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射线光法构分析

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射线光法构分析相关的仪器

  • EA8000是,与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物,再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析,是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析,查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时,协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池(LIB)虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中,但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用,与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路,而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关,因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声,较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题,开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点(1)通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物(2)从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品,也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时,将导电剂直接装入袋中就可检测出异物,在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程(3)自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测(通过图像处理)、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少,数据也可自动保存,效率高,可安心使用。图3 检查、分析流程(4)想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外,异物尺寸及个数分布利用柱状图表示,实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析,异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例
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  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 概要:对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号:EA1000VX测量元素:原子序数13(Al)~92(U)样品形态:固体、粉末、液体射线源:X射线管球(Rh靶材) 管电压:最大50kV 管电流:最大1000μA检测器:多阴极半导体检测器分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)样品观察:彩色CCD摄像头滤波器:5种模式自动切换样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析:块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理:配备EXCEL、配备WORD外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm安装尺寸:1500(W)×1000(D)重量:约60kg使用电源(主机):AC100~240V±10%单相 选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点:1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)*Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)2. 高技术率检测器(Vortex)不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器(选购项)自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。
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  • 仪器简介:今天世界面临许多环境问题。用于防止有害污染的高灵敏度?高精度的分析技术越来越重要。实施限制以减少柴油机燃料油、轻油、重油中的硫成分。伴随着环境意识的提高,这些限制将变得更加严格。HORIBA的SLFA‐2800/2100通过革新的分析技术满足了这些要求。 技术参数:测定原理:荧光X射线分析法测定对象:重油、挥发油、原油等的石油产品中的硫测定范围:5ppm以内(1%的试样中)/1.6ppm以内(0%的试样中)C/H误差:每1C/H在±50ppm以内(1%的试样中)检测下限:5ppm以下标准曲线根数:5(可以自动选择、手动设定)标准曲线次数:1次或者2次(可以自动选择、手动设定)校正:使用任意的标准试样(校正点数2~20点)试样容器:专用液体试样容器试样量:4~10ml测定时间:10~600秒的任意的时间试样数量: 1(SLFA-2100) 8(SLFA-2800) 环境温度:5~35°C环境湿度:30~85%(相对湿度)光谱测定:带光谱测定功能的能量轴: 0-10keV/强度值轴: 自动设定外部输出:RS-232C输出、测定?自动校正?光谱测定时输出电源:AC 100~240V±10% 50/60Hz消耗电力:150VA外形尺寸:430(W)×500(D)×230(H)㎜质量:约21㎏1(SLFA-2100) 约24㎏ SLFA-2800) 主要特点:■软件不只是分析操作的简便,还在开发新功能的同时扩大了应用。测定单位:%可以与ppm切换使用。 样品ID :字母(A‐Z )与数值(0‐9 )最多可输入10个字符。 标准曲线:扩大了标准曲线图表,可以从7个刻度(0.002 /0.01 /0.05 /???/10 %)中自动加以选择。刻度可显示为%或者ppm。还可选择1次式或者2次式,可手动选择或者自动选择。标准曲线最多可以存储5根,能够手动选择或者自动选择使用哪个标准曲线。■测定范围测定浓度范围扩大到0~9.999%,从轻油中的硫分低浓度测定到重油中的高浓度测定,应用范围广泛。■设计装置外观体现了HORIBA的新设计思想。功能键可切换到与手机一样的排列法,从而更加容易实现键输入的操作。■易懂的大型画面通过采用后光方式的大型LCD,可实现测定结果的一目了然性和高操作性。■可打印输出丰富易懂的数据测定值原本是测定年月日时分、测定时间、重复回数、样品ID 、平均值、标准偏差、标准曲线图表、X射线光谱等数据管理所需的信息,可用80㎜宽的纸以大字打印输出。■数据输出 (RS‐232C接口)可以将分析结果输出到外部计算机。能够用于数据的保存和各种统计处理。■安全机构采用了谁都能对X射线放心操作的二重安全机构。如果试样室或者遮光器未处于关闭状态,X射线就不能照射。正是由于采用了这种构造,所以不必设定管理区域。不使用放射性同位素(放射性同位素)。■转动台(连续测定以及优先测定)SLFA‐2800装备了最多可连续测定8个试样的转动台。而且,连续测定多个试样时,还能优先对别的试样进行测定。这叫做“中断测定”。 ■实现重复精度1.6ppm、检测限界5ppm使用小型、高输出的X射线管,即使未对氦等进行纯化,也能实现较高的重复精度。即使存在激烈的温度变化和检测器的漂移,通过令人放心的自动波高调整功能和不需要氦纯化的温度、大气压的修正功能,也可提供可靠性高的测定结果。低浓度试样的重复精度表示对于硫0%试样,1.6ppm的标准偏差和高性能。而且,对于重油等高浓度试样可以在更短的时间内加以测定。■C/H 系数的自动修正通过C/H 系数的自动修正功能,可以消除因油的种类不同而造成的测定误差问题。这样,就能够得到与油的种类无关的高精度测定结果。■光谱测定采用光谱测定模式可以对试样进行综合评价。也对X射线管以及检测器的状态检测有效。
