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干涉法薄膜量仪

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干涉法薄膜量仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 2.5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场,25直径视场目镜 (mm) 10视场,20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场,25直径视场目镜 (mm) 0.5视场,20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场,25直径视场目镜 (mm) 2.5视场,20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 全光纤麦克尔逊干涉仪MFI
    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见 PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1. 激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出, 数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50: 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50: 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50: 1550nm光纤迈克逊干涉仪
  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米; 波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 光源:使用显微镜光源 光斑大小:由显微镜物镜决定 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口; 尺寸:120x120x120mm 重量:1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
  • 100倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :0.2视场,25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :2.2视场,25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)
    总览法布里-珀罗干涉仪(英文:Fabry–Pérot interferometer),是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时,它也被称作法布里-珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗)标准具因为平板反射率高,多光束等倾斜干涉条纹极窄,所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学,和研究波长非常靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移,原子移动引起的谱线多普勒位移,和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计;在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行,可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um,中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda;近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50;近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试: 测试步骤:1,安装1532nm激光器,连接电源,USB线2,激光器输出连接到光纤准直器 3,用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4,用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5,打开激光器,打开信号发生器(三角波调制,频率1KHZ,电压幅值500mW)6,激光器发出的光通过标准具,打在探测器光敏面上,通过调整标准具的角度,在示波器上查看调制波形测试结果:
  • 850nm VCSEL激光器_干涉仪激光器
    852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测,VSEL激光器拥有价格低廉,线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐
  • 可选的干涉滤光片 B0094404
    可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息:波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 传统镀膜带通干涉滤光片套件
    传统镀膜带通干涉滤光片套件套件包括我们的传统镀膜带通干涉滤光片有可见光和近红外版本流行的12.5mm和25mm安装直径选项通用规格涂层:Traditional Coated 传统镀膜带通干涉滤光片广泛应用于各种生物技术、生物医学,及定量化学应用,以选择性透射范围狭窄的波长,同时阻断所有其他的波长。干涉滤光片广泛用于各种仪器,其中包括临床化学、环境实验、色彩学、元件和激光谱线分离、火焰光度法、荧光和免疫测定等应用。此外,还可使用干涉滤光片从弧形灯或气体放电灯(Hg、Xe、Cd等)散谱线中选择离散光谱线,以及从Ar、Kr、Nd:YAG及其他激光中隔离特定光谱线。它们经常与激光二极管和LED结合使用.产品信息标题产品编码12.5mm, UV 200-400nm CWL, 封装滤波片套装#68-63025mm, UV 200-400nm CWL, 封装滤波片套装#68-63112.5mm, Mercury 254-577nm CWL, 封装滤波片套装#68-63225mm, Mercury 254-577nm CWL, 封装滤波片套装#68-63312.5mm, VIS 400-694nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63525mm, VIS 400-694nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63712.5mm, VIS 400-700nm CWL, 封装滤波片套装#68-63425mm, VIS 400-700nm CWL, 封装滤波片套装#68-63512.5mm, 近红外线 730-1650nm中心波长,带框,滤光片套装#66-63625mm, 近红外线 730-1650nm中心波长,带框,滤光片套装#66-638技术信息CWLFWHM12.5mm Diameter (#68-630) 25.0mm Diameter (#68-631)200nm10nm#67-733#67-800250nm10nm#67-740#67-807300nm10nm#67-749#67-816350nm10nm#67-757#67-824400nm10nm#65-617#65-677CWLFWHM 