射线元素分析仪

产品特点&blacksquare 应用于大米中的硒、铅、砷等元素、水果蔬菜等中的重金属、食用油中的铅、砷、镍、污水及地表水重金属应急监测、汽油、柴油中金属含量如铅、铁、锰、工业湿法冶金过程检测分析&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解； 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用&blacksquare 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当，分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗&blacksquare 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，无损非破坏性检测，是野外工作者很好的分析工具 分析曲线图选取若干标准样品, 对其中多种金属元素进行直接分析，其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。 准确性和重复性对若干标准样品进行多次重复测量结果，以验证方法的准确性及稳定性。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪，利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围：Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间：30s-1200s 可选探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、水质、食用油工作温度：-5 °C~50 °C电源：110-240 VAC±10%重量：9 kg尺寸：30 cm W x 23 cm L x 26 cm H特别说明，此页面中所有展示的图片和信息仅供参考。

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF® 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具 &blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。 重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH特别说明，此页面中所有展示的图片和信息仅供参考。

EA8000是，与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物，再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析，是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析，查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时，协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池（LIB）虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中，但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用，与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路，而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关，因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声，较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题，开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点（1）通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物（2）从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品，也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时，将导电剂直接装入袋中就可检测出异物，在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程（3）自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测（通过图像处理）、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少，数据也可自动保存，效率高，可安心使用。图3 检查、分析流程（4）想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外，异物尺寸及个数分布利用柱状图表示，实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析，异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例

概要：对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号：EA1000VX测量元素：原子序数13(Al)～92(U)样品形态：固体、粉末、液体射线源：X射线管球(Rh靶材) 管电压：最大50kV 管电流：最大1000μA检测器：多阴极半导体检测器分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)样品观察：彩色CCD摄像头滤波器：5种模式自动切换样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析：块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理：配备EXCEL、配备WORD外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm安装尺寸：1500（W）×1000（D）重量：约60kg使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相 选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点：1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）2. 高技术率检测器（Vortex）不需要液氮，使用最大15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器（选购项）自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。 ◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用 温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA 探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能 进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换 分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 仪器原理：单色聚焦X射线荧光光谱法。其检测原理被当前2020中国药典中药材重金属检测方法收录。◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测 产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 无损非破坏性检测。 检出限技术参数合规性 GB2762-2017测量范围 30-1200秒元素范围Ａｌ-Ｕ之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘 I/O端口 以太网10/100、USB电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ 工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9ｋｇ尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。 产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等 检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线 激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统 测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz 重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF® 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具 &blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。 重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH特别说明，此页面中所有展示的图片和信息仅供参考。

高精度X射线荧光元素分析仪土壤、食品及污水中重金属快速精确测量 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用； ◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测JPX500基于HDXRF® 技术，可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618）要求。JPX500亦可测量水稻和小麦等农产品中的As、Pb、Cu、Ni和Se等其他重金属。无论您是农产品检查员，还是环境评价员，JPX500都能让您在更短的时间内检测更多的样品，让您能够进行更为彻底的分析，从而提高现场修复土地和土地分级分类决策能力。产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 设备内部采用独立风道散热方式，对内部X射线光管、X荧光探测器进行降温处理，避免长时间的工作，导致内部主要元件温度升高进而导致数据偏差加大；◆ 设备采用了独特的侧面进样，防止样品的泄漏，导致仪器硬件受损，并且避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，减少人为操作误差，进样量少，简化现场制样流程。◆ 无损非破坏性检测。◆ 辐射安全防护功能：工作时的辐射水平远低于国际安全标准，无射线泄漏；当产生人为误操作时，设备会自动切断X射线。仪器通过辐射安全剂量认证，保证了设备使用的安全性。土壤检测准确性 鉴于土壤基质的复杂性，选取国家土壤和沉积物等标准物质, 对其中的 Cd 元素进行直接分析，通过分析其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。数据表明 HDXRF 在高低镉含量检测均可提供精确的结果，包括污染物含量低于法规规定的限值 0.3 ppm土壤检测重复性JPX500对GSS-29 标准物质（镉含量低于土壤法规限值0.3 ppm）进行多次重复测量结果，以验证方法的稳定性。 土壤中多元素分析JPX500还可提供针对土壤中多种重金属污染物定量分析，可直接测量15种无机污染物，是场地调查工作者必备的筛选综合工具。农作物及食品应用大米，小麦，玉米和番茄的标准样品中镉含量的测试结果。 经过最简单的的样品制备，对市场上某些食品中的镉进行了测试。JPX500 可以对各类谷物进行检测，其测试结果具有很高的准确性和重复性，当测试时间为600s时，镉的检出限可低至30ppm。JPX500对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，以验证方法的稳定性。 农作物及食品多元素分析JPX500还可提供针对农作物及食品中的多种重金属污染物定量分析。化肥应用选取国家化肥和添加剂等标准物质，对其中的镉元素进行分析，通过分析其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。JPX500还可提供针对无机化肥中的多种重金属污染物定量分析。元素检出限 技术参数合规性 EPA6200测量范围 30-1200秒元素范围 Al-Ｕ之间的40种元素 数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB 电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9kg 尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

