进口电位分析仪

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20μm.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒度范围2nm-120μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

Metrohm DropSens 是瑞士万通集团旗下品牌之一，专门从事电化学研究仪器的设计和制造。DropSens 现在为您提供便携式、无线双恒电位/恒电流/阻抗分析仪，可用于伏安法、安培法、电位法和电化学阻抗谱（EIS）测量。实验室和现场工作的完整解决方案，包括MultiplEIS技术。 两种型号任您选择我们提供如下两个型号:μStat-i 400s — 恒电位/恒电流仪/单工作电极阻抗分析仪μStat-i 400 — 恒电位/恒电流仪/双工作电极阻抗分析仪 强大的EIS分析现已整合在便携式恒电位仪中。这些小巧经济的便携式仪器有助于您为特定的研究要求开发相关应用。便携式仪器可以是很多研究领域的完美解决方案，比如（生物）传感器，腐蚀或（微生物）燃料电池。 主要应用：• 腐蚀速率测量• 传感器、生物传感器及新材料评估• 电沉积、涂层或聚合物等评估• 分析方法开发 仪器特点：• 无线EIS测量适用于实验室和现场测量• 紧凑而皮实的设计• 便捷的腐蚀速率分析• 省时又简便的操作软件• 完整的数据分析以便最大限度利用每一次测量• 智能的专用阻抗分析仪助力传感器开发• MultiplEIS技术μStat-i 400（s）阻抗精度图备注：此产品的参考报价区间为标准配置。如需了解详细配置和报价，请联系瑞士万通中国当地销售人员，感谢您支持瑞士万通！

固体表面流动电位法zeta电位分析仪的特点：流动电位法zeta电位分析仪是用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位仪.该技术适用于50μm以上的大颗粒,纤维和平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品.流动电位法zeta电位分析仪的产品特点：可靠和简单的设置全自动化的系统测量和冲洗基于Windows的菜单驱动软件Excel数据采集、处理和导出在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。压差与电位的实时关系图直接计算zeta电位直接数据传输和处理样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。流动电位法zeta电位分析仪的样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）中空纤维切向流电位样品池直接测量多孔塞电阻流动电位法zeta电位分析仪适用于粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… …

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

ZetaAPS电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS电位分析仪

美国MAS Zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

ZetaFinder电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据ZetaFinder电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

AP-2000便携式水中氨氮检测仪，氨氮监测仪,便携式氨氮监测仪,多参数水质监测仪,进口便携式多参数水质分析仪,便携式多参数水质分析仪供应,多参数水质分析仪AP-2000便携式水中氨氮检测仪提供智能化的传感器和主机平台，可以现场测量水体温度、深度、pH、氧化还原电位（ORP）、溶解氧（DO）、电导率、TDS、盐度、电阻等水质多参数指标, 同时记录时间和位置信息。AP-2000可增配一个ISE电极（铵离子 氨氮 氯离子 氟化物 硝酸盐 钙）和一个光学探头（叶绿素 蓝藻 浊度 水中油）可更换成其他参数等水质多参数指标，均有温度自动补偿功能.AP-2000便携式水中氨氮检测仪，水质氨氮监测仪,便携式氨氮监测仪,多参数水质监测仪,进口便携式多参数水质分析仪,便携式多参数水质分析仪供应,多参数水质分析仪数据采集系统★AM-200手持式显示器 用于现场读取数据1、尺寸（W*H*D） 90*180*39mm 2、重量（含电池） 450g3、显示屏: 带背光，80 个字符LCD4、内存 1900 个数据5、GPS 接受: 内置天线，12 通道6、GPS 精度: ±10m7、大气压: 150mb-1150mb,精度:1mb8、PC 接口: RS-485/2329、供电: 内置电池供电，可方便更换电池10、操作温度: -20~70 °C11、防护等级: IP67 AP-2000便携式水中氨氮检测仪，水质氨氮监测仪,便携式氨氮监测仪,多参数水质监测仪,进口便携式多参数水质分析仪,便携式多参数水质分析仪供应,多参数水质分析仪AquaProbes水质传感器参数范围分辨率准确率DO（溶解氧）0-500%/0-50.00mg/L0.1%/0.01mg/L0.01 mg/L电导率0–200mS/cm (200,000μS/cm)0.1μS/cm± 0.5%总溶解固体量0 – 100,000 mg/L (ppm)两个自动确定的量程：0 – 9999mg/L,10.00 – 100.00g/L+1%读数或+0.1单位，取两者中的较大值电阻率5Ωcm – 1MΩcm两个自动确定的量程：5 – 9999Ωcm10.0 – 1000.0KΩcm+1%读数或+0.1单位，取两者中的较大值盐度0 -70 PSU / 0 –70 ppt (g/Kg)0.01 PSU / 0.01 ppt+1%读数或+0.1单位，取两者中的较大值海水比重0 – 50 σt0.1 σt± 1.0 σt氧化还原电位± 2000Mv0.1Mv± 0.5Mv深度0 – 30M(0 – 100F)0.01M(0.01F)+/- 0.1M(+/- 4”)温度-5°C至+50°C (23°F 至122°F)0.1°C/F± 0.5°CPH值0 – 14 pH / ± 625mV0.01 pH / ± 0.1mV± 0.01 pH / ± 0.5mV可选离子传感器氮0–1,000mg/L (ppm)两个自动确定的量程：0.00-99.99 mg/L, 100.0–999.9 mg/L± 10%