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  • Xstress3000X射线衍射法应力分析仪能快速检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。 Xstress3000X射线衍射法应力分析仪进行长途运输前,要安装角形支架,可以防止x射线管套在运输途中受震而移位。在重新使用x射线应力仪前,请务必先拆除这个角形支架,否则会烧损伺服电机。在联接高压电缆时,注意高压管头不要粘有杂物(如果有必要,可以用酒精擦拭高压管头,在联接主机前,一定要保证管头干燥。)。平时,不要用手触摸白色陶瓷部分和前端金属头,拆下电缆后,要即时安装上黑色保护套。应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究,以计算机为中央微处理机,采用高精度探测技术、数据准确和可靠,不需要水冷,方便安装和移动使用,系统超高灵敏度,适合测量的材料范围广,配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力,便携方便,可在实验室和野外现场测量。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用,也可在户外使用,携带方便,一个人就可完成。只需要一个电源,从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接,把主单元与计算机用一根电缆连接上,就可进行其它扩展应用。主要特点:具有自动校准功能,方便操作自动对焦功能,可以根据物体距离自动调节激光定位:保证了测量的准确性设备重量轻,方便携带测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象
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  • X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品,HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
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  • DST-17型X射线应力分析仪,为材料及其制品研究提供最可靠检测手段。可对多领域的材料结构、不规则形状的部件进行残余应力、织构精确测量。  仪器的特点是大功率、高分辨、测量结果准确。性能描述  高精度的衍射角测量装置,获取最准确的2θ角;  实现同倾、侧倾法残余应力测量;  测定同一点X、Y方向应力测量自动转换,无需操作样品;  同一平面内任意设定样品测量点数,自动顺序完成残余应力测量;  高分辨率SDD探测器,靶材固定时,可实现对各种材料残余应力测量;  同时配置Si漂移线阵探测器,快速完成残余应力测量;  α转动范围大,实现侧倾法应力测量,极图测量;  内置激光测距定位器,实现样品全自动定位,重复精度小于3μm;  CCD摄像头和激光辅助定位系统,样品人工定位更轻松;    完整的数据处理软件,可编辑密勒指数、杨氏模量泊松比计算参数,实现对残余应力、半峰宽、奥氏体含量等准确计算。专业软件完成织构计算、绘制极图。技术参数  2θ角度范围:110°—170°、Ψ角范围:0—60°、Ф角范围:0—360°、α角范围:0—70°。2θ角分辨率最小至0.01°,重复精度0.0001°;  X射线发射器管电压:10—60kV、管电流:5—50mA;稳定度:小于0.005%。  金属陶瓷X射线管:Cu、Cr、Fe、Ti、V、Co、Mn等各种靶材,入射线圆形光斑:0.2、0.5、1、2mm;矩形光斑:0.5×3、0.5×5、1×3、1×5、2×3、2×5mm等。  产品符合ASTM E915-2010、及EN 15305-2008及GB7704-2008残余应力分析检测标准,生产过程符合ISO 9001质量管理体系的要求。
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  • X射线残余应力分析仪,应力测定仪,应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°;2θ扫描***小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6°X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。衍射几何:聚焦法准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量:10 kg***简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • X射线残余应力分析仪 400-860-5168转3524
    X射线残余应力分析仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。主要技术参数: ★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪 ★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描***小步距:0.01° 2θ扫描每步计数时间:0.1S~20S ψ角范围:0°~ 65° ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调 X射线管电流:3~10mA,连续可调 X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg 简装置总重量:45 kg 供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • X射线残余应力分析仪 400-860-5168转3524
    X射线残余应力分析仪主要技术参数: 采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快,线性好。 ★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪 ★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描***小步距:0.01° 2θ扫描每步计数时间:0.1S~20S ψ角范围:0°~ 65° ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调 X射线管电流:3~10mA,连续可调 X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg 简装置总重量:45 kg 供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • X射线残余应力分析仪 400-860-5168转0766
    有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等,从而缩短工件的寿命,甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。X射线残余应力分析仪采用了X射线衍射法,是比较流行,准确,可靠的测量方法。其轻便精巧的设计扩展了设备的使用领域,使得设备能够走出实验室,在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统: Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点曝光模式,互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 X射线残余应力分析仪测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何(侧倾法) ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围:117-170度 电 源100-240 VAC,50/60Hz X射线管 微型X射线管,5~30KV/0~10mA/300W可调,Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具,X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪,残余应力检测分析仪,残余应力测定仪,残余奥氏体检测仪,激光小孔法应力分析仪,磨削烧伤检测仪,热处理硬度分拣仪,曲轴表面质量检查仪,凸轮轴表面质量检查仪,轴承表面质量检查仪,齿轮表面质量检查仪,变速箱烧伤检测仪,飞机起落架烧伤检测仪,磁弹仪等无损检测设备。
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  • 概要 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7000开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合,为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描;高能量分辨率,高计数率的测量,且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换(大气或真空)。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7000操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 μm和1.2 mm间切换,以保证获得最佳测量条件,无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机,可以迅速、精确地定位感兴趣区域。单点及多点自动分析 单点和自动多点分析功能使得无论是从单个分析位置或是用户定义的一系列位置上均可以获得高质量的谱图。可自动标注元素谱峰。使用基本参数法或单标样基本参数法或是标准样品校正曲线法定量计算,最低可测量ppm级的含量。膜厚分析软件可以分析nm级或μm级样品的多层膜厚。高光谱面扫描 SmartMap软件在每个像素点采集元素谱图。