射线法颗粒定仪

产品简介： H6型β射线颗粒物监测仪采用β射线，利用低能量C14作为β射线源，根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，即而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适用用于测量环境空气中的颗粒物浓度，如PM10、PM2.5、TSP等。仪器整体上设计合理，美观大方，使用方便，易于维护。主要特点：• 模块化设计，故障率低，便于维护，扩展性强；• 智能化设计，具备故障报警以及故障自诊断功能；• 同时对PM10和PM2.5浓度进行实时测量；• 采用β射线吸收法直接测量颗粒物质量浓度，不受季节变化的影响，无需修正，全天候实时提供精确数据；• 仪器采用采样和检测同位置检测方式，从根本上解决了移动纸带所带来的测量误差；• 采用DHS（动态加热系统）加热采样入口气体并具有动态温湿度补偿功能，符合国家标准，可以保证对半挥发性硝酸盐和有机物的精确测量；• 采用进口检测器，测量稳定，安全可靠，数据准确；• 采样数据自动记忆，停电后自动保存当前数据，来电后仪器能够继续采样；• 支持多种方式的数据远程传输，包括：WIFI、ZigBee、3G、4G、ADSL、光纤等；• 不锈钢材质，能够适应全天候复杂环境，具备电子兼容设计，以及防尘、防水设计；• 海量的数据存储能力，可存储长达365天的数据量。主要资质：CPA计量器具型式批准证书CCEP环境保护产品认证证书创新点： H6型双通道β 射线颗粒物监测仪采用β 射线，利用低能量C14作为β 射线源，根据β 射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，即而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适用用于测量环境空气中的颗粒物浓度，如PM10、PM2.5、TSP等。仪器整体上设计合理，美观大方，使用方便，易于维护。 双通道β 射线颗粒物监测

报价仅为参考，实际价格以电话咨询为准H6型 β射线颗粒物监测仪（机柜型）产品简介： H6型β射线颗粒物监测仪采用β射线，利用低能量C14作为β射线源，根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，即而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适用用于测量环境空气中的颗粒物浓度，如PM10、PM2.5（选配不同的采样切割头）等。仪器整体上设计合理，美观大方，使用方便，易于维护。主要特点：• 模块化设计，故障率低，便于维护，扩展性强；• 智能化设计，具备故障报警以及故障自诊断功能；• 可选配不同的切割器头对PM10和PM2.5浓度进行实时测量；• 采用β射线吸收法直接测量颗粒物质量浓度，不受季节变化的影响，无需修正，全天候实时提供精确数据；• 仪器采用采样和检测同位置检测方式，从根本上解决了移动纸带所带来的测量误差；• 采用DHS（动态加热系统）加热采样入口气体并具有动态温湿度补偿功能，符合国家标准，可以保证对半挥发性硝酸盐和有机物的精确测量；• 采用进口检测器，测量稳定，安全可靠，数据准确；• 采样数据自动记忆，停电后自动保存当前数据，来电后仪器能够继续采样；• 支持多种方式的数据远程传输，包括：WIFI、ZigBee、3G、4G、ADSL、光纤等；• 不锈钢材质，能够适应全天候复杂环境，具备电子兼容设计；• 海量的数据存储能力，可存储长达365天的数据量。主要资质：CPA计量器具型式批准证书CCEP环境保护产品认证证书创新点：H6型β 射线颗粒物监测仪采用β 射线，利用低能量C14作为β 射线源，根据β 射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，即而求得空气中的颗粒物浓度。广泛适用用于测量环境空气中的颗粒物浓度，如PM10、PM2.5（选配不同的采样切割头）等。仪器整体上设计合理，美观大方，使用方便，易于维护。 青岛和诚H6型 β 射线颗粒物监测仪（机柜型）

近几十年来最伟大的技术成就离不开纳米材料。它们为医学、可再生能源、化妆品、建筑材料、电子设备等领域的突破性改进奠定了基础。纳米材料具有形成新材料的潜力，因此人们对它们的性能和相互作用有很大的研究兴趣。各种纳米结构材料在现代材料中起着至关重要的作用。然而，这种体系通常与较大的结构共存，仅分析纳米级或微米级并不能完全表征样品。小角X射线散射 (SAXS）是表征纳米结构材料的标准方法之一，因为其广泛的适用性和原位测试的可能性。“经典”小角散射被限制在大约300 nm的最大尺寸范围内，当涉及到大尺寸范围的体系时，限制了SAXS的使用。USAXS (ultra-small angle X-ray scattering) 可以通过测量极小的散射角，将X射线散射实验的可探测尺度范围扩展到微米范围。通过这种方式，可以在单个装置中测量微米和纳米尺度，使得SAXS成为纳米颗粒分析中最通用的表征方法之一。本文我们展示了USAXS测量二氧化硅微球，作为该方法概念的证明。使用Anton Paar SAXSpoint 5.0小角X射线散射仪配备了可选的USAXS模块。安装这个USAXS模块后，X射线散射实验的最小q值 (qmin) 可达0.0012 nm-1(0.00012 Å)。这对应的实空间颗粒尺寸可达2.6 µm。SAXSpoint 5.0这种扩展的超小q范围可通过使用所谓的Bonse-Hart设置来实现，其中两块对齐和精确切割出Si 220通道切割组件。在测量中，主通道切口（位于样品前）用于进一步准直光束并进一步减小光束发散。次级CC用作分析晶体，以极小的角度增量扫描散射光子，以记录USAXS曲线。图 1: 安装在SAXSpoint 5.0系统内的 Anton Paar USAXS 模块在实验中，通道切割组件可以移入和移出光束。这允许测量大q范围内连续散射曲线（高达四十多），涵盖USAXS、SAXS和WAXS区域。SAXSpoint的USAXS模块是集成到SAXSdrive数据采集软件中并可实现自动测量实验为了证明Anton Paar USAXS模块的潜力，购买了一种经验证直径为 (1.53 ± 0.02) µm颗粒的水溶液。对该实验，系统配备了Primux 100 Cu Kα( λ = 0.154 nm)的微焦斑X射线管，Anton Paar USAXS 模块，和Dectris的EIGER2R 1M探测器。USAXS数据是在透射模式下采集q范围从0.0012 nm-1到0.04 nm-1。 为了防止测量过程中出现沉淀Primux 100 Cu Kα( λ = 0.154 nm)，测量是在连续流动的情况下进行的，同时不断搅拌储液罐中的溶液。图 2: USAXS测量数据和1.53 µm特定直径的二氧化硅颗粒分散体的拟合数据。使用简单的IFT（反傅里叶变换）拟合来分析数据。图2显示了IFT拟合曲线与数据点。可以看出，拟合完美的与测量数据吻合。图 3: 拟合的 p(r) 曲线。根据对称的 p(r) 曲线，计算出球的直径为1.515 µm。图3显示通过拟合得到的相应的对距离分布函数（PDDF或p(r)），用于拟合的最大尺寸为1600 nm。PDDF的对称形状证实了是球形颗粒 ，通过p(r) 计算均匀球体的直径，得出Dmax 为1.515 µm。这与标称粒径1.530 µm 完全一致。由于不需要多分散性来模拟数据，因此也就证明了样品的单分散性。结论这个研究可以证明，在带有微焦斑X射线管的SAXSpoint 5.0 系统上，qmin 为0.0012 nm-1 的超小角X射线散射是可行的。这使得USAXS也可以在实验室使用，减少了对同步加速器线站实验的需求。成功测量和评估了标称直径为1.53 µm的SiO2球体的数据。散射数据的评估结果是颗粒直径为1.515 µm，与标称粒径非常一致。此外，还证明了样品的单分散性。安东帕中国总部销售热线：+86 4008202259售后热线：+86 4008203230官网：www.anton-paar.cn在线商城：shop.anton-paar.cn

仪器信息网讯 2013年10月23日-26日，第十五届BCEIA举行。会议期间帕纳科展示了最新推出的ScatterX78 小角/广角附件及Epsilon 1能量色散型X射线荧光光谱仪。仪器信息网编辑特别采访了帕纳科中国区经理薛石雷，请他介绍了这两款新产品的最新特点。 帕纳科中国区经理薛石雷 　　X射线小角散射是研究纳米粒子的大小、形状及分布的重要工具。与激光粒度仪测试纳米粒度相比，X射线小角散射仪测定结果为一次颗粒的粒度分布，即使纳米颗粒不能很好的分散形成团聚，测试结果也不会受到影响。 ScatterX78小角/广角附件 　　薛石雷介绍说：&ldquo ScatterX78小角/广角附件虽然是一个附件，但是也可以当做一台仪器来看。它可以配置于Empyrean锐影多功能衍射仪系统上，完成过去一台专用的小角散射仪能够完成的所有工作内容，能够满足专业X射线小角散射研究人员的研究需求。该附件拥有0.08-78° 的连续角度范围，易于安装，不需要校准。&rdquo 　　&ldquo 从我们的观察来看，随着化工材料、食品科学以及新兴材料的研究，越来越多的材料科学研究人员利用X射线小角散射技术进行材料研究。在过去，如果要深入研究X射线小角散射信息，需要专门X射线小角散射仪来做，帕纳科以前也有这类仪器，做这方面研究的人员同时还得配备X射线衍射仪来研究晶体结构。而现在帕纳科推出ScatterX78 小角/广角附件，用户只要在原来的X射线衍射仪上配置该附件就可以满足研究要求，这样不仅节约经费、节省了仪器的占地面积。同时用户可以很好的借助X射线衍射仪这一平台，实现二维X射线小角散射，在使用的方便性方面将有很大优势。&rdquo Epsilon 1能量色散X射线荧光光谱仪 　　Epsilon 1是帕纳科最新推出能量色散X射线荧光光谱仪。据介绍，该仪器在全球发布还不到一个星期。 　　薛石雷介绍说：&ldquo 目前，能量色散X射线荧光光谱仪的发展颇受关注，其中一个比较重要的发展方向就是&ldquo 小型化、专机专用&rdquo 。Epsilon 1就是迎合这种发展趋势推出的仪器，它是一个系列，包括专用于油中硫、润滑油、制药、矿业、科研等不同行业的应用的仪器。它的特点是体积小、拥有内置的触屏计算机。另外，Epsilon 1在出厂前已经进行了预先校准，固化了无标定量软件，可以直接进行分析应用，操作人员只要按一个键就可以得到想要的分析结果，大大降低了对分析操作人员的专业要求。 帕纳科展位现场

双通道颗粒物连续监测系统 如今，大气颗粒物自动监测的方法主要有：光散射法、β射线吸收法、微量天平振荡法等。其中，β射线吸收法以其依照国家标准，数值监测精度高、准确性强、动态观测、智能测量等特点逐步得到了用户广泛的认可。但，目前市场上的大多数β射线法大气颗粒物监测仪均为单通道监测仪器，只能实现一个参数的测量，获取两个或更多的参数则需要多台仪器，大大提高了监控成本。为使相关部门及企业能够以更经济的形式同时进行不同粒径颗粒物浓度的测量，我司在原有单通道β射线法颗粒物在线监测仪的基础上，设计研发了双通道颗粒物在线监测仪器，用户可根据实际需求在同一台设备上加装任意两个粒径的颗粒物切割器采样头,轻松掌握环境中不同粒径颗粒物的浓度值。 智易时代ZWIN-YCB06-D双通道颗粒物连续监测系统采用β射线法监测原理，利用低能量C14作为β射线源，根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，即而求得空气中的颗粒物浓度。主要应用于大气质量监测网络、移动监测站、长期背景环境研究、工矿企业、科研院所等领域，广泛适用于环境空气中颗粒物浓度的测量。 产品特点? 采用国标法β射线检测原理，数值更准确? 双通道监测,可同时测量两个粒径的颗粒物浓度（PM2.5/PM10/TSP，三选二），使用方便，性价比高? 大屏幕液晶显示，全中文菜单，人机互动更友好? 产品集成度高，设计合理，美观大方，安装方便，易于维护? 内置空调，保证产品内部恒温，数值更稳定? 质量流量计测量流量，恒定流量采样，测量精度更高? 内部故障自动诊断和报警提示，也可以通过远程诊断并修复错误? 智能化程度高，来电设备自动重启，开机滤纸自动移至空白区 产品参数? 测量范围：（0-1000）μg/m3、（0-10000）μg/m3可选? 检测限：≤2μg/m3? 测量准确度：±2%? 重现性：≤2%? 工作电源：电压AC220V±22V、频率50Hz±1Hz? 工作环境温度：20℃～50℃? 工作相对湿度：不大于80% 创新点：双通道监测,可同时测量两个粒径的颗粒物浓度（PM2.5/PM10/TSP，三选二），使用方便，性价比高 双通道颗粒物连续监测系统

