锚杆孔径测量仪

Porometer 3G全自动薄膜孔径及渗透率测量仪是安东帕最新推出的一款独特的全自动多功能薄膜分析仪。该仪器最大的特色在于该方法没有污染，无需实验室改造，更安全更便捷，同时也是ASTM(美国材料试验学会)薄膜测定的标准方法。 Porometer 3G系列新产品具有高精度、高分辨率，重现性优于0.5%，测试动态范围广(0.02~500微米)，适用于各种膜材料测试，遵循ASTM、GB、BS(英国标准学会)认证、HY/T(中国海洋行业标准)等标准，可广泛应用在过滤材质、微孔膜、纺织、纸张、电池、陶瓷、岩心等行业。 原理概述 根据毛细管渗透法，利用Washburn方程测定薄膜孔径及渗透率。材料孔道被液体浸润时，受毛细管张力影响会导致孔道内部形成一定的正压，只有在孔道的一端施加一定的压力，才能将浸润至孔道中的液体排出，该压力P与液体被排除的孔道直径D遵循Washburm方程，即：P*D = 4&gamma cos&theta 。求解该方程可获得材料内部孔道的孔径参数。分析功能&mdash &mdash 孔喉直径 泡点直径 平均流量孔径 气体渗透率 液体渗透率（Frazier、Gurley模型） 干、湿气体流量 外表面积、平均颗粒尺寸、平均纤维细度 孔径分布、孔数分布、累积/差分流量分布产品优势 低表面张力的POROFIL浸润液（16mN／m），适用于所有膜材料测试 高精度、高分辨率，16位高精度数/模转换器，重现性优于0.5% 测试动态范围广(0.02~500微米 ) 特有的压力传感器检测位，消除压力测量偏差 自动梯度升压系统，可避免升压不均带来的误差 附带有标准膜片能定期校准 测试分析连接PC自动完成，数据与图表详实、直观、操作简单行业、用途 过滤材质、微孔膜 机织织物、纸张 烧结材料、电池材料 油、燃料和空气过滤器 陶瓷、多孔塑料、岩心

FH 40TG长杆辐射测量仪，可选配不同的探测器，满足不同领域的需求，可以更好的保护操作者的安全。? - 可使用多种不同的探测器 ? - 同时监测操作者剂量和剂量率 ? - 模块化设计，可快速更换各部件 ? - 长杆使用高强度玻璃纤维长杆材料 ? - 配有平衡杆，方便长时间工作 ? - 可延长至4m ? - 重量仅2.6kg 安全性 ? - 适用于高剂量场所和空间比较狭隘的场所 ? - 可延伸4m ? - 同时测量操作者剂量和剂量率报警阈值 ? - 所有探测器可以分别设置报警阈值机动性 ? - 可选用NaI探测器或者中子探测器。 ? - FH 40G主机可连接多种不同的探测器

CSI-JF001洁净服当量孔径测量仪执行标准IEST-RP-CC003.3技术参数控制系统：PLC 操作界面：彩色7寸触摸屏，中英文切换；试验夹具：直径47mm；压差传感器：0-3000PA,0-10V 流量计：0-2升；试验方法在溶剂中浸泡5块布料试样，每块直径约5cm(2in.)，浸泡5min。a用镊子夹起一片试样，放在滤膜夹的两层密封垫之间，夹紧滤膜夹。开启气泵，打开阀门，向布料加上少许气压 在布料上添加少许液体，使其刚好覆盖布料表面。慢慢地提高压力，直到布料上的某点出现一组气泡，继续提高压力直到出现第三组气泡。注:注意不要将假阳性气泡计算在内，那些气泡点在布料周边，那是因密封不好或密封处布料变形而产生的。用同样步骤试验其他4片布料，计算起泡点压力的平均值。工作原理将布料用一个夹具夹紧。然后，用己知表面张力的适当液体浸湿布料，并对布料施加气压。观察布料并测量克服液体表面张力所需的气压，可以确定起泡点压力。然后，利用这个起泡压力来确定布料的相对孔径。有关本试验的限制的讨论参见英国标准BS3321和ARP901。有关利用微孔测试仪测定孔径的方法参见ASTME1294。

MJY-90型矿用锚杆角度测量仪— 泰安市九方矿山设备有限公司为你推荐矿用锚杆角度测量仪主要用于测量井下倾斜锚杆的角度，锚杆角度的jing确测量对于进行巷道锚杆支护矿压观测研究有着zhong要的作用。矿用锚杆角度测量仪技术参数：①测定范围1300、-00、-1300（500、900、-00、-900、-500），②1分～8分（0.5分刻度）、10%、12%15%、18%、20%。③精度：±10，④外形尺寸：250*126*25，⑤重量：240g。