采集结束后,用户可以根据自己的分析,添加或删除某个元素面分布图,实现已有数据实现脱机分析。 X射线透射图像有利于用户观察样品内部构造,实现真正的无损内部观测。 特征 有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用:电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。XGT-7200的灵活设计,保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果,无论是分析大区域,还是对微区细节分析,或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。 *最高的空间分辨率 HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析,X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑,可进行快速无损的微细结构分析。*X射线透过像 同时采集XRF图像和X射线透过像的功能,可以用来分析无法用肉眼观察到的样品内部构造和元素组成。采用超细垂直的X射线束,即使观察不平坦样品也可以获得清晰的内部图像。*双真空模式 独一无二的双真空模式设计- 彼此间的切换在数秒内即可完成。 全真空模式,整个样品室处于真空氛围以保证轻元素分析的高灵敏度。 局部真空模式,样品处于大气氛围中,适宜于含水样品的分析,如生物组织、文物碎片和馆藏文物等。*完整地分析整个样品*整合数据采集和分析的操作软件 界面友好的操作软件允许用户方便的控制硬件、选择测量区域和全数据分析。功能包括:自动标定谱峰、定性定量测量、RGB图像合成,线分析等。大尺寸的样品室使得分析整个样品成为可能,用10微米束斑可以分析微小区域甚至到测量大至10cm x 10cm的区域。技术参数测量元素: Na~UX射线管: 铑(Rh)靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器: SDD硅漂移检测器透过X射线检测器: NaI(Ti)晶体X射线导管: 单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像: 样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸: XY:100mm×100mm样品仓: 全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理: 数值脉冲处理器(INCA处理器 )定性分析: 自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析: 无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析(最多5000)/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能: 透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能: 可同时开启XGT-5200操作软件
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  • 便携式X射线荧光硫分析仪仪器简介应用范围 原油、石脑油、馏分油、燃料油、渣油、润滑油基础油、无铅汽油等碳氢化合物。参考标准 美国: ASTMD 4294, IS08754 日本: JIS K2541, B7995 中国: GB/T 17040-1997 (石油和石油产品中硫含量测定) GB/T 17060-1998 (原油中硫含量测定) SN/T 0509-1995 (出口石油产品中硫含量测定)技术参数1) 检测方法:X射线荧光分析法。2)检测范围:煤油、重油、轻油中硫含量的测定。3)测量速度:仪器测量时间从10~600秒可设。4)测量样品数量:8个,可自动定位连续测量。5) 样品盒:液体专用样品盒。6)样品消耗量:每次4~10亳升。7)分析量程: 0-10%8)分析精度:5ppm (1.0% 样品 ),1.6ppm(0% 样品)9)检出限: 5ppm10)C/H碳氢比误差:+-50ppm 每个碳氢比(1%样品)11)工作曲线:5条(自动或手动均可)12)校准:可用任意样品校准(2~20点可用)13)环境温度:5~35℃14)环境湿度:相对湿度30%~85%15)电压:AC100~240V +=10% 50/60Hz16)功率:150伏安17)外部输出:标准RS-232C接口。18)尺寸:430*500*230mm19) 重量:约24千克主要特点1)检测范围广煤油、重油、轻油中硫含量的测定。2)测量速度快仪器测量时间从10~600秒可设。3)测量样品量多旋转样品台共有8个样品位,可自动定位连续测量。4)样品盒 a) 采用一次性样品盒,造价低,可避免样品交叉污染。 b) 样品制作快捷方便,不易泄露。 c) 采用单面膜样品盒,可在样品盒背面记录样品浓度、号码、日期等。5)标准样品消耗量少每次只需4~10亳升,大大减少了标准样品的消耗量。6)大屏幕液晶显示可以适时显示测定条件和测量结果,45分钟内无任何操作,仪器启动屏幕保护程序,延长液晶板使用寿命。7)长寿命X光管在开机状态下,如果不进行分析,则X光管保持在弱预热状态,管电流<30uA,延长了X光管寿命。8)仪器校正简便仪器除采用标准校正外,还采用手动校正标准曲线,即将标准曲线所测出的检量线数值重新输入自检系统,仪器会自动进行校正,减少了标准样品的消耗量。9)C/H碳氢比自动修正若样品和标样的碳氢比不一致,会造成误差,本仪器具有自动C/H比修正,但如果两者之间相差较大,建议好使用与样品接近的标准样品。10)自动修正干扰元素的误差本仪器可自动修正其它妨害元素的误差。如果样品有沉淀物而产生较大误差,可将沉淀物滤掉或配制与被测样品类似的标准样品。11)自我诊断程序该仪器可在开机后任何时候,可以运行自我诊断程序,检测仪器各部分工作情况,并将仪器系统数值打印下来,供维护人员参考。12)光谱测量仪器可以进行光谱测量,通过谱图测定,可以了解仪器的内部情况,判断仪器良好状态。13)错误自动提示仪器在操作发生错误时,画面会自动提示错误情况,发出报警声,并将错误情况打印出来。14)自动报警系统当仪器的X光管和检测器的性能逐渐减弱,接近更换期时,屏幕画面显示报警信号,此时仪器仍可正常运转一段时间,以便用户及时更换。15)具有自动增益控制( AGC system)即当X光管长期使用,能量下降时,仪器会自动调高管电压,使其能量保持不变,实际也延长了X光管寿命。16)自动温度大气压修正仪器可根据环境温度和大气压自动调整仪器内部系统,修正由于两者变化对样品的干扰,用户不必计算修正系数来修正。17)X射线防护措施仪器的X光管周有严密的防护措施,防止X射线的泄露。仪器开启前防护板自行关闭,仪器的观察孔由特殊材料制成,仪器出厂前经过严格检测,绝无X射线泄露(随机有检测报告)18)自动选取标准曲线仪器可存贮2—20个标正点,5条标准曲线,一次两次曲线均可,用户可选择适合的曲线,如无选择,仪器可以自动选一条与被测样品为接近的曲线,如果被测样品超出所有曲线检量点范围,仪器会用“外插法”测量,并用“*”标注。19)污染保护仪器样品旋转台下部增设了保护膜单元,防止检测过程中样品泄露,对X光管造成污染,保护膜单元可以轻松更换。20)联接便利:仪器具有标准RS-232C接口,可以连接任何一台电脑。21)质量保证:生产该仪器的工厂通过了ISO-9001国际质量认证和ISO-14000国际环保认证,出厂的仪器均符合质量及环保要求。
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  • 手持X射线应力分析仪 400-860-5168转0879
    主要特点 1. 小型化轻量化的紧凑型设计小型化设计的测试头单元测试头尺寸:114 mm(W)×248 mm(D)×111 mm(H)重量:3 kg是目前世界上最小最轻的X射线应力分析仪可以对内径200 mm圆筒内壁进行测试 2. 使用半导体型二维探测器进行快速测试使用两张半导体面探实现装置的小型化可以一次得到大量的二维信息测试时间大大缩短 3. 操作安全,X射线照射的防护措施激光定位仪测算相机长度3轴加速度传感器测定测试头倾斜情况可以提供X射线遮蔽外罩(在实验室使用,选件) 4. 触屏平板电脑控制操作简单便捷可进行作业现场测试从而保证工作效率通过有线LAN或无线LAN(Wi-Fi)*1控制测试操作
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  • 测量元素:Na~UX射线管:铑(Rh)靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器:SDD硅漂移检测器透过X射线检测器:NaI(Ti)晶体X射线导管:单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像:样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸:XY:100mm×100mm样品仓:全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理:数值脉冲处理器(INCA处理器 )定性分析:自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析:无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析(最多5000)/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能:透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能:可同时开启XGT-5200操作软件