现代化商用多晶X射线衍射仪具备无损、便捷、测量精度高等很多优点，同时配备有先进的陶瓷光管、高精度的测角仪、高灵敏度的探测器以及各种分析计算软件，因此它的应用范围是非常广泛的，不仅可以实现材料物相的定性表征，还可以对很多参数实现定量化的分析。常规的分析包括：材料的晶型结构分析、点阵参数的测定、物相定量、晶粒尺寸和结晶度计算等，还可以对材料的宏观微观应力以及取向织构进行测定；同时还包括诸如小角散射、薄膜衍射、反射率测定以及微区分析等新的技术。而在X射线衍射分析表征中，样品的制备过程、仪器参数设定以及数据分析这三个步骤往往决定了X射线衍射数据结果的质量。本文主要从这三方面进行阐述，与大家分享下多晶X射线衍射的应用要点。一、样品制备X射线衍射实验的准确性和实验得到的信息质量结果与样品的制备有很大关系，在进行材料的X射线衍射分析时应合理制备样品。样品制备主要分为粉末样品的制备和块状类样品的制备。1. 粉末样品首先要控制它的颗粒粒径，原则上要保证颗粒尺寸适中并且均匀，对于大多数样品来讲可以通过研磨加过筛的方式来实现；而对于受外力易产生晶体结构变化的样品而言，通常采用不研磨直接过筛的方式进行处理。在样品的整个研磨过程中要掌握研磨力度柔和均匀的原则，适中的粒度可以让样品中大部分或全部的晶粒参与衍射，从而可以获得反应样品真实晶体结构信息的实验数据；如果研磨不充分，会造成样品的粒度粗大，从而会引起参与衍射的晶粒数目减少，衍射强度降低，峰形变差，分辨率降低的情况；如果用力过度研磨，对材料的晶体结构会产生不同程度的破坏，衍射强度会降低，同时晶粒细化会带来衍射峰的宽化效应，不利于得到结构清晰的衍射谱图。至于研磨的程度，一般研磨到没有颗粒感，类似面粉的滑腻感即可，也不能研磨的过细。过筛这一步是为了保证样品粒径的均匀性，如果样品颗粒尺寸不够均匀，会产生一定的择优取向。图1是一个矿物样品的分析案例，红色谱图是未经研磨和未经过筛处理的样品，而黑色谱图是样品经过研磨和过筛处理的。从叠加图中可以明显看到：样品经过研磨过筛后，粒径尺寸适中且均匀，这就保证了参与衍射的晶粒数目。在X射线衍射谱结果中，经过处理的样品不论从衍射峰数目、强度、峰型和分辨率都要优于未处理的样品，从而确保了分析结果的真实性。图1 经过处理与未经过处理的矿物样品的叠加X射线衍射谱图在粉末样品的装填方面，需要准备的样品量一般在3g左右，最小不少于5mg。压片方法采用常规的正压法操作，在压片过程中让粉末样品最好能够铺满整个样品槽，关键要让粉末样品压平，如果样品表面不平整、存在凹凸起伏的情况，会导致出射的角度变大或变小，直接引起大角度的某些衍射峰偏移，还会造成入射X射线散射至任意方向，导致探测器接收到的峰值降低。这对于精修分析而言，会造成最终解析的晶体结构常数出现严重错误。压片过程中需要注意的是不要用力压太紧，否则容易影响样品的自由取向。2. 块状类样品从样品形态区分，常见的块状类样品有块状、板片状、圆柱状。在分析过程中需要把握样品的测试面面积、表面洁净度与表面平整程度。测试面的面积通常要大于1cm2，如果面积太小可以将几块样品粘贴在一起进行测试，同时样品的底面要与测试面相平行，从而保证衍射面的水平状态；在测试前，应该尽可能将测试面磨成平面，并进行简单的抛光，这样做不但可以去除金属表面的氧化膜，还可以消除表面的应变层，之后再用超声波清洗去除表面的杂质，保证测试面的平整光滑。二、仪器参数设置1. 扫描参数的设定X射线衍射的扫描方式主要分为步进扫描和连续扫描，步进扫描是将扫描范围按照一定的步进宽度（如常用的0.01度/步或0.02度/步）将整个扫描范围分成若干步，在每一步停留若干秒，并将这若干秒内记录到的总光强度作为该数据点处的强度，一般用于角度范围内的精细扫描，可以获得高质量的衍射数据结果，用于定量分析、线形分析以及精确测定点阵常数、Rietveld全谱拟合精修等应用；而连续扫描是测角仪从起始2θ角度到终止2θ角度进行的匀速扫描，其具备较高的扫描效率。这里面有两个关键参数——步长和扫描速度。步长一般是根据衍射峰的半高宽来决定，最好要小于全谱中最尖锐衍射峰半高宽的1/2。步进扫描的停留时间或者连续扫描的扫描速度要根据步长（数据点间隔）进行设定，要搭配合适，遵循步长小扫速慢，步长大扫速快的原则。否则，在图谱中会出现基线噪声过大和上下波动增大的情况，会把一些可能的弱峰掩盖掉。图2是一个陶瓷样品的分析案例，采用连续扫描模式、5度/分钟的扫描速度分别使用0.01度/步和0.02度/步的步长进行分析测试，可以看出快速扫描速度配合稍大步长的分析效果要好于小步长；下图按照步长小扫速慢，步长大扫速快的原则进行测试，都可以较为准确的表征出晶体的结构信息，特别是慢速扫描的数据质量更高。图2 不同扫描速度与步长匹配得出的X射线衍射谱图对于扫描范围而言，表1列举了一些常见材料的扫描角度范围，对于需要进行精修的衍射数据截止扫描角度一般要到100度或120度。表1 常见材料的扫描角度范围扫描总时间的计算对于衡量总体测试时间成本以及合理选取扫描参数是很有必要的。步进扫描和连续扫描的计算如式（1）、式（2）所示：如从3度到90度使用步进扫描模式采集某样品的衍射谱，步长设定为0.02度/步，停留时间为0.2秒/步，则通过计算可以得到测量总时间为14.5分钟。连续扫描的总测量时间根据式（2）计算，但是实际的总测试时长还需要包括光源移动到起始角度的时间。2. X射线光源的参数设置（1）X射线管的管电压和管电流X射线管的工作电压一般为靶材临界激发电压的3~5倍，以铜靶为例，它的Kα能量为8.04KeV，为了获得靶材的有效激发，电压通常设置为40kV，这里需要说明的是，电压一般不能低于20kV，否则就不能对Cu靶的特征X射线进行有效激发。选择管电流时功率不能超过X 射线管的额定功率，较低的管电流可以延长X 射线管的寿命。除非特殊要求，通常X射线管使用的负荷不超过最大允许负荷的80%左右。（2）靶材的选择依据样品元素成分来合理地选择工作靶的种类，应保证样品中最轻元素（原子序数小于等于20的元素除外）的原子序数比靶材元素的原子序数稍大或相等。如果靶材元素的原子序数比样品中的元素原子序数大2～4的话，那么X射线将被大量吸收因而产生严重的荧光现象，不利于衍射的分析效果（比如分析Fe试样，应该尽量使用Co靶或Fe靶，如果采用Ni靶，则背底噪音会很高）。如果采用不同的靶材对相同材料进行分析，所获得的谱图相同吗？使用不同的靶材，首先其特征X射线波长是不同的，而材料晶体结构的晶面间距值是其固有的。根据布拉格方程可知，样品衍射峰的角度决定于实验使用的波长，因此，采用不同靶材测试相同材料所得衍射图谱中衍射峰的位置是不相同的、呈规律性变化的，与靶材的种类是无关的。（3）狭缝的选择狭缝的大小主要依据材料的表征目的以及探测器的类型来进行选择，原则就是在保证强度的情况下提高分辨率。一般的衍射仪配置有三种可变的狭缝（发散狭缝、防散射狭缝和接收狭缝），另外两个索拉狭缝的层间距是固定的。发散狭缝越大，衍射强度越高，但峰型的宽化越明显；防散射狭缝用于限制由于不同原因产生的附加散射进入探测器，有助于降低背景；接收狭缝越小，分辨率越高，强度越低，反之。分析测试时尽量让发散狭缝和防散射狭缝保持一致，接收狭缝尽量小，这样可以提高衍射谱的分辨率和信噪比，从而获得高质量的衍射结果，还可以起到保护探测器的作用。（4）样品放置高度的控制样品的放置高度对于获得高准确度的数据结果是非常重要的，高度的略微偏移都会对实验结果产生影响，具体来讲就是会造成衍射峰的位移以及衍射峰强度的变化。通过图3可以看出：低于正确的高度，衍射峰向左偏移，同时峰强降低；如果是高于正确的高度，衍射峰向右偏移，样品表面与防散射刀片的间隙更小，衍射峰强明显降低。图3 样品的不同放置高度所得到的衍射谱图三、数据分析1．获取的数据信息和物相定性分析首先，从X 射线谱的峰型中可以得到包括峰位、峰强以及峰型轮廓宽度形状的这些信息，通过衍射峰的峰位和峰强可以对物相进行定性定量分析，同时还可以通过计算获得点阵常数和晶体结构的相关结果；通过峰型轮廓宽度形状可以得到样品峰型的展宽，进而可以计算出晶粒尺寸和微观应力。物相定性分析是X射线衍射分析的基础，最重要的环节就是将样品谱图与标准卡片进行比对，以确定样品的物相组成。比对的过程中要遵循以下4点原则：（1）计算材料的晶面间距d值，这是材料晶体结构所固有的；（2）材料低角度的衍射线与标准卡片的匹配情况；（3）重点关注谱图中的强衍射线；（4）要尤为重视特征线。2．衍射谱比对功能的运用将衍射谱进行叠加比对是衍射数据分析中较为常用的一个方法，比如鉴定药物晶型结构的一致性，通常就采用谱图比对的方法进行晶型分析。在《药典》中明确规定判断两个晶态药物晶型状态的一致性，应满足“衍射峰数量相同、衍射峰强弱顺序一致、衍射峰角度误差范围在±0.2°内以及相同角度衍射峰相对峰强度误差在±5%内”这四个条件。以一批送检的降糖药为例，判断其晶型状态的一致性。首先对两种药物进行谱图叠加比对，如图4所示，可知这两个样品满足“衍射峰数量相同和衍射峰强弱顺序一致”这两个条件。图4 药物X射线衍射谱叠加图而后对两个样品进行衍射峰峰位和强度的定量比对，通过计算可以得出：两个样品的峰位一致，符合“二者2θ值衍射峰位置误差范围在±0.2⁰内”的条件；同时相同位置衍射峰的相对峰强度存在偏差，有的甚至超过了15%，因此不符合“相同位置衍射峰的相对峰强度误差在±5%内”的条件。表2 样品衍射峰的峰位和强度比较通过谱图定性比较和衍射峰的定量计算，比对结果满足前三个条件，但是晶粒生长方向存在差异造成相同角度衍射峰相对峰强度的误差超出了《药典》中给定的范围。X射线衍射谱的比对法可以为挑选药物晶型和优化药物生产工艺参数提供帮助。在分析表征过程中，需要根据样品特性以及表征目的把握好样品制备、仪器参数设置以及数据分析这三方面的要点，以获得准确、高质量的X射线衍射数据，充分发挥出多晶X射线衍射的技术优势，为科学研究、技术创新以及材料评价等方面持续提供强有力的数据支撑。附：作者简介黎爽，高级工程师，2008年就职于北科院分析测试研究所至今，主要应用电子显微镜、X射线衍射仪等大型科学工具作为表征手段，从事材料的电子显微分析、晶体结构表征以及相关科研工作。针对新材料的研究表征，建立了多种特色分析技术，涵盖了材料制备和分析测试表征等方向。特色分析技术广泛应用于日常科研工作中，已通过专业领域内多项能力验证和国家司法鉴定能力验证项目考核。

X射线荧光光谱（XRF），作为一种快速的、非破坏式化学成分分析方法，以其分析元素多、分析浓度范围广、多种元素同时分析等特点被广泛应用。近年来，XRF需求规模不断增长的同时，市场竞争也日趋激烈。在这样的局势下，推出“有实力”的XRF产品成为企业成败的关键，展现XRF产品的“硬实力”是企业争取市场的重要途径之一。基于此，仪器信息网特组织“晒晒XRF明星产品的硬实力”主题活动，发布系列稿件，通过不同渠道进行推广，以帮助仪器企业展现自身实力、争取更多市场，也帮助广大用户了解前沿XRF技术、解决选型难题。本期要“晒”的明星产品是布鲁克S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪。布鲁克S8 TIGER系列是目前市场上畅销的波长色散X射线荧光光谱仪，曾多次入选“科学仪器行业用户关注仪器”。布鲁克S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪布鲁克（纳斯达克上市公司，股票代码BRKR）是一家专业的分析仪器制造商，有8500多名员工分布在全球90多个国家和地区，其中研发人员1400多人，拥有4000多项专利，年销售收入超过25亿美元。为了更好地服务中国用户，布鲁克于2012年在中国成立了布鲁克（北京）科技有限公司，专门负责布鲁克产品在中国的销售和售后服务，并在上海建立了备件库，以保证备件的及时供应。布鲁克旗下的AXS公司，前身是西门子AXS公司，1895年伦琴博士发现了X射线，同年西门子生产了世界上第一支X射线管，并在1920年生产了世界上第一台X射线分析仪器，至今已有100多年的X射线分析仪器生产历史。2006年，布鲁克AXS公司推出第一代S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪；2017年，推出第二代S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪。第二代S8 TIGER采用HighSenseTM技术，包括专利保护的紧凑光路设计、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件，确保为从铍（4Be）到镅（95Am）的元素提供最佳灵敏度，提高样品分析速度，降低元素检出限。此外，第二代S8 TIGER还采用了专利保护的直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离始终不会变化（绝对参考位，没有定位误差），这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，保证了抽真空或充氦气的快速可靠，从而可以快速、低成本的分析固体、液体、松散粉末样品，满足各种应用需求。随着社会的发展，环境保护越来越受到重视，对环境监测技术提出了更高的要求。布鲁克波长色散X射线荧光光谱仪在环境监测领域发挥着越来越重要的作用：→ 2003年，江苏省环境监测中心配置了布鲁克AXS公司的早期仪器S4 PIONEER波长色散X射线荧光光谱仪，牵头起草了土壤和沉积物分析标准“HJ 780-2015土壤和沉积物 无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法”；→ 2013年，湖南省环境监测中心站配置了S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪，牵头起草了固废分析标准“HJ 1211-2021 固体废物 无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法”；→ 2017年发布的大气颗粒物分析标准“HJ 830-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法”，布鲁克（北京）科技有限公司和三家使用S8 TIGER的用户参与了标准验证试验。在协助环境监测部门制定分析标准，以及后续的标准实施过程中，布鲁克（北京）科技有限公司X射线荧光应用专家学习了环境监测领域的高分析要求，积累和总结了实践经验。面对成分复杂的土壤、脆弱的大气颗粒物滤膜、种类繁多的固废等环境样品，布鲁克的应用专家们进行了大量试验，优化制样和测量条件，和用户进行深入的交流，及时了解使用过程中遇到的问题，和用户、制样设备制造商、公司研发部门一起探讨方案，解决了一些列问题：→ 解决了土壤在样品制备过程中，钴元素的污染问题；→ 开发了防止硼酸挥发污染仪器的防污屏蔽罩；→ 将土壤分析元素从HJ 780规定的32个扩大到41个；→ 采用冷光管头技术，解决了特氟龙滤膜在射线照射过程中的脆化问题；→ 开发了滤膜样品分析专用样品杯及配套的无背景散射样品杯；→ 解决了固废样品复杂基体校正问题。布鲁克给用户提供的不仅仅是一台X射线荧光仪，而是从标准样品、样品制备技术到分析方法的全套解决方案。目前，有数十家环境监测部门（中国环境监测总站、北京生态环境监测中心、上海生态环境监测中心等）、第三方检测公司（中检集团理化检测有限公司、江苏省苏力环境科技有限责任公司等）、高校科研院所（上海交通大学分析测试中心、中国科学院新疆生态与地理研究所、甘肃省治沙研究所等）在使用布鲁克S8 TIGER波长色散X射线荧光光谱仪，开展环境领域的样品分析工作。布鲁克（北京）科技有限公司X射线分析仪器演示中心（布鲁克非常重视应用技术支持，在北京建立了应用演示中心，为用户进行售前调研测试、现场应用培训、售后技术支持、培训班培训等工作。）随着波长色散X射线荧光光谱分析技术在环境监测领域的普及，布鲁克将继续高标准、严要求地保证光谱仪的质量，不断完善环境样品分析解决方案，开拓新的检测项目，推广X射线荧光分析技术在协同处置固体废物、废水排放等新领域的应用，为提高环境监测领域的X射线荧光分析技术水平贡献力量。

