霍尔效应测厚仪

【科学背景】近年来，尽管量子霍尔效应的线性响应特性得到了广泛研究，但高阶非线性响应仍然是一个未被充分探索的领域。特别是在二维材料如石墨烯中，量子霍尔态的非线性响应尚未被深入研究。量子霍尔态不仅具有绝缘体体和导电手性边缘态的特征，而且在不同的量子霍尔态下，可能会表现出复杂的非线性行为，这些行为对于理解边缘态的电子-电子相互作用具有重要意义。为了解决这一问题，为了解决这一问题，复旦大学何攀, 沈健，日本九州大学Hiroki Isobe，新加坡国立大学Gavin Kok Wai Koon，Junxiong Hu，日本理化研究所新兴物质科学中心Naoto Nagaosa等教授合作发现，在石墨烯的显著量子霍尔态下，存在明确的第三阶霍尔平台。这一平台在广泛的温度、磁场和电流范围内保持稳定，并且在不同几何形状和堆叠配置的石墨烯中均可观察到。第三阶霍尔效应的高度对环境条件不敏感，但与器件特性相关。此外，第三阶非线性响应的极性受磁场方向和载流子类型的影响。作者的研究揭示了量子霍尔态的非线性响应是如何依赖于器件特性的，并提出了一个新的视角来理解边缘态的性质。【科学亮点】（1）实验首次观察到石墨烯中量子霍尔态的第三阶霍尔效应，获得了第三阶霍尔效应的清晰平台。该平台在显著的量子霍尔态（\( \nu = \pm 2 \)）中展现出，且在广泛的温度、磁场和电流范围内保持稳定。（2）实验通过测量不同几何形状和堆叠配置的石墨烯器件，发现第三阶霍尔效应的平坦值与环境条件无关，但与器件特性相关。具体结果包括：&bull 第三阶霍尔效应的电压平台高度与探针电流的立方成正比，而第三阶纵向电压保持为零。&bull 该效应在磁场变化（至约5T）和温度变化（至约60K）下保持稳健。&bull 第三阶非线性响应的极性依赖于磁场方向及载流子类型（电子或空穴），并且其值在反转磁场方向时会改变符号。&bull 非线性霍尔平台的稳健性提供了关于边缘态的新见解，并可能违背量子霍尔电阻的精确量化。【科学图文】图1：在经典和量子域中，线性霍尔效应和非线性霍尔效应示意图。图2：在量子霍尔态quantum Hall states，QHSs内，三阶非线性霍尔平台的观测结果。图3：在量子霍尔态QHSs内，三阶霍尔效应的立方电流依赖性。图4：磁场和温度，对量子霍尔态QHS三阶非线性响应的影。【科学启迪】本文的研究为量子霍尔效应（QHE）中的非线性响应提供了新的视角，揭示了量子霍尔态（QHSs）中第三阶霍尔效应的显著平台。这一发现不仅扩展了作者对量子霍尔现象的理解，也对探索二维材料中的非线性电输运提供了新的途径。首先，实验首次在单层石墨烯中观察到稳定的第三阶霍尔效应平台，表明在量子霍尔态下，电子之间的相互作用可能导致非线性现象的出现。这种非线性响应在不同环境条件（如磁场和温度）下保持稳定，且在多种几何形状和堆叠配置的石墨烯器件中均能观察到。这表明该效应具有较强的普适性和稳健性。其次，研究发现第三阶霍尔效应的电压平台与探针电流立方成正比，而其幅度对环境条件变化表现出较强的稳健性。这一特性挑战了量子霍尔电阻的精确量化，提示作者在量子霍尔态的研究中需要考虑更高阶的非线性效应。这种非线性响应的发现不仅提供了关于边缘态性质的新见解，还可能揭示出与传统线性量子霍尔效应不同的物理机制。此外，本文的研究结果对未来探索量子霍尔系统的高阶响应具有重要启示。其他填充因子的量子霍尔态中的非线性响应，以及在其他量子霍尔系统中的应用，仍需进一步研究。这一发现为理解电子-电子相互作用、边缘态带曲率等物理现象提供了新的方法，也可能为研究分数量子霍尔效应的非线性响应开辟新的方向。原文详情：He, P., Isobe, H., Koon, G.K.W. et al. Third-order nonlinear Hall effect in a quantum Hall system. Nat. Nanotechnol. (2024). https://doi.org/10.1038/s41565-024-01730-1

图一，量子反常霍尔效应的示意图，拓扑非平庸的能带结构产生具有手征性的边缘态，从而导致量子反常霍尔效应 　　 　　图二，理论计算得到的磁性拓扑绝缘体多层膜的能带结构和相应的霍尔电导 　　 　　图三，在Cr掺杂的(Bi,Sb)2Te3拓扑绝缘体磁性薄膜中测量到的霍尔电阻 　　中新社北京3月15日电 (记者 马海燕)北京时间3月15日凌晨，《科学》杂志在线发文，宣布中国科学家领衔的团队首次在实验上发现量子反常霍尔效应。这一发现或将对信息技术进步产生重大影响。 　　这一发现由清华大学教授、中国科学院院士薛其坤领衔，清华大学、中国科学院物理所和斯坦福大学的研究人员联合组成的团队历时4年完成。在美国物理学家霍尔1880年发现反常霍尔效应133年后，终于实现了反常霍尔效应的量子化，这一发现是相关领域的重大突破，也是世界基础研究领域的一项重要科学发现。 　　由于人们有可能利用量子霍尔效应发展新一代低能耗晶体管和电子学器件，这将克服电脑的发热和能量耗散问题，从而有可能推动信息技术的进步。然而，普通量子霍尔效应的产生需要用到非常强的磁场，因此应用起来将非常昂贵和困难。但量子反常霍尔效应的好处在于不需要任何外加磁场，这项研究成果将推动新一代低能耗晶体管和电子学器件的发展，可能加速推进信息技术革命进程。 　　美国科学家霍尔分别于1879年和1880年发现霍尔效应和反常霍尔效应。1980年，德国科学家冯克利青发现整数量子霍尔效应，1982年，美国科学家崔琦和施特默发现分数量子霍尔效应，这两项成果分别于1985年和1998年获得诺贝尔物理学奖。 　　相关链接 　　“量子反常霍尔效应”研究获突破 　　中国科学网 　　由中国科学院物理研究所和清华大学物理系的科研人员组成的联合攻关团队，经过数年不懈探索和艰苦攻关，最近成功实现了“量子反常霍尔效应”。这是国际上该领域的一项重要科学突破，该物理效应从理论研究到实验观测的全过程，都是由我国科学家独立完成。 　　量子霍尔效应是整个凝聚态物理领域最重要、最基本的量子效应之一。它是一种典型的宏观量子效应，是微观电子世界的量子行为在宏观尺度上的一个完美体现。1980年，德国科学家冯克利青(Klaus von Klitzing)发现了“整数量子霍尔效应”，于1985年获得诺贝尔物理学奖。1982年，美籍华裔物理学家崔琦(Daniel CheeTsui)、美国物理学家施特默(Horst L. Stormer)等发现“分数量子霍尔效应”，不久由美国物理学家劳弗林(Rober B. Laughlin)给出理论解释，三人共同获得1998年诺贝尔物理学奖。在量子霍尔效应家族里，至此仍未被发现的效应是“量子反常霍尔效应”——不需要外加磁场的量子霍尔效应。 　　“量子反常霍尔效应”是多年来该领域的一个非常困难的重大挑战，它与已知的量子霍尔效应具有完全不同的物理本质，是一种全新的量子效应 同时它的实现也更加困难，需要精准的材料设计、制备与调控。1988年，美国物理学家霍尔丹(F. Duncan M. Haldane)提出可能存在不需要外磁场的量子霍尔效应，但是多年来一直未能找到能实现这一特殊量子效应的材料体系和具体物理途径。2010年，中科院物理所方忠、戴希带领的团队与张首晟教授等合作，从理论与材料设计上取得了突破，他们提出Cr或Fe磁性离子掺杂的Bi2Te3、Bi2Se3、Sb2Te3族拓扑绝缘体中存在着特殊的V.Vleck铁磁交换机制，能形成稳定的铁磁绝缘体，是实现量子反常霍尔效应的最佳体系[Science，329, 61(2010)]。他们的计算表明，这种磁性拓扑绝缘体多层膜在一定的厚度和磁交换强度下，即处在“量子反常霍尔效应”态。该理论与材料设计的突破引起了国际上的广泛兴趣，许多世界顶级实验室都争相投入到这场竞争中来，沿着这个思路寻找量子反常霍尔效应。 　　在磁性掺杂的拓扑绝缘体材料中实现“量子反常霍尔效应”，对材料生长和输运测量都提出了极高的要求：材料必须具有铁磁长程有序 铁磁交换作用必须足够强以引起能带反转，从而导致拓扑非平庸的带结构 同时体内的载流子浓度必须尽可能地低。最近，中科院物理所何珂、吕力、马旭村、王立莉、方忠、戴希等组成的团队和清华大学物理系薛其坤、张首晟、王亚愚、陈曦、贾金锋等组成的团队合作攻关，在这场国际竞争中显示了雄厚的实力。他们克服了薄膜生长、磁性掺杂、门电压控制、低温输运测量等多道难关，一步一步实现了对拓扑绝缘体的电子结构、长程铁磁序以及能带拓扑结构的精密调控，利用分子束外延方法生长出了高质量的Cr掺杂(Bi,Sb)2Te3拓扑绝缘体磁性薄膜，并在极低温输运测量装置上成功地观测到了“量子反常霍尔效应”。该结果于2013年3月14日在Science上在线发表，清华大学和中科院物理所为共同第一作者单位。 　　该成果的获得是我国科学家长期积累、协同创新、集体攻关的一个成功典范。前期，团队成员已在拓扑绝缘体研究中取得过一系列的进展，研究成果曾入选2010年中国科学十大进展和中国高校十大科技进展，团队成员还获得了2011年“求是杰出科学家奖”、“求是杰出科技成就集体奖”和“中国科学院杰出科技成就奖”，以及2012年“全球华人物理学会亚洲成就奖”、“陈嘉庚科学奖”等荣誉。该工作得到了中国科学院、科技部、国家自然科学基金委员会和教育部等部门的资助。(中科院物理研究所 作者：薛其坤等)

