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便携射线

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便携射线相关的论坛

  • 【求助】实验室便携式X射线仪器

    想求购实验室便携式X射线仪器,用于X射线对动物的毒性作用研究。要求:仪器有剂量率,能够设定一定剂量的X射线。如有,请联系我。或者有同行的朋友告诉我下,你们实验室用的什么仪器。谢谢。

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • [求助]有没有使用便携式X射线荧光光谱仪的同行?

    领导安排我调研便携式X射线荧光光谱仪的情况,就是手持式、象吹风机的那一种(目的是购买),本人无此方面的经验,希望有这方面使用经验的同志能给些建议啊,最好是厂家或者最终用户能给出宝贵的使用经验,谢谢。

  • 便携式X 射线衍射录井技术在江汉地区的应用

    便携式X 射线衍射录井技术在江汉地区的应用

    近年来,由于石油钻井新工艺技术如PDC 钻头的应用,由井底返出的岩屑十分细碎,甚至成粉末状,使得多种不同的岩屑常常难于辨识,同时随着老油区勘探程度高,构造复杂等特点常常有一些复杂岩屑难以快速识别。此外,近几年页岩油气逐渐成为研究的热点,页岩的矿物成分十分复杂,矿物组成对页岩的岩石力学性质、储层特性及气的吸附能力均有一定影响。有机质和脆性物质含量高的页岩,脆性较强,容易在外力的作用下形成裂缝,有利于天然油气的渗流。页岩的矿物组成在一定程度上影响着裂缝的发育程度,从而影响页岩的产能。录井技术作为油气勘探开发中最基本的技术,常规的录井技术已不能满足页岩油气等的需求,需针对特殊钻井工艺条件下油气藏的特点,研究开发配套的综合录井技术,准确进行复杂情况下录井的综合评价。针对这些问题,江汉录井引进了便携式X 射线衍射仪,再结合其它录井技术,开展了复杂情况下岩性的快速识别,同时对页岩元素及矿物检测,定性、定量分析页岩中矿物成分与物质含量,均取得了良好的效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/05/201605161447_593521_2840658_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/05/201605161447_593520_2840658_3.bmp

  • 【原创】能量色散X射线荧光光谱(电源)

    能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪,分别率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器,它们不须要液氮冷却。近年来,采取电致冷的半导体探测器,高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪  非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来,而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰,因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2,则介质1相关于介质2为光密介质,介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线,个别固体与空气相比都是光疏介质。所以,假如介质1是空气,那么α1α2(图2。20右图),即折射线会倾向界面。假如α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时,界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中,这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征:剖析的元素规模广,从4Be到92U均可测定;   荧光X射线谱线简朴,互相搅扰少,样品不必分别,剖析方法对比简便;   剖析浓度规模较宽,从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差。待续。。。。。非色散?不是很理解。楼主,你有示意图来介绍一下吗。

  • 关于X射线荧光光谱仪的详细介绍

    关于X射线荧光光谱仪的详细介绍: X射线荧光光谱仪分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;  X射线荧光光谱仪简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便,分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差,分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。  X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。

  • 【原创大赛】便携式X射线荧光光谱仪测定不锈钢样品中的常见金属元素

    便携式X射线荧光光谱仪测定不锈钢样品中的常见金属元素吴敏,1 王俊鹏 2(1.江苏天瑞仪器股份有限公司,江苏 昆山 215300)摘 要:由于不同型号的不锈钢具有不同的抗腐蚀能力及其它物理特性,为保证在不同环境下使用合适性能的不锈钢产品,需要对不锈钢进行成分分析。本文采用便携式X荧光光谱分析仪,利用经验系数法建立了不锈钢中常见的Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Mo九个元素的定量分析方法。实验证明,使用便携式能量色散X射线荧光光谱仪对不锈钢中个主要元素进行含量分析并对样品牌号好进行快速分析是一种对样品快速分析的测试方法,值得在实际分析中推广。关键词:便携式X荧光光谱仪;经验系数法;不锈钢样品;Portable X-ray Fluorescence Spectrometer Determination of the Common Metallic Elements in Steel SamplesWU Min1 WANG JunPeng1(1.Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd., Kunshan, Jiangsu 215347,China) Abstract:Different types of stainless steel with corrosion resistance and other physical characteristics, in order to ensure appropriate performance of stainless steelproducts used in different contexts, the need for stainless steel components analysis.Using portable X-ray fluorescence spectrometer, using the empirical coefficient method of stainless steel, Ti, V and Cr, Mn and Fe, Co., Ni and Cu, Mo nine elementsof quantitative analysis methods. The experiments show that the use of portableenergy dispersive X-ray fluorescence spectrometer on the main elements ofstainless steel content of the sample grades and good conduct rapid analysis of arapid sample analysis test method, and worthy of promotion in the actual analysis.Key words: Portable X-ray fluorescence spectrometer; empirical coefficient method;stainless steel samples;

