激光物证发现仪

新一代的TacticID-1064手持拉曼毒物、危化品分析仪，内置超过10000种毒物（含易制毒化学品、前体及管控精神药品及麻醉药品等），危险化学品，易燃易爆及爆炸物，珠宝玉石及塑料等相关数据库，覆盖世界上主要国家的几乎全部管控毒物品种，可以隔着透明或半透明和不透明非金属包装对包括粉末、液体、固体等涉嫌物证进行现场、快速的鉴别。该系统具备中文的操作和输入界面，用户可以直接在手持终端上进行现场物证信息的输入和确认。新一代的手持拉曼毒物、危化品分析仪，成功解决之前常规拉曼光谱仪所无法解决的荧光干扰问题。常规的拉曼光谱仪，因为激光的激发波长处于荧光干扰区域，对一些会产生荧光的样品例如邻氨基苯甲酸、海洛因、浴盐，收缴的掺杂的可卡因、摇头丸等无法进行有效检测。而新一代的手持拉曼毒物分析仪，通过特殊的光学设计，可以直接对上述常见易制毒、毒物及其他化学品等进行鉴别，极大便利实际样品的现场检定。针对公安、安监等特殊的使用场景，新的手持拉曼还具备高度的防水、防跌落，整体达到IP68级别的防护。通过内置的摄像头，还可以对涉嫌物证、人员等进行拍照留存，极大便利物证链的建立。内置的锂离子电池可以满足一天的检测工作需要，适应于现场出警的要求。优势：透过包装直接测量透过各类透明、半透明及不透明包装（非金属）。专属数据库：毒物及前体，爆炸物，危险化学品，珠宝玉石，塑料等可快速自建谱库。强大的混合物分辨能力可靠的混合物分辨算法，轻易分析混合体系中的目标化合物。摄像头现场样品和物证的固定，照片随附于样品光谱测试报告。安全信息显示GHS and NFPA704 化学品信息。不同颜色标记危险等级。用户可自定义测试备注。触摸屏快速备注用户可通过触摸屏快速备注样品检测信息。USB,Wi-Fi 数据传输数据管理，传输和打印报告。光谱及光谱库管理。USB/Wi-Fi和蓝牙管理。收缴海洛因样品

小型激光拉曼光谱仪Finder Insight是一款高度性能优化的小型激光拉曼光谱仪，采用了科研级的深度制冷CCD检测器配合大通光孔径的分光系统，提供高品质的测试性能，是研究单位或QA/QC实验室的理想选择。小型激光拉曼光谱仪Finder Insight典型应用领域● 生物医药学● 高分子化学● 环境科学● 材料科学● 地质科学● 文物鉴定● 刑侦鉴定硫的拉曼光谱图小型激光拉曼光谱仪Finder Insight技术特点● 具有科研级别性能的便携式拉曼测试性能；● 直接光路耦合，收光效率最大化；● 在便携式产品中独创性的集成了监视光路，可视化的样品操作；● 荧光抑制；● 垂直光路适合于几乎所有样品形态；小型激光拉曼光谱仪Finder Insight规格参数型号FI-R-A FI-G-A 激光波长785nm 532nm 激光功率100mW 50mW 测量范围200-2000cm-1 (可选：150-2300cm-1) 200-3500 cm-1 (可选：150-4000cm-1) 分辨率6-10 cm-1 检测器科研级制冷型CCD，NIR增强光谱仪通光孔径f/3 电源需求标配：110/220V 交流电源（12V@4A 直流输出） 选配：可充电聚合物电池 尺寸（宽×高×长）216×166×352mm 重量5kg 基线扣除针对有荧光干扰的数据，提供基线扣除功能，拟合并扣除基线（减背景）。可在测量完成后手动扣除，也可以进行实时扣除。监视光路 独创性的在小型拉曼光谱仪内部集成了监视光路，可视化的样品操作。同时可在计算机界面保存聚焦点位（图中十字虚线交点），方便使用者进行换样后的定位。主要作用是：1. 进行样品的位置监测（防止样品与镜头接触，污染镜头）；2. 辅助激光聚焦。标准化的样品载具 仪器采用常用的显微镜载玻片（25×75mm ）作为标准载具，也可以根据用户的需要进行个性化定制。测试实例： 阿司匹林，基于785nm 激发表面增强拉曼（SERS）应用：自1974年Fleischmann等人发现吸附在粗糙化的Ag电极表现的吡啶分子具有巨大的拉曼散射现象，加之活性载体表面选择吸附分子对荧光发射的抑制，激光拉曼光谱分析的信噪比大大提高，这种表面增强效应被称为表面增强拉曼散射(SERS)。拉曼散射由化合物（或离子）的散射吸附，或在结构化金属表面，可达到溶液中散射的103倍到106倍。这种表面增强拉曼散射在银表面表现得最强，在金或铜表面也比较强。其他金属则没有这么强的增强效应。 表面增强效应产生的两个机制：第一种是在贵金属表面产生一种增强的电磁场。当入射光的波长接近金属等离子体波长时，金属表面传导电子被激发到一个扩展表面的电子激发态，称为表面等离子体共振。分子吸附在表面或接近表面经过一个异常大的电磁场。垂直于表面的振动模式带来的增强最强烈。第二种是是在表面和分析物分子之间形成电荷转移络合物。许多电荷转移络合物带来的电子跃迁会产生可见光，以便发生增强谐振。性能测试：罗丹明B + SERS 芯片激光器：785nm典型应用领域 ：药物成分检测食品安全检测细胞、病毒检测环境、水体污染检测刑侦、毒品检测爆炸物检测激素检测基础应用研究

【产品简介】iForenOCT 1310 高分辨物证断层检验仪由公安部物证鉴定中心和北京鉴知技术有限公司共同研发，采用新型三维穿透成像技术，能在案件现场对物证进行原位、无损、快速、超高分辨的三维内部结构成像。高分辨物证断层检验仪可用于胶带、油漆、指纹、皮肤毛囊、针刺伤、朱墨时序等物证的检验与分析。对于外观相似的物证，高分辨物证断层检验仪可通过测量物证内部的结构及光学特征参数进行溯源，有助于在案件现场发现常规方法难以发现的隐藏物证。【技术特点】1、不损伤物证，采用1310nm宽带近红外光源，低能量无损伤；2、深入探测，多层分析，检测深度范围200μm-2mm；3、高清成像，三维成像空间分辨率达10μm，成像信噪比＞100dB 4、内部结构实时成像，二维实时断层成像速度达100帧每秒；5、快速重构物证三维形貌和内部影像，三维体成像时间＜10s；6、整机轻便，可随身携带，操作简单直观，适合现场使用；7、扫描成像范围＞6mm×6mm【可检测物证】胶带、尤其、指纹、皮肤毛囊、针刺伤、朱墨时序等各类物证

对涉火、涉爆案（事）件现场常见的磁性、非磁性的微小金属物证进行快速筛选，综合筛选的检出率达90%以上。极大地缓解了涉火、、涉爆现场大量金属物证及干扰物对人工筛选工作的难度和强度，对涉火、涉爆现场关键物证快速发现提取具有重要的实战价值。产品优势【一键操作】：操作简单，有色金属和非金属物质自动分离【小尺寸设计】：涡电流分选机成功小型化，便于现场使用【自动化设备】：分选过程高效全自动，无需人员监控【高效提取】：分选准确率超过95%，大大缩短工作时间【分选范围广】：分选粒径范围大，1-6nm的铜（铝）微珠和分段物均可分选

