多道荧光光谱仪

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亮相CISILE2011 天瑞仪器备受关注 25日上午10点，“天瑞仪器2011新品发布会”如期举行，隆重推出天瑞仪器新品SUPER XRF 2400。“SUPER XRF 2400的超低检测功能到底能达到什么程度？”、“SUPER系类的稳定性怎么样？”几位来自印度的客商围着天瑞技术人员不断询问。SUPER XRF 2400超级X荧光光谱仪特殊光路系统，提高信噪比, 降低检出限，实现超微量元素检测 !SUPER XRF 2400超级X荧光光谱仪测试范围广，效率高，高智能化特殊光路系统，提高信噪比，降低检出限，实现超微量元素检测油冷散热系统，使仪器工作更加稳定，更加智能化数字多道数据采集处理系统，使仪器处理能力更高400W大功率光管，提高仪器测量样品时的精度12个自动进样转盘，大大提高用户的工作效率配有真空系统，能够测量轻元素（Na、Mg、Al、Si、P）仪器技术指标：元素分析范围从钠（Na）到铀（U）可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率可对12个样品进行自动切换测试一次可同时分析最多几十种元素分析检出限最高可达0.1ppm分析含量一般为0.1ppm到99.9％任意多个可选择的分析和识别模型相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回收程序长期工作稳定性为0.1％温度适应范围为15℃至30℃电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源外观尺寸：752mm*988mm*759mm(宽*高*长)标准配置：超锐X光源和样品激发机构上盖电动开关的大容量样品腔可自动切换的准直器，滤光片高清晰CCD摄像头SDD探测器数字多道采集处理系统高低压电源进口400W端窗光管具有自动控温系统样品杯自动切换系统全自动真空系统专业X荧光分析软件计算机及喷墨打印机SUPER XRF 2400 产品性能特点：特殊光路系统采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。4400W大功率X光源400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。数字多道技术采用最新数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。油冷散热系统油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。光闸系统光闸系统，由于频繁的开启和关闭大功率X光源和高压系统会影响仪器测量的稳定性，使用光闸系统后可以使高压长期运行不关闭，提高仪器的稳定性。抽真空系统抽真空系统，可以满足轻元素的测量。自动进样系统自动进样系统，可以一次检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。应用领域：SUPER XRF 2400不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业SUPER XRF 2400超级X荧光光谱仪SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路[size=

如题，做个调查。前几天听一个光谱分析方面的专家提及多道原子荧光，说效果不如单道原子荧光。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

采用原子荧光光谱法进行测定时具有如下优点：1 使用原子荧光光谱仪进行检测，有较低的检出限，灵敏度高。特别是对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0.001ng/cm?、Zn为0.04ng/cm?。现已有20多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。2 干扰较少，谱线比较简单，采用一些装置，可以制成非色散原子荧光光谱仪。这种仪器结构简单，价格相对便宜。3 谱线简单，分析校正曲线线性范围宽，可达3~5个数量级，特别是用激光做激发光源时更佳。4 由于原子荧光是向空间各个方向发射的，比较容易制作多道仪器，因而能实现多元素同时测定。这些优点使得原子荧光光度计在冶金、地质、石油、农行、地球化学、材料科学、环境科学、高纯物质、水质监控、生物制品和医学分析等各个领域内获得了相当广泛的应用。

