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纳米电位测试仪

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纳米电位测试仪相关的论坛

  • 求助!!!!纳米粒度测不了电位和粒径

    马尔的ZEN3700纳米粒度及zeta电位测试仪,突然测不出粒径和电位,时好时坏,测粒径就提示这个错误,有没有大神知道是啥问题[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303132043101126_9770_3570445_3.jpeg[/img]

  • Zeta电位与纳米粒度仪NANOPLUS

    NanoPlus是一款新型的、具有极宽测试范围的多用途分析仪,它采用光子相关光谱法、电泳光散射以及最新的FST技术来分析纳米粒度仪和zeta电位,并可测定固体以及高浓度悬浮液的zeta电位,符合ISO标准。该仪器采用了高灵敏度测量技术,可同时满足低浓度和高浓度样品纳米粒度与zeta电位分析的要求,浓度范围由0.001%到40%,可检测粒径从0.6nm到10μm,浓度从0.00001%到40%的样品的粒径。该款仪器具有以下技术特点:可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位可测定固体zeta电位宽粒径范围(0.6nm~10μm),宽浓度范围(粒径测试:0.00001%~40%可精确测量各种浓度的悬浮液用户友好的软件多种样品池选择可选择一次性样品池结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征可选择自动滴定装置控制悬浮液pH值再有广告链接,直接删除,扣分,加举报——jackcong

  • 马尔文粒度测试仪器

    能提供马尔文纳米粒度测试仪器的分析和ZETA电位分析,粒度仪器型号为NANO-ZS,测试范围为纳米级别不知道这样发帖是否算违规,如果违规,抱歉,谢谢

  • 粒径和zeta电位检测标准粒子,mRNA纳米脂质颗粒zeta电位检测稀释剂

    刚接触这个检测项目,用的马尔文的仪器,请问大家符合药典规定的粒径和zeta电位检测标准粒子用什么,大家购买的什么品牌的,标准粒径和电位是多少?做mRNA纳米脂质颗粒zeta电位检测大家用什么稀释剂,因为没有测物理常数的仪器,所以用不了较优的产品背景溶液,有什么别的稀释剂可以代替,使检测结果与真实值偏差较小。

  • 北京正通远恒科技有限公司刚刚发布了 纳米力学测试系统销售工程师 职位,坐标北京,敢不敢来试试?

    [b]职位名称:[/b] 纳米力学测试系统销售工程师 [b]职位描述/要求:[/b]职位要求:1、 本科及硕士以上学历;2、 物理/应用物理、材料/材料物理/材料化学、表面、薄膜等专业背景;具有很强的学习动力与能力,通过学习应能掌握仪器所涉及理论与应用知识。3、 热爱销售工作、积极主动、善于自我激励;4、 为人踏实肯干、诚实守信、有责任感和进取心,善于沟通与交流;5、 英语听、说、读、写能力良好;6、 能适应经常出差;7、具有相关仪器销售经验者优先,欢迎优秀应届毕业生加入。工作职责:1、主要负责所属部门的进口类仪器在所辖区域的销售与技术交流工作,包含材料表征(三维形貌、纳米力学、Zeta电位、混凝土流变、薄膜厚度折射率吸收系数)、分子相互作用等类型仪器,完成公司布置的销售任务;2、熟练掌握进口仪器的相关专业知识,包括:技术原理、应用、产品特点等;3、联系并拜访客户,独立向客户进行Presentation展示,开展技术交流,推进项目进展,完成销售;4、开拓新市场,发展新客户,推广公司的产品和服务;5、维护及增进已有用户关系,及时了解用户的问题及需求,挖掘新的销售机会;6、配合市场部门做好学术会议、展会等的布展工作,提供销售及技术支持;7、制作标书、投标现场谈判、签订技术文件等;8、根据公司计划安排的其他相关工作。[b]公司介绍:[/b] 北京正通远恒科技有限公司成立于2001年,是一家经营欧美和日本等国先进科学测试仪器和设备,并将国外先进技术引入国内的科技服务型企业.经过十年的发展,公司在北京、上海、广州、武汉均设有办事处。 公司用受人尊敬的、专业的方式来经营公司的业务(HONOPROF comes from our philosophy---- doing business in an HONOurable an...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/58023]查看全部[/url]

  • 北京正通远恒科技有限公司诚聘纳米力学测试系统销售工程师,坐标合肥市,你准备好了吗?