显微成像法zeta电位分析仪的特征：显微成像法zeta电位分析仪的密度高或粒径大的颗粒会沉积在测量室底部。ZetaCompact采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案，在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布。1、 显微成像法zeta电位分析仪是一种模块化工具，用于解决测量从10nm到50μm颗粒的电泳迁移率所遇到的所有问题，并计算胶体悬浮液的zeta电位仪。2、激光照明和视频接口能实现亚微米粒子的测量。3、石英测量池组装了两对钯电极，构成完全对称的腔室。4、动态安装，便于接入石英池。清洗后的测量池可快速准确地定位。5、显微成像法zeta电位分析仪用快速响应微探针原位测量样品温度。6、图像分析软件对粒子进行全自动跟踪。显微成像法zeta电位分析仪的应用领域：陶瓷聚合物胶乳纳米颗粒水泥乳浊液微乳液脂质体水处理纸浆和纸粘土颜料矿物浮选生物学免疫学

美国MASZeta型电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

pH/ORP控制器专为水处理和工业过程控制而设计，搭配innoSens pH/ORP电极使用，可以测量水样的pH,氧化还原电位和温度，适用于化工、脱硫、电镀、市政等行业水质监测。测量参数：●pH/ORP●温度 应用：污水厂、自来水、制程用水、生物发酵、冷却塔、反渗透、电镀、脱硫、化工、灌溉、游泳池、地表水、游泳池、水产养殖、海水 产品特点：●大屏背光液晶显示，全天候清楚易读● 经济实用，具有4-20mA输出● 特氟龙端子，超强抗干扰● PT1000自动温度补偿功能● 宽电源设计，90-260VAC● IP65防护等级，面板/管道安装PH分析仪 PH在线分析仪 自来水PH分析仪 脱硫PH分析仪 污水PH分析仪 高温PH分析仪 电镀PH分析仪 废水PH在线检测仪 氯碱化工PH检测仪 高温灭菌在线PH监测仪纯水专用PH分析仪 自来水PH在线分析仪 泳池PH在线分析仪 污水/废水PH在线分析仪 酸碱度分析仪 脱硫pH分析仪、脱硫pH计、在线脱硫pH检测仪制药用水在线硬度分析仪、钢铁锅炉水硬度分析仪、锅炉用水硬度在线分析仪、软化水硬度分析仪、余热锅炉水硬度分析仪、电厂在线硬度分析仪、换热站在线硬度分析仪、锅炉给水在线硬度分析仪、进口在线硬度分析仪、经济款在线硬度分析仪在线余氯分析仪、管网在线余氯检测仪、自来水余氯在线监测仪、在线水中臭氧分析仪