1、 综述 原子荧光光谱仪是一种光谱类痕量分析仪器，其中的原子荧光指的是将被测样品液体经过原子化成为气态基态自由原子后，使其吸收外部光源一定频率的辐射能量跃迁至高能态，这些高能态的电子一般在小于10-8秒即返回基态，并以特征光谱形式放出能量，即原子荧光。 原子荧光光谱仪主要作用是用来检测重金属含量，检出限可达PPT级别，也可联用液相等进行元素形态分析，是一种国内普及的实验室设备。 通常我们所说的重金属，主要是指汞、镉、铅、铬、砷等金属或类金属，也指具有一定毒性的一般重金属，如锑、铋、锗、锡、锌、硒、碲、铜、锌、镍、钴、金、银、铁等。 它们主要从自然性、毒性、活性和持久性、生物可分解性、生物累积性，对生物体作用的加和性等几个方面对人们生活造成重要影响，有些已经到了非检不可的地步。 值得一提的是，原子荧光光谱仪是少数具有中国自主知识产权的分析仪器，填补了国际空白，受到了国家有关部门的重视。2、产生用原子荧光来测量元素含量，最早在1964年国际上首次提出，先后由美国和英国的研究小组进行基础理论研究，后由美国公司进行先期的生产，直至1995年左右，国外才生产出来商品化原子荧光。相比较国外，国内原子荧光技术的发展则较为迅猛，1975年开始研究，1979年西北有色地质研究所的郭小伟教授研究成功氢化法原子荧光光谱仪（HG-AFS），80年代初第一台原子荧光的诞生。那么国内为什么要研究这个课题呢？ 七十年代末期，我国地矿部要进行大范围的地质普查，大量测量砷、锑、铋、汞，以前使用的化学法测量不但慢，工作量大，也无法保证重复性。因此国家有色地质总局给西北有色地质研究院的郭小伟研究小组下达了课题，研究一种仪器来进行这些元素的测量。 1979年郭小伟成功研制出用溴化物无极放电灯做激发光源的光谱仪，然后于80年代初期，研究小组用技术无偿支援且回购所有成品的方式，与北京地质仪器厂合作，共同研制生产出第一台原子荧光光谱仪（也曾和西安无线电八厂、浙江温州分析仪器厂、江苏宝应分析仪器厂等进行过合作和试生产）。自此，中国的原子荧光行业飞速发展： 1985年北京地质仪器厂开始批量生产原子荧光光谱仪 1987年空心阴极灯及其供电方法替代了无极放电灯 1989年由手动仪器变成微机控制的半自动型设备 1990年产生了流动注射进样方式 1994年郭小伟发明了断续流动进样装置 1995年张锦茂等研制了氩氢火焰低温点燃装置 1998年郭小伟教授研究成功火焰法原子荧光，可测金银等 2002年刘明钟、方肇伦等将顺序注射装置用于进样系统 2002年，郭小伟教授提出了连续流动进样技术，并投入研发，直至2005年才成功投产，于2006年获得专利。3、性能如何去一台原子荧光的优劣好坏？从消费者的角度来说，无外乎：A、首先，看这产品能否用的住，耐用B、其次，看主要性能指标C、然后，看用起来顺不顺手，这包括使用习惯、培训情况、软件界面、分析速度等多方面D、接着，再看价位、售后服务等E、 最后，还需看备品配件是否易坏，配件的价格是否合理，等F、 由以上可确定厂家，然后挑选符合自己使用要求（如测量元素、价态等）的产品型号 说到这里，简要说一下什么是原子荧光光谱仪的主要性能指标。《中华人民共和国国家标准》GB/T 21191-2007号文件原子荧光光谱仪国家标准，以及《中华人民共和国国家计量检定规程》JJG 939-2009 原子荧光光度计计量规程，两个文件中规定的，属于原子荧光光谱仪（也称原子荧光光度计）必须检测的指标共计5个，下面是这5大指标及其便于理解的诠释：基线稳定性：反应仪器稳定程度的参数，一般是电路、光路影响（长期使用，稳不稳）检出限：可测量的最低下限（有时称灵敏度，即元素含量少的时候，仪器能否辨别得出）重复性：多次测量的相符合程度，（也叫精密度，反映了仪器准不准）线性范围：被测元素从最小到最大能成线性关系变化的范围道间干扰：双道（即双元素）同时测量时相互干扰程度检出限是原子荧光仪器适用不适用用户场合的基础；道间干扰是双元素或更多元素同时测量时的要求；而相对而言，重复性是最重要的指标。因为用户配的样品或标准溶液大部分时候都会经过稀释或富集处理，因此重复性些微的差距，将导致较大甚至巨大的数据误差。