功率参数测试仪

SPM300系列半导体参数测试仪设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪，具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析，空间分辨率＜ 800nm （典型值），也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件，可对数据进行拟合计算，直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定，重复性好，可用于实验室检验或者产线监测。① 光路接口盒：内置常用激光器及激光片组，拓展激光器包含自由光及单模光纤输入；② 光路转向控制：光路转向控制可向下或向左，与原子力、低温、探针台等设备连用，可升级振镜选项③ 明视场相机：明视场相机代替目镜④ 显微镜：正置科研级金相显微镜，标配落射式明暗场照明，其它照明方式可升级⑤ 电动位移台：75mm*50mm 行程高精度电动载物台，1μm 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合：光纤共聚焦耦合为可选项，提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合：标配CCD- 狭缝耦合方式，可使用光谱仪成像模式，高光通量⑧ 光谱CCD：背照式深耗尽型光谱CCD相机， 200-1100nm 工作波段，峰值QE ＞ 90%⑨ 320mm 光谱仪：F/4.2高光通量影像校正光谱仪， 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数测试仪主要应用SPM300系列半导体参数测试仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪，只含一路532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台SPM300-SMS532多功能型半导体参数分析仪，含532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器SPM300-OM532开放式半导体参数测试仪，含532nm 激光器，定制开放式显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器系统参数项目详细技术规格光源标配532nm，100mW 激光器，其他激光可选，最多耦合4 路激光，可电动切换，功率可调节光谱仪320mm 焦距影像校正光谱仪，光谱范围90-9000cm-1,光谱分辨率2cm-1空间分辨率1μm样品扫描范围标配75mm*50mm，最大300mm*300mm显微镜正置显微镜，明场或者暗场观察，带10X,50X,100X 三颗物镜；开放式显微镜可选载流子浓度分析测试范围测试范围1017 ~ 1020 cm-3，重复性误差5%应力测试可直观给出应力属性（拉力/ 张力），针对特种样品，可直接计算应力大小，应力均匀性分析（需额外配置电动位移台）, 应力解析精度0.002cm-1晶化率测试可自动分峰，自动拟合，自动计算出晶化率，并且自动计算晶粒大小和应力大小测试案例举例

品牌： 华科智源 名称： IGBT测试仪 型号： HUSTEC-1600A-MT 用途： 广泛应用于器件设计，封装测试，轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机等行华科智源HUSTEC-1600A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用1) 物理规格 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg2) 环境要求 海拔高度：海拔不超过 1000m；储存环境：-20℃～50℃； 工作环境：15℃～40℃。相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；大气压力：86Kpa～ 106Kpa。 防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%； 电网频率：50Hz±1Hz

华科智源HUSTEC-1600A-MT静态参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试1200A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用1) 物理规格 设备尺寸：500（宽）x 450（深）x 250（高）mm； 质量：30kg2) 环境要求 海拔高度：海拔不超过 1000m；储存环境：-20℃～50℃； 工作环境：15℃～40℃。相对湿度：20%RH ~ 85%RH ；大气压力：86Kpa～ 106Kpa。 防护：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等空气污染的损害；3) 水电气 用电要求：AC220V，±10%； 电网频率：50Hz±1Hz

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备，主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合，才能在市场上推出使用方便，测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求，欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案：双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件（包括模块） 电压可调至：50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具，紧凑型包装，模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署，测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器；寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性，也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如：负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能：描述SiC离散变量的动力学行为配置：在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级：优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装：可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压：230Vac, 50Hz，单相接地保护输入电流：8A保险丝额定值：10A，T，250V直流电压范围：100V to 4500V开关电流范围：10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃

适合LED、大功率LED光电参数分选测试，应用于研发、检测部门及LED生产现场快速测试。 技术指标： 光度测量范围：0.01lm～1.9999× 105lm 电性能参数： 程控恒流源输出范围：1.0mA～1.0A 程控恒压源输出范围：0.1V～10.0V 正向电流IF的测量范围：1.0mA～1.0A 正向电压VF的测量范围：0.1V～10.0V 反向漏电流IR的测量范围：0.01&mu A～100.0&mu A 反向电压VZ的测量范围：0.1V～38.0V 测试精度：0.5%F.S.

太阳能电池板功率测试仪 PV40 应用于光伏电站电池板的功率与转化率检测，PV40设置简单，操作便捷，性价比高，更为适用于单组件检测。 检测对象： 太阳能电池板功率测试仪，光伏电池板，电池片电性能测试：电流/ 电压/ 功率/ 效率/ IV曲线 产品特点：1、 简易性软件设计，无需专业人士亦可操作2、 组件云数据库，一键选取，无需人工输入3、 数据无需导出，实时同步至云端分析平台性能优势：1、 支持无线组网模式，同时检测多个组件2、 定时循环检测功能，满足长期评估需求3、 配备高精度辐照采集器，温度采集器4、 采用18650锂电池，超长待机，更加安全便携式IV测试仪 技术配置：基础参数◎ 供电方式 电源适配器（220V/21V）或松下18650锂电池◎ 工作温度 -40oC ~ 85oC◎ 防护等级 IP65◎ 环保标准 RoHS功能参数◎ 电压检测范围 0 ~ 70V◎ 电流检测范围 0 ~ 11A◎ 功率检测范围 0 ~ 350W◎ 检测精度 1%◎ 扫描时间 3s◎ 通信方式 USB + Zigbee 或 蓝牙

光伏电站发电系统IV功率测试仪 LX-PV50用于光伏电站的检查、验收和运维，对光伏发电系统的发电情况进行实时监测，能够实时、快速地监测太阳能光伏方阵输出的直流电压、直流电流、直流功率、交流电压、交流电流和交流功率，以及实时检测光伏发电系统的功率、转换效率和功率因数等参数。适用于1500V 光伏系统的功率分析。 主要特点 宽电压测试范围，最大直流测试电压1500V；支持网络通信功能，通过TCP组网，实现远程同步测试控制；功率分析功能，检测逆变前的直流电压和直流电流、逆变后的交流电压和交流电流、视在功率、有功功率、转换效率、系统效率等；实时获取环境参数功能，配合设计的辐照度计实时获取太阳辐照度和温度数据；环境参数无线采集功能，辐照度计提供最大100米的无线通信连接功能，环境数据获取更便捷、方便；使用简易、方便，采用触摸屏彩色液晶显示器，可直接触控交互；内部具备高压隔离电源设计，为用户提供可靠的安全保障。可连续测试，并自动存储测试数据结果；内置大容量可更换锂离子电池，为测试提供充足电力；提供用户可选的辐照度计量证书；可测量参数：交流电压、交流电流、直流电压、直流电流、直流功率、交流功率、功率因数、系统效率、交流电压谐波、交流电流谐波、太阳电池温度、环境温度、辐照度。 光伏电站发电系统IV功率测试仪 光伏电站PV系统效率分析仪 LX-PV50可提供光伏发电系统的电压真有效值、电流真有效值、有功功率、视在功率、转换效率和功率因数等参数的自动测试功能，并可根据同步测量的辐照度和温度值自动进行系统效率的计算分析，另外可以根据实际光伏发电系统中的组件参考参数设置参考组件参数。支持TCP 组网功能，可实现远程同步测试。 太阳能光伏发电系统功率分析测试 光伏电站PV系统效率分析仪 LX-PV50对光伏发电系统功率分析测试，分析光伏发电系统的效率

