平均粒径测定仪

各位平均粒度与平均粒径及中值粒径的区别吗？

我们现在用马尔文2000激光粒度仪，测试报告上有比表面积平均粒径D（3，2）体积平均粒径D（4，3），但不知道是什么概念，如何获得的，有那位知道烦劳告知，本人感激不尽。

从定义看是峰值粒径，最可几粒径，它的意义和激光粒度仪中的平均粒径是否相类似？

辽宁丹东WLP-202平均粒径测试仪操作规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=24636]WLP-202平均粒径测试仪操作规程[/url]

不知道有人用动态光散射测过微凝胶的平均粒径没？？？我测我的一个微凝胶体系的平均粒径，有一个很奇怪的现象，除去里面杂质的影响，测出来的平均粒径都不超过3000nm，不知道是仪器测量范围或要求的问题，还是本身这个体系的粒径就最多只有这么大？？谁能帮我解释下！！

请假各位专家：乳液聚合物浓度对平均粒径有什么影响？我用的是马尔文ZEN3690，样品是乳液聚合物，在用水稀释不同浓度是粒径呈现不同的值，低浓度88nm，中浓度120，高浓度105，在高浓度前提下逐次稀释又为115、117、127。不知哪个才是真正的平均粒径？？样品浓度是必须在一定范围内吗？？按照原理的话，浓度似乎影响不大才是，恳请各位指教！

请问专家,我做颗粒度时设置仪器自动分析三次,是什么原因导致了三次的粒径范围相差很大,而每次的平均粒径却差不多?我用的是贝克曼的N5颗粒度计,测试角为90度,样品为稀释过的丁苯胶乳

1 、显微镜法 本法主要测定几何学粒径。光学显微镜可以测定微米级的粒径，电子显微镜可以测定纳米级的粒径。本法方便、可靠，能用于测定散剂、混悬剂、乳剂、混悬型软膏剂等粉体粒径，可测粒径范围为 0.2 ～100μm。　　2 、筛分法 其是粒径与粒径分布测量中使用最早、应用最广，且简单快速的方法。即利用筛孔将粉体机械阻挡的一种分级方法。将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列，将一定量的粉体样品置于最上层，振动一定时间，称量各个筛号上的粉体重量，求得各筛号上的不同孔径重量百分数，由此获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。　　3 、库尔特计数法 本法测得的粒径为等体积球相当径，可以求得以个数为基准的粒度分布或以体积为基准的粒度分布，通常可用于测定粉末药物、混悬液、乳剂、脂质体等制剂，也可用于注射剂的不溶性微粒检查。　　4 、沉降法 是通过监测混悬液粒子的沉降速度，利用粒子在液体介质中的沉降速度与粒子大小的关系，即Stocks 定律，来测定粒子有效径的方法。　　5 、比表面积法 利用粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。

忽然之间想起比表面积对粉体材料的物性是个很好的表征参数,所以想向大家咨询一下比表面积可以分析平均粒径在7微米左右的粉体吗?在我的记忆里好象是可以的,因为我们学校以前自制过测试比表面积的测试装置.如果可以测量的话,就申请购买一台,如果购买的话,一般考虑国外的,不知道国外的比表面积仪的价格大概在多少钱?

费氏平均粒度仪是用空气渗透性原理研制的快速测定粉末颗粒平均粒径的仪器，广泛应用于粉末冶金、钨钼材料、硬质合金等领域.现就本人的一点维修经验,列举费氏仪(美国fisher公司生产)一些常见的故障处理方法,供各位同仁参考. 一:示值稳定性误差: 第一步,检查仪器的气密性,尤以橡胶管与玻璃管的连接处为重点(千万要小心,玻璃管易脆的很哦!!). 第二步,如果硅胶变色,立即更换硅胶. 二:两档位间示值偏差: 检查档位开关,通常是档位开关后的橡胶管老化引起的,更换橡胶管,上好档位开关后即可解决问题. 三 气泡太小且不均匀: 这是由于空气压力不够造成的. 首先检查整机的气密性,无误后就重点检查压缩空气的动力源-马达. 将马达与稳压管的连接杆拆下清洗并上少量润滑油,用细铁丝疏通连接杆上的小孔,重新装上后,大多数情况均能解决问题.如果效果不明显,就要将电机拆下进行大修了哈. 另外,为了分析结果的准确性,需要经常对标准管进行校正哈.