冠测仪器动态比表面及孔径测量仪BETA202A3一、适用范围及功能1）适用产品多：包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。2）功能强大，包含目前所有的数据处理方法：单点和多点比表面积。粒度估算和真密度测试、孔隙率及孔隙度分析。吸、脱附等温线分析。中孔和大孔的孔体积，孔面积对孔径的分布，总孔体积等二、软件功能:1)可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。2)优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长，真空泵寿命。3)自动恢复大气压功能，方便样品拆卸，并保证不会出现样品飞溅。4)自动高真空检测系统，确保测试均在高真空环境下进行，确保测试结果的准确性。5)自动应急处理系统，能够保证突然停电、石英管破碎等突发偶然情况下仪器自动恢复正常。6)强大的数据库，存储有多达几十种测试模式，客户也可以根据自身需要建立更符合自身产品的测试模式，对产品进行更精确的测试。7)断电后，测试系统恢复功能。比表面积及孔径分析时，真空脱气过程相当漫长，在进行测试时，突然停电，中断测试是一件非常痛苦而无奈的事情。不仅损失掉数据、还会耽误科研进程，这项功能在此时显得特别重要。8)可以进行PDF电子版打印及Excel数据导出，以及各种理论数据选择打印。还可以进行不同时间、相同样品、相同测试模式数据和分布曲线对照查看和打印功能。9)可以进行中英界面操作测试和中英文界面打印测试报告。三、技术要求：1、真空系统：中科院真空处理专家专门为该系列设计的真空系统，全不锈钢管路和国际知名真空电磁阀配套，真空度更高（可达10-8Torr）,保持高真空度时间更长。基本配置真空泵10-2pa(10-4 Torr).P/P0可达10-7.2、智能选择多容量空间技术；3、全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术；4、真空系统内壁采用镀银技术。5、真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。6、检测系统：进口电容式绝压薄膜压力变送器，精度达到0.1%，（0-10 Torr---相当于0-1.33KP ，0-1000 Torr ------相当于0-133.3kp）高达24位AD采集电路确保数据的准确性。可以进行上千个点的测试。7、优质控制阀使抽气和进气非常稳定，不会出现样品飞溅现象。特殊的气路处理，避免了样品管从脱气站到分析站转移过程中的二次污染。加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的先进技术。8、样品预处理更方便、快捷。样品测试和处理在相同位置，达到理想的脱气处理效果。同时避免样品拆来拆去，暴露在空气中，影响吸附能力。我们在样品室上方，利用一个三通阀，巧妙的把测试管路和加热脱气管路一分为二，使脱气时产生的杂质不会污染测试管路和真空计，这是我们核心的技术。9、独立的P0管，确保P0值的准确无误。P/P0可达0.999510、BETA202A配置了大容量液氮杜瓦瓶，可保70小时无人介入操作。HYA还配置了液氮等温套，以确保整个分析过程中等温套以下的温度恒定。可加自动液氮补充系统，进行任意所需时长的样品测试。11、真正的无人值守，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制。12、分析范围广：比表面积0.0005m2/g（Kr测量）至无上限。孔径分析0.35nm-500nm。孔体积小检测: 0.0001 cc/g。(氮气吸附，可加配备高真空系统).测试精度可达重复性误差〈±1%。13、BETA202A装有3路传感器，一路对P0适时测试，确保P0的准确性，另2路对2个样品同时进行分析，可以同时测试2个样品的比表面积和孔径分布。 (注：可按需加装分子泵)。14、只需要氮气进行测试，不需要氦气（氦气又贵且不好买），为客户节省资金。15、比表面积1个25分钟，孔径常规1个3.5小时16、可以进行N2,Ar，Kr，NH3，CO2，H2，CO，O2，甲烷，丁烷和其他非腐蚀性气体吸附分析。17、可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。

本产品是一款专门应用于快速测量薄片上的微孔直径的光学仪器，有效解决了传统方法光学采用显微图像处理技术和电子显微镜都无法实现对薄片微孔孔径全检的技术难题。其特点是对薄片全域范围（最大面积 5.0 x 4.5mm）的所有微孔只需一次抓拍，即可输出薄片上全部微孔的孔径特征、孔径分布和微孔位置分布图。图1：微孔片样品图 薄片微孔径是指在平板薄片上的尺寸达微米甚至亚微米大小的小孔的直径。 普通的光学显微镜受到光学衍射现象的限制，最高分辨力只能达到0.5μm左右，因此用普通的光学显微镜测量1μm左右的微孔，误差显然过大；况且此时只能用40倍或以上的显微物镜，视场大小只能达到0.2 mm或者更小。对于制作在薄片上、位置分布范围达数毫米的微孔片，不可能做到全域一次抓拍。即便通过分区扫描测量也许耗费大量时间，且难免出现漏检问题。如果使用低倍显微物镜做全域拍摄测量，例如 2倍，则由于低倍物镜的数值孔径很小（2 倍物镜的数值孔径只有0.06），孔径限制造成的衍射光斑（爱里斑 ）直径可达到10μm左右，用这样的镜头观察数十微米量级的微孔，会产生显著的模糊，而对1μm量级的微孔，普通的光学显微镜的图像已经完全不能反映孔的大小。所以，基于光学显微放大和数字图像处理技术的测量系统难以完成这类微孔径的全域快速测量。电子显微镜虽然具有更好的景深和分辨能力，但单次测量视场更小，使用成本也十分高昂，不太适合广泛应用在薄片微孔径的快速测量。图2：工作原理图 本仪器采用真理光学团队首创研发的光通量微孔径测量法（专利申请号：CN202110766064.2），利用透过微孔的光通量与孔面积成正比的关系，如下图示，本有效规避了光学显微成像方法中的（成像透镜）光学衍射对微孔径尺寸测量准确度的制约。图3：光通量--孔径曲线关系图 根据图像传感器检测得每个孔的光通量值计算微孔孔径，同时对微孔本身的光学衍射造成的光能损失进行修正，从而实现微孔直径的全域一次抓拍即可快速完成对区域内全部微孔孔径的测量，最后输出微孔径分布曲线和空间位置分布图。图4：典型分析测试报告