12.5mm Diameter (#68-632)25.0mm Diameter (#68-633) 254nm10nm#67-741#67-807265nm10nm#67-744#67-811280nm10nm#67-746#67-813289nm10nm#67-747#67-814297nm10nm#67-748#67-815313nm10nm#67-753#67-820334nm10nm#65-612#65-672365nm10nm#65-615#65-675405nm10nm#65-618#65-678436nm10nm#65-623#65-683546nm10nm#65-643#65-703577nm10nm#67-768#67-835CWLFWHM12.5mm Diameter (#66-635) 25.0mm Diameter (#66-637)400nm10nm#65-617#65-677405nm10nm#65-618#65-678410nm10nm#65-619#65-679415nm10nm#65-620#65-680420nm10nm#65-621#65-681430nm10nm#65-622#65-682436nm10nm#65-623#65-683442nm10nm#65-624#65-684450nm10nm#65-625#65-685455nm10nm#65-626#65-686458nm10nm#65-627#65-687467nm10nm#65-628#65-688470nm10nm#65-629#65-689480nm10nm#65-630#65-690486nm10nm#65-631#65-691488nm10nm#65-632#65-692492nm10nm#65-633#65-693500nm10nm#65-634#65-694505nm10nm#65-635#65-695508nm10nm#65-636#65-696510nm10nm#65-637#65-697515nm10nm#65-638#65-698520nm10nm#65-639#65-699532nm10nm#65-640#65-700535nm10nm#65-641#65-701540nm10nm#65-642#65-702546nm10nm#65-643#65-703550nm10nm#65-644#65-704568nm10nm#65-645#65-705580nm10nm#65-646#65-706589nm10nm#65-647#65-707600nm10nm#65-648#65-708610nm10nm#65-649#65-709620nm10nm#65-650#65-710632nm10nm#65-651#65-711636nm10nm#65-652#65-712640nm10nm#65-653#65-713647nm10nm#65-654#65-714650nm10nm#65-655#65-715656nm10nm#65-656#65-716671nm10nm#65-657#65-717676nm10nm#65-658#65-718690nm10nm#65-659#65-719694nm10nm#65-660#65-720CWLFWHM 12.5mm Diameter (#68-634)25.0mm Diameter (#68-635) 400nm10nm#65-617#65-677450nm10nm#65-625#65-685500nm10nm#65-634#65-694550nm10nm#65-644#65-704600nm10nm#65-648#65-708650nm10nm#65-655#65-715700nm10nm#67-771#67-838CWLFWHM12.5mm Diameter (#66-636) 25.0mm Diameter (#66-638)730nm10nm#65-661#65-721766nm10nm#65-662#65-722780nm10nm#65-663#65-723800nm10nm#65-664#65-724830nm10nm#65-665#65-725852nm10nm#65-666#65-726855nm10nm#65-667#65-727880nm10nm#65-668#65-728905nm10nm#65-669#65-729940nm10nm#65-670#65-7301064nm10nm#65-671#65-7311000nm10nm#65-768#65-7821050nm10nm#65-769#65-7831100nm10nm#65-770#65-7841150nm10nm#65-771#65-7851200nm10nm#65-772#65-7861250nm10nm#65-773#65-7871300nm12nm#65-774#65-7881350nm12nm#65-775#65-7891400nm12nm#65-776#65-7901450nm12nm#65-777#65-7911500nm12nm#65-778#65-7921550nm12nm#65-779#65-7931600nm12nm#65-780#65-7941650nm12nm#65-781#65-795
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 700 – 1650nm 传统镀膜带通干涉滤光片
    &bull 备有 UV、可见和 IR 中心波长可供选择&bull 备有 10 – 80nm带宽&bull 适合用于生物医学应用和仪器集成&bull 备有 193-399nm、400-699nm,以及 700-1650nm 的 CWL 选项可供选择通用规格入射角 (°):0涂层:Traditional Coated表面质量:80-50厚度容差 (mm):±0.1构造 :Mounted in Black Anodized Ring产品描述传统镀膜带通干涉滤光片用于选择性地透射范围狭窄的波长,同时阻断所有其他的波长,是各种生物医学和定量化学应用的理想选择。带通干涉滤光片广泛应用于各种仪器,其中包括临床化学、环境实验、色彩学、元件和激光谱线分离、火焰光度法、荧光和免疫测定。此外,还可使用带通干涉滤光片从弧形灯或气体放电灯散谱线中选择离散光谱线,以及从 Ar、Kr、Nd:YAG 及其他激光中隔离特定光谱线。它们经常与激光二极管模块和 LED 结合使用。传统镀膜滤光片传统镀膜滤光片由三个部分制造而成,其中之一决定其中心波长(CWL)、带宽(FWHM),以及透射率曲线的形状,其他两个步骤则控制滤光片的阻断范围。传统镀膜带通干涉滤光片经由在玻璃基片上反复一层层地真空沉淀部分反射的薄介电化合物层制造而成。由破坏性干扰引起的波长折射只限于中心波长的 15%内,因此,将需要添加额外的玻璃或金属截止以降低带外透射。金属截止,如银层,能反射和吸收滤光片通带外的辐射,并取消从 X 射线到长波红外(LWIR)的较高级别通带。金属截止的阻断能力由能够吸收 UV 或长波长辐射的特制染料和颜色透射玻璃的增广。薄片沉淀完成后,这三个部分将会经过刻划、层压、切割和安装。技术数据订购信息Dia.(mm)CWL(nm)FWHM (nm)最小传输 (%)阻断波长范围 (nm)产品编码12.50 +0.00/-0.25700.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-77125.00 +0.00/-0.25700.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-83850.00 +0.00/-0.25700.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-90512.50 +0.0/-0.2700.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 65-73825.00 +0.0/-0.2700.