牛津孔铜测厚仪

不锈钢牛津杯/牛津杯（抗生素效价专用）介绍：规格：内径6mm，外径8mm，高10mm，材质：不锈钢304包装：100个/盒 抗生素效价专用牛津杯，可高温灭菌，不生锈不变形用于微生物培养实验，测定不同药物对细菌的敏感度。牛津杯为不锈钢小管，内外壁及管的两端平整光滑。同批次100支质量差异±0.03g，保证同批次试验的均一性。 牛津杯法操作方法：将已灭菌的琼脂培养基加热到完全融化，倒在培养皿内，每皿15ml（下层），待其凝固。此外，将融化的PDA培养基冷却到50℃左右混入试验菌17号，将混有菌的培养基5 ml加到已凝固的培养基上待凝固（上层）。以 无菌操作在培养基表面直接垂直放上牛津杯（内径6mm、外径8mm、高10 mm的圆形小管，管的两端要光滑，也可用玻璃管、瓷管），轻轻加压，使其与培养基接触无空隙，在杯中加入待检样品（发酵液），牛津杯一般可以装240微 升,勿使其外溢。加满后置37℃培养16-18小时，观察结果，抑菌圈用尺直接量就可以。在培养中,一方面试验菌开始生长，另一方面抗生素呈球面扩散，离 杯越近，抗生素浓度越大，离杯越远抗生素浓度越小。随着抗生素浓度减小，有一条最低抑菌浓度带，在带范围内，菌不能生长，而呈透明的圆圈，这就叫“抑菌 圈”。抗生素浓度越高，抑菌圈越大。 牛津杯做抑菌试验注意事项：1，首先要把平板倒好，一定要平，2，把牛津杯立直，才能保证杯内抑菌物质均匀的向四周扩散！！不要封口，用陶瓦盖盖上

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

产品特点：牛津仪器Optistat DN这是一种液氮低温恒温器，可为样品提供一种受控的低温气体交换环境。用作一台光学测量系统的一个基本部件。订货信息：牛津仪器Optistat DN产品描述FrontierMIR Optistat DN 系统 (ZnSe 窗片 )L1272480NIR Optistat DN 系统 ( 蓝宝石窗片 )L1272481FIR Optistat DN 系统 ( 聚丙烯窗片 )L1272482

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速，重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保 符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

牛津仪器Optistat DN这是一种氮气池低温恒温器，可为样品提供一种受控的低温气体交换环境。本品预期用作一台光学测量系统的一个基本部件。订货信息：产品描述FrontierMIR Optistat DN系统（ZnSe窗片）L1272480NIR Optistat DN系统（蓝宝石窗片）L1272481FIR Optistat DN系统（聚丙烯窗片）L1272482

铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围：0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率：0.1/1 5、测量面积不小于：6mm 6、基底不小于：0.3mm 7、自动关机 8、使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH 9、准确度：±(1～3%n)或±2um 10、电源：4节5号电池 11、电池电压指示：低电压提示 12、外形尺寸：161×69×32mm 13、重量：210g（不含电池） 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器）可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822

产品：Chemplex牛津分析器专用样品杯1935-OX带通风孔的摩擦装配盖使装配好的样品杯内的压差相等。集成的外部溢流储层捕获热敏性液体样品。集成的上单元法兰在物理上防止单元从铝样品架的下边缘不可控制地收缩或突出。避免重新准备，确保X射线数据的可重复性。紧密的制造公差可以方便插入，尤其是从铝样品架上移除。与牛津X射线分析仪配套使用，需要用户L240铝样品杯架，带内部“O”形密封圈。更换样品杯加上牛津铝L242样品杯架的通风帽。Cat. No. 1935-OX: Replacement Cells and Covers for Oxford CK-100 Consumables Kit, P/N 54-CK-100 Models: LAB X & MDX

