设计,具有易用的联锁门,是当今苛刻的生产车间环境的的理想之选。其双摄像头架构可增强空间感知能力,其高自动化水平可最大限度地提高测试通量。业界最佳自动化和分析软件增强的软件功能使 Dektak XTL 成为功能最强大、最容易使用的探针式轮廓仪。该系统利用 Vision64 软件,通过数百种内置分析工具实现众多的测量位点、3D成像和高度自定义的特征分析。Vision64软件还能测量形状,如曲率半径。模式识别可最大限度地减少操作员误差并提高测量位置精度。集成化的软件包将数据收集和分析与直观的工作流程相结合。无与伦比的探针技术Dektak XTL 以 50 多年的探针式轮廓仪的专业知识和生产设施的应用程序定制为基础,以满足当今和未来严格的行业路线图。300 毫米高精度编码 XY样品台为制造商提供了满足严格计量研发要求的可靠工具。Dektak 的双摄像头控制与高清放大双视场相机提供增强的空间感知。实时视频中的点击定位使操作员能够快速将样品移动到正确的位置,以便快速轻松地进行测量设置和自动化编程。该系统的大型联锁门为样品装载/卸载提供了安全、方便的访问。其他硬件功能包括:单拱形架构和集成振动隔离系统,实现行业领先的性能快速更换自对齐探针高精度编码 XY 样品台,实现更快的自动数据收集N-Lite 低力,采用软触控技术,具有 1mm 测量范围,可同时用于测量精密和高垂直范围样品。
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  • NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理,在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学,工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪技术特点常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合。双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图。针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10&mu m X 10&mu m 到500&mu m X 500&mu m。样品台扫描使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到50mm。在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察。针尖扫描采用双光学传感器,同时拥有宽阔测量动态范围(最大至500&mu m)及亚纳米级垂直分辨率 (最小0.1nm )软件设置恒定微力接触。简单的2步关键操作,友好的软件操作界面。应用 三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。薄膜和厚膜的台阶高度测量。划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量。空间分析和表面纹理表征。平面度和曲率测量。二维薄膜应力测量。微电子表面分析和MEMS表征。表面质量和缺陷检测。北京亿诚恒达科技有限公司:
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  • 中图仪器SJ5800广东表面粗糙度轮廓仪是一款能实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析的检测仪器。它采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。 7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。SJ5800广东表面粗糙度轮廓仪可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.SJ5800广东表面粗糙度轮廓仪具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。 5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3.自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。 典型应用部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm(标准测杆)(±12mm:两倍标准测杆)粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002;仪器尺寸(长×宽×高)600×350×850mm仪器总重量约95Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 厂家正式授权代理商:岱美有限公司 联系电话:,(贾先生) 联系地址:北京市房山区启航国际3期5号楼801 公司网址:Subnano 轮廓仪??NanoX-2000/3000系列、3D光学干涉轮廓仪建立在移相干涉测量(PSI)、白光垂直扫描干涉测量(VSI)和单色光垂直扫描干涉测量(CSI)等技术的基础上,以其纳米级测量准确度和重复性(稳定性)定量地反映出被测件的表面粗糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。产品参数: n 测量模式 移相干涉(PSI),白光垂直扫描干涉(VSI),单色光垂直扫描干涉(CSI)n 样 品 台 150mm/200mm/300mm样品台(可选配) XY平移:±25mm/150mm/200mm/300mm,倾斜:±5° 可选手动/电动样品台n CCD相机像素 标配:1280×960n 视场范围 560×750um(10×物镜) 具体视场范围取决于所配物镜及CCD相机n 光学系统 同轴照明无限远干涉成像系统n 光 源 高效LEDn Z方向聚焦 80mm手动聚焦(可选电动聚焦) n Z方向扫描范围 精密PZT扫描(可选择高精密机械扫描,拓展达10mm )n 纵向分辨率 <0.1nmn RMS重复性* 0.005nm,1σn 台阶测量** 准确度 ≤0.75%;重复性 ≤0.1%,1σn 横向分辨率 ≥0.35um(100倍物镜)n 检测速度 ≤ 35um/sec , 与所选的CCD和扫描模式有关 产品优势??美国硅谷研发的核心技术和系统软件??关键硬件采用美国、德国、日本等知名品牌??PI纳米移动平台及控制系统??Nikon干涉物镜??NI信号控制板和Labview64 控制软件??TMC光学隔振台??测量准确度重复性达到世界先进水平(中国计量科学研究院证书) 上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ,卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ,唐女士: 北京分公司地址: 北京市房山区长阳镇启航国际3期5号楼801电话: ,贾先生:
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  • SJ5800中图粗糙度轮廓仪品牌采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。它可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。产品简介中图粗糙度轮廓仪品牌通过超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能伺服驱动电机保证测量的超高稳定性及直线度,采用超高精度纳米衍射光学转轴测量系统及高精度直线光栅X轴建立工件表面轮廓的二维坐标,计算机采用高精度标定系统对采样数据进行修正标定,最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来,通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。产品优势1、轴承测量、高稳定、高精密(1)中图粗糙度轮廓仪品牌SJ5800具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,测试轴承内外侧。可选轴承夹具和滚子分析,方便测试。(2)分辨率高达0.1nm,系统残差小于3nm。(3)超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。(4)高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。(5)精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。2、操作灵活、智能、简单 (1)轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。(2)测针一键拔插,设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。(3)各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。(4)带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。(5)智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。(6)组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。(7)根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。(8)软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。3、自动、批量、快速测量(1)对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,可以定工件的任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。(2)CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。(3)自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。应用行业可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业。应用案例 SJ5800可以对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。如对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm(标准测杆)(±12mm:两倍标准测杆)粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ;Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T3505-2009,ISO4287:1997,ISO 13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN/EN/ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002;仪器尺寸(长×宽×高)600×350×850mm仪器总重量约95Kg