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  • 纳米软件之通信设备自动测试系统

    [size=16px][b]系统组成[/b][/size][size=16px]  通信设备自动测试系统由工控机、CMA180无线电综合测试仪、仪器与PC通讯线缆、显示器组成。[/size][align=center][size=16px][img=通信设备自动测试系统拓扑图.jpg,490,514]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042825978703629505898.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  通信设备自动测试系统拓扑图[/size][/align][size=16px]  [b]系统功能[/b][/size][size=16px]  1、系统可通过网口或USB口对特定型号的无线电综合测试仪进行控制;[/size][size=16px]  2、系统可进行发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、带外抑制比、接收机灵敏度等指标进行测试,可进行测试结果合格范围设定、测试信息录入与测试项目选择。[/size][size=16px]  3、系统可以通过对测试仪器的相关参数配置,完成自动化测试(发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、带外抑制比、接收机灵敏度)并同时显示实时测试数据及波形。[/size][size=16px]  4、系统具备数据存储、数据查询、报告生成等功能,可完成对测试数据的存储、查询、智能化分析。[/size][size=16px]  5、系统提供安装部署联调服务。[/size][align=center][size=16px][img=系统使用流程图.jpg,600,264]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042829766351827547678.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  系统使用流程图[/size][/align][size=16px]  [b]基于硬件[/b][/size][size=16px]  [color=#4f81bd]1、工控机[/color][/size][size=16px]  [/size][size=16px]主要用于安装测试系统控制软件。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]2、CMA180无线电综合测试仪[/color][/size][size=16px]  [/size][size=16px]CMA180适用于工作在100kHz至3GHz频率范围的无线电系统,可以解调和调制所有常见的模拟射频信号。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]3、仪器与PC通讯线缆[/color][/size][size=16px]  仪器与PC之间的连接线缆,可以实现测试仪器与测试工控机的物理交互、被测典型元器件与测试仪器的物理交互以及测试仪器装置之间的物理交互。[/size][size=16px]  [color=#4f81bd]4、显示器[/color][/size][size=16px]  显示器与工控机连接,用于将测试系统的界面以及数据波形图、数据表显示,用户可以直观的观察测试数据。[/size][size=16px][/size][size=16px]  [b]软件功能[/b][/size][size=16px]  系统通过程控CMA180无线综合测试仪,完成对发射机功率、频率准确度、频率稳定度、调制度、外带抑制比和接收机灵敏度的测试,可以对测试结果合格范围设定、相关测试信息录入,测试数据实时显示并绘制波形。[/size][align=center][size=16px][img=软件流程图.jpg,592,1415]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042838406423821412398.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  软件流程图[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]软件主界面:[/color]软件主界面包括运行测试、数据查询和关于我们,点击相应的功能后进入到软件相应的功能界面。[/size][align=center][size=16px][img=软件主界面.jpg,600,376]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042841196381971732455.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  软件主界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]仪器连接界面:[/color]点击主界面的仪器连接按钮进入仪器连接和测试项目选择界面。[/size][align=center][size=16px][img=仪器连接界面.jpg,600,377]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042845297584328264102.jpg[/img][/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]参数设置界面:[/color]点击选择测试项目下拉菜单进行波道的选择、频率的设置、业务设置、模式选择、工作类型和抗干扰方式的设置。[/size][align=center][size=16px][img=参数设置界面.jpg,354,504]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042851516522224467735.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  参数设置界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]运行测试界面:[/color]在此界面中可以对已经选择和设置好的项目进行测试,点击开始测试按钮进行测试。[/size][align=center][size=16px][img=开始测试界面.jpg,600,448]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042853544322125995734.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  开始测试界面[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]测试结果显示:[/color]测量结果会实时显示测试数据和绘制测试波形。[/size][align=center][size=16px][img=测试界面-数据显示图.jpg,600,421]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042856322269321516853.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  测试界面-数据显示图[/size][/align][size=16px]  [color=#4f81bd]数据导出:[/color]测试完成后点击生成报告按钮,选择测试数据模板,进行数据的保存。[/size][align=center][size=16px][img=测试数据保存文件选择.jpg,600,338]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6377042858280151821131642.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px]  测试数据保存文件选择[/size][/align][align=left][size=16px][color=#ff0000][b]*如果您想要了解更多,请搜索 【纳米软件】至官网咨询。[/b][/color][/size][/align]