DM8000多元素分析仪（波散） 多道同时测量，快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪（波散）是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术，所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素，其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪（波散）关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪（波散）应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的，其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式)，所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术，具有能量色散无法企及的极高分辨率，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置，还有可变增益数字多道，具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件，且集成化程度高，环境适应能力强，从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能，还可免费 更新最新版本，根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。高性价比––无需水冷，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置，直接向上照射样品，这样可使它们之间的距离尽可能的近，从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光，其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝（如果分光晶体用的是弯晶）或索拉狭缝（如果分光晶体用的是平晶）射向分光晶体，经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度，再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的，所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关，所以有很高的分辨率，相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的，X射线束垂直于靶，焦斑到样品距离极短，从而提高激发效率。其窗用薄铍，靶材用的是铑，所以能高效地探测轻元素。其阴极接地，消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要，也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W，只需用风冷而不需用水冷，由于是多道同时测量，其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量，比如Na、Mg，探测器的窗是很重要的，其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗，其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上，从而达到低能量x射线的高透射。B（Kα）的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器，特别是晶体对机械尺寸的要求极高，当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化，所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃，并且除分光室外，其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内，从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管，其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定，本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话，如含SiO2，由于其硬度很高，磨得的颗粒大小不一，从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，表示DM8000多元素分析仪（波散）的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪（波散）可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤50keV，电流：≤8.0mA，功率：≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。测量范围Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%，MgO max—MgO min≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，TiO2 max—TiO2 min≤5%，K2O max—K2O min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%，SMgO≤0.03%，SAl2O3≤0.04%，SSiO2≤0.04%，SSO3≤0.01%，STiO2≤0.01%，SK2O≤0.01%，SCaO≤0.03%，SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度：15～28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤1.0kW尺寸及重量790mm（W）× 760mm（D）× 1200mm（H），195kg

手持光谱合金荧光分析仪，金属光谱元素分析仪的特点是什么。中间是元素浓度的百分含量，后面是理论误差！这显然是用标准化方法来检验的。因此，99.6%的水的浓度是99.99%减去其他元素的浓度！我不知道你用的是什么牌子的乐器。一般来说，如果你不为这个测试校准相应的样本，测试结果的误差仍然很大！。列表中的一些元素ED-XRF不好。元素浓度（PPM）误差（百分比误差）。中间是浓度显示，单位一般为ppm。这位朋友，首先要知道你要分析的样品是金属样品还是粉末样品，是压片法还是溶片法？同时，你使用的X射线荧光是固定通道还是扫描通道，都应该详细说明。对于元素分析，建议您首先扫描样品的角度，以确定其干扰峰，并使用仪器自己的软件校正其PhD。重新绘制了手持光谱合金荧光分析仪，金属光谱元素分析仪的曲线。1、 X射线荧光分析仪（XRF）X射线荧光分析仪（XRF）是一种能同时快速测定多元素群体的新型仪器。在X射线的激发下，被测元素的内部电子发生能级跃迁，发出次级X射线（即X荧光）。从不同角度观察了X射线的波长和能量。一分钟30次，一次10秒为什么我不能数数呢？。你买这个乐器的时候，不是厂家卖给你的，是吗？连安全指示都没给你？。手持式X射线荧光仪，绝不能一手拿样品，一手测量。好的测量条件是通过仪器上的辐射屏蔽。最正常的测量条件是将金属试样放在平面上，用一只手握住手柄，用一只手将仪器直立。无需穿防辐射服，只要能严格遵守安全操作规程。至于辐射剂量，我给你一个大概的计算。仪器在大电压大电流情况下，窗口处（直接触摸窗口）的辐射剂量大约在2msv/h，你们是合金分析仪，测的应该都是金属样品，那么就按金属样品给你隔掉四分之三的辐射的话，你受到的辐射剂量为0.5msv/h，一天6小时，一小时30次，一次10秒钟，算下来你一年的辐射剂量将近100msv..但仪器不可能一直在大电压和大电流下工作。估计你的辐射值会稍微低一点。因此，我国对X射线行业从业人员辐射安全剂量的规定如下：。年平均不超过20msv，不超过50msv。但由于四肢对X射线的敏感性较低，四肢的安全剂量为500mSv。如果你只是用手触摸，不把仪器放在身体附近进行测量，你收到的辐射值很大，但不会影响你未来的宝宝。如果把仪器放在身体附近测量，辐射值会有点可怕。综上所述：你所受到的辐射值相当大，甚至超过了安全规定。现在可以做的是：首先要严格按照仪器的安全操作手册操作。不要用左手拿样品，也不要用右手拿仪器测量。其次，你可以适当地吃一些抗氧化食物来恢复你的身体。电离辐射会在人体内产生一些对人体有害的自由基。第三，在目前的情况下，我们不必太害怕。毕竟，人的四肢并不特别害怕辐射。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。 ◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件 电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标 曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA 探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能 进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化 处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求 分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式 粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