量子新星，一种用于生物医学研究的技术，用于发现氧化应激在健康状况中的作用。长期氧化应激会损害细胞、蛋白质和 DNA，加速衰老并导致各种健康状况。实时监测 细胞（或生物体）对氧化应激的反应是一项挑战。解决了这些挑战，这项技术已在荷兰 格罗宁根大学医学中心得到充分应用。它是一种诊断和研究工具，它集成了钻石磁力仪 和共聚焦显微镜来测量受压细胞中的自由基。 产品已用于测量单个细胞中纳摩尔级和亚细胞分辨率的自由基。这种精确的工程设计可以解决因细胞长期氧化应激而导致的不良健康状况。量子自由基测试系统的应用 量子比特技术 使用弛豫法测量人类精液中的自由基 内皮细胞中的量子感应 药物疗效的量子传感人类原代颗粒细胞中的量子感应 用于追踪细胞和组织中单个聚合物颗粒的荧光纳米金刚石 利用荧光纳米金刚石增强支架金刚石纳米传感和机器学习用于 SARS-CoV-2 诊断 利用钻石量子传感技术破解亨廷顿氏病 荧光纳米金刚石用于精子细胞活力 采用金刚石宽场弛豫法进行快速宽带磁共振波谱分析 了解酵母细胞代谢：来自钻石磁力仪的见解 细菌对抗生素反应的松弛测量法

火灾和爆炸调查先进方案FARO?激光扫描仪使火灾调查人员能够轻松快速地捕获数百万个测量数据，形成任何火场的精确3D模型。沈阳嘉志科技-消防，火灾调查三维激光扫描仪faro1. 保护调查人员健康减少曝光时间在充分测量和记录火灾场景时保护案件调查人员健康。 在典型的火灾现场发现有毒蒸汽和材料时，对案件调查人员是一个十分危险的环境，但为了确定案件发生情况，案件调查人员往往牺牲自身健康在案发现场进行数据采集及测量。 FARO激光扫描仪允许您捕捉场景的精确3D表示。 数字保存证据，并在这个有毒环境中花费更少的时间。这有利于保证案件调查人员的安全减少身体损害。2. 无光环境下数据采集可以在光线不佳的情况下扫描由于火场经常是阴暗潮湿的，所以难以对场景进行测量。 这对FARO激光扫描仪来说不是问题。 调查人员可以在低光照条件下甚至在完全黑暗中扫描场景，并以惊人的清晰度捕捉场景中的所有数据点。 在舒适的办公室里，获取所有必要的测量结果，分析场景，并从捕获的点云中创建图表。3.查看视频资料他是FARO火灾调查解决方案20多年来，FireZone一直由消防专业人员用来制作各种消防服务图表。 使用FARO激光扫描仪捕获任何火场，分析数据并使用FARO FireZone软件创建出庭审材料。FARO Zone 3D沈阳嘉志科技-消防，火灾调查三维激光扫描仪faro二维和三维图和火灾调查员分析FARO Zone的绘图工具可以快速方便地用于火灾调查和事故前计划图表。 通过手动测量，卫星地图或点云创建精确的二维和三维图表，从而提供令人信服的法庭演示。功能强大的绘图和编辑工具可按照NFPA 921中的描述创建2D和3D图表显示预先着火的内容，对物体造成的火焰伤害，爆炸的房间图，字符图案和火焰向量成千上万的内部和外部火灾场景和事件前计划的预绘符号创造出令人信服的图表和走向场景，是法院的理想选择FARO Zone 2D沈阳嘉志科技-消防，火灾调查三维激光扫描仪faro为火灾调查和事件前计划创建二维图快速创建执法，消防服务和保险的二维图表。 这款创新软件非常适合创建2D犯罪和火灾现场图，事件前计划和现场计划。以1：1的比例引入卫星地图，并在地图上绘制，以在几分钟内创建精确的图表成千上万的预先绘制的符号用于室内火灾场景以及事件前计划保存为.jpg，.png和.tiff格式，便于集成到报告中使用其他FARO软件应用程序创建的2D图表，包括FireZone和Blitz

技术开锁超细高清智能窥镜发现仪3R-TDME-FS是一款手柄+工业平板高清触控显示屏分体便携式设备，支持一机配多管，可360°旋转，像素可达100万，可拍照/录像/编辑文档/涂鸦注释/存储/图像调整色度亮度兼有负片功能。管径1.0~8mm可配直视/侧视/直侧一体管线，LED照明亮度可达70000+lx亮度可调节。可广泛应用于:警用安全、火调现场、生产制造、石油化工、视频药机、轨道交通、市政管道建设等领域。

J200 LIBS元素分析系统系统功能J200 LIBS元素分析系统为高灵敏度和高准确性分析而设计，许多元素检测限可达ppm个位数，用于样品基质中多元素定量定性分析。J200实现了从氢元素到钚元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统分析方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复性。J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS相结合，将剥蚀出的样品固体微粒直接送入ICP-MS系统做进一步分析，避免酸解等样品前处理过程带来的二次污染和误差引入。同时，实现ppb级至百分含量的测量范围，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。工作原理系统采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，通过短激光脉冲在样品表面产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。每种元素与LIBS的某一个或多个谱峰对应，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成；峰强度信息可用于量化样品中元素的含量。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。J200 LIBS元素分析系统基于劳伦斯伯克利实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统分析快速、可靠、准确、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的多种应用环境。检测范围J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤、植物、矿石、生物组织、刑侦材料（玻璃、油墨等）、合金、半导体、绝缘体、塑料、薄涂层和电子材料等等。检测元素种类具体包含：常量元素N, P, K, Ca, Mg, S微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化学周期表上大部分元素有机元素C、H、O、N轻元素Li、Be、Na等（ICP-MS难同时测量）同位素（升级与ICP-MS 联用)应用领域常规土壤元素分析、土壤污染检测、刑侦微量物证分析、煤粉组分分析、矿石检测、生物组织分析、农产品分析、合金分析、宝石鉴定、各种材料分析等。可靠硬件优化等离子体光收集。J200 LIBS采用独特的聚光光学设计，将大量的等离子光耦合到检测模块，实现高灵敏度测量。提高分析准确性和可重复性。J200的导航激光和自动传感器相结合，解决样品表面凹凸不平导致剥蚀不均的问题。激光稳定阀使到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将样品剥蚀颗粒送入ICP-MS系统，实现更多分析。弥补ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上多数ICP-MS联用。系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路，实现固、液、气体样品室自动切换。系统硬件采用模块化设计，方便更新。激光器和探测器可根据样品的种类及用户研究进行升级。系统具备两个成像系统。广角成像用于整体观察样品，确定采样区域；另一成像系统用于放大样品选定区域进行采样。激光能量和光斑大小连续可调，激光脉冲稳定一致，实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。强大软件系统软件能够对所有硬件进行控制。提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。TruLIBS&trade 数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS&trade 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线；各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒；允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。具有单变量和多变量校准曲线制定功能。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好；多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的干扰，提高分析准确性。数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能，可以对样品进行快速分类鉴别。系统软件还可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。产地：美国

中图仪器SJ6000机床校准激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点，在机床加工领域有着广泛的应用。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，还可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。测量原理SJ6000机床校准激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品优势1、激光干涉仪具有非常高的测量精度和重复性。2、激光干涉仪可以实现非接触式测量，不会对被测量物体造成损伤。3、激光干涉仪具有实时性测量能力，能够同时测量多个位置或参数，提高测量效率。产品应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过SJ6000机床校准激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

