脉冲宽度测量仪

用差分脉冲伏安测亚硝酸钠，脉冲宽度怎么设置？

1. 射频强度tpwr设定值不同，氢核的90度/180度脉冲值理论上说也会改变，平常测氢谱时tpwr需要设定在多大的值？如果要测驰豫时间tpwr是否需要重新设定？2. 同一化合物处于不同化学位移值的氢信号，使它们脉冲到90度/180度，是不是所需要的脉冲时间也会有所不同？如此一来，如果要测每个信号的驰豫时间，是不是需要分别测定各自对应的90度/180度的脉冲宽度？没测过驰豫时间，产生一些疑问！

求滚动轴承宽度测量仪的原始记录或证书

厚度的测量方法有多种，总体上分为非接触式与接触式，非接触式包括射线，涡流，超声波，红外等多种类型，接触式行业中也称为机械式测厚，分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。　　在选择厚度测厚仪这样的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，进一步确保了高精度，高效率，高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]　　厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　厚度测量仪哪个品牌比较好？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么大家在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们，欢迎来电大成精密公司来咨询。

激光脉冲法（热脉冲法）热扩散率测试是一种经典方法，目前市面上成熟设备也比较多，多数都标称可以测量到2000W/mK超高热导率，也就是说可以测量很高热扩散率材料。另外，目前激光脉冲法数据处理技术也非常成熟，可以进行各种修正，包括热脉冲宽度修正。基于以上提到的两点，那么就可以准确测量任何厚度金属材料厚度方向热扩散率。哪我们可以不妨做个试验，就是采用相同材质的金属材料（不透光）制成一系列厚度试样进行测量，如从1mm～6mm厚，相差1mm做6个试样分别在常温下进行测试，测试结果都应该一致。有条件的朋友可以具体做做，看看到底是什么结果，整个测试和分析也可以发表论文。

文献上方法：pulse amplitude=50mvscan rate=20mv/spulse width=50ms我的电化学系统上相关参数为脉冲宽度脉冲幅度脉冲间隔请问各位大侠，如何设置才能和文献的过程一致

听工程师提到[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]进样中吹扫捕集法中有一个液相闪烁测量仪，这个东西是干什么的啊？有没有大侠尽可能详细的介绍介绍啊？急啊！我在百度上查到这些： 液体闪烁测量仪原理为通过闪烁体（液体状态）将放射能转变为光子，然后将光子导入光电倍增管的光阴极，在高压作用下，将光子转变成光电子，经过光电倍增管，最后在阳极上产生一个电脉冲，通过计数装置将脉冲记录。液体闪烁测量仪解决了β粒子，尤其是低能β粒子的测量问题。由于样品均匀分散在闪烁体中，对低能β粒子（例如3H、14C）测量效率高。 在吹扫捕集法中它起什么作用呢？

看到一些关于低场脉冲核磁共振的基础知识，跟大家分享一下，我还以为磁场强度越高的核磁共振检测效果越好呢，原来低场脉冲核磁共振也很有用途[em31]