无需定位，无需调焦，瞬间完成模具内径孔径的直接测量。 产品特点：1．测量速度快，模具放置后，几毫米即可完成测量。2．无需调焦，定位模块放置即可测量。3. 测量范围广，0.01~50mm均可测量。4. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 5. 软件功能丰富，方形、六边形等其他形状的内孔孔径均可测量。 技术参数：型号KOG-01KOG-02KOG-05KOG-50测量范围（mm）Φ0.02~Φ1Φ0.05~Φ2Φ0.1~Φ5Φ0.5~Φ5测量精度（μm）±0.3±0.5±1±2测量速度小于2s图像传感器500万像素CCD软件OVG孔径专用软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年

BLS系列大孔径闪烁仪/大气湍流测量仪系统简介德国SCINTEC公司是应用光闪烁法进行区域大气湍流状态及通量测量的专业的公司，是欧洲气象年会、美国气象年会等相关领域会议的长期赞助商。SCINTEC公司的BLS系列大孔径闪烁仪采用了独特的面发射光源、双接收器等技术，是一款设计先进、测量结果可靠的大孔径闪烁仪。大孔径闪烁仪发射的光源信号在大气传播过程中，由于受到大气湍流的影响，发生散射，散射后的光强被接收器所接收，通过接收到光强信号的波动计算空气折射率指数的结构参数（Cn2）；结合微气象学原理可测量沿着发射器到接收器之间光径上的区域平均大气湍流及感热通量；并可利用能量平衡法计算区域潜热通量。应用领域主要应用于农田、草地等下垫面条件的相关环境研究。系统特点可野外长时间连续测量大面积感热与潜热通量；坚固耐用，操作简单，无需专业人员；独特的面光源专利技术，野外远距离对准极为方便；测量对仪器安装塔的晃动不敏感，显著提高测量精度；双接收器专利技术，可自动判断发射器与接收器对准状态，显著提高测量精度；特有的背景光测量修正技术，显著提高测量精度；独特的数据质量控制及诊断软件，方便非专业人员对测量数据后期分析。系统参数 参数BLS450BLS900BLS2000说明一般参数发射器光源面个数122 发射器宽发射角有有有容易对准背景修正功能有有有提高精度湍流饱和修正有有有提高精度吸收及外尺度影响修正无有有提高精度侧风测量功能无有有125HZ发射频率测量范围（m）500~6000100~3000（缩小孔径）500~6000100~6000（缩小孔径）1000~12000500~7000（缩小孔径）取决于能见度发射器参数LED光源个数4509001768近红外辅助LED个数183668红光，判断发射器工作状态光源功率7.5W15W28W 主激光LED波长850nm光源发散角16° 脉冲重复速率1、5、25、125HZPRR可选功耗1.5、1.75、3、10W2、3.5、6、20W4、7、12、40WPRR=1、5、25、125HZ体积180×180×135mm364×180×135mm590×330×170mm 重量4.5kg8.5kg22kg 接收器参数镜头平凸透镜平凸透镜菲涅耳透镜 视场角8mrad8mrad7.5mrad 体积610×310×160mm610×320×160mm610×420×270mm 重量7.6kg7.6kg19kg 数据处理存储单元（SPU）参数采集时间1~3600s推荐1~15min存储容量6GB，2年左右（1分钟采样频率） 数据输出端口Ethernet以太网，RS232串口ACSII工作温度-35~50℃ 工作电压12VDC 重量8kg 体积330×230×180mm 功耗16W 系统组成组成名称数量系统主机发射器1接收器1数据处理及存储单元（SPU）1数据采集器1传感器空气温湿度2风速2风向1气压1净辐射1土壤热通量2土壤温度（可选，5、10、15、20、40cm）5土壤湿度（可选，5、10、15、20、40cm）5附件无线传输模块1无线传输模块（气象）1太阳能供电系统（128W太阳能板、12Ah电池、电池防护箱、控制器及安装附件）3太阳能供电系统（20W太阳能板、12Ah电池、控制器及安装附件）（气象）1防护机箱（安装SPU）1防护机箱（安装数据采集器）（气象）1安装支架（2米安装三角架（用于闪烁仪的发射和接收）BLS450/900专用）2安装支架（三角架）（气象）1专用软件（匹配通量计算软件、包括大孔径闪烁仪、气象数据、涡度相关等数据的预处理）1软件包（数据采集软件、无线传输下载软件等）（气象）1