【科学背景】分数量子霍尔效应是一种在强磁场下发生的量子相变，其中电子在二维材料中以特殊的方式组织，表现出量子化的电导特性。此效应下的准粒子称为任何子，它们具有分数量子电荷，并在交换位置时显示出分数统计，这为研究量子物理的基本问题提供了独特的视角。阿贝尔任何子表现出简单的分数统计，而非阿贝尔任何子则具有更复杂的交换行为，这些特性可以通过量子干涉实验进行探测。然而，尽管已有大量研究探索了量子霍尔状态下的电子干涉，实际操作中仍存在一些问题。例如，传统的GaAs/AlGaAs基干涉仪在调节干涉状态和处理库伦相互作用方面存在局限，这限制了对分数量子霍尔态的深入研究。为了解决这些问题，研究者们将目光转向了具有更高调节能力的石墨烯基干涉仪。双层石墨烯的高迁移率和电气调节特性使得其在分数量子霍尔效应研究中表现出色。近期，以色列魏茨曼研究所Yuval Ronen教授团队在双层石墨烯平台上成功构建了Fabry-Pérot干涉仪（FPI），该装置能够在单一Landau能级内通过精确的电静态调节动态地切换干涉状态，从库伦主导状态到Aharonov-Bohm干涉状态。本研究解决了在分数量子霍尔态下量子干涉的具体实现问题。通过在双层石墨烯基FPI中进行实验，作者能够在填充因子ν=1/3的分数量子霍尔态下观察到纯净的Aharonov-Bohm干涉模式。当电荷密度和磁场变化时，作者不仅观察到常数填充条件下的干涉现象，还在常数密度条件下发现了相位跳跃。这些跳跃表现出准粒子在干涉回路中积累的相位与回路内电子数的关系，验证了e/3准粒子的分数统计特性。【科学亮点】（1）实验首次构建并测量了基于范德华力的双层石墨烯Fabry-Pérot干涉仪（FPI），在分数量子霍尔效应（FQHE）中实现了从库伦主导到Aharonov-Bohm（AB）干涉的动态调节。该装置利用高迁移率双层石墨烯导电层，通过精确的电静态调节，允许在单一Landau能级内实现这一调节。（2）实验通过调节磁场和电子密度，探测了填充因子ν=1/3的分数量子霍尔态下的AB干涉现象。在保持常数填充因子的情况下，作者观察到纯净的AB干涉模式，确认了准粒子电荷为e/3。（3）当实验从常数填充的条件转向常数密度的条件时，干涉模式中出现了相位跳跃的演变。这些相位跳跃对应于准粒子在干涉回路中添加或去除的离散事件。（4）作者还发现，干涉准粒子所积累的相位可以表示为2π〈N〉，其中〈N〉为回路内的电子数。这个观察验证了准粒子遵循分数统计的预期，并为研究阿贝尔任何子提供了新的平台。【科学图文】图1： 基于双层石墨烯的法布里-珀罗干涉仪Fabry–Pérot interferometer，FPI。图2：可调谐整数量子霍尔效应 integer quantum Hall effect，IQHE干涉态，从库仑作用主导Coulomb-dominated，CD到阿哈勒诺夫-玻姆Aharonov–Bohm，AB态。图3：在1/3分数填充处的AB干涉。图4：恒定填充和恒定密度之间可调性。【科学结论】本文的研究通过在高迁移率双层石墨烯的基础上构建并测量范德华力Fabry-Pérot干涉仪（FPI），作者成功地在一个Landau能级内动态调节了从库伦主导到Aharonov-Bohm（AB）干涉的状态。这一实验不仅验证了在填充因子ν=1/3下的Aharonov-Bohm干涉模式，还揭示了在常数填充条件下的纯净干涉图样和在常数密度条件下的相位跳跃现象。这些发现表明，干涉准粒子所积累的相位可以被理解为2π〈N〉，其中〈N〉为回路内电子数，这为理解准粒子的分数统计特性提供了新的视角。通过这种精确的调节能力和测量手段，作者为研究阿贝尔任何子和探索更复杂的非阿贝尔统计奠定了坚实的基础。双层石墨烯所展示的偶数分母分数量子霍尔态的潜力，预示着未来在这一领域的广泛应用前景，为进一步的研究和技术发展提供了有力的支持。参考文献：Kim, J., Dev, H., Kumar, R. et al. Aharonov–Bohm interference and statistical phase-jump evolution in fractional quantum Hall states in bilayer graphene. Nat. Nanotechnol. (2024). https://doi.org/10.1038/s41565-024-01751-w

【科学背景】分数量子霍尔效应是一种在强磁场下发生的量子相变，其中电子在二维材料中以特殊的方式组织，表现出量子化的电导特性。此效应下的准粒子称为任何子，它们具有分数量子电荷，并在交换位置时显示出分数统计，这为研究量子物理的基本问题提供了独特的视角。阿贝尔任何子表现出简单的分数统计，而非阿贝尔任何子则具有更复杂的交换行为，这些特性可以通过量子干涉实验进行探测。然而，尽管已有大量研究探索了量子霍尔状态下的电子干涉，实际操作中仍存在一些问题。例如，传统的GaAs/AlGaAs基干涉仪在调节干涉状态和处理库伦相互作用方面存在局限，这限制了对分数量子霍尔态的深入研究。为了解决这些问题，研究者们将目光转向了具有更高调节能力的石墨烯基干涉仪。双层石墨烯的高迁移率和电气调节特性使得其在分数量子霍尔效应研究中表现出色。近期，以色列魏茨曼研究所Yuval Ronen教授团队在双层石墨烯平台上成功构建了Fabry-Pérot干涉仪（FPI），该装置能够在单一Landau能级内通过精确的电静态调节动态地切换干涉状态，从库伦主导状态到Aharonov-Bohm干涉状态。本研究解决了在分数量子霍尔态下量子干涉的具体实现问题。通过在双层石墨烯基FPI中进行实验，作者能够在填充因子ν=1/3的分数量子霍尔态下观察到纯净的Aharonov-Bohm干涉模式。当电荷密度和磁场变化时，作者不仅观察到常数填充条件下的干涉现象，还在常数密度条件下发现了相位跳跃。这些跳跃表现出准粒子在干涉回路中积累的相位与回路内电子数的关系，验证了e/3准粒子的分数统计特性。【科学亮点】（1）实验首次构建并测量了基于范德华力的双层石墨烯Fabry-Pérot干涉仪（FPI），在分数量子霍尔效应（FQHE）中实现了从库伦主导到Aharonov-Bohm（AB）干涉的动态调节。该装置利用高迁移率双层石墨烯导电层，通过精确的电静态调节，允许在单一Landau能级内实现这一调节。（2）实验通过调节磁场和电子密度，探测了填充因子ν=1/3的分数量子霍尔态下的AB干涉现象。在保持常数填充因子的情况下，作者观察到纯净的AB干涉模式，确认了准粒子电荷为e/3。（3）当实验从常数填充的条件转向常数密度的条件时，干涉模式中出现了相位跳跃的演变。这些相位跳跃对应于准粒子在干涉回路中添加或去除的离散事件。（4）作者还发现，干涉准粒子所积累的相位可以表示为2π〈N〉，其中〈N〉为回路内的电子数。这个观察验证了准粒子遵循分数统计的预期，并为研究阿贝尔任何子提供了新的平台。【科学图文】图1： 基于双层石墨烯的法布里-珀罗干涉仪Fabry–Pérot interferometer，FPI。图2：可调谐整数量子霍尔效应 integer quantum Hall effect，IQHE干涉态，从库仑作用主导Coulomb-dominated，CD到阿哈勒诺夫-玻姆Aharonov–Bohm，AB态。图3：在1/3分数填充处的AB干涉。图4：恒定填充和恒定密度之间可调性。【科学结论】本文的研究通过在高迁移率双层石墨烯的基础上构建并测量范德华力Fabry-Pérot干涉仪（FPI），作者成功地在一个Landau能级内动态调节了从库伦主导到Aharonov-Bohm（AB）干涉的状态。这一实验不仅验证了在填充因子ν=1/3下的Aharonov-Bohm干涉模式，还揭示了在常数填充条件下的纯净干涉图样和在常数密度条件下的相位跳跃现象。这些发现表明，干涉准粒子所积累的相位可以被理解为2π〈N〉，其中〈N〉为回路内电子数，这为理解准粒子的分数统计特性提供了新的视角。通过这种精确的调节能力和测量手段，作者为研究阿贝尔任何子和探索更复杂的非阿贝尔统计奠定了坚实的基础。双层石墨烯所展示的偶数分母分数量子霍尔态的潜力，预示着未来在这一领域的广泛应用前景，为进一步的研究和技术发展提供了有力的支持。参考文献：Kim, J., Dev, H., Kumar, R. et al. Aharonov–Bohm interference and statistical phase-jump evolution in fractional quantum Hall states in bilayer graphene. Nat. Nanotechnol. (2024). https://doi.org/10.1038/s41565-024-01751-w