本文介绍一种用单片机制作的脉搏测量仪，只要把手指放在传感器内，很快就可以精确测出每分钟脉搏数，测量的结果用三位数字显示出来。　　电路工作原理　　电路原理见附图。电路由传感器电路、信号放大和整形电路、单片机电路、数码显示电路等四部分组成。file:///C:/Documents%20and%20Settings/Administrator/Local%20Settings/Temporary%20Internet%20Files/Content.IE5/O9EZM3GH/20100418141025_4599.jpg传感器由红外线发射二极管和接收二极管组成，测量原理如下：将手指放在红外线发射二极管和接收二极管之间，血管中血液的流量随着心脏的跳动变化，由于手指放在光的传递路径中，血管中血液饱和度的变化将引起光的传递强度变化，此变化和心跳的节拍相对应，因此红外接收二极管的电流也跟着心跳的节拍改变，使得红外接收二极管输出与心跳节拍相对应的脉冲信号。该脉冲信号经F1~F3、R3~R5。C1、C2等组成的低通放大器放大，F4、R6、R7、C3组成的放大器进一步放大后，送给由F5、F6、RP1、R8等组成的施密特触发器整形后输出，作为单片机的外部中断信号。电路中的可变电阻RP1用来调整施密特触发器的阈值压。　　IC2、X1、R10、C5等组成单片机电路。单片机对由P3.2输入的脉冲信号进行计算处理后，送到数码管显示。发光二极管VD3作脉搏测量状态显示，脉搏每跳动一次，VD3点亮一次。　　三只数码管VT1~VT3、R12-R21等组成数码显示电路。本机采用动态扫描显示方式，使用共阳数码管，P3.3~P3.5口作三只数码管的动态扫描位驱动码输出，通过三极管VT1-VT3驱动数码管。P1.0-P1.6口作数码管段码输出。　　软件设计　　程序用C语言编写，由主程序、外部中断服务程序、定时器TO中断服务程序、延时子程序等模块组成。主程序主要完成程序的初始化。外部中断0服务程序由测量、计算、读数等部分组成。定时中断服务程序由计时、动态扫描显示、无测试信号判断等部分组成。程序中用变量n对时间计数，用变量m对脉搏脉冲信号个数计数。　　从P3.2口输入的与脉搏相对应的脉冲信号作为外部中断0的请求中断信号，外部中断采用边沿触发的方式。由于脉冲信号的频率很低，所以不适宜用计数的方法进行测量，故而采用测脉冲周期的方法进行测量，即用脉冲来控制计时信号，通过计时数计算出脉冲周期，再由脉冲周期计算出频率，从P3.2口每输入一次脉冲信号就能显示一次脉搏数。　　定时器TO的中断时间为5ms，每中断一次计时变量n加1，因此计时的基本单位为5ms，例如一个脉搏脉冲周期对应的n值为240，则对应的时间为1.2s，由此可得每分钟脉搏数为50。如果n的值达到2000，即10秒钟仍没有发生外部中断，则表示没有脉搏脉冲信号输入，于是n被清零，测量结果显示也为0。　　读数采用三位数码显示。定时器TO每中断一次显示一个位，因此3次中断就可以刷新一次数据，即15ms刷新一次数据。安装与调试　　传感器的制作是一个关键。可将红外线发射二极管和接收二极管分别固定在一个塑料夹子的两侧，用时只需将夹子夹在手指上即可。制作时注意保证红外线接收二极管在使用时不要受到外界光线的干扰。　　调试的主要工作是通过对RP1的调节来调整电路的灵敏度，RP1的阻值越小灵敏度越高，反之灵敏度越低。调试时可通过VD3的发光状态进行观察，如果脉搏跳动时VD3不跟随发光，则说明灵敏度偏低，不易检测到脉搏信号；如果在没有脉搏跳动时VD3偶尔也点亮发光，说明灵敏度偏高，容易受到干扰。

日前，由中国计量科学研究院承担的国家“十一五”科技支撑课题 “飞秒脉冲激光参数测量新技术研究”通过了专家验收。该课题自主研制的飞秒脉冲自相关仪和飞秒脉冲光谱相位相干仪实现了飞秒脉冲激光参数的准确测量，课题组提出的飞秒脉冲光谱相位还原方法降低了传统方法的测量不确定度，将我国飞秒脉冲激光参数的准确度提高到国际领先水平。　　飞秒是时间单位，1飞秒相当于10-15秒。它有多快呢？我们知道，光速是1秒钟30万公里，而在1飞秒内，光只能走0.3微米，相当于一根头发丝的百分之一！飞秒脉冲是人类目前在实验室条件下能获得的在可见光至近红外波段的最短脉冲，它以其独具的持续时间极短、峰值功率极高、光谱宽度极宽等优点，在物理学、生物学、化学、光通讯、外科医疗、精细加工制造及超小器械制造等领域得到很广泛的应用。如何准确地测量超短脉冲信息已成为飞秒脉冲研究领域迫切需要解决的难题。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

[size=6][b]占空比 [/b][/size]　　 [url=http://baike.baidu.com/image/9f1011b3e418a5b4d9335af5][img]http://imgsrc.baidu.com/baike/abpic/item/9f1011b3e418a5b4d9335af5.jpg[/img][/url] [size=4][b]占空比的图例[/b][/size]　　占空比(Duty Cycle)在电信领域中有如下含义： 　　在一串理想的脉冲序列中（如方波），正脉冲的持续时间与脉冲总周期的比值。 　　例如：[url=http://baike.baidu.com/view/2069836.htm]脉冲宽度[/url]1μs，信号周期4μs的脉冲序列占空比为0.25。 　　在一段连续工作时间内脉冲占用的时间与总时间的比值。 　　在CVSD调制（continuously variable slope delta modulation）中，比特“1”的平均比例（未完成）。 　　在周期型的现象中，现象发生的时间与总时间的比。 　　负载周期在中文成语中有句话可以形容：「三天打渔，两天晒网」，则负载周期为0.6。 　　占空比是高电平所占周期时间与整个周期时间的比值。