膏药包装易撕线激光打标机 包装膜激光打撕裂线虚线不打穿膏药包装易撕线激光打标机的技术优势　　激光易撕线工艺是一种瞬间高温处理使孔周围热融保护，因此解决了后期热收缩后出现的断裂现象，在手感上也非常平滑，在感官上给客户一种新的体验。武汉三工激光是国内先针对薄膜包装行业提出激光代替机械加工工艺的企业，专为各类包装易撕线、定量透气孔设计开发的。与传统的机械齿轮压孔相比速度更快，孔径孔距大小可调更加均匀，可以实现各个方向易撕孔（线）标刻，无需耗材电脑控制，更智能。　　包装袋激光划线打孔技术是一种更先进、灵活的技术，激光划线技术将激光能量集中在需要划线的薄膜层上，而不损坏整个薄膜。 因为，复合膜例如PET、PP或PE，它们都具有不同的吸收和发射二氧化碳激光波长的特性，所以当一层薄膜吸收激光能量而消失后，其他的材料薄膜层则保持完好受不到任何影响。 另一方面，铝箔层或着其他镀上金属层的薄膜，则成为了阻挡激光通向其它材料层的屏障。 所以这些材料的特性可以使得激光技术能在包装材料上进行精确的定位、划线。 同时，撕开线通过人的人眼清晰可见，于是撕开包装对消费者来说就显得轻而易举了。 此为，值得注意的是，激光划线技术对于食品包装来说是非接触式的且无磨损的过程，所以也保证了包装内的商品不会因为包装过程而受到损坏，确保了商品的稳定性与可靠性。膏药包装易撕线激光打标机参数表膏药包装易撕线激光打标机特点1、速度快设备在线飞行标刻易撕线速度280-300m/min（根据工艺而定）2、加工幅面大幅面300×300mm范围内实现标刻、切割任意图形3、稳定性好设备采用全封闭光路、原装进口CO2射频激光器、均配装有高速扫描振镜和扩束聚焦系统、严格多重保护控制设计（电网电压欠压保护，工作电流过流保护，冷却循环水流量、水位、水温保护），保证设备整体的稳定，高稳定抗干扰工业计算机智能控制，实现24小时连续稳定可靠运转。4、操作简单专用控制软件，实现任意形状标刻5、设备小巧设备占地约为1.5m2， 大限度减少空间占用6、高精度传感器旋转模拟编码器（国产） 检测流水线速度RGB传感器(日本进口) 精确高速定位飞行打标位置包装膜激光打撕裂线户技术总机　　随着激光应用 域越来越广泛，激光对薄膜包装行业应用也得到进一步提升，激光加工成为了PE、PVC、PET薄膜加工行业新的工艺标准。武汉三工激光是国内率先针对薄膜包装行业提出激光代替机械加工工艺的企业，专为薄膜易撕线、定量透气孔设计，打标速度快，设备易操作，性能稳定，使用寿命长等。SCM-55集合了激光技术、光学技术、精密机械、电子技术、计算机软件技术以及制冷等学科于一体的高科技产品，与传统的机械齿轮压孔相比速度更快，孔径孔距大小可调更加均匀，可实现各种多条易撕线标刻。　　激光打孔方法是利用激光器产生的光束，通过聚焦在设计好的实线、虚线、波浪线、易撕线处均匀的切割出一条深仅若干微米的细线，由于激光在聚焦上的优点,聚焦点可小到亚微米数量级,从而对材料的微处理更具优势,切割、打标、划线、打孔深度可控。即使在不高的脉冲能量水平下,也能得到较高的能量密度,有效地进行材料加工。可将激光设备装置在分切机或者复卷机上，应用激光技术在OPP、BOPP、PE、PET（聚酯）、铝箔、纸等软包装材料上切割、划线、打孔、层切。

LSX-213 G2+ Nd：YAG激光剥蚀系统 品牌介绍TELEDYNE CETAC TECHNOLOGIES专属的激光剥蚀/烧蚀品牌PHOTON MACHINES，起源于历史悠久的商业化激光剥蚀/烧蚀公司MERCHANTEK公司，具有丰富的激光剥蚀/烧蚀产品设计、研发、制造经验，尤其具有极其丰富的激光剥蚀/烧蚀的应用经验。PHOTON MACHINES品牌激光剥蚀/烧蚀系统具有完整的产品线，为全球元素分析用户提供先进的激光剥蚀技术。 应用领域 环境样品分析 物证样品分析农产品样品分析同位素定性分析生物样品分析大体积进样定量分析地质样品分析样品缺陷分析同位素分析 元素分布图绘制分析透明和半透明样品分析深度剥蚀分析样品种类：方解石；金属合金；透明和半透明类样品；骨头、牙齿和皮毛等；陶瓷；塑料；涂层/镀层；动植物组织等。产品综述LSX-213 G2+采用技术优化的光路设计。使用皮实耐用、且经过多种苛刻验证的LSX-G2平台，提供超级稳定的光学性能和工作稳定性。提供常规分析所需要的所有性能指标，操作成本低，易维护。LSX-213 G2+内置性能良好密闭的泵浦灯和MIL一SPEC标准设计制造的激光源，给操作者带来超级稳定的激光能量和极少的维护成本。配备了高精度独立减震光学平台后，LSX-213 G2+能够在多种苛刻环境中进行多种样品分析。LSX-213 G2+采用了高新技术的高性能硬件和高精度光学部件设计制造，能够提供极好的光学分辨率，达到清晰的观察效果的同时具有宽泛的视野。配备高质量、多阵列和亮度可调的透射照明和反射照明系统，确保在极大放大倍数下也能清晰观察样品。LSX-213 G2+ 简洁实用的结构设计，不仅提供稳定的性能，同时具有良好的易维护性。采用开放式样品池位置设计，能够兼容多种样品池，并支持用户定制样品池。软件控制内置光圈自动切换，剥蚀斑点直径范围4μm一200μm；系统实现与ICP双向通讯，实时调整能量、斑点大小和扫描速度等参数；CETAC产品为您提供便利高效的工作过程，实现定点——剥蚀——分析的三步目标。性能参数激光源和光路单元五倍频213nm Q-switched控制的Nd：YAG固态激光源，激光能量＞4mJ/pluse，＜5ns的脉冲宽度。＜3%的脉冲稳定性 平顶激光技术，达到良好的剥蚀坑激光光路和观察光路独立设计，防止机械震动干扰和热源干扰，具有极强的稳定性输出能量可调，脉冲频率可调(1-20Hz)剥蚀斑点范围(4-200μm)完全密闭但易维护的激光源设计 视频观察单元 计算机控制，连续调节的等焦面共焦点设计，显微光学放大(2.6x-32.5x)观察视野(＜6mm)，光学分辨率(＜2μm)高强度LED阵列反射透射和泛光照明系统计算机控制的上偏振系统，标配下偏振系统 取样单元可拆卸易维护的样品池石英窗设计开放式样品池位置设计，可灵活多变使用多种样品池可选，含HelEx双体积双气路涡流样品池XY平台步进分辨率达到0.16μm/step

中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。

产品简介中图激光干涉仪机床校准仪sj6000集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，其寿命可达50000小时；采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高速干涉信号采集、调理及细分技术，可实现高4m/s的测量速度，以及纳米级的分辨率；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；采用高性能计算机控制系统及软件技术，支持中文、英文和俄文语言，友好的人机界面、向导式的操作流程、简洁化的记录管理。中图激光干涉仪机床校准仪sj6000具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床加工领域的应用利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。 机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿中图激光干涉仪机床校准仪sj6000非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。