我单位刚刚买了台马尔文2000，做钛白粉粒度。D50结果都在0.40微米，可是钛白粉的D50都应该在0.25微米条件：0.2%六偏磷酸钠 超声分散10分钟 体积中值粒径急求解答

请问:马尔文激光粒度测定仪用于粒径测试,每个样多少钱?

急求：GB/T 6394-2002 金属平均晶粒度测定方法

哪位大侠有GB/T6394-2002金属平均晶粒度测定方法？望回复shenweixp@163.com 先谢了

测定的结果都是熔程，看标准说"平行测定5次，舍去最大最小值，求剩余3个数据的平均值为物质的熔点”，最大最小值舍去好说，这个“平均值”是怎么求取的呢？难道是：3个初熔、终熔各求平均值？如果是这样，所得的结果有依据吗？依据是什么？想不明白，但求各位，不胜感激！！

求ASTM E112-2024标准:平均晶粒度测定方法，非常感谢！

[center]比表面及孔径测定仪的分析方法[/center] 表面积：颗粒的表面积包括内表面积和外表面积两部分。外表面积是指颗粒轮廓所包络的表面积，它由颗粒的尺寸、外部形貌等因素所决定。内表面积是指颗粒内部孔隙、裂纹等的表面积。 比表面积：单位体积（或单位质量）物体的表面积，称为该物体的比表面积或比表面。 常用的比表面分析方法： (1) BET吸附法 吸附法是在试样颗粒的表面上吸附截面积已知的吸附剂分子，根据吸附剂的单分子层吸附量计算出试样的比表面积，然后换算成颗粒的平均粒径。(2) 气体透过法 气体透过法的理论根据是kozeny Carman关于层流状态下气体通过固定颗粒层时透过流动速度与颗粒层阻力的关系气体透过法测定粉体比表面积应用最广泛的是Bline法（又称勃氏法）。（3） Bline法是测定水泥比表面积的常用方法，也可用于测定其他干燥细粉。 在同内的几家生产商中，北京彼奥德公司是唯一采用真空静态法进行比表面积及孔分析的厂家，并且测量过程为全部电脑控制，达到了真正的全自动化操作。 SSA-4200仪器的工作原理为国际通用的等温物理吸附的静态容量法。全程计算机自动控制无需人工监测。使用本方法的比表面积及孔隙度分析仪在国内只有我公司生产和销售，此项仪器技术我公司已经申请相关国家专利。SSA-4200全自动快速比表面积及孔隙度分析仪（氮单元系统），可同时进行两个样品的分析和两个样品的制备，仪器的操作软件为先进的“Windows”软件，仪器可进行单点、多点 BET比表面积、BJH中孔、孔分布、孔大小及总孔体积和面积、及平均孔大小等的多种数据分析，其比表面分析范围为0.1m2/g 至无上限，孔径的分析范围为0.35-200nm。[center][IMG]http://bbs.jixie.com/space/upload/2008/06/12/19573649372571.gif[/IMG][/center]

请各位高手帮帮忙!我测试颗粒度时设置了仪器自动测试三遍,三次的平均粒径都差不多,可在粒径分布图上每次的粒径分布范围的宽窄却相差很多,不解![em52] 我用的是BACKMAN N5的颗粒度计

各位老师，我们有个产品需要测定粒径，客户用RESTCH的AS400测定的，请问南京哪里有这种仪器，谢谢！

有点糊涂了，请教各位高手测粒径时，什么时候用透光率 什么时候用折射率？什么时候用比表面积表示，什么时候用D(4,3),D(3，2)折射率 透光率对中径 平均径各粒径有什么影响？干法进样量又需要多少？

GB/T6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》有比较法、面积法和截点法三种方法，比较法比较直观简单，但必须要有标准图谱才行，而且受主观影响较大。面积法太复杂，数晶粒数把人数到神经衰弱还不一定数得清楚。截点法是仲裁法，而且实际操作比较简单，所以是最实用的方法。金属平均晶粒度截点法的计算公式为(公式不见了，郁闷。)式中M为实际放大倍数；P为实际数出来的节点数；L是用于截点的线段长度。解决了这三个参数，平均晶粒度便可以计算了。附件是计算的实际操作过程。

各位老师： 请教尘埃粒子测定仪和浮游菌测定仪的期间核查如何做，这是我们实验室的不符合项，要整改。及赐教，谢谢!