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材 大型易读液晶显示,菜单式使用者界面 即时自动设定 3键式操作 自动关机，连体探头式，还可自动开机 平均置零，利于在粗糙面上置零 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 仪器背面有简要说明 耐 用 耐磨的蓝宝石探头 耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水 读数不受振动影响 一年保修期 精 确 每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 可达到极高的精度（请参阅背页的订货指面） 可提供校准程序和标准板 符合美国和国际标准 性能卓越 密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换 易于调整到任意已知厚度 多种探头 多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便 灯光提示： 便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。 反转显示：独有的反转显示，无论手持测厚仪还是放置在工作台上，阅读都很方便。 连体探头： 便于单手操作 标准型（1）具有左边所列的所有特点。 统计型（2）具有标准型所有功能，且读数超出设定范围时有声光提示。 测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数 HI-RES模式：高精度测量时可增加读数分辨率 可设定内部自动关机时间 储存多至250个读数 内置红外线界面，可打印至廉价的无线红外打印机 分离探头 各款探头可互，提供更多样化的测试。 标准版 可在多种不同厚度上验证仪器 出自NIST的标准 包含有校准证书 配备安全、方便的贮存袋 记 忆 远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。 建立／注释／编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。 存贮达16000个数据，可分为最多1000组 配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑，串行打印机或数据收集仪等。 奉送PosiSoft分析软件，在Windows平台的电脑上运行。 内置式远红外打印接口接打印机。 PosiSoft 软件－在 Windows 上运行，功能强大，易学易用。当选择记忆型时，软件无需额外费用，随机奉送。 从PosiTector 100型读取数据容易。 用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。 显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。 图表可表示单个涂层也可显示总厚度。 可打印基本图表及柱形图。 提供数据和时间资料。 使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。 理想的涂层厚度监控及分析应用软件。 记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能，且 储存10000个读数，可分成200组 SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值 读数可即时输出,也可先行储存待日后处理 提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件 提供RS-232串行线，用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据 可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材 储存在记忆里的各组读数，可再分细组、查阅、更新或删除 ] 内置时钟，每个储存的读数均加上日期和时间标签 PosiSoft for Windows 功能强大 使用简单 订购记忆型（3）随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据如ASCII码 方便监视和分析膜层厚度支援多种语文 分离探头 各款分离探头可互换 每个分离探头均附可追溯至NIST的证书 镀金的耐用带锁接头适用于工业环境 优质柔性防破损连线 加长线(可达75米)便于远程测量 所有标准探头均可在水下使用 所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外 微型探头（铁性基材或有色金属）用于细小及难到达的表面，有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器 微型探头转换为恒压° 可将0 探头，测量细小的平面或曲面 无线打印机 (2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 ) 独特的复合型（FN）探头 不须更换探头可测量所有金属表面 自动识别铁/有色金属表面 减少误操作影响 可测量钢上的镀锌层，铝上的氧化膜，金属上的涂层、钢上的铬层等等。 特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材，如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层 提供连体探头和分离探头配置 测量粉末涂层的理想之选 记忆型（3）仪器,在分组模式下的显示样本 测量读数可分 ( 至 200) 组 Batch1 Cal n50 21.00x 3.61 &sigma 42.0x 20.1 &darr F 20.1 显示 铁/有色金属基材 多用途: 从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜 探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时，可准确的重覆定位 双重用途探头盖 连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。 &larr 多个基材较准资料 &larr 即时统计资料 &larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南 探头（每个仪器仅带一个探头，需要额外探头需另行购买） 大量程 NHS 大量程 FHS 所有仪器包括 : 有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带（只限连体探头型号）、证书（NIST）、一年期保修。 记忆型( 3) 还包括 : 用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft，RS-232接线及携带箱。 加长线（可达 75m/250ft ）适于水下或远程测量，请在订货时注明。 尺寸 : 147x61x5mm（5.8x2.4x1寸） 重量 (不带电池): 170g(6盎士) 符合以下标准 : ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

美国Chemplex X荧光光谱仪(XRF) 样品杯关于美国Chemplex:美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产，是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程，Chemplex样品膜薄膜张力特性极/佳，与Chemplex样品杯组合使用，可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品，适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。 适用于各种品牌X荧光光谱仪：岛津Shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、精工SII、日本电子JEOL、理学Rigaku、堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 产品规格以及货号：1430Single1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.88" 22.4mm0.97" 24.6mm91430-SESingle1.22" 31.0mm1.22" 31.0mm0.88" 22.4mm0.97" 24.6mm91440Single1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm0.88" 22.4mm1.27" 32.3mm151440LSingle1.55" 39.4mm1.55" 39.4mm1.38" 35.1mm1.28" 32.5mm25具体产品规格请电话咨询

