分布曲描测试仪

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分布曲描测试仪相关的厂商

  • 400-860-5168转0264
    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
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  • 400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业,是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001(1994版)国际质量体系认证,2002年通过 ISO9001(2000版)中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”,被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”, 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心,在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域,对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人,其中大专以上学历员工为161人,16年来,企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机,先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”,两大系列产品荣获“国家重点新产品”,八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区,并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区,企业占地23500 m2,建筑面积16800m2,绿化面积3800 m2,企业资产总计9600余万元,具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权,拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量,提升品牌价值的同时,公司注重工艺、工装设计,提高标准化、系列化、规范化能力,将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系,全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户,为世界计量检测工作的发展,做出新的贡献。
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  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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分布曲描测试仪相关的仪器

  • 单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计,主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合,LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上,并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时,它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描,覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准,高亮度)
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  • 全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商!服务众多知名光伏企业!本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上, 例如:Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率,准确的测量半导体材料(结构,层)中的掺杂浓度分布.选用合适的电解液与材料接触,腐蚀,从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 .光学,电子和化学部分相对独立.&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件,系统操作,使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过30年的经验和世界上最先进的电路系统。 全自动, 特别适用于新材料, 如氮化镓, 碳化硅材料,多晶硅等等。 有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽,可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如:硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如:砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如:铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如:铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如:氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如:氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm (或更低)模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路,电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期:2年,终身维修。 电化学CV分布仪(CV测试仪)产品经理:Mike Zhai联系电话:手 机:邮 箱:
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分布曲描测试仪相关的资讯

