蓝菲光学发布成像传感器量子效率测试系统-蓝菲光学-QES新品
SPECTRA-QT 成像传感器量子效率测试光源对于图像传感器行业而言,精确地了解光电量子效率的转换是极其重要的,一个良好特性的传感器可以指定和调整输入滤波后光谱,增强修正终端产品的使用性能。Spectra-QT成像传感器量子效率测试积分球均匀光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。测量参数:量子效率光谱响应度线性度 特点:超高的光照强度和超大的动态范围,能够满足各种传感器的量子效率测试需求输出稳定、光谱辐射度均匀的面光源,确保传感器测试结果的一致性。光谱辐照度和辐亮度能够实时溯源至美国国家标准与技术研究院(NIST)提供软件开发包,能够满足客户各种自定义测试流程开发需要规格参数光谱辐照度光谱辐亮度波长范围:375 - 1100 nm375 - 1100 nm光谱带宽:5 nm to10 nm5 nm to10 nm波长准确度:0.6 nm0.6 nm开口孔径尺寸:29 mm, 23.9 mm, 26.2 m, 22 mmN/A400 nm最大光谱辐照度:12 mW/cm232 mW/cm2-sr600 nm最大光谱辐照度:21 mW/cm254 mW/cm2-sr800 nm最大光谱辐照度:5 mW/cm211 mW/cm2-sr550 nm稳定性: (UV-VIS 光源): (VIS-NIR 光源) 0.05% over 5 sec period 0.05% over 5 sec period 创新点:QES成像传感器量子效率测试光源提供可调的、已知均匀度的、覆盖光谱灵敏度范围的硅光学传感器单色光源,用于测试图像传感器的光谱响应率和量子效率,线性度,像素和模块。 成像传感器量子效率测试系统-蓝菲光学-QES