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 65-74750.00 +0.0/-0.2700.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 87-19412.50 +0.00/-0.25710.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-77225.00 +0.00/-0.25710.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-83950.00 +0.00/-0.25710.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-90612.50 +0.00/-0.25720.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-773 25.00 +0.00/-0.25720.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-84050.00 +0.00/-0.25720.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-90712.50 +0.0/-0.2 730.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66125.00 +0.0/-0.2730.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-72112.50 +0.00/-0.25740.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-77425.00 +0.00/-0.25740.00 +3.0/-1.0 10.00 ±255 200 - Far IR 67-84150.00 +0.00/-0.25740.00 +3.0/-1.010.00 ±255 200 - Far IR 67-90812.50 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.010.00 ±2 50 200 - Far IR 67-77525.00 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84250.00 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-90912.50 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.040.00 ±840 200 - Far IR 67-77625.00 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.040.00 ±840 200 - Far IR 67-84350.00 +0.00/-0.25750.00 +3.0/-1.040.00 ±840 200 - Far IR 67-91012.50 +0.00/-0.25760.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-77725.00 +0.00/-0.25760.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84450.00 +0.00/-0.25760.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-911 12.50 +0.0/-0.2766.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66225.00 +0.0/-0.2766.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-72212.50 +0.00/-0.25 770.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-77825.00 +0.00/-0.25770.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84550.00 +0.00/-0.25770.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-91212.50 +0.0/-0.2780.00 ±2 10.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66325.00 +0.0/-0.2780.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-72350.00 +0.0/-0.2780.00 ±210.00 ±2 ≥50 200 - 1200 86-63712.50 +0.00/-0.25790.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-77925.00 +0.00/-0.25790.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84650.00 +0.00/-0.25790.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-91312.50 +0.00/-0.25795.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-78025.00 +0.00/-0.25795.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84750.00 +0.00/-0.25795.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-91412.50 +0.0/-0.2800.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66425.00 +0.0/-0.2800.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-72412.50 +0.00/-0.25800.00 +3.0/-1.040.00 ±850 200 - Far IR 67-78125.00 +0.00/-0.25800.00 +3.0/-1.040.00 ±850 200 - Far IR 67-84850.00 +0.00/-0.25 800.00 +3.0/-1.040.00 ±850 200 - Far IR 67-91512.50 +0.00/-0.25810.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-78225.00 +0.00/-0.25810.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-84950.00 +0.00/-0.25810.00 +3.0/-1.0 10.00 ±250 200 - Far IR 67-91612.50 +0.00/-0.25820.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-78325.00 +0.00/-0.25820.00 +3.0/-1.010.00 ±2 50 200 - Far IR 67-85050.00 +0.00/-0.25820.