激光光学干涉仪

852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测，VSEL激光器拥有价格低廉，线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐

全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍：量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪（Fiber Michelson Interferometer）不但可以用来作为精密的测试测量仪器，还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器（参见 PZ1光纤拉伸器产品资料），内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计，用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米，我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪，请联系我们的销售人员.产品参数：参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度（无延迟）m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060（或指定）SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用：激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举：1. 激光器相位/频率噪声测试（1）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上，作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出， 数字信号输出通过PC进行后续处理，模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试（2）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置（Quadrature Bias）。输出光信号由光接收机接收处理，输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟（3）输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈，延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50： 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50： 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50： 1550nm光纤迈克逊干涉仪

总览法布里－珀罗干涉仪（英文：Fabry–Pérot interferometer），是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时，它也被称作法布里－珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗）标准具因为平板反射率高，多光束等倾斜干涉条纹极窄，所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱（纵模、横模）成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um，中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda；近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50；近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试： 测试步骤：1，安装1532nm激光器，连接电源，USB线2，激光器输出连接到光纤准直器 3，用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4，用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5，打开激光器，打开信号发生器（三角波调制，频率1KHZ,电压幅值500mW）6，激光器发出的光通过标准具，打在探测器光敏面上，通过调整标准具的角度，在示波器上查看调制波形测试结果：

本系列其它产品型号 共3条 名称货号货期 描述参数Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 1-5um671A-IRD80010016波长范围：1-5um；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：准直光束 2-3mm直径孔径工作波长: 1-5µ m Bristol 671B-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671B-NIR-FC/UPCF80010048波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0008 nm @ 1000 nm；测量速率：10Hz；最大带宽：10GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm Bristol 671A-NIR 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计 520-1700nm671A-NIR-FC/UPCF80010049波长范围：NIR 520-1700nm；激光类型：连续波和准连续波（重复频率10 MHz）； 测量精度：± 0.0002 nm @ 1000 nm；测量速率：4Hz；最大带宽：1GHz； 光学输入：预对准FC/UPC工作波长: 520-1700nm 总览Bristol Instruments的671系列激光波长计使用经验证的基于迈克尔逊干涉仪的技术来精确测量从可见光到中红外的连续激光的波长有两种版本可供选择。 