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射线应力测试仪
仪器信息网射线应力测试仪专题为您提供2024年最新射线应力测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括射线应力测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的射线应力测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合射线应力测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有射线应力测试仪相关的最新资讯、资料,以及射线应力测试仪相关的解决方案。
射线应力测试仪相关的方案
布鲁克X射线衍射仪 | 轴承滚珠应力深度分布应用报告
在轴承滚珠的加工生产工艺中,表面的处理非常重要,通过渗碳等热处理工艺, 希望在滚珠的表面产生合适的残余压应力。同时工艺标准还要求在滚珠表面以下特定深度具有特定的残余应力。X射线衍射是无损测量残余应力的十分有效的方法。其测量速度快,精度高。是测量残余应力的标准方法之一。
X射线残余应力分析仪对辊轴、焊缝、金属等进行表面探测
残余应力直接影响金属制品的疲劳强度、抗应力、腐蚀能力、尺寸稳定性和使用寿命,因此在工业和军事等部门受到普遍重视。基于全二维探测器分析方法的新一代残余应力分析仪不仅精度更高,而且不再需要测角仪、不再需要多个入射角才能完成测量、不再需要冷水机、不再需要外接供电电源,因此将大改善了复杂形状部件检测、狭窄空间检测、野外工程现场检测、大面积部件检测等测量的难度,具有更广泛的应用。在实验室内,基于全二维探测器分析方法的小轻的便携式X射线残余应力分析仪可以用来检测焊接处疲劳,齿轮,圆棒,角焊缝,机轴狭窄区,弹簧等;在户外工程中,它可以用来检测管道焊缝,油罐焊缝,除掉外层水泥的建筑内层,桥梁金属,高速铁轨等。
赛诺普Xenocs小角X射线散射仪进行残余应力和结构测试
用GIWAXS进行残余应力和结构测试,与实验室配备标准准直光源的四圆衍射仪进行了对比。
GNR残余应力分析仪EDGE对镍基高温合金的测试
EDGE 是一款便携式X射线残余奥氏体及应力测试仪,符合 ASTM E 975 残余奥氏体国际分析标准,以及ASTM E915 和EN 15305残余应力国际分析检测标准。EDGE 配备专门设计的仪器箱,可将所有配件装入箱中,方便携带;专业三脚架确保仪器灵活放置,测量角度不受限制,可进行90°、180°、颠倒式测量;高性能电池能够保证仪器在野外、停电等极端情况下正常工作;另外,激光定位装置与微动装置结合使用,进行快速定位,定位过程中样品与仪器无需任何接触。常规检测镍基高温合金的方法是用Mn靶和Cr的滤光片,对311晶面进行测量。本报告使用的EDGE残余应力分析仪,根据实际情况,开发出用Cr靶来测量镍基合金的方法。
矿物的X射线衍射测试报告
本实验中,使用浪声映SHINE型X射线衍射仪进行测试,将岩石制成150-200目的粉末样品,在给定的测试条件下,用X射线衍射仪对样品进行扫描 ,取得相应岩石的X射线衍射图谱 ,利用软件进行矿物定性解 译和半定量分析。
GNR X射线衍射仪(XRD)对石棉的测试
APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统,保证X射线发生器更加稳定;预设高压和激发电流,并可实现自动斜坡程度上升;细焦点的陶瓷X射线管具有优良的重现性和稳定性;创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台;采用高聚焦单毛细管准直器,高分辨多探测类型探测器。环境适应性强,可以适合在不同范围下温、湿度下工作,双重安全电路保护设计。
工业机器人搭载μ-X360s残余应力分析仪进行自动化残余应力测量
近期,《Metal Finishing News》报道了工业机器人搭载Pulstec μ -X360s残余应力分析仪进行自动化残余应力测量的新应用,在该模式下可以实现X射线残余应力分析仪的自主运动、自主检测、自动绘制应力分布云图以及三维振荡等功能,从而轻松改变常规的操作者手动测试的工作流程。
X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量
使用X射线荧光光谱进行催化剂中贵金属含量的检测,是一种低成本短周期的测试方法。XRF贵金属检测的难点在两个方面:一个是贵金属含量较低,在50-5000ppm间,光谱强度低稳定性较差;另一方面产品的生产过程步骤较多(至少两次的涂层涂覆,传统方法涂覆量差异较大),产品的一致性较差(产品最终的元素组成差异较大),有着显著的基体效应。使用采用超短距光学耦合技术的Perform’X 能够帮助贵金属元素激发更高的谱线强度。本方案就以陶瓷催化剂为例,对使用X射线荧光光谱法测试催化剂中贵金属含量进行讨论。
如何选择燃料用X射线荧光测硫仪
本文通过解读燃料硫浓度的强制性国家标准,比较了尽可能多的各国燃料中硫测定的X射线荧光光谱法标准,主要是比较标准中的重要指标,如:重复性r、再现性R、合并定量限(PLOD)等,及不同标准所采用的各种不同的X射线荧光光谱法,结合具体应用和市场上大部分的X射线荧光测硫仪,给出了选择X射线荧光测硫仪的方法。特别是结合本公司的X射线荧光测硫仪,给出了选择本公司的各种不同的X射线荧光测硫仪的方法。