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS 是一种创新的Zeta电位分析仪，专门用于表征纳米颗粒悬浮液。它基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的VASCO纳米粒度分析仪的补充，用于研究胶体溶液的 稳定性和性质。 工作原理 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS 是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。 技术创新 法国Cordouan高分辨Zeta电位分析仪WALLIS独特的样品池，可以简单方便地制备样品并防止气泡形成,符合标准比色杯，创新的玻碳电极,使用寿命长，无氧化电极 , 可通过超声波水浴或酸碱洗涤等标准工艺轻松清洁。 突出特点 ● 没有电渗效应—消除了测量中的假峰 ● 增强的分辨率—比通常的相关器技术好10倍 ● 高分辨率测量—准确且可重复的Zeta电位分析 ● 简单易用和直观的图形用户界面软件 ● 新材料电极，使用寿命长—减少维护和消耗 成本效益好 应用领域 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

仪器概述固体表面Zeta电位分析仪是专门用多孔塞技术直接测定流动电位/流动电流的Zeta电位分析仪，该技术适用于50μm以上的大颗粒、纤维和平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品。产品应用领域固体表面Zeta电位分析仪主要应用粉末、纸浆、反渗透膜、中空纤维、纺织纤维、地质矿物、矿石、玻璃、晶圆、聚合物、头发… … 产品用途流动电位流动电流(可选)插入阻力导电性温度产品规格n 可靠和简单的设置n 完全自动化的系统测量和冲洗n 基于Windows的菜单驱动软件n Excel数据采集、处理和导出n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。n 压差与电位的实时关系图n 直接计算zeta电位n 直接数据传输和处理n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变。n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 中空纤维切向流电位专用样品池n 直接测量多孔塞电阻独特功能n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位n 中空纤维切向流电位专用样品池产品优势n 样品池尺寸在1cm～8cm之间可变n 专用样品池选件满足特殊需要（平板膜，滤膜，中空纤维… … ）n 在线电导率样品池，可精确计算zeta电位。 操作软件固体表面Zeta电位分析仪的软件安装简单可靠，易于操作，所有样品独立显示电导率对时间作图，数据并以.txt格式自动存档客户案例北京金隅集团山东大学中国建材所售后服务应用支持中心：在北京设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持，做到对用户的问题24小时即时响应。层次一： 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二：设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训，做到对用户的问题24小时即时响应。层次三：公司专家每年访问中国，帮助中国用户解决疑难问题。层次四：公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务，答疑解惑。 1.仪器的安装，调试:仪器到达用户使用现场后，由厂方从北京，上海或广州派出工程师进行安装，调试工作。2.仪器的验收: 安装调试完毕后，用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装，验收完成后，由卖方对用户人员进行现场培训，使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务：1.保质期为仪器验收之后12个月。2.在接到用户报修后，24小时响应；若确认仪器故障，48小时内工程师到现场进行维修。 3.公司将及时提供仪器软件的免费升级。分析报告

公司简介 美国分散技术公司（DTI）成立于 1996 年，专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI 开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta 电位、流变学、固体含量、孔隙率，电导率，包括 CMP 浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。DTI 享有 7 项美国专利，并在 ISO 参与领导组织超声法粒度分布国际标准和电声法测量 Zeta 电位国际标准的制定。 产品特点 DT-310电声法Zeta电位分析仪 Zeta电位仪：许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-310电声法Zeta电位分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的Dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。DT-310电声法Zeta电位分析仪 特点1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