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-91712.50 +0.0/-0.2830.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66525.00 +0.0/-0.2830.00 ±210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-72512.50 +0.00/-0.25840.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-78425.00 +0.00/-0.25840.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-85150.00 +0.00/-0.25840.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-91812.50 +0.00/-0.25850.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-78525.00 +0.00/-0.25850.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-85210.00 ±2≥50 200 - 1200 65-66625.00 +0.0/-0.2852.00 ±2
  • 400 – 699nm 传统镀膜带通干涉滤光片
    &bull 备有 UV、可见和 IR 中心波长可供选择&bull 备有 10 – 80nm带宽&bull 适合用于生物医学应用和仪器集成&bull 备有 193-399nm、400-699nm、以及 700-1650nm 的 CWL 选项可供选择通用规格入射角 (°):0涂层:Traditional Coated表面质量:80-50构造 :Mounted in Black Anodized Ring产品描述传统镀膜带通干涉滤光片用于选择性地透射范围狭窄的波长,同时阻断所有其他的波长,是各种生物医学和定量化学应用的理想选择。带通干涉滤光片广泛应用于各种仪器,其中包括临床化学、环境实验、色彩学、元件和激光谱线分离、火焰光度法、荧光和免疫测定。此外,还可使用带通干涉滤光片从弧形灯或气体放电灯散谱线中选择离散光谱线,以及从 Ar、Kr、Nd:YAG 及其他激光中隔离特定光谱线。它们经常与激光二极管模块和 LED 结合使用。传统镀膜滤光片传统镀膜滤光片由三个部分制造而成,其中之一决定其中心波长(CWL)、带宽(FWHM),以及透射率曲线的形状,其他两个步骤则控制滤光片的阻断范围。传统镀膜带通干涉滤光片经由在玻璃基片上反复一层层地真空沉淀部分反射的薄介电化合物层制造而成。由破坏性干扰引起的波长折射只限于中心波长的 15%内,因此,将需要添加额外的玻璃或金属截止以降低带外透射。金属截止,如银层,能反射和吸收滤光片通带外的辐射,并取消从 X 射线到长波红外(LWIR)的较高级别通带。金属截止的阻断能力由能够吸收 UV 或长波长辐射的特制染料和颜色透射玻璃的增广。薄片沉淀完成后,这三个部分将会经过刻划、层压、切割和安装。技术数据订购信息Dia.(mm)CWL(nm)FWHM (nm)最小传输 (%)阻断波长范围 (nm)产品编码12.50 +0.0/-0.2400.00 ±210.00 ±2≥30 200 - 1200 65-61725.00 +0.0/-0.2400.00 ±210.00 ±2≥30 200 - 1200 65-67712.50 +0.0/-0.2400.00 ±1550.00 ±15≥55 200 - 1200 65-73225.00 +0.0/-0.2400.00 ±1550.00 ±15≥55 200 - 1200 65-74112.50 +0.0/-0.2405.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-61825.00 +0.0/-0.2405.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-67850.00 +0.0/-0.2405.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 86-622 12.50 +0.0/-0.2410.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-61925.00 +0.0/-0.2410.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-67912.50 +0.0/-0.2415.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-62025.00 +0.0/-0.2415.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-68012.50 +0.0/-0.2420.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-62125.00 +0.0/-0.2420.00 ±2 10.00 ±2≥40 200 - 1200 65-68150.00 +0.0/-0.2420.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 86-62312.50 +0.0/-0.2430.00 ±210.00 ±2 ≥40 200 - 1200 65-62225.00 +0.0/-0.2430.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-68212.50 +0.0/-0.2436.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-62325.00 +0.0/-0.2436.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-68350.00 +0.0/-0.2436.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 86-99812.50 +0.00/-0.25440.00 +3.0/-1.010.00 ±245 200 - Far IR 67-76425.00 +0.00/-0.25440.00 +3.0/-1.010.00 ±245 200 - Far IR 67-83150.00 +0.00/-0.25440.00 +3.0/-1.010.00 ±245 200 - Far IR 67-898 12.50 +0.0/-0.2442.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-62425.00 +0.0/-0.2442.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 65-68450.00 +0.0/-0.2442.00 ±210.00 ±2≥40 200 - 1200 86-62412.50 +0.0/-0.2450.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-62525.00 +0.0/-0.2450.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-68550.00 +0.0/-0.2450.00 ±2 10.00 ±2≥45 200 - 1200 86-99912.50 +0.0/-0.2450.