中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。W系列白光干涉微观三维形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。典型结果表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）自动拼接测量针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

无需定位，无需调焦，瞬间完成模具内径孔径的直接测量。 产品特点：1．测量速度快，模具放置后，几毫米即可完成测量。2．无需调焦，定位模块放置即可测量。3. 测量范围广，0.01~50mm均可测量。4. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 5. 软件功能丰富，方形、六边形等其他形状的内孔孔径均可测量。 技术参数：型号KOG-01KOG-02KOG-05KOG-50测量范围（mm）Φ0.02~Φ1Φ0.05~Φ2Φ0.1~Φ5Φ0.5~Φ5测量精度（μm）±0.3±0.5±1±2测量速度小于2s图像传感器500万像素CCD软件OVG孔径专用软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年

无需定位，无需调焦，瞬间完成模具内径孔径的直接测量。 产品特点：1．测量速度快，模具放置后，几毫米即可完成测量。2．无需调焦，定位模块放置即可测量。3. 测量范围广，0.01~50mm均可测量。4. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 5. 软件功能丰富，方形、六边形等其他形状的内孔孔径均可测量。 技术参数：型号KOG-01KOG-02KOG-05KOG-50测量范围（mm）Φ0.02~Φ1Φ0.05~Φ2Φ0.1~Φ5Φ0.5~Φ5测量精度（μm）±0.3±0.5±1±2测量速度小于2s图像传感器500万像素CCD软件OVG孔径专用软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年

体积重量测量仪-茂宏BC测量仪体积重量测量仪-上海茂宏电子科技有限公司推荐 随着人力成本的不断增长对企业发展的影响越来越大，经济学者认为未来中国人力成本将会持续加速的上涨。人难招、人力成本高将会是大势所趋。这种情况下企业应及时改变运作思路，企业可通过人员的调整和现代化物流仓储的实施推广，以更少的人力完成更高的效率。相应地，也就降低了员工的人力成本外，更加提高了工作的时效性和科学性。　　货物商品的体积/重量数据对于物流/商超零售/电商/医药/是非常重量的。一方面，客户和物流企业之间的物流费用结算要对重量/体积的准确计量 企业内部数据优化管理。另一方面，及时准确的获取货物的重量/体积/条码数据对于物流企业的流程优化和决策过程也是有很重量的意义。但传统企业往往使用普通台秤或者平台秤对货物的重量进行计量，而需要测量体积的场合则一般使用皮尺等工具手工测量。在传统的方式下，货物的计量过程由手工完成，效率比较低下 计量结果也很容易引起贸易双方的争议 在将手工所测得的数据人工输入系统的过程中，也难免会发生因人为因素而产生的数据偏差.从而对之后一系列的货物配载，运费结算等等多个环节引起不必要的麻烦。　　早些年90年代以来，在世界范围内，以UPS,FEDEX,DHL,TNT为代表的国际快递公司率先开始采用先进的体积测量系统来对托运货物进行快速准确的计量，并实时传送至其物流数据库中。 可以智能测量长宽高外形尺寸的仪器我们俗称为体积重量测量仪，在国外该类仪器已经有40年之久的使用经验。因为其售价非常高昂，所以早些年国内的用户基本上就是跨国企业或者国内行业里的大佬企业，但这些年在该设备国内的认识度也是越发的提高。 国外设备原理一般采用的都是超声波、红外光栅、激光等传统传感器，其主要优点不但测量准确，而且数值稳定误差小，经过40年的不断升级完善，现如今已经属于非常成熟的产品了。这些年国内也涌现出一大批供应商，主要采用视觉拍照外加辅助等原理，其优点便是成本及入行门槛较低，但是在测量误差精度和性能稳定性方面以及受环境色彩的局限性和进口同类仪器相比还是存在一定的差距。 现我司推荐一款同样采用超声波传感技术的国产体积测量设备，其可以快速准确的测量出纸箱等规则物体的外形尺寸，并且能将误差控制在1-2m内，精度及性能参照进口同类仪器，但售价却是非常的国产化。 我司产品经理自2008年从事体积重量测量仪领域已有10年多的从业经验，有6年进口体积测量仪的销售经验，亲眼目睹当进口设备首次登入国内参加行业内展会上的冷清无人问津，到这两年一步步走到现如今的认知程度，对不同行业不同市场及不同客户使用案例还是比较了解。如有兴趣笔者也很乐意分享经典客户案例及使用场景介绍供大家学习参考。上海茂宏电子科技有限公司经销批发各类标准砝码、电子秤、测力仪、拉力计、电子天平、取样器、对色灯箱、色差仪、桶装秤、包装秤、体积重量测量仪以及自动化设备等产品畅销市场，积累了众多新老客户与消费者；公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。上海茂宏电子科技有限公司主营的铸铁砝码、无磁不锈钢砝码等品种齐全、价格合理。公司实力雄厚，重信用、守合同、保证产品质量，以多品种经营特色和薄利多销的原则，赢得了广大客户的信任与支持。体积重量测量仪-茂宏BC测量仪