  • malvern zetasizer纳米zs仪器结果分析

    用马儿文纳米测试仪测粒径得到这样的图,不知道要怎么看,求大神帮忙解答[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904131105046866_6983_3889099_3.png[/img]

  • 纳米材料诱发的化学发光(一)

    以下是我写的综述的部分内容,望得到大家的指教4 纳米体系化学发光4.1纳米材料参与的电致化学发光广义的化学发光也包括电致化学发光(ECL),电致化学发光是指对电极施加一定的电压进行电化学反应,电极反应的产物之间或与体系中的某种组分发生化学反应,产生激发态物质,激发态物质回到基态时产生的发光[42,43]。它不但具有化学发光分析的许多优点,还具有电化学方法的一些特点,如电发光反应过程控制性强,选择性好等优点[44,45]。近年来,将纳米材料引入分析化学研究中已成为分析化学的一个研究热点,并取得许多创新性研究成果[46,47]。4.1.1半导体纳米粒子电致化学发光机理4.1.1.1半导体纳米粒子直接接受电极提供的能量生成激发态传统ECL是利用电极原位(in situ)产生试剂,这些试剂在溶液中反应,完成较高能量的电子转移而生成激发态的分子,不稳定的激发态分子回到基态过程中以光辐射形式释放能量[48-50]。同理,当电极施加双阶跃正负脉冲(或电位循环)时,半导体纳米粒子(A)在正电位阶跃时被氧化为A+,接着在负电位阶跃时被还原为 A-,A+ 与 A- 反应生成激发态的 A*,激发态的 A* 回到基态过程中时产生了化学发光[24,51-55]。对应的反应过程可以用(4.1)—(4.3)式表示。值得注意的是通过该机理产生发光的必要条件是:产生的还原态 A- 或氧化态 A+ 在溶液中,要能够稳定存在一定时间,从而使得A+ 能够与 A- 相遇、碰撞并产生激发态的 A*[24]。 A → A+ + e- (4.1) A + e- → A- (4.2) A+ + A- → A* (4.3) A* → A + hv (4.4)较典型的例子是He气氛下,在含有0.1mol/L THAP乙腈溶液中,对Pt电极施加双阶跃正负脉冲电位,并在 +2.7 V 和 -2.1 V循环阶跃,在正电位阶跃时,粒径为2-4nm的Si纳米半导体被氧化成稳定的 Si(NCs)+,接着电位阶跃负方向产生Si(NCs)-,并与Si(NCs)+ 碰撞产生激发态的Si(NCs)*,Si(NCs)* 回到基态时产生640nm的光发射[24]。4.1.1.2 半导体纳米粒子电化学产物与共反应物(coreactant)发生ECL反应若体系中含有共反应物(还原性或氧化性物质)时,仅在工作电极上施加正或负电压,即可生成激发态的A*而发光[24,53,56-58]。其反应过程可以用(4.1)—(4.3)式表示。产生的还原态 A- 或氧化态 A+也要能够稳定存在于溶液中一定时间,才能发生发光[24]。 A → A+ + e- (4.1)A+ + Re → A* + Ox (4.5)A* → A + hv (4.4)或 A + e- → A- (4.2)A- + Ox → A* + Re (4.6) 其中较为典型的例子是Zou[56]等将纳米CdSe沉积在石墨充蜡电极表面上并成膜,纳米CdSe膜在循环伏安下产生两个ECL通道(ECL-1和ECL-2)。并用ECL-1,在事先通N2 25min 含有0.1mol/L KNO3 pH 9.3 磷酸缓冲溶液中,扫描速率为0.06V/S 下,对H2O2进行了测定,线性范围: 2.5×10-7 ~ 6×10-5 mol/L,检测限: 1.0×10-7 mol/L。他们也提出了ECL的机理(式4.7—4.11)。CdSe NCs + ne → nR• - (4.7)O2 + H2O2 + 2e → OOH- + OH- (4.8)2R• - + OOH- +H2O → 3OH- + 2R* (4.9)or2R• - + H2O2 → 2OH- + 2R* (4.10) nR* → CdSe NCs + hv (4.11) 4.1.2 纳米金粒子对电致化学发光体系的催化作用 因纳米具良好的“生物相容性”和高的催化特性,近来人们对纳米金催化等特性的研究进展迅速[59]。崔华[60]研究小组,已将纳米金用于化学发光体系研究,报道了纳米金粒子的催化作用对液相电致化学发光的影响,发现纳米金的催化作用和电化学活性既可以增强两个阳极ECL发光通道,又导致了两个新的阴极ECL发光通道的产生。