金鉴镭射定位激光开封系统（GMATG Laser Decap）金鉴GMATG Laser Decap是金鉴实验室联合英国GMATG公司推出的激光开封系统，针对半导体失效分析实验室应用场景设计，根据不同材料对激光吸收特性的不同，选择性刻蚀。金鉴采用定制的激光器、控制器，可适用高达99%的封装材料，光斑质量好，寿命长，保证最佳匹配无损晶圆及线材的激光开封。开封参数可精确控制，确保线材无损、开封的后IC可以保留焊盘，将芯片及压焊打线的情况清晰展现。同时取代机械开封、化学开封、传统制模、机械切割研磨等z制样工艺，大大降低开封成本，节省开封时间，提高开封良率。金鉴激光开封系统主要构成：激光器、光路系统、工作台、控制系统、定位系统、抽尘系统、CCD视觉系统、风冷和水冷系统等。采用自研发的控制软件、直接导入CAD数据进行激光刻蚀，操作简单。设备集数控技术、激光技术、软件技术等光机电高技术于一体，具有高灵活性、高精度、高速度等先进制样技术的特征。适用于各种塑料封装形式的IC开封，LED透明硅胶和环氧树脂，为各种类型的半导体失效分析应用（如半导体器件开盖和剖面）提供清晰，精确的测试样品。化学开封 VS 金鉴激光系统开封：传统的化学开封前期准备工具繁琐、耗时不省心，大多开封化学试剂具有毒性、腐蚀性和挥发性，会刺激呼吸道，长期接触容易诱发呼吸道疾病和皮炎，如果沾染皮肤会造成烧伤,严重者内脏器官受到伤害甚至休克，也有可能会影响到生育。由于化学开封对人体危害较大，对于现代的很多员工来说，考虑到自身健康，不愿从事化学开放的工作，而金鉴激光开封安全无毒，环境友好，采用激光开封利于增加团队的稳定性。而激光开封相比化学开封可以做到更加精密，线宽更窄，线间距更小，操作简便，随时都可以导入图形或直接绘制图形加工，不受限制，特别适合于实验室阶段。从稳定性、良品率、耗材、环保、综合成本等多种因素考虑，激光开封的优势也更加明显。为此，金鉴镭射定位激光开封系统，帮助客户解决塑封器件开封的烦恼。 功能介绍：1. 金鉴GMATG自开发的软件，镭射定位系统，微米级精准逐层开封！ （1）金鉴镭射定位系统，精准定位开封位置。 （2）可精确控制每一层激光扫描能量，每层移除厚度可控制在10~100 μm，精准定位开封区域，暴露引线框架，邦定线，基板，甚至直接无损开封至芯片的晶圆层。 （3）显著节省后续工艺时间。 （4）电脑控制开封形状、位置、大小、时间等，操作便利。金鉴工程师对MOS芯片样品逐层开封2. 配备风冷和水冷降温系统，功率可调，最大程度上减少激光对金属材料的热影响 （1）可开封高达99%的封装材料，环氧树脂，硅胶等。 （2）可适合各种硅胶、塑料封装形式的IC开封，包括DIP、SOP、PDIP，PLCC，PQFP，SOIC，BGA以及COB去黑胶等。 （3）适用多芯片、多细线材塑封器件样开封！ 传统化学开封方式对多芯片样品束手无策，原因在于长时间的化学开封溶解胶体的同时，也会溶解芯片固晶层和焊线金属，降低焊点结合力，导致在超声波清洗后，焊线断裂，芯片脱离，失去样品原始原貌，无法分析。 同样道理，对于细线塑封器件，化学开封极易损伤焊线金属，而传统的激光开封由于热影响，较细的焊线很容易受到热损伤，在超声波清洗之后，发生焊线断裂的现象。激光开封后的COB LED光源，焊线和芯片无损 （4）铜线产品的有效解决方案。由于铜线低廉的价格及性能方面的优势，如今内引线为铜材质的塑封器件已经得到广泛的应用，而铜却容易与酸发生反应而被腐蚀，传统的酸开封已经没有办法完成铜制成器件的开封，良率一般低于30%，金鉴的激光开封机，给分析产业带来了新的技术。 （5）其大功率模式可清洁封装材料中的大颗粒填充料3. CCD视觉系统 （1）可视化观察样品，实时追踪、显示加工过程。 （2）数字化变焦设计，精确定位至单根键合线或单个键合点缺陷，精确定位剖面位置。 （3）通过视觉CCD控制系统，针对超微小尺寸，可实现精准定位，框选，分离，隔带扫描，完全/部分开封暴露邦定线，完美清除线下树脂残留。4. 可导入X-Ray、SEM、C-SAM等图片 （1）由其他失效分析设备生成的图像文件，可直接导入至金鉴实验室GM-LASER激光开封专用分析软件。如: X-Ray、SEM、C-SAM。 （2）导入的文件可在软件中进行缩放融合，调整至实时图像大小，并可设置透明度，以便精准定位开封位置。 （3）将开封几何矢量形状画至图像上，选择区域全部开封，或仅开封缺陷位置或其他感兴趣位置，避开无需开封位置，更易控制无损开封。5.配备抽尘系统 （1）采用独特除尘系统设计，能保证工作平面的清洁，保证激光刻蚀过程中无残留。 （2）烟雾净化器：低噪音高转速，运行稳定，寿命长，耗电低，效率高。6. 无需后续滴酸开封 （1）由于配备风冷和水冷系统，对于部分样品，无需后续滴酸开封 （2）掏洞井壁厚度可精切控制至0.25mm。残留在晶圆层上的树脂层可控制薄至50微米。 （3）通过化学刻蚀可以打开芯片表面几百微米的EMC（通过手动或MIS Wet Etch：使用少的酸） 容易、简单、快速和安全的操作。 （4）采用数字化电子控制开封工艺，可逐层开封多晶圆层堆叠芯片。7. 开封速度快，开封只需数十秒! （1）增强型激光控制器结合软件功能，大大优化陶瓷金属封装材料的开封。 （2）激光器：寿命10万小时，扫描振镜，高速精准，先进控制单元使扫描速度快，扫描角度和扫描频率稳定快速可调。 （3）开封的效果与激光器的参数、功率、光路器件、加工速度和材料厚度等条件息息相关的。一般来说，激光器的开封功率越高，开封速度越快。根据金鉴实验室经验，激光开封通常在切割断面有轻微的碳化，而想要完全无碳化则需要降低切割速度来实现。 8.可剖面切割，代替传统的金相制样应用激光剖面切割工艺，可代替传统的金相磨样工艺LED灯板激光切割，切割线条平整，截面各层结构界限清晰 （1）GM-LASER 轻松进行PCB板材、金属或陶瓷板材切割。 （2）在这里指出，金鉴实验室GMATG激光切割，并不是像机械切割一样直接穿透切割，是扫描剥离的方式加工的。 （3）传统方式加工PCB，主要包括走刀、铣刀、锣刀等，存在着粉尘、毛刺、应力的缺点，对小型或载有元器件的PCB线路板影响较大，无法满足新的应用需求。而激光技术应用在PCB切割上，为PCB金相制样提供了新的技术方向。激光切割PCB，先进激光加工技术可一次直接成型，非接触加工具有无毛边、精度高、速度快、间隙小、热影响区域小等优点，与传统的切割工艺相比，激光切割完全无粉尘、无应力、无毛刺，切割边缘光滑整齐，特别是加工焊有元器件的PCB板不会对元器件造成损伤。金鉴激光切割PCB板，切口平整9.可开盖金属/陶瓷封装局部加热，精确控制加热量，切割并打开LD激光器金属封装盖应用领域：1. 半导体失效分析 传统的芯片化学开封被定义为有损性工艺，只可复核无损观测到的失效点。应用激光工艺的物理开封也可以是无损工艺。 激光工艺可以无损开封至部分芯片的晶圆层。 选用高光子能量的短波长激光器，激光工艺可完全取代传统的制模倒模、机械切割研磨，部分激光剖面甚至无需后续研磨。 激光切割不仅可以用于芯片剖面，更可用于打开金属或陶瓷封装盖，开盖工艺是传统机械切割难以或无法达成的。 微区线路修改：激光焊接，通过激光的微区加热功能实现线路的修改，实现实验后失效样品的电特性恢复以节省漫长的重新抽样实验，比如实现LED灯珠二焊点的重新焊接。 失效点定位及隔离：通过使不同位置的连接线部分暴露，实现点与点之间的通断性 测试以精确确定失效点。如电性异常电子元器件，选择部分开封，漏出部分键合线后进行测试，定位失效点。2. 电镜激光制样 可用于扫描电镜SEM、透射电镜TEM前期制样材料切割打磨，代替传统机械切割，离子抛光的方式制作样品，高效快速，质量高。硅片切割蓝宝石外延片切割金属切割陶瓷切割3. 存储芯片数据恢复 激光无损开封移除芯片塑封层，裸露邦定线和晶圆层，可配合使用探针板读取损毁存储芯片内部分或全部数据。 案例：警察抓捕非法黑客或恐怖分子驻点，电脑在抓捕前被损毁，通过激光开封配合探针板，可读取存储芯片部分或全部数据内容，取得证据将将嫌疑人定罪。4. 高可靠性芯片防伪验证 汽车、航空、潜艇等应用领域对芯片有高可靠性要求，然而伪造芯片或拆机片渗入分销渠道影响整机安全性。激光开封后，可用显微镜观察验证芯片引线框架上的原厂微型激光防伪码。 案例：某智能汽车发生安全事故，汽车制造商签约的保险公司委托第三方进行失效分析，通过激光开封发现伪造芯片，确定次级分销商事故责任，证实制造商芯片设计无过失。 案例一： 委托单位送测MOSFET样品，要求进行激光开帽实验+芯片形貌观察：客户送测样品及开封效果图 金鉴工程师对芯片进行激光无损开封实验后在光学显微镜下观察芯片形貌。案例二： 客户的LED直插灯珠出现了死灯问题，反馈LED环氧树脂很难开封，开封了许久也没有达到理想的开封效果，不是胶未融好，就是开封过头，芯片都掉了。LED直插灯珠 客户要求金鉴工程师对样品开封后进行死灯失效分析。金鉴工程师对客户送测环氧树脂LED直插灯珠进行精准定位切割开封，开封后金包银键合线材、弧度完好，芯片完整无损，器件内部无损！良品灯珠激光开封后： 环氧树脂LED直插灯珠开封效果图失效灯珠激光开封后SEM观察： SEM下观察灯珠键合线，发现灯珠二焊点E点剥离：开封后LED直插灯珠SEM观察案例三：客户送测不良漏电MOS 芯片，金鉴工程师随机抽取其中一个漏电失效MOSFET器件芯片样品进行激光开盖后，利用显微红外热点定位系统作初步漏电失效分析。 金鉴工程师用激光开封打开漏电失效MOSFET器件芯片环氧树脂封装盖： 利用GMATG-A4可见光-热分布双视分析功能精确定位漏电失效热点： 案例四：客户某批次的COB光源出现大量的发黑死灯异常，送测样品要求观察COB光源内部并分析光源黑化死灯原因。 COB光源外观图 金鉴工程师利用激光开封COB光源，在光学显微镜下观察COB光源内部芯片和键合线情况。COB光源激光开封后，内部完好无损，芯片和线材完整无损，利于做进一步的失效分析。 COB光源激光开封后，芯片和线材完整无损案例五：激光开封LED灯珠硅胶封装样品。客户送测灯珠样品来做芯片厂家鉴定，金鉴工程师利用激光开封样品后做SEM观察+尺寸测量等芯片厂家来源鉴定测试分析。 客户送测样品 金鉴工程师利用激光开封客户送测LED硅胶样品： LED灯珠激光开封后芯片和键合线完好 金鉴工程师利用SEM观察开封后灯珠芯片并进行尺寸测量分析： LED灯珠开封后芯片尺寸测量