地球周围有巨大的地磁防护罩，保护人类和其他生物免受太空射线的伤害。　　一项最新地球研究报告说，地球磁场不仅正在减弱，而且出现裂缝，因此包括人类在内的生命随时会受到高能量宇宙射线的威胁。　　据物理学网站近日报导，印度科学家使用世界最敏感、最大型的宇宙射线检测仪器于近期观察到地球磁场出现裂缝。　　科学家在《物理评论快报》(Physics Review Letter)上指出，因为地磁出现裂缝，所以日冕喷发的巨大等离子能量束冲击地球磁层，引发地磁风暴。　　地磁裂缝　　这种检测仪器为GRAPES-3 介子望远镜，位于印度乌提(Ooty)的塔塔基础研究院(TIFR)宇宙射线实验室。2015年6月22日，该实验室记录到时间长达2小时的200亿电子伏特(20GeV) 高能量太空粒子束，以每小时250万公里的速度撞击地球，造成很多距北极较近的国家地区出现无线电信号中断。　　当时，天空出现绚丽多彩的北极光。科学家说，这是因为地磁遭受那种极高速粒子的冲压而产生磁暴的结果。　　而这种磁暴的根本原因是近年强度不断减弱的磁场发生重新联接时出现一种磁场裂缝。　　报导说，地球磁场是一种人肉眼看不见的无形保护层，减少我们受宇宙射线的威胁。而这个巨大的防护罩近年来出现明显的变化，因此那些潜在的太空威胁问题变得越来越突出。　　地磁分布变化　　澳洲Science Alert科技新闻网曾于5月11日报导，科学家注意到，地球磁场保护层已经出现非常明显的变化，如地磁北极发生了偏移。　　地球磁场强度近年来一直在减弱，目前地球磁场强度以每10年下降5%的速度减弱，而且减弱速度比以前快10倍。而且地磁的分布特点出现改变，即地磁在某些地区增强，在某些地区减弱。　　欧洲空间局(ESA)在5月初布拉格召开的“生命地球研讨会”(The Living Planet Symposium )上报告，地磁北极正快速地朝向亚洲东方偏移。　　该报告指出，自1999年以来，地球磁场强度在北美上空减弱3.5%，而在亚洲增强2%。大西洋南部的南美地区，地磁强度异常减弱2%，而且近7年来其减弱趋势一直朝着西部方向发展。　　与人类未来有关　　科学家推测，地球磁场强度不断减弱的最终结果是地磁两极倒转，造成宇宙射线强烈照射地球，包括人在内的生物因此遭受毁灭性灾难。科学家估计，这种地磁倒转的灾难会每10万年发生一次。　　报导说，这种研究结果听起来很可怕。但是实际情况可能不是想像的那么糟糕。欧洲空间局地磁观测项目经理鲁尼弗莱博哈根(Rune Floberghagen)于2014年7月曾解释：“这种磁极突然倒转不是瞬间出现，而是在几千年或者几百年的时间内发生。这种现象在过去的历史发生过许多次。”　　而且2014年7月，加州大学等机构于英国皇家《国际地球物理研究杂志》(Geophysical Journal International )发表报告认为，78.6万年前的地球磁场活动曾在6000年内一直处于不稳定状态，最后在100年间发生磁场两极倒转。　　加州大学伯克利分校的研究者考特妮斯普莱恩(Courtney Sprain)说：“我们很惊讶，当时地球磁场的两极倒转速度很快。”　　科学家根据目前的地磁减弱情况推测地磁南北极会在今后几千年间突然发生倒转。　　伯克利分校的地质年代学中心主任保罗瑞尼(Paul Renne)教授表示，虽然尚不清楚将在何时突然发生下一次的地球磁场倒转，但人们需要多思考一旦发生后人类会遭受什么。

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http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/ca628199-a3eb-4140-9057-5d06fb552d6d.jpg" title=" 03.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 专委会主任葛宝臻教授致辞 /strong br/ /p p 　　开幕式致辞中，黄兆团、葛宝臻依次对与会专家学者表示欢迎，并期望通过本次会议的交流平台，大家能够就颗粒测试最新技术与应用进展进行深入探讨，共同促进我国的颗粒测试事业的发展。 /p p 　　第一天会议日程，大会进行了17个报告，仪器信息网摘录精彩内容如下： /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/560dc63f-20dc-4386-bf4b-72b7e7dbcb96.jpg" title=" 1.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong style=" text-align: center " 报告人：高思田（中国计量科学研究院） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　特邀报告题目：纳米颗粒的准确测量问题 /strong /p p 　　纳米粉体材料是材料研发及产业化最基本的构成部分，颗粒尺寸、比表面积等则是其最重要的表征参数。纳米颗粒测量方法包括基于图像测量的TEM、SEM、SPM、OM等，以及基于模型的DLS（动态光散射）、NTA（纳米颗粒跟踪分析）SAXS（x射线小角散射）等。高思田表示，纳米粉体材料及产品市场急需技术标准、检测标准来进行规范，相比国际水平，国内存在很大差距。而电子束、光束、X-射线与纳米颗粒的相互作用不同造成的测量结果差异显著不能对测量仪器进行准确校准是产生差异的主要原因。接着介绍了在此背景下，该团队在SEM、TEM测量、DLS测量等方法及校正的研究情况。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/c6f3e953-d265-48c5-aa05-1276b4c30dc2.jpg" title=" IMG_9241_副本.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 报告人：吴晓春（国家纳米科学中心） /strong /p p style=" text-align: center " strong 特邀报告题目：贵金属等离激元纳米结构设计与生物医学应用 /strong /p p 　　纳米技术是指应用科学知识操纵和控制纳米尺度物质，实现其与单个原子、分子或块体材料显著不同的，与尺寸和结构相关的性质和现象的学科。吴晓春在报告中介绍到，贵金属纳米材料的局域等离激元共振特征赋予了其多种功能特性，而这种共振与颗粒尺寸、形状、组成、表面化学及结构密切相关。其团队经过一系列研究表明贵金属纳米材料可望在超灵敏生化检测中发挥重要作用，并且局域等离激元的时空调控性为纳米器件的刺激响应性提供了基础。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/2ea2d20d-c698-4a1d-9784-8c2dd7cb3ea0.jpg" title=" IMG_9252_副本.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：葛宝臻（天津大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：基于散射光谱方法测量颗粒折射率的实验研究 /strong /p p 　　葛宝臻在报告中介绍了一种基于散射光谱测量颗粒折射率的方法，通过对聚苯乙烯、玻璃微珠、水滴颗粒三种样品的测试结果显示，当相对折射率1.2＜n＜1.5时，在散射角20度到80度范围内，颗粒闪射光近似等于0、1阶光的叠加，对散射广场做傅里叶变换，即得到颗粒散射光谱。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/c0619b42-c35f-406c-9325-3107bdd2d022.jpg" title=" IMG_9269_副本.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 报告人：韩鹏（华南师范大大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 报告题目：电泳光散射纳米颗粒zeta电位测试技术及仪器研究 /strong /p p 　　Zeta电位是乳业、酿造、造纸、陶瓷、制药、矿物处理和水处理等行业中极其重要的参数。纳米颗粒zeta电位的测量中，电泳法是主流的仪用方法。韩鹏在报告中介绍了电泳光散射的原理及方法，并详细介绍了对应的自适应光子相关技术、参考光调试技术、电泳电压调制技术，及多点测量技术。接着介绍了丹东百特公司与华南师范大大学共同研发纳米颗粒zeta电位仪的历程：2014年签订联合研发协议，2017年6月丹东百特公司研制成功首台国产纳米材料zeta电位/粒度/分子量三合一分析系统。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/60a819c9-c62a-4c45-b5d8-53063fe564ef.jpg" title=" IMG_9296.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：李兆军（中国科学院过程工程研究所） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：基于颗粒测量技术的微细气泡测量方法 /strong /p p 　　微细气泡属于气体颗粒，但又有很多与固体颗粒的不同之处。微细气泡有很多优异性能，如比表面积大、停留时间长、界面电位高、产生自由基等，目前在国内外得到广泛应用。但有关微细气泡的测量问题一直是企业面临的巨大问题，李兆军在报告中介绍了其团队基于颗粒测量技术对微细气泡测量方法的一系列研究。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/2afb5f71-2e78-4dd9-b7c9-4bf4071c61c1.jpg" title=" IMG_9315.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：沈建琪（上海理工大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：高斯光束照射下的球形颗粒散射及应用 /strong /p p 　　球形颗粒在有形光束照射下的散射呈现出于平行光不同的特性，取决于光束的形状、偏振特性、光束与颗粒的相对位置、颗粒尺寸和折射率等多种因素。沈建琪通过颗粒近场计算表明，在窄高斯光束照射下，颗粒内场呈现出明显不同的分布特征。通过控制高斯光束的宽度和入射位置，可得到期望的内场分布，从而在相关领域得到应用。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/b4463827-1e2d-455b-9cbb-0f784e370635.jpg" title=" IMG_9319.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：刘伟（山东理工大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：Henry函数表达式对计算Zeta电位的影响 /strong /p p 　　利用电泳光散射法可以确定带电颗粒的电泳迁移率，由电泳迁移率计算颗粒的zeta电位需要准确确定Henry函数的数值。刘伟团队利用最小二乘法对精确Henry函数值进行拟合，获得优化Henry函数表达式。基于Gouy-Chapman-Stern双层模型理论，求解不同浓度、类型电解液溶液中双电层厚度，从而获得准确的颗粒半径及双层电厚度的比值，最后用优化的函数获得准确的Henry函数值。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/8d031701-58ce-4880-a9c2-8ad3393bdfac.jpg" title=" IMG_9338.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：杨麟（国家石墨烯产品质量监督检验中心（广州）） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：石墨烯材料的检测 /strong /p p 　　杨麟主要向大家介绍了国家石墨烯产品质量监督检验中心（广州）概况，2016年年底，国家质量监督检验检疫总局正式批准同意筹建“国家石墨烯产品质量监督检验中心（广东）”。中心是华南地区第一家提供第三方检验检测服务的石墨烯产品国家级检验检测技术服务平台，中心将围绕广东石墨烯产业发展的需求，有针对性地研发石墨烯产品检验检测新技术，以技术创新来推动国家及行业标准的建立，推进成果转化和实际应用，为广东省以及全国石墨烯产业的发展与转型升级方面发挥技术支撑和引领作用。同时，2017年3月，中心牵头申请的广东省石墨烯标准化技术委员会已顺利通过广东省质监局批筹。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/099a0b19-9da6-4b39-98ae-85632bb05694.jpg" title=" IMG_9350.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：孙吉勇（江苏苏净集团有限公司） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：亚微米液体颗粒计数器在水处理滤芯中的应用 /strong /p p 　　孙吉勇介绍了光学液体颗粒计数器的工作原理，研究了一种基于光学散射原理的亚微米液体颗粒计数器，设计分析了传感器的光学结构。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/189495b8-d696-4475-bec7-2ac8576c5495.jpg" title=" IMG_9356.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：傅晓伟（珠海欧美克仪器有限公司） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：激光粒度仪极限测试能力的研究 /strong /p p 　　傅晓伟在TopSizer激光粒度仪平台技术上，评估了双光源、长焦距的光学设计以及循环进样器的设计对极限测试能力的影响。结果表明，设计和优化在保证亚微米到毫米范围内极高准确性同时，实现了较高分辨率。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/51111de5-27ab-4050-a15b-a83cb2e4b3f7.jpg" title=" IMG_9378.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：徐文英（奥地利安东帕（中国）有限公司） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：安东帕LitesizerTM系列和90系列激光粒度仪介绍 /strong /p p 　　徐文英主要介绍了安东帕LitesizerTM系列和90系列两个系列激光粒度仪产品，其中LitesizerTM系列包含LitesizerTM500和LitesizerTM100，该系列采用了专利的cmPALS技术，可实现更短测量时间，更低施加电场降低样品和电极的影响、污染。90系列即990/1090/1190系列，于2017年上市，源于法国Cilas公司，具有湿法条件下粒度大小和形态可同时测定等特点。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/9ae05721-d38f-4c8e-8d06-93f9904a1db0.jpg" title=" IMG_9413.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　 strong 　报告人：张福根（珠海真理光学仪器有限公司） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：激光粒度仪有待完善的若干问题探讨 /strong /p p 　　张福根介绍了激光粒度仪这种发展成熟的产品目前有待完善的若干问题：球形颗粒在平行光照射下产生的爱里斑的大小随颗粒尺寸的变化是不规则的；全反射盲区的影响；不同波长光照下散射光信号拼接问题等。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/dfc66200-f7b7-4085-a67b-ad35e087ef3f.jpg" title=" IMG_9430.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：纪英露（国家纳米科学中心） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：金纳米颗粒粒度标准物质的研制 /strong /p p 　　纪英露相关研究研制的纳米级金颗粒系列粒度标准物质采用种子调制的生长方法，通过逐级放大得到不同颗粒尺寸。标称粒径为20nm和40nm的标准物质化学稳定性高，尺寸单分散性好，是理想的电镜高放大倍率校准用标准物质和不同颗粒粒度测试方法比对用标准物质。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/797d48f4-5e3a-4daf-b3b7-87ccd1dfc4f6.jpg" title=" IMG_9440.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：何羽薇（北京朗迪深科技有限公司） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：浆料分散机理及工艺精细化控制对稳定性的影响 /strong /p p 　　浆料研发与工艺精细化思路的最终目的是要达到电池浆料性能最佳化，何羽薇表示，电池浆料的开发还有更多工作去做：电池浆料研究需要精细化，电池浆料加工工艺需要精细化，配方、检测、工艺、生产、应用技术等要精细化。电池浆料如何做到精细化研发，许多国外案例值得大家学习和借鉴。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/73d4bb77-31aa-49c0-91a3-4f56840cafd7.jpg" title=" IMG_9445.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：陈诚（天津商业大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：大豆蛋白喷涂液组分对喷涂液表观粘度和粒度的影响 /strong /p p 　　为了提高雾化效果，陈诚在蔬菜复合纸覆膜研究中选择最优喷涂液组分，利用安东帕粘度计对30组大豆蛋白喷涂液的表观粘度进行测量。并利用分析软件对各试验结果进行二次多元回归拟合，得到优化回归方程，进而作出三维响应面图和等高线图，可直观看出大豆蛋白浓度对表观粘度影响的显著程度。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/3cd468d5-6ecf-4865-bcc0-e8bdd23d65ee.jpg" title=" IMG_9473.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　 strong 报告人：吕且妮（天津大学） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：基于聚焦两点像的喷雾场粒子尺寸及粒度分布测量 /strong /p p 　　报告中，吕且妮基于聚焦像的干涉粒子成像（IPI）技术对喷雾场粒子尺寸及其粒径分布进行了测量。对标称直径25.0μm的标准粒子场进行测量，峰值粒径绝对误差为0.25μm，验证了该方法在粒子场测量中的有效性，并应用于正庚烷喷雾场粒子测量。这种测量方法可同时获得粒子尺寸大小和位置信息，结合粒子追踪测速及粒子图像测速技术，能够实现高密度粒子场粒子尺寸和速度的同时测量。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/16379985-632e-44c4-9ea8-67aea50d1ac2.jpg" title=" IMG_9486.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　 strong 　报告人：席广成（中国检验检疫科学研究院） /strong /p p style=" text-align: center " strong 　　报告题目：掺伪珍珠粉的近红外光谱定量鉴别方法 /strong /p p 　　珍珠母贝壳和珍珠同根同源，珍珠母贝壳粉即贝壳粉的微观形貌、化学组成与珍珠粉相似，时常被用以冒充珍珠粉或掺入珍珠粉中流入市场。热分析方法、x射线衍射法、中红外光谱法等方法需要进行样本热处理和后续数据分析，快捷性及简便性差。席广成等将纯珍珠粉与纯贝壳粉按比例混合以模拟掺伪珍珠粉，并利用偏最凶二乘法建立并优化了近红外光谱定量分析模型，实现了珍珠粉及掺杂珍珠粉的快速定量鉴别。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/74ac8d9a-054e-4944-a22e-f2a1df572e97.jpg" title=" mmexport1510814874833_副本.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 合影留念 /strong /p p style=" text-align: center " 　　---------------------------------------------------- /p p style=" margin-top: 0em margin-bottom: 1em padding: 0px color: rgb(68, 68, 68) font-family: 宋体, & quot Arial Narrow& quot white-space: normal " & nbsp & nbsp strong style=" margin: 0px padding: 0px " 附 /strong ： /p p style=" margin-top: 0em margin-bottom: 1em padding: 0px color: rgb(68, 68, 68) font-family: 宋体, & quot Arial Narrow& quot white-space: normal " span style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) " strong style=" margin: 0px padding: 0px " & nbsp & nbsp & nbsp a href=" http://www.instrument.com.cn/news/20171117/233736.shtml" target=" _self" title=" " style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, & quot Arial Narrow& quot white-space: normal " strong style=" margin: 0px padding: 0px " Day2：颗粒测试技术多领域应用探讨 /strong /a /strong /span span style=" margin: 0px padding: 0px text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " strong style=" margin: 0px padding: 0px " /strong /span /p p style=" margin-top: 0em margin-bottom: 1em padding: 0px color: rgb(68, 68, 68) font-family: 宋体, & quot Arial Narrow& quot white-space: normal " span style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) " & nbsp & nbsp /span span style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) " & nbsp /span span style=" margin: 0px padding: 0px text-decoration: underline " strong style=" margin: 0px padding: 0px " span style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) " a href=" http://www.instrument.com.cn/news/20171118/233737.shtml" target=" _self" title=" " style=" margin: 0px padding: 0px color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: none " 图说，颗粒会精彩8环节速览——第十一届全国颗粒测试学术会议回看 /a /span /strong /span /p