近日，Evident对其开发的专为工业环境打造的精密超声测厚仪72DL PLUS做出了重大升级。72DL PLUS测厚仪的PC接口应用程序引入了智能工具，用于控制和加快生产车间的精密厚度检测。通过智能监控正在进行的检查质量和进度，确保工作正确完成，从而获得更高的安全性。智能监控，省时省力√ 更快地开始工作：通过遵循自定义零件图上的标准化检测指南，检测人员可以更快、更轻松地完成工作。您知道您正在每个所需的厚度检测位置采集数据，因此充满信心。√ 节省时间和资源培训检查员：只需创建一次自定义零件图和设置，然后将它们推送到您的所有仪器上 所有检查员都遵循相同的流程来一致地评估零件的厚度。√ 通过数据分析提高产品质量：监控厚度趋势，发现质量问题并生成报告，以帮助保持一致的产品质量并改进流程。72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以高速提供精准的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算法和Evident迄今为止最高的最小可测厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料，包括多层漆料、塑料、金属和涂层，其多层测量软件可以同时显示最多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能，且均可提供内置数据记录功能，数据存储量高达2GB，同时还提供方便的机载文件管理功能。多层测量软件提供多达6层的多层厚度测量功能。多层测量软件提供多达6层的多层厚度测量功能。每层的测量设置，包括材料、声速、目标厚度范围和报警阈值，都可以通过配置工作流程和触摸屏控制轻松访问。Evident的超声测厚仪可准确测量多种类型材料厚度。我们的数字式测厚仪功能齐备，可提供高级测量性能。您可以了解Evident所提供的各种不同的测厚仪（从简单的手持式测厚仪到高级型号测厚仪），找到一款可以满足您应用需求的测厚仪。我们的所有超声波测厚仪超声测厚仪可以对大多数工程材料进行测量，包括塑料、金属、金属复合材料、橡胶及内部腐蚀的材料。Evident也是知名的霍尔效应测厚仪制造商，如果您要对塑料瓶等非铁性薄壁材料进行快速、准确的测量，霍尔效应测厚仪就是您理想的选择。

近日，中国科学院合肥物质科学研究院强磁场科学中心田明亮课题组利用磁输运方法，在本征反铁磁拓扑绝缘体MnBi2Te4中发现体态轨道磁矩产生的四重对称性的平面霍尔效应。相关研究成果发表在Nano Letters上 。　　当前，拓扑量子材料由于其独特的性能，在未来低功耗量子自旋器件中颇具应用价值，是相关领域的研究热点。在拓扑材料中，贝里曲率和轨道磁矩是两个基本的赝矢量，对材料物性产生重要影响。轨道磁矩在谷电子学和手性磁效应中具有重要作用，而相比贝里曲率研究，关于轨道磁矩相关新奇物性的研究较少。近年来，本征反铁磁拓扑绝缘体MnBi2Te4受到广泛关注。这个体系具有丰富的物性，如量子反常霍尔效应、拓扑轴子态等，并为探讨轨道磁矩和贝里曲率对量子输运现象的影响提供了良好的平台。　　科研人员利用微纳加工技术，制备出基于MnBi2Te4纳米片的Hall-bar器件，通过平面霍尔效应的测量，探究了贝里曲率和轨道磁矩对输运现象的影响。实验发现，在低温下弱磁场（B 10T），平面霍尔效应的周期从π转变成π/2，同时幅值由正变为负。为了阐明π/2周期的物理机制，研究人员进行理论计算。计算结果表明，π/2周期的平面霍尔效应来源于体态Dirac电子的拓扑轨道磁矩，且理论结果与实验结果完全吻合。进一步实验发现，随着温度升高，由于体态和表面态的竞争，平面霍尔效应发生非平庸演化。该研究揭示了轨道磁矩诱导的新颖电磁效应，也为磁性拓扑材料在低功耗自旋电子学中的应用提供了指引。　　研究工作得到国家自然科学基金、国家重点研发计划、强磁场安徽省实验室等的支持。　　论文链接

近期，QD中国样机实验室全新引进Lake Shore公司推出的M91快速霍尔测试仪，该快速霍尔测量系统可以与完全无液氦综合物性测量系统-PPMS® DynaCool&trade 无缝连接。全新的M91快速霍尔测量方案采用革新的一体式设计，相比传统的霍尔效应测量解决方案，显著提高了测量的灵敏度、测量速度以及使用便利性。M91将所有必要的测量信号源和锁相等信号处理功能集于一体，在测量低载流子迁移率样品时相比其他测量手段有显著优势。左）：完全无液氦综合物性测量系统-PPMS® DynaCool&trade ，右）：M91快速霍尔测试仪QD中国样机实验室M91快速霍尔测试仪集成于完全无液氦综合物性测量系统 M91快速霍尔测试仪能够检测样品电极接触状况并确保测量始终处于最佳样品条件下进行。尤其在测量低载流子迁移率材料时，M91可以更快、更准确地完成相关测量。得益于仪器特有的FastHall技术，消除了在测量过程中翻转磁场的必要性，测量速度可达传统方法的100倍，几秒钟内即可精确测量流动性极低的材料，使得该选件在PPMS上的测量效率大幅提升, 即便是在范德堡测量法(vdP)几何接线的测量过程中，也可以更快地分析低载流子迁移率材料样品。M91快速霍尔测试仪可以直观判定样品接触电极质量FastHall可以覆盖更低的载流子迁移率测量范围 产品特点：✔ 采用FastHall技术，在测量过程中无需进行磁场翻转✔ 全自动检查样品引线接触质量，提供完整的霍尔分析✔ 计算范德堡接线样品以及Hall Bar样品相关参数✔ FastHall测量技术在采用范德堡接线时可将载流子迁移率测量极限缩小到0.001 cm2/(Vs)✔ 可在显示屏直观显示检测过程，并具有触摸操作功能实时执行相关测量指令标准电阻套件——M91可以通过DynaCool杜瓦LEMO接口连接进行测量PPMS与M91的集成示例 标准测量模式下 PPMS DynaCool 采用自带样品托进行测量PPMS样品托电极接线方案该联用方案支持范德堡vdPauw 4引线连接以及Hall Bar 6引线连接模式，样品引线通过样品托底部针脚与PPMS样品腔连接并通过杜瓦侧面Lemo接口连接到M91测量单元上。该方案可以快速适配PPMS DynaCool系统并具有标准电阻测量范围（最大10 MΩ），使用常见的PPMS电学测量样品托即可完成相关测试。左）：M91通过多功能杆顶部的接口直接连接；右）：M91高阻模式PPMS多功能样品杆左) 高精度电学输运样品杆样品台 右) 样品杆顶部接口左）：样品板；右）：样品板插座此外，针对有高阻小信号测量需求的客户，QD中国样机实验室也匹配了LakeShore提供的高阻测量方案。该方案通过专用的多功能样品杆将样品板电极引线通过同轴电缆从样品腔顶部引出，从而获得更好的信噪比和更大的电阻测量范围（最大200 GΩ）。M91组件自带的MeasureLINK软件与PPMS MultiVu深度集成，可以与MultiVu工作在同一台主机上亦或是同一局域网下的任意一台主机上对系统进行控制。2K温度下使用PPMS 0-9T扫场的砷化镓二维电子气薄膜，采用范德堡测量法横向及纵向电输运测量结果准确反应了材料的整数量子霍尔效应 传统的直流场霍尔效应测量适用于具有较高迁移率的简单材料，但伴随着载流子迁移率的降低，测量难度增加，精度降低。在光伏、热电和有机物等前景广阔的新型半导体材料中，测量难度就增加了不少。 交流锁相技术结合先进锁相放大器和更长测量窗口，可以提取更小的霍尔电压信号，目前常用于探索低迁移率材料。然而，延长测量间隔会增加热漂移效应带来的误差，并且需要更长的时间来获得结果，有时甚至需要数小时。FastHall 技术有效解决了这些问题，甚至可以在几秒钟内精确测量极低迁移率的材料，极大的拓宽了材料研究测试的范围。为了便于广大客户全面了解和亲身体验M91快速霍尔测试仪，QD中国样机实验室引进了该设备样机，现已安装于公司样机实验室并调试完毕。即日起，我们欢迎对该设备感兴趣的老师和同学来访，我们在QD中国样机实验室恭候大家的到来。相关产品1、M91快速霍尔测试仪https://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C554347.htm2、完全无液氦综合物性测量系统-DynaCoolhttps://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C18553.htm

涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器，采用先进的光热红外法（ATO）对涂层进行非接触测量，实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键，不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量，而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺，因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术，而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度，适合各种涂料类型和颜色（包括白色）。与电磁感应测厚设备相比，涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是，它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势：①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单，方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量，降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连，数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能，帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料，邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理，通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统，无需进行整合，操作方便，校准简单，无需严格控制测试距离和角度，无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量，能有效节省材料和避免涂层缺陷问题，十分适用于生产车间现场，且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。

霍尔德上市新品啦！2023年12月28日上市了一款密封性测试仪【真空密封性测试仪←点击此处可直接转到产品界面，咨询更方便】密封试验是检测产品泄漏状况的有效检测。在产品包装过程中，由于各种难以预测的因素，封合环节可能会出现疏漏，如漏封、压穿，甚至因材料本身存在的微小瑕疵，如裂缝、微孔，这些都可能形成内外互通的小孔。这样的情况，无疑会对包装内的产品造成潜在威胁，特别是对于食品、医药、日化等对密封性要求极高的产品，其质量的保障更依赖于密封性的完好。真空密封性测试仪专业适用于产品的密封试验，通过试验可以有效地比较和评价软包装件的密封工艺及密封性能，是食品、塑料软包装、湿巾、制药、日化等行业理想的检测仪器。 产品特征 1.具备保压试验模式与梯度试验模式，满足不同材料测试需求； 2.系统采用微电脑控制，抽压、保压、补压、计时、反吹、打印全自动化操作； 3.设备搭配7寸彩色触摸屏，实时显示压力波动曲线，自带微型打印机，支持数据预置、断电记忆，确保测试数据的准确性； 4.试验结果自动统计打印及存储； 5.具备三级权限管理功能，支持历史数据快速查看； 6.采用优质气动元件，性能经久耐用、稳定可靠技术参数 真 空 度 0～-90kPa 分辨率0.01KPA 保压时间0-999999S 精度 0.5级打印机热敏打印机（标配） 针式打印机（选配）真空室尺寸 Φ270mm×210 mm (H) （标配） Φ360mm×585 mm (H) （另购） Φ460mm×330 mm (H) （另购） 气源压力 0.7MPa （气源用户自备）或厂家配备空气压缩机（选配）气源接口 Φ6mm 聚氨酯管 电源 220 V/50Hz 外型尺寸 290mm(L)×380mm(B)×195mm(H) 主机净重 15kg

口服液瓶壁厚测厚仪的应用与原理在制药包装行业中，口服液瓶作为药品的主要包装形式之一，其质量直接关系到药品的安全性和有效性。口服液瓶不仅需要具备良好的密封性能，以保持药品的稳定性，还需要有适当的壁厚，以确保在运输和使用过程中的耐用性和安全性。口服液瓶的应用口服液瓶广泛应用于液体药品的包装，包括但不限于口服溶液、糖浆、注射液等。这些瓶子的设计和制造必须符合严格的行业标准和法规要求，以保证药品在储存和使用过程中的质量和安全。壁厚测试的重要性壁厚是口服液瓶质量控制的关键参数之一。过薄的瓶壁可能导致瓶子在运输或使用过程中破裂，影响药品的完整性和安全性。而壁厚不均则可能影响药品的储存稳定性，甚至在极端情况下，可能导致药品泄漏或污染。口服液瓶壁厚测厚仪的作用为了确保口服液瓶的壁厚符合标准，需要使用专业的测厚仪器进行精确测量。口服液瓶壁厚测厚仪是一种专门用于测量口服液瓶壁厚的高精度设备，它能够快速、准确地检测出瓶子的壁厚，帮助制药企业及时发现和解决壁厚问题。容栅传感技术的应用口服液瓶壁厚测厚仪采用先进的容栅传感技术，这是一种机械接触式测量方法，通过测量表头与瓶壁之间的距离来确定壁厚。这种方法提高了测量的准确性和可靠性。测量原理口服液瓶壁厚测厚仪仪的工作原理基于容栅传感器的响应。当测量表头接触到瓶子时，传感器会采集相应的数据。这些数据随后被传输到系统中，通过计算得出瓶壁或瓶底的厚度值。这种测量方式不仅快速，而且可以提供高精度的测量结果。结论口服液瓶壁厚测厚仪是制药包装行业不可或缺的工具。它通过采用容栅传感技术，提供了一种高效、准确的测量方法，帮助企业确保口服液瓶的质量和安全性，从而保障药品的质量和患者用药的安全。本文简要介绍了口服液瓶在制药包装行业中的应用，以及壁厚测试的重要性和测厚仪的作用。通过使用这种高精度的仪器，制药企业可以更好地控制产品质量，确保药品的安全性和有效性。

一款智能高效的实验室平行生物反应器霍尔斯（HOLVES）于今年9月初推出的最新系列平行生物反应器，本周正式进入定制阶段，作为一家创新的生命科学公司，研发和生产出多款实验室科研设备，霍尔斯（HOLVES）团队表示此次新品，将为您的科研工作带来跨越式的进步。用于微生物发酵的平行高通量研究HPB Mini系列产品是一款科研型实验室平行生物反应器，是实验室实现高通量筛选的一款科研利器。非常适合条件摸索和工艺优化，提高了生物培养实验的准备效率，配置更灵活、操作更容易，运行成本低。可以广泛运用于实验室细菌发酵、细胞培养和酶生化反应。产品优势：模块化BBM搭建设计：得益于新总线技术层面的应用，产品可实现积木模块化BBM搭建设计，主控制器可控制搭建的所有BBM模块，无需更换控制器和硬件。目前可以实现BBM模块：补料泵模块、自动进气模块、尾气模块等专业模块搭建，系统可根据需求定制独家方案。 自由扩充反应堆数量： 以2组为一个单位，最多可以扩充至64组，搭配霍尔斯（HOLVES）先进的平行控制软件，可多平台同时监控数据、操控设备。 智能自动化管理： 设备融合霍尔斯（HOLVES）多项独家专利技术，实际应用在功能管理系统中，包括H-Mix®搅拌系统、Feed-Sup®补料系统、Smart-SC®智能顺控、Meta-Tri®审计追踪等在内，让设备真正实现智能自动化管理。 值得信赖的品质： 秉承霍尔斯（HOLVES）一贯的验收把关，精选国内外知名品牌部件，只为用户打造合适的系列方案。如果您对HPB Mini平行生物反应器感兴趣，可以点击此处查看咨询，也可直接联系我们！

