俄歇电子能谱仪

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  • 400-860-5168转3314
    ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器,包括光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(Tof-SIMS)和动态二次离子质谱仪(D-SIMS)。通过提供独特的技术解决方案,帮助客户解决各种具有挑战性的问题,从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。作为唯一一家能够同时提供高性能XPS、AES和SIMS全系列表面分析仪器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解决方案领域拥有独特的地位。爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司成立于2023年11月,创办理念是为一流的商业产品提供顶级的创新市场营销和售后服务。作为ULVAC-PHI在中国区域的子公司,负责PHI产品在中国的销售和售后服务。主要客户包括清华大学,复旦大学,上海交通大学,南京大学,西安交通大学,厦门大学,山东大学,吉林大学,华南理工大学,中南大学等国内知名高校和科研院所。在全国各地都有销售合作伙伴,能够为您提供全方位的服务。技术专员具备多年超高真空和精密电子分析仪器的使用经验,致力于为合作伙伴提供最佳的产品和服务,以实现最大的效益。
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  • Scienta Omicron是表面科学分析仪器的引领者. 我们为科研领域提供高端的研发表征设备,产品涵盖顶级的电子能谱分析仪(electron spectroscopy),扫描探针显微镜(scanning probe microscopy)和薄膜沉积设备(thin film deposition)。 并且通过多年的经验积累,我们为全世界的科研用户提供独一无二的定制化产品。 客户至上 Scienta Omicron提供高质量的售后服务。我们的目标是成为客户的亲密搭档并帮助客户在研究和分析方面取得成功。凭借广阔的知识背景和丰富的经验,我们可以提供三十多种不同的实验技术方案,并且每一项技术都拥有一批相关专家,能够完美支持项目规划、技术可行性评估、系统设计、设备培训、应用程序支持和系统升级。顶级解决方案 Scienta Omicron提供广泛的标准模块化定制方案,并且通过在研发部投入大量资金来持续研发新技术。除了标准产品外,Scienta Omicron还拥有独一无二的灵活性,通过专业技术团队和先进制造流程,开发全新的技术方案以满足客户特殊需求。执行力 Scienta Omicron致力于在表面科学领域,并通过不断努力来改善运营最终实现双赢。Scienta Omicron以Uppsala(瑞典)和Taunusstein(德国)为公司的主要生产及运营基地,并在全球主要市场中都有销售和服务代表。公司历史 Scienta Omicron是由两家在表面科学领域最著名的真空设备提供商VG Scienta和Omicron Nano Technology合并而成。VG Scienta始终致力于高性能电子能谱仪的制造,诺贝尔奖获得者西格巴恩作为联合创始人之一将高性能电子能谱推向市场,并且可以追溯到二十世纪八十年代初第一台商用电子能谱系统。几十年来,Omicron Nano Technology一直是世界领先的纳米技术分析设备系统方案提供商。两家公司强强联合,实现了尖端检测技术与先进系统集成,并进一步拓展了联合系统的范畴。
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  • 贰零壹捌科技(天津)有限公司是一家专业从事纳米颗粒与纳米薄膜制备设备以及复杂真空系统设计、开发、制造、销售的高科技公司。创始人曾在德国和美国的高水平大学学习与工作,致力于团簇束流沉积技术和质谱、能谱等复杂真空系统的研究和设备开发。因此,公司以纳米团簇束流技术见长,拥有雄厚的复杂真空系统设计、制造及研发能力。开发完成的纳米团簇束流源及质量选择和沉积系统设备达到了国际先进水平,拥有研究型和生产型两个系列。擅长纳米团簇束流沉积技术在工业应用领域的方案设计、技术服务与产品代工,尤其适合于纳米光电与传感器件、微机电器件工业制程领域提供系统解决方案。公司采用国际上先进的“设备与工艺相结合”模式进行研发、生产与销售,引领世界先进技术。公司拥有良好的售前服务平台、完善的售后服务体系、广泛的技术支持能力,致力于向广大的国内外用户提供性能高、稳定性强、安全可靠的产品。