一、产品概述：动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一款专为评估和测试功率电子器件动态性能而设计的高精度设备。该仪器能够通过施加双脉冲信号，实时监测功率器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗，提供全面的性能分析。广泛应用于功率半导体、IGBT、MOSFET 等器件的研发与测试，动态功率器件分析仪具有高时间分辨率和准确的数据采集能力，帮助工程师评估器件在实际工况下的表现和可靠性。其用户友好的界面和灵活的测试配置，使得设备在功率电子领域的研究和开发中成为不可或缺的重要工具。二、设备用途/原理：设备用途动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪主要用于评估和测试功率电子器件（如IGBT、MOSFET等）的动态性能。广泛应用于功率半导体的研发、质量控制和性能分析，能够提供关于器件在开关过程中的电流、电压和功率损耗等关键数据，帮助工程师优化器件设计和提高可靠性。工作原理该仪器通过施加双脉冲信号来测试功率器件的动态响应。在测试过程中，仪器首先施加一个脉冲信号使器件导通，然后迅速切换到另一个脉冲信号以关闭器件。通过实时监测电流和电压的变化，仪器能够捕捉到开关过程中的瞬态特性和功率损耗。数据采集系统会记录这些参数，并生成详细的性能分析报告。该测试方法具有高时间分辨率，能够准确反映器件在实际应用中的表现，为功率电子领域的研究和开发提供重要支持。三、主要技术指标：1. 作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件。 2.能够可靠、可重复测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征3.测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征4.同时满足被测器件和用户对测试环境的要求5.模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试换

HUSTEC华科智源HUSTEC-1600A-MTIGBT静态参数测试仪一：IGBT静态参数测试仪主要特点华科智源HUSTEC-1200A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试，还可以测量大功率二极管 、IGBT模块，大功率 IGBT、大功率双极型晶体管，MOS管等器件的 V-I 特性测试，测试600A（可扩展至2000A），5000V以下的各种功率器件，广泛应用于轨道交通，电动汽车 ，风力发电，变频器，焊机行业的IGBT来料选型和失效分析，设备还可以用于变频器，风电，轨道交通，电焊机等行业的在线检修，无需从电路板上取下来进行单独测试，可实现在线IGBT检测，测试方便，测试过程简单，既可以在测试主机里设置参数直接测试，又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试，通过电脑操作完成 IGBT 的静态参数测试；IGBT静态参数测试仪测试参数：ICES 集电极-发射极漏电流IGESF 正向栅极漏电流IGESR 反向栅极漏电流BVCES 集电极-发射极击穿电压VGETH 栅极-发射极阈值电压VCESAT 集电极-发射极饱和电压ICON 通态电极电流VGEON 通态栅极电压VF 二极管正向导通压降整个测试过程自动完成，电脑软件携带数据库管理查询功能，可生成测试曲线，方便操作使用。二：IGBT静态参数测试仪应用范围A：IGBT单管及模块，B：大功率场效应管（Mosfet）C：大功率二极管D：标准低阻值电阻E：轨道交通，风力发电，新能源汽车，变频器，焊机等行业筛选以及在线故障检测三、IGBT静态参数测试仪特征：A：测量多种IGBT、MOS管B：脉冲电流1200A，电压5KV，测试范围广；C：脉冲宽度 50uS~300uSD：Vce测量精度2mVE：Vce测量范围10V F：电脑图形显示界面G：智能保护被测量器件H：上位机携带数据库功能I：MOS IGBT内部二极管压降J : 一次测试IGBT全部静态参数K: 生成测试曲线（IV曲线直观看到IGBT特性，可以做失效分析以及故障定位）L:可以进行不同曲线的对比，观测同一批次产品的曲线状态，或者不同厂家同一规格参数的曲线对比；序号测试项目描述测量范围分辨率精度1VF二极管正向导通压降0~20V1mV±1%,±1mV2IF二极管正向导通电流0~1200A≤200A时,0.1A≤200A时,±1%±0.1A3＞200A时,1A＞200A时,±1%4Vces集电极-发射极电压0~5000V1V±1%,±1V5Ic通态集电极电流0~1200A≤200A时,0.1A≤200A时,±1%±0.1A6＞200A时,1A＞200A时,±1%7Ices集电极-发射极漏电流0~50mA1nA±1%,±10μA8Vgeth栅极-发射极阈值电压0~20V1mV±1%,±1mV9Vcesat集电极-发射极饱和电压0~20V1mV±1%,±1mV10Igesf正向栅极漏电流0~10uA1nA±2%,±1nA11Igesr反向栅极漏电流12Vges栅极发射极电压0~40V1mV±1%,±1mV华科智源静态参数测试系统针对 IGBT 的各种静态参数而研制的智能测试系统；自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作），计算机可以记录测试结果，测试结果可转化为文本格式存储，测试方法灵活（可测试器件以及单个单元和多单元的模块测试），安全稳定（对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁），具有安全保护功能，测试速度方便快捷。

功率器件静态参数测试仪型号：HUSTEC-200A-MT可测试5000V，1600A以下IGBT、Mosfet、二极管等功率器件，兼容Si基、SIC、GaN器件测试；包括耐压，漏电流，饱和压降，开启电压等参数，还可以测试器件BV特性曲线，输出曲线，转移曲线，以及曲线对比功能。可用于器件设计，器件研发选型，IQC检验以及可靠性前后电参数测试以及失效分析等领域。1)测试电压范围：0-±5000V2)测试电流范围：0-±1600A3)测试栅极电压范围：0-±100V4)电压分辨率：1mV5)电流分辨率：0.1nA