中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以白光干涉技术为原理，获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点，适用于从超光滑到粗糙、平面到弧面等各种表面类型，让3D测量变得简单。SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。产品功能(1)SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能； (5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。产品特点参数测量：粗糙度、微观轮廓尺寸、角度、面积、体积，一网打尽；环境噪声检测：实时监测，纳米波动，也无可藏匿；双重防撞保护：软件ZSTOP和Z向硬件传感器，让“以卵击石"也能安然无恙；自动拼接：3轴光栅闭环反馈，让3D拼接“天衣无缝"；双重振动隔离：气浮隔振，吸音隔振，任你“地动山摇，我自岿然不动"。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： SuperViewW1白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

6095原位茎杆水势测量仪用途：该测量仪是为提高农业灌溉和自然资源利用效率而设计地，许多农作物产区需要灌溉水才能有利于农作物生长。然而土壤的灌溉是基于气候条件、参考蒸散和农作物系数等条件优化地，考虑到农业系统中天气和土壤的时间与空间变异性和不确定性。因此在不直接测量树木的情况下得出植物水势，又能为灌溉决策者提供准确数据，使用直接测量树木水分状况的原位茎杆水势测量仪是朝着准确灌溉迈出的重要一步。了解植物茎杆水势变化，以避免不理想的水分胁迫。这会提高农作物果实质量和产量，也不会浪费有限的资源和土壤养分，同时降低成本。 原位茎杆水势测量仪是通过测量植物内部的水张力来直接测量树木水分状况的指标。传统上，它被用作与其他水势状况指标进行比较的参考。由于测量是直接在载水组织内部进行的，因此读数准确可靠。这种微张力计的测量范围高达100bar，通过使用纳米多孔硅片实现测量。硅片的膜孔直径约为2nm，数据非常精准可靠。数据可以通过网络进行数据传输，实时更新数据图表变化，为植物水势和农田灌溉提供科学的数据建议。特点：全天实时数据，可以看到白天水势的微小波动；作物对灌溉、阴天或温度变化的反应；水势在夜间的表现，在冬季植物休眠期间的水势变化等。远程通信，可以手机或者电脑端连接随时观测数据。小巧便捷和实用简单安全压力膜孔2nm测量准确采用旋钮连接方式，方便更换电缆长期原位进行水势测量，数据一致性良好。第三方研究人员已经在杏仁、葡萄和其他作物中验证了其测量结果的一致性技术参数：测量原理压力法水势测量范围0到-35Bar（可达100Bar）分辨率0.1Bar准确性读数的±5%孔膜直径2nm通信协议SDI-12、电压模拟量数据储存SDI12数据采集器通讯兼容远程通信包括探头、4G数据记录器、蜂窝数据和可视化平台。线缆长度10m防尘防水是压力室微型气压室微伏信号支持阻尼值影响无可选型号1. SDI12探头2.电压模拟量探头3.探头、数据采集器、软件响应时间1min；5cm^2

WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量 通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

应用领域◆ 用于NGI各级喷嘴小孔的孔径检测。 产品概况◆ 全自动NGI微孔测量仪由高分辨率CCD彩色摄像机、连续变倍镜头、彩色显示器、精密光栅尺、运动控制系统、2D数据测量软件与高精度工作台等精密机械结构组成的高精度、高效率光电测量仪器，用于NGI各级喷嘴的尺寸检测。 性能特点根据定制程序，能满足孔径的自动测量，测量效率高；同时设备整体测量精度高，重复性能好。 技术参数测量方式：手动、自动测量精度：±0.0025mm