  • 【资料】Proto X射线衍射残余应力分析系统依据的原理

    Proto X射线衍射残余应力分析系统依据的原理是晶体物质晶面间距与入射波长和波峰角衍射之间存在着以下定量关系,即布拉格定律: 2d sinθ = λ。 其中 d 为晶体的晶面间距,λ为入射X射线波长,θ为最大波峰衍射角。当晶体的晶面间距在受应力σ发生变化时,由测角仪测量θ的变化,就可以得到晶面间距变化或应变Δd,继而由物质模量得到物体所受应力。Proto iXRD——便携式残余应力分析系统是世界上最小、最轻和最快的x射线衍射应力分析系统。作为测试残余应力特性领域的先锋,Proto开发了作为该领域内经典的iXRD。 iXRD有着模块化的软件,界面友好、简单,容易操作。内置应用程序,能被连接和同步运行,允许连接四个iXRD同时运行。另外iXRD-COMBO 实验室/便携式综合应力分析系统。既可作为实验室用又可在野外用,使iXRD更具灵活性。iXRD-COMBO联合了实验室系统的便利、安全和iXRD的多种功能。世界上没有其他象iXRD-COMBO的系统。X射线衍射残余应力分析系统可用于测量残余应力、外加应力、静载应力、总应力、残余奥氏体。