商品说明 工业生产过程中的品质控制，高压隔离开关触头镀银层检测仪，铜镀银，镀锡等厚度快速测试，同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理，确保材料品质；船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别，从而保障产品质量与安全；电力电站等有关国计民生行业中，鉴定设备零部件成分是否达标，保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件，其中隔离开关触头上的镀银层，有耐磨耐腐蚀的性，能降低接触电阻，需如果用不镀银的铜触头，铜触头经过氧化后电阻会明显增加，就会产生电弧烧蚀触点的可能，而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求，高压隔离开关主触头：镀银层厚度应不小于20um，一般触头镀银层厚度应不小于8um，硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说，电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量，所以镀层越厚，对电镀厂家的成本越高，所以一部分不良电镀厂家，就对电镀镀银厚度采用以次充好，以薄充厚，严重影响了高压配电设备的验收工作，甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再，再而三的被通报不良产品，轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格，重则直接被国网招标拉入黑名单。目前，隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪，是一种X射线光谱仪，通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光，可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器，仪器分为手持式和台式两种，都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度，方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件，一键智能操作检测合金成分和镀层厚度； K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分；能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量；仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合金牌号，用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下：（1）智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报，提高生产率，自动识别基材种类，无需手动选择样品类型，然后再测试；降低操作难度，节省测试时间，不管操作人员是否有经验，都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。（2）完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库，标准牌号库包括500多种独特的合金牌号，用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。（3）检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能，可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围：0-50um检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡分析精度：单层电镀相对误差不超过10%检测时间：15-20秒检测窗口：12mm合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素仪器参数：1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法：KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

用途：X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪，操作灵活简单，是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，X-MET8000 系列性能强大、可靠性高，只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。 应用广泛：废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。 测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。 特点： “一键”分析：操作简单，只需简单培训 大图标触摸屏界面易于操作，尺寸大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面在任何天气条件下都能呈现很好的可视度 简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能 强大数据下载功能，灵活的报告格式 经久耐用的设计 广泛的金属牌号库 快速准确的分析 长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天 技术规格：探测器采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器，分辨率优于150eV靶材采用Rh靶材X射线光管，电压40KV，电流50uA测试窗口9毫米重量1.5公斤（含电池）认证CE防护通过IP54（NAME3）防水防尘测试，提供SGS认证书工作温度-10~+50℃供电电池持续使用时间10~12小时，110/230V，50/60HZ直流电源充电器显示屏4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏操作系统采用更稳定简洁的Linux操作系统，用户可建立数据库操作语言提供两块可充电可显示电量的锂电池，可12种语言操作界面包括：英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语通讯可通过USB传输数据，无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备 也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘；或使用wifi或蓝牙在线网络共享报告编辑器报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，确保原始数据的安全性测试方法提供土壤样品基本参数法（FP法）：可测试土壤及矿物样品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28种元素；提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法，符合EPA 6200方法要求