[size=4]大家好！我想用XRD衍射仪计算催化剂中CuO的粒径，因为没有做过，所以有一些疑问需要大家解惑。在谢乐公式中，提取衍射峰的宽度数据（可以是半高宽、也可是积分宽），我的疑问就是：提取的衍射峰是选择CuO的最大峰，还是提取CuO的所有峰后取平均值？[/size]

本来想加个附件的，居然没传上来，还是发个自己东拚西凑的吧，不过有问题别问我，我只用过筛子和激光粒径，别的都不懂。（1）筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。这个我的单位最多了。筛分法分干筛和湿筛两种形式，可以用单个筛子来控制单一粒径颗粒的通过率，也可以用多个筛子叠加起来同时测量多个粒径颗粒的通过率，并计算出百分数。筛分法有手工筛、振动筛、负压筛、全自动筛等多种方式。颗粒能否通过筛子与颗粒的取向和筛分时间等素因素有关，不同的行业有各自的筛分方法标准。（2）显微镜法：测量与实际颗粒投进面积相同的球形颗粒的直径即等效投影面积直径。包括显微镜、CCD摄像头（或数码像机）、图形采集卡、计算机等部分组成。它的基本工作原理是将显微镜放大后的颗粒图像通过CCD摄像头和图形采集卡传输到计算机中，由计算机对这些图像进行边缘识别等处理，计算出每个颗粒的投影面积，根据等效投影面积原理得出每个颗粒的粒径，再统计出所设定的粒径区间的颗粒的数量，就可以得到粒度分布了。 由于这种方法单次所测到的颗粒个数较少，对同一个样品可以通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。除了进行粒度测试之外，它还常用来观察和测试颗粒的形貌（3）刮板：把样品刮到一个平板的表面上，观察粗糙度，以此来评价样品的粒度是否合格。此法是涂料行业采用的一种方法。是一个定性的粒度测试方法，我以前玩过一次，别人给我看，我看不出有什么区别。（3）沉降法：依据颗粒的沉降速度作等效对比，所测的粒径为等效沉速径，即用与被测颗粒具有相同沉降速度的同质球形颗粒的直径来代表实际颗粒的大小。有简单的沉降瓶法和按此原理设计的粒度仪。例如一种纳米颗粒粒度分析仪采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析。样品被注入到高速旋转的液体中，然后在离心力的作用下，样品被快速沉淀并通过检测头被检测并拾取。因为大小不同的颗粒到达检测头的时间不同，因此通过记录颗粒到达检测头的时间，就可以知道颗粒的大小，（4）电阻法：电阻法又叫库尔特法，是由美国一个叫库尔特的人发明的一种粒度测试方法。这种方法是根据颗粒在通过一个小微孔的瞬间，占据了小微孔中的部分空间而排开了小微孔中的导电液体，使小微孔两端的电阻发生变化的原理测试粒度分布的。小孔两端的电阻的大小与颗粒的体积成正比。当不同大小的粒径颗粒连续通过小微孔时，小微孔的两端将连续产生不同大小的电阻信号，通过计算机对这些电阻信号进行处理就可以得到粒度分布了。（5）激光衍射：利用颗粒对激光的散射特性作等效对比，所测出的等效粒径为等效散射粒径，即用与实际被测颗粒具有相同散射效果的球形颗粒的直径来代表这个实际颗粒的大小。当被测颗粒为球形时，其等效粒径就是它的实际直径。一般认为激光法所测的直径为等效体积径。该方法测定速度快，不过从原理上讲颗粒越小，衍射角越大，因此它可能更适合小颗粒，我用的是马尔文的mastersizer2000激光粒径仪。（6）透气法：透气法也叫弗氏法。先将样品装到一个金属管里并压实，将这个金属管安装到一个气路里形成一个闭环气路。当气路中的气体流动时，气体将从颗粒的缝隙中穿过。如果样品较粗，颗粒之间的缝隙就大，气体流边所受的阻碍就小；样品较细，颗粒之间的缝隙就小，气体流动所受的阻碍就大。透气法就是根据这样一个原理来测试粒度的。这种方法只能得到一个平均粒度值，不能测量粒度分布。这种方法主要用在磁性材料行业。（7）超声波法：通过不同粒径颗粒对超声波产生不同的影响的原理来测量粒度分布的一种方法。它可以直接测试固液比达到70%的高浓度浆料。（8）相关法：用光子相关原理测量粒度的一种方法，主要用来测量纳米材料的粒度分布。（9）电镜：有别的专栏介绍，知道可以测的