中图仪器SJ6000机床精度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿。具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000机床精度激光干涉测量仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。SJ6000机床精度激光干涉测量仪非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，如在机床加工领域：1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿SJ6000激光干涉仪不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa 线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m便携箱尺寸：613*460*230mm标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

激光焊接以激光束为能源，将激光束冲击在焊件接头上以达到焊接的目的。激光焊接广泛运用在高精密制造业，粉末冶金业，汽车工业，电子电器工业，生物医学以及其他领域。零部件进行激光焊接往往需要进行焊接前表面处理，否则容易因工件表面污染物清洗不干净导致焊接质量缺陷或者产生次品。常见的因工件表面清洗不干净导致的焊接不良问题有： 问题 原因 焊接 气孔 工件进行激光焊接前表面未清洗干净，存在污染物或激光焊接速度过快，气体来不及溢出熔池 焊接 飞溅 工件进行激光焊接时表面存在油污导致进行焊接时产生飞溅 裂缝 不正确的预热和冷却，不合理的焊接工艺（如焊接次序）、钢的含硫量过高、气孔与夹渣的诱发等均会形成裂缝 夹渣 接头清理不良、焊接电流过小，运条不适和多层焊时前道焊缝的熔渣未清除干净等易产生夹渣激光焊接工艺要求零部件表面无油污等污染物，因此对零部件表面清洁度进行检测，可以更好的保证激光焊接质量，减少激光焊接缺陷。工件表面的油污一般成为为碳氢化合物，在高温作用下使碳、氢分离，其中碳与氧结合生成CO，从而促使产生焊接气孔。对于焊接前油污等有害杂质的控制，需要在焊接前清洗工件表面污染物，以及在清洗工艺完毕后对工件表面进行表面清洁度检测，防止气孔、裂缝等问题的产生。焊接气孔会降低坚固性和密封性，下图显示在激光焊接前对工件表面进行清洁度检测,当工件表面清洁度高于65%，焊接气孔数量明显降低，当工件表面清洁度低于65%时，焊接气孔数量明显增加。德国析塔SITA表面清洁度检测仪有效量化监控工件表面清洁度德国析塔SITA表面清洁度仪采用共焦法原理，通过光源发射出最佳波长的UV光检测金属表面的污染物，内置的传感器精准探测污染物引起的荧光强度，该荧光强度的大小取决于基材表面有机物残留情况，从而能精准量化检测金属表面清洁度。借助UV光源和传感器的共同作用，德国析塔SITA表面清洁度仪能快速量化清洁度测试结果，用于直接判断金属基材表面干净程度是否达到合格范围，有效避免了人为判断造成的测量误差，更有效审查生产步骤和清洗程序，进而优化清洗工序，更大地提高工作效率，减少返工率，降低生产成本。汽车啮合齿环表面清洁度有效量化检测客户案例某知名德资汽车零配件厂生产的变速器四挡/五挡从动齿轮总成是由钢件从动齿轮与粉末冶金齿环激光焊接而成。在变速器中起同步、换挡、传递的重要作用，所以要求焊接性能好，质量稳定可靠。齿轮激光焊接工艺流程：精加工齿轮 - 清洗 - 烘干 - 压装 - 探伤 - 热处理 - 热后加工- 成品。近期其发现生产的齿环焊缝气孔过多，不合格率高达18.8%，影响齿环焊接质量的因素主要有焊接室以及工件清洁度、粉末冶金齿环烧结工艺、激光焊接工艺参数(激光功率、保护气体等)。为判断工件清洁度是否影响焊接质量，该企业通过对比测试，使用德国析塔SITA表面清洁度仪检测生产的啮合齿环，测出超出其合格标准范围的有100个，抽取50个啮合齿环工件重新清洗并进行激光焊接，发现无气孔产生，另外50件不符合标准要求的，不清洗直接进行焊接，发现气孔多。通过对比试验，这家企业验证了在激光焊接工艺中，加工后的从动齿轮总成不清洗干净，表面留有污染物，则会导致激光焊接时焊缝产生气孔。德国析塔SITA清洁度测试仪可以广泛运用在焊接接头质量、安全气囊点火装置的焊接组件等方面，工件表面污染物会影响焊接质量，焊接气孔会导致泄露，因此在焊接工艺前检测工件表面清洁度非常有必要，可以有效降低焊接次品率。翁开尔是德国析塔SITA中国独家代理，负责德国析塔SITA清洁仪产品在中国的销售和技术支持，欢迎致电【400-6808-138】咨询。