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  • 北京华欧世纪光电技术有限公司是主要代理便携式X射线残余应力分析仪,残余应力分析仪,应力测定仪,X射线应力分析仪,X射线应力检测仪,便携式X射线应力分析仪,曲轴磨削烧伤检测仪,轴承磨削烧伤检测仪,凸轮轴磨削烧伤检测仪,磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空,石化、电力,锅炉压力容器,机械加工与制造,汽车制造,科研机构等领域。 便携式X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低,延长工件使用寿命,避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。便携式X射线残余应力分析仪中央系统,包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。— 笔记本或台式电脑。配置了各种安全锁,满足工业安全标准。Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。
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  • 仪器简介:它是硫专用分析仪,能测定从灯油(低浓度)到重油(高浓度)的石油产品中含有的硫成分,以防止锅炉的腐蚀和废气造成大气污染。技术参数:测定原理:荧光X射线分析法 测定范围:0~5% 重复精度:15ppm以内(1%的试样) C/H比误差:±50ppm以内(1%的试样) 检测下限:20ppm以下(标准偏差的3倍) 标准曲线根数:5(可以自动选择、手动设定) 标准曲线次数:1次或者2次(可以自动选择、手动设定) 校正:任意的标准试样(校正点数2~20) 试样容器:专用液体试样容器 试样量:4~10mL 测定时间:10、30、100、300、或者600秒 环境温度:5~40℃ 环境湿度:温度为5~31℃时,最大相对湿度80%RH;31℃~40℃时直线减少到50%RH 光谱测定:带光谱测定功能能量轴/0~10KeV 强度值轴:自动设定 外部输出:RC-232C输出、测定?自动校正?光谱测定时输出 电源:AC-100V~240V±10%、50/60Hz 消耗电力:80VA 外形尺寸:250(W)×407(D)×138(H)㎜ 质量: 8㎏ 注: 1wt ppm=0.0001m/m%主要特点: *在测定中能进行试样的更换,能优先对紧急的试样进行测定。 *标准曲线最多能够存储5根,在测定时能够自动选择对应浓度范围的最佳标准曲线。 *重复精度15wt ppm、检测下限20wt ppm的高精度测定。
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  • 芬兰品质X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低,延长工件使用寿命,避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。芬兰品质X射线残余应力分析仪采用固态线性探测器技术, 可将X射线直接转换成电信号。起基本构成如下:— 采用改进的Ψ衍射几何(对称侧倾法)的紧凑测角仪G2,具有双侧512 通道线性成像探测器。标准Ψ角范围是 –45°至 +45°,单点曝光几何、 扩展Ψ角(–45°至 +60°)和Φ旋转为可选功能。所有动作由计算机控制的高 精度直流伺服马达执行。芬兰制造X射线残余应力分析仪中央系统,包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。作为一个单一紧凑的便携式装置并配置了各种安全锁系统的设计和制造满足对辐射装置的所有工业安全标准。芬兰品质X射线残余应力分析仪主要应用领域:航天、航空、船舶、汽车制造、3D打印、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。
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  • 仪器简介:芬兰品质X射线应力分析仪是检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中残余应力的可靠工具。有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等,从而缩短工件的寿命,甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。 芬兰品质X射线应力分析仪轻便精巧的设计,扩展了设备的使用领域,使得设备能够走出实验室,在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统: Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何(侧倾法) ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围:117-170度 ◆ 多种准直器可更换◆ 全自动校准,自动调整测距,行程误差小于0.003mm 主机◆ 结构紧凑,小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统,带强冷装置 ◆ 各种接口 探测器◆ 固态位敏正比计数器(MOS线性成像探测器) ◆ 灵敏度高,信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑,无需高压,功耗1mW 电 源100-240 VAC,50/60Hz X射线管 微型X射线管,5~30KV/0~10mA/300W可调,Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具,X射线管能在几分钟内更换完毕。 安全性能 ◆ 若窗口堵塞、打开或移动,管壳松动或被移动,冷却液温度过高或其它流动不畅通时,能自动关闭X射线。
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  • 应力检测仪_残余应力分析仪_x射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》,能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力(用“ + ”、“ - ”号分别表示拉、压应力), 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程(如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理)制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作,又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何,是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计,提高工艺效果,检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合,于此列举如下事例: 在现代机械工程中,由于焊接技术的进展,使许多巨大金属机构的制造成为可能,但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题,它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上,对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件,以及航空、航天、核工业的有关设备,各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力,传统的热时效方法还在普遍采用,而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然,检测构件时效前后,特别是振动时效前后各部位残余应力的变化,对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度,材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言,这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此,无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目,用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明,应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中,因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件,残余应力是正或是负,以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因,就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性,也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处,测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中,X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟,方法完善,经历了七十余年的进程,在国内外广泛应用于机械工程和材料科学,取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置,因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件,而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响,这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理:测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时,会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值(即所谓衍射峰),这便是X射线衍射现象(如左图所示)。