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  • MicroXAM-800 光学轮廓仪 400-860-5168转1965
    针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量 SMART Acquire简化了采集模式并采用已知最佳的程序设置的测量范围输入 Z-stitching干涉技术采集模式,可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面 XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描 使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建,实现了测量位置、调平、过滤和参数计算的灵活性 利用已知最佳技术,从其他探针和光学轮廓仪转移算法主要应用 台阶高度:纳米级到毫米级的3D台阶高度 纹理:3D粗糙度和波纹度 形式:3D翘曲和形状 边缘滚降:3D边缘轮廓测量 缺陷复检:3D缺陷表面形貌工业应用 大学、研究实验室和研究所 半导体和化合物半导体 LED:发光二极管 电力设备 MEMS:微电子机械系统 数据存储 医疗设备 精密表面 汽车 还有更多:请与我们联系以满足您的要求
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  • SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术,通过软件提供的分析工具可对轮廓及微观轮廓进行各种粗糙度参数、轮廓参数分析。SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测,是大曲面测量(轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子)领域精细粗糙度测量的利器。产品优势专业轴承测量、高稳定、高精密1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围,专业测试轴承内外侧。可选专业轴承夹具和滚子分析,方便测试。2.分辨率高达到0.1nm,系统残差小于3nm。3.超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。4.高稳定的驱动设计,确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰,保障了系统扫描运动精度。5.精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿,使其满足高精度轮廓测量。操作灵活、智能、简单 1.轮廓和粗糙度一体测量,无需切换模块。2.测针一键拔插,特殊设计的高刚性拔插结构,无需锁螺钉,方便快捷、稳定可靠。3.各个运动轴都有进行硬件及软件保护,降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。4.带舵机结构,可防止扫描陡坡时的快速下坠。5.智能恒测力系统,0.5-3mN 测力档位可调,降低了测力变化引起的测量误差,适合测量各类软、硬性工件。6.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移,X轴和Z轴定位,测杆上下摆动及速度分级调节功能。7.根据GB/T、ISO、JIS等标准,自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观,任何人都能轻松设定和测量。自动、批量、快速测量1.对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量;对于复杂的工件,对工件任意位置进行分段测量,并做成模板便于轮廓批量测量。2、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行轮廓批量测量。3、自动保存测量结果,测量完成后可输出测量报告,形式多样。SJ5800中图仪器国产接触式轮廓仪的产品功能及高精度测量能力可以满足发动机关键零部件的轮廓尺寸测量需求。对零件表面的轮廓度、波纹度、粗糙度实现一次扫描测量,尤其是大范围曲面、斜面进行粗糙度及轮廓尺寸一次性检测,如圆弧面和球面、异型曲面进行多种粗糙度参数(如Ra、Rz等)、微观轮廓度Pt、波纹度参数的测量。如分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测。1)节温器内筒轮廓粗糙度检测2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测测量功能1.创建坐标:点线、两点 X、两线等工件坐标系。2.量测工具:矩形框选提取最高点、矩形框选提取矩形框选提取中心点、自动矩形取多点提取线、自动点捕捉取多点提取线、自动矩形提取螺纹中径线、扇形框选提取弧/圆等。 3.构建特征:交点、中心点、角平分线、切线、两线内切圆、二次取样、垂线、平行线、特征偏移、两圆弧内切圆、直线旋转等。4.可测几何量:点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、垂线、线到线的距离、线到圆的距离、X/Z坐标夹角、坐标差、两点之间总过程距离、面积等。5.形位公差:直线度、圆度、平行度、垂直度、同轴度、位置度、轮廓度等形位公差评定。6.快速工具:坐标标注、两线交点、两线夹角、螺牙框选取交点标注、台阶高、滚珠丝杆、框选Pt、沟槽宽度、偏移点与轮廓相交直线、偏移直线与轮廓相交点、基边/基点标准等特殊工具快速测量。7.具备自动找拐点功能,能按照程序设置进行X轴自动找拐点。8.表面粗糙度评定: R参数、P参数、W参数、核心粗糙度Rcore、Motif等微观粗糙度参数。9.支持公差设置、合格判定。10.支持点cnc .xml .dxf 共3种格式的轮廓对比,如标准轮廓中有标注,可自动计算出对应标注结果。11.支持轮廓扫描数据的修改,包括删除异常点来进行分析。12.支持多条记录按照统一基准进行拼接分析功能。13.支持轮廓特征、标注特征、形位公差的颜色自定义管理。部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱0~300mmZ轴±6mm(标准测针杆)(±12mm:选择两倍测针杆时)扫描速度(扫描轴)0.05~5mm/s直线度(扫描轴)≤0.2μm/100mm测量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(电子档位可调)粗糙度参数适用Ra测量范围Ra0.012μm~Ra12.5μm(可选更大范围)粗糙度测量参数R粗糙度:Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;P轮廓参数:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;W波纹度轮廓参数:Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;Motif参数:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;符合标准:GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002。滚子分析(选配)滚子凸度、位置距离、对数滚子母线、X镜像曲线重合度,分段不同公差仪器尺寸(长×宽×高)600×350×890(mm)仪器总重量110Kg恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 三维光学轮廓仪 400-860-5168转4552
    布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉(WLI) 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术, 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面(Advanced Find Surface )功能结合自动聚焦和自动照明功能,无需每次测量前手动查找样品表面,极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人员,甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点:可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式,更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头,特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台,以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案,包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数,即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响,快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中,每个使用者都可通过高级查找表面功能,自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包,从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量,ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外,ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中,该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉(WLI)测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能,从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计,具有300mm 的样品台与目镜间距,因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明,消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要,从而提升用户体验,并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合,提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括:腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角,导程角的大小、方向,频率,柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度,理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程,并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%,表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性