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 65-73325.00 +0.0/-0.2450.00 ±1580.00 ±25 ≥60 200 - 1200 65-74250.00 +0.0/-0.2450.00 ±1580.00 ±25≥60200 - 1200 87-00712.50 +0.0/-0.2455.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-62625.00 +0.0/-0.2455.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-68612.50 +0.0/-0.2458.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-62725.00 +0.0/-0.2458.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 120065-68712.50 +0.00/-0.25460.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-76525.00 +0.00/-0.25460.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-832 50.00 +0.00/-0.25460.00 +3.0/-1.010.00 ±250 200 - Far IR 67-89912.50 +0.0/-0.2467.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-62825.00 +0.0/-0.2467.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-68812.50 +0.0/-0.2470.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-62925.00 +0.0/-0.2470.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-68950.00 +0.0/-0.2470.00 ±2 10.00 ±2≥45 200 - 1200 86-62512.50 +0.0/-0.2480.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63025.00 +0.0/-0.2480.00 ±210.00 ±2 ≥45 200 - 1200 65-69050.00 +0.0/-0.2480.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 87-00012.50 +0.0/-0.2486.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63125.00 +0.0/-0.2486.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-69112.50 +0.0/-0.2488.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63225.00 +0.0/-0.2488.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-69250.00 +0.0/-0.2488.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 86-62612.50 +0.0/-0.2492.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-633 25.00 +0.0/-0.2492.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-69312.50 +0.0/-0.2 500.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63425.00 +0.0/-0.2500.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-69412.50 +0.0/-0.2500.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 65-73425.00 +0.0/-0.2500.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 65-74350.00 +0.0/-0.2500.00 ±1580.00 ±25≥60 200 - 1200 87-00812.50 +0.0/-0.2505.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63525.00 +0.0/-0.2505.00 ±210.00 ±2 ≥45 200 - 1200 65-69512.50 +0.0/-0.2508.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-63625.00 +0.0/-0.2508.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200 65-69612.50 +0.0/-0.2510.00 ±210.00 ±2≥45 200- 1200 65-63725.00 +0.0/-0.2510.00 ±210.00 ±2≥45 200 - 1200
  • 193 – 399nm 传统镀膜带通干涉滤光片
    &bull 备有 UV、可见和 IR 中心波长可供选择&bull 备有 10 – 80nm带宽&bull 适合用于生物医学应用和仪器集成&bull 备有 193-399nm、400-699nm、以及 700-1650nm的 CWL 选项可供选择通用规格入射角 (°):0涂层:Traditional Coated表面质量:80-50构造 :Mounted in Black Anodized Ring产品描述传统镀膜带通干涉滤光片用于选择性地透射范围狭窄的波长,同时阻断所有其他的波长,是各种生物医学和定量化学应用的理想选择。带通干涉滤光片广泛应用于各种仪器,其中包括临床化学、环境实验、色彩学、元件和激光谱线分离、火焰光度法、荧光和免疫测定。此外,还可使用带通干涉滤光片从弧形灯或气体放电灯散谱线中选择离散光谱线,以及从 Ar、Kr、Nd:YAG 及其他激光中隔离特定光谱线。它们经常与激光二极管模块和 LED 结合使用。传统镀膜滤光片传统镀膜滤光片由三个部分制造而成,其中之一决定其中心波长(CWL)、带宽(FWHM),以及透射率曲线的形状,其他两个步骤则控制滤光片的阻断范围。传统镀膜带通干涉滤光片经由在玻璃基片上反复一层层地真空沉淀部分反射的薄介电化合物层制造而成。由破坏性干扰引起的波长折射只限于中心波长的 15%内,因此,将需要添加额外的玻璃或金属截止以降低带外透射。金属截止,如银层,能反射和吸收滤光片通带外的辐射,并取消从 X 射线到长波红外(LWIR)的较高级别通带。金属截止的阻断能力由能够吸收 UV 或长波长辐射的特制染料和颜色透射玻璃的增广。薄片沉淀完成后,这三个部分将会经过刻划、层压、切割和安装。技术数据订购信息Dia.(mm)CWL(nm)FWHM(nm)最小传输(%)阻断波长范围 (nm)产品编码12.50 +0.00/-0.25193.00 ±3.515.00 ±312 200 - 10000 67-73225.00 +0.00/-0.25193.00 ±3.515.00 ±312 200 - 10000 67-79950.00 +0.00/-0.25193.00 ±3.515.00 ±312 200 - 10000 67-86612.50 +0.00/-0.25200.