公司配备了优秀的科研人员,为用户提供售前、售后工艺服务与工艺技术支持,包括:设备选型实验、设备考察实验、项目预研与立项、合作攻关、工艺指导、工艺培训等。 广泛应用在光学、半导体、离子束、真空设备、真空机械、科研仪器及相关控制软件。镀膜、沉积设备、超高真空设备、复杂系统联动控制、低维材料制备、石墨烯传感器及系统集成:v v沉积设备:化学(催化)、材料、新材料、电极材料(新能源)(磁控溅射(单靶或多靶)、热型、电子束轰击型) v复杂真空系统:超高真空环境下,材料制备、原位表征、材料转移、集成LEED,角分辨激光光电子能谱(磁瓶和动量谱仪型)、高分辨质谱、医用质谱、各类离子与团簇源(离子源包括高电荷态ECR、中等离子态强流ECR离子源、磁控溅射强流团簇源、整发型团簇源)、不同功能光谱、质谱、电子能谱的多功能系统集成。 v抛光:荷能纳米颗粒超光滑表面抛光 v超高真空系统设计、超高真空系统相关联动系统软件、超高真空腔体与部件的加工、离子光学系统的设计 v真空部件加工
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俄歇电子能谱仪相关的仪器

  • 产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪传承了上一代产品高度智能化的优点,将采谱、成像功能与自动化高度相融合,保证了高样品吞吐量和易用性,为用户提供了全新无人值守自动化体验。同时AXIS SUPRA+对产品硬件进行了相应的改进和扩展,一方面能够为用户提供仪器更优异的性能,另一方面也为用户提供了可选的多种拓展技术。AXIS SUPRA+卓越的自动化技术● 无人值守自动进行样品传输和交换● 硬件自动化控制,实时监测谱仪状态和校准AXIS SUPRA+超强的表面分析能力● 具有高性能XPS分析、快速平行化学成像分析、小束斑微区分析● 利用角分辨、高能X射线源、深度剖析可以实现从超薄到超厚的深度分析● 多种功能附件(惰性气体传输器、高温高压催化反应池等)和可拓展多种表面分析技术,如紫外光电子能谱(UPS),离子散射谱(ISS),反射电子能量损失谱(REELS),俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜(AES和SAM)等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境● 高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析● AXIS SUPRA+采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化和智能化,可以进行谱仪的控制、数据的采集和分析
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  • Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪(XPS)是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台,ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术,打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置,带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身,操作便捷,快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合,实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术,使得XPI成像分辨率达1um,所得数据无探测器背底特征,无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm~900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点,确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合,用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度,确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具,可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统,可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件,包括: 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪(XPS)集合了卓越的性能、快速分析及杰出的化学灵敏度等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化完美结合,尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性,可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱。 