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  • 三维光学轮廓仪 400-860-5168转4552
    布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉(WLI) 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术, 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面(Advanced Find Surface )功能结合自动聚焦和自动照明功能,无需每次测量前手动查找样品表面,极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面,ContourX-1000 在任何表面,任何操作人员,甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点:可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式,更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头,特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台,以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案,包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数,即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响,快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中,每个使用者都可通过高级查找表面功能,自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包,从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量,ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外,ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中,该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉(WLI)测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能,从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计,具有300mm 的样品台与目镜间距,因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明,消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要,从而提升用户体验,并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合,提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括:腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角,导程角的大小、方向,频率,柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度,理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程,并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%,表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性
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  • 中图仪器SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备基于白光干涉原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,以3D非接触方式测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,结果组成:1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;6、微电子表面分析和MEMS表征。SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:SuperViewW光学3D轮廓仪粗糙度在线检测设备测量小尺寸样品时,可以测到12mm,也可以测到更小的尺寸,XY载物台标准行程为140*110mm,局部位移精度可达亚微米级别,Z向扫描电机可扫描10mm范围,可测非常微小尺寸的器件;测量大尺寸样品时,支持拼接功能,将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像,拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致。大尺寸样品_拼接测量产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • MicroXAM-800 光学轮廓仪 MicroXAM-800是一款基于白光干涉仪的光学轮廓仪,采用相位扫描干涉技术(PSI)对纳米级特征进行测量,以及采用垂直扫描干涉技术(VSI)对亚微米至毫米级特征进行测量。 MicroXAM-800的程序设置简单灵活,可以进行单次扫描或多点自动测量,适用于研发和生产环境。产品描述 MicroXAM-800光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。MicroXAM的白光干涉仪可以埃级分辨率对表面进行高分辨率测量。 该系统支持相位和垂直扫描干涉测量,两者都是传统的相干扫描干涉技术(CSI)。MicroXAM进一步扩展了这些技术,它采用SMART Acquire为新手用户简化了程序设置,并且采用z-stitching干涉技术可以对大台阶高度进行高速测量。 MicroXAM测量技术的优势在于测量的垂直分辨率与物镜的数值孔径无关,因而能够在大视野范围内进行高分辨率测量。测量区域可以通过将多个视场拼接为同一个测量结果而进一步增加。 MicroXAM的用户界面创新而简单,适用于从研发到生产的各种工作环境。主要功能l 针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量l SMART Acquire简化了采集模式并采用已知zui佳的程序设置的测量范围输入l Z-stitching干涉技术采集模式,可用于单次扫描以及编译多个纵向(z)距离很大的表面l XY-stitching可以将大于单个视野的连续样本区域拼接成单次扫描l 使用脚本简化复杂测量和工作流程分析的创建,实现了测量位置、调平、过滤和参数计算的灵活性l 利用已知zui佳技术,从其他探针和光学轮廓仪转移算法主要应用l 台阶高度:纳米级到毫米级的3D台阶高度l 纹理:3D粗糙度和波纹度l 形式:3D翘曲和形状l 边缘滚降:3D边缘轮廓测量l 缺陷复检:3D缺陷表面形貌
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  • 中图仪器SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能; (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:SuperViewW光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。其特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM 标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 中图仪器SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪是以白光干涉技术为原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量。SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量; 2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。 应用领域SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所中,对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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