LIGA 是德文制版术Lithographie,电铸成形Galvanoformung 和注塑Abformung 的缩写。自20世纪80年代德国卡尔斯鲁厄原子核研究所为制造微喷嘴创立LIGA技术以来，对其感兴趣的国家日益增多，德、日、美相继投人巨资进行开发研究。该技术被认为是最有前途的三维微细加工方法,具有广阔的应用前景。与传统微细加工方法相比，用LIGA技术进行超微细加工有如下特点: 1可制造有较大深宽比的微结构。2取材广泛，可以是金属、陶瓷、聚合物、玻璃等。3可制作任意复杂图形结构，精度高。4 可重复复制,符合工业上大批量生产要求，成本低。LIGA的基本工艺流程如下：x射线掩模制作（Mask）:首先用电子束或激光对薄光刻胶进行初次曝光，制成初级掩膜，然后经过显影、电镀等工艺步骤制成初级微结构掩膜板（此掩膜板本质上已经是一个高度较低的微结构）。对于高深宽比微结构，需要进一步制备额外的高深宽比掩膜板。x射线光刻(Lithographie)：借助上述的初级微结构掩膜板，在厚光刻胶上用X射线进行曝光，然后经过显影、电镀等工艺步骤制成中级微结构掩膜板。由于同步辐射设备KARA(原ANKA)提供的平行x射线束，可确保高纵横比和光滑的侧壁。电镀(Galvanoformung):将上述步骤获得的光刻胶模具置于金属电镀液中进行电镀，即可实现高纵横比、高精度结构的金属零件。聚合物成型(Abformung):为了复制聚合物基板上的精密结构，可以使用上述工艺制作注塑和热压花用的模镶件。这允许实现精确复制的微聚合物结构。因此LIGA工艺制造的微结构聚合物和金属零件在x射线光学领域有着广泛的应用，包括在在科研机构和工业领域，尤其在光栅法X相衬成像领域有广泛应用。 X射线相位衬度成像X射线相位衬度成像和传统的X射线吸收成像相比，X射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供高得多的衬度，特别适合用于对软组织和轻元素构成的样品进行成像。目前，主要的5类相衬成像方式中，大部分对光源的相干性要求极高，只能在同步辐射光源或者借助微焦点X射线源实现。而光栅法相衬成像，经过十多年的发展，已经成为在实验室实施相衬成像实验的主流技术路线。但是，高深宽比和大视场光栅的制作一直是困扰研究人员的一个痛点，LIGA技术的出现及成熟，使得制作此类的光栅的制作变得更加的容易、可靠及更好的控制成本。此实验方法的布局及结果如下：1. 日本東北大学-百生研究室 G1 相位光栅周期4.37μm，NiG2吸收光栅周期2.4μm，Au能量25Kev光源微聚焦X射线源管电压40KV管电流120μA昆虫标本成像结果：上文中提到德国卡尔斯鲁厄是LIGA技术的发源地，科学研究是为了窥探世界的本质及发展规律，新技术的诞生最终是为了改善人类的生活状态。德国Microworks 公司成立于 2007年, 是卡尔斯鲁厄理工学院（KIT）微技术研究所 (IMT) 衍生的子公司。通过使用X 射线和激光LIGA技术，能为广大科研用户提供高度定制化的透射光栅和微结构方案，在光栅法相衬成像领域，具有很好的口碑。典型产品如下： 展示Microworks如何制作X射线光学元件 典型规格范例设计能量强度光栅（周期／高度）Pi相位光栅（周期／高度）8keV设计能量2.4μm/30μm4.65μ/2.8μm25keV设计能量2.4μm/50μm4.39μm/8.8μm40keV设计能量2.4μm/80μm4.2μm/14.1μm100keV设计能量（定制化需求）4.8μm/220μm

崂应1089K型 β射线烟尘检测器 一、产品概述 本仪器是采用β射线吸收原理，实现固定污染源排气中颗粒物浓度现场监测，可直接读取数据并不受颗粒物大小、形状等其他理化性质影响。不仅测量精度高，而且轻巧便携，可灵活拆卸组装，特别适合超低排放工况使用。二、执行标准GB/T16157-1996 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定源废气监测技术规范DB37/T 3785-2019 固定污染源废气 颗粒物的测定 β射线法三、产品特点β射线吸收原理，不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响，现场自动测算尘重及排放量采用低活度的14C β射线源，安全可靠最低检出限是0.1mg/m3，可满足超低工况监测要求采用滤带式采测异工位结构设计，采样与测量过程分离，避免关键元器件污染，保证测量精度钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制，气路内壁采用超光洁工艺加工，减少颗粒物损失，保证测量精度滤膜前后位双重加热，提升滤膜烘干效率，防止烟气冷凝对测量结果造成影响取样管采用独特的对接设计，可实现快速拆装，且可多角度转动，方便运输和使用内置式皮托管，外观简洁，操作便利；皮托管采用模块化设计，方便拆卸，降低维修成本具备滤带用尽前预警和纸带用尽、断裂报警功能采用滤带式设计，一次安装长时间使用，并可实现短期在线监测功能。使用惰性材料校准膜校准，使数据更加准确。主机模具化设计，小巧轻便，重量约4.1kg内置阻容法湿度传感器，可直测烟气含湿量具备USB接口，可实现U盘程序升级采测流程顺畅，自动完成，工作效率高预留无线数据传输功能，可与无线烟尘采样器连接，简化管路连接多样化搭配组合：①采用崂应3012H-D型 大流量低浓度烟尘/气测试仪（18款）作为动力主机：流量大，负载高，采样/直读双模式。②采用崂应3012H-C型 自动烟尘气测试仪作为动力主机：尊享无线数据传输功能，简化管路连接。仪器内置电子标签，支持仪器出入库管理平台说 明：1、以上内容完全符合国家相关标准的要求，因产品升级或有图片与实机不符， 请以实机为准,本内容仅供参考。创新点：1、等速采样烟尘直读 2、全程高效加热 3、采测异工位结构设计 4、标准采样头 崂应1089K型 β 射线烟尘检测器

p 　　PM2.5自动监测仪是指采用微量振荡天平法或β射线法自动测量空气中细颗粒物(PM2.5)的质量浓度的仪器，用于测定大气环境。为规范行业标准，近日，浙江省质量技术监督局发布《细颗粒物(PM2.5)自动监测仪检定规程》地方计量技术规范征求意见稿。 /p p 　　浙江发布《细颗粒物(PM2.5)自动监测仪检定规程》 /p p 　　浙江省质量技术监督局发布《细颗粒物(PM2.5)自动监测仪检定规程》地方计量技术规范征求意见稿，并面向全国的计量技术机构、科研院所以及相关的行业企业征求意见。 /p p 　　该规程主要起草单位为浙江省计量科学研究院。该规程为首次发布，依据JJF 1002《国家计量检定规程编写规则》进行编写。 /p p 　　该规程适用于基于微量振荡天平法或β射线法，测量范围为(0~1000)μg/m3且标称采样流量为16.67 L/min 的细颗粒物(PM2.5)自动监测仪的首次检定、后续检定和使用中检查。 /p p 　　PM2.5自动监测仪(以下简称仪器)是指采用微量振荡天平法或β射线法自动测量空气中细颗粒物(PM2.5)的质量浓度的仪器，适用于公共场所环境及大气环境的测定，还可用于空气净化器净化效率的评价分析。 /p p 　　其工作原理为仪器以恒定流量抽取环境空气样品，样品采集系统将颗粒物进行切割分离并输送到测量系统，样品测量系统对PM2.5颗粒物样品进行测量，并进行对测量结果进行分析，最后由显示系统输出测量结果。 /p p 　　针对PM2.5自动监测仪的实际情况，该规程参考了GB/T 31159-2014《大气气溶胶观测术语》、HJ 653-2013《环境空气颗粒物(PM10和 PM2.5)连续自动监测系统技术要求及检测方法》和HJ 93-2013《环境空气颗粒物(PM10和PM2.5)采样器技术要求及检测方法》等标准相关内容。 /p p 　　此外，遵从JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》的要求，此规范架构上包括封面、扉页、目录、引言、范围、引用文件、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达、复校时间间隔、附录几个部分。 span style=" WHITE-SPACE: normal WORD-SPACING: 0px TEXT-TRANSFORM: none FLOAT: none COLOR: rgb(51,51,51) FONT: 12px 宋体, Tahoma, Arial, & #39 Microsoft Yahei& #39 DISPLAY: inline !important LETTER-SPACING: normal BACKGROUND-COLOR: rgb(255,255,255) TEXT-INDENT: 0px -webkit-text-stroke-width: 0px" /span 　　　 /p

2021年6月15日，由青岛崂应环境科技有限公司参与起草的山东省地方标准《环境空气 颗粒物的测定 便携式β射线法》（DB37/T 4378—2021）正式发布，并将于7月15日起实施。（文末附标准全文） 崂应2092型 环境空气质量监测仪参与了该标准的实验验证等工作，为便携式β射线法在环境空气颗粒物测定方面的应用提供了数据支持。现将标准解读如下：01、范围本文件规定了测定环境空气中颗粒物的便携式β射线法。本文件适用于环境空气中颗粒物(TSP、PM10、PM2.5)的测定，也适用于无组织排放中颗粒物的测定。本文件检出限为1 μg/m3，测定下限为4 μg/m3。（标准原文）解析：按照HJ 168的有关规定，使用高效过滤器在洁净的室内以标准规定程序，选择检出限最高者为本标准方法的检出限，本方法的检出限为1μg/m3，测定下限为4μg/m3。 02、方法原理样品空气通过切割器以恒定的流量经过进样管，颗粒物截留在滤膜上。用β射线照射滤膜，根据采样前后单位面积的滤膜上β射线衰减量得出滤膜上捕集的颗粒物质量和同时抽取的气体体积，计算出颗粒物的浓度。β射线衰减量与颗粒物的质量遵循以下吸收定律：N = N0∙e-km式中：N ——单位时间内通过滤膜的β射线量；N0 ——单位时间内发射的β射线量；k ——单位质量吸收系数，cm2/mg；m ——颗粒物单位面积质量，mg/cm2。（标准原文）解析：参照ISO 10473:2000，其核心原理是根据采样前后单位面积的滤膜上β射线衰减量得出滤膜上捕集的颗粒物量。β射线仪器分为同位采样测量滤带类型、顺序采样测量滤带类型、顺序采样测量滤膜类型。崂应2092型环境空气质量监测仪为同位采样滤带测量类型，从根本上解决了移动纸带所带来的测量误差。 03、干扰和消除空气相对湿度过大会对测量结果产生影响，当相对湿度大于40%时，可通过动态加热的方式消除影响，同时需要控制加热功率和加热温度。（标准原文）解析：根据试验表明当空气湿度超过40％时，其对测量结果的影响不可忽略，可通过动态加热的方式消除影响。崂应2092型环境空气质量监测仪采用 DHS（动态加热系统）加热采样入口气体并具有动态温湿度补偿功能，加热温度在（10~60）℃范围内任意设置，控温精度±1℃，符合HJ 1100-2020要求。04、试剂和原料6.3 标准膜片由聚碳酸酯等惰性材料制成，应避光存放，使用前应检查膜片是否存在破损等情况。（标准原文）解析：参照ISO 10473:2000的要求，使用惰性材料标准膜对仪器校准，使数据更加准确。崂应2092型环境空气质量监测仪具有标准膜片校准功能，选用的标准膜片为聚碳酸酯，可溯源至重量法，保证标准膜片数值的准确可靠。05、仪器和设备7.1.2 仪器性能便携式β射线法颗粒物测定仪应符合以下要求：a) 满足HJ 93 中采样器技术要求；b) 具有自动记录仪器的系统设置参数功能；c) 具有自动存储测量期间测定结果功能；d) 具有污染物名称、化学式和浓度值显示功能；e) 具有测量或输入及保存测量期间气象参数功能（大气压、温度、湿度等）。（标准原文）解析：崂应2092型环境空气质量监测仪满足HJ93、HJ653和HJ1100标准要求，可以连续自动监测，且采样数据自动记忆，停电后自动保存当前数据，来电后仪器能够继续采样。7.2 辅助设备7.2.1 便携式电源：持续供电时间大于2 h，输出电压220 V。7.2.2 温度计：测量环境温度，测量范围-30 ℃～50 ℃，示值误差不超过±2 ℃。7.2.3 大气压计：测量环境大气压，测量范围80 kPa～106 kPa，示值误差不超过±1 kPa。7.2.4 湿度计：测量环境湿度，测量范围0 %RH～100 %RH，示值误差不超过±5 %。（标准原文）解析：崂应2092型环境空气质量监测仪具有温度、湿度和大气压传感器，其技术参数优于标准中对辅助设备的要求，现场可不用携带辅助设备。如需辅助设备“便携式电源”，推荐使用06、校准8.3 校准8.3.1 零点校准校准时泵停止工作，安装滤带（膜）或零膜片，进行零点校准。8.3.2 质量校准在空白滤带（膜）上方放置标准膜片进行测定，测定结果与标准膜片的标称值误差应在±2%范围内，否则应按仪器说明书要求对仪器进行校准。8.4 样品采集和测定8.4.1 按照HJ 194、HJ/T 55 相关要求，做好采样准备。8.4.2 正确连接好采样系统，采样器入口距地面高度不应低于1.5 m。如果测定交通枢纽处颗粒物，采样点应布置在距人行道边缘外侧1m 处。8.4.3 根据监测目的，设置采样周期等参数。小时均值应至少有45min 的采样时间，日均值应至少有20 个小时平均浓度值或采样时间。8.4.4 启动采样器进行测定并记录颗粒物的质量浓度。（标准原文）解析：按照ISO 10473:2000要求，监测开始前使用标准膜片进行校准，测定结果与标准膜片的标称值误差应在±2%范围内，否则应重新对仪器进行校准。样品采集的布点参照HJ/T 55要求，采样有效时间参照GB 3095中有关规定。07、结果与计算9.1 结果计算颗粒物浓度按照公式（2）进行计算：ρ =m/v × 106式中：ρ——颗粒物的浓度，μg/m3；m ——截留在滤膜的颗粒物质量，mg；v ——采样体积，L。环境空气为实测体积，无组织排放为标况体积。9.2 结果表示测定结果应保留整数位，最多不超过三位有效数字。（标准原文）解析：2018年8月13日印发《环境空气质量标准》（GB3095—2012）修改单（生态环境部公告2018年第29号），将环境空气中颗粒物状态由标况状态（273.15K，101.325kPa）更改为实际状态（监测时的实际大气温度和压力），并于2019年1月1日实施。因此对于环境空气中颗粒物采样，采样体积为实测体积（即实际状态下的采样体积）；对于无组织排放中颗粒物采样，采样体积为标况体积（即273.15K，101.325kPa状态下的采样体积）。崂应2092型环境空气质量监测仪同时显示实际体积（工况体积）和标况体积，在计算颗粒物浓度时，应根据监测情况，正确选择采样体积。08、注意事项12.1 使用的β射线源应符合放射性安全标准。12.2 仪器报废后应按照有关规定处置β射线放射源。（标准原文）解析：崂应已取得辐射安全许可证，崂应2092型环境空气质量监测仪所使用的β射线符合放射性安全标准，可放心使用。