最近,Liu[61]等发现纳米金可以催化Ru(bpy)32+- pentoxyverine (喷托维林)体系的电致化学发光,将电致化学发光分析法与毛细电泳技术联用,在毛细电泳柱端成功测定了喷托维林,检测限为:6nmol/L;并将该方法用于喷托维林和人血清白蛋白结合常数的测定,测定值为:1.8×103 L/mol。4.1.3 纳米材料作为化学发光试剂的固载。钱柯君[62]等用反胶束法水解正硅酸乙酯(TEOS)合成球形luminol/ SiO2复合纳米微粒;再用壳聚糖修饰已合成的纳米微粒并标记DNA作为DNA探针,构建的DNA探针与固定在聚吡咯修饰电极上的靶DNA杂交。用ECL法对DNA杂交情况进行评估,仅互补序列DNA才可以与DNA探针形成双链DNA(dsDNA)并产生强的ECL。发现3个碱基错配互补靶序列和非互补靶序列产生的ECL可以被忽略,ECL强度与互补序列DNA的浓度在5.0×10-12~1.0×10-9 mol/L范围内呈线性关系,对互补序列DNA的检测限为:2.0×10-12 mol/L。4.2 纳米材料参与的化学发光传统的化学发光研究一般仅限于分子和离子体系。最近,纳米粒子在化学发光中的行为研究已经引起了人们的重视:无论是半导体纳米粒子还是金属纳米粒子在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]和液相化学发光反应中都表现出特殊的活性。4.2.1纳米金参与的液相化学发光4.2.1.1 纳米金作为化学发光反应的微尺度平台Cui[26]等首次报道了,粒径为68-nm 的纳米金与KIO4—NaOH—Na2CO3之间的反应能够产生化学发光现象,该化学发光的光谱具有三个明显的发射带,分别位于380—390 nm, 430—450 nm和490—500 nm;该体系的化学发光强度随着溶液中

  • 【分享】微孔分布测试仪的主要特性

    微孔分布测试仪主要应用领域:催化剂,广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域;吸附剂,如活性炭、分子筛、活性氧化铝等,广泛用于环保领域;颜填料,无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等;陶瓷材料原料,氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等;炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等;新型电池材料,如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料;发光稀土粉末材料;磁性粉末材料,如四氧化三铁、铁氧体等;纳米粉体材料,包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料,纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等;其他,如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等  微孔分布测试仪的主要特性:  测试时间:多点BET法比表面积平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟  主要功能:可实行BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,炭黑外比表面积测定,吸附、脱附等温曲线测定,BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;  真空系统:极限真空度6×10-2Pa  微孔分布测试仪测量范围:比表面积≥0.01M2/g至无规定上限,孔尺寸0.7~400nm;  样品数量:可同时测定1-4个样品;  测量精度:≤±2%;  微孔分布测试仪的压力控制:高精度压力传感器,数字显示,精度0.2%,独特的充气与抽气速度自动控制系统  运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试  测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小  微孔分布测试仪的吸附过程:样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少  软件系统:在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;