671A型是精确的，测量波长的精度为±0.2百万分之一（1000 nm时为±0.0002 nm）。对于不太严格的实验，671B型是一种价格较低的替代品，精度为±0.75百万分之一（1000 nm时为±0.0008 nm）为了保证波长测量的准确性，671激光波长计采用内置HeNe激光器进行连续校准。这是一个理想的参考源，因为它的波长是众所周知的，并且是由基本原子结构固定的。为了实现高精度，671A系统使用单频HeNe激光器，该激光器使用精确的平衡纵模技术进行稳定。在型号671B中，使用标准的HeNe激光器作为波长参考。Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计,Bristol 671系列 高精度激光光谱分析仪及高精度波长计通用参数产品优点波长精度高达±0.0001 nm。使用内置波长标准进行连续校准。可在375 nm至12μm范围内进行操作。方便的预对准光纤输入，波长高达2.6μm。自由空间光圈输入，具有红外/中红外波长的可见对准辅助功能。使用USB或以太网直接操作电脑。提供显示软件，用于控制测量参数和报告波长数据。使用自定义或LabVIEW编程的自动数据报告消除了对专用PC的需求。方便的平板电脑/智能手机应用程序可在实验室的任何地方报告测量数据。 五年保修涵盖所有零件和劳动。型号671A671B激光类型连续波和准连续波（重复频率10 MHz）波长波长范围VIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmVIS: 375 - 1100 nmNIR: 520 - 1700 nmNIR2: 1 - 2.6 μmIR: 1 - 5 μmMIR: 1.5 - 12 μm精度 1，2± 0.2 ppm ± 0.0002 nm @ 1000 nm± 0.002 cm-1 @ 10,000 cm-1± 60 MHz @ 300,000 GHz± 0.75 ppm (± 1 ppm for MIR) ± 0.0008 nm @ 1000 nm± 0.008 cm-1 @ 10,000 cm-1± 225 MHz @ 300,000 GHz重复性 3、4、5VIS/NIR/NIR2: 0.03 ppm (0.03 pm @ 1000 nm) IR: 0.06 ppm (0.2 pm @ 3 μm)0.1 ppm (0.1 pm @ 1000 nm)标定连续内置稳定单频HeNe激光器连续内置标准HeNe激光器显示分辨率9 digits8 digits单位 6nm, μm, cm-1, GHz, THz功率 (VIS / NIR) 7校准精度± 15%分辨率(Resolution)2%单位mW, μW, dBm光输入信号最大带宽81 GHz10 GHz最小输入9、10VIS: 10 - 500 μWNIR: 5 - 225 μWNIR2: 125 - 500 μWIR: 65 - 750 μWMIR: 120 - 925 μW测量速率4 Hz (VIS / NIR / NIR2) 2.5 Hz (IR)10 Hz (VIS / NIR/ NIR2) 2.5 Hz (IR / MIR)输入/输出光学输入11VIS/NIR：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯径9μm）-可选自由光束到光纤耦合器NIR2：预对准FC/UPC或FC/APC连接器（芯直径7μm）-可选自由光束到光纤耦合器IR/MIR：准直光束，2-3mm直径孔径，可见示踪光束，便于对准仪表接口USB和以太网接口，带有基于Windows的显示程序和基于浏览器的显示应用程序使用任何PC操作系统进行自定义和LabVIEW编程的命令库（SCPI）计算机要求 12运行Windows 10的电脑，1 GB可用RAM，USB 2.0（或更高版本）端口，显示器，定点设备环境 10预热时间 15 minutesNone温度|压力|湿度+15°C to +30°C (-10°C to +70°C storage) | 500 – 900 mm Hg | ≤ 90% R.H. at + 40°C (no condensation)尺寸和重量尺寸（高x宽x深）13VIS / NIR / NIR2: 5.6” x 6.5” x 15.0” (142 mm x 165 mm x 381 mm) IR / MIR: 7.5” x 6.5” x 15.0” (191 mm x 165 mm x 381 mm)重量14 lbs (6.3 kg)功率要求90 - 264 VAC, 47 - 63 Hz, 50 VA max担保5 Years (parts and labor) （1） 定义为测量不确定度或最大波长误差，置信度≥99.7%。（2） 可追溯到公认的物理标准。（3） 对于671A，仪器达到热平衡后10分钟测量周期的标准偏差。（4） 对于671B，仪器达到热平衡后1分钟测量周期的标准偏差。由于HeNe参考激光器的纵向模式漂移引起的长期测量变化小于±0.4 ppm。（5） 波长分辨率大约是可重复性的两倍。（6） 以nm、μm和cm-1为单位的数据以真空值的形式给出。（7） NIR2、IR和MIR版本不测量绝对功率。强度计显示相对功率。（8） 带宽为FWHM。当带宽较大时，波长精度会降低。（9） 特定波长下的灵敏度可以从671系列产品详细资料手册中提供的图表中确定。（10） 特性性能，但无担保。（11） IR和MIR要求的光束高度为5.4±0.25“。（12） 用于基于Windows的显示程序。与SCPI的接口可以使用任何PC操作系统来完成。（13） IR和MIR仪器高度可调（7.25±0.25“），用于校准。Bristol Instruments保留根据需要更改规格的权利，以改进其产品的设计。 规格如有更改，恕不另行通知 公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机