一、产品概述：半导体参数测试仪是一种专门用于测量和分析半导体器件电气特性的测试设备。该仪器能够评估器件的电流-电压（I-V）特性、容量、泄漏电流和其他关键参数，广泛应用于半导体制造和研发领域。二、设备用途/原理：设备用途半导体参数测试仪主要用于测试各种半导体器件，如二极管、晶体管和集成电路。工程师可以利用该仪器进行器件特性分析、故障排查和性能评估，以确保半导体产品的质量和可靠性。工作原理半导体参数测试仪通过施加已知的电压并测量相应的电流来工作。仪器内部使用高精度的模数转换器（ADC）和数字信号处理技术，实时记录和分析I-V曲线。用户可以设置不同的测试条件，如扫频、阶梯测试等，生成详细的测试报告，帮助用户深入了解器件的电气特性和性能表现。三、主要技术指标：1. 配备集成电脑及显示屏一体机箱，包含高精度电流测量模块、电容测量模块、超快脉冲模块，配合用数据测量分析软件，无需外接其他仪表即可实现I-V曲线，I-t曲线，C-V曲线及C-f曲线的测量并能在屏幕实时显示测量结果2. 电流测量精度≤0.1 fA，小可测量电流≤20 fA3. 大电流测量量程≥0.1 A，大输出功率≥2 W4. 电流测量精度10 fA时，电流表的短采样时间间隔100 μs5. I-V特性测试及C-V特性测试切换时，无须更改电路6. 实现不同频率交流阻抗测量（C-V、C-f、C-t） 的测量，频率范围1 kHz-5 MHz，小频率步进≤1 mHz7. 电容测量精度≤5 fF (1 MHz)、≤10 fF（5 MHz）8. 电容测量范围5 fF-1 nF，电压0至±25V，步进≤1 mV9. 具有脉冲输出及采集模块，脉冲输出电压峰值10 V10. 脉冲采样大采样率≥200 MSa/s，小采样时间5 ns11. 具有瞬态波形捕获模式12. 具有任意波形发生器，支持多电平脉冲波形，可编程分辨率10 ns

大功率IGBT模块测试设备igbt测试仪简介 普赛斯功率器件静态测试设备，集多种测量和分析功能一体，可以精准测量不同封装类型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等）的静态参数，具有高电压和大电流特性、μΩ级J确测量、纳安级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容，如输入电容、输出电容 、反向传输电容等。 普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统配置有多种测量单元模块，模块化的设计测试方法灵活，方便用户添加或升级测量模块，适应测量功率器件不断变化的需求。测试系统组成普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统，主要包括测试主机、测试线、测试夹具、电脑、上位机软件，以及相关通讯、测试配件等构成。整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件，可根据测试项目需要，设置不同的电压、电流等参数，以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出，并可生成I-V以及C-V特性曲线。此外，测试主机可与探针台搭配使用，实现晶圆级芯片测试；也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。测试主机内部采用的电压、电流测量单元，均采用多量程设计，测试精度为0.1%。其中，栅极-发射极，最大支持30V@10A脉冲电流输出与测试，可测试低至皮安级漏电流；集电极-发射极，最大支持6000A高速脉冲电流，典型上升时间为15μs，且具备电压高速同步采样功能；最高支持3500V电压输出，且自带漏电流测量功能。电容特性测试，包括输入电容，输出电容，以及反向传输电容测试，频率最高支持1MHz。 系统特点高电压：支持高达3.5KV高电压测试（Z大扩展至10kV）；大电流：支持高达6KA大电流测试（多模块并联）；高精度：支持uΩ级导通电阻、纳安级漏电流测试；丰富模板：内置丰富的测试模板，方便用户快速配置测试参数；配置导出：支持一键导出参数配置及一键启动测试功能；数据预览及导出：支持图形界面以及表格展示测试结果，亦可一键导出；模块化设计：内部采用模块化结构设计，可自由配置，方便维护；可拓展：支持拓展温控功能，方便监控系统运行温度；可定制开发：可根据用户测试场景定制化开发； 系统参数测试项目集电极-发射极电压Vces，集电极-发射极击穿电压V(br)ces、集电极-发射极饱和电压Vcesat集电极截止电流Ices、栅极漏电流Iges栅极-发射极电压Vges、栅极-发射极阈值电压Vge(th)输入电容、输出电容、反向传输电容续流二极管压降VfI-V特性曲线扫描，C-V特性曲线扫描等大功率IGBT模块测试设备igbt测试仪测试夹具针对市面上不同封装类型的硅基功率半导体，IGBT、SiC、MOS、GaN等产品，普赛斯提供 整套测试夹具解决方案，可用于T0单管，半桥模组等产品的测试。选择普赛斯仪表的理由武汉普赛斯是国内最早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产已经过了市场的考验、市面有近500台源表在使用；普赛斯仪表特色：高电流、高电压测试，3500V电压下可测量皮安级漏电流，1000A脉冲电流源15us的超快上升沿。

技术参数：HWX-Ⅱ(恒功率平面热源法)智能热物理参数测试仪 本仪器测试方法基于&ldquo 恒功率平面热源法&ldquo 。可用于测试导热系数和导温系数。 主要技术参数 1、导热系数范围：0.015～10w/m&bull k(或0.035～20w/m&bull k) 2、可以完成恒功率平面热源法测试，仪器提供了对实验温度实现可控状态下的测试。 3、仪器实现数字化及测温程度优于0.2级，室温自动电子补偿； 4、测量准确度± 3%，，精确度± 2%，重复性：± 2%； 5、计量加热功率不小于35W± 1%。 6、由上位机实际自动测试，在稳态条件下3分钟测试一组数据。 7、可显示实验参数、曲线，并实现数据打印输出。 8、试样尺寸：试材1：200× 200× 65mm；试材2：200× 200× 22mm；试材3：200× 200× 90mm。 9．测试装置由试件及试件夹具、加热系统和单片机数据采集及处理三部分组成。 10.实验条件：（1）被测试样均匀各向同性且其物性为常数；（2）试样长宽各为厚度的8-10倍即试样是半无限大，而且具有均匀一致的初始温度；（3）恒功率平面热源；（4）加热器热容量为零。 11．.系统硬件由传感器、前置放大电路、通道控制电路、模数转换电路、键盘显示及控制电路、打印驱动及控制电路、单片机系统、系统监控及后备保护电路、系统及加热器供电电源、加热器、试样夹卡等部分组成。 12.采用AD590集成温度传感器对热电偶冷端进行补偿。 13.模数转换电路采用高精度双积分A/D转换器。 14. 软件系统包括系统管理模块、数据运算、打印机管理、参数设置、数据采集滤波、热电偶热电势&mdash 温度变换、中断处理、时钟管理等模块。通过系统管理模块按一定的层次结构把它们有机地结合起来，便可完成各项功能。