中图仪器SJ6000激光干涉仪检测数控车床集光、机、电、计算机等技术于一体，它以光波为载体，其光波波长可以直接对米进行定义，是高精度、高灵敏度的测量仪器，在制造领域应用广泛。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）激光干涉仪检测数控车床，支持手动或自动进行环境补偿。SJ6000激光干涉仪检测数控车床利用激光干涉现象来实现非接触式测量，适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。机床领域应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：红外观察镜是将观测物体所反射或发射的光聚焦到摄像管里而进行观测的。电子摄像管是根据光谱发射强度和阴极材料的S-1 光谱灵敏性而选制的。它通过持续按住仪器上的按钮来提供所需电源。一旦加上电压，内置的3V 电池产生16-18KV 的高压，足以加速电子摄像管中的电子至观测屏。输出的绿色的荧光（波长550nm）可以通过调整目镜看到。 用途： 激光准直和激光实验 红外观察镜是用于准直红外激光输出光束和调整光学元件的理想工具。 法医鉴定和艺术品复原 与可见光相比，当在近红外光照射下观测物体时，会发现物体有不同的透过率和反射率。所以，这些近红外观察镜可以用来鉴定文件，历史档案，雕刻品，油画等，看到肉眼看不到的特点。（但这时必须要用红外光源和红外滤光片） 紫外应用： 准分子激光/紫外激光器方面的应用；紫外光谱方面的应用；紫外平板印刷纹路的检测和分析；液晶显示器。 什么是紫外辐射？当电磁辐射的波段在10 到400nm 的范围时我们称之为紫外辐射。辐射波长小于180nm 的波段成为真空紫外。而在180nm 到400nm 之间的区域可以再细分。光生物学家所用的UV-C 是对于波长在290nm， UV-B 是对于波长在290－320nm，UV-A 是对于波长在320-400nm 范围内。在半导体影音石板技术中辐射波长低于320nm 的又成为《深紫外》。 半导体检测 当和显微镜配套使时，红外观察镜可以用来观测的硅和砷化镓晶片的表面。 光学处理 红外观察镜是摄影术中检测和加工感光材料的必不可少的工具。 热成像 红外观察镜可以用于辐射温度高于600℃的物体（例如：烧砖的窑，熔炉，焊接罐等）成像。在这个温度范围内（或高于这个温度）的物体发射的波长都在0.8-1.7um 范围内，这可以用红外观察镜探测到。 其他用途 与红外滤光片和红外光源一起使用时，红外观察镜可以用于在植物学，生物物理理学，医学等方面的观测和研究。 红外显微镜 红外发光（由紫外光激励的），荧光 光纤通讯能够进行光束剖面红外转换技术参数：型号 ------------------------------------Abris-M version 2 光谱特性---------------------------------Abris-M 2000 350-2000 nm分辨率（中心波长）-----------------------60 Lp/mm观察范围---------------------------------18 degrees放大倍数 --------------------------------2X物镜-------------------------------------F2/50 mm含可变光阑聚焦距离---------------------------------0.25-无穷透镜工作距离---------------------------- 12.5 (+/-0.2) mm电池------------------------------------ 1.5V “AAA” size屏幕不均匀性---------------------------- 20%响应不均匀性---------------------------- 15%图像失真度------------------------------ 18%电池使用寿命---------------------------- 35 hours重量 ----------------------------------- 0.55kg体积------------------------------------ 205x78x52 mm使用温度范围---------------------------- -10oC-40oС三角架或手柄连接器---------------------- R1/4"标准产品包括 ----------------------------红外激光观察镜、红外滤波片、手柄、电池和工 具箱。

简介　　二氧化碳激光是一种分子激光，主要的物质是二氧化碳分子。它可以表现多种能量状态，这要视其震动和旋转的形态而定。二氧化碳激光器，可称“隐身人”，它发出的激光波长为10.6 微米，但是在9-11μm期间(尤其是9.6μm)还有其它的辐射线。大多数情况下，辐射光的功率在几十瓦到几千瓦之间。功率转化效率能大于10%，即比大多数固态激光器要高，但是比二极管泵浦激光器低。　　二氧化碳激光器 “身”处红外区，肉眼不能觉察，它的工作方式有连续、脉冲两种，用于激光切割，焊接，钻孔和表面处理。　　连续方式产生的激光功率可达20 千瓦以上。脉冲方式产生波长10.6 微米的激光也是最强大的一种激光。　　应用　　二氧化碳激光作为商业应用，激光可达数千瓦，这也是目前最强的物质处理激光及种类最多的一种激光器。二氧化碳激光器广泛用于汽车工业、钢铁工业、造船工业、航空及宇航业、电机工业、机械工业、冶金工业、金属加工等领域广泛应用。约占全球工业激光器销售额40%，北美更高达70%。　　二氧化碳激光器产品特点及优势　　1、输出功率范围较大，国外已用100KW激光焊机进行焊接。闭管二氧化碳激光器可有几十瓦的连续输出功率，这远远超过了其他的气体激光器，横向流动式的电激励二氧化碳激光器则可有几十万瓦的连续输出。此外横向大气压二氧化碳激光器，从脉冲输出的能量和功率上也都达到了较高水平，可与固体激光器媲美。　　2、能量转换效率高，二氧化碳激光器的能量转换效率可达30～40%，这也超过了一般的气体激光器。　　3、利用CO2分子的振动-转动能级间的跃迁的，有比较丰富的谱线，在10微米附近有几十条谱线的激光输出。近年来发现的高气压二氧化碳激光器，甚至可做到从9～10微米间连续可调谐的输出。　　4、它的输出波段正好是大气窗口，即大气对这个波长的透过率较高。并具有输出光束的光学质量高，相干性好，线宽窄，工作稳定。　　5、具有较好的方向性、单色性和较好的频率稳定性。而气体的密度小，不易得到高的激起粒子浓度，因而，CO2气体激光器输出的能量密度通常比固体激光器小。　　6、能以脉冲方式或连续方式工作，焊接范围广，既能用来焊接微型件，也能焊接较厚的工件。　　7、输出波长为10.6m，正落在8--14m的大气窗口之间，在距离传输方面有独特的优点。　　8、气体纯度要求低，一般只要工业纯度二氧化碳气体即可。　　9、激光器与电源可集成在一套系统中，结构紧凑，设计简单。10、使用寿命长。设备主要技术参数项目参数规格激光器型号F1000/F2000激励方式射频激励射频频率100MHz波长10.6μm平均功率1000W/2000W输出功率稳定性±5%光束椭圆度＜1.2偏振性线偏振光冷却方式水冷光束直径2.0±0.3mm光束发散角＜7.0mrad波长范围10.6μm±0.2μm调制频率1-100MHz