测量从 0.07μm 到 100μm 的孔与入口气源一起使用，zui高压力为 100 psi (6.9 bar) 。无需校准：节省了操作人员的时间和精力Porometer 3G仪器中的压力传感线直接测量样品上的压力，因此不受流速变化的影响。相比之下，传统的毛细管孔径仪在施加样品之前先测量某个固定点的压力，然后使用特定于样品的流路校准法来预测样品上的压力。由于该路径中的气流量会影响压力梯度，因此每种类型的样品都需要单独校准。Porometer 3G的独特设计使其无需校准。这意味着工作量更少，zui终将获得更准确的测量结果。自动压力调节确保每次都能获得理想的测量条件Porometer 3G 仪器使用智能增压程序，以确保整个测量过程中的结果处于平衡状态。这个常规程序消除了传统系统带来的问题，传统系统由于采用恒定的增压速率进行测量，速度太快，所以提供的孔径小于正确的孔径，因为它们没有足够的时间在每个压力数据点达到平衡。相反，类似的测量过慢会加大润湿液蒸发带来的影响，从而提供的孔径大于正确的孔径。Porometer 3G装置可自动调节压力-不受设置影响而获得准确的结果。完整的通孔尺寸分布，可获取全部数据Porometer 3G可在一台流量计上进行所有流量测量，从而连续获取材料中存在的通孔信息。这包括zui大孔径和平均孔径之间的关键区域。毛细管流量孔径仪如果在达到气泡点后切换测量设备，就会有丢失部分数据的风险。您可以依靠 Porometer 3G 来提供完整的数据集。适应实验室中的各种样品要求所有 Porometer 3G 仪器都可以采用不同形状因子和不同的液体，以开发出专门满足您的样品测量需求的测试方法。此外，它们的设计非常适合各种尺寸和形状的样品，通过外部支架配备中空纤维、实心片或刚性管状结构技术规格3G micro3G z3G zHzui小孔径0.07 μm0.03 μm0.02 μmzui大孔径100 μm500 μm500 μm压力控制器122控制器 #10 psi 至 100 psi0 psi 至 30 psi0 psi 至 30 psi控制器 #2不适用0 psi 至 300 psi0 psi 至 500 psi压力传感器233传感器 #10 psi 至 5 psi传感器 #20 psi 至 100 psi流速传感器112传感器 #10 L/min 至 100 L/min0 L/min 至 100 L/min（标准）0 L/min 至 10 L/min传感器 #2不适用不适用0 L/min 至 200 L/min流速传感器切换不适用手动自动压力传感精度±0.05 % fs压力分辨率相当于 16 位 A/D流速传感器类型精密型热式质量流量计流量传感器稳定时间2 秒流量传感器温度系数 0.05 %/°C （15°C至45°C）基本信息电气指标90 V 至 240 V AC，50/60 Hz主控制单元尺寸 (H x D x W)40 cm x 45 cm x 19 cm (15.8 英寸 x 17.8 英寸 x 19 英寸)样品架模块尺寸 (H x D x W)24 cm x 32 cm x 15 cm (9.5 英寸 x 12.6 英寸 x 6 英寸）此表显示标准配置。某些型号提供不同的压力和流量范围。先湿后干，先干后湿--您自己选择。毛细管流动孔径测量既包括“湿曲线”（润湿流体在不同压力下从孔隙排出所产生的流量），也包括“干曲线”（当润湿流体存在时，在测量压力范围内气流通过材料的流量）。对于操作员来说，先湿后干测量要简单得多，并且无需在实验过程中打开样品架。干-湿测量消除了在创建湿曲线过程中对样品的潜在影响的担忧。两种测量均可在所有 Porometer 3G 仪器上进行。您可以享受工作流程轻松进行的干后湿测量，并且仍然可以选择在样品需要时执行干后湿测量。

DD-S茎杆直径生长变化测量仪一、产品简介DD-S是专门用于农作物，小乔木，灌木和树枝的直径生长测量，适合直径小于5厘米的植物。特别的安装技术保证了及时在安装物体硬度很低的情况下，也能有非常稳定的测量结果。该传感器有两种版本：带标准安装架的DD-S1，带快速安装架的DD-S2。二、产品特点&bull 适用于小树和农作物&bull 植物不承担DD-S的自重&bull 测量直径变化&bull 对植物无损伤&bull 对测点压力极小&bull 可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量&bull 可按植物的大小订购&bull 耗电少&bull 有15年全球不同地带成功使用的经验（极地地区，热带，高山，沙漠）&bull 分辨率高达0.2微米（取决于数采的分辨率）&bull 探头温度补偿；三、产品参数DD-S1DD-S2适用于树杆直径0～5㎝0～5㎝安装支架标准安装支架快速安装支架传感器测量范围11mm11mm复调测量范围0～5㎝（可扩大）0～5㎝（可扩大）准确度±1.5μm（取决于使用的数采）±1.5μm（取决于使用的数采）分辨率0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）线性系数1%1%传感器的温度系数0.2μm/度0.2μm/度传感器重量13g15g工作温度-25～70℃-25～70℃工作湿度0～100％0～100％四、产地：德国