美国政府顾问小组近日提议，美国需要建造一种能够将电子在材料反应和化学反应中的活动轨迹成像的新型X射线激光器。 　　能源部下属的基础能源科学咨询委员会(BESAC)已经驳回了提交的关于未来X射线光源的4份提案，取而代之的是一个更具雄心的计划。BESAC表示，如果各方面力量能够齐心协力，该方案是完全可以实现的。 　　麻省理工学院加速器物理学家、曾在BESAC研究该课题的William Barletta认为：委员会所期望的机器将会是一种&ldquo 自由电子激光器&rdquo ，可以利用磁力来扭动电子光束，从而发射出连续的X射线。至于这种新型激光器的规格，委员会建议它应能提供快速的X射线脉冲重复率以及较广的X射线光子能量范围。 　　这一想法与美国劳伦斯伯克利国家实验室的一项提案不谋而合。劳伦斯伯克利国家实验室提议，&ldquo 下一代光源&rdquo (NGLS)这种自由电子激光器使用一种受超导磁体加速的电子光束。该提案已通过能源部审核，但还须经过国会的详细审查。 　　但是NGLS所能提供的能量范围还未达到顾问小组的期望，而与斯坦福线性加速器中心的相应提案范围相吻合。该中心提议对线性相干光源(LCLS)系统进行升级&mdash &mdash 这是一种已投入运行的自由电子激光器。 　　Barletta说，顾问小组认为,无论是NGLS项目还是待升级的LCLS项目都各有优点和缺点，两个实验室需要通力协作，寻求共识，取人之长，补己之短。 　　该顾问小组也听取了支持&ldquo 终极储存环&rdquo 的声音。终极储存环已经在一些美国的国家实验室中使用，其功能与X射线同步加速器相似，能够发射连续的X射线，并且可以循环利用光束，以达到节能效果。 　　Barletta认为研究终极储存环提案最关键的一点是：能源部应当仔细评估并认真审查升级已有同步加速器的方案，以确认将经费花在建造新型终极储存环上是否更值得。另外，瑞典、巴西、日本等国家正在建造比美国更先进的同步加速器。

美国劳伦斯伯克利国家实验室新升级的直线加速器相干光源（LCLS）X射线自由电子激光器（XFEL），成功产生了第一束X射线。此次升级的X射线闪光每秒高达100万次，是其前身的8000倍，它改变了科学家探索原子尺度超快现象的能力，这些现象对于从量子材料到清洁能源等广泛应用至关重要，将开创X射线研究的新时代。科学家将能够以前所未有的分辨率检查量子材料的细节，揭示不可预测和转瞬即逝的化学事件，研究生物分子如何发挥生命功能，以最快的时间尺度研究世界，开辟全新的科学研究领域。本文摘自国外相关研究报道，文章内容不代表本网站观点和立场，仅供参考。

近年来颗粒测试技术进展很快，主要表现在以下几个方面：　　一、激光粒度测试技术更加成熟，激光衍射/散射技术现在已经成为颗粒测试的主流。其主要特点：测试速度快，重复性好，分辨率高，操作简便。激光粒度分析技术最近几年的主要进展在于提高分辨率和扩大测量范围：探测器尺寸增加，附加探头的使用扩大了测量范围；多种激光光源（例如：红光、绿光等）的使用、多镜头、会聚光路、多量程、可移动样品窗的使用提高了分辨率；采样速度的提高则进一步改善了仪器的重复性。比较具有代表性的如：英国马尔文公司GM2000系列激光粒度仪采用高能量蓝光辅助光源和汇聚光学系统，测量范围达到0.02~2000μm，不需更换透镜；贝克曼库尔特公司采用多波长偏振光双镜头技术将测量范围扩展到0.04~2000μm。国产的激光粒度仪在制作工艺和自动化程度上尚有欠缺，但大多数在重复性、准确度方面也达到了13320国际标准的要求。　　此外，测试结果的优劣不仅取决于测试系统和计算模型，更加取决于样品的分散状态。激光粒度仪对样品的分散要求是，分散而不分离。仪器厂家应更加注意样品分散系统设计。尽量避免小颗粒团聚，大颗粒沉降，大小颗粒离析，样品输运过程的损耗，外界杂质的侵入。对于不同样品选用不同的分散剂和不同的分散操作应该引起测试者的注意。　　任何原理的仪器测试范围都不是可以无限制扩展的。静态光散射原理的激光粒度分析向纳米颗粒的扩展和向毫米方向的扩展极限值得探讨。毫米级的颗粒只需光学成像技术就可以轻易解决的测量问题，采用激光散射原理则并不是优势所在。　　二、图像颗粒分析技术东山再起。图像颗粒分析技术是一种传统的颗粒测试技术，是显微镜技术和图像处理技术的结合。由于样品制备操作较繁琐、代表性差、曾经作为一种辅助手段而存在，它的直观的特点没有发挥出来。为了解决采样代表性问题，有人使用图像拼接技术或者多幅图像数据累加技术可以有效提高分析粒子数量，采用标准分析处理模式的图像仪则可以将操作误差减小，这些改进取得了一定的效果。　　最近几年动态图像处理技术的出现使传统颗粒图像分析仪倍受关注，大有东山再起之势。动态图像处理的核心是采用颗粒同步频闪捕捉技术，拍摄运动颗粒图像，因此减少了载玻片上样品制备的繁琐操作，提高了采样的代表性，而且可用于运动颗粒在线测量，这就大大扩展了图像分析技术的应用范围和可操作性。荷兰安米德公司的粒度粒形分析仪是有代表性的产品，它采用CCD+频闪技术测颗粒形状、采用光束扫描技术测颗粒大小，可测最大粒径为6mm。如果颗粒在光学采样过程不发生离析现象，此种仪器在微米与毫米级颗粒测量中可能会得到广泛的应用。　　颗粒图像分析技术需要解决的另一个问题是三维测量。动态颗粒图像采集由于颗粒采集的各向同性，因此可以解决在载玻片上颗粒方位的偏析问题，但是仍然无法解决如片状颗粒厚度问题。厚度测量对于金属颜料、云母、特种石墨都是一个急需解决的实际问题。　　三、颗粒计数器不可替代。颗粒本身是离散的个体，因此对颗粒分级计数是一种最好的测量方法。库尔特电阻法在生物等领域得到广泛应用，已经成为磨料和某些行业的测试标准。但是它受到导电介质的限制和小孔的约束，在某些行业（譬如：不导电油类当中的颗粒）推广受到阻力。最近光学计数器在市场上异军突起，它可对单个颗粒进行精确的测量计算，在高精度和极低浓度颗粒测量场合将发挥不可替代的作用。美国Haic Royco公司颗粒计数器/尘埃粒子计数器是才进中国不久的老产品；美国PSS（Particle Sizing Systems）公司采用单粒子光学传感（SPOS）技术生产的系列仪器可用于湿法、干法、油品等各种场合的颗粒计数。　　国内颗粒计数器的研究工作起步并不晚，但是除了欧美克的电阻法计数器外，尚未见光学计数器商业化的产品。　　四、纳米颗粒测试技术有待突破。纳米颗粒测试越来越受到重视，方法也很多，譬如电镜就是一种测试纳米颗粒粒度与形态最常用的方法。电镜样品制备对于测试结果有重要影响。北京科技大学在拍摄高质量电镜照片方面作了出色的工作。由于电镜昂贵的价格和严格的使用条件，以及取样代表性问题，电镜在企业推广不是最佳选择。　　根据动态光散射原理设计的纳米级颗粒测试技术是一种新技术，近年来获得了快速发展。马尔文，布鲁克海文，贝克曼库尔特等公司提供了优秀的商品。马尔文公司已将动态光散射的测量范围扩展到亚纳米范围，HPPS高性能高浓度纳米粒度和Zeta电位分析仪测试范围0.6~6000nm，可以测量大分子溶液粒径。　　国内开展此项技术研究的单位日益增多，上海理工大学、浙江大学、北京大学、清华大学、济南大学等许多高校都有学者和研究生在做工作。而相关的国产产品始终没有问世的原因在于数字相关器仍然是制约国产动态光散射仪器的瓶颈技术，如果数字相关器问题得到解决，中国自己的动态光散射纳米粒度仪出现在市场上将不会太远。　　X射线的波长比纳米还要短，因此X射线小角散射是一种测量纳米颗粒的理想方法（类似于激光衍射原理），国外有商品仪器。国内，此方法已经列入国家开发计划，国家钢铁研究总院对此方法研究已经作了大量工作，但是尚未见商品问世。　　五、颗粒在线测试技术正在兴起。在线颗粒测试的需求量将远远大于实验室，这是一个并不夸张的预测。颗粒制备过程的主要工艺参数是颗粒大小，以粉磨生产线为例，尽管有很多磨机检测方法，如负荷检测，电耳检测等等都属于间接检测，无法代替颗粒粒度的检测，因此颗粒在线测试必然受到广泛关注。　　在线监测有on line, in line, at line几种方式，无论哪种方式与实验室检测相比应有如下特点：自动连续取样，报告显示实时，数据有代表性，抗干扰能力强，运行可靠，根据生产条件不同，可以采取湿法检测，也可以采取干法检测，原则是湿样湿测，干样干测。　　国内研制的第一台气流磨在线干法监测仪1997年在上海投入使用，美国马尔文公司在线检测仪2004年在东海已经安装并投入在线检测。相信颗粒在线监测技术一定会在国内逐步推广并为颗粒行业带来巨大的效益。　　颗粒测试技术的展望　　1、 未来10年内激光散射/衍射技术仍然在颗粒测试技术中担任主角。但是由于颗粒测试需求的多样性，多种测试方法百花齐放将是未来的主要特征，颗粒市场细分已露出端倪；　　2、 纳米颗粒测试技术有待突破。动态光散射技术急需数字相关器，国外的相关器产品价格不符合中国国情，电子行业的高手应该看到这个市场挺身而出。X射线小角散射技术也有技术瓶颈，如果瓶颈打开，纳米颗粒测试技术会有突飞猛进的发展；　　3、 3年后在线颗粒测试技术将成为颗粒行业竞争的焦点，在线技术要求在线动态实时测试、在线取样分散、在线控制技术全面发展，因此未来的竞争首先是产品技术含量的竞争；　　4、 综合性粒度分析仪器越来越多，每一原理测试范围是有限的，不同原理互补才可以满足用户的特殊需要。粒度粒形分析仪是激光扫描与频闪成像技术互补的例子；宽分布粒度仪采用激光衍射、静态散射和动态散射的互补；图像分析、重力沉降、离心沉淀也可以互补满足水利地质对颗粒分析的特殊要求；激光衍射与沉降法互补将可以产生颗粒形状分析新仪器。此类仪器的关键是解决不同原理测试结果的衔接问题；　　5、 随着颗粒测试技术的普及，颗粒分散技术不可避免要成为各行业专家研究的另一个重点课题。