强大的性能可选面积能谱深度剖析微聚焦单色器高分辨率化学态能谱快照采集绝缘样品分析定量化化学成像 无可比拟的易用性一键式样品导航和实验设定自动样品传输按需校准全能谱仪设定离子枪设定完全计算机操作 世界一流的软件 仪器控制 数据采集 数据解析 数据处理 报告生成 数据存档管理 审查跟踪日志 系统性能日志如您想了解更多关于K-Alpha X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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俄歇电子能谱仪相关的资讯

  • 800万!清华大学俄歇电子能谱仪采购项目
    项目编号:OITC-G220273098/清设招第20221561号项目名称:清华大学俄歇电子能谱仪采购项目采购方式:竞争性磋商预算金额:800.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):800.0000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号货物名称数量(台/套)是否允许采购进口产品1俄歇电子能谱仪1是供应商须以包为单位对该包中的全部内容进行响应,不得拆分,不完整的报价将被拒绝。竞争性磋商及评审、推荐成交供应商以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 两种表面分析技术对比:X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)
    一、概念1. X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段,利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。2. 俄歇电子能谱法(AES)作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是:在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高;数据分析速度快;能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段,但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域,如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。俄歇效应虽然是在1925年时发现的,但真正使俄歇能谱仪获得应用却是在1968年以后。二、相似与区别:1.相同之处:它们都是得到元素的价电子和内层电子的信息,从而对原子化器表面的元素进行定性或定量分析,也可以通过氦离子对表面的刻蚀来分析原子化器近表面的元素,得到原子化器材料和分析物渗透方面的信息。2.相比之下,XPS通过元素的结合能位移能更方便地对元素的价态进行分析,定量能力也更好,使用更为广泛。但由于其不易聚焦,照射面积大,得到的是毫米级直径范围内的平均值,其检测极限一般只有0.1%,因此要求原子化器表面的被测物比实际分析的量要大几个数量级。AES有很高的微区分析能力和较强的深度剖面分析能力。现在最小入射电子束径可达30nm。但是文献还没有报道原子化器表面的俄歇电子象。另外,对于同时出现两个以上价态的元素,或同时处于不同的化学环境中时,用电子能谱法进行价态分析是比较复杂的。一、特点:X射线光电子能谱法的特点:① 是一种无损分析方法(样品不被X射线分解);② 是一种超微量分析技术(分析时所需样品量少);③ 是一种痕量分析方法(绝对灵敏度高)。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高,只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。俄歇电子的特点是:① 俄歇电子的能量是靶物质所特有的,与入射电子束的能量无关。