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器　　信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表　　兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪　　该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Ｑ、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。　　除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

[size=16px]　　叶面积测量仪通常用来测量植物的叶片表面积，而不是叶片的长度。如果您想测量植物叶片的长度，您可以考虑使用一个普通的尺子或者显微镜测量。以下是如何使用叶面积测量仪来测量叶片表面积的步骤：　　准备工作： 确保您有一台叶面积测量仪，通常它由一个扫描仪和适用于测量的软件组成。您还需要植物的叶片样本。　　准备叶片样本： 从植物中选择您想要测量的叶片样本。尽量选择完整、健康的叶片，并在测量前将其清洁干净。　　扫描叶片： 将叶片放在叶面积测量仪的扫描台上。根据仪器的使用说明，启动扫描仪，它将会自动扫描叶片的表面。　　分析数据： 扫描仪将生成一个叶片的图像，并提供叶片的表面积数据。您可以使用附带的软件或其他图像处理软件来测量叶片的总表面积。通常，这涉及在图像上勾画叶片的边界，然后软件会计算出所勾画区域的面积。　　保存结果： 一旦测量完成，您可以将测量结果保存下来，以备将来参考或记录。　　需要注意的是，叶面积测量仪测量的是叶片的二维表面积，而不考虑其长度、宽度和形状等其他参数。如果您对测量叶片的长度感兴趣，云唐建议您可能需要使用传统的测量工具，如尺子、标定尺或显微镜来进行测量。[/size]

我们单位准备购买接触角测量仪，要求性能要好，最好是顶级的，并且是国外的。我对这个不熟悉，请教大家，请推荐一款性能最好的接触角测量仪。

请高人帮我分析下，测量仪表的带宽是否越宽越好?

电子测量仪器的分类及应用电子测量仪器按其工作原理与用途，大致划为以下几类。　　1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 　　2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 　　3.信号发生器　　信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 　　4.晶体管特性图示仪 　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 　　5.兆欧表　　兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。　　6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 　　7.集成电路测试仪 　　该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 　　 8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 　　9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。 　　除以上常用的电子测量仪器外，还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条，以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力，即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在，通常任何测量是不可能完善的，所以实际上真值是不可知的，当然接近于真值的能力也是不确定的，因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度，所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能，因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果，实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念，但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述，以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的，如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求，使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别，如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级，具体说就是该测量仪器满量程的引用误差，如1.0级指示仪表，则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级，则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器，当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值)，则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计，就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标，则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述，因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差，这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的，如长度用半径样板，它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的，实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小，通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式，这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意，从名词术语的名称和定义来看，测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的，测量仪器准确度术语是定性的概念，严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力，则应该指明给出量值是什么量，是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级，不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称，测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述，这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级，准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述，表头则也可写“准确度”，表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点，测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能，人们关心的就是是否准确可靠，如何来确定这一计量性能大小？通常它是用其它的术语来定量表述而已。

在实验中，碰到一个问题：测量纯水中氢原子的自旋晶格弛豫时间时，需要知道氢的90度脉冲。但是由于水有很强的阻尼效应，实践中按照标准办法难以判断是否是90度脉冲。大家有什么建议吗？谢谢