4月2日消息，据外媒报道，俄罗斯莫斯科电子技术学院（MIET）已经接下了贸工部的6．7亿卢布资金（约合5100万元人民币），准备研发制造芯片的光刻机，并号称该款光刻机工艺可以达到EUV级别，但技术原理完全不同，他们研发的是基于同步加速器和／或等离子体源的无掩模X射线光刻机。文章内容显示：“MIET已经在无掩模EUV光刻领域取得了进展，包括与国内其他科研机构和科学家团体联合开展的研究。该项目还将涉及Zelenograd公司ESTO和Zelenograd同步加速器，现在是国家研究中心库尔恰托夫研究所的技术储存综合体（TNK）Zelenograd。“基于在该国运行和发射的同步加速器，特别是在TNKZelenograd的同步加速器以及国内等离子源的基础上，创造技术和设备，将使处理具有设计标准的半导体晶片成为可能28nm、16nm及以下，”招标文件包含这项研究工作（研发）的要求。“无掩模X射线纳米光刻技术和正在开发的设备在国内和世界上都没有类似物。”据了解，X射线因为波长很短，几乎没有衍射效应，所以很早就进入了光刻技术研发的视野内，并且在八十年代就有了X射线光刻。九十年代，IBM在美国佛蒙特州建了一条采用同步辐射光源的X射线光刻机为主力的高频IC生产线，美国军方为主要客户。而当年X射线光刻技术，是当时的下一代光刻技术的强有力竞争者。后来随着准分子激光和GaF透镜技术的成熟，深紫外光刻技术延续了下去，在分辨率和经济性上都打败了X射线光刻。X射线光刻就退出了主流光刻技术的竞争。现在用X射线光刻的，主要是LIGA技术，用来制造高深宽比结构的一种技术，可以制造出100:1的深宽比，应用于mems技术当中。目前国内有两个地方可以做X射线光刻，一个是合肥同步辐射，一个是北京同步辐射。由于X射线准直性非常好，传统的X射线光刻，是1:1复制的。掩模版使用的是硅梁支撑的低应力氮化硅薄膜，上面有一层图形化的金，作为掩蔽层。曝光方式采用扫描的方式，效率不高。目前最先进的光学光刻是EUV，极紫外光刻。我们也称之为软X射线光刻，既有光学光刻的特征，也有X射线光刻的特征。极紫外波长很短，没有透镜能够放大缩小，所以只能采用凹面镜进行反射式缩放。而掩模版也采用反射式，曝光方式也是扫描，整个系统在真空下运行。公开资料显示，承接了光刻机研发计划的“MIET”是俄罗斯高科技领域领先的技术大学。通过将现代实验室、对教育过程的全新认识以及教育、科学和工业进行独特整合，MIET成为微电子和纳米电子、电信和信息技术领域培训专家的领导者。该大学是俄罗斯大学发明活动排名中最强大的三所大学之一，是莫斯科国立大学排名中排名前五的技术大学之一，也是著名的英国出版物《泰晤士报》排名前20位的俄罗斯大学之一高等教育。实际上俄罗斯早已在芯片制造业上遭到了美国制裁。俄国内唯二半导体企业Ангстрем公司原计划通过AMD购买必要工艺设备，但这笔交易由于2016年Ангстрем公司上了美国商务部制裁名单而中止，其在泽列诺格勒的工厂因为制程工艺落后无法获得足够订单长期处于亏损状态债务超过1000亿卢布，2019年其最大债权方VEB.RF（俄罗斯国家开发集团）对其进行破产重组。当然俄另一家芯片制造商Микрон因祸得福获得了利用Ангстрем生产车间改造28纳米制程新生产线的机会，为其节省了10亿美元。俄国内半导体消费市场不到全球份额2%，如果没有政府推动，针对这样小市场的产业需求去研发制造需要投入几百亿美元成本的DUV\EUV光刻机是经济上极不合理的（全世界产业市场也就那么大）。另一方面俄军用、航天市场对芯片需求的批量不大，但种类多，需要经济上合理的小批量、多品种的产能。适用于大批量生产的投影式光刻机不能满足这种产业需求。俄国内有两条使用8英寸晶圆的生产线，分别属于АО «Микрон»和ООО «НМ-ТЕХ» 。6英寸晶圆的四条生产线，分属АО «Микрон»， АО «Ангстрем»， АО «ВЗПП-Микрон»和НИИСИ РАН，前面三个都属于上世纪90年代至本世纪初技术水平，值得注意的是最后那个用的是新的无掩膜直写。2014年荷兰Mapper公司与俄RUSNANO公司合资在莫斯科组建一家生产无掩膜光刻机核心组件微机电光学元件的工厂。该工厂生产的电子光学元件可以将一束电子束分成13000束电子束，并对每束电子束进行控制，从而极大提高了无掩膜电子束光刻机的生产效率，使这类光刻机用于设计阶段样品制造外，更加适应小批量生产的需求。Mapper公司多束无掩模光刻机，可以用于32纳米制成，其核心部件即由俄罗斯制造。更早时候，RUSNANO投资了瓦迪姆.拉霍夫斯基教授团队研制的纳米级定位器，使用该项技术可用于加工10纳米精度的非球面光学元件（用于紫外和X波段）。而这位瓦迪姆.拉霍夫斯基，是位大牛。1992年他与苏联时期在全联盟计量科学研究所工作的同事创立一家小公司接一些为苏联时期电子产品生产零件的零散订单。在生产过程中，他们被掩膜缺陷反复折腾，随着制成工艺缩小，就会出现新的问题，之前提出的解决方法都不再有效。而所需要的投资也越来越高，单是掩膜成本就从0.5微米时代的400美元增加到如今的70万美元以上。这时候拉霍夫斯基想到如果用全息生成图像的方法就可以避免掩膜缺陷对产品质量造成影响，据估计，即便缺陷占据全息掩膜面积1%，实际创建的图像质量也不会受到影响。掩膜局部缺陷对成像质量的影响降低了9-10个数量级。这同样可以延长掩膜的使用寿命和降低透镜成本（只需要简单的透镜来照射面罩），甚至利用这一技术可以实现3D光刻。但根据全息图像计算全息掩膜时，他们遇到了数学难题，为此他找到了现代渐近衍射理论的创始人弗拉基米尔安德烈耶维奇博罗维科夫教授，教授为他提供了计算方法。然而全息掩膜的计算量仍然需要超级计算机才能完成。之后他的开发团队致力于简化算法，直至能够在微机上实现，同时他们开发了一个软件包，用以生成全息掩膜（在此过程中他们发现如果用平面波再现全息图将使掩膜的拓扑结构变得无法制造，为此他们通过数学方法解决了会聚球面波的难题）。最初他找到RUSNANO，希望获得对其研发的全息投影光刻技术的投资。但RUSNANO的态度令他感到失望。之后这位老哥找到SEMI欧洲分会主席，于是他获得了瑞士Empa资金支持，并在2015年成立了Nanotech SWHL GmbH公司。按照这位大牛的观点，俄政府领导人熟悉大工业，但不熟悉技术密集型产业，缺乏苏联政府那样对有产业潜力的先进技术孵化投资的远见。而此次外媒报道的无掩膜X射线光刻机虽然无法满足大批量生产的需求。不过2020至2021年9月份，俄整个电子工业只得到2660亿卢布拨款，一座28纳米生产线和配套晶圆厂至少也要投资上万亿卢布，投入这么大一笔费用，俄国内市场也难以提供足够订单维持其运转。光刻机、芯片制造从来不是自古华山一条道，解决不同需求有不同的技术路径(例如大批量生产方面压印法也是比较有发展前景的工艺)。

1957年，安东帕公司作为一个机械加工厂，构建了世界上首台商业化的小角X-射线散射分析仪—Kratky Kamera。此后，安东帕生产的数百台SAXS仪器被销往、安装并运行在全球各地的研究实验室中。截至2017年，安东帕小角X-射线散射仪已经有60周年，这60年里安东帕为了满足科学家的需求，不断积累经验与创新技术，先后推出了KKK SAXS Camera、SAXSess、SAXSpace、SAXSpoint和SAXSpoint 2.0等一系列的开拓性实验室SAXS仪器，为各种实验想法的实现提供了最佳方案。客户的支持和信任是我们的动力，而满足客户的需求是我们永恒的目标。为感恩和回馈客户，安东帕总部于2017年9月26-27日在奥地利格拉茨特别举办以“SAXS eXcites”为主题，“Curious minds are the engine of innovation in X-ray scattering富有求知欲者是X-射线散射的创新引擎”为口号的“国际小角X-射线散射学术研讨会 2017”60周年庆祝活动。 研讨会将汇集全球公认的尖端科学家、青年科学家和互补领域的与会者，以“洞察小角X-射线散射多样性及其各种应用”为中心，旨在反映最新发展趋势，提供一个交流和思想碰撞的平台。您将有机会拓宽国际视野，接触到相关领域的各位科学家：Otto Glatter (Graz University of Technology, Austria) “From Dilute Solutions to Hierarchically Organized Dense Systems - Application of Scattering Methods in Soft Matter Science” “从稀溶液到分级组织高浓体系-散射方法在软物质科学中的应用”Dmitri Svergun (EMBL, Germany) “Small angle X-ray scattering on biomacromolecular solutions: current progress and perspectives” “小角X-射线散射对生物大分子的解决方案：当前进展与展望”Jill Trewhella (The University of Sydney, Australia) “Small-Angle X-ray Scattering: an Effective Probe of Biomolecular Structure to Understanding Function” “小角X-射线：研究生物分子结构功能得有效手段”Mitsuhiro Shibayama (The University of Tokyo, Japan) “Probe-SAXS and Deformation Studies on Nano-composite gels with 2D-Pair Distribution Function Analysis” “SAXS检测和2D-对分布函数分析对纳米复合凝胶的形变研究”Andreas Thünemann (Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Germany) “SAXS for the determination of the size distribution of nanoparticles: Application in catalysis” “SAXS测定纳米颗粒的粒径分布：催化方面应用”Detlef Smilgies (Cornell High Energy Synchrotron Source, Cornell School of Chemical and Biomolecular Engineering, USA) “In-situ Real-time Studies of Soft Materials Using GISAXS and GIWAXS” “使用GISAXS和GIWAXS对软质材料的原位实时研究”Michal Hammel (Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory, USA) “X-ray solution scattering (SAXS) combined with crystallography and computation: defining accurate macromolecular structures, conformations and assemblies in solution” “SAXS结合晶体学与计算来准确测定溶液中的大分子结构、构象和组装”Georg Pabst (University of Graz, Austria) “Structure and Interactions of Complex Biomembrane Mimetics” “复合生物膜类似物的结构和相互作用”诚邀各位科学家、教授、SAXS爱好者参加 ”SAXS eXcits”，国际小角X-射线散射学术研讨会 2017，让我们一起塑造SAXS的未来。更多信息和注册请关注：www.anton-paar.com/tu-graz/saxs-excites

LIGA 是德文的制版术Lithographie，电铸成形Galvanoformung 和注塑Abformung 的缩写。自20世纪80年代德国卡尔斯鲁厄原子核研究所为制造微喷嘴创立LIGA技术以来，对其感兴趣的国家日益增多，德、日、美相继投入巨资进行开发研究。该技术被认为是最有前途的三维微细加工方法，具有广阔的应用前景。与传统微细加工方法相比，用LIGA技术进行超微细加工有如下特点：1.可制造有较大深宽比的微结构。2.取材广泛，可以是金属、陶瓷、聚合物、玻璃等。3.可制作任意复杂图形结构，精度高。4.可重复复制，符合工业上大批量生产要求，成本低。LIGA的基本工艺流程如下：x射线掩模制作首先用电子束或激光对薄光刻胶进行第一次曝光，制成初级掩膜，然后经过显影、电镀等工艺步骤制成初级微结构掩膜板（此掩膜板本质上已经是一个高度较低的微结构）。对于高深宽比微结构，需要进一步制备额外的高深宽比掩膜板。X射线光刻(Lithographie)借助上述的初级微结构掩膜板，在厚光刻胶上用X射线进行曝光，然后经过显影、电镀等工艺步骤制成中级微结构掩膜板。由于同步辐射设备KARA(原ANKA)提供的平行x射线束，可确保高纵横比和光滑的侧壁。电镀(Galvanoformung)将上述步骤获得的光刻胶模具置于金属电镀液中进行电镀，即可实现高纵横比、高精度结构的金属零件。聚合物成型(Abformung)为了复制聚合物基板上的精密结构，可以使用上述工艺制作注塑和热压花用的模镶件。可实现微聚合物结构的精确复制。因此LIGA工艺制造的微结构聚合物和金属零件在x射线光学领域有着广泛的应用，包括在在科研机构和工业领域。 在之前的文章中我们介绍了LIGA工艺制造的光栅在X射线相衬成像领域的应用。今天我们准备给大家介绍它在X射线显微学中的应用。X射线显微学目前基于X射线光管的纳米成像的主要结构有两种技术路线(基于同步辐射的CDI等成像技术，今天暂不做讨论)： 1.投影几何放大技术2. 基于菲涅尔波带片的扫描透视显微技术或全场透视显微技术等全场透视显微光路扫描透视显微技术上述方法中的Condenser lens通常使用复制技术、或者玻璃毛细拉伸技术来实现；用于聚焦或目镜的菲涅尔波带片（FZP）通常使用电子束光刻和干法刻蚀等复合技术来加工，今天我们着重介绍一下使用LIGA技术加工光束截止器（central stopper 或者central beam stop）和级次选取针孔Order select aperture。 X 射线波带片结构为一系列明暗相间的同心圆环，如上图所示中，每个环带的面积相等，这些明暗相间的圆环分别使用入射X射线透明与不透明的材料，从而使通过相邻透过或不透过的光程相差一个波长，从而在焦点上发生透过不同环带的相同位相光线的叠加。在扫描透视显微光路中为保证只有一阶衍射光入射到样品上，所以选用使用适当尺寸和吸收体厚度的级次选取针孔（OSA）和光束截止器（Central beam stopper）及其他们放置的位置是非常有必要且关键的。基于成熟的LIGA技术，Microworks公司制造一批多功能、性价比高且性能优越的级次选取针孔（OSA）和光束截止器（Central beam stopper）。光束截止器（Central beam stopper）基本参数吸收材料金厚度80µmBeamstop尺寸10 µm to 160 µm，间隔10 µm开口尺寸650 µm载体薄膜自支撑结构，每个圆柱体由3个宽2.5µm的薄鳍支撑。总尺寸4.5mm*4.5mm安装建议光束截止器非常稳定，可以使用简单支架夹持制作过程视频展示级次选取针孔（OSA）同时我们可以根据您的要求定制孔径和光束截止器。选项包括特定形状、大小、高度和或者特定的阵列等。北京众星联恒科技有限公司作为Microworks公司中国区授权总代理商，为中国客户提供Microworks所有产品的售前咨询，销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供高端的x射线、极紫外产品及解决方案。参考文献：Ohigashi, T., et al. (2020) A low-pass filtering Fresnel zone plate for soft x-ray microscopic analysis down to the lithium K-edge region. Review of Scientific Instruments.李艳丽, 陈代谢, 孔祥东, 门勇, 韩立. X射线波带片的应用及制备[J]. 纳米技术, 2019, 9(2): 41-54.http://x-ray-optics.de/index.php/en/

X射线衍射是获取材料晶体类型、应力状况、择优取向等结构信息的一种重要检测方法。近年来，X射线衍射仪更是凭借着无损、便捷、测量精度高等特点被应用于诸多领域。随着科技的不断进步和市场竞争的加剧，X射线衍射仪生产企业也不断地研发新产品以提升自身竞争力，满足用户的多样化需求。值此年末之际，回顾2023，仪器信息网特对两款让人印象深刻的X射线衍射仪新品进行盘点，以飨读者。布鲁克D6 PHASER一体化台式X射线衍射仪布鲁克（Bruker）作为全球领先的分析仪器企业之一，在过去的几十年里，创造了一系列革新的产品，为科学和工业界用户提供支持。2023年6月，布鲁克正式推出D6 PHASER台式X射线衍射仪，这款产品不仅大大拓展了衍射仪除粉末衍射以外的分析潜能，还填补了传统台式衍射仪与落地式衍射仪之间的功能性差距。D6 PHASER可用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析。其X光管功率为600W和1200W，最小步进角度0.002°，测角仪精准度0.01°，分辨率0.03°。功能强大的同时，D6 PHASER还兼具着可操作性与灵活性。基于布鲁克简单易用的软件及其对XRD分析方法的广泛了解，D6 PHASER能够以直观的方式对用户进行指导，让用户无需经过培训即可上手。奥龙 组合多功能X射线衍射仪AL-Y3500丹东奥龙传承了中国射线仪器五十余年发展史，是一家射线仪器行业技术力量与综合实力雄厚的高科技企业。2022年4月，丹东奥龙通过“揭榜挂帅”的形式揭榜了国家发改委高端仪器设备关键核心技术攻关项目，以研制国产高精度X射线衍射仪为目标，重点解决关键核心部件“卡脖子”问题，攻克关键部件的产业化，实现X射线衍射仪生产自主安全可控。在此背景下，X射线衍射仪AL-Y3500于今年重磅亮相。AL-Y3500采用固态X射线发生器，极大提高了衍射仪测量结果的稳定性；金属陶瓷X射线管，具有散热性好、运行功率高（40kV×40mA、50kV×40mA）、使用寿命长等特点；衍射角驱动采用步进电机驱动+光学编码控制技术，测角仪内藏式设计；在衍射角度测量范围内，衍射角度线性度小于0.02°。作为一款高性能、高精度的国产X射线衍射仪，AL-Y3500可对金属和非金属的样品进行定性、定量、晶体结构分析，配置相应附件后还可进一步用来研究高温、低温对材料结构的影响，以及薄膜样品结构分析，金属材料织构、应力测量等。众所周知，仪器创新对于科技进步具有重要的推动作用。希望X射线衍射仪生产企业能积极研发、持续创新，推出更多具有特色和核心竞争力的产品，助推相关产业高质量、快速发展。