ZetaProbe是一款易上手，操作简单，测量准确的Zeta 电位分析仪。对于高达60% v/v浓度的样品。也无需稀释或样品前处理即可直接测量，甚至对于浆糊、凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可用ZetaProbe直接进行测量。传统的测量方法要求进行稀释样品或进行其它处理，这一过程即费时又容易产生误差。ZetaProbe全自动Zeta 电位分析仪专利的多频电声技术（Multiple Frequency Electro-Acoustic）则可完全避免这些麻烦，可直接在样品原始状态下直接测量Zeta电位，允许样品浓度高达60% 体积浓度。ZetaProbe 仪器结构设计紧凑，具有内置自动滴定装置，多功能传感器及高度人性化操作软件，使Zeta 电位的测量变得如此的简单快速。全自动滴定装置可自动并快速的提供酸判断等电点（IEP）以及定量浓度滴定提供分散剂或絮凝剂的选择配方。另外ZetaProbe Zeta 电位分析仪可对粒度和双电层失真进行自动修正，这是其它仪器无法做到的。而且该仪器的操作软件易于使用，功能强大，非常适用于进行科研和工厂的质量控制。测量参数- Zeta电位- 动态迁移率- 电导率- pH 值- 温度- 等电点（IEP)CD公司提供了宽广的服务范围帮助您充分利用这种功能强大的新型测量设备，ZetaProbe和AcoustoSizer IIx 能够适用于工厂的优化控制，QA/QC，科研或学术机构的使用。主要应用领域 陶瓷 食用胶体 生物胶体 均化控制 油漆和油墨 乳胶 纸张涂层 催化剂和沸 煤浆 胶合剂 制药 研磨 颜料 矿物质加工 过滤/ 脱水 抛光复合物等 天然乳汁 黏土 湿磨/ 研磨 磷光体 矿物 表面涂层控制应用案例● 优化分散剂用量：在氧化铝悬浮液中加入高分子电解质DarvanC，发现Zeta 电位的数值与高分子电解质DarvanC 加入量以及pH 有关● 准确的等电点（IEP）测量：相同的等电点IEP 为6.9，而不是7.8，而且两个浓度不同的样品在不同PH 下的Zeta 电位值几乎相同。用ZetaProbe 滴定二氧化钛在0.1M 氯化钾溶液中的悬浮液样品，采用自动背景校正