在塑料薄膜的生产与质量控制中，准确测量薄膜的厚度是至关重要的环节。机械接触式塑料薄膜测厚仪以其高精度、高可靠性和自动化程度，成为了行业内的首选工具。本文将深入探讨机械接触式塑料薄膜测厚仪如何实现多点测试，从原理、操作到应用进行全面解析。一、机械接触式测厚仪的基本原理机械接触式塑料薄膜测厚仪主要由测量传感器和测量电路组成，其工作原理基于机械接触式测量技术。测量过程中，传感器与薄膜表面直接接触，通过感受薄膜厚度的变化并转化为电信号输出，再由测量电路进行处理和分析，最终得出精确的薄膜厚度值。这种测量方式具有高精度和稳定性，能够有效避免因非接触式测量可能带来的误差。二、多点测试的必要性在塑料薄膜的生产过程中，由于原料、工艺、环境等多种因素的影响，薄膜的厚度可能会存在不均匀性。为了确保薄膜的质量，需要对不同位置进行多点测试，以获取全面的厚度数据。多点测试不仅有助于提高测量的准确性，还能及时发现生产过程中的问题，为工艺调整提供数据支持。三、实现多点测试的具体步骤1. 设备准备与检查首先，确保机械接触式塑料薄膜测厚仪电量充足或已正确连接电源，检查外观是否完好，显示屏是否清晰可见。同时，根据被测材料的类型和特性，选择合适的测量探头。对于塑料薄膜，通常选用接触面积为50mm² 的探头，以确保测量的准确性。2. 样品准备与摆放被测样品表面应平整、无污垢、油脂、氧化层或其他可能影响测量精度的杂质，确保表面干燥且无残留物。将截取好的薄膜样品平整地铺放在测量台面上，保持试样整洁、干净、平整无褶皱。为了进行多点测试，可以通过人为挪动试样，选择不同位置进行测试。3. 设定测试参数机械接触式塑料薄膜测厚仪通常具有自动化程度高的特点，用户可以根据需要设定进样步距、测量点数和进样速度等参数。在多点测试中，可以根据样品的尺寸和测试要求，合理设定这些参数，以确保测试的全面性和准确性。4. 进行多点测试启动测厚仪后，测量头会在机械装置的驱动下，按照预设的进样步距和速度，自动或手动地移动到薄膜样品的不同位置进行测试。每次测量时，传感器都会与薄膜表面紧密接触，瞬间捕捉并记录下该点的厚度数据。同时，测厚仪内部的测量电路会实时处理这些电信号，转换成直观的厚度值显示在屏幕上。5. 数据记录与分析完成多点测试后，测厚仪通常会提供数据记录功能，用户可以将所有测试点的厚度数据保存下来，以便后续的数据分析。通过对比不同位置的厚度值，可以评估薄膜的均匀性，并识别出潜在的厚度偏差区域。此外，一些高级测厚仪还具备数据分析软件，能够自动生成厚度分布图、统计报告等，帮助用户更直观地了解薄膜的质量状况。6. 结果反馈与工艺调整基于多点测试的结果，生产人员可以及时发现薄膜生产过程中的问题，如原料配比不当、挤出机温度控制不准确等。针对这些问题，可以迅速调整生产工艺参数，如改变挤出速度、调整模具间隙等，以改善薄膜的厚度均匀性。同时，这些测试数据也为后续的产品质量控制和工艺优化提供了宝贵的参考依据。综上所述，机械接触式塑料薄膜测厚仪通过其高精度、高可靠性和自动化程度，实现了对塑料薄膜的多点测试。这一技术的应用，不仅提高了薄膜厚度测量的准确性和效率，还促进了生产工艺的改进和产品质量的提升。在未来的发展中，随着技术的不断进步和创新，机械接触式塑料薄膜测厚仪将在更多领域发挥重要作用，为塑料薄膜行业的发展贡献更多力量。

近日，GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMS Go是一款高端测厚仪，既简单易用，又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能。DMS Go 结构稳健、防水防尘、重量轻，可以被广泛用于厚度检测。并且，由于具有内置温度补偿算法，可以在600°F的高温下仍然保持测量稳定性。十分适用于石油、天然气和电力行业的腐蚀检测。 　　正如GE的产品经理 Francois de Fromont 所说，“ DMS Go代表了测厚仪器方面的重大进步，因为它不仅具备了我们的DMS2测厚仪所有的高级性能，还具有更强大的数据管理功能，新颖的人性化工程学设计，高性能、操作简单的优势。采用零交点波形测试，以确保较高的测量稳定性和可靠性，其自动获取控制功能确保了极佳的检测概率。这种新型仪器和我们便携式探伤仪USM Go 可以使用相同的操作平台，该平台已经被广泛应用，并得到广大用户认可。事实上,这种设计原理的一大好处是通过一次简单的软件升级，使测厚仪作为便携式探伤仪使用。” 　　DMS Go的数据记录和数据管理功能通常是由普遍使用的UltraMATE文档编制程序实现的，然而本仪器也可以使用GE软件开发工具包与第三方软件程序相对接。强大的机载数据记录器具有15万的读数容量，可以将A扫描、B扫描和微栅格(MicroGRID)作为厚度读数的附件进行存储。它还支持6种不同的文件格式，便于与用户数据管理和质量控制系统集成。通过高容量的可移动SD卡进行数据传送，使用USB端口与PC连接。通过可选的应用软件，包括TopCOAT技术和A-V测量模式，可以同时测量涂层和金属厚度，无需校准试块即可使用未知声速在部件上测量厚度。 　　新型测厚仪的软件可升级性，使得它还能用作便携式探伤仪，这给用户带来很重要的便利。现在无损检测人员只需携带一个仪器，用户只需购买一台仪器，就能进行准确、可靠的厚度测量和缺陷检测。这种多功能性也同样适用于USM Go探伤仪，现有用户可以很容易升级他们的设备，将高质量的厚度测量能力加到现有设备上。用户可以在启动仪器的时候选择仪器升级所需的操作方式，这种设计原理另一个优势就是可以显著减少对操作者培训次数。

霍尔德上市新品啦！2024年01月19日上市了一款荧光光谱测金仪【荧光光谱测金仪←点击此处可直接转到产品界面，咨询更方便】黄金质量的鉴别主要分为定性检验和定量检验。定性检验，是透过黄金的质地、硬度与质量的细微差异，用我们的肉眼去判断纯度。而定量检验，则通过精确测量黄金的物理特性，将纯度转化为数字，使我们对黄金纯度的理解更加深入、更加明确。光谱测金仪配备“一键测试”智能软件，能一键智能检测20种金属：金，银，铂，钯，铼，铱，钨，镉，铜，镍，锌，铑，钌，铁，钴，锇，铅，锡，铟，锰，是目前市场上最便宜的能检测“铼”元素的光谱仪，能同时显示贵金属百分比纯度、黄金K值。除了检测常见金银铂钯等贵金属外，还能识别“黄金掺铼”；仪器稳定性好、精度高，能区分99.99金和99.90金，适用于黄金回购、珠宝零售、典当质检、大专院校珠宝专业、珠宝教育培训等行业。技术参数分析范围：0.01%~99.99%； 测量精度：0.05%； 高压电源：0~50KV； 光管管流：0uA~1000uA； 摄像头：高清摄像头； 探测器：增强型正比计数管探测器； 多道分析器：多通道模拟； 样品腔尺寸：310*270*90(mm)； 测试时间：5~60秒； 测量元素：可检测20种金属：金，银，铂，钯，铼，铱，钨，镉，铜，镍，锌，铑，钌，铁，钴，锇，铅，锡，铟，锰； 分析软件：定性定量分析软件； 环境温度：5℃~30℃； 相对湿度：15%~85%； 电源要求：AC220V士5V,附近无大功率电磁和振动干扰源； 外部尺寸：450*400*390（mm）； 额定功率：120W； 重量：36Kg。

72DL PLUS™ 超声波测厚仪，一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用，比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉，本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚：如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去，大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右，最小测量厚度仅为0.005英寸（0.127 mm）左右。现在，72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz，您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量，最小测量厚度为0.001英寸（0.025 mm）或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速（高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新）足以优化您的测量工作流程，无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面，使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因：测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪，基于应用，可以测量单层材料低至约0.0005英寸（0.0127 mm）。例如，您可以测量低至0.008英寸（0.20 mm）单层钢片和约0.0005英寸（0.0127 mm）单层塑料膜。要注意的是，最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项，72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料，包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力，比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用（如涡轮叶片测量）非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器，极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小，但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏，具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放，以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程，无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单，菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者，您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理，而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具，便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接，仪器可以支持连接到‘云’端，实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ （OSC），助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样，该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性（MIL-STD-810G），做好意外跌落或冲击的防护，并可抵抗灰尘和湿气（设计符合IP65）。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量，工作温度范围广（–10°C至50°C或14°F至122°F）。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率（0.2–30 MHz）和高频（20–125 MHz）探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用，我们扩大了高频探头的产品线。M2102（75 MHz）和M2104（125 MHz）是耐用的接触式探头，可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案，包括改进的给水耦合装置，均在开发中，以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右：B126给水耦合装置和M2104探头