结构生物学的主要目标是，从机制上理解关键的生物学过程。研究这些过程中的大分子和复合体，确定它们的分子结构，可以得到最详细的基础信息。除此之外，获得药物靶标的分子结构也是药物开发的标准程序，人们可以在此基础上设计和优化治疗性的化合物。 　　不久以前，单颗粒冷冻电镜(cryo-EM)还不是大多数结构生物学家们的第一选择。2013年以前，蛋白数据库(PDB)中的绝大多数分子结构还是X射线晶体衍射获得的。而现在，单颗粒冷冻电镜已经成为了X射线晶体衍射的有力竞争者，不仅在分辨率上能够与之匹敌，还适用于难以结晶的大分子。 　　本期Cell杂志刊登了华人学者程亦凡(Yifan Cheng)博士的两篇文章。这两篇文章由浅入深的介绍了风头正劲的单颗粒冷冻电镜，为想要试水这一技术的新手们提供了入门指南，并且详细介绍了这一技术近年来取得的重要突破。 　　程亦凡是加州大学旧金山分校的副教授，他原本是物理学博士，后来改用物理学方法研究生物问题。近来，程亦凡在冷冻电镜方面取得了突破性成果，受到了广泛的关注。 　　单颗粒冷冻电镜入门 　　单颗粒冷冻电镜是用于单颗粒样本的冷冻电镜技术，不需要结晶就可以确定蛋白质和大分子复合体的结构。这篇文章介绍了单颗粒冷冻电镜在结构分析时的实验步骤、注意事项、数据判读和入门指引，为希望了解这一技术的科学家们提供了宝贵的资源。(原文：A Primer to Single-Particle Cryo-Electron Microscopy) 　　单颗粒冷冻电镜的技术突破 　　这篇综述探讨了为冷冻电镜带来变革的硬件和软件突破。这些技术突破让单颗粒冷冻电镜能够获得质量空前的图像，达到接近原子水平的分辨率。与X射线晶体衍射相比，单颗粒冷冻电镜还是一个相对年轻的技术，仍处于快速发展中。但X射线晶体衍射完全依赖于结晶质量，这已经成为了一个重要的技术瓶颈。而单颗粒冷冻电镜在这方面可能更有吸引力。(原文：Single-Particle Cryo-EM at Crystallographic Resolution) 　　相关新闻：程亦凡谈冷冻电镜技术发展&mdash &mdash 访美国加州大学旧金山分校副教授程亦凡

p & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 当地时间(德国，卡尔斯鲁厄)2017年5月22日，Bruker公司发布了全新的S8 TIGERTM Series 2 高端波长色散型 X 射线荧光光谱仪 (WDXRF)，为S8 TIGERTM系列第二代产品。 /p p style=" text-align: center " img title=" 1.png" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/83ed3915-dd4a-413b-9343-0a4298cfe665.jpg" / /p p 　　S8 TIGERTM Series 2是XRF 产品系列中创新设计的高端产品，具有强大的定量元素分析功能，专门为工业过程和质量控制要求很苛刻的应用领域，以及研发实验室要求的功能强大的元素分析工具而设计。 /p p 　　S8 TIGERTM Series 2加入了全新的High Sense& #8482 技术，从而获得了非常理想的线性动态范围和更好的精密度。此外，检测时间显著缩短，样品处理量增加，这使得S8 TIGERTM Series 2的检测效率提高了25%。 /p p 　　S8 TIGERTM Series 2另一项重要功能是XRF2小光斑映射，该功能可获得被测材料中元素分布的详细信息。光斑直径300um，从而获得了WDXRF可用的最高空间解析度，这使得S8 TIGERTM Series 2可以很好地满足工业质量控制实验室和方法开发实验室的需求。 /p p 　　此外，S8 TIGERTM Series 2全新的HighS ense X-射线光学系统提高了检测灵敏度和分辨率，这有利于广泛的应用, 包括对颗粒的识别、采矿过程中矿物选矿工艺的优化、金属、半导体和纳米技术的材料性能分析。 /p p 　　全新的TouchControl& #8482 用户界面，为高端XRF系统创立了操作简便的新的理念。对于不经常操作仪器和经验较少的用户，其操作培训很简单。独有的样品保护功能能自动识别样品，集成的防污染护罩可以保护 S8 TIGER 避免各种可能的污染，保证仪器能长时间有效运行。 /p p /p

p 　　 strong 编者按 /strong ：让PM2.5无所遁形的颗粒粒径检测技术，已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。本文作者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI)，采用分类号G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索，并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述，以期对该领域的进一步研究提供一些参考。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/8421654c-8b9f-40df-adeb-ff1dbf5948e4.jpg" title=" 00.jpg" / /p p 　　2011年底，美国驻华大使馆在新浪微博的官方账号发出一条微博：“北京空气质量指数439，PM2.5细颗粒浓度408.0，空气有毒害??”该微博随即在国内引发了对PM2.5(细颗粒物)的强烈关注，最终PM2.5被纳入到常规空气质量监测体系中。事实上，让PM2.5无所遁形的就是颗粒粒径检测技术，其已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。笔者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI)，采用分类号 G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索，并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述，以期对该领域的进一步研究提供一些参考。 /p p 　　 strong 各项技术并行发展 /strong /p p 　　颗粒粒径或粒度分布的检测方法种类繁多，按照测量原理主要有7类技术分支，包括：筛分法、沉降法、显微图像法、光散射法、电阻法、静电法和超声法。笔者对各技术分支的专利申请量进行统计发现，光散射法的专利申请量最高，其早在20世纪70年代就进入人们的视线，是目前最先进、应用最广的一种颗粒测量技术。此外，排名第二的是显微镜法，尤其是电子显微镜图像分析技术是当前比较流行的分析手段，该方法优势明显，除了可得到颗粒的粒径，还可以对颗粒的结构、形状和表面形貌有一定的直观认识和了解。然后分别是沉降法和筛分法，这两种方法是测量颗粒粒径的传统方法，工艺过程简单、成本较低，且操作便捷、装置结构简单。 /p p 　　在颗粒粒径检测技术演进的过程中，主要的发展趋势有2个方面：检测精确度的提高及检测对象的扩展。上世纪 40年代以前，业内主要是采用筛分法、沉降法和显微镜法。其中筛分法最早的专利出现在1933年，公开号为GB402402A 沉降法则是基于 Stokes重力沉降公式来测定粒径，沉降法的专利早期以国外专利申请为主。显微镜法是唯一可直接观测单个或混合颗粒形状、粒度和分布的方法，早期国内相关专利申请较少，从2010年才开始出现激增态势。此外，将显微镜法和其他粒度测试方法结合于一体的装置，是当前显微镜法的研究热点，如上海理工大学公开号为CN102207443A、CN102207444A的专利申请，就是利用传感器件将多种颗粒粒度测量方法融合在一起。 /p p 　　随着计算机、电子和激光等技术的快速发展，20世纪70年代起，颗粒粒径检测逐渐开始实现检测对象的多元化，光散射颗粒粒度测量仪受到市场欢迎。光散射技术的思想最早由前苏联学者Mandelshtam于1926年提出，随后其应用逐步扩展至界面和胶体科学等领域，并开发出了荧光相关光谱法、X射线光子相关光谱法、动态光散射显微术等。近年来，对动态光散射仪器的应用需求明显增长，相关技术研究主要集中在对动态光散射仪器的局部结构改进和采用各种新技术改造传统装置以扩展新应用等方面。 /p p 　　对于电阻法和基于电阻法发展起来的静电法和超声法，其理论基础的发展目前已趋于成熟。其中电阻法最早为美国Coulter公司创始人Wallace H. Coulter于1953年发明，随后Coulter公司将其商品化，开发出库尔特计数器，Coulter公司此后不断对电阻法进行深入研究，其生产的 Multisizer I全自动粒度分析仪仍是目前较为先进的颗粒测量多功能仪器。而其他公司和个人对于电阻法、静电法和超声法的研究，在1980年之后得到迅速发展，大量相关的专利都是基于Coulter公司技术的改进而来。 /p p 　　总体而言，虽然不同检测方法均有其各自的特点和适应的颗粒类型，各技术之间呈现并行发展的趋势，但整体上呈现出向更快速、更准确以及更加便捷检测的方向发展，各分支的专利申请量也均呈现出上升趋势。 /p p 　 strong 　两家公司平分秋色 /strong /p p 　　笔者分析了排名靠前的主要申请人的核心专利数量和企业综合实力，发现在颗粒粒径检测领域， a style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " title=" " target=" _self" href=" http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100646/" span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 英国马尔文仪器有限公司 /span /a (下称马尔文公司)和 a style=" text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " title=" " target=" _self" href=" http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/" span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 美国贝克曼库尔特公司 /span /a span style=" text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " ( /span 下称贝克曼公司)呈现平分秋色的竞争态势。 /p p 　　马尔文公司成立于1963年，早在20世纪80年代，该公司便进行了颗粒粒径测量仪器的技术研发，其最早的研究方向是基于激光技术测定颗粒粒径。随后，该公司研发了利用超声法测量颗粒粒径的相关技术，相关专利包括US5121629A、GB9801667D0、WO2010/041082A2等。在 1980年到2010年间，马尔文公司在颗粒粒径检测的几个主要技术分支上均保持了稳定的专利申请量，在光散射法和超声法检测两个分支的专利申请量最大。 /p p 　　马尔文公司在超声测量方面的主要产品为Ultrasizer MSV超声测量仪，该仪器可根据颗粒粒径与声波衰减之间的关系计算出颗粒粒度分布，同时还可以测出体系的固含量。随后，该公司在初代产品的基础上进行改进，开发出了探头式超声粒度测量仪。近年来，马尔文公司发展迅速，从专利申请分布来看，自2010年至今，该公司提交了50余件关于激光粒度分析的专利申请，这表明该公司可能欲向高精密仪器方向转型。 /p p 　　贝克曼公司于1997年成立，现已成为世界最大的颗粒分析仪器公司，其于1953年制造出了世界上第一台颗粒粒度分析仪，并于1965年对该产品提交了专利申请NL6505468A。 /p p 　　1983年贝克曼公司就进入了中国市场，并在北京、上海等地设立了代表处，此后不断完善专利战略，迅速占领了国内外市场。2000年之后，贝克曼公司进入超声颗粒测量领域，获得了一系列专利权，如公开号为WO0057774A1、US2006001875A1等。2000年至2012年，贝克曼公司在颗粒粒度检测的四个主要分支领域均进行了专利布局，其开发了基于电阻原理的Multisizer 3系列粒度分析仪，基于光脉冲原理的HIAC系列液体颗粒检测仪，基于光脉冲和库尔特原理的Multisizer 4e系列粒度分析仪，以及融合了超声与光散射原理的DelsaMax Pro粒径分析仪和DelsaMax CORE系列产品。其最新的DelsaMax Pro系列产品与马尔文公司的Zetasizer Nano系列产品采用的技术都结合了声学和光学颗粒检测技术，可见两家公司在该领域的竞争态势比较激烈。 /p p 　　笔者认为，今后颗粒粒径检测领域的技术发展将更注重提高测量精度和对颗粒特性的多方面测定等方面，将不同颗粒粒径检测技术进行融合以提高检测性能将成为未来专利布局的热点。(詹雪) /p p （本文仅代表作者个人观点） /p

p style=" text-align:center " br/ /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" ZWIN-YCB06β /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 射线法扬尘在线监测仪是智易时代经多年项目经验，改进研发符合国标法的一款扬尘监测设备。本产品主要由机箱、嵌入式计算机、切割器、抽气泵、采样系统、智能加热装置几部分组成，可以实时监测环境大气中 span PM2.5/PM10/TSP /span 颗粒物的浓度水平，并执行中华人民共和国环境保护标准 span (HJ653/655) /span ，可连续自动监测环境空气中悬浮颗粒物的浓度，数据准确，产品质量高，先后取得 span CPA /span 认证和 span CCEP /span 认证，是我司研发较为成功的一套扬尘监测系统。 /span /p p style=" line-height: 150% text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 300px height: 485px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202006/uepic/f8456490-42d4-4f16-98bc-dc35be9e4205.jpg" title=" 49491802399798670(1).jpg" alt=" 49491802399798670(1).jpg" width=" 300" height=" 485" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 本产品采用β射线衰减原理，是专门为环境空气中扬尘浓度的监测而设计的国标法设备，由微电脑系统进行监控和数据管理，采用质量流量计进行恒定采样，精度性更高。主要应用于大气质量监测网络、移动监测站、长期背景环境研究、工矿企业、科研院所等领域。 /span /p p style=" line-height:150%" span img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/857ab6b6-ef3e-47f4-902e-e78e0f7c1486.jpg" title=" CCEP.jpg" alt=" CCEP.jpg" / img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/bc2a1277-37da-47aa-8298-2f4543234abf.jpg" title=" CPA.jpg" alt=" CPA.jpg" / /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 产品特点 /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 1. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 采用 span 7 /span 寸工业屏及精简安卓系统，系统稳定可靠，简单易懂，人机对话模式，操作简单； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 2. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 数据存储量高可达百万个，数据保存时间长可达 span 20 /span 年； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 3. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 监测仪独特的结构设计，采样与分析在同一通道，避免了走纸造成误差； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 4. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 内置故障自动诊断和报警提示功能模块，也可以通过远程诊断并修复错误； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 5. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 配置不同切割器，可实现 span TSP /span 、 span PM10 /span 和 span PM2.5 /span 质量浓度的实时在线监测 span /span /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 6. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 仪器配置温湿联控系统 span (DHS) /span ，去除湿度对测量数据的影响； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 7. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 具备开机自启动、开机自检、自动校准功能； /span /p p style=" line-height:150%" span style=" font-size: 16px line-height:150% font-family:宋体" 8. /span span style=" font-size:16px line-height:150% font-family:宋体" 具有 span CCEP( /span 中国环保产品认证 span ) /span 证书和 span CPA( /span 计量器具型式批准认证 span ) /span 证书。 /span /p p br/ /p p 创新点： /p p 1.采用7寸工业屏及精简安卓系统，系统稳定可靠，简单易懂，人机对话模式，操作简单；2.数据存储量高可达百万个，数据保存时间长可达20年；3.监测仪独特的结构设计，采样与分析在同一通道，避免了走纸造成误差；4.内置故障自动诊断和报警提示功能模块，也可以通过远程诊断并修复错误；5.配置不同切割器，可实现TSP、PM10和PM2.5质量浓度的实时在线监测 6.仪器配置温湿联控系统(DHS)，去除湿度对测量数据的影响；7.具备开机自启动、开机自检、自动校准功能；8.具有CCEP(中国环保产品认证)证书和CPA(计量器具型式批准认证)证书。 /p p a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/C375976.htm" style=" font-size:22px text-decoration: underline " target=" _blank" strong 智易时代β射线法扬尘监测仪 /strong /a /p