产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试仪（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）动态参数测试仪（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-SP3020 功率器件静态参数测试系统用于测试 IGBTs,MOSFETs, Diode,静态直流参数3000V/2000A ?产品简述 ST-SPX系列产品是主要针对半导体功率器件的静态参数测试而开发设计。通过DUT适配器的转换，可实现对各种封装形式的 IGBTs，MOSFETs，DIODEs 等半导体器件的静态电参数测试，包括器件、模块以及DBC衬板和晶圆。 设备融入了自动化及智能化的设计理念及功能，支持批量上下料并进行全自动测试。用于规模化量产可节省人力并提高测试产能，适合产线量测以及器件研发设计阶段的实验室测试，设备由主控计算机操控，测试数据自动上传以及保存。测试能力包含输出特性、转移特性、击穿特性、漏电流、阈值电压、二极管压降等。产品功能及输出功率进行了模块化设计，满足用户潜在的后期需求，测试电压电流可扩展至10KV/10KA，变温测试支持常温到200℃。?测试能力?产品特点? 产品以2000A为一个电流模块,以1000V为一个电压模块，可升级到10KA/10KV. ? 可以连接探针台做 wafer / chip 测试，也可以安装夹具及适配器做模块测试? 针对不同结构的封装外观，通过更换 DUT适配器即可? 可进行室温~200℃变温测试,也可实现子单元测试功能? 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件? 栅极电阻可任意调整? 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用（24hr 工作）? 支持半自动和全自动测试? 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点? 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）? 自动化，单机测试时只需手动放置DUT，也可连接机械选件实现自动化测试线? 智能化，通过主控计算机进行操控及数据编辑，测试结果自动保存及上传指定局域网? 安全性，防爆，防触电，防烫伤，短路保护等多重保护措施，确保操作人员、设备、数据及样品安全。

DBC-226高精度大功率晶闸管综合测试仪系统概述晶闸管综合参数测试系统，是大功率晶闸管测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：1. 该测试系统是一套综合的测试系统，综合测试参数多，技术难度大。2. 该测试系统是一套高压大电流的测试设备，对设备的电气性能要求高。3. 该系统是一套动态和静态参数的集成测试系统，因此该设备的结构设计难度大。4. 该系统的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。5. 该系统采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为 Excel 文件进行处理。 6. 该测试系统是晶闸管出厂检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要测试晶闸管。测试参数；1) 门极触发参数测试单元2) 维持电流测试单元3) 擎住电流测试单元4) 阻断参数测试单元5) 通态压降参数测试单元6) 电压上升率参数测试单元7) 关断时间参数测试单元8) 恢复电荷参数测试单元技术条件环境温度：15～40℃相对湿度：下图给出了该测试台湿度与额定电压的关系，请按照以下条件使用。（注：存放湿度不大于 80%。）大气压力： 86Kpa～ 106Kpa电网电压： AC220V±10%无严重谐波电网频率： 50Hz±1Hz测试范围1. 门极参数测试：VGT、IGT2. 维持电流测试：IH3. 擎住电流测试：IL4. 阻断参数测试：VD、VR 、ID、IR5. 压降参数测试：VTM、ITM 、Vr、Ir、Vf、If、6. 电压上升率参数测试：dv/dt7. 关断时间参数测试：Tq8.恢复电荷参数测试：Qrr、Irr、Trr

用于高功率激光器和极深紫外EUV源的光学部件性能综合测量，且性能和参数测量基于ISO国际标准。 别名：弱吸收测量仪，强激光材料性能测试仪，高功率激光薄膜光热弱吸收测量仪，光学薄膜微弱吸收测量仪，光学材料光热效应测量仪主要特点 基于ISO11551标准吸收测量 基于ISO11254标准激光诱导损伤阈值测量 波前畸变（透镜加热，挤压） 透射测量 反射测量 基于ISO13696散射测量 衰减（color centers） 荧光/发光 Absorptance: Thermal lens in fused silica @193nm 可用的辐射源 高功率准分子激光器 -351nm、308nm、248nm、193nm、157nm 固体激光器 -1064nm、532nm、355nm、266nm（ns and ps 脉冲宽度） -1070nm光纤激光（500W cw） -可调谐OPO：680~980nm+IR-Idler 激光诱导EUV/XUV源 -13nm -~4nm Two‐dimensional scatter map @248nmMicrographs of laser‐induced damage sites of various laser‐optical materials光束测试软件测试基于ISO标准ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670 M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

大功率热阻测试仪ENR0620 热阻测试系统系统概述近年来由于电子产业的蓬勃发展，电子组件的发展趋势朝向高功能、高复杂性、大量生产及低成本的方向。组件的发热密度提升，伴随产生的发热问题也越来越严重，而产生的直接结果就是产品可靠度降低，因而热管理（thermalmanagement）相关技术的发展也越来越重要。电子组件热管理技术中常用也是重要的考量标准之一就是热阻（thermal resistance）西安易恩电气ENR0620 热阻测试系统，本系统测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试方法）运用实时采样静态测试方法（Static Method），广泛用于测试各类 IC（包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、导热材料、散热器、热管等的热阻、热容及导热系数、接触热阻等热特性。测试功能测试器件测试功能IGBT瞬态阻抗(Thermal Impedance)从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗数据。MOSFET二极管稳态热阻(Thermal Resistance)包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工作电流后。热量不断向外扩散，达到了热平衡，得到的结果是稳态热阻值。在没有达到热平衡之前测试到的是热阻抗。三极管可控硅线形调压器装片质量的分析主要测试器件的粘接处的热阻抗值，如果有粘接层有气孔，那么传热就要受阻，这样将导致芯片的温度上升，因此这个功能够衡量粘接工艺的稳定性。LEDMESFETIC可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。内部封装结构与其散热能力的相关性分析多晶片器件的测试SOA Test浪涌测试配置 /系统单元配置组成单元项目配置主机平台软件功率2A/10V 采样单元测量控制软件测试延迟时间（启动时间）1us 数控单元结果分析软件采样率1us 功率驱动单元建模软件测试通道数2（最大 8 个）测试通道1-8个功率放大器提高驱动能力10~100 倍扩展选件电性规格系统特征加热电流测量精度 低电流测量02A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)●测试启动时间仅为 1 s，几分钟之内就 可以得到器件的全面热特性；●先进的静态实时测量方法，采样间隔最快可达 1 s， 采样点高达 65000 个，有效地保证了数据的准确性和完备性；高电流测量02A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)●市场上最高的灵敏度 FoM=10000 W/℃，很高的灵 敏度 SNR4000，结温测试精度高达 0.01℃；加热电压测量精度±0.25% ，0~50V 热电偶测量精度(T 型)典型 ±0.1°C , 最大±0.3°C●强大的测试软件和数据分析软件保证了后期扩展功能的提升。交流电压220VAC，5A，50/60Hz电压（标配）50V电流（标配）20A（选配）200A,400A,800A,1000A节温感应电流1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配)测试原理根据IEDEC静态测量原理，改变器件输入功率，使器件温度发生变化，在达到热平衡之前，ENR0620以1uS的高速采样率实时记录温度随着时间变化的瞬态响应曲线；在得到温度响应后，根据R_thiA=T / P 计算稳态热阻；将上述瞬态响应转换为结构函数形式，方便用户分析器件热流传导路径上的各层结构。系统未采用“脉冲方法”。因为“脉冲方法”采用延时测量技术，限制了测量精度，且“脉冲方法”在测量瞬态温度响应市应非实时记录数据。而是通过人为构建脉冲加热功率来模拟瞬态过程，测试结果的精确性无法保证。