奥龙集团:利用X射线衍射仪进行多相物质的相分析
一、实验目的1.概括了解X射线衍射仪的结构及使用。2.练习用PDF(ASTM)卡片及索引对多相物质进行相分析。二、X射线衍射仪简介传统的衍射仪由X射线发生器、测角仪、记录仪等几部分组成。自动化衍射仪是近年才面世的新产品,它采用微计算机进行程序的自动控制。图实2-1为日本理光光学电机公司生产的D/max-B型自动化衍射仪工作原理方框图。入射X射线经狭缝照射到多晶试样上,衍射线的单色化可借助于滤波片或单色器。衍射线被探测器所接收,电脉冲经放大后进入脉冲高度分析器。操作者在必要时可利用该设备自动画出脉冲高度分布曲线,以便正确选择基线电压与上限电压。信号脉冲可送至计数率仪,并在记录仪上画出衍射图。脉冲亦可送至计数器(以往称为定标器),经微处理机进行寻峰、计算峰积分强度或宽度、扣除背底等处理,并在屏幕上显示或通过打印机将所需的图形或数据输出。控制衍射仪的专用微机可通过带编码器的步进电机控制试样( )及探测器(2 )进行连续扫描、阶梯扫描,连动或分别动作等等。目前,衍射仪都配备计算机数据处理系统,使衍射仪的功能进一步扩展,自动化水平更加提高。衍射仪目前已具有采集衍射资料,处理图形数据,查找管理文件以及自动进行物相定性分析等功能。
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
布鲁克X射线衍射仪石棉检测技术方案
X射线照射导致有机物的表面老化
介绍了在X 射线照射后受到损伤的两种有机物的测定事例。该损伤导致的化学状态或者成分变化对XPS 测定数据的分析带来重大影响。因此,建议在尽可能低的X 射线功率下进行测定,但需要注意的是,照射X 射线强度和得到的信号强度成正比
XRD应用分享 | X射线反射率
作为一种非破坏性的表面敏感技术,X 射线反射率(XRR)普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。 当X射线的入射角高于临界角时,X 射线束可以部分地透射进薄膜从而在界面反射。
电子元器件检测实验室专业测试仪器设备解决方案
在电子电路中,除了接触最多的电子元器件( 例如电阻,电感,电容,二极管,三极管,集成电路等) 以外,还有其他常用电子元器件,如电声器件,开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功,安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术,或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器,我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型:半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。
马尔文帕纳科电池研究的X射线分析解决方案
Empyrean X射线衍射仪用于电池充放电循环过程中原位X射线衍射测试,实时获得电池内部正负极材料的结构和物相变化信息,从而更好地理解电化学机理,并最终改进电池设计,提升电池性能。同时采用银靶辐射及市场上超高性能的硬射线探测器GaliPIX对纳电极材料进行对分布函数分析(PDF),研究钠在层状结构中的局部排序。
GNR残余应力分析仪对碳化钨(WC-11Co)硬质合金的测试
STRESS-X是一款残余应力的检测仪器,并且是无损检测,仪器的衍射单元安装在 6 个自由度的机器人臂上。通过移动机器臂可对各种形状和尺寸的样品进行检测,整个测试系统和电路控制系统全部安装在坚固的铁质小车上,采用水冷却 X 射线管,并由计算机控制。
压片制样-能量色散X射线荧光光谱仪 测定焦炭中钙元素含量
氧化钙是焦炭中的一种常见氧化物,其含量对焦炭的质量具有重要影响。首先,氧化钙含量高会导致焦炭的灰分增加,降低焦炭的热值;其次,氧化钙会降低焦炭的机械强度和耐磨性,使焦炭易碎,不利于运输和使用。钙元素的测定方法有滴定法、ICP光谱法、ICP质谱法、原子吸收光谱法、X射线荧光光谱法等分析方法,前4种分析方法都需要将焦炭样品进行酸解成液体再进行分析,整个过程需要使用危险试剂且处理过程复杂;而X射线荧光光谱法具有制样过程简单和测试过程快速等优点,用于测定焦炭中的钙元素含量具有非常大的优势。本方案采用压片制样-X射线荧光光谱法对焦炭中钙含量进行测试。
XRD应用分享 | 小角X射线散射
X射线小角散射(Small Angle X-ray scattering,SAXS)是通过收集X射线穿过样品之后产生的散射信号,来研究样品1~100 nm范围之内结构信息的技术。
便携式X射线分析仪在油品中的应用
X射线荧光光谱仪(XRF)作为一种强大的分析工具,能够对油品中污染物、磨损金属颗粒、添加剂化学组成进行分析。
X射线衍射仪与电子探针联用检测汽车制动衬片中石棉
联合使用X射线衍射仪及电子探针显微分析仪对某送检制动衬片样品进行检测,根据其衍射峰特征及微观形态,可快速、准确判定样品中是否含有石棉。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式 x 射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研 究了手持式 x 射线荧光光谱仪在富钴 结壳碎块和 浅钻岩心野外现场原位分析 中的应用 能力。