10月28日，2005年诺贝尔物理学奖获得者约翰霍尔教授从华东师范大学校长俞立中手中接过了名誉教授的证书。 　　当天，约翰霍尔以“光学频率梳”为题，与华东师大师生分享了他有关科学需求、理念重塑、创新和机缘的故事，以及诸多富有价值、出人意料的实际应用。 　　“霍尔教授的名字如雷贯耳，今天能够亲眼目睹这位诺贝尔得主和专业大师的风采，我觉得非常幸运。”物理系2008级博士方易说，“而且更幸运的是，我们还近距离地与他进行了交流，例如我们在实验中遇到的瓶颈等，这种经历实在太让人难忘了。” 　　武愕副教授是华东师大精密光谱科学与技术国家重点实验室的一名青年教师，她去年在德国进行学术交流时，曾与霍尔教授有过近距离的接触。“他是我们这一领域领头羊式的人物。”武愕说，“这次他能够来到学校并受聘为名誉教授，无论对学校还是对我们实验室所有成员来说，都是一次学习交流的宝贵机会。我们与他交流实验室目前在做的项目，他还给我们提出了许多好的建议和想法，受益匪浅。” 　　讲座结束后，霍尔教授被同学们团团围住。同学们就如何开展交叉学科研究、如何有效进行学术研究、如何将个人兴趣与研究相结合以及霍尔教授获诺贝尔奖经过等问题，与霍尔教授进行了深入的交流。 　　约翰霍尔教授在精密光谱、光速测量方面的开创性研究成果以及“光学频率梳”的技术发明实现了简单直接的光学频率测量，并已在科学、气象学和诊断性药物领域得到了广泛应用，获得了2005年诺贝尔物理学奖。

这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化，其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度，避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用，并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理，测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯，测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试，Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制，可用于金属，塑料，橡胶，木材，碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外，也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计，易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量（不含电池）1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点：Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器，解决了传统涂层喷涂厚度测试中，需要接触测试（会破坏涂层表面）以及无法测量复杂表面的工件（如拐角、边角、曲面等），无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理，测量时无需与涂层表面接触，不受基材材质的影响，且不受涂层的颜色影响，可实现即时测量，并得出读数，即可实现涂层喷涂厚度的即时检测，修正喷涂厚度不良的问题，缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。

为切实加强水质监测能力，提升公司职工的专业素质，进一步做好水质监测及预警工作，江西铜业技术研究院有限公司购置了霍尔德电子生产的台式水质检测仪器和智能消解仪，并邀请霍尔德电子技术人员为化验员开展了为期三天的水质检测业务培训，为进一步提高水质检测工作质量，增强水质监测中心化验员水质检测业务能力打下了基础。培训仪器培训内容1.仪器设备管理仪器的分析原理和工作原理、仪器组成部分和主要功能、仪器操作规程&校准规程、常见故障排查、仪器维护保养、常用备品备件&耗材清单等。2.仪器设备期间核查 仪器设备的期间核查、期间核查的实施步骤、期间核查的常用方法、期间核查的常用方法、期间核查的结果处理、实施期间核查注意要点等。培训会上，霍尔德电子技术人员先对设备的调试、使用、保养等方面进行了讲解教学，然后一对一指导参会人员操作使用水质检测设备，确保参训人员能够正确、熟练地操作仪器，保证检测结果的有效性和准确性。通过本次培训，使培训人员基本掌握了水质检测设备的操作使用、水质检测流程和有关水质检测工作要求，达到预期效果，取得积极成效。

产品简介：球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法，是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置，用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量，也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后，在镀层样品上形成一球坑，通过正确的测量分析，可快速得出镀层的准确厚度。主要特点：球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外，配合POD销盘磨损试验机，可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μm）的厚度。技术参数：技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知，如有疑问请联系我们创新点：采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μ m）的厚度. 欧屹球坑测厚仪

扫描霍尔探针显微镜项目(项目编号：JDCG2016-212) 组织评标工作已经结束，现将评标结果公示如下：　　一、项目信息　　项目编号：JDCG2016-212　　项目名称：扫描霍尔探针显微镜　　项目联系人：王晓平　　联系方式：0431-85095975　　二、采购人信息　　采购人名称：吉林大学　　采购人地址：吉林省长春市人民大街5988号即吉林大学东区继续教育学院楼517室　　采购人联系方式：王晓平 0431-85095975　　三、项目用途、简要技术要求及合同履行日期：　　见招标文件　　四、中标信息　　招标公告日期：2016年06月08日　　中标日期：2016年06月30日　　总中标金额：159.401 万元(人民币)　　中标供应商名称、联系地址及中标金额：　　QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司　　159.401万元　　评标委员会成员名单：　　王玲、王智宏、李敏、马鸿佳、徐娓　　中标标的名称、规格型号、数量、单价、服务要求：　　扫描霍尔探针显微镜　　五、其它补充事宜　　无

霍尔德上市新品啦！2024年02月21日上市了一款双通道原子荧光光度计【双通道原子荧光光度计←点击此处可直接转到产品界面，咨询更方便】双通道原子荧光光度计是一种高灵敏度、低检出限的痕量元素分析仪器。它利用原子荧光谱线作为检测手段，通过测量特定元素在激发光源照射下产生的荧光强度，实现对痕量元素的定量分析。双通道原子荧光光度计是新一代全自动原子荧光光度计。采用注射泵设计，具有高可靠性、高度智能化、高度自动化、免维护的人机交互设计，解决了传统原子荧光的痛点问题。本仪器用途广泛，应用领域包括：食品卫生、城市供排水、环保、农业、冶金、化妆品、医药、地质、商检等痕量及超痕量元素的检测。如：环境样品检测、化妆品中有害元素检验、食品卫生检验、地质、冶金样品检验、城市给排水检测、海洋环境及水产品检测、天然饮用矿泉水检测、教育与科研、临床医学样品检验、中成药品检验、农业环保及农产品检测等。 双通道原子荧光光度计优势特点： 1、测量方式：双通道两灯位，单元素测试、双元素同时测试可选，双元素同时测定，提高仪器分析速度。 2、检测项目：可测定样品中As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au等十几种元素的痕量分析； 3、检测光源：采用集束式脉冲供电方式（方波减少干扰），特制高强度空芯阴极灯，仪器可以自动识别能量自动配比并可调； 4、光学系统：短焦距透镜聚光，无色散全密闭避光调光系统； 5、进样系统：全自动内置式双顺序注射泵进样系统，能够进行自动稀释，在线精确调节还原剂进样量； 6、原子化器：低温自动点燃氩-氢火焰，屏蔽式石英原子化器； 7、保护装置：开机自检，气路自动控制、自动保护、自动报警系统； 8、除蒸气装置：具备化学气相发生气液分离装置，自动去除水蒸气装置；9、捕集阱装置：具备氢化物发生原子荧光检测尾气中有害元素捕集阱装置，有效防止对环境造成的二次污染； 10、专用操作软件：适用于XP/win7/win8/win10的中文窗口操作软件 11、预留升级接口：与液相色谱等装置联用可做As、Se、Sb、Hg等元素形态分析及价态分析； 12、自动标准曲线：自动单点配标准曲线，曲线的线性系数0.999，在线更改进样量； 13、流量精准控制：模块化质量流量计设计，流量通过计算机控制，流量准确，气路安全； 14、采用进口核心部件：日本原装进口光电倍增管；德国费斯托进口的气路阀件系统；法国圣戈班进口的泵管；美国进口的蠕动泵。 15、可选配160位极坐标式自动进样器，实现全自动实验分析，提高检测效率。全自动原子荧光光度计技术参数： 型号 HD-AFS01 HD-AFS02 测量元素 As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au等十几种 测量通道 双通道 进样系统 间歇泵 （结构简单，维护方便，成本低，准确性低于注射泵） 注射泵 （精度比间歇泵高一个数量级，测试精度更高，更稳定） 检出限 AS、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn：＜0.01μg/L Hg、Cd＜0.001μg/L Ge＜0.05μg/L Zn＜1.0μg/L Au＜3.0μg/L 测量精度 ≤0.8% ≤0.2% 线性范围 大于三个数量级 自动进样器 160位极坐标式自动进样器（选配）