上海茂宏boxcubic体积重量测量仪BoxCubic测量仪-上海月梓电子科技有限公司 体积测量仪就是可以一款可以自动测量产品长宽高和重量的一款智能仪器，我们也称之为立方体积测量仪。现如今与时俱进的国际大环境下，国内的众多物流企业及各行各业越来越重视商品货物的体积重量即泡重，电商商超等企业需要建立自己的数据库；由于进口设备高昂的成本，又鉴于人工成本，效率，误差率等因素，国内企业对可以自动测量长宽高的体积测量仪的需求是迫在眉睫，上海茂宏电子科技有限公司与志同道合的伙伴团队致力于提供精确、稳定、高效的体积测量仪。 现推荐一款同样采用超声波传感技术的国产体积测量设备，其可以快速准确的测量出纸箱等规则物体的外形尺寸，并且能将误差控制在1-2mm内，精度及性能参照进口同类仪器，但售价却是非常的大众化。 我司产品经理自2008年从事体积重量测量仪领域已有10年多的从业经验，有6年进口体积测量仪的销售经验，经历了当进口设备首次次登入国内参加行业内展会上的冷清无人问津，再到这两年一步步走到现如今的认知程度，对不同行业不同市场及不同客户使用案例还是比较了解。如有兴趣笔者也很乐意分享其他企业的客户案例及使用场景介绍供大家学习参考。 上海月梓技术服务，保修期及售后服务承诺:1、壹年内，因非人为因素出现的质量问题实行免费保修，终身维护2、如在使用当中出现技术上问题，我公司负责技术配合3、诚信经营，客户满意为先.公司的经营理念：“同等产品质量、同等质量、同等服务、同等服务信誉”服务三保：保证质量、保证时间、保证数量服务宗旨：雄厚的实力、优的产品郑重承诺：保证以好的产品、优的质量、完善的服务来经营原则：顾客至上、质量优、品种齐全、价格合理！上海茂宏boxcubic体积重量测量仪

仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要知道有关环境因素的数据（气象、水分、营养等），另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。技术参数：Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。主要特点：1.高度精确 2.种类齐全，分别可以测量树木半径，直径，周长和纵向变化，水果，疏菜的直径变化 3.自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 4.耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 5.适用各种户外条件 6.直接微米输出，无需标定 7.已有十年以上的实地使用经验 8.几乎无需保护维修措施

中图仪器SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。 8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。粗糙度测量案例应用领域SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

热变形形貌测量仪 Insidix公司，是法国著名的平整度特性测量,非破坏性测试提供全面解决方案的领导者，为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。现已得到了苹果、三星、中兴、荣耀等电子公司的认可。 热变形试验机形貌测量仪产品特点■无需光栅■非接触式双面加热,上下表面温差小■快速的升温,降温速率■完美的Reflow模拟■可同时测量warpage以及变形值,CTE等■可测量BGA ball以及leader共面性和变形值■可带球测试,可测试有阶梯高度的产品■测量精度高■可同时测量多个样品热变形试验机形貌测量仪规格参数最大样品尺寸：300mm x300mm最小样品尺寸：0.5mm x 0.5m  视场范围: 10mmx10mm --300mmx300mm 视场深度: 40mm 温度范围: -60℃~+300℃升温速率: 最大6度每秒降温速率: 最大3度每秒3Dcamera: 1200万像素 测量精度: +/-1um（取决于镜头）热变形试验机形貌测量仪应用说明

DR树干半径生长变化测量仪一、产品简介DR树干半径生长传感器用两个特殊螺丝固定在树干的心材中，心材以外厚度的变化等于半径生长量，这种设置可确保长期，高稳定性的测量。测量仪分为3个不同版本，双螺丝固定的DR1和DR2和单螺丝固定的DR3，DR2更适合生长较快的树木，DR3还可以在同一个螺丝固定两个传感器分别测量树木表皮和木质部的不同生长量变化曲线。二、产品特点&bull 适合于大树（直径5厘米）&bull 对测点压力极小&bull 可抗拒风，雪，下跌小树枝和小果实的影响，保证稳定测量&bull 非常适合野外长期无人监护的测量&bull 耗电少&bull 有15年不同地带成功使用的经验（极地地区，热带，高山，沙漠）&bull 分辨率高达0.2微米（取决于数采的分辨率）&bull 探头温度补偿；三、产品参数DR1DR2DR3适用于树杆直径8厘米8厘米5厘米传感器测量范围11毫米25.4毫米11毫米复调测量范围无限无限无限准确度±1.5μm（取决于使用的数采）±3.3μm（取决于使用的数采）±1.5μm（取决于使用的数采）分辨率0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）0.04％读数+10μm（取决于使用的数采）0.04％读数+4.4μm（取决于使用的数采）线性系数1%0.7%1%传感器的温度系数0.2μm/度0.2μm/度0.2μm/度传感器重量13g33g13g工作温度-25～70℃-25～70℃-25～70℃工作湿度0～100％0～100％0～100％四、产地：德国

中图仪器SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品功能 (1)SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