K-7000稀土元素分析仪主要用途: 手持式矿石分析仪秉承科迈斯多年的手持式X荧光光谱仪研发经验，科迈斯K-7000手持矿石分析仪引入数字多道技术，使检出限更低、稳定性更高、适用面更广，性能媲美台式机；小巧便携的体积在探矿、找矿以及各类地址矿样多种元素的检测和分析、矿渣精炼分析中充分发挥作用，使探矿工作变得简单、轻松。K-7000手持矿石分析仪可以用来对各种不同类型的矿石进行现场分析。测试过程对样品要求低，但是测试结果准确 能准确分析高浓度样品，避免了验证性的实验室测试。科迈斯KMX-RAY手持式光谱分析仪可实时提供含有稀土元素(REE)的地质样品的数据。这17种稀土元素对绿色能源和几乎所有行业的生产都至关重要，促进了在国内生产更多这些金属的需求。因此，实时识别这些材料具有很大的市场价值。K-7000手持式光谱分析仪具有出色的检出限，可检测许多可量化的稀土元素，可在现场有效地勘探和识别稀土元素。K-7000手持式XRF软件可以检测一些稀土元素:镧(La)、铈(Ce)、镨(Pr)、钕(Nd)、钪(Sc)、钇(Y) ，以及一些靠近稀土元素的元素:钍(Th)、铀(U)、铯(Cs)和钡(Ba)。K-7000在检测各种矿石样品(包括氟碳酸盐和次生磷酸盐)时，表现出非常高的性能。氟碳酸盐通常是氟碳铈矿石，可提供钇、铈和镧 而磷酸盐通常是独居石，不仅含有镧、铈、错和钕，还含有较重的稀土元素钐和钆，以及放射性较弱的钍。K-7000对关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而50千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。K-7000规格表主要配置1矿石分析仪主机1套:2标准样品1个 3原装可充电锂电池2块 4充电座及电源线 5U盘(32G)1个 6加强型聚丙烯膜5片 7标准手提防潮防震箱一只。标配模式矿石模式 选配模式:合金分析模式、土壤分析模式自诊断功能仪器可自动对硬件、软件、网络、电池等进行诊断，并会生成日志，便于快速排查出故障操作系统Window CE 6.0操作系统，安全、放心测试方法基本参数法，支持经验系数法修正点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。滤光片配置8个滤光片，可根据测试元素自动切换:激发源大功率微型直板X射线管，W靶材，4W大功率X射线管，管电压50KV，电流最大可达100μA 采用KMX技术，更高X射线计数率，超低电子噪声设计。每次测试前，不需要外部标样，自动能量校准核查 探测器美国Moxtek Si-pin (6 mm2)180ev检测元素38个标准元素:La,Ce, Pr，Nd, Sm， Eu, Gd，Y，Ti，V，Cr，Mn, Fe，Co, Ni，Cu，Zn，As, Se, Sr，Rb, Zr，Nb，Mo，Te, Ag，Cd，Sn，Sb，Ba， Ta，W，Au， Hg，TI，Pb，Bi，U。根据用户需求添加其它元素。K-7000性能优势1、X射线管光源、多光束过滤技术、以及惠普个人数位助理技术(惠普掌上型电脑)，从而使其采测范围、检测速度、检测精度都非常出色，并具有极好的升级潜力。2、使用了先进的和多用途的x射线资料模式采用康普顿常态化校正方法，可以利用“内部标准”来进行定量分析，而不需要进行专门的校正。3、基本参数分析:采用半定量分析方式，适合于检验各种不同元素的构成的结构密度不均匀的样品。4、实验校正法:利用“校正曲线”进行校正，允许使用用户产生的校正曲线。5、配备了光谱高点识别软体，可在显示幕查看光谱6、对比光谱，参考内置标准完成比较分析。

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

高精度X射线荧光元素分析仪土壤重金属元素 PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 满足GB15618-2018中对土壤中重金属的筛查及管控要求，其中对镉的合规要求是0.3mg/kg,而E-max系列检测极限可以达到0.05mg/kg。◆ 现场快速对样品进行实验室级别的分析，比手持机操作安全性好，比传统台式机重量轻、便携性强。◆ 无论在实验室还是户外场合，E-max产品都可以进行快速、方便的操作，从而有助于用户根据现场分析结果立即采取对应措施。E-max系列重金属分析仪，是专为环保、农业部、监察执法、环境修复、第三方检测机构等相关部门开发的一款产品，采用单波长X射线荧光分析技术，其对环境土壤中的多种重金属有出色的分析性能，尤其是对镉元素有极为出色的灵敏度。 产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 仪器在300s-600s以内即可对土壤中的将近40余种重金属进行定性定量分析；◆ 辐射安全防护功能：仪器通过辐射安全剂量认证，保证了设备使用的安全性。◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计，先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输重复性测试检出限技术参数测试时间 30秒-1200秒 测量范围 AI-U数据存储及输出内部存储和U盘，USB和WiFi输出网络连接方式 有限网络或无线WiFi 工作温度 -5 °C~50 °C工作湿度 ≤85%重量 小于9Kg 尺寸 30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

K-8000手持式合金分析仪 X射线荧光光谱仪 / 不锈钢合金分析仪 / 手持式合金测试仪 / 手持式铝合金检测仪 / 手持式金属检测仪 / 手持式X荧光分析仪 / 手持式金属元素分析仪 / 手持式钢材钢板合金分析仪 / 手持式合金钢分析仪 / 手持式合金分析光谱仪 / 国产手持式光谱仪厂家 / 国产手持式合金分析仪厂家仪器设计特点：1、散热性好：超过2/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏。4、测试数据精准：仪器软件采用成熟先进FP基本参数法，在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；产品参数：重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素