  • 【资料】 X射线荧光分析野外工作方法和应用

    无论国内外,X射线荧光分析方法最先得到重视和应用的都是地质行业。这主要是因为野外工作环境比较恶劣的地质勘查和矿产资源评价工作,需要一种轻便、机动而又能及时取得元素成分和含量数据的手段。X射线荧光分析方法基本满足了这一要求。因此,X射线荧光分析方法的研究和推广应用受到第一线地质工作者的关注。从20世纪70年代开始,便携式X射线荧光仪在地质行业就得到较为广泛的应用,并取得很好的成果。 使用便携式X射线荧光仪,在野外一般不需要特别加工样品就能直接对岩石露头、探槽、浅井、剥土、采矿工作面、刻槽取样线、钻孔岩心等地质工程取样点直接测量目标元素的X射线荧光强度,对目标元素进行定性、定量或半定量分析,从而及时发现和验证异常,评定岩矿品位、矿化地段、矿层厚度,划分矿化异常与非异常的界线、划分矿区与非矿区的界线,为进一步指导找矿勘探和矿产的资源评价提供有力的支撑资料。 便携式X射线荧光仪进行野外找矿方法可以分为直接找矿和间接找矿。所谓直接找矿就是使用便携式X射线荧光仪在野外现场直接测量目标元素(目标矿种)的X射线荧光强度,来确定目标元素的矿化异常的方法。所谓间接找矿就是因为受到X射线荧光仪自身探测线和激发源的能量所影响,不能对目标元素直接测量,而是通过测量与目标元素有共生关系的其他元素或者元素组合的X射线荧光强度来间接寻找目标元素(目标矿种)的方法。例如:我们最常用的X射线荧光找金矿方法,由于金元素的克拉克值丰度远远小于X射线荧光仪自身探测线,加之金元素的K系特征X射线Kα1的能量为68.79kev,而我们目前使用的激发源的能量-( Pu能量为11.6KeV--21.7KeV, Am能量为59.5KeV和26.4KeV)远小于68.79kev,它不能激发金元素的K系特征X射线。所以我们只能根据金元素在元素周期表上属于IB族,在这一族中铜、银。按其地球化学特性分类,金属于亲铜元素组和亲银元素组。相应的元素有铜、锌、铅、砷、硒、铋、汞、银、锡、锑、碲、镉、铟等。由于金与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近,在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在,与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起。在金矿床的地球化学晕中,基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现。所以,可以将它们作为勘察金矿床的良好指示。我们可以单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征X射线强度来矿化圈定异常,从而达到间接找寻金矿床的目的。有关便用携式X射线荧光仪间接找寻金矿床的应用实例在相关文献中也多有报道。 近年来,随着测量技术和研究水平的不断提高,人们已经注意和初步掌握了利用元素共生关系和共生元素含量比值的变化规律。对野外X射线荧光测量结果的利用不但可以根据不同元素的共生关系来圈定矿化异常,而且可以根据多元素之间的比例关系及其变化特点,结合其他地质条件来判断矿化异常的在平面和剖面范围内的变化趋势,来提高事半功倍的野外找矿效果。要完成这些任务就需要X射线荧光分析工作者、物探工作者和地质工作者的相互结合和共同努力,才能使X射线荧光分析方法的应用和研究水平达到一个新的高度。 野外工作方法 1.在进行野外现场X射线荧光分析工作之前,首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解(包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等等)。在此基础上,再根据地质学基础理论知识,并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑,来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。 2.仪器工作性能检查和工作状态的调节荧光仪工作性能的好坏,将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前,必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常。并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作(完成各种目标元素微分谱的测量、并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等)。 3.工作区测网的布置 与其他物化探方法一样,X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点,一般都要求加密测网。按常用的计算方法,以成图比例尺分母的1/100(单位是米)为线距的基础上再加密一倍。例如作1 :10000的测量,一般线距为100米,而X射线荧光方法取线距为50米。点距在外围找矿时取5米,异常点加密到1米。详查工作取线距5米—10米,点距0.2米—0.5米.在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时,常采用加密测量,取点距5-10厘米。必要时作多线测量,取线距10厘米。类似于刻槽取样。 具体的测网密度布置,在不同的地质找矿、地质勘探阶段,在不同地区,不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。 4.测点上X射线荧光的测量工作 为了保证测量数据的可靠性,所选测点应具有一定的代表性,在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外。X射线荧光测量方法有两种:一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量,但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理,保证测点表面是新鲜的和较为平整的。以保证整个测量过程中探测器的源样距的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具,采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后,将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。 5.测量数据的整理和相应图件的编制 为了保证测量数据的精确度和准确度,减少统计误差带来的影响。和其他物化探分析方法、放射性测量方法一样必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差,保证数据的可信度。提高地质异常解释评价的质量。 根据不同的工作目的,和其他物化探方法、放射性测量方法一样,X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件。如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等等。野外X射线荧光测量数据的分析和处理方法根据野外地质找矿工作的不同勘查阶段的应用可有所不同,使用便携式X射线荧光仪,基本上可以完成元素的定性、半定量、准定量工作。 X射线荧光分析方法是一种轻便、快速、低成本的分析方法。它可以现场、短期内取得大量分析数据,其成果也具有更好的代表性。虽然测量数据有一定的误差(受野外现场测量条件的影响),只能达到半定量、近似定量(准定量)分析的水平,但是大量测量数据及其分布特点却能真实地反映测量对象在平面或剖面的图像和变化细节,结合其它工作方法进行综合分析,能大幅度提高研究工作的速度和加快地质勘查工作的进程发挥更好的作用。

  • 有没有使用X射线个人计量仪的前辈同仁?

    各位前辈同仁,大家平常使用XRF的时候有没有使用X射线个人计量计的啊?有的话哪种型号的会比较好一点呢?要方便携带,可以累积当量,可以报警就可以了。有使用过比较好的仁兄推荐一下哈,谢谢!