GTI风量测量仪套帽式风量计GTI 620产品介绍GTI620型风量罩是集风量测试、风速测试、微差压测试于一体的智能型测试仪器，其广泛适用于空调、管道等场所的风速风量测试，并且可以进行高精度的微差压测试。产品特点4.3英寸LCD触摸液晶屏风量、风速、温度、湿度同时检测主机可拆卸，连接压差管可以作为压差计使用风速矩阵可拆卸，连接主机可以作为面风速仪使用进风、排风两种方式超大存储容量，高达8000组，可打印或传输到电脑具备背压补偿功能超大存储容量，高达8000组，可打印或传输到电脑蓝牙通讯，实现远程监控和数据传输 可连接蓝牙打印机，实时打印测试数据功耗低，电池供电可持续工作14小时，长时间无操作，可进入省电模式 超大真彩屏，应用便捷 风量、风速、温度、湿度、差压同时检测并显示。蓝牙通信、智能终端 安装APP程序，实现设置、 数据处理、同步测试。16点平均分布、背压补偿 16个压力测试孔均匀分布并具 有背压补偿、温度及大气压修 正功能，实现高精度测试。透明可视窗直接查看确认风罩与风口对接情况，确保测试 数据准确。多种风罩尺寸可供选择 除标准配置采用610×610mm风 罩外，还可选用或定制其他9种尺寸风罩满足测试需要。 拆卸容易、携带方便。 GTI风量测量仪套帽式风量计GTI 620 技术参数功 能规 格风量测试范围40～4300 m3 /h精度读数的 ±3%± 8m3 /h（＞85m3 /h）分辨率1 m3 /h风速测试范围0.15～40 m/s（皮托管）、0.15～15 m/s（速度矩阵)精度读数的±3%±0.05m/s（＞0.25m/s）分辨率0.01m/s差压测试范围-2500~2500Pa精度读数的±1.5% ±0.25Pa分辨率0.001Pa温度测试范围0～60℃精度±0.5℃分辨率0.1℃湿度测试范围0~100%RH精度±3%RH（10~90%RH）分辨率0.1%RH操作温度0~60℃（无结露）存储温度-20~70℃（无结露）电源4节5号电池（约14小时）或 DC5V适配器重量约3.6kgGTI风量测量仪套帽式风量计GTI 620

安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪一、主要用途安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪是根据安全帽GB/T2812-2006、GB2811-2019生产，主要用于测试安全帽的垂直间距和佩戴高度。广泛应用于特种劳动防护用品监督检验站、建筑科学研究院、建筑工程质量检测站、电力部门以及安全帽生产企业。 二、主要特征1、头模采用插口式，无需再更换数显尺，方便快捷的更换头模。2、人性化横显尺设计，观察无盲区，提高了测试的方便性和舒适度，解决了竖式数显结构操作人员歪头观察的弊端。3、配置专用测试仪1#和2#头模各一个。 三、安全帽垂直间距、佩戴高度测量仪主要指标1、标尺刻度准确度：0.1mm。2、佩戴高度分辨率：0.01mm。3、配带高度分辨率：0.01mm。 四、适用标准GB/T 2812－2006《安全帽测试方法》GB 2811－2019

中图仪器SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量（见附录一）；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能； 7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。应用领域案例

JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪的详细资料： 公司长期致力于跨行业、多学科的综合性精密仪器开发，为专业的客户定制小批量的特殊产品，在公司的其它产品序列中，有许多型号也是客户定制的。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪主要性能JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪用来测量钢笔、圆珠笔等笔帽从笔体上滑脱时的强力，采用特制的全自动握持夹头来加固笔帽和笔体，测量隔距和拉伸速度可调，可适用不同的测试标准。传感器的精度达量程的千分之一。同时可在线采集记录强力数据。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪含税价格：（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区送货上门安装调试培训、一年保修服务）。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪配套电脑：JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求：32位的操作系统，一个USB口，一个空的COM口（RS232串口）。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

D1树干径向生长测量仪Dendrometer D1手动测量树体茎干周长的变化。D1的卷尺由光滑、热稳定性好的Astralon材料制成，它可缠绕在茎干上，采用弹簧机制固定。D1具游标尺刻度，便于准确读值。D1可测量直径介于10-66cm的树体生长变化，如果树体直径更大，可将两个卷尺相连，配合使用。直径小于40cm的茎干应使用短弹簧，直径40cm的茎干可使用长弹簧。主要特点ü 安装简单，使用方便ü 适用于直径10cm茎干的生长测量ü 由光滑，热稳定性好的Astralon材料制成ü 游标尺观测，直观准准ü 长期监测技术指标长度2100mm宽度15mm厚度0.5mm热延展性75×10-6/ K抗拉强度64 N / mm2摩擦系数干树皮0.5工作温度-30~60℃环带/字迹颜色棕色/黑色环带质量16g弹簧重量7g（短），14g（长）最大张力6N产地与厂家：美国METER公司