镀层厚度测试仪

仪器信息网镀层厚度测试仪专题为您提供2024年最新镀层厚度测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括镀层厚度测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的镀层厚度测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合镀层厚度测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有镀层厚度测试仪相关的最新资讯、资料,以及镀层厚度测试仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

镀层厚度测试仪相关的厂商

  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
    留言咨询
  • 400-860-5168转3947
    公司简介 济南三泉中石实验仪器有限公司(注册品牌:Sumspring三泉中石),是一家专注于包装材料检测仪器研发和销售的高科技创新企业,公司成立于2007年,专注于为质检药检系统、食品行业、药品行业、包装印刷行业、胶黏剂行业、家电行业等提供一流包装材料科学试验仪器和全面质量控制解决方案。 Sumspring三泉中石技术团队一直自主研发、创新、生产,仪器除满足国内使用之外,更是兼顾ISO、ASTM、TAPPI等多种国际标准规范要求。公司拥有独立的进出口权,产品出口全球25个国家和地区。多项新技术、新发明获得专利证书,拥有完全的自主知识产权。同时,顺利通过ISO 9001:2008质量体系认证,并获得软件著作权等多项权威认证。济南三泉中石实验仪器有限公司实验室 Sumspring实验室拥有专业技术服务人员,配有自主研发的40余台先进的仪器设备、测试附件工具等,不但能够客观、公正为客户提供准确、可靠的检测数据,还为各院校、科研单位、大中企业建立了学习交流、实习平台。 10年的发展,三泉中石一直秉承着与客户共赢的经营理念,不断提升产品质量和服务水平。我们为生产企业建立产品质量风险管控体系,帮助政府监管部门完善相关标准法规。我们还关注国际先进的包装检验方法,致力于将其引进到中国,帮助国内企业和政府部门更好的提升产品质量和管理水平。为中国的食品药品包装质量安全做出贡献。三泉中石Sumspring 主要产品介绍:1、 薄膜软包装检测仪器:济南三泉中石薄膜复合包装检测仪器包针对薄膜复合包包装行业研发生产,适用于各种包装袋的密封性、拉伸、剥离强度、热封强度、厚度、摩擦系数、抗冲击、穿刺、耐撕裂等指标检测,相关产品:薄膜拉伸强度试验仪、智能电子拉力试验机、智能密封仪 (正压)、密封性测试仪、多通道密封检漏仪、热封试验仪、摩擦系数仪、摩擦系数/剥离试验仪、撕裂度测试仪(埃莱门多夫法)、智能摆锤冲击仪(薄膜)、薄膜摆锤冲击试验机、自由落镖冲击试验仪、测厚仪、金属镀层测厚仪、包装耐压强度测试仪、热收缩性试验仪、提袋疲劳试验机、口红折断力测试仪、圆盘剥离试验机、迁移池。2、药包材玻璃瓶检测仪器:药包材检测仪器包含了针对药品包装、药用玻璃瓶、塑料瓶、铝箔、预灌封、注射器、注射针等产品进行穿刺力、破裂强度、开启力、连接力、滑动性、耐内压力、偏光应力等物理性能测试仪器,相关产品:微泄漏密封性测试仪(真空/压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(真空衰减)、高压放电法密封性测试仪、密封性测试仪 (负压)、智能密封仪(色水法/微生物侵入)、安瓿瓶折断力测试仪、玻璃瓶垂直载荷测试仪、玻璃瓶耐内压测试仪(双工位)、玻璃瓶耐内压力试验机、玻璃瓶抗冲击试验仪、玻璃瓶耐热冲击试验仪、壁厚测厚仪、智能偏光应力仪、偏光应力仪、医药包装撕拉力测试仪、自动旋盖测力仪、自动扭力测试仪、瓶盖扭矩仪、电子轴偏差测量仪、热封试验仪、落球中击试验机(硬片)、全自动耐破强度测试仪(药用铝箔)、铝箔针孔度测试仪、涂层连续性测试仪、玻璃耐碱测试装置、输液袋渗透性试验仪、穿刺力测试仪、医用针管韧性测试仪、医用针管刚性测试仪、鲁尔圆锥接头综合测试仪。3、卫生用品纸张纸板检测仪器:纸张纸板检测仪器包含了针对纸张纸板厚度、耐破强度、边压强度、平压强度、粘合强度、空箱抗压等检测项目的仪器,通过以上测试,可以了解到纸箱的性能,为企业包装设计提供可靠数据依据。