  • 听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    听清华大学朱永法教授和国家纳米科学中心刘忍肖老师在线讲述“纳米材料的形貌及粒度表征”,网络讲座不容错过!

    ”纳米材料的形貌及粒度表征“网络主题研讨会会议时间:2015年12月9日 14:00-17:00报告日程:报告一:纳米材料的形貌和粒度分析方法及应用报告人:朱永法清华大学化学系教授、博导,分析化学研究所副所长,国家电子能谱中心副主任。从事半导体薄膜材料的表面物理化学、纳米材料的合成与性能、环境催化以及光催化的研究工作。报告概要:主要讲述了纳米材料最常用的三种形貌分析方法的原理和应用特点以及粒度分析的方法和在纳米材料研究方面的应用实例。目前最常用的形貌分析方法是扫描电子显微镜、透射电子显微镜和原子力显微镜。扫描电镜视场广,样品制备简单,不会产生信息失真,可以观察形貌以及实现颗粒大小的分布统计。透射电镜可以观察纳米材料的形貌和颗粒大小,但视野范围小,样品制备过程容易产生大颗粒的丢失现象,但可以区分聚集态和一次粒子的信息。原子力显微镜可以观察薄膜的颗粒大小,也可以观察分散态的纳米材料的形貌及大小。此外,还可以测量颗粒的厚度以及薄膜的粗糙度分布。激光粒度仪是测量颗粒大小常用的方法,但无法观察纳米材料的形貌,是一种统计颗粒直径分布,容易失真。此外,很多纳米材料分散在溶液中,可能是水合方式存在,获得的是水合颗粒大小的分布,并不是真实的材料颗粒大小,但可以获得粒度分布的信息。此外,通过XRD和拉曼光谱还可以获得纳米材料晶粒大小的数据。报告二:基于PeakForce Tapping模式的纳米材料表征报告人: 孙昊布鲁克中国北方区客户服务主管报告提纲:PeakForce Tapping是由Bruker公司发明的一种新的基本成像模式。与传统的Contact、Tapping模式相比,PeakForce Tapping具有探针-样品作用力小、能够自动优化反馈回路、能够进行定量力学成像等优点。基于PeakForce Tapping模式,Bruker公司发展了一系列扩展成像技术,如智能成像(ScanAsyst),它可以轻易实现绝大部分常见样品的扫描参数自动优化,使刚入门的客户也能非常容易地得到专家级的图像;定量纳米力学成像(PeakForce QNM)可以在扫描形貌的同时实时定量地分析出样品的模量与粘滞力,为纳米力学测量带来了革新;峰值力表面电势测量(PFKPFM)与峰值力导电性测量(PFTUNA)使得在软样品表面同时的电学和力学测量成为可能。在这个Webinar中,我们将介绍基于PeakForce Tapping的一系列新的成像技术在纳米表征中的应用。报告三:纳米材料的粒度表征报告人:方瑛HORIBA 应用工程师报告概要: 颗粒的尺寸会影响纳米材料的各种性能,而溶液的电位则会影响纳米乳液的稳定性。纳米颗粒分析仪可以表征纳米颗粒的粒径和电位,报告会介绍粒径和Zeta电位的测试原理,重点会介绍颗粒分析在纳米材料中的应用。报告四:尺度表征用纳米标准样品报告人:刘忍肖博士,高级工程师,国家纳米科学中心/中科院纳米标准与检测重点实验室,主要工作领域为纳米技术标准化,承担了十余项纳米技术标准制修订、纳米标准物质/标准样品的研制工作;从事与纳米技术相关的标准化科研工作,参与两项国家重大科学研究计划项目和一项质检公益性行业科研专项,承担国家自然科学基金和北京市自然科学基金项目。报告提纲:纳米标准样品概况;尺度表征用纳米标准样品;示例:粒度、台阶高度纳米标准样品。报名条件:仪器信息网个人用户,自助报名当天参会。报名方式:扫描下方二维码或点击链接。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/11/201511231436_574762_2507958_3.png仪器信息网“纳米材料的形貌及粒度表征”网络主题研讨会http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/1749