产品简介sj6000国产激光干涉仪厂家中图仪器利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。它集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，其寿命可达50000小时；采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高速干涉信号采集、调理及细分技术，可实现高4m/s的测量速度，以及纳米级的分辨率；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；采用高性能计算机控制系统及软件技术，支持中文、英文和俄文语言，友好的人机界面、向导式的操作流程、简洁化的记录管理。sj6000国产激光干涉仪厂家中图仪器结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图 其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）sj6000国产激光干涉仪厂家中图仪器支持手动或自动进行环境补偿。测量软件（1）友好的人机界面；（2）丰富的应用功能模块；（3）向导式的操作流程；（4）简洁化的记录管理；（5）支持中文、英文和俄文界面； （6）支持企业专属模板定制。产品应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。 机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿SJ6000激光干涉仪非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz 预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m便携箱尺寸：613*460*230mm标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

在轧钢厂、铝板厂，轧机是生产运行的主要设备，轧机如果出现了一丁点的问题，关乎的可能是批量的轧板不符合生产的要求，造成的损失是巨大的。在察觉到产品轧板出现问题的时候，采用的方法往往是直接更换轧机的衬板，每年更换的衬板对于企业来说，也是一项巨大的投资支出。并且，有可能会出现更换衬板后，轧机仍然存在一定的问题，生产出来的轧板仍然达不到生产的要求。激光跟踪仪在钢厂中对轧机的检测，可以帮助工厂内人员发现轧机中是哪个部位存在问题，问题是出现在衬板、轴承座、轧辊还是立柱中。要解决问题首先要找到问题的所在，而不是盲目的去更换通常的配件（衬板）就能解决问题。因为有可能更换配件后，轧机仍然存在一部分隐藏的问题。久而久之，甚至会对轧机的主要部位造成不可修复的损伤。影响的可能会是整条产线的生产。对于企业来说，生产合格的产品才能给公司带来更好的利润，想要合格的产品，首先需要有符合生产要求的设备。我们公司有高精度的检测设备——激光跟踪仪，有熟练的检测人员，大量轧机检测的工作经验。我们可以提供快速优质的服务，为您解决轧机上的问题，降低直接更换衬板的大量费用支出。

中图仪器激光干涉仪检测机床sj6000具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，还可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。在机床领域的应用 产品应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿中图仪器激光干涉仪检测机床sj6000非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据； （5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）中图仪器激光干涉仪检测机床sj6000支持手动或自动进行环境补偿。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH 环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m便携箱尺寸：613*460*230mm 标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

SJ6000中图高精度单频激光干涉仪集光、机、电、计算机等技术于一体，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据； （5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。高精度性能特点SJ6000中图高精度单频激光干涉仪以干涉技术为核心，其光波可直接对米进行定义。SJ6000中图高精度单频激光干涉仪采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；干涉镜与主机分离设计，避免干涉镜受热影响，保证干涉光路稳定可靠。在机床领域的应用激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点，在机床加工领域有着广泛的应用。1.测量机床导轨的直线度和平行度。 导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组 平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中药饮片包装袋撕开线激光刻线机 包装膜易撕线激光打虚线不透中药饮片包装袋撕开线激光刻线机的应用　　如今众多的商品都需要包装来装扮，不仅是为了美观，更是为了提高商品的使用率，保证商品可以长时间的储存使用，商品的质量不受时间和空间的影响而发生变质现象。种子食品塑料复合包装将商品严密的包装起来，隔绝外界空气的进入，起到防潮、防污的效果，让我们可以随时都用到新鲜的商品。这样商品的质量就有了保证，其次，也为商品进行了改造，将形态各异的产品都包装出具有一定规格的商品，满足人们的日常生活需求。　　激光打孔刻线方法是利用激光器产生的光束，通过聚焦在设计好的实线、虚线、波浪线、易撕线处均匀的切割出一条深仅若干微米的细线，由于激光在聚焦上的优点,聚焦点可小到亚微米数量级,从而对材料的微处理更具优势,切割、打标、划线、打孔深度可控。即使在不高的脉冲能量水平下,也能得到较高的能量密度,有效地进行材料加工。可将激光设备装置在分切机或者复卷机上，应用激光技术在OPP、BOPP、PE、PET（聚酯）、铝箔、纸等软包装材料上切割、划线、打孔、层切。　　随着激光应用领域越来越广泛，激光对薄膜包装行业应用也得到进一步提升，激光加工成为了PE、PVC、PET薄膜加工行业新的工艺标准。武汉三工激光是国内首家针对薄膜包装行业提出激光代替机械加工工艺的企业，专为薄膜易撕线、定量透气孔设计，打标速度快，设备易操作，性能稳定，使用寿命长等。SCM-55集合了激光技术、光学技术、精密机械、电子技术、计算机软件技术以及制冷等学科于一体的高科技产品，与传统的机械齿轮压孔相比速度更快，孔径孔距大小可调更加均匀，可实现多个方向、形状，多条易撕线标刻。包装袋撕开线激光刻线机参数表包装膜易撕线激光打虚线有什么优点1、速度快设备在线飞行标刻易撕线速度280-300m/min（根据工艺而定）2、加工幅面大幅面300×300mm范围内实现标刻、切割任意图形3、稳定性好设备采用全封闭光路、原装进口CO2射频激光器、均配装有高速扫描振镜和扩束聚焦系统、严格多重保护控制设计（电网电压欠压保护，工作电流过流保护，冷却循环水流量、水位、水温保护），保证设备整体的稳定，高稳定抗干扰工业计算机智能控制，实现24小时连续稳定可靠运转。4、操作简单专用控制软件，实现任意形状标刻5、设备小巧设备占地约为1.5m2，大限度减少空间占用6、高精度传感器旋转模拟编码器（国产） 检测流水线速度RGB传感器(日本进口) 精确高速定位飞行打标位置　　包装膜易撕线激光打虚线广泛应用于医药、食品、化工等产品自动化包装，使其成为了包装的好帮手。虽然我国的包装行业起步比国外要晚很多，尽管现在已经取得了初步的发展，但是我们仍然还有很大的空间需要去开拓，技术的革新只是暂时的，科技的力量也从未止步，先进的设计理念层出不穷，我们有自己的想法，同时还要结合国外的先进设计理念来发展全自动激光打孔机，这样才能实现全方位的发展，才能不断的研习发展。

SJ6000中图国产激光干涉仪品牌利用激光干涉现象来实现非接触式测量，其光波波长可以直接对米进行定义，具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据； （5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）SJ6000中图国产激光干涉仪品牌支持手动或自动进行环境补偿。在机床加工领域的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过SJ6000中图国产激光干涉仪品牌测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿激光干涉仪以光波为载体,利用激光作为长度基准,是高精度、高灵敏度的测量仪器。激光干涉仪不仅广泛用于数控机床、激光切割机、光刻机等，在计量检定领域也能大展身手。在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用激光干涉仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组 长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SJ6000数控机床倾斜轴激光干涉测量仪利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。它集光、机、电、计算机等技术于一体，采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗扰力强、长期稳定性好的激光频率输出。SJ6000数控机床倾斜轴激光干涉测量仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。 产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。应用场景1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。 机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿 SJ6000数控机床倾斜轴激光干涉测量仪非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH 环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m便携箱尺寸：613*460*230mm 标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