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律: 2d Sinθ=n λ (n=1,2,3……) 在已知X射线波长λ的条件下,布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时,其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化,按照布拉格定律,衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释: 众所周知,对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说,在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒, 其中必有许多晶粒,其指定的(h k l)晶面平行于试样表面,晶面法线与表面法线夹角ψ为0;也必有许多晶粒,其(h k l)晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先,如图A所示,以试样表面某点(o点)法线为轴,将一束适当波长的X光和探测器(计数管)对称地指向该点O,并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律,可以找到平行于试样表面的(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面,衍射晶面的法线必在扫描平面内,并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住,此时扫描平面与试样表面垂直,衍射晶面与试样表面平行,ψ=0(如图B)。然后,扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角(如图C),同样也可以得到(h k l)晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ,这时,衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ 在无应力状态下,对于同一族晶面(h k l)来说,无论它居何方位,即无论ψ角等于何值,晶面间距d均相等;根据布拉格定律,相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时,譬如沿图中OX方向存在拉应力,则平行于表面(即ψ=0)的(h k l)晶面,其间距d会因泊松比的关系而缩小(见图B);随着ψ角的增大,晶面间距d会因拉应力的作用而增大(见图D)。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律,d 变小,则2θ变大;d 变大,则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料,在平面应力状况下,依据布拉格定律和弹性理论可以导出,应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M,即 σ=KM ????2θ M= —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数, E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2(1+μ) 180式中E为杨氏模量,μ为泊松比,θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料,K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样,测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 三、仪器结构: 本仪器主机由以下五部分组成:PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器,以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV~30kV电压,通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描,二者各前进一个 θ,则衍射角改变 2θ,故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中,衍射晶面法线保持不动,准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上,衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中,且处在与试样表面垂直的平面里。这样,可以直观地看出,当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时,该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪,其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件,运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构,均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点,便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°,在采用了吸盘之后,旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点: X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性;从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法,后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来,即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说,不论衍射峰是否漫散,它的背底都不会倾斜,峰形基本对称,而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化(如图所示)。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识:侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而,除了国产X-350A型以外,迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说,虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法,但是由于仪器机构和功能的限制,总会伴随诸多困难和麻烦,更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号:98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下: 1、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计,使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素;另外,又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主,实现理想的测量方法;同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围:120°~170°,在侧倾法的条件下,测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外,还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性,特别是对于齿轮的齿根部位。 2、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中,X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点,三者随时同处在一个聚焦圆上,当然,随着扫描过程,聚焦圆的大小是逐步变化的。 