Femtosecond Laser Optics-飞秒激光光学镜片Besides our customer specific products we can offer you various standard products from stock.

中性密度滤光片 镀有金属涂层覆盖范围从紫外到红外标准尺寸为12.5mm、25mm和50mm 通光率具体参见各个型号主要用于宽带光谱的衰减器、作为光平衡应用的部分反射器和用作中性分束器金属涂层中性密度滤光片 OD值为阻挡效率，其计算公式如下：金属涂层中性密度滤光片能在宽波长范围内实现均匀衰减。Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统

Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片，包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400，覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm，滤波等级OD4，镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。

这款亚纳秒激光器,亚纳秒调Q激光器是由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先而专业的进口激光器件服务商！提供的这款亚纳秒微片激光器先后被中科院上海光机所,浙江理工大学,山东大学,中国工程物理研究院等单位购买。孚光精仪精通光学,服务科学，欢迎垂询.这款微型亚纳秒激光器是半导体泵浦的亚纳秒调Q激光器（DPSSl),也是亚纳秒微片激光器，采用Nd:LSB晶体制造而成。亚纳秒激光器具有超高重复频率，高峰值功率和短脉宽等独特性能。这款亚纳秒调Q激光器产生的激光波长为531nm和1062nm. 由电源和激光头组成。其中亚纳秒微片激光器电源包括激光二极管驱动器（LD)，光纤连接的LD和内部脉冲产生器。亚纳秒激光器激光的重复频率可以有三种工作模式，从单脉冲到最大重复频率可调。亚纳秒激光器领域：* 亚纳秒激光器倍频产生器的泵浦源,光学参量振荡器OPO或光学参量放大器OPA(使用周期性计划的KTP或LiNbO3晶体）；* 亚纳秒调Q激光器低相干的白光干涉仪 * 亚纳秒微片激光器检测和测试系统 * 亚纳秒激光器光学相干层析 * 亚纳秒调Q激光器双光子显微镜 * 亚纳秒微片激光器荧光显微镜光源 亚纳秒激光器参数 型号 STA-01-1 STA-01-2 STA-01-3 STA-01-4 STA-01-5 STA-01CW 波长, nm 1062 1062 1062 1062 1062 1062 最大输出功率,mW 140100 120 125 65 0-200 脉冲能量,uJ 2 2 3 5 6.5 - 脉宽, ns 1 0.6 0.8 0.6 0.7 - 最大重复频率kHz 70 50 40 25 10 - 光束质量 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 脉冲结构 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 工作温度, 摄氏度 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 激光头尺寸: 径x长度, mm 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5亚纳秒调Q激光器参数 波长 531 nm 平均功率 可达20 mW 脉冲能量 0.4-1.4 µ J 脉宽 2ns 重复频率 可达50 kHz 光束质量 M21.1 脉冲结构 单纵模 偏振比 100:1 工作温度 +10 to +30 C 激光头尺寸 直接 25 mm 长度 79 mm

2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场，25直径视场目镜 (mm) 10视场，20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

消球差透镜在单色光条件下使用，通过消除彗形像差和球面像差得到最小焦点尺寸。 消球差透镜优秀得衍射限制性能，应用在理想的非线性光学，激光束扩展和准直，干涉仪，材料处理和光纤耦合。消球差透镜波段266nm-1550nm，通光孔径大于90%。其中，LAI波段780nm-1550 nm，表面质量60-40，可以通过简单调整后焦点位置，校正球面像差，彗形像差，散光和球面色差，使其能在各种波长下使用。LAPQ波段266nm-1064nm，表面质量10-5，透镜材料UVFS，通过消除像差可以得到最小的焦点尺寸。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :0.2视场，25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息：波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666

5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :2.2视场，25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

所属类别： 激光器 单纵模激光器所属品牌：法国Oxxius公司法国Oxxius专业提供LaserBoxx系列高性能高稳定型连续输出785nm激光器，功率稳定性±1%，光学噪声 0.5%，光束质量小于1.8是拉曼光谱、荧光激发、激光全息、干涉测量、荧光激发、光致发光、全息存储、生物检测、共聚焦显微、材料分析等领域性价比极高的产品！

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

TEC-500/TEC-520可调谐半导体激光器TEC-500/TEC-520外腔半导体激光器的外腔结构为Littman/Metcalf，输出功率可达100mW以上，窄线宽，无模跳调节范围大。完整的系统易于用户使用和掌握。波长范围：635nm-1690nm光学功率高：输出功率可达150mW优秀的量子效率光纤耦合效率高 良好的调谐特性：使用内部增透涂层激光二极管通过分辨率高于1MHz的压电致动器微调在780nm或830nm处，手工粗调可达30nm无模跳调谐范围大，可达100GHz以上窄线宽：线宽300kHz优秀的边模抑制50dB优秀的频率锁定功能：高共振自由压电调节电流调制高频激光优秀的温度稳定性低噪声敏感性良好的长期锁定稳定性高灵活性：自由选择光束与光纤耦合方式通过远程软件控制自动波长扫描恒电流和恒功率运行模式（可选）优良的激光性能和频率稳定性即插即用配置：模块化激光系统设计自动压电调谐通过GPIB，RS232和USB远程控制应用：光谱和光学过程控制太赫兹种子激光发生器光学冷却和捕捉，BEC绝对距离干涉激光和OPO种子光非线性光学工艺光纤系统表征规格：