7月7日，钢研纳克波长色散-X射线荧光光谱仪新品发布会在北京朗丽兹西山花园酒店举行，在万众期待下，CNX-808型顺序式波长色散X射线荧光光谱仪揭开神秘面纱，这是钢研纳克在国产高端分析设备领域迈出的重要一步。在科技部国家重大科学仪器专项（2012YQ050076）的支持下，项目组针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求，先后攻克了X射线源、分光光路系统、探测器等关键技术，成功研制了顺序式波长色散-X射线荧光光谱仪——CNX-808。基于 CNX-808，开发了适合各行业的分析测试方法，建立了针对金属、地质、建材、环境、矿物等领域多种类型样品的方法体系。活动现场大咖云集，国家地质实验测试中心齐亚彬主任，中国地质科学院罗立强研究员，中国地质调查局南京中心黄俊杰研究员，中科院上海硅酸盐研究所卓尚军研究员，北京金自天正股份有限公司马硕高工，中国建材检验认证集团公司刘玉兵研究员，中国地质调查局物化探所于兆水研究员，钢铁研究总院张立新高工，还有来自材料、地质、分析检测领域各行各业的专家，以及各大媒体悉数出席，共同见证了CNX-808的诞生。此次发布会通过网络进行了全程同步直播，数千名行业专家、行业用户同时在线观看了发布会直播盛况。发布会伊始，钢研纳克检测技术股份有限公司党委书记总经理杨植岗致辞，回顾了纳克仪器的发展历程和辉煌成绩，介绍了CNX-808的项目情况，表达了对该产品的信心和期待。同时，在CNX-808的基础上，钢研纳克与国家地质实验测试中心合作，开发了相关的测试方法，建立了多类型样品多元素的方法体系，国家地质实验测试中心齐亚彬主任致辞，对CNX-808的性能表示高度赞扬，表示CNX-808的各方面性能指标达到了国际先进水平，对产品在市场的良好前景表示祝贺。1952年以来，钢研纳克前身钢铁工业试验所成立，分析检测领域的先贤们在西单大木仓缔造了中国冶金分析检测领域的早期机构。在改革开放的时代浪潮下，钢研纳克汇聚了一批批优秀人才，积极进军国产科学仪器研发制造领域。中国第一台红外定氧仪、中国第一台金属原位分析仪、中国第一台食品重金属检测仪… … 填补了多个国内空白，创造了多个第一。时至今日，形成七大类，近70余种型号的产品，基本覆盖材料产业测试表征全流程的检测设备，逐步实现由通用型向专用型测试表征设备延伸，成为中国仪器仪表行业最具影响力厂商之一，并于2019年在深交所创业板成功上市（股票代码：300797）。这次发布会也吸引了行业众多同仁的关注，在万众瞩目下，在所有嘉宾的共同见证下，国家地质实验测试中心齐亚彬主任和钢研纳克党委书记总经理杨植岗一同对新产品进行了揭幕。随后，钢研纳克 X荧光光谱仪项目经理周超带来了新产品介绍报告，对仪器的性能、特点、优势和应用情况做了详细阐述。最后一个重磅报告由中国地质科学院的专家罗立强研究员带来，主题为《X射线光谱仪与装置研发现状与进展》，对X射线光谱仪的应用前景提出了更前沿的阐述，对XRS的未来趋势和技术路线做了专业分析，也表达了对纳克这样国产高端仪器制造商的信心，相信国产仪器会越来越好，逐步实现国产替代。会后媒体对罗老师进行了专访，在谈到国产仪器目前的困难和未来的前景时表示：钢研纳克是目前国内知名的具有高水平研发制造实力的仪器产商，技术积淀和创新能力都有目共睹，今天的发布会让我们看到了作为国产厂商的钢研纳克，所研发制造的波长色散-X荧光光谱仪也拥有了和国外一流产商一较高下的能力，我们也为其感到激动和自豪。国产的高端分析仪器的发展需要更多的国产厂商一起努力，我们也需要像钢研纳克这样的国产产商，能够与我们国内的实验室一起合作，实实在在的在高端分析仪器领域扛起一片天。如今，纳克人在致力于成为材料产业质量基础设施建设引领着的企业愿景的驱使下，不断奋进，立足中国，在上海、青岛、成都、苏州均设立分/子公司，在全国20多地设立办事处，为各行各业客户提供优质服务。钢研纳克将一直秉承着务实进取的态度，在高端国产分析仪器的道路上不断奋斗，争取早日实现高端仪器的国产覆盖和替代。点击以下视频，回顾本次新品发布会精彩过程：

X射线衍射成像技术（XRD）是一种重要的材料分析技术，它通过测量材料内原子平面对X射线的衍射来研究和量化材料的结晶性质。以下是X射线衍射成像技术的相关应用：1. 材料科学晶体结构分析：XRD是分析材料晶体结构的主要手段之一，能够确定晶体的晶格常数、晶胞参数、晶体缺陷等。相鉴定与定量分析：可以识别材料中存在的不同相（如固溶体、化合物等），并对各相进行定量分析。应力与应变测量：通过测量材料在特定条件下的XRD图谱变化，可以评估材料内部的应力和应变状态。2. 制药业药物分析：XRD是固态药物分析的关键技术，可用于确定药物的晶体结构、晶型转变、纯度等，对药物开发、测试和生产的各个阶段都大有裨益。药物专利保护：在分离出活性药物后，索引X射线粉末衍射图样可用于确定晶体结构，从而帮助获得专利和保护公司投资。3. 法医学接触者追踪分析：XRD在法医学中主要用于接触者追踪分析，如通过油漆薄片、头发、玻璃碎片等材料的XRD图谱，帮助鉴定和比较物证，有助于对涉嫌犯罪的人定罪或开脱罪责。4. 地质应用矿物勘探：XRD是矿物勘探的关键工具，能够快速识别矿物样本中的矿物种类，并量化不同矿物的存在比例。岩石学研究：通过XRD分析，可以了解岩石的矿物组成、晶体结构等信息，对岩石成因、地质构造等研究具有重要意义。5. 工业领域无损检测：X射线成像技术可用于无损检测材料和产品的缺陷，如金属零件中的裂纹、焊接接口质量等，确保质量控制。质量控制：在制造过程中，XRD可用于检查产品的尺寸、形状和结构特征，及时发现偏差和不符合要求的情况，从而进行调整和改进。6. 半导体行业晶体结构表征：X射线衍射技术可用于分析和表征半导体材料的晶体结构，对研究半导体材料的质量和性能至关重要。缺陷检测：结合X射线显微成像技术，可以检测半导体器件中的缺陷，如晶体管、集成电路和微芯片中的金属连接问题、曝露问题和局部结构缺陷等。7. 玻璃工业缺陷识别：虽然玻璃是X射线无定形物，但XRD可用于识别造成块状玻璃微小缺陷的结晶颗粒。涂层分析：测量结晶涂层的质地、晶粒尺寸和结晶度，以优化涂层性能。综上所述，X射线衍射成像技术在多个领域具有广泛的应用价值，是材料分析、质量控制、法医学、地质勘探等领域不可或缺的重要工具。

近日，荷兰帕纳科公司在埃因霍温建成了一个新工厂，主要负责生产制造X射线管。帕纳科埃因霍温现代化新工厂的建成，将会大大提高X射线管和X射线仪器解决方案的质量及性能，进一步扩大帕纳科公司在X射线领域的领先优势，据悉，埃因霍温新工厂已于2011年8月8日正式投入生产。 　　帕纳科公司的产品主要包括X射线衍射(XRD)系统、X射线荧光(XRF)光谱仪及X射线管等，是全球唯一一家自己开发和生产X射线管的X射线分析系统供应商。 　　帕纳科CEO Peter van Velzen先生表示：“我们很高兴宣布这一具有里程碑意义的消息。新工厂将会巩固并扩大帕纳科X射线管业务，是我们的员工聚集到配备世界一流设施的新工厂，真正体现了帕纳科公司的愿景。” 　　“埃因霍温地区聚集了一部分世界最辉煌的高科技企业，吸引众多X射线物理学、高压、真空、电子光学、材料科学和工艺技术等领域的专业工程师。通过进一步加强我们作为技术领先者和创新推动者的地位，帕纳科将会利用本地区优势，确保长期聘用高学历人才。帕纳科对未来有很大的信心，并将继续在新X射线管技术与产品的开发方面大力投资。”

Thermo Scientific™ DM5018™ 室外颗粒物连续监测仪DM5018 室外颗粒物连续监测仪，采用β 射线衰减技术，坚固可靠的户外设计，配备不同采样头，可对TSP，PM10，以及PM2.5 质量浓度进行实时连续测量，为道路，建筑工地，堆场等扬尘防控提供持续准确，可靠，可追溯的监测数据。产品综述：DM5018 室外颗粒物连续监测仪采用β 射线衰减技术，以可靠的i 系列颗粒物监测仪为基础，实时监测空气中的颗粒物浓度，监测方法符合中国生态环境部和美国EPA 的相关要求。DM5018 室外颗粒物连续监测仪配备定制系统空调和保温层的户外机柜，可直接安装于室外环境中。机柜内独特的循环风道设计保证箱体内温度相对稳定，机柜前后开门便于使用和维护，同时配有电源稳压器和防雷设计，即使在恶劣的条件下也能正常稳定运行。DM5018 室外颗粒物连续监测仪能够做到真正的实时监测，仪器量程范围广，响应时间快，可快速捕捉颗粒物浓度变化，数据准确可靠，特别适合安装于建筑工地或市政施工现场，进行扬尘颗粒物的在线监测，规范建筑工程施工行为，帮助降低扬尘排放对周边环境空气质量的影响。产品特点：• β 射线原理，实时监测颗粒物质量浓度• 单通道配置不同采样头，测量TSP，PM10 或PM2.5• 内外箱组合设计，顶部预留空间适用客户多种扩展/ 集成需求• IP55 室外机柜，定制系统空调，内壁保温棉，仪器运行环境更稳定• 加热管室外保护套筒，与机柜法兰连接• 内箱保护所有仪器部分，循环风道设计• 平铺分层设计，前侧更换纸带，易于安装和维护• 检测器电池和内置稳压器以防工地经常性断电和电压不稳• 二级级联防雷，室外运行更安全• 校准膜溯源流程，测量结果可追溯技术规格：仪器性能放射源碳-14（C-14）, 80 μg/m3（24 小时平均）准确度（质量测量）±5% （使用可追溯至NIST 的质量校准膜片）数据平均及输出长期质量浓度平均时间60 - 3,600 秒和24 小时数据输出速率1秒样气流量流量16.67 升/ 分钟流量精度±2% 测量值流量准确度运行条件操作温度范围-20 ℃ ~ 50 ℃机箱内部温度30 ℃ ± 10 ℃防水防尘等级IP55无冷凝机箱内相对湿度输入16 位数字输入（标准）；8 路0-10VDC 模拟输入（可选）；8 路用户定义模拟输出（0-1 或0-5VDC）输出可选电压，RS232/RS485，TCP/IP，10 路继电器输出，断电指示（标准）；6 路用户定义的模式输出（0-100mV,0-1V,0-5V,0-10VDC） 0-20 或4-20mA 隔离电流输出（可选）协议C-Link, MODBUS, Geystitech（Bayern-Hessen）, ESM 协议, 数据流, NTP 协议 . 通过以太网从不同地方同时连接内部数据存储用户指定变量的内部数据日志（浓度，日期，时间，旗帜等多达32 种类型日志参数） 容量19 万条记录电源电源输入187-253 VAC, 50/60Hz最大功率1000 瓦（包括空调）显示菜单驱动式软件，320*420 图形显示尺寸723 mm x 655 mm x 1270 mm（WxDxH）重量130kg创新点：1. 对施工行为所造成的扬尘浓度变化进行快速响应和捕捉。采用连续beta射线技术，真正的实时连续监测，可提供质量浓度分钟数据。 2. 在工地恶劣的环境条件下，仪器仍能保证稳定的性能，监测数据可靠。IP55空调室外机柜，仪器在可控的环境条件范围内运行。 3. 在工地现场经常出现电压不稳甚至断电的情况下，仪器能够保证稳定的性能，断电恢复后仪器能够更快速的稳定并输出有效数据。检测器电池和内置稳压器，断电恢复后，仪器稳定时间缩短，保证仪器输入电源电压平稳。 4. 现场操作性强，只需要定期将校准膜进行检定，测量结果可追溯。校准膜溯源流程，通过膜校准，现场每一台仪器的测量结果都可追溯。 赛默飞 DM5018室外颗粒物连续监测仪

瑞士保罗谢勒研究所（PSI）的科学家开发了一种突破性的X射线消色差透镜。这使得X射线束即使具有不同的波长也可以准确地聚焦在一个点上。根据14日发表在《自然通讯》上的论文，新透镜将使利用X射线研究纳米结构变得更加容易，特别有利于微芯片、电池和材料科学等领域的研发工作。要想在摄影和光学显微镜中产生清晰的图像，消色差透镜必不可少。它们可以确保不同颜色，即不同波长的光，能够清晰聚焦，从而消除模糊现象。直到现在才开发出一种用于X射线的消色差透镜，这一事实乍一看可能令人惊讶，毕竟可见光消色差透镜已经存在了200多年。它们通常由两种不同的材料组成。光线穿透第一种材料，分裂成光谱颜色，就像穿过传统的玻璃棱镜一样。然后，它通过第二种材料来逆转这种效果。在物理学中，分离不同波长的过程称为“色散”。然而，PSIX射线纳米科学与技术实验室X射线光学与应用研究组负责人、物理学家克里斯蒂安大卫解释说：“这种适用于可见光范围的基本原理并不适用于X射线范围。”对于X射线来说，没有哪两种材料的光学性质在很大的波长范围内有足够的差异，从而使一种材料可以抵消另一种材料的影响。换句话说，X射线范围内材料的色散太相似了。此次，科学家没有在两种材料的组合中寻找答案，而是将两种不同的光学原理联系在一起。这项新研究的主要作者亚当库贝克说：“诀窍是意识到我们可以在衍射镜前面放置第二个折射镜。”PSI用已有的纳米光刻技术来制造衍射镜，并用微米级的3D打印制造出折射结构，成功开发出用于X射线的消色差透镜，解决了上述问题。为了表征他们的消色差X射线透镜，科学家们在瑞士同步辐射光源使用了一条X射线光束线，还使用光刻技术来描述X射线光束，从而描述消色差透镜。这使得科学家们能够精确地探测到不同波长的X射线焦点的位置。