便携式IV曲线测试仪技术特点：◎ 主机与探头之间采用无线连接，提供最大100米的无线通信连接功能，使您的测试更便捷、方便。◎ 提供拥有专利技术的探头盒与温度探头安装支架，能够方便快速的将探头安装在电池板上。◎ 提供独有的条码扫描功能，实现组件智能识别。◎ 高亮、阳光下可视彩色液晶显示，触摸屏加键盘操作，包含丰富的外设接口，提供非同一般的操作体验。机内存储器可存储超过2000幅测试波形，并内置SD卡插槽，支持存储空间扩容◎ 采用WINCE图形系统，多国语言可选，贴心的菜单设计，让您能够迅速掌握仪器的各项功能。◎ 提供用户分析软件，可以通过用户端同步软件通过 USB 线缆将主机内存储数据拷贝 到 PC 机上进行分析并打印输出。◎ 室外低照度伏安特性测试，并提供标准 STC 测试条件修正。如果用户需要，可提供 计量服务，出具计量证书。◎ 内置丰富的太阳能电池组件修正模型数据库，覆盖大多数组件生产商的产品，为测 试结果的转换比对提供参考，并为用户提供了全面的参数设置功能，方便用户手动 添加测试修正模型。◎ 内部具备高压隔离电源设计，为用户提供可靠的安全保障。宽电压测试范围，最大 开路电压测试到 1000V，并提供高达 10kW 的光伏阵列测试功能。◎ 自动量程切换功能，带过压过流保护，并提供可设定的自动连续测试功能。◎ 内置大容量可更换锂离子电池，为测试提供充足电力。◎ 具备环境温度检测、电池板温度检测、太阳辐照度检测等环境监测功能，并提供用 户可选的辐照度计量证书。◎ 可测量参数： I-V 曲线，P-V 曲线，短路电流，开路电压，峰值功率，峰值功率点 电压、电流，定电压点电流，填充因子，转换效率，串联电阻，并联电阻，太阳电 池温度，环境温度、辐照度。◎ LX-PV30便携式IV测试仪具备独特的组件发电量测试功能，能够适应目前欧盟采用的IEC61853 规定的组件鉴定测试，或用于当地日照资源监测。测试仪还提供高达 400 点的高分 辨率测试模式及符合 Modbus/tcp 协议的以太网监视功能，适应科学研究需要。◎ pv301 测试仪具备独特的补偿设计，可真正支持光伏电池片的户外验证，适应还 未工程化应用的实验阶段光伏电池户外性能测试。◎ 获得 6 项发明专利及 10 项实用新型专利，包含测试电路、软件算法、结构工艺及计 量方法等全方位的知识产权保护。符合标准◎ IEC 61215 -2005 地面用晶体硅光伏组件－设计鉴定和定型  ◎ IEC 61646-2008 地面用薄膜电池设计与鉴定规范◎ CGC/GF003.1:2009 并网光伏发电系统工程验收技术规范第 1 部分：电气设备◎ GB4793.1-2007/IEC 60010-1 测试、控制和实验室用电气设备的安全要求  ◎ IEC 60904-2 2007 标准太阳电池的要求  ◎ IEC 60891-2009 光伏器件的 I-V 实测特性的温度和辐照度修正方法◎ IEC 61853-2011 光伏器件性能测试和能量等级  ◎ 通过 CE 及 ROHS 认证  ◎ 经过中国计量科学研究院权威验证，电压、电流测试准确性均优于 0.2%，达到并超过产品指标要求。基本参数探头盒单元特性环境温度检测范围-30℃～100℃电池温度检测范围-30℃～100℃温度测试精确度±1℃辐照度测试范围0～1800W/m2辐照度测试精度优于±3%与主机通信接口RS232串口、蓝牙长×宽×高166×83×33mm重量450g电源4节AAA电池主机特性供电方式内置锂电池/电源适配器电池类型14.8V/4400mAH电池供电时间10 小时长×宽×高296×186×75mm重量2.3kg工作温度-10℃～50℃存储温度-20℃～60℃湿度5～95%RH注*：辐照度测试准确度会因为大气条件不同以及周围环境的影响而产生改变，准确度指标是在满足 AM1.5光谱分布、辐照度≥700W/m2的AAA级太阳模拟器辐照下测得。主要测试指标：测试指标pv30pv301电压量程5V～1000V （开路电压大于 15V）0～50V 0～200V (AV6592开路电压需大于5V pv301无要求)电压测试精度0.1V0.01V电压测试准确度**±0.5%±0.2V±0.2%±0.1V电流量程0.1～12A0.01～10A0.01～20A电流测试精度0.001A0.001A电流测试准确度**±0.5%±0.02A±0.2%±0.01A最大功率测试重复性±0.5%±3W±0.2%±0.5W最大功率测试范围50W～10kW0.1W～500W转换到 STC 下最大功率准确性***优于±3%±1W优于±3%±1W注**：在25℃标准测试环境下进行测试。注***：转换到STC下最大功率准确性指标是在稳定辐照度≥700W/m2，光谱满足AM1.5条件下测得。在实验室条件下该指标一般在2%以内。现场测试时，请在太阳光照稳定条件下测试，并确保辐照度探头与温度探头安装可靠，否则会因为辐照度测试偏差及温度偏差照成较大的转换误差。应用案例：验收检测pv30 便携式太阳能电池测试仪可应用于室外光伏电站验收检测，图中为外 场测试的系统组成与测试示意，探头与主机采用无线通信，方便快捷。主机可单手平托，另 一手点击操作，阳光下图形显示界面清晰明确，具有良好的便携性与操作体验。可配套条码 扫描仪，实现组件条码的自动记录，确定被测组件的身份 ID。图 1 测试曲线阳光下清晰可视图 2 探头无线连接方便快捷可以扫描电池板条码触发测试，实现电池板身份ID的自动输入。故障诊断pv30 便携式太阳能电池测试仪的另一个重要作用是故障诊断。如图 3所示。 组件被遮挡面积大约是 5%，但通过伏安特性测试，在如图 4 和图 5 的分析软件中看出，开 路电压和短路电流没有太大变化，但测试曲线出现明显改变，功率损失分别达到30%和50%。 只有通过太阳能电池测试仪才能发现组件是否存在问题。图 3 同一组件不同遮挡测试图 4 组件正常曲线 1 与组件左下部局部被遮挡曲线对比图 5 组件正常曲线 1 与中间两个局部被遮挡曲线对比图 6 中是两个并联组件其中一个被遮挡 1/36 的情况，从图 7 中可以看出，相对于正常 测试曲线，曲线的形态没有发生太大变化，但组件的功率下降了35%，短路电流下降了33%。 从曲线测试中就可以确定电池阵列故障。