3、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°~170°, 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰,无需另外安装延长扫描范围的附件,测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定,以便探测织构的影响。必要时,可以做到残奥含量和残余应力同时测定,亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能,对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 4、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构,这样即可测定主应力的大小及其方向,测定剪切应力。 5、应用PC微电脑,Windows 环境操作,界面友好,使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件,丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告;根据用户要求,还可以生成英文版实验报告。 6、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 7、为X光管配置高压开关电源,最大功率30KV×10mA,稳定度优于0.1% 。 8、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 五、主要技术参数:★测量方法:侧倾固定ψ法,摆动法,残奥测定,织构测定。 定峰方法:交相关法,半高宽法,抛物线法,重心法。 仪器精度:采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射,铁粉(211)晶面,衍射角2θ测定误差在±0.015°以内;铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式:θ-θ扫描ψ测角仪★2θ扫描范围:120°~170°; 2θ扫描最小步距:0.01°2θ扫描每步计数时间:0.1S~20Sψ角范围:0°~ 65°ψ角摆动角度:0°~±6° X射线管电压:15~30kV,连续可调X射线管电流:3~10mA,连续可调X射线管靶材:Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备,其余供选购。 衍射几何:聚焦法 准直管直径:提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量:10 kg最简装置总重量:45 kg供电要求:AC 220V±10%,1000W,50Hz
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  • X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得为广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。由于其技术、测试数据可重复性之高、使用之便携,设备一经推出便备受业界青睐! 近期,日本Pulstec公司成功克服技术难点,发布了新的产品型号:μ-X360s,将全二维面探测器技术的产品设计和功能完善再次升级!测试原理概述: 全二维面探测器技术 --单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力 --施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息产品特点: 相较于传统的便携式X射线残余应力分析仪,新一代 具有以下优点: 更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。 更精确:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确。 更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。 更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。 更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。应用领域: 1. 机械加工领域:测量机床、焊接、铸造、锻压、裂纹等构件的残余应力。 2. 冶金行业:测量热压、冷压、炼铁、炼钢、炼铸等工业生产构件的残余应力。 3. 各种零配件制造:测量电站汽轮机制造、发动机制造、油缸、压力容器、管道、陶瓷、装配、螺栓、弹簧、齿轮、轴承、轧辊、曲轴、活塞销、万向节、机轴、叶片、刀具等工业产品的残余应力。 4. 表面改性处理:测量渗氮、渗碳、碳氮共渗、淬火、硬化处理、喷丸、振动冲击、挤压、滚压、金刚石碾压、切削、磨削、车(铣)、机械抛光、电抛光等工艺处理后构件中的残余应力。 5. 民生基础建设领域: (1)海洋领域:测量船舶、海洋、石油、化工、起重、运输、港口等领域设备和设施的残余应力。 (2)能源领域:测量核工业、电力(水利水电、热电核电)、水利工程、天然气工程等领域的设备和设施的残余应力。 (3)基础建设工程领域:测量挖掘、桥梁、汽车、铁路、航空航天、交通、钢结构等工程领域所用材料、构件及其它相关设备设施的残余应力。 6. 国防军工领域:测量武器装备、重型装备等军工产品的残余应力。应用软件: 1. 采用全二维面探测器获取完整德拜环,X射线单角度一次入射即可完成应力测量 2. 全自动软件测量残余应力并可显示出半峰宽数值 3. 内在定位标记和CCD相机方便样品定位,操作极其简单快捷 4. 快捷进入预设各种材料测量条件,一键执行测量 选配备件 1. 残留奥氏体分析 用于提供自动计算剩余奥氏体含量的软件分析功能 2. XY扫描控制台 用于在平面内X方向和Y方向精确调节探测器位置,并对样品表面进行残余应力区域测试,X、Y方向的行程为20cm 3. 电解抛光装置 用电化学腐蚀的方法对金属表面做剥层处理 4. 振荡单元装置 用于粗晶样品残余应力测试 5.多种靶材可供选择 用户可以自己更换X射线靶材以满足更广的测试材料需求,可换靶材包括:Cr,V,Cu,Co,Mn 基本参数:准直器尺寸标配:直径1mm(其他尺寸可选)X射线管参数30KV 1.5mAX射线管所用靶材标配:铬靶(可选配其他) 是否需要冷却水无需是否需要测角仪 无需 X射线入射角度 单一入射角即可获取全部数据 所用探测器二维探测器直接测量参数 残余应力 衍射峰的半峰高全宽 电源参数 130W功率 110-240V 50-60HZ 可否户外现场检测 设备便携、支持便携电池供电
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  • 小型X射线光管 400-860-5168转2831
    小型X射线光管 我们的M25, M47, M54和M237微型x射线光管是精密x射线发生器,专为需要小尺寸和低功耗的应用而设计。该源包括一个微型密封x射线管与传输型端窗和高压电源封装在一个单一的辐射屏蔽单元。光源是专门设计用于手持式,便携式或台式x射线仪器的组件。小型X射线光管特点:紧凑的设计-理想的手持,便携式和台式仪器低功耗-兼容电池操作易于操作-模拟控制接口集成设计-无高压电缆加工金属外壳-精密安装和校准x射线Omnishield&trade - 360度轻重量辐射屏蔽宽锥角- 110度全宽x射线锥角螺纹适配器准直应用-可选小型X射线光管应用:◆ X射线荧光分析(XRF)◆ 金属分选◆ OEM◆ 过程控制◆ 科研◆ 教学◆ X射线成像医学 小型X射线光管指标参数:M25M54M237M47Metal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramic5kV-50kV5kV-50kV35kV-70kV5kV-50kV0-200uA0-200uA5-200uA0-200uA4W4W10W10WTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentBe,125umBe,125umBerylliumBe,125umTransmissionTransmissionTransmissionTransmissionAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,WAu,Ag,Rh,W2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)2.4mm(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)110°(see drawing)5-12VDC5-12VDC11VDC11VDCGrounded anodeGrounded anodeGrounded anodeGrounded anode<0.1%<0.1%<0.1%<0.1%Silicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shielded -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃Air cooLEDAir cooledAir cooledAir cooled90% max(non-condensing)90% max(non-condensing)30%-90%90% max(non-condensing)Approx,385gApprox,385g<700gApprox,400g 另外,可提供X射线滤光片等器件,详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • TDF系列X射线晶体分析仪概述TDF系列X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构、研究未知物质的结构和单晶位错等。特点TDF系列X射线晶体分析仪采用立式管套,四个窗口可以同时使用。TDF系列X射线晶体分析仪采用进口PLC控制技术,控制精度高、抗干扰性好,可实现本系统可靠地工作,PLC控制高压的开关、升降、具有自动训练X光管的功能,有效的延长X射线管及仪器的使用寿命。高压发生器(采用进口PLC控制)管电压:10-60KV;管电流:2-60mA;管电压、管电流稳定度≤±0.005%;额定输出功率:3KW。高压电缆 介电电压≥100KV;长度:2M。X射线管额定功率:2.4KW;焦点尺寸(mm2):点焦点(1×1)线焦点(1×10);靶材:Cu、Co、Fe、Cr、Mo、W等。 X射线照相机劳厄相机(大小粉末)平板相机三维样品台美国Multiwire相机X射线防护罩采用高密度、高透光性道德铅玻璃作为X射线防护罩,外射线量不大于0.1µ Sv/h