原子荧光光谱仪是一种较为精密复杂的分析仪器，具有诸多的组成部分和专有名词，再加上各大厂家争相推出编撰的各种名词，有时候可能会看的用户一头雾水。然而，原子荧光光谱仪是一个整体，任何部件和技术的使用，比如最新的多层气液分离技术，各种记忆效应消除技术，先进的进样泵，废液处理系统等，归根结底是为了使化学反应更好或排除污染干扰，从而获得更好的重复性等指标，都是来为上面5个主要参数服务的。另外，为了扩大可测元素种类、简化用户操作和前处理步骤，增加各种安全报警装置及维护保养升级，加快仪器分析速度、扩大应用范围等做的改进，也是有意义的。而除此之外，不论宣传的五花八门的其它功能、部件、进样方式、光路系统、各种附件配件有多么美好多么先进，都是各大厂家的噱头，是市场营销策略，对消费者而言，意义并不大。4、分类①、从反应原理分A、氢化物发生（氢化法）：一般测量11-12种元素B、火焰法：可与氢化法联用，总共测量18-19种元素②、从通道数目来分A、单道：可同时测1种元素B、双道：可同时测2种元素，也是用的最广泛的C、多道：可同时测量多种元素，但由于理论上和实际操作中，一是多元素共存在同一个环境中被同时测量，是很苛刻的或难以实现；二是激发光源具有最优角度，多道无法满足所有通道的激发光源获得最佳角度；三是具有道间干扰的存在，双道都无法解决何况多道；四是即使能够实现，复杂程度和测量时间也超过了单独双道测量。因此多道同时测量，在现阶段，也就沦为了厂家宣传产品的手段。③、从光学来分A、有色散原子荧光光谱仪B、无色散原子荧光光谱仪④、从进样方式来分A、间断流动：间断进样也叫断续流动，其特征是样品和空白交替输入仪器，根据其使用的动力装置，又可分为手动间断法、流动注射法、间歇泵法、顺序注射B、连续流动：连续进样，其特征是样品直接连续输入仪器，测试过程中无需空白5、厂家中国在原子荧光取得的巨大成就，与相关研究工作者和相关单位的辛勤努力是分不开的。那么，这些先驱后来的发展方向如何呢？截止到2012年，原子荧光都有哪些厂家呢？A、郭小伟教授及其索坤公司：郭小伟教授是当之无愧的中国氢化法原子荧光仪器的奠基人，火焰法原子荧光的独一创始人。郭教授从1997年研制出火焰法原子荧光后，国家地质总局，不再与北京地质仪器厂进行技术输出合作，转而自己生产。 1999年，西安索坤技术开发有限公司成立，郭小伟课题组成为公司科研部，郭小伟任公司总工程师。西安索坤公司为国家控股公司，以研发为主，2002年左右，所有厂家的原子荧光技术的进样方式均为间断性进样，间断性进样方法，从化学反应原理上就导致重复性不高，且操作麻烦，一般都必须配自动进样器。为了改变这种现状，2002年郭小伟教授提出了连续流动进样法的设想，并致力于研究。其带领的西安索坤团队，开拓进取，终于2005年将连续流动技术付诸生产-诞生了名为SK-2002A的世界上第一台连续流动进样原子荧光。2004年西安索坤改制，由国有改为股份制，并迁址北京，更名为北京金索坤技术开发有限公司，并注销了西安索坤公司。可见，北京金索坤是从郭教授一脉继承过来的公司，具有较高的技术底蕴，金索坤公司得益于郭教授最后研发的连续流动技术，因而仪器的性能是市面上最好的，直接反映在：其具有目前市面上所有其它厂家都无法实现的高达0.3%-0.6%重复性指标。这家企业的产品特点还包括：具有火焰法原子荧光，可测金、银、铜、铁等氢化法原子荧光可测的之外的元素。另外，具有高测样速度，测试时间约为20秒/样品。从市场角度来说，这家公司早期的性制所限，过于注重技术研发而轻市场，市场占有率截止至2012年11月约为第3-第4名。从2010年开始，这家公司将越来越多的精力放在了市场开拓及客户维护上，因此来看，还具有一定的发展空间和潜力。B、刘明钟总工与北京地质仪器厂及科创海光：正如我们上面所介绍的，在我国原子荧光的研究、产生、发展过程中，北京地质仪器厂起到了不可或缺的重要作用。地质矿产部北京地质仪器厂始建于1959年，后于1988年先后组建了北京海光仪器公司和奥地仪器公司两个分厂，后来这两个分厂拆分出去独立运作。奥地仪器公司主要进行物探仪器的研制和销售，而海光仪器主要进行原子荧光光谱仪的研制、销售，以及原子吸收等产品的代理、销售。提到地质仪器厂和海光，就不能不提到刘明钟高工。他于