  • “100家国产仪器厂商”专题:访比表面及孔径分布测试仪专业制造商- 精微高博
    为推动中国国产仪器的发展,了解中国国产仪器厂商的实际情况,促进自主创新,向广大用户介绍一批有特点的优秀国产仪器生产厂商,仪器信息网自2009年1月1日开始,启动“百家国产仪器厂商访问计划”;2009年7月3日,仪器信息网工作人员走访参观了中国氮吸附仪的开拓者、比表面及孔径分布测试仪专业制造商-北京精微高博科学技术有限公司,精微高博公司总经理古艳玲女士、总工钟家湘教授热情接待了仪器信息网到访人员。   北京精微高博科学技术有限公司,以北京理工大学为技术背景,是北京科委批准的高新技术企业,专业生产氮吸附比表面仪及孔径分布(孔隙率)分析测试仪。    精微高博公司总经理古艳玲女士、总工钟家湘教授  钟家湘教授首先介绍到:“中国动态氮吸附仪研制历史要追溯到上世纪70-80年代,如当时中科院化学所与北分厂研制ST-03比表面与孔分析仪、中科院大连化物所研制BC-1比表面仪等代表了我国第一代动态氮吸附仪,但是由于技术上不很成熟、以及没能持续创新,未能在市场上普遍推广应用。”随着超细粉体,特别是纳米材料的发展,对于粉体材料表面特性的表征与测量越来越重要,比表面及孔径分布分析测试仪的需求日益增大,北京精微高博承担起这份重任。   早在2000年,精微高博公司学术带头人、北京理工大学知名材料专家钟家湘教授主持完成新型动态氮吸附仪样机的研制,开创了二十一世纪中国氮吸附仪的新局面;历经二年时间的技术积累,2003年,JW-04型氮吸附比表面测试仪成功推向市场;  2004年,精微高博研制成功动态BET比表面仪,填补了国内空白,在BET测试方法上开始与国际接轨;  2005年,研制成功动态常压单气路孔径分析仪,实现了动态氮吸附仪在技术与应用上的重大突破,至此,精微高博公司形成了具有完全自主知识产权的动态氮吸附仪完整的系列产品。  为了追赶国际先进水平,在努力研发动态氮吸附仪的同时,精微高博一直关注国际上静态容量法比表面及孔隙率的发展,经过近两年的努力与千百次实验,2007年中国独有的静态容量法比表面积及孔径分析测试仪JW-BK和JW-RB系列研制成功,其性能已经达到国际先进水平,钟教授评价说:“这标志着中国比表面积及孔隙率分析测试仪的技术水平步入国际先进行列;精微高博的成功,完全是坚持走自主创新道路的结果。”  另外,精微高博多年来一直参与中国比表面积和孔隙率分布标准的技术讨论,参加了国家比表面标准物质研制的标定工作,尤其在2008年,精微高博被遴选为参加“国家比表面标准物质标定测试”唯一国内生产厂商。    JW-RB系列静态容量法BET比表面仪    JW-BK系列静态容量法比表面及孔径分析仪    JW-004A型动态氮吸附BET比表面仪    JW-K型动态比表面及孔径分析仪    仪器调试现场  古艳玲总经理充满自信的说:“我们的研发核心技术团队由教授、博士、硕士、高工及各种配套专业人才组成,以富有朝气的年轻人为主,在理论研究深度、自主研发能力、设计制造水平、解决实际问题能力等方面,在中国是首屈一指的。”  “另外,我们建立起完善的产品质量控制体系和售后服务体系,在不断完善现有产品同时,根据客户需求反馈,积极研究开发材料物性测试相关新设备,并为我们的用户提供测试整体解决方案。”    访谈现场  目前,精微高博公司生产的氮吸附仪产品在国内用户数量逐年增长,用户群覆盖国家建筑材料认证中心、北京建筑材料科学院检测中心、北京大学、中国科技大学、华东理工大学、武汉大学、四川泸天化集团有限公司、深圳比亚迪股份有限公司、河北风帆股份有限公司、宁夏东方铝业股份有限公司等国内400余家企事业单位;从2006年底开始,公司新型孔径分布测试仪,已经走出国门,远销波兰、日本、伊朗、南非、巴西、蒙古、朝鲜等国家。  附录1:北京精微高博科学技术有限公司  http://jwgbcn.instrument.com.cn  http://www.jwgb.cn/  附录2:精微高博公司总工程师——钟家湘教授简介  钟家湘,北京理工大学材料系教授,历任教研室主任、材料科学研究中心副主任、校学术委员会委员等,曾任中国材料研究学会第一、二届副秘书长;  发表专著6册,学术论文70余篇,科研成果曾获中国科学院科技进步二等奖、国家科技进步三等奖、机械委科技进步二等奖、北京理工大学科研成果奖等;  从1998年开始,主要从事纳米材料应用开发,先后主持技术研发项目12项,大部分已经实现产业化,并取得发明专利三项。
  • 速普仪器发布【SuPro】薄膜应力测试仪FST2000新品
    基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的矩阵激光点阵扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST2000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的曲率半径和应力测量。独特的双模扫描模式方便适应不同应用场景下需求:Mapping不同区域的薄膜应力分布或快速表征样品整体平均残余应力。 创新点:1.半导体薄膜、光电薄膜专用残余应力测试仪器;2.兼容区域性薄膜应力分布mapping结果和快速表征样品整体平均残余应力;3.通过独特对减模式算法,可数据处理校正原始表面不平影响。【SuPro】薄膜应力测试仪FST2000