X射线激发的时间分辨光谱解析闪烁体能量转移过程
液体闪烁体探测器被广泛用于中微子和天体粒子检测实验。linear alkylbenzene (直链烷基苯 (LAB))这种液体闪烁体被广泛应用于大规模检测测试中。LAB 是一种极具发展潜力的闪烁体,因为它成本低、闪点高、毒性低,使其比之前常用的有毒和易燃有机闪烁体更易处理。LAB 通常与2,5-二苯基氧佐尔(2,5-diphenyloxazole,PPO) 一起使用,可提高发光效率并将发射光谱延长至到更长的波长。LAB/PPO闪烁体探测系统已用于Daya-Bay1和 RENO2中微子检测实验,也是即将推出的 SNO+3和JUNO4探测器的闪烁体。使用爱丁堡仪器 FLS1000 和 XS1 X射线样品室附件研究了 LAB/PPO 在不同 PPO 浓度下的 X 射线激发发光衰减特性。随着PPO的浓度从1g/L增加到 20 g/L,主要衰变组分的寿命从 7.1ns减少到 1.7 ns。XS1 X射线样品室附件将 FLS1000 PL光谱仪的功能扩展到 X射线领域,为开发新型闪烁体材料创造了强大的表征工具。
奥龙集团:应用X射线衍射仪分析铝基氧化铜吸附剂的硫化性能
介绍了制备DS01 型铝基氧化铜脱硫剂的方法。对脱硫剂进行了烟气循环脱硫2再生的实验 ,采用 X射线衍射分析了铝基氧化铜对硫氧化物的吸附性能。热态实验和测试分析表明 ,DS01型铝基氧化铜吸附剂硫化性能稳定 含量 6.2%CuO 的吸附剂在 X2射线衍射图谱上没有发现 CuO晶相 ,表明吸附剂表面出现单层分散 使用该脱硫剂进行烟气多次循环脱硫,CuO微晶粒并没有发生明显的团聚现象,表明吸附剂多次循环使用其活性不减。
X射线荧光光谱熔片法测试硅砂主成分
硅砂样品和特定混合溶剂按合适比例混匀,加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中,在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片,用X射线荧光光谱法(XRF)测试硅砂主成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素,实验结果表明,该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响,利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线,元素曲线线性良好,相关系数都在0.997以上,该分析方法的准确度和分析精度都能够达到国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010规定要求。
微焦点X射线成像系统检测原理
X射线设备可以满足大多数电子零件的微米及纳米检测需求,在预生产前期,可以对样件进行X射线扫描,及时发现不合格的零件,扫描结果形成检测报告作为客观参考,以此改进生产工艺;在产品召回后期,对于结构复杂的零件,X射线可以进行筛选排查,把不合格的产品剔除,做到最大程度的挽回损失。
如何用X荧光射线硫分析仪检测煤炭硫含量?
X荧光射线硫分析仪是一种利用X射线荧光光谱原理进行元素分析的设备。它通过激发样品产生X射线荧光,然后通过检测荧光的能量和波长,来确定样品中各种元素的含量。 在煤炭行业中,主要用于测定煤炭中的全硫和硫酸盐硫。全硫是指煤炭中所有的硫元素,包括有机硫和无机硫;硫酸盐硫则是指煤炭中以硫酸盐形式存在的硫。这两种硫的含量直接影响到煤炭的燃烧效果和环境影响。
X射线荧光光谱仪测定玻璃中的着色剂
玻璃中的着色剂(氧化钴、氧化镍、氧化铁、氧化铬、氧化锰)的含量直接影响玻璃的色度和透过率。在研究高、中、低透玻璃转换过程中,其含量对及时调整配方,使高、中、低透玻璃顺利转换都有很大的指导意义,通常所应用的化学方法须要4~6小时,这些方法对于日常的检查是不适合的。因此,及时而准确地测定玻璃中着色剂显得尤为重要。X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃中的微量元素,无需复杂的样品制备,可在3~5分钟内完成测试。
【2D-GIWAXS平替】实验室桌面型二维X射线衍射仪
锂影科技在丹东浩元DX2800衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器,加上锂影科技开发的配套测试软件,组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时,结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势,为该款机型配备了多种测试模块,薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台(手套箱内组装好保持惰性氛围测试)和原位气氛处理台(支持大多数溶剂)。
手持式X射线荧光光谱仪测定富钴结壳样品中锰铁钴镍铜锌
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳资源勘查中的应用
便携式X射线荧光光谱仪具有快速、无损分析的特点,本文重点研究了手持式X射线荧光光谱仪在富钴结壳碎块和浅钻岩心野外现场原位分析中的应用能力。
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