日本理学全自动多道同时型X射线荧光光谱仪SIMULTIX 14，越具体越好，拜托了

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

波长色散X射线荧光光谱仪分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 波长色散X射线荧光光谱仪采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 美国Cianflone公司扫描型X射线荧光光谱仪（波长色散型）2501XBT型号是ASTM金属基层处理涂层测厚检验标准（D5723-95）、ASTM1306-07和D6906-03中唯一推荐检测仪器。X射线荧光光谱仪是表面金属元素成分分析的理想工具。 Portaspec2501XRF可以试验如下金属和矿物的全定量分析： 铬、钴、铜、金、铁、铅、锂、锰、汞、钼、镍、、铂、银、钍、钛、钨、铀、钒、锌、锆? Portaspec以安全的辐射标准（CRF标准）耐用的光学系统，简便的元素选择操作，强大灵活的测量功能、成为金属元素定量定性的最好分析工具。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪用于质量控制和研究，高效、功能强大，包括触摸屏笔记本电脑。X射线管冷却水浴、真空泵，高压电源于一体，完全实现低成本运行。 PortaspecX系列色散型X射线荧光光谱仪主要特点： XSEBT单一元素； XBT分析从钛到银、从钡到铀的单一或多金属顺序测量； XLT分析AI、Si 、P、S、Cl、K、Ca、Zr 系统设置与样品分析耗时短 移动式测量探头，可实现无损在线检测 符合CRF辐射安全 包括触摸屏笔记本电脑 快速调角开关电源 密封、高效耐用的光学系统实验高精度高可靠性的测量请不要注明出处。否则广告论处。

荧光光谱仪是一种常用的分析仪器，广泛用于科研、生产等领域。大家在选择荧光光谱仪时需要根据各自的实验的需求进行选择。目前市面上的荧光光谱仪大体可以分为以下几类：1，x射线荧光光谱仪2，紫外可见近红外荧光光谱仪3，红外荧光光谱仪 虽然各种荧光光谱仪从产品应用、仪器设计都各不相同。但大家都有一个共性，就是采用激发源对样品进行激发，然后测量荧光的光谱，从而得到样品的元素成分、能级、缺陷等各种信息。并且可以进行定性和定量的分析。下面对各种荧光光谱仪分别进行介绍。1，x射线荧光光谱仪1）X射线荧光光谱分析的基本原理：当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在教外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 2）X射线荧光光谱议分光系统是由入射狭缝，分光晶体，晶体旋转机构，样品室和真空系统组成。其作用是将试样受激发产生的二次x射线 （荧光x射线）经入射狭缝准直后，投射到分光晶体上。晶体旋转机构使分光晶体转动，连续改变θ角，使各元素不同波长的x射线按布拉格定律分别发生衍射而分开，经色散产生荧光光谱。3）分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 4）X射线荧光光谱仪分为：波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 a）波长色散X射线荧光光谱 波长色散X射线荧光光谱，采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 b）能量色散X射线荧光光谱　 能量色散X射线荧光光谱，采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。 c）非色散谱仪　非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。 d）全反射X射线荧光 　　如果n1n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。 5，X射线荧光光谱法有如下特点：　　分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；　　分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；　　分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

X荧光光谱仪（XRF）整套技术，含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等）和X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。详细资料请查看本网站链接[url]http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541[/url]已经和国内多家仪器商家建立合作关系，都已量产销售。联系：邮箱midstone[email=oych1128@126.com]@126.com[/email]，腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756本人不常在线，最好手机短信联系

我以前是做直读光谱的没接触过岛津多道X射线荧光2400，他们以前的技术员说很少做标准化，而且做标准化时标准化样品不能打磨，这和直读光谱区别太大了。请高手指点。谢谢！

[B][center]X射线荧光光谱法的进展（1）——X射线光谱法的发展历程[/center][/B]X射线荧光（以下简称XRF）光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析；而其强度的大小可作定量分析。该法具有准确度高，分析速度快，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定，其检出限多数可达10-6，与分离、富集等手段相结合，可达10-8。测量的元素范围包括周期表中从F～U的所有元素。一些较先进的X射线荧光分析仪器还可测定铍、硼、碳等超轻元素。而多道XRF分析仪，在几分钟之内可同时测定20多种元素的含量。伦琴在1895年发现X射线。其后1927年用X射线光谱发现化学元素Hf，证实可以用X射线光谱进行元素分析。1948年美国海军实验室首次研制出波长色散X射线荧光光谱仪。20世纪60年代中期开始在工业部门推广这项技术，我国在那时开始引进刚开始商品化的早期X射线荧光光谱仪。山于半导体探测器的出现，70年代开始出现能量色散X射线光谱仪。由于微型计算机的出现，70年代末到80年代初，使X光谱分析技术无论在硬件、软件还是方法上都有突飞猛进的发展。进入90年代以来，随着空间、生物、医学、环境和材料科学的发展，其需求进一步刺激X射线光谱学的发展，主要体现在各种新探测器、新激发源及相关元器件的开发上，新器件的优越性又促成新的测试技术。X射线光谱学又面临一个大发展的局面。由于XRFA在主次量元素分析上的无可比拟的优势，以及现代X射线荧光光谱仪器的发展，XRFA已经成为一门成熟的成分分析技术，在冶金、地质、建材、石油、生物、环境等领域均有广泛的应用。