大多数元素和一些化合物的俄歇电子能量可以从手册中查到。② 俄歇电子只能从20埃以内的表层深度中逃逸出来,因而带有表层物质的信息,即对表面成份非常敏感。正因如此,俄歇电子特别适用于作表面化学成份分析。局限性:① 不能分析氢和氦元素;② 定量分析的准确度不高;③ 对多数元素的探测灵敏度为原子摩尔分数0.1%~1.0%;④ 电子束轰击损伤和电荷积累问题限制其在有机材料、生物样品和某些陶瓷材料中的应用;⑤ 对样品要求高,表面必须清洁(最好光滑)等。三、两者的应用X射线光电子能谱分析与应用1.元素(及其化学状态)定性分析方法:以实测光电子谱图与标准谱图相对照,根据元素特征峰位置(及其化学位移)确定样品(固态样品表面)中存在哪些元素(及这些元素存在于何种化合物中)。定性分析原则上可以鉴定除氢、氦以外的所有元素。分析时首先通过对样品(在整个光电子能量范围)进行全扫描,以确定样品中存在的元素;然后再对所选择的峰峰进行窄扫,以确定化学状态。2.在固体研究方面的应用对于固体样品,X射线光电子平均自由程只有0.5~2.5nm(对于金属及其氧化物)或4~10nm(对于有机物和 聚合材料),因而X射线光电子能谱法是一种表面分析方法。以表面元素定性分析、定量分析、表面化学结构分析等基本应用为基础,可以广泛应用于表面科学与工程领域的分析、研究工作,如表面氧化(硅片氧化层厚度的测定等)、表面涂层、表面催化机理等的研究,表面能带结构分析(半导体能带结构测定等)以及高聚物的摩擦带电现象分析等。Cr、Fe合金表面涂层——碳氟材料X射线光电子谱图X射线光电子能谱分析表明,该涂层是碳氟材料。俄歇能谱应用通过正确测定和解释AES的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息,能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种情报。1. 定性分析定性分析主要是利用俄歇电子的特征能量值来确定固体表面的元素组成。能量的确定在积分谱中是指扣除背底后谱峰的最大值,在微分谱中通常规定负峰对应的能量值。习惯上用微分谱进行定性分析。因此由测得的俄歇谱来鉴定探测体积内的元素组成是比较方便的。在与标准谱进行对照时,除重叠现象外还需注意如下情况:①由于化学效应或物理因素引起峰位移或谱线形状变化引起的差异;②由于与大气接触或在测量过程中试样表面被沾污而引起的沾污元素的峰。2. 状态分析对元素的结合状态的分析称为状态分析。AES的状态分析是利用俄歇峰的化学位移,谱线变化(包括峰的出现或消失),谱线宽度和特征强度变化等信息。根据这些变化可以推知被测原子的化学结合状态。3. 深度剖面分析利用AES可以得到元素在原子尺度上的深度方向的分布。为此通常采用惰性气体离子溅射的深度剖面法。由于溅射速率取决于被分析的元素,离子束的种类、入射角、能量和束流密度等多种因素,溅射速率数值很难确定,一般经常用溅射时间表示深度变化。4. 界面分析用 AES研究元素的界面偏聚时,首先必须暴露界面(如晶界面,相界面,颗粒和基体界面等等。一般是利用样品冲断装置,在超高真空中使试样沿界面断裂,得到新鲜的清洁断口,然后以尽量短的时间间隔,对该断口进行俄歇分析。 对于在室温不易沿界面断裂的试样,可以采用充氢、或液氮冷却等措施。如果还不行,则只能采取金相法切取横截面,磨平,抛光或适当腐蚀显示组织特征,然后再进行俄歇图像分析。5. 定量分析AES定量分析的依据是俄歇谱线强度。表示强度的方法有:在微分谱中一般指正、负两峰间距离,称峰到峰高度,也有人主张用负峰尖和背底间距离表示强度。6. 俄歇电子能谱在材料科学研究中的应用① 材料表面偏析、表面杂质分布、晶界元素分析;② 金属、半导体、复合材料等界面研究;③ 薄膜、多层膜生长机理的研究;④ 表面的力学性质(如摩擦、磨损、粘着、断裂等)研究;⑤ 表面化学过程(如腐蚀、钝化、催化、晶间腐蚀、氢脆、氧化等)研究;⑥ 集成电路掺杂的三维微区分析;⑦ 固体表面吸附、清洁度、沾染物鉴定等。
  • 600万!大连理工大学采购X射线光电子能谱仪
    一、项目基本情况项目编号:DUTASZ-2021284项目名称:大连理工大学实体分析测试中心X射线光电子能谱仪采购项目预算金额:600.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):600.0000000 万元(人民币)采购需求:本项目拟采购X射线光电子能谱仪1台,主要用于样品表面元素及其化学状态分析。其基本原理是使用X射线与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能,进而得到激发电子的结合能。