【型　　号】 CA75N 【功率(W)】 【最大输出电压(kV)】 ,75, 牛津X射线管专用高压电缆。1芯。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电或访问其网站： www.wismanhv.com 威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择择。 威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

珀金埃尔默ICP-OES用 RF振荡器我公司主要服务的仪器与厂家：火花直读光谱仪(SPARK-OES)：德国斯派克、德国OBLF、美国布鲁克、美国热电（THERMO）、英国牛津、日本岛津、法国JY、意大利GNR等；电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）：美国热电（THERMO） 、美国珀金埃尔默（PE）、美国安捷伦（AGILENT）、德国斯派克、美国利曼、日本岛津等；电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：美国热电（THERMO） 、美国珀金埃尔默（PE）、美国安捷伦（AGILENT）、德国耶拿、美国利曼、日本岛津等；X荧光光谱仪（XRF）：荷兰帕纳科、日本岛津、美国布鲁克、美国热电（THERMO）、德国斯派克等；原子吸收光谱仪（AAS）：美国热电（THERMO） 、美国珀金埃尔默（PE）、美国瓦里安、日本岛津、德国耶拿等；射频电源（RF）： SEREN、MKS、AE、VEECO、COMDEL；

PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材 用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。 高级型：最多测量3层并带有图形显示 应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度，如混凝土、木材、复合材料等 价格低廉 使用简单 非破坏性 PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量，测量大多数涂层时无需调校 菜单操作 双色指示灯，适于嘈杂环境 重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X 显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境 防震保护橡胶皮套，带皮带夹 主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟) 成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准 校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数 内部存储最多10000个数据，最多可分1000组 内置时钟可对存储的结果标注时间、日期 输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯 背光显示，可用于阴暗环境 英制/公制两种单位，可相互转换 多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准 - PosiSoft 分析软件: 可以输入注释 可以打印和显示基本的数据分布图和直方图 可以输出到一个文件或试算表中 提供连接打印机和计算机的数据线 红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带，3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书，保修一年。 尺寸: 146 x 64 x 31mm 重量: 105g（不含电池） 1. 阅读容易，防划花，液晶显示 2. 指示灯在噪音环境中，方便确认读数 3. 红外线接口用于无线打印 4. RS232 接口用于下载 5. 坚固外壳，耐溶剂、酸、油、水和灰尘 6. 压力恒定，探头测量面为塑料，不会划伤测量面 7. 舒适把手，减少操作人员的疲劳 8. 柔软连接线 技术参数 B/标准 B/高级 C/标准 C/高级 量 程 13-1000um 0.5-40mils 25-1000um 分辨率 0.1mils 2um 精度 ± 0.1mils + 3% 读数 ± 2um +3% 读数 测量速度 45 读数 / 分钟

SKCH-1（A）精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置，主要用于各类材料厚度的精密测量，也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点 1、采用精密花岗岩工作平台，精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度：0.001mm 产品规格尺寸：200mm×150mm×320mm

面铜测厚仪校准专用，CMI165 MM615 T60都适用

CAPCELLS, Single Open Ended with Push to Vent “PTV” Cap, Suitable for Oxford Analyzers SC-2132 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：SC-2132 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 高：38.5mm OD 32mm 起订量：1包以上（100个/包）。 美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 　　 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF： 日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成，西安威思曼高压电源有限公司推出，欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪（是安装在镀锌线的出口处）能够对钢带的金属涂层（涂层成分：锌，锌/镍，锌/铝，铝，锡，铅）重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站： www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。 　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

本探头为国产探头，替代CMI700面铜探头

产品特点：Fully Disposable Sample CupsThe fully disposable sample cup can be used with all our XRF systems, as its dimensions are the same as these of our L242 aluminium cup. It can be used with all our XRF films, and fits in our safety secondary window. Minimize cross-contamination issues when measuring low concentrations of elements.No need to recalibrate or restandardize. Manufactured exclusively for Oxford Instruments (Replaces L241/2 w/ LX1011 + LX1012 sample cup assembly, Not for use with MDX & Lab-x Autosampler) 1 box of 100 订购信息：货号产品描述54-LX6922Fully Disposable Sample Cups