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

NS-Zeta 电位分析仪产品介绍应粉体工业广大用户的颗粒材料表面修饰活化评价、乳液浆料稳定性预测和复杂制剂工艺配方的优化、矿物浮选及污水处理等需求，珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)颗粒表征技术的NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪基础上最新推出NS-Zeta 电位分析仪，能满足纳米至微米广阔范围内颗粒样品的Zeta电位的测试需求。NS-Zeta 电位分析仪采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，延长了样品池的使用寿命，数据随时间的一致性和电位及电位分布的准确性都得以明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-Zeta支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理Zeta电位的概念在颗粒表面，稳定化合物的电中性平衡被打破，一些电荷没有得到补偿，表现出颗粒表面的带电特性。这种电荷的正负和大小决定了颗粒表面离子和化学基团于悬液介质中吸附极性分子、离子或化学基团的能力，影响悬液分散特性。介质中的颗粒表面存在紧密吸附和动态吸附介质中带电基团或离子的结构，称作双电层。颗粒在介质中运动是以此包裹颗粒核心的双电层假想界面进行的，此滑动/剪切界面上的电位被称为Zeta电位。Zeta电位的概念图电泳光散射技术 NS-Zeta使用电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技术测量颗粒滑移层的Zeta电位。颗粒在人为施加的电场作用下做电泳运动，其电泳运动速率和Zeta电位直接相关，以亨利方程进行表述。NS-Zeta使用恒流模式下的快慢场混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到Zeta电位平均值和电位分布。电泳光散射技术可测量最大粒径至100μm左右的样品的Zeta电位 (取决于样品属性及制备) 。 NS-Zeta电泳光散射光路图等电点的概念由于Zeta电位是基于介质紧密和动态吸附的双电层结构之上的电势的测量，双电层结构中包含的来源于介质中的电荷就是一个显而易见的重要影响因素，通常pH的变化直接影响到介质中的电荷环境，较低pH的酸性环境，正电荷的离子更多，更多的正离子吸附于双电层中，使得颗粒Zeta电位向更高的正值方向迁移；同样的较高pH的碱性环境，随着负电荷离子的增多，Zeta电位向更高的负值方向迁移。在这个迁移过程中，Zeta电位处于0mV附近的浆料的pH值被称作等电点。在等电点时，因为没有相同电荷互相排斥的影响，样品最不稳定。Zeta电位随pH值变化的变化趋势用途 NS-Zeta电位分析仪是一款高性价比的纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器，适用于对电位及电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析。例如蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。*：NS-Zeta可以根据需要购买升级动态光散射技术的粒径测试功能模块。典型应用&bull 精细化工行业纳米材料、表活、低聚物等的开发和生产质控&bull 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 矿物堆浸及浮选&bull 钻井泥浆及陶瓷浆料&bull 电极浆料及助剂的稳定性表征&bull 涂覆材料稳定性能预测&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的使用&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数性能特点【先进的高信噪比光学设计】 NS-Zeta电位分析仪通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。【恒流模式的M3-PALS快慢场混合相位检测技术】 NS-Zeta融合马尔文的M3-PALS技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分布的信息。相比上一代产品，NS-Zeta能满足具有更高电导率的样品的Zeta电位和电泳迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。快慢场混合相位检测Zeta电位分布、相位、频移及Zeta电压和电流图【易使用、免维护的系统设计】 NS-Zeta采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的折叠毛细管样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。 【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-Zeta所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。【报告可自定义多种参数输出】 NS-Zeta具有完备的Zeta电位分析功能。可输出Zeta电位、电位分布、各电位峰的平均值和宽度等参数。【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-Zeta测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的Zeta电位和电位分布结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图 审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件迭代模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。 2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。电位测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含测试报告的质量评价、问题产生的原因、如何使用这些数据、如何改进这些数据等等。5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。典型测试结果1. NS-Zeta电位和电位分布的测量——ZTS1240电位标样2. 硅溶胶的Zeta电位及分布NS-Zeta具有良好的电位和电位分布数据的重现性。3. 表面活性剂吐温20的Zeta电位及分布NS-Zeta可以测试Zeta电位绝对值极低的胶束等颗粒样品，具有0电位附近的颗粒表征的识别性能，有利于识别对制剂稳定性有较大影响的因素。标配附件折叠毛细管样品池(DTS1070)可替换型，无污染使用扩散障碍法时，可实现最少样品量20μL的测试适用于水或乙醇作为分散介质的Zeta电位测试可使用标准化的微量无渗鲁尔接头，搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用恒流模式下可用于测试数百次低电导率样品可选配附件通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)最少样品量0.7mL可搭配12mm玻璃样品池(PCS1115)用于水性或非水性样品的测试便于多样品同时制样，加快测试流程 12mm玻璃样品池(PCS1115) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数的水性和非水性的介质的测试可搭配通用“插入式”样品池 (ZEN1002)进行Zeta电位的测试高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)适用于无法稀释或高浓度的水性样品的测试可搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用MPT-3自动滴定仪(ZSU1001) 最少样品量5mL滴定剂精度0.28μL适用于水性样品的测试可搭配折叠毛细管样品池(DTS1070)或高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)，根据预设的pH值序列进行自动滴定，并测试随pH值变化的Zeta电位变化趋势可测定等电点，用于评价分散体系的稳定性技术参数 【Zeta电位】Zeta 电位范围：无实际限制适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s测量原理：电泳光散射法(ELS)最高样品浓度：40% w/v (取决于样品及样品池)最小样品容积：20μL最高样品电导率：260mS/cm检测技术：快慢场混合相位分析(M3-PALS)，恒流模式【系统】激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。整机激光安全：I类检测角度： 13检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能温度控制范围：0 - 120 ℃温度控制最高精度：± 0.1 ℃【重量与尺寸】主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)主机净重：19 kg【运行环境】 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A功率：最大值100W，典型值45W推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上计算机接口： USB 2.0或更高推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版环境要求：温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝**