一、设备简述：天士立科技ST-CVX半导体功率器件CV特性结电容分析测试仪是陕西天士立科技有限公司根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二极管、三极管、MOS管及IGBT等半导体功率器件寄生电容、CV特性可一键测试，无需频繁切换接线及设置参数，单管功率器件及模组功率器件均可一键快速测试，适用于生产线快速测试、自动化集成。CV曲线扫描分析能力亦能满足实验室对半导体材料及功率器件的研发及分析。仪器设计频率为1kHz-2MHz，VGS电压可达±40V，VDS电压可达±200V/±1500V/±3000V，足以满足大多数功率器件测试。 二、应用领域： 半导体功率器件：二极管、三极管、MOSFET、IGBT、晶闸管、集成电路、光电子芯片等寄生电容测试、C-V特性分析 半导体材料：晶圆切割、C-V特性分析 液晶材料 弹性常数分析 电容元件：电容器C-V特性测试及分析，电容式传感器测试分析 三、性能特点： 一体化设计：LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件 单管器件、模组器件、曲线扫描)三种测试方式一体 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg) 同屏一键测量及显示 CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描 四、功能指标： Vds：0~1200V Vgs：±25V Rg ：0~10KΩ 信号电压：1mV~1000mV 测试精度：0.01pf 测试频率：0.01KHZ~1MHZ 主要功能：IGBT，二极管，氮化镓、碳化硅 MOSFET等功率器件Rg\Ciss\Coss\Crss参数和CV特性测试分析 五、软件操作上位机使用Labview界面开发，该程序体现为人机交互界面，作为测试平台的交互系统，通过与LCR表、主控板等设备通讯，实现对设备的自动操作并进行数据采集、在界面上显示LCR表的测试波形、并对测试波形进行分析、计算，最终得到结果进行显示和存储。➢ 进入主界面，主界面分为参数录入区、波形显示区和参数显示区，如下图所示：六、系统主要部件：七、验收流程1. 在需方工作现场完成设备安装；2. 安装完成后, 双方依据技术协议对设备进行验收进行验收。3. 验收完成后, 双方签署《验收报告》，作为合同执行依据。 八、技术培训供方在需方工作现场免费为需方进行测试技术培训。培训内容包括：1. 系统介绍；2. 软件使用方法；3. 硬件使用方法；4. 器件测试技术；5. 测试实际操作；6. 系统使用注意事项；7. 日常维护与保养 九、售后服务1、全部供货范围内的设备、材料、零配件和工器具等，除合同特别约定外，其质保期均自终验收签字生效之日起 12 个月。2、若买方需卖方派工程师来现场解决设备问题，我方应在 3 小时内响应，2 个工作日内派人员抵达买方现场，因我方造成的设备停工时间应在质量保证期中予以相应延长。3、质保期之内，系统及设备发生任何非人为原因造成的故障和损坏，均由我方负责免费维修和服务，失效零件予以免费更换，所更换的部件三包期从更换之日起重新计算。4、质保期终止之日起一年内重复出现的质保期之内出现的故障，仍在质保范围而且免费维修。5、对于备件及易损件的报价，三年内不得提升，确保设备验收后五年内所需的配件国内能够实现现货供应。6、对于质量保证期后可能涉及的大修改造情况，我司承诺以不高于国内其他用户的供货价格为原则，根据新增功能的难易程度和全新设备的整体价格来综合报价。7、我方派往买方使用现场的人员，具有 5 年以上的专用素质；现场解决问题时，不得无故拖延或推迟，应为买方提供最佳的服务。8、产品终生免费技术支持，包括硬件维修，软件升级等。硬件维修只收取 相应的器件 成本费用，软件实行终生免费升级。9、六个月定期产品巡检，对产品硬件及软件升级等。10、不定期对使用设备人员走访或者电话培训服务。

西安厂商直供大功率浪涌测试仪ENL3010 浪涌测试系统系统概述ENL3010 浪涌测试系统 ，设备可输出17.7mS、80kA的电流，对被测器件进行浪涌电流试验；浪涌电流测试系统西安易恩电气 ENL3010 浪涌测试系统 ，该测试台通过电容充放电原理产生电流波形，根据不同的测试条件，设定好各试验参数，再通过调节不同的电感值（手动调节）来改变不同的电流宽度来输出测试要求的电流值，测试的电压和电流波形同时被采集到示波器和相关的控制电路，反馈给PLC,并由HMI显示测试结果；PLC控制系统本系统采用PLC对整个系统进行控制，PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制，并且对测试数据进行采集且与HMI（人机界面）进行通讯，由HMI对测试结果进行显示，完成了整个系统的自动控制功能；PLC不仅控制开关的动作，而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控，并与硬件进行互锁，实现了可靠的安全控制功能。HMI（人机界面）控制系统 HMI对以下试验参数进行设定： 试验次数 重复时间 漏电流设定 电容电压设定 电容选择 脉宽选择 VD/VR选择，设定完毕后可在测试界面中选择并调用参数HMI对以下试验参数进行显示：浪涌电流 阻断电压 阻断漏电流 电容电压 脉冲次数规格/环境环境温度： 15～40℃相对湿度： 小于60%大气压力： 86Kpa～ 106Kpa电网电压： AC220V±10%无严重谐波电网频率： 50Hz±1Hz功能指标技术指标测试参数电流能力17.7mS80KA浪涌电流阻断电压脉宽10ms15.3ms17.7ms阻断漏电流电容电压脉冲次数

TZ-700a转向参数测试仪（方向盘转向力-转向角测试仪）一、产品特点TZ-700a型转向参数测试仪是淄博泰展电子产品有限公司自主开发研制的以高性能单片机为核心的智能化测试仪器，通过锁紧装置将该检测仪卡在方向盘上，能够使仪器牢固固定在方向盘上，保证检测过程中无意外松动。同时力传感器测试施加在方向盘上的直接切向力，不需换算。角度测量采用角速度传感器，测试准确。该仪器采用12位高性能逐次逼近A/D转换器进行数模转换，测量时采样速度快转换精度高。仪器配以点阵式液晶屏作为显示器件，汉字提示，实时显示测试数据，清晰直观，简单易用，配有标准RS-232接口，可将测试结果发往其他上位机，以便灵活构成联机测试和数据采集系统。二、主要用途 适用于汽车制造行业，汽车检测线，维修行业，拖拉机监理部门，汽车科研部门检测试验用。三、使用环境条件 相对湿度20%~80%，工作环境温度：-15℃~40℃四、 技术性能指标：1，转向力 测量范围：0~±300N 分度值： 1N 零点漂移：10min不大于2d 鉴别力阈不大于1d 最D允许误差：±2% 重复性：2%2，转向角 测量范围：±1080度 分度值： 1度 零点漂移：10min不大于1d 最D允许误差：±2% 重复性：2%

VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，垂直共振腔表面放射激光）技术目前在人脸识别、3D感测、汽车自动驾驶、手势侦测和VR（虚拟现实）/AR（增强现实）/MR（混合现实）等应用领域越来越受到关注，莱森光学可以为客户提供VCSEL-3D SENSING/TOF检测解决方案：LIV光谱/功率积分测试、NF近场特性测试、FF远场特性测试、BRDF/BTDF光学材料AR/VR特性测试、VCSEL专用积分球，实现对VCSEL单体、模组、及晶圆芯片的能量分布和均匀性测量、光谱波长及功率测量、近场远场测量等各种定制化应用需求。LS-VCS-IND光谱功率积分测试仪由莱森光学专门针对VCSEL/LD工作频率要求不高，不需要进行复杂的LIV、PCE功能测试分析测试研发而成，该系统性价比高，特别适合于工业用户和自动化集成厂商。主要技术特点支持在线集成测量，支持机台集成商二次开发实现对光谱峰值功率、平均功率、光谱峰值波长、FWHM、占空比等功能的测量可以设置采用频率，PD和光谱仪触发同步测量NIST溯源标定，功率积分球可选不同规格：根据DUT发散角和功率大小，可选择1吋- 8吋不同尺寸激光功率积分球可选配温度控制模块，控温范围5℃~95℃激光光谱功率积分球测试仪软件界面LS-VCS-IND工业级LIV光谱功率积分测试仪主要针对VCESL/LD和模组的LIV光电特性测量，根据VCESL/LD的发散角和输出功率要求，可选择不同规格的积分球，积分球内径尺寸分为：1吋、2吋、4吋、3吋、6吋、8吋等。积分球带已标定功率探头，由于DUT发热量大，温度对DUT输出功率和输出光谱波长有很大的影响，因此需要对样品控温，配置温度控制模块，控温范围5℃~+95℃可选。LS-VCS-IND光谱功率积分球测试仪主要技术指标主要技术指标备注：不同功率大小需要选择不同尺寸的激光功率积分球，详见激光功率积分球选型参数iSphere-XX-PWR激光功率积分球（VIS低功率）技术参数iSphere-XX-PWR激光功率积分球（VIS高功率）技术参数iSphere-XX-PWR-NIR激光功率积分球（NIR低功率）技术参数iSphere-XX-PWR-NIR激光功率积分球（NIR中功率）技术参数iSphere-XX-PWR-NIR激光功率积分球（高功率）技术参数尺寸图（单位：mm）

BINSFELD TT-R扭矩轴功率测试仪仪器简介：TT Revolution扭矩/轴功率在线测试系统可同时输出被测轴的扭矩、转速、功率和转向等四种4-20mA信号，适于对转轴进行长时间监测。功能 TT Revolution扭矩/轴功率在线测试系统可同时输出被测轴的扭矩、转速、功率和转向等四种4-20mA信号，适于对转轴进行长时间监测。系统由两大部分组成：旋转的轴环（内置发射机）和固定的电源环及主控单元。轴环外径和电源环直径以2英寸步长递增成系列，适用于不同的轴径范围。根据被测轴外径以及轴环的内径确定轴衬圈的尺寸。 扭矩/轴功率在线测试系统扭矩测试应用 - 船舶推进系统扭矩监测- 轧机电机轴状态监测和诊断- 汽车传动装置扭矩测试- 风轮机叶片测试- 起重机驱动轴测试- 造纸机驱动系统测试- 其它旋转轴的在线监测技术参数：扭矩/轴功率在线测试系统主要规格参数 - 传感器输入：全桥应变计（350&Omega ，可选其它阻值），4VDC桥压。- 应变输入范围：± 500&mu &epsilon （全桥，4桥臂，扭转或弯曲）- 数据分辨率为14位，频响为DC～1000Hz（-3dB）。- 工作环境：-40℃～85℃，0%～90%相对湿度，不冷凝。- 供电：11-16VDC，额定0.5A，最大2A。可选交流供电。TT Revolution系统可同时输出被测轴的扭矩、转速、功率和转向等四种4-20mA信号，适于对转轴进行长时间监测。功能 TT Revolution系统可同时输出被测轴的扭矩、转速、功率和转向等四种4-20mA信号，适于对转轴进行长时间监测。系统由两大部分组成：旋转的轴环（内置发射机）和固定的电源环及主控单元。轴环外径和电源环直径以2英寸步长递增成系列，适用于不同的轴径范围。根据被测轴外径以及轴环的内径确定轴衬圈的尺寸。TT-R扭矩/轴功率在线测试系统特点- 数字式遥测设计抑制噪声和干扰；- 非接触式感应电源和数据传输，不会因长期使用而导致表面磨损。 TT-R扭矩/轴功率在线测试系统应用- 船舶推进系统扭矩监测- 轧机电机轴状态监测和诊断- 汽车传动装置扭矩测试- 风轮机叶片测试- 起重机驱动轴测试- 造纸机驱动系统测试- 其它旋转轴的在线监测

ST-SP2000（1250A）轨道机车大功率IGBT器件静态参数测试仪轨道级大功率半导体模块 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 静态参数测试仪主要用于轨道机车 变流器IGBT参数测试、筛选、配对主极输出 2000V / 1250A，分辨率*高至1mV / 10pA ? 产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） ? 产品简述 产品扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?测试范围广（19大类，27分类）?升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）?系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能，无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护*大电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J-FET / J型场效应管IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04晶体管（NPN/PNP）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF05DIODE / 二极管IR；BVR ；VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR；BVZ；VF；ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-11SCR / 可控硅IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH12STS / 硅触发可控硅IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout；Iin；15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+； ID-；VC+ ；VC-