[font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]在现代的生产中，传统的产品直线度尺寸检验是直尺法、准直法、重力法和直线法等离线检测方法。这种检测方法具有滞后性，检测效率低，而生产企业要想得到快速高质量生产，一台在线直线度测量仪是必不可少的。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪是可进行在线无损直线度尺寸检测的设备，可在生产线上监测直线度的微小变化，提供及时的检测数据，在超差时进行声光提醒，从而实现高质量的生产。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪由3台测量仪构成，每台测量仪内采用成90°交叉分布的2路光电测头测量棒材边缘的位置，利用2路测头的位置数据计算测量点在坐标系中的实际偏差。因此，无论被测物的弯曲方向如何，测量仪均可测得真实的直线度尺寸。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]测径工作介绍：棒材通过测量仪的测量区，每台小型测量仪分别实时采集直径数据。当外径测量的数据超过设定的公差范围时，声光报警器自动声光报警。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度工作介绍：3台小型测量仪同时采集各截面边沿的位置，计算圆棒的直线度误差，与测径数据采集不冲突。当直线度超过设定的公差范围时，声光报警器自动声光报警，达到合格判定的目的。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪可兼顾直径与直线度的检测，直线度测量精度≤±0.5mm。整个系统中测量仪安装在轧制现场，控制柜安放在控制室或其它环境适合电脑工作的室内。测量仪的供电电源由控制柜引入，测量仪的测头采用串口服务器合并成1路数据后通过网线或光缆传输至控制柜内的工控机。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪具有检测精度高、响应速度快、抗干扰性好、可靠性高等特点，能够满足棒材生产现场条件的使用要求。能安装于生产线上进行测量，它可实现长距离大范围的连续测量，同时具有精度高，测量准确性好的特点，这种自动化的在线直线度测量仪在现代工业及国民经济建设中有广泛的应用前景。[/color][/size][/font]

请问各位大虾，有没有一种仪器可以测量卡片的长宽厚的（银行卡，IC卡类型），可单张和批量测量，能对测量数据统计和导入计算机，最后有相应的数据处理软件，如果有那位大虾了解详细信息和价格，请发邮件至zhngyan125@163.com,鄙人姓郑，谢谢。另外希望推荐更多针对卡片的测量仪器，或者卡片辅材测量分析仪器，谢谢！

参数pw的具体含义是什么?

为了帮助客户更好地选用建筑声学测量仪器，我们根据相关标准要求，提出建筑声学测量仪器解决方案，主要包括以下内容：1 建筑声学测量总的仪器解决方案 适用建筑构件隔声测量、混响室吸声系数测量和室内混响时间测量。 建筑构件隔声测量根据传播途径的不同分为： 1）建筑构件的空气声隔声测量； 2）楼板撞击声隔声测量。 我公司提供的解决方案：选用AWA6290M型双通道分析仪、AWA5870B型功率放大器、AWA5510型12面体声源、AWA5560型标准撞击器，以及建筑声学测量软件。 与传统建筑声学仪器配置的比较： 1）设备少了许多，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪； 2）智能化程度高，由计算机直接计算各项测量指标，省力省时间； 3）混响时间测量既可以按中断声源法，也可按脉冲响应积分法； 4）同时测量出各个中心频率下的混响时间、隔声量和吸声系数，效率大大提高； 5）可以自动生成报表； 6）还可进行噪声的频谱分析等测量。如果用户需要对振动进行测量，只要增加振动测量通道和相应的软件。 7）当测量标准修订了，也可以通过软件升级或增加的办法，使它符合新标准的要求，而不需重新购买。2 测量混响时间简单解决方案 如果仅仅测量混响时间，只需选用AWA6291型实时信号分析仪，配置实时倍频程和1/3倍频程分析软件和混响时间测量软件。该配置的优点：1）使用设备非常简单，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪；2）按脉冲响应积分法测混响时间，准确性高，低频尤其明显；3）同时测量并直接计算所有频带的混响时间，省力省时间；4）该仪器还能进行噪声测量和实时倍频程和1/3倍频程分析。3 阻抗管法材料吸声系数测量解决方案 材料吸声系数的测量除了混响室法，还可采用阻抗管法。阻抗管法材料吸声系数的测量又分为： 1）驻波比法吸声系数测量方法 利用AWA6122A型驻波管吸声系数测试仪，测定垂直入射条件下吸声材料的吸声系数。测试仪软件根据测量到的峰声级值和谷声级值自动计算出吸声系数，并能生成吸声系数与频率的坐标曲线。 该方案的特点： ● 工作原理直观，尤适宜教学使用； ● 不另需要信号发生器、测量放大器、滤波器等设备； ●自动计算吸声材料各频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●只能一个一个频率点测量，而且要寻找波峰和波谷点，费时费力。 2）传递函数法测量吸声系数 选用AWA6290M型双通道分析仪或AWA6290B型四通道分析仪，相位配对的1/4″测量传声器和AWA14634E前置放大器，加上AWA8551系列阻抗管，配置信号发生软件、1/3 OCT分析软件、FFT 分析软件、传递函数吸声系数测量软件和四传声器隔声测量软件。不同测量要求选择选择不同配置。 该方案的特点： ●是一种更为方便、快捷、操作误差小、测量结果一致性好的吸声系数和声阻抗的近代测量技术； ●同时测量并计算所有频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●采用4传声器法还可测量材料的隔声系数； ●设备比较复杂，价格相对较高。