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

DT-300 电声法Zeta电位分析仪许多知名的科学家把声学应用到胶体体系中，我们常提及的名字：斯托克斯，瑞利，麦克斯韦，亨利，廷德尔，雷诺，德拜...... 通过声学和电声学手段会提供关于颗粒表征的三个重要领域的信息：粒径分布，流变学和电动学。DT-300 电声法Zeta电位分析仪1、用于水相、有机相（极性或非极性溶剂）悬浮液和乳液表征2、采用多频电声测量技术由超声探头（Zeta Probe）直接测量3、Zeta电位测量范围：无限制；低表面电荷可低至0.1mV4、原浓溶液测试，最小样品量低至 2ml5、同时测量动态迁移率和双电层厚度（Debye Length， 德拜长度）6、通过Access数据库进行数据管理7、可选自动滴定系统（DT-310）

显微电泳法Zeta电位分析仪特点1.传统测量原理：通过传统微电泳方法测量胶体颗粒的zeta 电位。与激光光散射法相比，没有黑盒子。2.通过激光暗场照明观察纳米颗粒：502的独特的超显微镜设计提供了一个高对比度的图像，即使是纳米粒子。依赖于颗粒对悬浮介质的相对折射率不同，可测量小至20nm的颗粒。3.在静止层观察颗粒：高水平的激光光学系统和高性能的CCD摄像头可以仅观察静止层的颗粒。其提供的高精度结果不受电渗流的影响。4.水平设置的长方形电泳池：水平放置的长方形电泳池提供了一个高度精确的结果。因为这样的布局几乎不存在由于池壁附近颗粒沉淀引起电渗流非对称化。显微电泳法Zeta电位分析仪原理－旋转棱镜技术 当光线通过一个直角棱镜，目标物体似乎移动了，因为当棱镜缓慢旋转时，光的轨迹偏离了原来的位置。502型的显微镜有一个与内置检流计结合的棱镜（旋转棱镜），其旋转速度和旋转方向棱镜均可以调节。在有格栅的电视监视器上观察粒子。当我们施加电场时，颗粒产生电泳运动。当我们使用旋转棱镜技术调节所观察到的粒子看上去静止不动时，颗粒的zeta电位值（摄氏20度，水系统）将通过数字显示出来。显微电泳法Zeta电位分析仪技术参数原理：1、用户调整旋转棱镜至静止图像。或用秒表测量的粒子的运动时间2、测量范围：± 100毫伏3、粒径适用范围：一般20nm～50μm，依赖于颗粒折射率和沉降状况4、样品量：8毫升5、光学系统： ● 光源：632.8 nm的氦氖激光器 ● 显微镜的放大倍率：×280 ● 电视显示器：CCD单色相机和8.4” 单色液晶显示器6、电泳池： ● 截面：1 ×10毫米 ● 材质：纯二氧化硅 ● 电极距离：4.88cm ● 电场强度：30 V / cm ● 阳极：钼 ● 阴极：钯 ● 电极隔室材质：聚甲醛

超声电声法Zeta电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据超声电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