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

荧光分光光度计配件具有高检测灵敏度、高测试速度、人性化的多功能控制和分析的操作软件，可以进行快速的高精度荧光光谱测量。荧光分光光度计配件特色采用150W滨松高品质氙灯和更换式干涉滤光片系统设计，可提供从250nm至700nm区间的可选激发应用配置；适用于材料研究、药品分析、生化及临床检验、水质分析控制、食品安全检测等领域对样品进行定性定量分析。发射单色器采用1200线光栅、大孔径非球面反射镜分光系统，高速扫描时1秒内即可完成全谱扫描、计算和测量，专业软件包含多种分析功能，丰富的附件可支持液态、固态、粉末、薄膜样品的测量，可通过选配多用途荧光样品座附件实现高浓度样品的准确测量，对于少至5μl的微量样品同样可以精确测定，并可选配微量样品附件和自动进样附件，满足多种应用。 荧光分光光度计配件特点1.可选择荧光强度和发光强度2种操作模式，荧光强度模式下可进行荧光光谱扫描、荧光动力学测定和定量分析。2.365nm激发波长水喇曼峰信噪比＞150（p-p），出色的高检测灵敏度可使低检测限的样品测定变得十分精确和简单。3.提供10档发射谱扫速选择，包括高速低噪声扫描和精细扫描。其中超快扫描为30000nm/min，可在1秒内完成全谱扫描，并有智能预扫描功能，可快速显示未知样品的光谱信息，自动排除其他散射峰和倍频峰影响，确定最佳测量参数，定位荧光发射峰。4.支持单机、联机2种模式，单机状态下使用机内微机系统提供荧光强度测量、浓度直读、自动调零、自动背景扣除等功能，联机状态可通过USB2.0接口使用定性/定量软件对仪器进行控制和数据采集分析。5.高强度的150W氙灯为连续光谱，可在200nm至900nm波长范围内提供出色的测试稳定性。6.具有荧光值归一化功能，可消除不同荧光光度计间荧光值不可比较的问题，方便高校教学中学生实验报告的统一评价。7.定性/定量软件功能丰富，发射谱波长扫描菜单可提供图谱缩放、多图谱比较、图谱运算、峰谷检测、峰面积计算和1-4阶导数光谱功能；定量测试菜单可使用标准曲线法与待定系数法检测样品浓度，提供一阶线性回归、二阶或三阶线性拟合，并可自定义浓度单位。8. 多种测量附件，包括单孔比色皿座、多用途荧光样品座、200μl微量离心管荧光测量、毛细管微量样品架、荧光样品半自动进样、单孔比色皿适配器、膜状样品架、粉状样品架和护套式比色皿架等，低至5μl的微量样品可轻松测定，对高浓度荧光检测，固体荧光检测同样适用，能够满足多种使用要求。9. 小巧玲珑的机型可节约大量桌面空间荧光分光光度计配件规格光源： 150W滨松高品质氙灯光学形式： 激发：精密窄带超低背景干涉滤光片；发射：光栅型单色激发带宽：标配10nm发射带宽：10nm激发波长：标配365nm，选配（250-700）nm发射波长：（200-900）nm波长精度：发射单色器：±1nm波长重复性：发射单色器：≤0.5nm扫描速度：10档切换选择：高速30000nm/min,精细15nm/min时间扫描：可任意设定，最高为60000秒增益：17档切换选择检测灵敏度（S／N）：蒸馏水的喇曼峰 S／N大干150稳定性： 优于1.5%/10min 线性误差：优于2%响应时间：（0.1-4）s 6档切换选择荧光值显示范围：0.00-600.00数据传输方式：USB2.0标准电压：110V/220V，50Hz/60Hz标准能耗：190W 主机尺寸：442x392x250mm净重：10.7Kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括分光光度计,双光束分光光度计，荧光分光光度计在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

氩离子激光系统Sacher Lasertechnik提供了整套配备电源和远程控制器的风冷氩离子激光系统产品线，应用于工业和科研领域。可用波长为458nm，488nm，514nm及多线发射。功率范围从5mW到500mW。应用：生物分析和生命科学流式细胞术细胞分类排序DNA分析荧光光谱显微镜和共聚焦显微镜曝光技术胶片和缩微胶片曝光印刷全息计算机直接控制板（CTP）测试和测量干涉测量法光谱学速度测量（LDA，PLiF，PDA，CTA） 矩形设计1、165LG氩离子激光器 2、131LG氩离子激光器3、131LG氩离子激光器圆柱形设计1、181LG氩离子激光器

MEMS-FTIR（傅里叶转换红外光谱）光谱仪是一个紧凑的，低成本的傅里叶转换红外光谱仪，一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像：详细参数：