在实际生活中，我们不可能面面俱到。有时候过分最求高指标，就会走进一些误区。浪费金钱和精力。好了，废话不多说，今天主要就以X荧光光谱仪为例，和大家谈谈X荧光光谱仪选购过程中，常常犯的一些错误。我们需要明白评价一台X荧光光谱仪好坏的技术指标是多重、综合的。大部分用户关心和看重的主要有分析元素范围，即我们通常所说的可分析元素有哪些，分析时间长短，精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。误区1：片面追求高指标。买一台仪器恨不得把元素周期表里的元素全测了，可实际应用的时候，只简单的测几种元素。对于工业分析而言，被分析样品的种类是确定的，甚至是单一的，对结果的要求也是确定的。特别是一些企业，可能它的实验室永远就测试一两种样品、一两种元素，甚至对元素的含量也简单的描述为不大于多少就行。对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。比如：大多数水泥厂的控制分析只做钙、铁，用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝，全分析则要求增加Na、Mg、S、K等元素，几万元的钙铁仪便可满足控制要求，如追求能测硅铝则需要约十万元的多元素分析仪，多元素分析仪完全可以满足率值控制四种主要元素分析的要求，如一定要提出更高精度和速度的要求就需要约百万元的小型多道X荧光光谱仪了。由于被分析样品的确定性，经验系数法是最有效的分析方法，如果一定要追求无标样法，便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的，而且数量有限，固定道就可以解决问题，一味追求可变道，既多花了钱，还牺牲了稳定性和分析时间；就能量色散型X射线荧光谱仪而言，道数也并非越多越好。所以在购买X荧光光谱仪前，一定要清楚自己买来干什么，然后才能确定型号。误区2：片面追求准确度。每当谈到仪器性能，往往会自然而然地把结果是否准确作为第一判断标准，而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”，最常见的就是与化学分析“对结果”。准确性固然重要，但作为工业分析而言，精密度决不可忽视，首先要关注的是精密度问题，也就是说，同一样品多次测量，其结果应有良好的一致性，每一测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统偏差，是可以进行数学校正的。这个可以理解，你对同一样品的同一元素进行两次测量，一次结果为1，一次结果为2，哪么如何上报实验结果？误区3：不重视稳定性和重现性。所谓稳定性是指同一样品连续测量多次（通常为21次）的标准偏差，而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标，工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整，分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。误区4：分析时间越短越好。X射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的绝对量取决于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量精度的前提条件，为了保证测量精度，必须有足够的测量时间。

[B][center]射线荧光光谱法（1） [/center] [/B] 主讲人 binfu 1 X射线荧光光谱法（X Ray Fluorescence Spectrometry）X射线荧光（以下简称XRF）光谱法的基本原理是当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射出该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析；而其强度的大小可作定量分析。在XRF定量分析中，鉴于高灵敏度和多用途的要求，多数采用高功率的封闭式X射线管为激发源，配以晶体彼长色散法和高效率的正比计数器和闪烁计数器，并用电子计算机进行程序控制、基体校正和数据处理。该法具有准确度高，分析速度快，试样形态多样性及测定时的非破坏性等特点，它不仅用于常量元素的定性和定量分析，而且也可进行微量元素的测定，其检出限多数可达10-6，与分离、富集等手段相结合，可达10-8。测量的元素范围包括周期表中从F～U的所有元素。一些较先进的X射线荧光分析仪器还可测定铍、硼、碳等超轻元素。而多道XRF分析仪，在几分钟之内可同时测定20多种元素的含量。

X射线荧光光谱仪主要用途： 仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息： 循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