?进口CM120型高碳含量分析仪 ●CM120型高碳含量分析仪的一般特点：1)可精确、轻松测定高碳产品中的总碳(TC)含量，通过自动燃烧、电位检测；2)应用包括：碳纤维、高弹纤维盘根、石墨、碳黑、煤炭、焦煤、污泥、硫磺、垃圾、地质等样品；3)可测各种高碳产品中的总碳TC含量。包括高温燃烧炉、高灵敏的CO2检测器。4)无须进行样品校正等复杂步骤，CM120能轻松处理浓度从(ppm级) 0~ 100%的固体或液体样品。坚固、精确，能适合大多数应用，能满足工业、研究、教育实验室；5)红外法测CO2的非常适合低绝对含量的CO2，且必须进行校正处理，水蒸汽对检测器的精度干扰也非常大,其他气体也易对CO2红外检测造成干扰。但我们的仪器采用电位法，无须校正，精确测碳的绝对值，碳的绝对含量可达10,000ug或更高。6)操作方便，界面友好，操作人员只须简单培训即可操作。 ●CM120型高碳含量分析仪的仪器组成：1)CM5015 CO2 分析仪：无须用户标定，宽的线性动态范围；分辨率为0.01 ug绝对值碳(1ug=1ppm相对值)；CO2检测范围：0 ~ 100%；绝对值范围为 1~ 10,000ug碳；用户可选择显示单位；存储卡可用于保存数据； 2)CM5300水平燃烧炉和CM5322燃烧配件：可编程，加热到1100℃；预燃烧清洗器能去除氧载气中的干扰物；后燃烧清洗器能去除样品在燃烧中产生的干扰物；样品装运可用带柄的铂或瓷船； ●仪器功能：CM120型总碳分析仪的主要优点是采用电位检测方法，不需要任何校正操作。采用法拉第原理，CM5015 CO2分析仪能自动测出样品氧化而产生的全部CO2含量。无须用户标定，可线性检测从1~10,000 ug的碳含量。采取该100%的有效电位处理，标准物质的相对误差正常为0.2%或更好。对更低的浓度，绝对误差一般为约1ug 碳；此外，它还可用于分析含颗粒的液体、固体或固液混合的污泥、垃圾等样品。根据样品的种类不同，氧化时间会有变化，但最普遍的分析时间为5~7分钟； ●CM120型高碳含量分析仪的操作原理： 1)总碳(TC)测定：样品经称重后，用锡船包好，锡船被放入石英勺上，被然后送入高温氧气燃烧室（一般950℃）。在燃烧室中所有样品中的碳被快速氧化成CO2。干扰反应的产物（如硫氧化物，卤化物，水和氮氧化物）通过后燃烧清洗器而去除，剩下的CO2被送入CM5015 CO2分析仪，在这里进行自动电位滴定测量； ●数据处理：最多50个样品的名称、重量、容量或面积参数能输入CM5015，以计算最终结果。用户可选择分析程序并数字显示。完成一系列样品测试后，可打印报告，可总结分析50个样品。数据可储存在存储卡以用于数据转移； ●订购信息：1) 进口CM120型高碳含量分析仪。 ?

美国MAS ZetaAPS电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

仪器简介：仪器名称：Zeta电位分析仪 研究对象：纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途：测量材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，研究材料表面性能。 主要应用：材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中，固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息，并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位： 范围：所用测量原理决定没有限制再现性：+/-0.5 mV 等电点： 再现性：+/-0.1 pH 平板固体： 最小 35 mm x 15 mm，厚度20 mm， 20 mm x 10 mm，厚度2 mm， 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维： 最少重量 100 mg 粉末： 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量： Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析： 适用于实际样品，无需使用示踪颗粒 主要特点：测量原理 ： 在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP， Zeta 电位表示为： 固体表面特性，粘性，介电常数，电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时，需要说明电解质溶液的类型，浓度，pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池，由此产生一个压差，其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压，这个流动电压/ 流动电流（可选择）由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率，温度及pH值。