本喷灯供化验室作热源用、火力最高达1000最低保持800℃可连续工作四十五分钟、消耗酒精量约250ml使用方法1首先用瀾斗从油孔注入酒精，不超过酒精罐的五分之四(约250m1)将盖拧紧、避龟漏气、然后倾倒一下、以使立管内灯芯被酒精湿润以防灯芯烧焦SLASS2每次使用前必须用通针将喷火孔扎通因喷火孔b0.55mm容易堵塞，以致不能引燃3、将引火碗内注入少量酒精，作引火用。4、一切准备就续后，用火柴将引火碗酒精点燃，待酒精快燃尽时，喷火筒即行喷火，但如遇有引火点燃一次至二次不着，必须查找原因(喷火孔堵塞，元宝螺母胶垫是否压紧)、不得继续引燃以防发生事故。5、调节火力时、须旋转上下调火之"旋纽”向上移动至适当位置，待达到火力集中、喷火强烈时、拧紧固定，即可工作。注意事项1、使用本喷灯时，下部不允许再加任何热源。2在使用中注意，当罐内酒清耗至20m左右，即应停止使用，如仍需继续工作时，则应增添酒精3、在使用中随时注意喷火也的畅通以防堵塞，如发现喷火孔不够畅通时应立即停止使用，查找原因4、在使用中如发现酒精储存罐底部凸起时，应立即停止使用检查喷火孔是否5、喷灯在正常工作时，罐内产生酒精蒸气压强最高0.6kg，灯身各部位耐压力2kg因此可保证工作正常进行。但如在使用过程中发生喷火孔堵塞时，则应检查原因，不可强行使用以免发生灯身崩裂造成事故。6、灯芯需半年更换一次7、喷火用毕后不得立即用手触以免烫伤。8、喷灯工作时注意周围环境室内温度不宜过高。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

产品特点：Oxford SpecificThe Chemplex® line of Oxford Specific sample cups are designed to be used within the Oxford instruments with and without the L-242 Aluminum sample holder.Features● Replacement cups to use wiht the L242 Aluminum sample holder/p● Replacement cups to use without the L242 Aluminum sample holder● Vented friction fitting cover or One open end特征● 替换杯与L242铝制样品架一起使用● 无需L242铝制样品架的替换杯● 通风的摩擦配件盖或一个开口端Vented friction-fitting cap equalizes pressure differentials within assembled sample cup. Integrated external overflow reservoir captures thermally sensitive liquid samples. Integrated upper Cell flange physically prevents Cell from uncontrollable retraction or protrusion from the lower edge of the aluminum sample holder. Averts re-preparations and ensures reproducible x-ray data. Close manufacturing tolerances enable and facilitate insertion and particularly removal from aluminum sample holder. Use with Oxford x-ray analyzers requiring user L240 aluminum sample cup holders with interior “O” ring seals. Replacement sample cups plus vented caps for Oxford aluminum L242 sample cup holder.带通气孔的摩擦装配帽平衡了已组装样品杯内的压力差。集成的外部溢流容器可捕获热敏感液体样品。集成的上部池Flange从物理上防止Cell从铝制样品架的下边缘不可控制地缩回或伸出。避免重新准备，并确保可重现的X射线数据。严格的制造公差使插入铝样品架特别容易从铝样品架中取出。与牛津X射线分析仪一起使用，需要用户使用带有内部“ O”形密封圈的L240铝制样品杯架。用于牛津铝L242样品杯架的替换样品杯和通风盖。订货信息：货号开口外径最大外径孔径容积高度1440L Single1.55" (39.4mm)1.55" (39.4mm)1.28" (32.5mm)25ml1.38" (35.1mm)1935-OXDouble1.23" (31.2mm)N/A1.13" (28.7mm)25ml1.51" (38.4mm)1940-OXDouble1.61" (40.8mm)N/A1.13" (28.7mm)25ml1.51" (38.4mm)1940LDouble1.55" (39.4mm) 1.55" (39.4mm)1.27" (32.3mm)25ml1.39" (35.3mm)产品应用：下表列出了一些已知的样品杯兼容性，供参考。这不是一个详尽的列表，可以作为指导原则。请检查样品架的尺寸，并与样品杯的尺寸进行比较。可根据要求提供样品以验证样品杯的兼容性。2143, 2144 & 2154BrukerS2 Ranger2143BrukerS42140BrukerS8 w/ Flex Loader2143, 2144 & 2154BrukerS8 Tiger2143, 2144, 2154, 1095 & 2195HoribaSLFA Units1850, 1083 & 1084Horiba6100/6800/60A1086 & 1087HoribaMesa 72201083, 1850 & 3130 ( use7220-P or 7220-S locating ring)Innov-XHand Held Units1330, 1330-SE & 1340OxfordLab-X1940L, 1940-oxOxfordMDX1935-ox, 1940-oxOxfordReplacement Cells 54-LX69221440LOxfordReplacement Cells & Covers: 54-CK-1001935-oxOxfordReplacement Cells & Covers: 54-CK-100 and L242 Holder1940-oxMalvern PanalyticalEpsilon 3XL, MiniPal2135 XRF 厂商X荧光光谱仪型号Chemplex XRF 样品杯货号BrukerS2 Puma2140, 2143, 2144 & 2154BrukerS2 Puma w/ Xflash Malvern PanalyticalAxiosP2Malvern PanalyticalEpsilon 52145, 2146Malvern PanalyticalVenus 2001095, 2195RigakuMini-Z 2140RigakuPrimus, Rix, ZSX-1001095, 2195SpectroXEPOS, Xepos Low S, Xepos IQ, X-Lab 2000, 200, 200T Titan, Phoenix1060, 1065, 1070, 1075, Series 1300, Series 1400, Series 1500, Series 1700, Series 1800, 1930, 1930-SE, 1940, 2131, 2135SpectroIQ2132SpectroPhoenix II2131SpectroScout3106, 3110, 3115 & 3120ThermoAdvant' x2146 XenemetrixX-Calibur, X-Cite2131, 2132, 2132S, 1540XOSSindie® , Clora, Signal, HD Maxine, Phoebe, Peta1083, 1084 & 1850XOSSindie 3rd Generation3130 & 3132