拟采购的设备可用于对金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级二维和三维材料的表面进行元素成分及其化学状态的表征,还可进行微区的点、面成分分析,是材料合成必不可少的表征仪器。本项目拟采购设备的主要配置要求:具有紫外光电子能谱(UPS)、离子散射谱(ISS)、俄歇电子能谱(AES)和原位反应池等附件,具体要求详见招标文件。 合同履行期限:签订合同之日起,180个日历日货到安装调试验收合格本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求:1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定;2.落实政府采购政策需满足的资格要求:(1)非专门面向中小企业采购项目;(2)中小微企业、监狱企业、残疾人福利性单位、节能、环保产品优先采购等。3.本项目的特定资格要求:(1)代理商须具有“X射线光电子能谱仪”制造商合法有效授权(国产设备除外)。三、获取招标文件时间:2022年01月25日 至 2022年01月30日,每天上午8:00至11:30,下午12:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:大连理工招标代理有限公司(大连市甘井子区软件园路80号科技园大厦B座601室)方式:现场报名或通过电子邮箱提交报名材料扫描件进行报名售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间:2022年02月16日 14点00分(北京时间)开标时间:2022年02月16日 14点00分(北京时间)地点:大连理工大学采购与招标管理办公室414室(大连市甘井子区凌工路2号,大连理工大学国际会议中心(科技园大厦C座))五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜1.报名时间:2022年1月25日8:00-2022年1月30日17:00(双休日及法定节假日除外)。2.报名方式:现场报名或通过电子邮箱提交报名材料扫描件进行报名。3.报名地点:大连市甘井子区软件园路80号科技园大厦B座601室。4.现场报名:在招标文件发售期内,报名时携带营业执照副本复印件、税务登记证副本复印件(三证合一的不需提供)、组织机构代码证复印件(三证合一的不需提供)、法定代表人证书原件或法人授权委托书原件及被授权人身份证原件,上述证明材料须加盖公章,报名后,发售招标文件。5.通过电子邮箱提交报名材料扫描件进行报名:在招标文件发售期内,申请报名和购买招标文件的投标人请将营业执照副本复印件、税务登记证副本复印件(三证合一的不需提供)、组织机构代码证复印件(三证合一的不需提供)、法定代表人身份证明(法定代表人报名提供)或法定代表人授权委托书(授权委托人报名提供,应附法人代表和被授权人的身份证复印件)、《报名及购买文件登记表》(格式自拟,须含法定代表人或授权委托人的电子邮箱、联系电话、办公电话等)、招标文件费汇款凭证(招标文件费须以公司电汇方式至采购代理人公司银行账户,须备注项目名称及投标人名称),上述材料加盖公章、扫描后发至电子邮箱149499442@qq.com,经采购代理人确认报名后,发售招标文件。6.投标保证金:人民币100000.00元整;保证金形式及缴纳方式见招标文件。7.招标文件费用:500.00元,售出不退且为本项目使用;8.公司名称:大连理工招标代理有限公司;开户行:农行高新技术产业园支行;账 号:34263001040002404;行号:103222006805。注:1.如投标人为“通过电子邮箱提交报名材料扫描件进行报名”,招标文件费以实际到账时间为准,报名截止时间后收到的材料及费用不予认可。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:大连理工大学     地址:大连理工大学采购与招标管理办公室(大连理工大学南门科技园C座)409室联系方式:李老师;0411-84709969;lilei@dlut.edu.cn      2.采购代理机构信息名 称:大连理工招标代理有限公司            地 址:大连市甘井子区软件园路80号科技园大厦B座601室            联系方式:王元、贾生富;0411-39700128/132            3.项目联系方式项目联系人:王元电 话:  0411-39700128

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  • 俄歇电子能谱的实验教材

    这是清华大学仪器分析实验有关电子能谱实验的教材。由于很多人对XPS还比较了解,对俄歇电子能谱并不是非常了解。但在材料分析和器件分析,尤其是薄膜材料分析中,俄歇电子能谱具有重要的作用。希望对大家有帮助!朱永法2006.8.19