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

"公告提醒：爱必信所有产品和服务仅用于科学研究，不用于临床应用及其他用途提供产品和服务（也不为任何个人提供产品和服务）! 产品描述：产品名称：35mm激光共聚焦培养皿（玻底直径14mm）描述: 概况和特点：1、标准细胞培养皿、板和高质量玻璃底的完美结合。革新设计提供了一个独立、平整的底部。2、在体外培养环境下，为高分辨率显微镜提供更清晰的视野。3、共聚焦培养皿由高质量的聚苯乙烯和高透明度硼硅酸盐玻璃制成。4、具有高光学性能的玻璃材料保证了底部的最佳平整度，从而避免了光的去偏振化。 玻璃底特征：1、高透明度硼硅酸盐玻璃。2、玻璃底厚度：0.17mm+-0.02mm。3、最大的光透过范围，无法荧光。4、 超平界。技术指标: 玻底直径：φ14mm形状：圆形共聚焦器皿：35mm皿应用: 1、相差显微镜。2、荧光显微镜。3、激光共聚焦显微镜。4、活细胞成像。5、相差干涉显微镜。6、激光发射显微镜。7、荧光原味杂交技术（FISH）产品信息订购： 产品货号 产品名称 规格价格大包装及货期 abs7021 35mm激光共聚焦培养皿（玻底直径14mm） 150个/盒 2500.00 立即咨询产品更多信息请进入爱必信网站咨询 "

"公告提醒：爱必信所有产品和服务仅用于科学研究，不用于临床应用及其他用途提供产品和服务（也不为任何个人提供产品和服务）! 产品描述：产品名称：35mm激光共聚焦培养皿（玻底直径10mm）描述: 概况和特点：1、标准细胞培养皿、板和高质量玻璃底的完美结合。革新设计提供了一个独立、平整的底部。2、在体外培养环境下，为高分辨率显微镜提供更清晰的视野。3、共聚焦培养皿由高质量的聚苯乙烯和高透明度硼硅酸盐玻璃制成。4、具有高光学性能的玻璃材料保证了底部的最佳平整度，从而避免了光的去偏振化。 玻璃底特征：1、高透明度硼硅酸盐玻璃。2、玻璃底厚度：0.17mm+-0.02mm。3、最大的光透过范围，无法荧光。4、 超平界。技术指标: 玻底直径：φ10mm形状：圆形共聚焦器皿：35mm皿应用: 1、相差显微镜。2、荧光显微镜。3、激光共聚焦显微镜。4、活细胞成像。5、相差干涉显微镜。6、激光发射显微镜。7、荧光原味杂交技术（FISH）产品信息订购： 产品货号 产品名称 规格价格大包装及货期 abs7020 35mm激光共聚焦培养皿（玻底直径10mm） 150个/盒 2500.00 立即咨询产品更多信息请进入爱必信网站咨询 "

960CRT荧光分光光度计 唐海红 13120400643 简单介绍 ●荧光分光光度计光谱处理功能：连续扫描测定：1-4阶导数光谱；计算峰面积；波峰检索；图谱运算；图谱窗口处理；图谱保存及调出；图谱打印输出●荧光分光光度计定量测定：样品定量分析；时间扫描；绘制标准曲线（1-3次）；浓度直读；自动测定S/N及稳定性；自动背景扣除；定量分析打印输出 荧光分光光度计的详细介绍 荧光分光光度计共同特点： ●发射单色仪采用1200L/nm凹面光栅。大孔径非球面反射镜，灵敏度特别高 ●采用1500W大功率汞灯，激发能量强 ●采用光源监控技术，测量结果稳定 ●高性能的光电倍增管，可获得最佳信号噪声比 ●具有自诊断功能，工作可靠 ●EM带宽小于10nm 960CRT荧光分光光度计型特点： ●配置Windows95计算机工作站，仪器故障率小，可靠性强 ●工作站采用中文对话视窗，操作方便 ●利用鼠标可舒服地进行扫描测定；定量分析；运算；制表和记录等系列操作 ●可方便地选择联机或脱机工作方式 选配件： ●光源：150W氘灯 ●干涉滤光片（汞灯光源）：254nm、313nm、405nm、436nm、546nm ●干涉滤光片（氘灯光源）：250nm～700nm间任选 主要技术指标： 960MC/CRT荧光分光光度计型： ●EX波长选择范围：365nm（干涉滤光片） ●EM波长范围：200nm～800nm ●波长准确度：EM± 2nm ●波长重现性：EM± 1nm ●信噪比：蒸馏水喇曼峰S/N &ge 比50,响应时间2s ●测定方法：a.波长扫描 b.时间扫描 c.定量分析 960CRT型荧光分光光度计（配计算机） ●光谱处理功能： 连续扫描测定：1-4阶导数光谱；计算峰面积；波峰检索；图谱运算；图谱窗口处理；图谱保存及调出；图谱打印输出 ●定量测定： 样品定量分析；时间扫描；绘制标准曲线（1-3次）；浓度直读；自动测定S/N及稳定性；自动背景扣除；定量分析打印输出