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-73325.00 +0.00/-0.25200.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-80050.00 +0.00/-0.25200.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-86712.50 +0.00/-0.25214.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-73425.00 +0.00/-0.25214.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-801 50.00 +0.00/-0.25214.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-86812.50 +0.00/-0.25220.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-73525.00 +0.00/-0.25220.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-80250.00 +0.00/-0.25220.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-86912.50 +0.00/-0.25228.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-73625.00 +0.00/-0.25228.00 +3.0/-0.0 10.00 ±215 200 - 10000 67-80350.00 +0.00/-0.25228.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-87012.50 +0.00/-0.25228.00 ±325.00 ±520 200 - 10000 68-33625.00 +0.00/-0.25228.00 ±325.00 ±520 200 - 10000 68-33750.00 +0.00/-0.25228.00 ±325.00 ±520 200 - 10000 68-33812.50 +0.00/-0.25232.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-73725.00 +0.00/-0.25232.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-80450.00 +0.00/-0.25232.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-87112.50 +0.00/-0.25239.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-73825.00 +0.00/-0.25239.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-80550.00 +0.00/-0.25239.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-872 12.50 +0.00/-0.25248.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-73925.00 +0.00/-0.25248.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-80650.00 +0.00/-0.25239.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-87312.50 +0.00/-0.25250.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-74025.00 +0.00/-0.25250.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-80750.00 +0.00/-0.25250.00 +3.0/-0.0 10.00 ±212 200 - 10000 67-87412.50 +0.00/-0.25254.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-74125.00 +0.00/-0.25254.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-80850.00 +0.00/-0.25254.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-87512.50 +0.00/-0.25254.00 +10.0/-0.040.00 ±820 200 - 10000 67-74225.00 +0.00/-0.25254.00 +10.0/-0.040.00 ±820 200 - 10000 67-80950.00 +0.00/-0.25254.00 +10.0/-0.040.00 ±820 200 - 10000 67-87612.50 +0.00/-0.25260.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-74325.00 +0.00/-0.25260.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-81050.00 +0.00/-0.25260.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-87712.50 +0.00/-0.25265.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-744 25.00 +0.00/-0.25265.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-81150.00 +0.00/-0.25265.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-87812.50 +0.00/-0.25270.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-74525.00 +0.00/-0.25 270.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-81250.00 +0.00/-0.25270.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-87912.50 +0.00/-0.25280.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-74625.00 +0.00/-0.25280.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-81350.00 +0.00/-0.25280.00 +3.0/-0.010.00 ±212 200 - 10000 67-88012.50 +0.00/-0.25289.00 +3.0/-0.010.00 ±2 15 200 - 10000 67-74725.00 +0.00/-0.25289.