相关产品:纸尿裤吸收性能测试仪、吸收速度测试仪、背胶剥离强度测试仪、柔软度测试仪、纸张柔软度测试仪、自动吸水倍率测试仪、纸尿裤渗透性测试仪、掉粉率测定仪、球型耐破试验机、纸箱抗压试验机、自动型耐破强度试验机(纸板)、卧式抗张强度试验机、纸张撕裂度测定仪、纸张吸水率测定仪、微电脑弯曲挺度测试仪、剥离/抗张测试仪、电子压缩试验仪、白度测定仪、定量取样器、可勃吸收性测定仪、尘埃度测试仪、暗箱式紫外分析仪、摩擦试验机、纸杯杯身挺度测试仪(双探头)。4、胶粘制品检测仪器:贴膏剂胶粘制品检测仪器包含了针对压敏胶粘带,不干胶标签,医用胶带 ,药典贴膏剂等产品进行滚球法初粘性,高温持黏力,180度剥离强度,厚度,拉伸强度,黏着力等粘性测试项目的检测仪器。相关产品:PC型电子拉力试验机、贴膏剂黏着力测试仪、180°剥离强度试验机、持粘性测试仪、持粘力测试仪(胶带)、恒温持粘性测试仪、初粘性测试仪、环形初粘性测试仪、胶粘带压滚机(电子压辊试验机)、阻水性测试仪。
    留言咨询
  • 公 司 简 介深圳市善时仪器有限公司是一家研发、制造、销售金属成份分析、环保、镀层厚度分析等领域光谱仪器的民营高科技公司,公司以技术、品牌、质量、服务为核心,为国内外客户提供高质量、高性能和平价的金属成分与环保分析检测仪器产品及解决方案,产品居国内同类产品领先地位。产 品: 公司研制的金属分析光谱仪,集金属成份分析、RoHS检测、镀层厚度检测于一体,具备极高的性价比。产品广泛应用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与电子制造等行业,对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着极高的经济实用价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证,本公司所生产的金属分析光谱仪的精确度及性能居国内同行业领先地位,测试范围由RoHS的六种物质扩大到六十几种元素,而且还可以按照自身要求任意添加,该系列仪器在满足普通RoHS环保检测的基础上,还可对金属材料成份进行精确的定性定量分析,填补了中国金属分析领域在此方面的空白,可与国外发达国家的同类设备相媲美。 公司立足高端、面向未来,致力于研发制造技术更高端、功能更全面、布局更完善的光电检测分析仪器,形成用于金属、非金属成分分析检测的ICP离子、激光、荧光、火花直读等品类系列及用于环境、食品、有机物成分检测分析的仪器的完整系列产品,让公司步入世界一流同类企业行列。科 研: 公司研发队伍强劲,并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器系教授、韩国ISP公司携手合作,以欧美现有技术为基础,在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时,还拥有多项独有的**技术和差异化产品,多项核心技术处于国际领先水平。质 量:公司视产品质量为企业之基,依据ISO9001质量控制体系和ISO14001环境管理体系,对已定型产品在其来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关,确保产品的性能和质量精优,多个产品系列已获得欧盟CE认证、UL认证证书。服 务:公司专门成立营销管理中心,销售、服务网络覆盖全国。同时在海外选设代理商。公司视客户为朋友,随时为用户提供耐心周到的售前、售中、售后支持和服务。欢迎广大客户前来垂询、参观、体验及购买。公司主要产品:金属成分分析系列:EDX-850A, EDX-1000,EDX-1050,EDX-1200,EDX-6800等广泛用于冶炼、矿山、机械加工、贵金属、电子电器等行业金属成分分析,分为非真空、真空两种类型,部分型号兼有功能升级空间。镀层厚度分析系列:iEDX-150(A)T,iEDX-150WT广泛用于PCB镀层分析、电子元器件等金属镀层分析领域,可同时增加RoHS功能。环保RoHS检测系列:iEDX-100A,iEDX-200AT广泛用于玩具、电子、塑胶、五金、皮革等行业有害重金属及卤族元素分析。液体、粉末类产品专用系列:WD-100S,WD-100SA广泛用于石油、石化、饲料、药品、食品等领域,专业检测各类液体、粉末样品,可同时分析多种元素,精度高,检测快,操作方便,简单易学。电阻式系列: iTG-B10 主要用于检测各类线路板覆铜厚度检测及特殊单层金属薄膜分析,无线手持式检测仪,方便、快捷,可随时随地检测产品。 近红外分析仪系列: SS601M,SS311M 主要应用在土壤,汽柴油,粮食,饲料、农药、医药等领域。
    留言咨询