pH/ORP控制器专为水处理和工业过程控制而设计，搭配innoSens pH/ORP电极使用，可以测量水样的pH,氧化还原电位和温度，适用于化工、脱硫、电镀、市政等行业水质监测。测量参数：●pH/ORP●温度 应用：污水厂、自来水、制程用水、生物发酵、冷却塔、反渗透、电镀、脱硫、化工、灌溉、游泳池、地表水、游泳池、水产养殖、海水 产品特点：●大屏背光液晶显示，全天候清楚易读● 经济实用，具有4-20mA输出● 特氟龙端子，超强抗干扰● PT1000自动温度补偿功能● 宽电源设计，90-260VAC● IP65防护等级，面板/管道安装PH分析仪 PH在线分析仪 自来水PH分析仪 脱硫PH分析仪 污水PH分析仪 高温PH分析仪 电镀PH分析仪 废水PH在线检测仪 氯碱化工PH检测仪 高温灭菌在线PH监测仪纯水专用PH分析仪 自来水PH在线分析仪 泳池PH在线分析仪 污水/废水PH在线分析仪 酸碱度分析仪 脱硫pH分析仪、脱硫pH计、在线脱硫pH检测仪制药用水在线硬度分析仪、钢铁锅炉水硬度分析仪、锅炉用水硬度在线分析仪、软化水硬度分析仪、余热锅炉水硬度分析仪、电厂在线硬度分析仪、换热站在线硬度分析仪、锅炉给水在线硬度分析仪、进口在线硬度分析仪、经济款在线硬度分析仪在线余氯分析仪、管网在线余氯检测仪、自来水余氯在线监测仪、在线水中臭氧分析仪

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪产品介绍：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90Z Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型仪器中集成了三种测试技术：动态光散射技术NS-90Z Plus 纳米粒度及电位分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90Z Plus动态光散射光路图电泳光散射技术 NS-90Z Plus使用电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技术测量颗粒滑移层的Zeta电位。颗粒在人为施加的电场作用下做电泳运动，其电泳运动速率和Zeta电位直接相关，以亨利方程进行表述。NS-90Z Plus使用恒流模式下的快慢场混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到Zeta电位平均值和电位分布曲线。电泳光散射技术可测量最大粒径至100μm左右的样品的Zeta电位 (取决于样品属性及制备) 。Zeta电位的概念图NS-90Z Plus电泳光散射光路图静态光散射技术 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。NS-90Z Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量用途： NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是一款高性价比的纳米颗粒粒径和纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器，适用于对粒度和电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散和稳定性表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的使用&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一台紧凑仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90Z Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90Z Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90Z Plus具有完备的纳米粒度和Zeta电位分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。可输出Zeta电位、电位分布等参数。可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【恒流模式的M3-PALS快慢场混合相位检测技术】 NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科的M3-PALS技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分布的信息。相比上一代产品，NS-90Z Plus能满足具有更高电导率的样品的Zeta电位和电泳迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。快慢场混合相位检测Zeta电位分布、相位、频移及电压和电流图【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90Z Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒度、Zeta电位和电位分布结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件迭代 开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。电位测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含测试报告的质量评价、问题产生的原因、如何使用这些数据、如何改进这些数据等等。5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90Z Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm)2. NS-90Z Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试**：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90Z Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品4. NS-90Z Plus电位和电位分布的测量——ZTS1240电位标样 可用于粒径测试 可用于Zeta电位测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试可搭配可选的通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)用于Zeta电位测试折叠毛细管样品池(DTS1070)可替换型，无污染使用扩散障碍法时，可实现最少样品量20μL的测试适用于水或乙醇作为分散介质的Zeta电位测试可使用标准化的微量无渗鲁尔接头，搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用恒流模式下可用于测试数百次低电导率样品12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)最少样品量0.7mL可搭配12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012)用于水性样品的测试可搭配12mm玻璃样品池(PCS1115)用于水性或非水性样品的测试便于多样品同时制样，加快测试流程高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)适用于无法稀释或高浓度的水性样品的测试可搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用技术参数：【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【Zeta电位】9. Zeta 电位范围：无实际限制10. 适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)11. 最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s12. 测量原理：电泳光散射法(ELS)13. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)14. 最小样品容积：20μL15. 最高样品电导率：260mS/cm16. 检测技术：快慢场混合模式相位分析(M3-PALS)，恒流模式【系统】17. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。18. 整机激光安全：I类19. 检测角度： 90，1320. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm21. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围22. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)23. 温度控制范围：0 - 120 ℃24. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃25. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】26. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)27. 主机净重：19 kg【运行环境】28. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A29. 功率：最大值100W，典型值45W30. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上31. 计算机接口： USB 2.0或更高32. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版33. 环境要求：温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。