宝钢硅钢生产线在线测厚仪最终花落韵鼎。经过近1年的实验，论证，最终韵鼎公司总代理的日本Kurabo公在线红外测厚仪赢得了客户的信任和认可。RX400对于硅钢膜厚的测定是革命性的新产品，解决了以前产品射线对健康的影响，解决了水分的影响，解决了基材元素对膜层重要元素含量的影响。。韵鼎公司研发及技术部门正在积极工作，应对即将到来的服务。这也是韵鼎公司的新起点，新开始，必将引领中国硅钢行业膜层厚度检测的技术突破和创新。韵鼎公司市场部2011-7-16

中国，上海 （2011年4月25日） －全球科学服务领域的领导者赛默飞世尔科技公司于3月底在上海DEMO CENTRE圆满举办了Thermo Scientific RM190测厚仪用户会，旨在为使用该型设备的WEB用户免费提供技术讲解、使用维护指导和升级方案定制。 赛默飞世尔科技在全球范围内提供连续金属、 Web 生产和复合生产线上所需的在线厚度测量及控制的设备公司。从1948年全球第一套贝它测厚仪---Tracerlab开始，我们以近六十年的测量经验、不断革新的设计和最先进的技术，提供给用户最有效的检测技术和设备，帮助我们的用户降低生产成本、提高产品质量、增大收益率、生产世界一流的产品。无论是全球第一套贝它传感器，还是全球第一套自动横向控制系统(APC)，Thermo Fisher 始终领导着厚度测控技术的发展，专心致力于提高用户生产线的收益。Thermo Fisher Scientific是全球最大的测厚仪公司。 本次交流培训会为WEB用户提供了一个交流平台，包括用户与赛默飞世尔科技之间、用户与用户之间交流。对于常见问题、疑点难点赛默飞世尔科技都一一作出了解答，分享了维护设备的经验；对于设备相关的科技知识，赛默飞世尔科技给出了深入浅出的讲解；同时还向用户介绍了产品新技术、新应用，帮助用户评估或定制改进方案。 Thermo Scientific是服务科学世界领先的赛默飞世尔公司旗下品牌。 RM190用户会图片 关于赛默飞世尔科技 赛默飞世尔科技（纽约证交所代码： TMO）是科学服务领域的世界领导者。我们致力于帮助我们的客户使世界更健康、更清洁、更安全。公司年销售额接近 110 亿美元，拥有员工约37000人。主要客户类型包括：医药和生物技术公司、医院和临床诊断实验室、大学、科研院所和政府机构，以及环境与工业过程控制行业。借助于Thermo Scientific 和 Fisher Scientific 两个首要品牌，我们将持续技术创新与最便捷的采购方案相结合，为我们的客户、股东和员工创造价值。我们的产品和服务有助于加速科学探索的步伐，帮助客户解决在分析领域所遇到的各种挑战，无论是复杂的研究项目还是常规检测或工业现场应用。 欲了解更多信息，请浏览公司网站：www.thermofisher.com，或中文网站：www.thermofisher.cn。

p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(31, 73, 125) " 就其在最独特或最具创新性的领导力培养计划领域达到的卓越成就而获奖 /span /p p 　　2018 年2月6日，北京——安捷伦科技公司(纽约证交所： A)与模拟式领导力培养计划的领先供应商 Insight Experience 在今日共同宣布，他们获得了备受瞩目的布兰登· 霍尔集团最独特或最具创新性领导力发展计划类的卓越奖铜奖。 /p p 　　安捷伦与 Insight Experience 联合开发了新兴领导者计划 (ELP)，旨在加快获选的安捷伦员工就任安捷伦高级领导职位的准备工作。 Insight Experience 采用独特的业务模拟工具快速启动了这项为期 8 个月的计划，计划中着重培养战略思维与团队建设技能。 在整个计划中，参与者们要参与一些战略业务项目，并将学到的技能在项目中付诸实践。 计划中包括评估、培训、社区活动，需要参与者的协作技能和主管部门的积极参与，可以使参与者和管理者拥有一段意义非凡的计划经历。 /p p 　　安捷伦全球人力资源副总裁 Erica Wright 谈道：“安捷伦一直以来都很注重员工的发展， 我们为新兴领导者计划的实行感到自豪，也很荣幸这项计划能得到布兰登· 霍尔集团的青睐。 ELP 是一项真正独特的计划，能够为公司的新一代领导者提供前所未有的培训机会。” /p p 　　布兰登· 霍尔集团首席运营官兼奖项负责人 Rachel Cooke 表示：“卓越奖的获得象征着人力资源管理实践对业务或组织机构具有积极的影响力， 许多组织机构都拥有周密的人力资源管理 (HCM) 方案，但只有 HCM 实践真正使业务受益的组织机构才满足卓越奖的标准。 这就是卓越奖计划代表的意义所在，也是布兰登霍尔集团传播的理念所在。” /p p 　　布兰登?霍尔集团是一家人力资源管理 (HCM) 研究与咨询服务公司，专门提供学习与发展、人才管理、领导力培养、人才招聘和员工管理等关键绩效领域的见解。 /p p 　　集团设立的奖项由独立的资深高级业内专家、布兰登· 霍尔集团分析师和执行主管构成的评审小组进行评选，依据的标准包括需求切合度、方案设计、功能性、创新性和可测总收益。 布兰登?霍尔集团将于 2018 年 1 月 31 日至 2 月 2 日在美国佛罗里达州棕榈滩花园的 PGA 国家度假村举办 HCM 卓越奖颁奖会，会上将为获奖者颁发奖项。 /p p 　　关于安捷伦科技公司 /p p 　　安捷伦科技公司(纽约证交所： A)是生命科学、诊断和应用化学市场领域的全球领导者，拥有 50多年的敏锐洞察与创新，我们的仪器、软件、服务、解决方案和专家能够为客户最具挑战性的难题提供更可靠的答案。在2017财年，安捷伦的营业收入为44.7亿美元，全球员工数为13500人。 /p p 　　关于 Insight Experience /p p 　　Insight Experience 成立于 2001 年，旨在打造最前沿的领导力培训与模拟式学习体验模式。 公司的专家团队与其他公司开展密切合作，共同制定涵盖了商业洞察力、战略执行力、均衡领导力和新领导者培养等领域最新商业趋势的一体化方案。 Insight Experience 位于美国马萨诸塞州康科德市。 /p

为了提升东方德菲工程师对AIM Systems新品CoatPro全自动涂层测厚仪的整体技术水平，2020年6月19日下午，德国AIM Systems公司通过腾讯会议对东方德菲的工程师们进行了为期半天的培训会议。此次会议由德国AIM System公司CEO Stefan B?ttger先生主持，培训内容主要涉及CoatPro涂层测厚仪的工作原理、主要技术特色、主要应用领域以及设备的校正和样品的准备等等。培训过程中，Stefan B?ttger先生精心准备的培训内容，细心专业的培训讲解，使得东方德菲的工程师们对CoatPro涂层测厚仪有了更进一步的了解。工程师们带着对产品的极大兴趣与热情，与培训人员热烈讨论产品的性能、优势、应用范围，希望在有限的时间内了解到更多关于CoatPro涂层测厚仪的产品信息，以便可以更好地推进未来的工作。通过这次培训，相信所有的参会人员一定收获满满，在以后的销售和技术工作中，可以更好地为客户提供更专业的销售和技术服务。

2023年12月，日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和用于增强FT200系列智能镀层分析功能的最新版FT Connect软件。日立分析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司，主要从事分析和测量仪器的制造与销售。通过推出 FT210 新型XRF镀层测厚仪，日立分析仪器扩大了其镀层和材料分析仪器产品系列。FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器，并集成先进且易于使用的功能，旨在增强大批量测试需求。此外，推出的 FT210 还包括适用于所有 FT200 系列型号的 FT Connect 软件更新版本，具有用于报告、创建校准曲线和数据处理的增强可用性功能。新版本 FT Connect 扩展了 FT230 的 RoHS 筛选功能。FT Connect V1.2软件与新仪器和现有仪器兼容。新品亮点每日为客户团队节省45分钟*FT210 与 FT230 非常相似，具备通过减少设置测量和处理数据所需的时间来提高生产率的功能。为加快分析设置，FT200 系列配备新型超大的样品视图、广视角相机、自动对焦和自动接近功能，以及名为“Find My Part™ （查找我的样品）”的智能识别功能，该功能可自动识别待测的特定测点并选择正确的分析方法。FT230扩展了RoHS功能得益于新版本 FT Connect 软件的更新， FT230 现在可用于检查更多材料是否符合最新的有害物质指令。FT Connect 中的界面内置 RoHS 筛选功能，从而确保简单、无缝地进行分析。日立分析仪器镀层分析产品经理 Matt Kreiner 表示：“FT210 使我们的客户能够为自己的镀层应用领域选择理想的探测器。由于引入新的软件功能，我们不断对操作员与 XRF 镀层分析仪的交互方式进行创新，通过简化设置和减少出错的可能性来增加测试量。通过使用 FT210 或 FT230，XRF 所有者可帮助操作员每天节省长达45分钟的时间，以专注于增值任务或增加测试量。”从简单的电镀层到针对微小特定测试点的复杂应用领域，日立分析仪器所拥有的各种分析仪（包括 FT210）旨在帮助用户在整个生产过程（包括进货检验、过程控制、最终质量控制）中获得置信度高的镀层零件测量结果。*使用“Find My Part™ （查找我的样品）”的5点测试程序的设置时间从73秒减少到19秒™，这样每次测试可节省54秒，每天可节省45分钟（50次测试）。