  • 青花瓷微区元素分布的扫描分析
    X射线荧光分析(XRF)作为一种重要的元素分析方法已经在环境科学、地球科学、生命科学、文化遗产的科技研究等学科中发挥了重要的作用。由于微分析技术在这些学科中例如分析单颗粒大气污染物、生物单细胞等成分分析方面具有独特的优势,其应用一直都受到科学研究工作者的重视。常见的微分析技术主要是扫描电子微探针(EPMA)、扫描质子微探针(&mu PIXE)和同步辐射X射线荧光分析(SRXRF)等,一般最简单产生微束的方法就是通过微小的狭缝来限制束流以产生微束,但是这种方法会造成用于激发分析样品的元素X射线强度减小,并且能量利用率极低。下图为常规的X射线光源采用狭缝和使用X光透镜两种方式产生直径为50&mu m微束光斑分析直径同样为50&mu m大气单颗粒物的X射线荧光分析谱,从图中很明显看出常规的X射线光源通过采用狭缝的方式产生微束来分析样品的可能性是很小的。但由于同步辐射装置所提供的X射线能量高、亮度大,采用狭缝的方法产生微束可以使用在同步辐射X射线荧光分析上,如北京同步辐射X射线荧光分析系统就是采用狭缝的方式来产生微束来满足环境科学、生命科学等对微分析技术的需求。比较复杂的聚焦方法是利用光学聚焦系统,设备比较复杂,成本比较高,其应用有很大的限制性。  自20世纪80年代以来,随着X光透镜技术的发展,X光透镜具有聚焦性能好、成本低、设备比较简单、能量利用率高,并且可以以成像的方式显示样品中元素分布等优点,于是便和X射线荧光分析系统有机地结合在一起。目前比较常见的有两种结合方式,一种是X光透镜和同步辐射X射线荧光分析系统相结合,另一种是X光透镜和常规的X射线荧光分析谱仪相结合,这两种结合主要都是利用X光透镜的优点,使X射线荧光分析系统具有束斑小(束斑的直径可以达到10~50&mu m)、光强度可以达到~107光子/秒、所需要的样品量少、分析速度快、散射本底小、探测极限低、可以分析厚靶样品中几十个&mu g· g-1的微量元素等优点。下图为使用X光透镜的微束X射线荧光分析美国国家标准局研制的玻璃有证标准参考物质(SRM NIST610)各元素的探测极限。由于微束XRF具有比常规的X射线荧光分析更多的优点,因而使其应用范围越来越广泛。如工业上汽油中含硫量的测量 大气中单颗粒物的成分测量 参与植物新陈代谢过程中某些元素如Mn,Ca,Zn,Rb等在不同年龄的松针中从顶部到根部的分布 古陶瓷和青铜器中焊接物等微区的成分分析等。由于同步辐射X荧光分析需要大型加速器提供同步辐射光源,设备比较昂贵,机时比较有限。而使用X光透镜的微束X射线荧光分析系统与此相比设备比较简单,成本低、使用比较方便,因此研究使用X光透镜的微束X射线荧光分析在环境科学、地球科学、生命科学、文物保护等方面具有重要的意义。  微束X射线荧光分析在文物样品分析中有广泛的应用前景。  古陶瓷是由古代的土壤和岩石经过加工烧制而成,其化学成分主要是由Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、K2O、CaO等组成,其中SiO2和Al2O3的含量之和在80%以上,因此古陶瓷样品主要是由Si和Al等氧化物组成的轻基体。在实验中既要准确的测量出Na和Mg,又要测量出Rb、Sr、Y、Zr等重元素氧化物的含量,其实验条件的选择是非常关键的。对于Na、Mg、Al和Si等元素需要在真空中或氦气的气氛下探测器才能探测到其被激发的特征X射线。由于文物样品的特殊性,一般采用在探测器和被测样品之间形成氦气的光路来测量或者直接在大气中测量。本工作是在大气中直接分析被测样品,同时也就意味者Na、Mg、Al、Si等元素的特征X射线没有被探测器探测到。  实验工作是在两种条件下测量:第一种条件是在电压35kV,电流10mA,测量时间为300s,探测器与样品之间的距离为25mm 第二种条件是电压为40kV,电流10mA,测量时间120s,探测器前加1mm的准直器来降低散射造成的本底,探测器与样品之间的距离为42mm。测量国家有证标准参考物质GBW07406(GSS-6)的谱如下图所示。从谱图上看,在探测器加准直器更能降低散射本底,提高探测极限。  青花瓷是中国古陶瓷中具有很高艺术价值的瓷器,但对青花瓷的产地、年代、钴料的来源、制造工艺及其真伪辨别等问题一直缺乏系统的研究。由于微束分析的一系列的优点,用微束X射线荧光分析扫描分析了一块明代青花瓷残片中青花部位的元素分布,样品的照片见下图。  实验装置如下图,采用旋转阳极靶和会聚X光透镜组成激发样品的微束X射线源,SiPINX射线探测器收集样品中激发出的元素特征X射线,采谱活时间为5min,每隔50&mu m测量一个点,扫描面积为1mm× 35mm AXIL程序进行峰的拟合和本底的扣除。  对比青花部位和白釉部位的MXRF谱图可知,青花部位与白釉部位有差异的元素为主要为K、Ca、Fe、Co、Ni 以这五种元素的峰面积为变量,Matlab程序做图得到青花瓷五种元素的分布图。从几种元素的微区分布图对比青花瓷图片,可以看出Mn和Co的分布基本上和青花瓷釉色的深浅相一致的,Fe元素的分布基本上与青花瓷釉色的变化没有明显关系。相关性分析表明,Mn和Co有非常好的相关性,而Ni与Mn和Co没有相关性。  本文摘编自程琳、金莹著《现代核分析技术与中国古陶瓷》一书。