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  • 地质/环保伽马射线分析仪简介:RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步,为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的,单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合,实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外,其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器,灵敏度高,分辨率好,可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器,应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K(%)、U(ppm)和Th(ppm)的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器,可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里,基于日历的测试结果,频谱视图,数据显示和将测量结果导出到地图软件上(例如谷歌地图)。特点:● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用:● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带:技术参数:探测器:GT-40:NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S:BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT,25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪:1024道, 40 MHz DSP,线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器:彩色,穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器:5点式带照明的导航杆声音部件:内置36 mm麦克风数据存储:最少2000个带全光谱,数据位置和语音信息的样本GPS:导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信:数据传输、遥控装置通过: USB 2.0,1.2Class2 ,Wi-Fi 802.11n电源:7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸:直径120 mm x 420 mm重量:GT-40: 4 kg (8.8 lb),GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置:GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境:操作温度范围 -10oC to +50oC ,IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证
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  • 多年以来,HORIBA销售的EDXRF分析仪和XGT-WR系列为客户提供RoHS,ELV和无卤检测,对含有害元素如Pb,Cd,Hg,Br等的样品进行筛选式测量,在世界范围内广泛日常使用。基于大量客户的要求,HORIBA以长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50.MESA-50将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。MESA具有三种尺寸的准直器可用于各种大小的样品,从细长的电线、微小的电子器件到大型的样品。结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器,MESA将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器,不仅适合于欧洲的RoHS,ELV,也适用于其他地区的各种法规。4S技术Speedy:硅漂移检测器大幅度减少了测量时间,在高通量的同时提供了更高的灵敏度。Small:便携式,体积小,重量轻小巧 尺寸225(长)* 210(宽)*40(高),重量12千克。内置电池可持续测量6小时,无需担心X射线泄漏。Simple:减少日常维护工作(无需液氮),无需真空泵,各种材料测量直观简单。Smart:中英文操作软件,智能 Excel数据管理工具。技术参数:X-射线管电压50kV检测器SDD测量元素Al – UHarmful elements - Cr, Pb, Hg, Br, Cd,+ Cl信号处理器Digital Pulse ProcessorX-射线滤光片4 position (including open)工作台 (可选)Probe Vacuum (Sample is in atmosphere)重量外形尺寸7kg / 210(W) ×280(L)×178(H)准直器7mm, 3mm, 1.2mm (Automatic changer)光学像放大倍率50软件Reporting, Judge OK/NG校正算法FPM Thickness, Material,Pb/As peak separation, Residual component estimation电源AC adapter (100 – 240V 50/60Hz) (Optional Ni-MH battery) 电池仪器特点:1、能量色散型X射线分析仪,无需样品前处理可检测化学元素AL-U2、采用SDD检测器无需液氮制冷,灵敏度更高,维护更方便。3、中文软件,操作方便。
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  • 高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测,XR101对设备进行了特殊的结构优化,结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备,佳谱科技采用低功率X射线管,使用独特的滤光技术,获得更加出色的检测精度,大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境,带来产品的低故障率,降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻,体积小,可以携带到现场快速检测,节省时间,提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉(Cd)、铅(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速无损检测,其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查,5分钟对样品准确测量。 ◆ 辐射安全:射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合,XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计,使用可靠;◆ 采用独立风道散热方式,避免长时间的工作,导致元件温度升高进而导致数据偏差;◆ 独特的侧面进样,防止样品的泄漏,避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计,将进样与采样简单化,进样量少,简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法,大幅提高检测精度、减少测试误差,使便携式仪器具有高端台式机的分析性能,分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统,高分辨率液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力,能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V,50/60 赫兹;12VDC-8A;电源交直流两用 温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV,1mA 探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能 进样方式 采用样品侧面进样方式,降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换 分析模式 配备不同分析模式(30秒-900秒),以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限:镉0.03mg/kg