[size=16px]　　叶面积测量仪是用于测量植物叶片表面积的工具。它可以通过不同的方法来估算叶片的表面积，其中一些常见的方法包括：　　直接测量法： 这种方法涉及将叶片放在一块已知面积的测量板上，然后使用划分网格或数字图像处理来测量叶片的轮廓。然后可以使用这些测量值来计算叶片的总表面积。　　扫描法： 这种方法使用数码扫描仪或图像扫描仪来扫描叶片的图像。扫描后，使用图像处理软件测量叶片的轮廓，并计算出叶片的表面积。　　影像分析法： 使用数字相机或移动设备拍摄叶片的图像，然后使用专业的图像分析软件来处理图像，提取叶片的轮廓并测量表面积。　　数学模型法： 通过测量叶片的长度、宽度和其他几何特征，然后应用数学模型(如椭圆形、矩形等)来估算叶片的表面积。　　叶片分段法： 对于大型或不规则形状的叶片，可以将其分成几个较小的部分，测量每个部分的面积，然后将这些面积相加以得到总表面积。　　无论使用哪种方法，都需要确保测量精确度和可靠性。在使用叶面积测量仪进行测量时，云唐建议遵循制造商提供的操作说明，并根据需要进行校准，以确保获得准确的叶面积数据。另外，不同类型的植物可能需要针对其特定叶片形状和大小的方法进行微调。[/size]

中子剂量率测量仪 FH40G+FHT762一、 配置l 主机l 宽量程中子剂量率探测器二、 技术指标1、 主机l 探测器类型：正比计数管l 测量常数：光子剂量率当量l 测量范围：10nSv/h~1Sv/hl 负荷容积：50 Sv/hl 探测效率：超过50 Sv/h (DIN6818)则忽略该次检测l 能量范围：36 keV~1.3MeVl 角度依赖性：-75°~ +75°之间纵轴方向的单位内角度变化小于20%l 读数出错率：Typical 250小时(AA/LR6电池)；l 电磁磁场率：IEC 1000-4-3, EN61000-4-3, 10V/m, 80 MHz-1GHzl 拟辐射少于：EN55011(Class B)l 静电补偿：8kV, IEC 801-2l 探测器灵敏度：2.0 Imp/ μSv/hl 分析显示30年内对数条形图l 在测量范围内剂量和剂量率报警连续可调；l 显示上次操作的剂量率最大值和平均值；l 外部探测器独立报警；l 内置256位数据存储器，对应内部和外部探测器分别记录日期和测量时间；l 该设备可连接外部探头；l 连接外部探头显示会自动转换到相应模式并显示该探头的探测辐射线类型。l 大气压：300 hPa~1300 hPal 相对湿度：10%~95%l 探测器尺寸：25mm; Φ25.8mml 自动选择量程l 测量值以数字方式显示，可自动绘制出今后30年的衰变对数条形图；l 剂量率报警时，显示屏亮并伴有脉冲声提示与脉冲声信号频率对应于剂量率变化；l 电池电量低时及时报警；l 存储累积剂量，每次关机后的数值仍保存在仪器内，直到手动复位；l 计时模式可选择测量时间，拥有默认最小值。400脉冲数以精确测定剂量率，特别适用在低辐射量级的测量；l 可通过手动按键或设置时间间隔来选择存储模式；l 该检测仪与电脑通过红外连接线串口连接，FH40G程序的相关参数和所需功能可选择安装，并作为配置文件存储在硬盘上；l 在线图形数码显示和存储，以及内部缓冲区数据读出可通过运行该“FH40G”程序进行操作；2、宽量程中子剂量率探测器l 探测器：3He管l 能量范围；0.025 eV～5 GeV，依照ICRP74（1996）l 测量范围；1 nSv/h～100 m Sv/h, 252Cfl 灵敏度：0.84cps/(μSv/h) ,252Cfl 角度依赖性：所有方向±20%l 大气压力：500～1500hPal γ灵敏度：1到5 μSv/h对于100mSv/h ，137Cs 662keVl 环境温度；-30℃～50℃ l 湿度：可达90%（非冷凝）l 尺寸: 直径230mm, 高320mml 重量: 13.5kgl 抗γ串扰能力强