原子荧光光谱是1964年以后发展起来的分析方法。原子荧光光谱法是以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。但所用仪器与原子吸收光谱法相近。原子荧光光谱分析法具有很高的灵敏度，校正曲线的线性范围宽，能进行多元素同时测定。 原子荧光光谱是介于原子发射光谱和原子吸收光谱之间的光谱分析技术。它的基本原理是基态原子(一般蒸汽状态)吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。　　原子荧光光谱法(AFS)是介于原子发射光谱(AES)和原子吸收光谱(AAS)之间的光谱分析技术。它的基本原理是基态原子(一般蒸汽状态)吸收合适的特定频率的辐射而被激发至高能态，而后激发过程中以光辐射的形式发射出特征波长的荧光。　　说明:测量待测元素的原子蒸气在一定波长的辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的方法。原子荧光的波长在紫外、可见光区。气态自由原子吸收特征波长的辐射后，原子的外层电子从基态或低能态跃迁到高能态，约经10-8秒，又跃迁至基态或低能态，同时发射出荧光。若原子荧光的波长与吸收线波长相同，称为共振荧光;若不同，则称为非共振荧光。共振荧光强度大，分析中应用最多。在一定条件下，共振荧光强度与样品中某元素浓度成正比。该法的优点是灵敏度高，目前已有20多种元素的检出限优于原子吸收光谱法和原子发射光谱法;谱线简单;在低浓度时校准曲线的线性范围宽达3~5个数量级，特别是用激光做激发光源时更佳。主要用于金属元素的测定，在环境科学、高纯物质、矿物、水质监控、生物制品和医学分析等方面有广泛的应用。　　共振原子荧光　　原子吸收辐射受激后再发射相同波长的辐射，产生共振原子荧光。若原子经热激发处于亚稳态，再吸收辐射进一步激发，然后再发射相同波长的共振荧光，此种共振原子荧光称为热助共振原子荧光。如In451.13nm就是这类荧光的例子。只有当基态是单一态，不存在中间能级，没有其它类型的荧光同时从同一激发态产生，才能产生共振原子荧光。　　非共振原子荧光　　当激发原子的辐射波长与受激原子发射的荧光波长不相同时，产生非共振原子荧光。非共振原子荧光包括直跃线荧光、阶跃线荧光与反斯托克斯荧光，　　直跃线荧光是激发态原子直接跃迁到高于基态的亚稳态时所发射的荧光，如Pb405.78nm。只有基态是多重态时，才能产生直跃线荧光。阶跃线荧光是激发态原子先以非辐射形式去活化方式回到较低的激发态，再以辐射形式去活化回到基态而发射的荧光;或者是原子受辐射激发到中间能态，再经热激发到高能态，然后通过辐射方式去活化回到低能态而发射的荧光。前一种阶跃线荧光称为正常阶跃线荧光，如Na589.6nm，后一种阶跃线荧光称为热助阶跃线荧光，如Bi293.8nm。反斯托克斯荧光是发射的荧光波长比激发辐射的波长短，如In 410.18nm。　　敏化原子荧光　　激发原子通过碰撞将其激发能转移给另一个原子使其激发，后者再以辐射方式去活化而发射荧光，此种荧光称为敏化原子荧光。火焰原子化器中的原子浓度很低，主要以非辐射方式去活化，因此观察不到敏化原子荧光。　　原子荧光光谱法的优点：　　(1)有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0.001ng·cm-3、Zn为0.04ng·cm-3。现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。　　(2)干扰较少，谱线比较简单，采用一些装置，可以制成非色散原子荧光分析仪。这种仪器结构简单，价格便宜。　　(3)分析校准曲线线性范围宽，可达3～5个数量级。　　(4)由于原子荧光是向空间各个方向发射的，比较容易制作多道仪器，因而能实现多元素同时测定。　　仪器构造　　原子荧光分析仪分非色散型原子荧光分析仪与散型原子荧光分析仪。这两类仪器的结构基本相似，差别在于单色器部分。两类仪器的光路图如右图所示：　　1、激发光源：可用连续光源或锐线光源。常用的连续光源是氙弧灯，常用的锐线光源是高强度空心阴极灯、无极放电灯、激光等。连续光源稳定，操作简便，寿命长，能用于多元素同时分析，但检出限较差。锐线光源辐射强度高，稳定，可得到更好的检出限。　　2、原子化器：原子荧光分析仪对原子化器的要求与原子吸收光谱仪基本相同。　　3、光学系统：光学系统的作用是充分利用激发光源的能量和接收有用的荧光信号，减少和除去杂散光。色散系统对分辨能力要求不高，但要求有较大的集光本领，常用的色散元件是光栅。非色散型仪器的滤光器用来分离分析线和邻近谱线，降低背景。非色散型仪器的优点是照明立体角大，光谱通带宽，集光本领大，荧光信号强度大，仪器结构简单，操作方便。缺点是散射光的影响大。　　4、检测器：常用的是光电倍增管，在多元素原子荧光分析仪中，也用光导摄象管、析象管做检测器。检测器与激发光束成直 角配置，以避免激发光源对检测原子荧光信号的影响。（来源：互连网）