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  • 北京华欧供应X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低,延长工件使用寿命,避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。北京华欧供应X射线残余应力分析仪采用固态线性探测器技术, 可将X射线直接转换成电信号。起基本构成如下:— 采用改进的Ψ衍射几何(对称侧倾法)的紧凑测角仪G2,具有双侧512 通道线性成像探测器。标准Ψ角范围是 –45°至 +45°,单点曝光几何、 扩展Ψ角(–45°至 +60°)和Φ旋转为可选功能。所有动作由计算机控制的高 精度直流伺服马达执行。北京华欧供应X射线残余应力分析仪中央系统,包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。作为一个单一紧凑的便携式装置并配置了各种安全锁,系统的设计和制造满足对辐射装置的所有工业安全标准。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪,残余应力检测分析仪,残余应力测定仪,残余奥氏体检测仪,激光小孔法应力分析仪,磨削烧伤检测仪,热处理硬度分拣仪,曲轴表面质量检查仪,凸轮轴表面质量检查仪,轴承表面质量检查仪,齿轮表面质量检查仪,变速箱烧伤检测仪,飞机起落架烧伤检测仪,磁弹仪等无损检测设备。
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  • 高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品,以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件,满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求,丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验,面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点,分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域,可以快速观察动植物体内的组织和结构,快速诊断或评价;也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备,可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测,搭配可移动承重平台,使用更安全,操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像:大小鼠/啮齿类小动物研究(骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影)。• 离体组织成像:颅脑、口腔、齿科研究,离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物(包括海洋生物)的研究:鱼类、两栖类水生生物表型研究,水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学:种子筛选及评估,研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响;提供中草药品质品性的图像甄别依据;为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测:在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户,可搭配X-viewer使用,为Micro-CT提供预实验,提高效率。三、产品特点• 2-15秒,实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间,尽量降低对实验动物的曝光剂量,实现真正无损、快速成像。• 超高分辨,展现更多结构细节采用微焦点X射线源,搭配高清平板探测器,1-40倍多级放大设计,实现微米级的图像分辨率,展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器,可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位,测量参数自动匹配,多种测量、标注、图像处理功能,应用于不同目标物体(如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等)的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果,操作结果可实时保存并导出,保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时,任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识,简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定,维护成本低;同时,厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技(昆山)有限公司(简称“平生”)是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商,也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来,已有诸多成功装机客户,设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时,平生总部在昆山、子公司在上海,全国七大中心城市设有办事处,拥有自己的售服工程师团队,能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求:• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比,售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务,发挥了国产制造商的优势• 售价合理,并能公开透明设备的维修零部件价
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  • X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品,样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线,各元素具有特定的波长(能量)。因此,通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外,荧光X射线的强度与浓度具有函数关系,检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等
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  • 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度X射线CCD相机,实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测,并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析,超过了WDS的能量分辨率。产品规格能量分辨率0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围:衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置:EPMA的WDS接口:NO.2接口(正面右侧)FE-SEM的WDS接口(正面左后侧)分光谱仪尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CCD的距离分光谱仪重量 25kg适用机型EPMA : JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200SEM : JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
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