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  • 【分享】微孔分布测试仪的主要特性

    微孔分布测试仪主要应用领域:催化剂,广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域;吸附剂,如活性炭、分子筛、活性氧化铝等,广泛用于环保领域;颜填料,无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等;陶瓷材料原料,氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等;炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等;新型电池材料,如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料;发光稀土粉末材料;磁性粉末材料,如四氧化三铁、铁氧体等;纳米粉体材料,包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料,纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等;其他,如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等  微孔分布测试仪的主要特性:  测试时间:多点BET法比表面积平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟  主要功能:可实行BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,炭黑外比表面积测定,吸附、脱附等温曲线测定,BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;  真空系统:极限真空度6×10-2Pa  微孔分布测试仪测量范围:比表面积≥0.01M2/g至无规定上限,孔尺寸0.7~400nm;  样品数量:可同时测定1-4个样品;  测量精度:≤±2%;  微孔分布测试仪的压力控制:高精度压力传感器,数字显示,精度0.2%,独特的充气与抽气速度自动控制系统  运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试  测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小  微孔分布测试仪的吸附过程:样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少  软件系统:在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;

  • 【求助】激光衍射粒度分布测试仪

    我单位需购买一台激光衍射粒度分布测试仪,测试样品为对苯二甲酸,现用筛分法测定粒度分布,粒度从45um到大于250um,平均粒度在110--130um之间。现要求如下:1当然要准确。2分析速度快。3能同时给出体积比和重量比 4仪器操作简单,但用工作站控制。 5仪器维护方便,比如样品池易清洗,更换镜头方便或不用换镜头。初步打算选择英国马尔文公司Mastersizer 2000型或美国贝克曼LS系列。请各位老大给个建议,特别是用过的老大!!!如果那位有LS系列的详细资料请发给我邮箱zyxdbox@yeah.net谢谢!!!!

  • 【求助】水中颗粒分布测试

    请问江浙沪哪里有第三方检测机构可以做水中颗粒分布测试?2um-50um我们公司有台hach 9703 粒度测试仪,想和第三方做个比对看看至于第三方用什么仪器或方法不管只要在2um-50um范围内,给出粒度分布就可以已经问过SGS,天祥,华测都没这个测试项目