  • 俄歇电子能谱仪

    俄歇电子能谱仪

    近年来,在测定表面的化学成份方面,俄歇电子能谱法(AES)作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是:在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高;数据分析速度快;能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段,但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域,如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。俄歇效应虽然是在1925年时发现的,但真正使俄歇能谱仪获得应用却是在1968年以后。 3-3-1 工作原理 当一个具有足够能量的入射电子使原子内层电离时,该空穴立即就被另一电子通过L1→K跃迁所填充。这个跃迁多余的能量EK-EL1如使L2能级上的电子产生跃迁,这个电子就从该原子发射出去称为俄歇电子。这个俄歇电子的能量约等于EK-EL1-EL2。这种发射过程称为KL1L2跃迁。此外类似的还会有KL1L1、LM1M2、MN1N1等等。 从上述过程可以看出,至少有两个能级和三个电子参与俄歇过程,所以氢原子和氦原子不能产生俄歇电子。同样孤立的锂原子因为最外层只有一个电子,也不能产生俄歇电子。但是在固体中价电子是共用的,所以在各种含锂化合物中也可以看到从锂发生的俄歇电子。俄歇电子的特点是: ①俄歇电子的能量是靶物质所特有的,与入射电子束的能量无关。下图是一些主要的俄歇电子能量。可见对于Z=3-14的元素,最突出的俄歇效应是由KLL跃迁形成的,对Z=14-40的元素是LMM跃迁,对Z=40-79的元素是MNN跃迁。大多数元素和一些化合物的俄歇电子能量可以从手册中查到。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300909_25075_1609228_3.jpg[/img] ②俄歇电子只能从20埃以内的表层深度中逃逸出来,因而带有表层物质的信息,即对表面成份非常敏感。正因如此,俄歇电子特别适用于作表面化学成份分析。 3-3-2 俄歇电子能谱仪 俄歇能谱仪包括电子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统。以下分别进行介绍。 1 电子光学系统 电子光学系统主要由电子激发源(热阴极电子枪)、电子束聚焦(电磁透镜)和偏转系统(偏转线圈)组成。电子光学系统的主要指标是入射电子束能量,束流强度和束直径三个指标。其中AES分析的最小区域基本上取决于入射电子束的最小束斑直径;探测灵敏度取决于束流强度。这两个指标通常有些矛盾,因为束径变小将使束流显著下降,因此一般需要折中。2 电子能量分析器 这是AES的心脏,其作用是收集并分开不同的动能的电子。 由于俄歇电子能量极低,必须采用特殊的装置才能达到仪器所需的灵敏度。目前几乎所有的俄歇谱仪都使用一种叫作筒镜分析器的装置。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300910_25076_1609228_3.gif[/img]分析器的主体是两个同心的圆筒。样品和内筒同时接地,在外筒上施加一个负的偏转电压,内筒上开有圆环状的电子入口和出口,激发电子枪放在镜筒分析器的内腔中(也可以放在镜筒分析器外)。由样品上发射的具有一定能量的电子从入口位置进入两圆筒夹层,因外筒加有偏转电压,最后使电子从出口进入检测器。若连续地改变外筒上的偏转电压,就可在检测器上依次接收到具有不同能量的俄歇电子,从能量分析器输出的电子经电子倍增器、前置放大器后进入脉冲计数器,最后由X-Y记录仪或荧光屏显示俄歇谱 俄歇电子数目N随电子能量E的分布曲线[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300912_25077_1609228_3.gif[/img]若将筒镜分析器与电子束扫描电路结合起来可以形成扫描俄歇显微镜(下图)。电子枪的工作方式与扫描电镜类似,两级透镜把电子束斑缩小到3微米,扫描系统控制使电子束在样品上和显像管荧光屏上产生同步扫描,筒镜分析器探测到的俄歇电子信号经电子倍增器放大后用来对荧光屏光删进行调制,如此便可得到俄歇电子像。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300913_25078_1609228_3.jpg[/img]

俄歇电子能谱仪相关的耗材

  • 易安装炬管,用于 Agilent 4100 MP-AES