一,852±10nm单模VCSEL激光器 1mw PhilipsPhilips单模VCSEL激光器具有出光功率高，线宽窄以及良好的一致性目前深受国内科研客户青睐。目前我们现有库存波长760nm 用于TDLAS氧气检测，以及795nm用于Rb原子钟实验，还有852nm用于CS原子冷却。852±10nm单模VCSEL激光器 1mw Philips,852±10nm单模VCSEL激光器 1mw Philips产品特点● 垂直腔面发射激光器● 窄线宽 ● 内部TEC和热敏电阻 ● 2 nm TEC的可调性● 为铷共振激发而设计TO46&TEC● 特定工作条件：激光电流IOP = 2 mA 目标波长 λt = 794.7 nm @ TOP (由TEC调节)产品应用● CPT原子钟● 光学相干实验通用参数产品尺寸带TEC管脚配置不带TEC管脚定义技术参数参数符号最小值典型值最大值单位备注入射波长λR851852853nmT = 20°C, ITEC = 0, POP= 0.5 mW阈值电流ITH0.50mAT = 20°C输出功率Popt0.50mWT = 0 … 50°C阈值电压UTH1.80V激光电流IOP2.0mAPopt = 0.5 mW激光电压UOP2.0VPopt = 0.5 mW电光转换率ηWP12%Popt = 0.5 mW斜率效能ηS0.3W/AT = 20°C微分串联电阻RS250ΩPopt = 0.5 mW3dB调制带宽ν3dB0.10GHzPopt = 0.5 mW(由于ESD防护二极管)相对噪声强度RIN-130-120dB/HzPopt = 0.3 mW @ 1 GHz波长调谐电流0.6nm/mA波长调谐温度0.06nm/K热电阻Rthermal35K/mW边模式抑制30dB光束发散度θ1025°Popt = 0.5 mW满1/e2带宽光谱带宽Δν100MHzPopt = 0.5 mWTEC电流ITEC500mA需适当散热器NTC热敏电阻9.510.010.5kΩT= 25°C,NTC温度依赖性10/exp[3892(1/298K-1/TOP)]kΩ波长调谐TEC电流0.008nm/mATEC电流 200 mA绝对最大值● 储存温度 -40～125°C ● 工作温度 -20～80°C● 电功率损耗 5 mW● 正向激光电流 2 mA● 反向电流 10 mA ● 焊接温度* 270C°● *TEC 温度必须低于 150°C光谱图二, VCSEL 垂直腔面发射半导体激光器 1567/1550nm 1mW垂直腔面发射激光器（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser），简称VCSEL,是一种半导体激光器，其激光垂直于顶面射出。以砷化镓半导体材料为基础研制，不同于LED（发光二极管）和LD（激光二极管）。结构由镜面，有源层和金属接触层组成。两个发射镜分别为P型，N型布拉格发射器。有源区有量子肼组成，在P型DBR外表面制作金属接触层，形成欧姆接触，并在P型DBR上制作一个圆形出口，输出激光。它具有较小的远场发散角，发散角光束窄且圆；并且阈值电流低，调制频率高，能达到300KHz。通过改变激光电流跟温度可以实现波长调谐。内置TEC和PD的包装，它专为高速光纤通信而设计。VCSEL 垂直腔面发射半导体激光器 1567/1550nm 1mW ,VCSEL 垂直腔面发射半导体激光器 1567/1550nm 1mW产品特点● 7 Pin 小尺寸● 非球面透镜帽● 集成TEC控制温度稳定● 输出功率1.6mW● 单模，可以通过C-L波段● 具有宽谱调谐范围：8nm● 快速波长调谐（~100KHz）产品应用● TDLAS 测量气体系统● 人脸识别● 激光雷达● 数据中心，云计算通用参数条件：P=20°C，IO P=2.0mA，除非另有说明(P=芯片背面温度，由TEC控制)参数符号值单位Min典型Max光输出峰值功率@25 CP1.01.6mW工作偏置电流Iop01825mA工作温度范围Top-402585°C阈值电流Ith812mA斜率效率(CW，Tc=25°C)Se0.140.18mW/mA激光驱动电压VCC01.52.5V阻力RS50Ω中心波长请在订购单中注明所需的中心波长。Δλ15251575nm保证调谐范围施加正电压会降低峰值波长。λ810nm最大频率调谐响应fmax100200-KHz侧模抑制比SMSR3040dB线宽(-3dB半高宽)，连续偏压=IOPσ300MHz相对强度噪声RIN-128dB/Hz调谐电压Vture0Test SheetTest SheetV调谐电流Itune0-100μATec电压VTEC0.351.5VTec电流ITEC0.050.6A实验数据我们对于VCSEL激光器进行了相关实验，测量了VCSEL激光器的电压，电流与波长的关系，以及频率的关系。 VCSEL光谱图 VCSEL激光器测量底座1、电压与波长的关系我们给激光器加载4-18V的电压，每2V电压增加一个点，测量如上图数据，我们会发现，随着电压的增加，波长随着减小，减小了8nm左右，呈现负向接近线性曲线。2、电流与波长的关系我们保持电压恒定，电流调节，从13到25mA,每3mA测试一次，发现电流调节，波长大小变化比较大，且呈现一个正向线性曲线。3、加载不同频率的变化加载5V电压，20KHz频率波形 加载5V电压，40KHz频率波形加载5V电压，60KHz频率波形 加载5V电压，80KHz频率波形加载5V电压，100KHz频率波形加载5V电压，120KHz频率波形加载5V电压，140KHz频率波形固定给5V电压，调整频率值，得到以上图形，我们的调制频率很高，可以携带更多的信息，响应速度更快。VCSEL激光的产生主要由三部分组成，即激光工作物质、泵浦源和光学谐振腔。利用泵浦源对工作物质进行激励，形成粒子数反转，发出激光。在通过底部和顶部反射镜组成的谐振腔，在激光腔内放大振荡，并从顶部反射镜输出，输出的光线只集中在中间不带有氧化层的部分输出，形成了垂直腔面的激光发射，从而得到稳定，持续，有一定功率的高质量激光。

SJ6000高灵敏度超精密激光干涉仪是利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。它集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。测量软件（1）友好的人机界面；（2）丰富的应用功能模块；（3）向导式的操作流程；（4）简洁化的记录管理；（5）支持中文、英文和俄文界面；（6）支持企业专属模板定制。SJ6000高灵敏度超精密激光干涉仪在机床加工领域有着广泛的应用。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理 激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品优势1、激光干涉仪具有非常高的测量精度和重复性。2、激光干涉仪可以实现非接触式测量，不会对被测量物体造成损伤。3、激光干涉仪具有实时性测量能力，能够同时测量多个位置或参数，提高测量效率。产品应用激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点，在机床加工领域有着广泛的应用。1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格 稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1～3.0)m 长距离(1.0～15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项：平面度测量配置需求：平面度镜组＋角度镜组平行度测量配置需求：依据轴向量程范围，选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求：短直线度镜组＋垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求：长直线度镜组＋垂直度镜组 直线度附件：主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

激光法顶空分析仪FMS-760 顶空氧气分析仪是一种用于监测密封注射容器内顶空氧气浓度的无损气体分析仪。这种小巧的台式分析仪运用激光吸收技术，该技术的研发是由美国食品和药品管理局提供资金支持。近红外激光产生的光线被调整至与氧分子的内部吸收频率相匹配，并穿过产品上方顶空区域内的容器。被吸收的激光量与顶空中的氧气浓度成比例。采用这种无损测定方法可快速而全面地分析产品，FDA 推荐、符合 USP1207。应用于冻干粉针/水针西林瓶、安瓿瓶、输液瓶、与注射器等。激光法顶空分析仪系统用于在线工艺监测和实验室的应用。系统可被安装在手推车上，在不同的灌装线之间滚动，进行在线工艺监测和故障排查活动，或者也可将该系统*地置于实验室中，进行产品开发、出厂试验和质量控制调查。从应用的角度来看，采用无损测定可以用同一个样品随着时间进行多次测定(例如在整个货架期内进行多次测定)，并且进行全面的批量分析可帮助客户深入了解工艺的变化和对应的优化措施。应用：● 快速无损的残氧分析 ● 检漏（针对充氮包装间接性检漏） ● 容器密闭完整性研究● 灌装线上吹扫系统的优化和验证 ● 氧浓度衰减研究 ● 产品稳定性和货架期研究