芬兰Stresstech Oy公司便携式X射线应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。芬兰Stresstech Oy公司便携式X射线应力分析仪主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。X射线表面残余应力分析仪主要特点：具有自动校准功能，方便操作自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节激光定位：保证了测量的准确性设备重量轻，方便携带测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象 芬兰Stresstech Oy公司便携式X射线应力分析仪特点： 仪器结构设计合理，电子系统采用国际标准机笼，高集成化电路设计，故障率低。 分析速度快、重复性好、稳定性好。 采用高集成化的采集和控制系统，自动化程度高。 采用进口的X射线管，具有暗电流小、信噪比高、使用寿命长等特点。 分析扫描过程可同时对所有元素进行扫描，扫描过程简单，可快速分析出每个元素相对于基体元素的偏差。 激发样品过程中，无需对激发台进行水冷却，连续分析样品也能达到较好的数据。 Stresstech Oy公司主要产品：残余应力分析仪，磨削烧伤检测仪，激光小孔法应力检测仪，巴克豪森噪声分析仪，传感器，常规检测支架，X射线衍射仪和检测支架，和小孔法残余应力检测仪等。主要客户：航天、航空、船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。

多年以来，HORIBA销售的EDXRF分析仪和XGT-WR系列为客户提供RoHS，ELV和无卤检测，对含有害元素如Pb，Cd，Hg，Br等的样品进行筛选式测量，在世界范围内广泛日常使用。基于大量客户的要求，HORIBA以长期的经验开发出全新的EDXRF分析装置MESA-50.MESA-50将为您提供友好的操作界面和优异的使用性能。MESA具有三种尺寸的准直器可用于各种大小的样品，从细长的电线、微小的电子器件到大型的样品。结合SDD检测器和HORIBA首创的DPP处理器，MESA将为您带来EDXRF的全新体验。MESA-50是HORIBA全新的生态采购支持仪器，不仅适合于欧洲的RoHS，ELV，也适用于其他地区的各种法规。4S技术Speedy：硅漂移检测器大幅度减少了测量时间，在高通量的同时提供了更高的灵敏度。Small：便携式，体积小，重量轻小巧 尺寸225（长）* 210（宽）*40（高），重量12千克。内置电池可持续测量6小时，无需担心X射线泄漏。Simple：减少日常维护工作（无需液氮），无需真空泵，各种材料测量直观简单。Smart：中英文操作软件，智能 Excel数据管理工具。技术参数：X-射线管电压50kV检测器SDD测量元素Al – UHarmful elements - Cr, Pb, Hg, Br, Cd,+ Cl信号处理器Digital Pulse ProcessorX-射线滤光片4 position (including open)工作台 (可选)Probe Vacuum (Sample is in atmosphere)重量外形尺寸7kg / 210(W) ×280(L)×178(H)准直器7mm, 3mm, 1.2mm (Automatic changer)光学像放大倍率50软件Reporting, Judge OK/NG校正算法FPM Thickness, Material,Pb/As peak separation, Residual component estimation电源AC adapter (100 – 240V 50/60Hz) (Optional Ni-MH battery) 电池仪器特点：1、能量色散型X射线分析仪，无需样品前处理可检测化学元素AL-U2、采用SDD检测器无需液氮制冷，灵敏度更高，维护更方便。3、中文软件，操作方便。

Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作简单。 Horiba X射线荧光分析仪技术参数： ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室（460X360X150㎜） ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内首家。X射线?光学同轴照射） ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能

EA8000是，与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物，再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析，是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析，查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时，协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池（LIB）虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中，但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用，与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路，而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关，因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声，较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题，开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点（1）通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物（2）从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品，也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时，将导电剂直接装入袋中就可检测出异物，在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程（3）自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测（通过图像处理）、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少，数据也可自动保存，效率高，可安心使用。图3 检查、分析流程（4）想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外，异物尺寸及个数分布利用柱状图表示，实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析，异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 型号：CIT-3000SYB 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 40KV-钨靶微型X射线管； 采用2048道多道分析器，分析精度更高； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 技术指标 分析元素范围：Na-U 元素含量分析范围：1ppm -99.99% 探测器能量分辨率优于150eV 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 测量范围：1－40KeV 高压：0kV-40kV 管流：0μA-100μA 专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 额定功率：50W 仪器重量：25Kg 仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-40KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套