天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。 　　镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求，天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头，一直以满足市场客户需求为目标，致力于新技术的研究和新产品的更新换代。 　　在此之前，国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品，国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A，测试精度目标已达0.2mm以下。 　　在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下，公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作，我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析，摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术，并应用了几项本公司的发明专利，终于攻克技术难关，取得了突破性进展。据对比测试结果分析，国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm，我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm，天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。 　　为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求，本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段，目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产，最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱，和广大客户会面。

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2018年9月5日，日本最大规模的分析仪器展JASIS 2018在东京幕张国际展览中心盛大开幕，吸引来自全球各地的万余名观众参观出席。 br/ /p p 　　作为用于光学特性评价?检查的装置制造商，大塚电子在展会期间带来其测厚仪新品和粒度仪新品——nanoSAQLA。 /p p style=" text-align: center " img title=" 大塚电子非接触光学测厚仪.jpg" style=" width: 400px height: 267px " alt=" 大塚电子非接触光学测厚仪.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201810/uepic/70d4e4a6-1e05-4247-ac98-a97f9d543eec.jpg" height=" 267" border=" 0" vspace=" 0" width=" 400" / /p p style=" text-align: center " strong 大塚电子非接触光学测厚仪 /strong /p p 　　是一种旨在缩短检测过程的装置，无需校准曲线，容易测得绝对厚度。基于其独特的光谱干涉方法，可以在短时间内非接触地轻松测量厚度(10μm至5 mm)，且外形紧凑，占用空间小。主要特点包括： 可以无接触地测量不透明、粗糙表面、易变形的样品 高重复性· 再现性 无需校准曲线测得绝对厚度 由于测量直径非常小，因此不受不均匀性的影响 不必调整样品的位置，可以通过“单独放置”来测量 由于稳定性高，操作简单 是一个光学系统，更安全。 /p p style=" text-align: center " img title=" 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA.jpg" style=" width: 400px height: 267px " alt=" 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA.jpg" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201810/uepic/e9696875-6d17-49ce-b7ba-f09007b5607d.jpg" height=" 267" border=" 0" vspace=" 0" width=" 400" / /p p style=" text-align: center " strong 大塚电子多检体纳米粒度检测系统nanoSAQLA /strong /p p 　　nanoSAQLA为动态光散射法(DLS法)的粒度测量(粒径0.6nm-10μm)仪器。配置了进一步追求质量控制需求的各种功能。 /p p 　　实现了一种新的光学系统，兼容多种样品测量，从稀到浓的更广泛样品浓度范围，轻巧紧凑，适合实验室使用，标准为1分钟高速测量。此外，对于非浸入式样品，“5样品连续测量”配置为无自动进样器的标准设备。主要特点包括：使用一个装置轻松进行五样品连续测量 广泛浓度范围样品检测系统 高速测量，标准测量时间为1分钟 简单的测量功能(测量一键完成) 配备温度梯度功能。 /p p & nbsp /p

2013年12月2日，我司独家代理的日本Kurabo公司的硅钢涂层测厚仪采购招标中，RX400产品凭借独特的优势和市场业绩，再次中标。

HOLVES一直致力于研发高精度的补料系统，提供多样化的补料方式。目前，全新的Feed-Sup® 已正式上线，相较于前两代系统，Feed-Sup® 在控制方式和补料功能上做出了重大改进和优化，更能有效和精准的实现生物发酵过程中的补料控制，成功做到产品的迭代发展，进一步满足了不同客户的补料要求。Feed-Sup® 补料控制方式的升级Feed 1th采用的是模拟量控制方式，Feed 2th采用的是脉冲控制方式，而Feed-Sup® 在前两者的基础上再次做出改进，采用了RS-485通讯方式，关于三种控制方式的对比，参见往期文章《步进电机驱动方式对蠕动泵精度的影响》。新入控制方式的引入更能有效的实现发酵过程中培养液或发酵基质的补充精度，确保发酵罐中营养物质的浓度、温度或氧气含量，以理想状态支持发酵。Feed-Sup® 补料功能的升级Feed 1th和Feed 2th补料功能基于传统补料过程中手动和按时补料模块的显示和运用，确保补料过程中pH和DO的关联控制，具体的补料功能如下图。（Feed 1th / 2th补料控制主界面）● 常规功能1）补料泵转速和流速的显示系统的主控画面图标和补料控制的主界面均可以实时显示补料泵的转速和泵出液的流速，通过观察即可了解补料泵的运行状态。2）补料的校准和补料管的切换输入设定量，并通过手动补料功能泵出设定量的液体，再将实际泵出的液体体积输入至实际量中，最后点击校准按钮即可实现补料泵的校准。选择补料泵上安装的硅胶管管号，再点击复位按钮切换至目标硅胶管的蠕动泵系数后即可实现16#、19#、25#三种管径的硅胶管切换，以满足不同的补料需求。 3）累计补料量的计算与清除功能系统的主控画面图标可以实时显示发酵过程中的累计补料量，而通过清除按钮还可实现累计补料量的清除，从而自定义累计补料量的记录起始点。● 手动补料设置手动补料时补料泵的转速，加入的料液体积，启动后系统可计算出定速定量后补料泵所需工作的时间，以及显示补料泵剩余的工作时间。● 按时补料输入所需的单位时间补料量、补料泵转速和补料泵工作时间，可得到补料泵的控制周期，进行按时定量补料。● 补料关联pH培养基的碳氮比、营养物质的种类、不同料液中微生物的代谢产物等都会对发酵液的pH造成影响，所以有些时候需要采用补料方式调节pH。在发酵过程中，输入所需的关联转速，以及补料正向关联pH或补料反向关联pH的条件，如下图所示系统即可进行补料单向关联pH。● 补料关联DO同理，补料也会对发酵液的DO造成影响，影响程度的大小随补料情况、菌种状态等因素而定。在发酵过程中，输入所需的关联转速，以及补料正向关联DO或补料反向关联DO的条件，系统即可进行补料关联DO，进行多重调节DO，满足客户多样需求。（Feed 1th / 2th补料关联控制界面）以上为前期产品补料系统，Feed-Sup® 在保留1th和2th的基础上，还更新了方程补料和指数补料功能，一般情况下，高密度发酵是在营养物质限制的条件下进行的，通常是以碳源物质作为限制性营养物质，通过恒速补料、指数补料等补料方式，补加营养物质以实现高密度发酵培养。就大肠杆菌而言，指数补料策略不仅能够让细胞保持恒定的比生长速率生长，而且通过将比生长速率控制在乙酸积累的临界比生长速率下，还能抑制代谢副产物乙酸的积累，从而减小乙酸对发酵培养的副作用。基于以上需求，Feed-Sup® 补料功能设置如下图：（Feed-Sup® 给料控制界面）● 方程补料输入方程补料中的关键参数a和b的数值，以及方程补料所需运行的时间t，即可进行方程补料。● 指数补料输入指数补料中的关键参数F1(0)和μ的数值，以及指数补料所需运行的时间t，启动关联，即可进行指数补料。方程补料和指数补料主要参数的说明如下图：‍（Feed-Sup® 方程补料、指数补料说明）方程补料和指数补料系统的开发和投入使用使得HOLVES在现有产品的补料功能上得到更大升级，满足了客户在实际发酵使用过程中的精准控制及操作便利性，保持科研成果的科学严谨性，也是HOLVES一直致力于生物发酵领域精益求精的发展追求。HOLVES产品在持续更新迭代，以满足不同种类的客户需求，提供更好的产品体验和用户服务，新品持续研发中，敬请关注注：本篇文章内容为霍尔斯HOLVES版权所有，未经授权禁止转载及使用。