莱森光学激光功率积分球系列主要针对激光进行设计，是测量激光光辐射总功率的理想选择，得益于激光功率积分球独特的几何结构，激光束功率测量不会受到激光束的偏振和校准的影响。能够满足用户在VCSEL、激光功率测量、激光和激光二极管输出特性检测等应用方面的需求。莱森光学激光功率积分球采用≥98%高反射率的漫反射光学材料，独有内胆光学工艺，高反射率光学材料经过特殊工艺改性、铸模，再机械加工成球壳形，最后经抛光、清洗而成，其最大优点是涂层壁厚，永不脱落。我司研发的激光功率积分球可以理想地收集到高度发散的光源的总辐射功率，只需要经过标定和校准程序即可实现精准测量；对于1-16μm光谱激光或高功率激光需采用镀金激光功率积分球更高功率需要配置水冷装置。莱森光学激光功率积分球，需要搭配莱森光学功率主机和LiSpecView-VCS光谱功率测量软件实现光谱功率测量，用户也可以灵活搭配自己的电流表进行功率测量。工业级-激光光谱功率积分球测试仪 激光测量动态范围可灵活选择，积分球尺寸1-8吋可选，也可定制 积分球出光/测量口均匀性优于0.1% 功率波长测量范围350-1100nm/800-1700nm 高功率模式可配置镀金积分球，波长范围1-16μm 功率稳定性高达0.1%，出厂溯源标定，功率准确性优于1% 能够有效地收集高度发散源的总功率 可应用于VCSEL，激光功率测量，高功率红外激光测量等

ZC-700a转向参数测试仪（方向盘转向力角测试仪）一、产品特点ZC-700a型转向参数测试仪是淄博卓川电子科技有限公司自主开发研制的以高性能单片机为核心的智能化测试仪器，通过锁紧装置将该检测仪卡在方向盘上，能够使仪器牢固固定在方向盘上，保证检测过程中无意外松动。同时力传感器测试施加在方向盘上的直接切向力，不需换算。角度测量采用角速度传感器，测试准确。该仪器采用12位高性能逐次逼近A/D转换器进行数模转换，测量时采样速度快转换精度高。仪器配以点阵式液晶屏作为显示器件，汉字提示，实时显示测试数据，清晰直观，简单易用，配有标准RS-232接口，可将测试结果发往其他上位机，以便灵活构成联机测试和数据采集系统。二、主要用途 适用于汽车制造行业，汽车检测线，维修行业，拖拉机监理部门，汽车科研部门检测试验用。三、使用环境条件 相对湿度20%~80%，工作环境温度：-15℃~40℃四、 技术性能指标：1，转向力 测量范围：0~±300N 分度值： 1N 零点漂移：10min不大于2d 鉴别力阈不大于1d 最D允许误差：±2% 重复性：2%2，转向角 测量范围：±1080度 分度值： 1度 零点漂移：10min不大于1d zD允许误差：±2% 重复性：2%

设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪，具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析，空间分辨率＜ 800nm （典型值），也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件，可对数据进行拟合计算，直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定，重复性好，可用于实验室检验或者产线监测。① 光路接口盒：内置常用激光器及激光片组，拓展激光器包含自由光及单模光纤输入；② 光路转向控制：光路转向控制可向下或向左，与原子力、低温、探针台等设备连用，可升级振镜选项③ 明视场相机：明视场相机代替目镜④ 显微镜：正置科研级金相显微镜，标配落射式明暗场照明，其它照明方式可升级⑤ 电动位移台：75mm*50mm 行程高精度电动载物台，1μm 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合：光纤共聚焦耦合为可选项，提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合：标配CCD- 狭缝耦合方式，可使用光谱仪成像模式，高光通量⑧ 光谱CCD：背照式深耗尽型光谱CCD相机， 200-1100nm 工作波段，峰值QE ＞ 90%⑨ 320mm 光谱仪：F/4.2高光通量影像校正光谱仪， 1*10-5 杂散光抑制比SPM300 半导体参数测试仪主要应用选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪，只含一路532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台SPM300-SMS532多功能型半导体参数分析仪，含532nm 激光器，常规正置显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器SPM300-OM532开放式半导体参数测试仪，含532nm 激光器，定制开放式显微镜，光谱仪，高精度XYZ 位移台，可升级耦合最多4 路激光器系统参数项目详细技术规格光源标配532nm，100mW 激光器，其他激光可选，最多耦合4 路激光，可电动切换，功率可调节光谱仪320mm 焦距影像校正光谱仪，光谱范围90-9000cm-1,光谱分辨率2cm-1空间分辨率1μm样品扫描范围标配75mm*50mm，最大300mm*300mm显微镜正置显微镜，明场或者暗场观察，带10X,50X,100X 三颗物镜；开放式显微镜可选载流子浓度分析测试范围测试范围1017 ~ 1020 cm-3，重复性误差5%应力测试可直观给出应力属性（拉力/ 张力），针对特种样品，可直接计算应力大小，应力均匀性分析（需额外配置电动位移台）, 应力解析精度0.002cm-1晶化率测试可自动分峰，自动拟合，自动计算出晶化率，并且自动计算晶粒大小和应力大小测试案例举例

产品描述功率器件动态参数测试系统专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A l 3500V 4000A超宽测试范围l 适用于全种类的功率器件l 模块化设计，适应不同需求l 可满足定制化需求l 卓越的测试性能l 中文系统，用户友好性l 高可靠性动态测试项目l 开通测试：Tdon、Tr、Ton、Eonl 关断测试：Tdoff、Tf、Toff、 Eoffl 栅极特性：Qgl 反向恢复测试：Trr、Qrr、Irm、Erecl SC：Idmax、Vdsmax适用产品l 兼容各种封装方式的：Si基，SiC基的各种功率器件单管及模块项目内容平台设计值备注工作环境设备输入电压220V±10%设备输入频率50HZ±5%设备输入电流45A/驱动电压VgeVgon=0~+30V可调Vgoff=0~-30V可调（5V≤Vgon-Vgoff≤30V）通过计算机设定；精度±3%脉冲宽度单、双脉冲时间可调4us（总时间）通过计算机设定母线电压波动范围±3%/功率回路寄生电感寄生电感15nH/开关特性 开通特性Td(on): 5-400nsTr: 5-400nsTon: 5-1000nsEon：1-500mJ1. Rgon/Rgoff=客户焊接电阻2. 开通测试发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）3. 关断测试发单脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）4. 分辨率：0.1ns5. 测试精度±5%关断特性Td(off)：5-400nsTf: 5-400nsToff: 5-1000nsEoff: 1-500mJ二极管反向恢复特性反向恢复Trr: 5-400nsQrr:1nC~100uCIrm:0~400AErec:1~500mJ1. 发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，4us（总时间）2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5%SC关断电流Idmax关断峰值电压VdsmaxIdmax:0~6000AVdsmax:0V~1500V1. 发单脉冲，脉冲时间4us，脉冲时间在计算机输入2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5%栅极特性栅电荷Qg: 1nC~100uC1. 漏极电压50V~1500V2. 分辨率：0.1ns3. 测试精度±5% 软件配置l 采用labview上位机软件作为人机交互界面l 画面显示内容包括：测试时间、被测器件条码、测试条件、测试结果、测试波形、测试数据记录等 硬件方案i. 示波器采用力科HDO3104。ii. 电压探头采用HVD3220。iii. 电流探头采用SDN414同轴电阻。 测试数据示例 服务与支持免费测样/软件更新/定期校准/完善培训