  • 纳米软件之绝缘电阻测试系统

    [b][font=微软雅黑][size=14px]系统组成[/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px] 绝缘电阻测试系统由防爆一体机、HP3530绝缘电阻测试仪、待测绝缘电阻及脚踏开关组成。[/size][/font][align=center][img=image.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600619021435949090060.png[/img][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]绝缘电阻测试系统组成[/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]产品特点[/size][/font][/b][/b][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现控制HP3530绝缘电阻测试仪对待测电阻的测量;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现在单电阻模式下,每测20条数据后提示用户进行线电阻清零;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以实现在双电阻模式下,每测10条数据后提示用户进行线电阻清零;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以通过脚踏开关来触发测试的开始,极大的方便了用户的使用;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件具有管理员和测试员两种权限的设置,增强了系统的管理功能;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件可以将测试电阻值及其相关信息保存至数据库,可供用户随时导出测试数据及信息;[/size][/font][font=Wingdings][size=14px]l [/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]软件将测试数据以word的形式进行导出。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]基本硬件[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]1、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]防爆一体机[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]防爆一体机主要用于安装测试软件和测试数据导出。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]2、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px] HP3530绝缘电阻测试仪[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]测试仪可选RS232通讯模块,与计算机进行通讯,组成一个自动化测试系统。测试端口、充电端口都具有多种保护电路,在任何工作模式、任何工作状态下都可以确保安全。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑][size=14px]3、[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]脚踏开关[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]脚踏开关是一种通过脚踩或踏来控制电路通断的开关。在本系统中,脚踏开关与键盘按键相关联,软件监控相应的按键,当脚踏开关被触发时,进行一次电阻测试。[/size][/font][align=center][img=基于硬件,600,226]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600621092432043621125.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]软件功能[/size][/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]绝缘电阻测试系统由[/size][/font][b][font=微软雅黑][size=14px]用户管理、系统登录、仪器连接、功能选择及测试、历史数据查询、数据导出和包络分析[/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]组成。[/size][/font][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]用户管理:[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=14px][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px] 用户管理只对具有管理员权限的用户开放,提高了系统的安全性和可控性,便于管理员对使用本系统的人员管理。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻用户管理界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600624289892978887302.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]用户管理界面[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]用户登录:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用户在测试前必须要通过身份验证否则不能进入系统进行测试。用户通过账号和密码登录系统,系统会自动识别当前用户是管理员权限还是测试员权限。[/size][/font][align=center][img=用户登录界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600631668213298328346.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]用户登录界面[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]仪器连接:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用于检测软件是否与DZC-8M电阻测试仪建立连接,只有在建立连接的情况下才能进行后续的电阻测试;点击相应的按钮则将会进入相应的功能模块。[/size][/font][font=微软雅黑] [/font][align=center][img=功能模式选择,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600636518115632678702.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]功能模式选择[/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]功能选择及测试:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]本软件主要有单电阻测试和双电阻测试两种功能供用户选择,功能选择完毕后,用户填写相应的测试信息并开始测试电阻。[/size][/font][b][b][font=微软雅黑]单电阻测试模块[/font][/b][/b][font=微软雅黑][size=14px]进入单电阻测试界面后,首先应该认真填写测试信息,测试信息填写无误后点击开始测试按钮或者踩踏脚踏开关来触发一次的电阻测试任务,直至测试任务完成退出测试界面。[/size][/font][align=center][img=单电阻测试界面,650,458]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600642327100004692880.png[/img][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]单电阻测试界面[/size][/font][/align][b][b][font=微软雅黑][size=14px]双电阻测试模块[/size][/font][/b][/b][align=center][img=双电阻测试界面,650,458]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600647496924223616122.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]双电阻测试界面[/color][/size][/font][/b][/align][b][color=#1f497d][font=微软雅黑][size=14px]历史数据查[/size][/font][font=微软雅黑][size=14px]询:[/size][/font][/color][/b][font=微软雅黑][size=14px]软件会将测试数据保存至数据库,用户可根据产品代号或产品批号在数据查询界面进行历史测试数据查询。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻测试历史数据查询界面,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600649820752359119127.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]数据导出:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]用户在数据查询界面查询到数据后,可导出相应的数据,导出数据将以word形式展示。[/size][/font][align=center][img=image.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600662926025792389618.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][b][font=微软雅黑][size=14px][color=#1f497d]包络分析:[/color][/size][/font][/b][font=微软雅黑][size=14px]包络分析的主要功能是对测试数据进行包络分析,能让用户更加直观的看到本次数据的相关信息。[/size][/font][align=center][img=绝缘电阻包络分析,650,407]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375600664888721106018500.png[/img][font=微软雅黑][size=14px] [/size][/font][/align][align=center][font=微软雅黑][size=14px]数据包络分析[/size][/font][/align][align=left][font=微软雅黑][size=14px][b][color=#ff0000]*如果您想要了解更多,请搜索 【纳米软件】至官网咨询。[/color][/b][/size][/font][/align]