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-81450.00 +0.00/-0.25289.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-88112.50 +0.00/-0.25297.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-74825.00 +0.00/-0.25297.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-81550.00 +0.00/-0.25297.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-88212.50 +0.00/-0.25300.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-74912.50 +0.00/-0.25300.00 +10.0/-0.040.00 ±820 200 - 10000 67-75025.00 +0.00/-0.25300.00 +3.0/-0.010.00 ±215 200 - 10000 67-81625.00 +0.00/-0.25300.00 +10.0/-0.040.00 ±820 200 - 10000 67-81750.00 +0.00/-0.2510.00 ±215 200 - 10000 67-81850.00 +0.00/-0.25307.00 +3.0/-0.010.00 ±2
  • 3M 固相萃取薄膜片制品
    【固相萃取薄膜片用分流器】 薄膜片尺寸品 名内  容Cat.No.47mm单式分流器组件阀断流栓×1、单式分流器×1 5010-3300190mm3连式分流器组件阀断流栓×3、3连式分流器×15010-33002共 通6连式分流器组件阀断流栓×6、6连式分流器×15010-3300347mm用玻璃水口300mL玻璃漏斗×1、Kel-F屏×1  夹子×1、玻璃支撑基座×1 5010-33005单式分流器 玻璃水口套件单式分流器×1、玻璃水口(47mm)×15010-330113连式分流器 玻璃水口套件3连式分流器×1、玻璃水口(47mm)×35010-330126连式分流器 玻璃水口套件6连式分流器×1、玻璃水口(47mm)×65010-3301390mm用玻璃水口1200mL 玻璃漏斗×1、Kel-F屏×1  夹子×1、玻璃支撑基座×15010-33006单式分流器 玻璃水口套件单式分流器×1、玻璃水口(90mm)×15010-330216连式分流器 玻璃水口套件6连式分流器×1、玻璃水口(90mm)×35010-33022注) 固相萃取装置与另售的真空控制器(真空流量仪表与调整阀)Cat.No.5010-33071组合使用的话,可以简单地完成对流量的调整。【EmporeTM 玻璃水口用更换部件】品  名薄膜片尺寸47mm用薄膜片尺寸90mm用Cat.No.Cat.No.玻璃漏斗 300mL5010-33056―玻璃漏斗 1000mL5010-33057―玻璃漏斗 1200mL―5010-33062不锈钢筛(内装6个)5010-33058―Kel-F筛5010-330595010-33063夹子5010-330605010-33064玻璃支撑基座5010-330615010-33065
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 薄膜、样品膜、光谱仪膜、麦拉膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • 手持荧光光谱仪薄膜、样品杯膜TF-260
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#(SKY-260) permier新产品SKY-260: 裁剪更方便 catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260 迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜 本公司供应美国premier所有型号产品,欢迎采购, 卷:( 直径:3.0" (76mm);91.4m卷/盒) 序号CAT.No薄膜材料厚 度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-260# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述 TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、剥离机
    薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍:LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示,加上电脑可实现微机操作,参数随意设定,可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy: 30KN(任意选) 2、荷重元精度Load Accuracy: 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy: ± 0.5% 4、操作方式Control: 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width: 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke: 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy:: ± 0.5%以内; 9、位移测量精度Stroke Accuracy: ± 0.5%以内; 10、变形测量精度Displacement Accuracy: ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device: 电子限位保护,紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight : 约140kg
  • Chemplex样品薄膜迈拉膜
    Chemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO:106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416麦拉膜、CAT.NO:426麦拉膜、3014麦拉膜、欢迎咨询 美国Chemplex 杯膜 XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品类型:XRF样品杯Sample Cups 品 牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国 产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令; 2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染; 6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。 我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。 二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。 适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、 MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。 四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。 1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L* 特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。更多信息咨询美同达科技