  • 【求购】采购氧气检测仪器、射线测定仪器

    我们单位近期采购如下仪器:1、空气中氧气含量检测0-100%氧气或0-30%氧气,便携式一台,5万元以内。2、便携式β射线检测仪,测定环境渗漏率,一台,4万元以内。3、在线式β射线检测仪,测定环境渗漏率,每台5万元以内。明天需上报,急!急!急!!![em33]

  • 【讨论】X射线仪器安全检查

    X射线安全检查仪国家标准规范21日起实施  从福建省计量院获悉,由福建省计量院、中国测试技术研究院及上海计量测试技术研究院联合起草的《X射线安全检查仪校准规范》国家校准规范,将于4月21日起正式实施。  据了解,X射线安全检查仪广泛应用于海关、通商口岸对违禁危险物品的检查,为保障旅客人身安全起到重要作用。X射线安全检查仪校准规范的编写以及X射线安全检查设备校准设备的研制对我国行包安全检测仪项目的校准工作提供了技术依据和标准设备,填补了我国行包安全检测仪校准的空白,有利于提升我国海关、通商口岸、机场等安检服务的质量。 由此我想到,那么我们身边的X射线仪器虽然保护措施做的都比较到位,辐射量是很少的,那么仪器出厂前,都有相关的安全检查吗,有相关的国家标准规范吗?

  • X射线衍射

    立体化合物结构确证时,经常会用到X射线衍射,但看到有的地方说单晶X射线衍射法,有的又说粉末X射线衍射法,这两者有区别吗?分别用于什么情况呢?

  • X射线的防护

    X射线对人体组织能造成伤害。人体受X射线辐射损伤的程度,与受辐射的量(强度和面积)和部位有关,眼睛和头部较易受伤害。   衍射分析用的X射线(属“软”X射线)比医用X射线(属“硬”X射线)的波长长,穿透弱,吸收强,故危害更大。所以,每个实验人员都必须牢记:对X射线“要注意防护!”。人体受超剂量的X射线照射,轻则烧伤,重则造成放射病乃至死亡。因此,一定要避免受到直射X射线束的直接照射,对散射线也需加以防护,也就是说,在仪器工作时对其初级X射线(直射线束)和次级X射线(散射X射线)都要警惕。前者是从X射线焦点发出的直射X射线,强度高,它通常只存在于X射线分析装置中限定的方向中。散射X射线的强度虽然比直射X射线的强度小几个数量级,但在直射X射线行程附近的空间都会有散射X射线,所以直射X射线束的光路必需用重金属板完全屏蔽起来,即使小于1mm的小缝隙,也会有X射线漏出。  防护X射线可以用各种铅的或含铅的制品(如铅板、铅玻璃、铅橡胶板等)或含重金属元素的制品,如含高量锡的防辐射有机玻璃等。  按照X射线防护的规定,以下的要求是必须遵守的:  1. 每一个使用X射线的单位须向卫生防疫主管部申请办理“放射性工作许可证”和“放射性工作人员证”;负责人需经过资格审查。  2. X射线装置防护罩的泄漏必须符合防护标准的限制:在距机壳表面外5cm处的任何位置,射线的空气吸收剂量率须小于2.5μGy/小时(Gy -戈瑞,吸收剂量单位)。在使用X射线装置的地方,要有明确的警示标记,禁止无关人员进入。  3. X射线操作者要使用防护用具。  4. X射线操作者要具备射线防护知识,要定期接受射线职业健康检查,特别注意眼、皮肤、指甲和血象的检查,检查记录要建档保存。  5. X射线操作者可允许的被辐照剂量当量定为一年不超过5雷姆或三个月不超过3雷姆(考虑到全身被辐照的最坏情况而作的估算)。  请参照以下标准:    GB4792 — 84 《放射卫生防护基本标准》    GB8703 — 88 《辐射防护规定》    GWF01 — 88 《放射工作人员健康管理规定》