  • 用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器

    用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器

    用于光子相关纳米粒度仪的数字相关器动态光散射原理(光子相关普法PCS和光子交叉相关普法pccs)的纳米激光粒度仪的关键技术是提取悬浮液在溶液中的纳米颗粒的散射光的自相关函数或互相关函数,计算纳米颗粒的扩散系数,从而分析颗粒粒度。数字相关器是基于动态光的散射原理(光子相关光谱法PCS和光子交叉相关普法pccs)的粒度测试技术中提取散射光信号的自相关函数和互相关函数的装置。目前,国内应用较多此类装置主要是进口美国Brookhaven公司BI-9000AT、BI-9010AT和Turbocorr数字相关器,这些装置只能完成自相关运算而无法进行互相关运算,因此只适合用于pcs法测试纳米颗粒粒度,而无法适用于PCCS法测试纳米颗粒粒度,从而对测试环境、所测样品浓度以及测试稳定性等方面具有较大的局限性,只有制作专用大规模集成电路(ASIC),或基于DSP技术,或多片芯片及联组成,不但有很大的局限性,而且价格昂贵。另外,国内有人尝试采用软件的方式实现数字相关器,即先用光子计数器将散射光光子计数并储存在存储器中,然后根据计算计算机软件将其数据从存储器中读出进而进行相关运算,虽然这样能计算出散射光强的相关函数,但由于软件所需的处理时间内的光子丢失造成计算的相关函数偏差较大。因此,采用软件的数字相关器实时性很差,不能满足颗粒粒度分析的要求。微纳专利的用于光子相关纳米激光粒度仪的数字相关器,是一种基于动态光散射原理测试纳米及亚微米颗粒粒度测试技术中用于获得散射光信号自相关函数和互相关函数的数字相关器。本专利发明实现了光子脉冲技术、自相关运算、互相关运算以及与计算机通讯功能,具有采样速度快、延迟时间范围广、相关通道多的特点,完全满足纳米颗粒粒度测试中获取高速变化的动态散射光信号的自相关函数和互相关函数的高难度需求。 winner802 纳米激光粒度仪http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512030937_576113_3050076_3.jpg产品简介:Winner802是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米激光粒度仪,同时也是国内首款采用数字相关器的纳米激光粒度仪。本款仪器采用我公司自主研制的高速数字相关器和高性能光电倍增管为核心部件,具有操作简便、测试快捷、分辨率高等特点。适用范围:Winner802适用于各种纳米级、亚微米级固体颗粒与乳液。技术参数:规格型号Winner802执行标准 GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/ml--100mg/ml(与样品有关)准确度误差1%(国家标准样品D50值)重复性误差1%(国家标准样品D50值)激光光源光纤半导体激光器,λ= 532nm, 探测器光电倍增管(PMT)散射角90o样品池体积4mL温控范围5-40 ℃(精确到0.1℃)测试速度5 Min体积480mm×270mm×170mm重量12Kg数字相关器主要参数自相关通道:256 基线通道:4最小分辨时间:6ns 延迟时间:100ns-10ms(可调) 运算速度:162M/S产品特点和优势:先进的测试原理采用动态光散射原理和光子相关光谱技术,根据颗粒在液体中的布朗运动速度测定颗粒大小。大小颗粒运动速度不同,激光照射这些颗粒,不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。 极高的分辨能力使用PCS技术测定纳米级颗粒大小,必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用我公司研制的CR256数字相关器,具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度。 高灵敏度和信噪比采用专业级高性能光电倍增管(PMT),对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比。 超强的运算能力采用自行研制的高速数字相关器CR256进行数据采集与实时相关运算,其数据处理速度高达162M,从而实时有效地反映颗粒的动态光散射信息。Winner802光子相关纳米激光粒度仪是国家科技型中小企业创新基金的项目成果,也是过内首款采用动态光散射原理的纳米粒度仪。其测量原理建立在液体颗粒布朗运动基础之上,颗粒越小,运动速度越大,运动速度越慢。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和由微纳自主研发的高速数字相关器作为核心部件,通过测试某一角度的散射光的变化并求出自相关函数(即扩散系数),根据Stokes-Einstein方程计算出颗粒粒径及分布,它具有快速、高分辨率、重复及准确等特点,同时还是纳米颗粒粒度测试的首先产品。