急需求GB/T 26098 -2010圆度测量仪标准

我国计量仪器和国外相比存在一定的差距，更严重的是，国外对一些敏感计量仪器限制进口，严重阻碍了我国经济建设和国防建设的发展。例如：我国激光参数计量测试仪器的发展较为落后，与国外发达国家相比存在明显的差距。目前，我国激光参数计量测试仪器的专业研发单位和供应商很少，仅中国计量科学研究院、中科院上海光机所、北京光电技术研究所、物科公司等少数几家，且研发工作处于十分零散的状态。其提供市场的计量测试设备也较片面，绝大多数只能用于较传统的激光产品的计量测试，对于新型激光器和激光产品常常不能提供有效的计量测试。表现在：（1）现有计量检测仪器无法对某些激光输出参量进行计量检测。目前对于激光脉冲宽度、峰值功率、脉冲激光瞬态功率—时间曲线等重要参数，国内尚没有研发出成型的计量检测仪器，对于此类激光参数难以进行计量检测。（2）现有计量检测仪器不适用于某些激光器的工作状态。对于目前大量使用的高脉冲重复率、高平均功率的激光器，国内现有的计量检测仪器难以适应其工作状态。具体而言，国内现有的激光能量计量仪器绝大部分仍是单脉冲测量仪器，在激光器重频工作状态下根本无法进行测量；少量可测重频激光的能量计，其最高使用频率也仅20~40Hz，对于很多高达百Hz乃至数千Hz的激光输出也不适用；在此种情况下国内一般只能使用激光功率计进行平均功率检测，而这种检测方式无法评估激光输出的脉冲能量的稳定性，同时此类激光往往有较高的输出峰值功率，一般激光功率计在测量时极易受到损伤。又如蓝光DVD使用的半导体激光器的测试仪器，国内外产品普遍采用光电探测器作为激光接受器，但国内探测器一般仅在632.8nm进行校准，且没有给出探测器的光谱响应度曲线，致使国产激光功率测量仪器无法准确测量蓝光DVD使用的半导体激光器的输出功率。（3）现有计量检测仪器的量限难以满足一些激光参数的测试要求。目前激光应用的领域十分广阔，某些应用（如激光测距、制导等）需要对极其微弱的光信号（低至10-14~10-15J）进行检测校准，而另一些应用（如万瓦级激光加工机、化学激光器等）又需要对极高的激光输出能量功率（10KW、1MJ）或极高的峰值功率进行检测。国内现有的激光计量检测仪器其测量下限一般仅在10-9W或10-8J量级，测量上限也仅在数千瓦和数百焦尔量级，无法满足上述应用的计量检测需求。同时，我国国产的激光测数计量测试仪器在新技术的消化、吸收和利用上也远远落后于国际仪器行业的发展水平。当国外先进的激光计量检测仪器在5~10年前，早已全面实现智能化，而向虚拟化、网络化仪器发展的今天，国产激光计量测试仪器大部分仍然停留在模拟集成电路和数字化仪器阶段，仅少量的发展至智能化仪器水平，落后国际水平至少15年。国产激光参数计量测试仪器不仅在测量性能上落后于国际水平，在使用功能上亦远远逊色。进口仪器在智能化的基础上利用仪器本身具备的数据处理能力，提供了丰富的测量数据表达形式，直观友好的人机界面，同时通过仪器具备组网功能，依靠主控计算机强大的处理能力，协调多台仪器进行多参数协同测试，利用神经网络、模糊逻辑等算法对获得的原始测量数据进行综合分析，得到精确的测量结果并给出用户习惯的数据表达方式。而国产仪器绝大部分功能单一，根本不具备基本数据处理能力和联机能力。近年来，国外激光参数测量仪器大量进入国内市场。国内传统的激光参数计量检测产品在性能指标、功能多样性、技术水平、工作可靠性、使用便捷程度等方面均存在较明显差距，仅仅依靠价格优势，勉强抵抗国外产品对我国激光参数计量测试仪器市场的冲击。从中国计量科学研究院每年进行校准的激光参数计量检测仪器的情况看，进口仪器设备所占比重已由1995年的不到10%，迅速增长到50%左右。目前激光产品研究和使用单位在经费许可的情况下几乎很少考虑采购国产测试仪器，国产仪器正受到进口仪器猛烈的冲击。在扫描探针显微镜方面（SPM），国内对SPM的研究应当说是比较早的，中国科学院白春礼院士首先研制出我国