    Agilent 4200 MP-AES 采用即插即用型炬管,经过优化后,在推荐的功率和气流设置下具有极高的精度和灵敏度。该炬管采用独特的聚合物基质,可轻松匹配简单高效的炬管载架。它可自动定位炬管并连接气体,确保实现快速启动并获得可重现的结果。炬管安装后便无需进一步调整。自动定位功能可确保每位操作员都能获得可重现性能,并能显著降低仪器之间的变异性。Agilent 4200 MP-AES 还具有耐用的垂直炬管,其可从端点进行轴向观测,实现优异的检测限。这意味着对复杂样品(例如含有高总溶解态固体的样品)可实现无与伦比的测量和最佳的性能。垂直设计的炬管还可确保减少清洁和停机时间。 如需了解有关 4200 MP-AES 系统的更多信息,请单击此处。 即插即用型炬管无需进行炬管定位,确保实现快速启动和重现的结果 可靠的炬管载架可自动定位炬管并进行气体连接,实现快速启动并获得可重现的结果 样品引入工具包易于拆卸,便于进行日常维护和故障排除操作,最大程度缩短停机时间 准确分析复杂样品 — 垂直炬管结构和轴向观测设计,既适用于复杂样品分析,又具有极佳的灵敏度 由于采用垂直炬管,减少了对进样器的堵塞,提高了长期稳定性并缩短了停机时间 简化了样品前处理。采用垂直炬管-轴向观测等离子体设计,使您更轻松地处理诸如食品、土壤消解液、高盐土壤提取物等棘手样品 提高了运行氢氟酸 (HF) 消解物时的重现性。惰性炬管能够直接分析氢氟酸消解物,无需首先采取中和步骤
  • 炬管清洁支架,用于清洁易安装的 MP-AES 炬管,适用于 4100/4200 MP-AES
    Agilent 4200 MP-AES 采用即插即用型炬管,经过优化后,在推荐的功率和气流设置下具有极高的精度和灵敏度。该炬管采用独特的聚合物基质,可轻松匹配简单高效的炬管载架。它可自动定位炬管并连接气体,确保实现快速启动并获得可重现的结果。炬管安装后便无需进一步调整。自动定位功能可确保每位操作员都能获得可重现性能,并能显著降低仪器之间的变异性。Agilent 4200 MP-AES 还具有耐用的垂直炬管,其可从端点进行轴向观测,实现优异的检测限。这意味着对复杂样品(例如含有高总溶解态固体的样品)可实现无与伦比的测量和最佳的性能。垂直设计的炬管还可确保减少清洁和停机时间。 如需了解有关 4200 MP-AES 系统的更多信息,请单击此处。 即插即用型炬管无需进行炬管定位,确保实现快速启动和重现的结果 可靠的炬管载架可自动定位炬管并进行气体连接,实现快速启动并获得可重现的结果 样品引入工具包易于拆卸,便于进行日常维护和故障排除操作,最大程度缩短停机时间 准确分析复杂样品 — 垂直炬管结构和轴向观测设计,既适用于复杂样品分析,又具有极佳的灵敏度 由于采用垂直炬管,减少了对进样器的堵塞,提高了长期稳定性并缩短了停机时间 简化了样品前处理。采用垂直炬管-轴向观测等离子体设计,使您更轻松地处理诸如食品、土壤消解液、高盐土壤提取物等棘手样品 提高了运行氢氟酸 (HF) 消解物时的重现性。惰性炬管能够直接分析氢氟酸消解物,无需首先采取中和步骤
  • 易安装惰性炬管,适用于 Agilent 4200 MP-AES,与 HF 消解液配套使用
    Agilent 4200 MP-AES 采用即插即用型炬管,经过优化后,在推荐的功率和气流设置下具有极高的精度和灵敏度。该炬管采用独特的聚合物基质,可轻松匹配简单高效的炬管载架。它可自动定位炬管并连接气体,确保实现快速启动并获得可重现的结果。炬管安装后便无需进一步调整。自动定位功能可确保每位操作员都能获得可重现性能,并能显著降低仪器之间的变异性。Agilent 4200 MP-AES 还具有耐用的垂直炬管,其可从端点进行轴向观测,实现优异的检测限。这意味着对复杂样品(例如含有高总溶解态固体的样品)可实现无与伦比的测量和最佳的性能。垂直设计的炬管还可确保减少清洁和停机时间。 如需了解有关 4200 MP-AES 系统的更多信息,请单击此处。 即插即用型炬管无需进行炬管定位,确保实现快速启动和重现的结果 可靠的炬管载架可自动定位炬管并进行气体连接,实现快速启动并获得可重现的结果 样品引入工具包易于拆卸,便于进行日常维护和故障排除操作,最大程度缩短停机时间 准确分析复杂样品 — 垂直炬管结构和轴向观测设计,既适用于复杂样品分析,又具有极佳的灵敏度 由于采用垂直炬管,减少了对进样器的堵塞,提高了长期稳定性并缩短了停机时间 简化了样品前处理。采用垂直炬管-轴向观测等离子体设计,使您更轻松地处理诸如食品、土壤消解液、高盐土壤提取物等棘手样品 提高了运行氢氟酸 (HF) 消解物时的重现性。惰性炬管能够直接分析氢氟酸消解物,无需首先采取中和步骤
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