镀层厚度测试仪相关的仪器

  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05X0..05mm;长方形0.03X0.2mm5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480 mm×375 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×460mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行,8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。XULM使用了高能量的X射线管,即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上,以保证测量的精确度。
    留言咨询
  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金;电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用注:基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用,所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时,可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块,则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。可选择的Super WinFTM软件(订货号602-950)提供了以下的附加功能:可随意创建测量应用可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度快速的频谱分析以决定合金成分技术参数:1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.3;在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)510 mm×455 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×380mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
    留言咨询
  • 仪器简介:适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标,用于快速产品选择。完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从上至下;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器;或直径0.1mm 或直径0.2mm;或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部(X-射线管,成比例的反射接收器及视准器)至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离(见背面)必须在定货时明确(标准设定:中间位置)8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点:FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。
    留言咨询

镀层厚度测试仪相关的资讯

  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]   通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。      日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。   对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。   为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。   近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。   精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。 [SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。 [主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500X SFT9550X 样品台尺寸(宽)×(长)  175×240 mm 330×420 mm 样品台移动量(X)×(Y)×(Z)  150×220×150 mm 300×400×50 mm 被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度)  500×400×145 mm 820×630×45 mm X 射 线 源 空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA) 检 测 器 Vortex半导体检测器(无需液氮) 照 射 直 径 最小30μmφ 样 口 观 察 CCD摄像头(附变焦功能) 样 品 对 焦 激光点 滤 波 器 Au极薄膜测量用滤波器 操 作 部 电脑、19英寸液晶显示器 测 量 软 件 薄膜FP法、薄膜検量線法 选 配 能谱匹配软件、红色显示灯、打印机 测 量 功 能 自动测量、中心搜索 数 据 处 理 Microsoft® Excel、Microsoft® Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像)) 安 全 功 能 样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上 本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp
  • 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演
    Thick 800是我司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞最新科技与智慧的结晶,领先国际水平,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。 Thick 800可精确测量各类镀层的厚度,精确度达到0.01&mu m,同时镀层分析能力多达5层,能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等优秀特点。 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演于5月16日在深圳启动,历东莞、广州、厦门、昆山、嘉兴、温州等地,于6月13日在青岛胜利结束。经公司领导密切关注和亲临指导,整个路演活动非常成功。顾客对镀层测厚原理、Thick800的性能特点、Thick800的比较优势有了全面的了解。 在深圳、东莞站,许多顾客对仪器表现出浓厚的兴趣,他们仔细询问了仪器的技术指标、配置、功能等。在昆山站,顾客围着仪器进行了仔细的观摩,他们认真察看了操作人员的演示。在温州站,顾客踊跃提问,积极表达自己的关切点,主动了解公司的售后服务、仪器应用和销售等情况。他们纷纷表示,参加我司的全国路演活动,不但了解了一款技术领先的仪器,而且了解了一个魅力四射的公司,体验了一种服务顾客、关注需求的企业文化。 至此,我司Thick800镀层测厚仪全国路演活动胜利落下帷幕。 天瑞仪器副总经理胡晓斌在昆山站作Thick800镀层测厚仪专门报告 主持人正在演示Thick800的产品说明、技术参数及配置 客户仔细聆听路演报告 客户向主持人询问产品的性能及售后服务等问题

镀层厚度测试仪相关的方案

镀层厚度测试仪相关的资料

镀层厚度测试仪相关的试剂

镀层厚度测试仪相关的论坛

  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持,天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪,为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技,并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案,增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司(中国)特举办—— 注:1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司(中国)所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

  • 镀层厚度测试

    大家能否分享一下镀层厚度测试的经验?诸位对用岛津的EDX720测镀层厚度的准确性方面都有什么感受?请不吝赐教!

  • 【讨论】测试镀层厚度时怎么设置?

    请问各位在测试金属镀层时:1、对于各种有害物质的测试时间是怎么设置的?2、如果我只需要测试镀层厚度而不需要测试镀层里的有害物质含量时,有害物质的测试时间的长短是不是可以随意设置?这个测试时间会不会影响镀层厚度的测试结果?3、如果某个金属表面镀了两层镀层,那么里面的镀层不设置有害物质的测试是否可以?请各位指点!

镀层厚度测试仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制