射线荧光样品器、XRF测试杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1530# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1530 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。 一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1500系列：带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1530 ： 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 100

产品名称：Chemplex1540系列带微孔薄膜Chemplex提供哪些产品？迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜 预切圆（圆形）：( 直径：2.5" (63.5mm)；500片/盒)用于美国热电公司、美国PE公司、美国瓦里安公司、美国利曼公司、日本岛津公司、天瑞仪器、德国斯派克公司、法国JY公司、精谱、帕纳克、精工、牛津、安捷伦、堀场、（随机排名~）等等~……的XRF分析仪器使用。Chemplex样品盒，Chemplex样品杯系列 北京美同达供应标准油和相关耗材的提供。包括：CANNON标油，CONOSTAN标油，TEKMAR吹扫，VHG标油，ASI标油，CEC参考油，TMC参考油，油料光谱仪耗材(盘电极，棒电级)，X荧光样品膜，样品杯等等。

自动牛奶检测仪配件适用于基层监控和生产单位质控适用；如果生产经营单位适用牛奶检测仪进行自检，可以提高牛奶以及其制品的质量，对消费者的健康也是大有保障。 自动牛奶检测仪配件参数测量时间 90秒/60秒 FAT: 0.01-25% SNF: 3-15% 密度：1015-1040kg/m^3（ 1160kg/m^3 可选）蛋白质：2-7% 乳糖：0.01-6% 水含量：0-70% 牛奶温度：1-40摄氏度 冰点:0.4-0.7摄氏度 固体：0.4-1.5% 牛奶快速检测仪配件描述 1.LCD显示样品 2.90秒测量一个样品，50秒测量时间可选 3. 220V电源适配器 4.备用硅胶管,蠕动泵 5.注射器 6. 塑料样品架 7.牛奶，羊奶标定，高温灭菌牛奶标定 8.操作手册 9.造型美观漂亮，重量轻，方便携带。牛奶快速检测仪,自动牛奶检测仪由服务商-孚光精仪进口销售牛奶快速检测仪,自动牛奶检测仪由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！更多牛奶快速检测仪,自动牛奶检测仪快速牛奶检测仪和欧洲原装进口的自动牛奶检测仪,采用LCD显示样品,90秒测量一个样品,用硅胶管,蠕动泵,高温灭菌牛奶标定。孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有牛奶分析仪,食品分析仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 更多关于电牛奶检测仪价格，牛奶检测仪品牌等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！