  • 【转帖】X射线衍射原理

    特征X射线及其衍射 X射线是一种波长很短(约为20~0.06┱)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用高能电子束轰击金属“靶”材产生X射线,它具有与靶中元素相对应的特定波长,称为特征(或标识)X射线。如铜靶材对应的X射线的波长大约为1.5406埃。考虑到X射线的波长和晶体内部原子面间的距离相近,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即当一束 X射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析在照相底片上得到的衍射花样,便可确定晶体结构。这一预见随即为实验所验证。1913年英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功地测定了NaCl、KCl等的晶体结构,并提出了作为晶体衍射基础的著名公式──布拉格方程: 2d sinθ=nλ式中λ为X射线的波长,n为任何正整数。   当X射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时(图1),在符合上式的条件下,将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线),采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中,从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后,利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型 根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是X射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(Debye—Scherrer)法(图2a)的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中(图2b)所用单晶样品保持固定不变动(即θ不变),以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体,则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长,从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。  X射线衍射在金属学中的应用 X射线衍射现象发现后,很快被用于研究金属和合金的晶体结构,出现了许多具有重大意义的结果。如韦斯特格伦(A.Westgren)(1922年)证明α、β和δ铁都是立方结构,β-Fe并不是一种新相 而铁中的α─→γ转变实质上是由体心立方晶体转变为面心立方晶体,从而最终否定了β-Fe硬化理论。随后,在用X射线测定众多金属和合金的晶体结构的同时,在相图测定以及在固态相变和范性形变研究等领域中均取得了丰硕的成果。如对超点阵结构的发现,推动了对合金中有序无序转变的研究,对马氏体相变晶体学的测定,确定了马氏体和奥氏体的取向关系;对铝铜合金脱溶的研究等等。目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。在金属中的主要应用有以下方面:   物相分析 是 X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。   精密测定点阵参数 常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化;当达到溶解限后,溶质的继续增加引起新相的析出,不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数,从而确定固溶体类型;还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。   取向分析 包括测定单晶取向和多晶的结构(见择优取向)。测定硅钢片的取向就是一例。另外,为研究金属的范性形变过程,如孪生、滑移、滑移面的转动等,也与取向的测定有关。   晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。在形变和热处理过程中这两者有明显变化,它直接影响材料的性能。   宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小,直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化,可计算出残留应力的大小和方向。   对晶体结构不完整性的研究 包括对层错、位错、原子静态或动态地偏离平衡位置,短程有序,原子偏聚等方面的研究(见晶体缺陷)。   合金相变 包括脱溶、有序无序转变、母相新相的晶体学关系,等等。   结构分析 对新发现的合金相进行测定,确定点阵类型、点阵参数、对称性、原子位置等晶体学数据。   液态金属和非晶态金属 研究非晶态金属和液态金属结构,如测定近程序参量、配位数等。   特殊状态下的分析 在高温、低温和瞬时的动态分析。   此外,小角度散射用于研究电子浓度不均匀区的形状和大小,X射线形貌术用于研究近完整晶体中的缺陷如位错线等,也得到了重视。   X射线分析的新发展 金属X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成金属研究和材料测试的常规方法。早期多用照相法,这种方法费时较长,强度测量的精确度低。50年代初问世的计数器衍射仪法具有快速、强度测量准确,并可配备计算机控制等优点,已经得到广泛的应用。但使用单色器的照相法在微量样品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。从70年代以来,随着高强度X射线源(包括超高强度的旋转阳极X射线发生器、电子同步加速辐射,高压脉冲X射线源)和高灵敏度探测器的出现以及电子计算机分析的应用,使金属 X射线学获得新的推动力。这些新技术的结合,不仅大大加快分析速度,提高精度,而且可以进行瞬时的动态观察以及对更为微弱或精细效应的研究。 爱心捐助

  • X射线衍射仪!

    请教各位大侠,粉末X射线衍射仪,单晶X射线衍射仪和多晶X射线衍射仪在结构和应用性能有什么区别啊?

  • 求推荐进口X射线荧光光谱仪

    公司想买台进口的X射线荧光光谱仪,便携式的和台式的都可以推荐。公司主要是环保行业,做危险污染物的处置,购买的设备主要用于测试: 1.水处理车间的生化进水、生化出水、调节池的水,主要是重金属,如As Hg Cr Pb Zn Ni Cd Cu 六价铬等;2.填埋场的固化块或者外来样的等浸出毒性指标:As Hg Cr Pb Zn Ni Cd Cu 六价铬 硫 氯离子等。请各位大侠知道的给予推荐。谢谢大家!

  • X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪有什么不同?

    X射线衍射仪简称XRD( X-ray diffractometer ),特征X射线及其衍射X射线是一种波长(0.06-20nm)很短的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线,它具有靶中元素相对应的特定波长,称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence ),人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为9号元素 (F)到92号元素(U)。

  • X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280433_341844_1601823_3.jpg现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280434_341845_1601823_3.jpg两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。          X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。   X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。

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