⑴冶金分析的特点冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液体等，因此要求分析方法适应性强；③分析数量大，任务重，并且要求日夜连续不断进行。　　X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求，一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素，而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美，分析范围又很宽，从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特种化学试剂，不会污染环境。　　然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法，而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例，标准试样国际的、国内的都有，但是如果对表面效应不重视，那末最好的标准试样，分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成，或者从大块金属或原料上切取试片，这样能用固体状态进行分析，有速度快、方法简便和分析精密度高的特点，缺点是不能加入内标或者进行稀释，在痕量元素分析时，又不能采用化学分离，不容易得到合适的标准试样，又很难人工合成。　　⑵固体样品的制备　一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。　　样品在测量时，最好能自转，以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置，则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行，这样吸收最小，如果相互垂直时吸收最大。　　样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面沾污。分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被沾污，这时最好采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。　　检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。　　⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨，有的呈片状石墨，在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染，造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的，不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细，分布，碳生成渗碳体(Fe3C)，它是一种很脆而硬的中间化合物，表面可以利用研磨办法加工。　　⑷中低合金钢分析　用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度，多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒，最好用铑靶X射线管，监控试样测量为60秒，以提高分析精度，必要时要扣除重迭谱线，用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。　　⑸不锈钢的分析　不锈钢X射线荧光分析是比较困难的，因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应，必须采用数学分析，校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。　　⑹非金属材料分析　非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类，一种是把试样振动磨粉碎，然后压制成直径为40毫米的圆片，直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快，一般五分钟左右就能报出结果，适合作快速分析，但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”，所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析，尤为严重，可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂，如硼酸、淀粉、硫酸钒等，来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法，可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等，在高温下溶融成玻璃熔珠，熔融时间一般为10~20分钟，中间要摇动以除去气泡，对某些试剂还要加入氧化剂，如硝酸钠等，为了防止试片破裂，可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金（5%)坩埚中熔融，冷却脱模以后，试样就可以直接使用。这种方法准确度高，并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”，但是分析速度慢，对某些元素灵敏度差。

原子荧光光谱仪与荧光光谱仪有什么区别?/

我是一个新手，问个很基础的问题：分子荧光光谱仪、原子荧光光谱仪与酶标仪，是怎样的关系呢？区别？酶标仪中也有荧光强度、荧光偏振、时间分辨荧光等等，它与分子荧光、原子荧光有什么区别吗？

X荧光光谱仪与原子荧光光谱仪有什么不同？ 讨论一下！

Ｘ荧光光谱仪，能谱和波谱有什么区别？用在钢铁行业那个厂家的Ｘ荧光光谱仪好些？

研究光催化剂TiO2纳米颗粒和光敏剂ALA（氨乙酰丙酸）对肿瘤细胞的作用，想做TiO2和光敏剂ALA在水溶液中的激发光谱和荧光光谱，请问该买什么样的荧光光谱仪可以到到要求？进口仪器都好贵啊！国产的可以吗？什么型号？价格是多少呢？谢谢！

请问荧光光谱仪与荧光分光光度计的区别，荧光分光光度计什么品牌的好。购置注意事项有哪些？[em09511]

原子荧光光谱仪同原子荧光分光光度计是不是同一性质的仪器，如果不同，那用原子荧光光谱仪能不能测原子荧光分光光度计测的样品

中档的X荧光光谱仪（绗射仪和能谱仪）有哪些品牌的型号 绗射仪 品牌： 型号： 能谱仪 ： 品牌： 型号： 加急！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！！

请教:原子荧光光谱仪和原子荧光光度计有什么区别?原子荧光光谱仪的生产厂商有哪几家?