分布曲描测试仪相关的耗材

  • 硬度测试仪配件
    硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪,使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点,硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。 硬度测试仪配件特点 专用于配套SHORE A,SHORE D型橡胶硬度计, 其测试原理更科学,结构更紧凑、合理,使测试的稳定性和准确度进一步得到提高 使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。 硬度测试仪配件参数 E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机; 外形尺寸: 100*212*250(mm) 便携式硬度测试仪参数 可选配SHOR结构更紧凑、合理,操作简单 净重:10 Kgs 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计,硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪
    HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何分析植物光照强度 1. 将功能键拨至左起第二个档位上。 2. 手持装置,使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置,将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中,请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。 3. 请记录测试结果(× 1000)及测试时间。 4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试,所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。 例如: 上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(上午7:00到11:00间的平均光照强度) 下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(11:00到下午3:00间的平均光照强度) 下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(下午5:00到7:00间的平均光照强度) 一天的总日照强度= 以上数据之和。 单位:Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯) 请查阅说明书后的光照要求表。 如何分析湿度 1. 将功能键拨至左起第三个档位上。 2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时,将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置,请不要离植物过近,以免伤及植物根系。 3. 读取数据。 4. 将探棒从土壤中取出,在进行下一次测试或存贮之前,请用棉布将探棒完全擦净。 5. 请不要将探棒长时间插于土壤中,也不要用此装置测试液体,以免对其造成损害。 如何分析土壤的pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等。 2. 将土壤用水浸透,成泥状。(最好使用雨水或蒸馏水) 3. 将功能键拨至最右边的档位上。 4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。 5. 将探棒完全插入被测土壤中。 6. 等待1分钟即可读取数据。 7. 测试结束后,将探棒擦净并晾干。 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等;将土壤用水浸透,调匀成泥状。(最好使用雨水) 为了达到较准确的分析结果,你可以从被测土壤中采集一部分土,清除石子及有机碎屑物,然后把土壤碾碎成粉末状,并从中取出2杯的样土;准备一个干净的玻璃或塑料容器,倒入2杯蒸馏水或去离子水,再加入样土,搅拌使他们充分混合并压实,倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面;再使用棉制品或纸将探棒抹净,每次应从探头擦至探棒尾部。 3.将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深;若探棒不容易插入,请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒,以免损伤探头。 4.在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次,确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好; 5.等待60秒后读取数据。 6.如果测试结果大于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次,30秒后读取数据 7.如果测试结果小于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次,60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长,以免损坏探棒金属表面; - 确认在存放仪器前,探棒应干燥、干净; - 应使探棒远离其他金属物质; 此仪器只用于测试土壤,请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实(盆栽和重量较轻的土壤) * 清洁探棒后,有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态(仅限于盆栽土壤) * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1.将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时,不要使探棒离植物过近,以免伤及植物根系; 2.在探棒插入被测土壤的过程中,你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定,这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果; 3.读取结果; 4.将探棒从被测土壤中取出,请不要拉、拽白色连接线,以免使用时出现接触不良等故障; 5.用棉布将探棒完全擦净,以备下次使用。 如何读取结果 1.湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求,在此情况下您不需继续浇水;若结果低于规定要求,提醒您应立即浇水。 2.浇灌次数(参考说明书): &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3.特殊水分要求 以下数字代表: i 每天向叶面洒水; ii 不要让土壤变干; iii 保持土壤湿润,但不应过于潮湿; iv 土壤应始终保持湿润; v 在浇灌间隙可令土壤变干; vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干; vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量; viii 将水倒入盆栽托盘中;不需洒水在叶子表面。
  • HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322
    HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何分析植物光照强度 1. 将功能键拨至左起第二个档位上。 2. 手持装置,使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置,将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中,请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。 3. 请记录测试结果(× 1000)及测试时间。 4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试,所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。 例如: 上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(上午7:00到11:00间的平均光照强度) 下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(11:00到下午3:00间的平均光照强度) 下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度(下午5:00到7:00间的平均光照强度) 一天的总日照强度= 以上数据之和。 单位:Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯) 请查阅说明书后的光照要求表。 如何分析湿度 1. 将功能键拨至左起第三个档位上。 2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时,将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置,请不要离植物过近,以免伤及植物根系。 3. 读取数据。 4. 将探棒从土壤中取出,在进行下一次测试或存贮之前,请用棉布将探棒完全擦净。 5. 请不要将探棒长时间插于土壤中,也不要用此装置测试液体,以免对其造成损害。 如何分析土壤的pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等。 2. 将土壤用水浸透,成泥状。(最好使用雨水或蒸馏水) 3. 将功能键拨至最右边的档位上。 4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。 5. 将探棒完全插入被测土壤中。 6. 等待1分钟即可读取数据。 7. 测试结束后,将探棒擦净并晾干。 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米;然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质,如叶子、根系等;将土壤用水浸透,调匀成泥状。(最好使用雨水) 为了达到较准确的分析结果,你可以从被测土壤中采集一部分土,清除石子及有机碎屑物,然后把土壤碾碎成粉末状,并从中取出2杯的样土;准备一个干净的玻璃或塑料容器,倒入2杯蒸馏水或去离子水,再加入样土,搅拌使他们充分混合并压实,倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面;再使用棉制品或纸将探棒抹净,每次应从探头擦至探棒尾部。 3.将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深;若探棒不容易插入,请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒,以免损伤探头。 4.在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次,确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好; 5.等待60秒后读取数据。 6.如果测试结果大于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次,30秒后读取数据 7.如果测试结果小于pH 7:从土中拔出探棒,擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒,将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次,60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长,以免损坏探棒金属表面; - 确认在存放仪器前,探棒应干燥、干净; - 应使探棒远离其他金属物质; 此仪器只用于测试土壤,请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实(盆栽和重量较轻的土壤) * 清洁探棒后,有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态(仅限于盆栽土壤) * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1.将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时,不要使探棒离植物过近,以免伤及植物根系; 2.在探棒插入被测土壤的过程中,你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定,这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果; 3.读取结果; 4.将探棒从被测土壤中取出,请不要拉、拽白色连接线,以免使用时出现接触不良等故障; 5.用棉布将探棒完全擦净,以备下次使用。 如何读取结果 1.湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求,在此情况下您不需继续浇水;若结果低于规定要求,提醒您应立即浇水。 2.浇灌次数(参考说明书): &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3.特殊水分要求 以下数字代表: i 每天向叶面洒水; ii 不要让土壤变干; iii 保持土壤湿润,但不应过于潮湿; iv 土壤应始终保持湿润; v 在浇灌间隙可令土壤变干; vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干; vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量; viii 将水倒入盆栽托盘中;不需洒水在叶子表面。
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