  • 离心场场流仪在纳米材料领域的应用简介

    离心场场流仪,简称CF3,是在空心的分离通道内施加一个垂直于样品流动方向的离心力,使样品分离并分析测试其尺寸及分布。这款仪器与超速离心有相似之处,但是分离能力、分辨率等要高出很多。像热场具有两个分离原理一样,离心场也具有两个分离原理:1 尺寸分离,包括聚合物/生物大分子材料的流体力学体积、纳米材料的体积与尺寸;2 按照密度分离。离心场是最早商品化的场流分离仪,在人工合成/制造的纳米材料领域有着广泛的应用,在国际纳米材料科研领域享有极高声誉。许多归国留学科学家都曾经在国外学习期间使用过、了解过离心场CF3。目前,国内不少科研单位都对离心场产生了浓厚兴趣。由于具有按照密度分离的能力,离心场可以把尺寸相同或相近的、但是化学性质不同的纳米材料分离开来。附件的文件中,就介绍了尺寸基本相同的纳米金与纳米银颗粒的混合材料,被离心场分离开来并分别测试其含量和尺寸分布。注意,场流仪的分离,是先馏出小尺寸/小分子量样品,再馏出大尺寸/大分子量样品的,其顺序与GPC的分离顺序相反。具体到离心场,小尺寸/小密度的样品先馏出,因此,纳米银颗粒在前、纳米金颗粒在后。离心场可以分离分析各种纳米材料:金属、非金属、有机与无机材料等等,既可以使用水做流动相,也可以使用各种有机溶剂做流动相。

  • 【原创】请问磁性纳米颗粒的TEM测试方法

    对于colloid 中纳米磁性颗粒,如铁、钴、镍等,怎么才能对他们的分散状态进行TEM测试?其难点在于这些磁性颗粒受电镜中的强磁场作用,吸附到目镜上造成污染。在文献中也能看到有很多TEM图,就是不知道是怎么做出来的。 哪位有经验的能否指点迷津?

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