  • XRF荧光光谱仪专用测试薄膜
    产品详情 XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜,以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度:下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上,使用两种材料:聚酯(聚酯薄膜)和聚丙烯(商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”,例如以“lene”结尾的,通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜)。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料,聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体(例如水、聚乙二醇和高沸点油)。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析,因为它没有主要成分其中的污染。相比之下,聚酯薄膜含有不需要的磷和钙(3.5 µmMylar 对应于纯油(例如清洁白油)中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜,例如Hostaphan(带有硅污染的聚酯)或聚碳酸酯(不含污染,首选用于燃料分析)受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明,因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。
  • YSI 85盐度、电导、溶解氧、温度测量仪
    唐海红 13120400643 YSI 85盐度、电导、溶解氧、温度测量仪 YSI 85/85-D型便携式溶氧仪 原 产 地:美国YSI 技术参数: 多参数测量:溶氧、温度、盐度、电导率 溶解氧测量:自动温度补偿、自动盐度补偿、可编气压补偿,自动空气校准 使用5906型盖式薄膜:换膜快捷,方便无误 电导测量:使用四纯镍电极,性能稳定,很少需要维护 全自动电导量程选择:快速调整有效量程,以达到最高的准确度 针对野外测量而设计的特点 完全按照人体工学设计,不论手持、阅读、操作还是携带等细节上均考虑到野外测试的特殊需要 特大液晶显示屏,另有背景加光功能,在昏暗的环境下仍能清晰读数 探头使用不锈钢制造,电极端外加塑料保护套,确保坚固耐用;另外金属的重量让探头更易于沉入水中 所有电缆接头均装有应力舒缓器,减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 内置探头存贮室,方便携带并保存探头的正常工作状态,亦可作溶解氧的校准室 全按键式操作,一切运作均由微处理器操控 自动功能检查:确保开机时系统均正常工作 内置非散失性存储器,可储存50组数据,读数不会因断电而丢失 YSI 85型 溶解氧、盐度、电导、温度测量仪: 一体溶解氧/电导/温度探头 使用整合式探头和电缆; YSI 85D型 溶解氧、盐度、电导、温度测量仪:功能与85型相同,使用可更换式&ldquo D型&rdquo 探头和电缆,可根据不同应用所需随时更换不同长度的电缆 ,使用MS(军方规格)式接头,防雨防尘,可在野外拆卸和维护。 注:主机不带接头和电缆,需另配D型探头和电缆 YSI 85 系统规格 测量参数技术指标 溶解氧 空气饱和度:0至200%,分辨率: 0.1%空气饱和度,准确度: ± 2%空气饱和度* 溶解氧: 0至20毫克/升 ,分辨率:0.01毫克/升 ,准确度:± 0.3毫克/升* 电导率 范围: 0-499.9&mu S/cm 0.1&mu S/cm,准确度: 量程之± 0.5% 范围:0-4999&mu S/cm,分辨率: 1&mu S/cm,准确度:量程之± 0.5% 范围:0-49.99mS/cm,分辨率: 0.01mS/cm,准确度: 量程之± 0.5% 范围:0-200.0mS/cm,分辨率: 0.1mS/cm,准确度: 量程之± 0.5% 盐 度: 0至80ppt 0.1ppt ± 2%或± 0.1ppt* 温 度: -5至+65℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* * 仪器规格包括仪表和探头的总误差 其它技术指标 电缆长度: 3米、7.5米、15米和30米 温度补偿: 全自动 盐度补偿: 0至80ppt 高度(气压):补偿 0至3,000米 电导参考温度: 15至25℃(可调) 电导温度补偿因子: 0至4%(可调) 量程选择 溶解氧:全自动;电导:自动或手动设定 电 源: 6节5号碱性电池,操作寿命约100小时;附低电量显示 防水性能: 超越IP65标准 尺 寸: 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽) × 5.6厘米(厚) 重 量: 0.77公斤(3米电缆) 选购指南 仪 器 85-10 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 85-25 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 85-50 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 85-100 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 85D YSI 85D型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪(不带探头) D型探头 85D-12 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头,3米电缆 85D-25 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头,7.5米电缆 85D-50 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头,15米电缆 85D-100可拆卸式溶解氧/电导/温度探头,30米电缆 配 件 5050 携带箱,硬体 5520 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 薄 膜 5906 盖膜(6个,带氯化钾) 电导标准液 3167-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 3168-1 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 3168-1 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升) 5580-1 酸碱度、电导、ORP多参数检查液(475毫升)
  • 反射模块
    反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块,LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。
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