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普顿高纯锗谱仪
仪器信息网普顿高纯锗谱仪专题为您提供2024年最新普顿高纯锗谱仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括普顿高纯锗谱仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的普顿高纯锗谱仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合普顿高纯锗谱仪相关的耗材配件、试剂标物,还有普顿高纯锗谱仪相关的最新资讯、资料,以及普顿高纯锗谱仪相关的解决方案。
普顿高纯锗谱仪相关的方案
ARTUS 10全谱直读光谱仪在高纯金属检测中的应用
阿朗科技ARTUS 10全谱直读光谱仪作为精密尖端的检测设备,在高纯金属分析方面,有着超常的优势。它以超简的前处理要求、稳定的检测性能,超低的检出限、快速的分析速度,解决了各类传统高纯金属检测设备的应用痛点
手持激光诱导光谱仪在高纯铝检测方面的应用
星帆仪器专为高纯铝检测应用定制了特殊的手持激光诱导击穿光谱仪,采用高功率的微型化纳秒激光技术及化学计量学中先进的光谱去噪算法,可以对高纯铝中的微量元素进行精确定量分析,从而可以对高纯铝的纯度做出判别。
岛津:化学衍生辅助液相色谱-串联质谱测定枇杷膏中的齐墩果酸
本文采用同位素质谱探针标记技术,该技术一方面可显著提高含羧酸的类化合物的质谱检测灵敏度;另一方面无需获得每种标准品的同位素内标,而是通过衍生向目标分子中引入稳定同位素作为内标物,建立了液相色谱?串联质谱检测枇杷膏中齐墩果酸和熊果酸的分析方法。对中药中齐墩果酸与熊果酸的分离、分析具有重要意义。
化学衍生辅助液相色谱-串联质谱测定枇杷膏中的齐墩果酸和熊果酸
本文采用同位素质谱探针标记技术,该技术一方面可显著提高含羧酸的类化合物的质谱检测灵敏度;另一方面无需获得每种标准品的同位素内标,而是通过衍生向目标分子中引入稳定同位素作为内标物,建立了液相色谱?串联质谱检测枇杷膏中齐墩果酸和熊果酸的分析方法。对中药中齐墩果酸与熊果酸的分离、分析具有重要意义。
AGC DID氦离子气相色谱分析仪在 He、Ne 提纯工艺中的应用高纯氖分析、高纯氦分析、氖中氦分析
随着社会的发展,特种气体不再是只局限于科研单位的研究对象,而是逐渐走向民用化、产业化,人们对特种气体的需求量也越来越大。而高纯的氦气、氖气作为特种气体中少有的几种惰性气体,不仅科研价值极高,而且应用的领域也越来越广泛。涉及到诸如电子、点光源、激光、超导、光导纤维、低温、等离子体显示器、航天及医疗等诸多领域。在氦气和氖气的提纯工艺中,需要使用到多台仪器设备来对主要的监测点进行监测,然后根据结果适时地调整工艺参数,最终生产出优质的高纯氦气和氖气。在氦气和氖气提纯时,在四个主要的监测点上选用了多台色谱分析仪来完成此项工作,此套设备中所采用的分析仪器均来自于爱尔兰AGC公司。1、粗He/Ne除氮后的N2含量分析2、粗He/Ne除氮系统后的He/Ne/H2/N2含量的分析 3、产品He的纯度分析4、产品Ne的纯度分析,包括氖中氦分析
带有脉冲放电氦离子检测器(PDD)的气相色谱仪在高纯氨气分析中的应用
介绍带有脉冲放电氦离子检测器的气相色谱仪检测高纯气体中的痕量杂质,并通过具体实例对高纯气体中杂质的定量分析时可能遇到的问题进行讨论。关键词 脉冲放电氦离子 高纯氨 痕量杂质 定量分析
Prodigy DC Arc直流电弧光谱仪测定高纯铂铑
高纯铂/铑标准品和样品可用Prodigy DC Arc光谱仪检测。所有样品均分析Ag, Al, As, Au, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ir, Mg, Mn, Mo, Ni, Pb, Pd, Ru, Sb, Se, Si, Sn, Te, Ti, V, Zn 和Zr等元素。除非特殊情况,结果均以PPM为单位报告。
药典方法-新型核壳色谱柱快速分离枇杷叶中齐墩果酸熊果酸
枇杷叶为蔷薇科植物琵琶的干燥叶。其中的主要药用活性成分为齐墩果酸和熊果酸等,其中齐墩果酸具有消炎、增强免疫力、抑制血小板降集、降糖等诸多功效;熊果酸更是具有多种生物活性,在抗肿瘤、抗氧化、抗炎保肝、降血脂等方面具有显著功效。本实验按照《中国药典》2015 年版要求,采用新型核壳色谱柱快速分离检测枇杷叶中齐墩果酸和熊果酸,方法简便准确、灵敏度高、重现性好,可以满足日常分析要求。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Mg含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
气相色谱法分析高纯氦气中氖气等微量杂质
本文使用岛津GC-2014气相色谱仪结合甲烷转化炉、FID和PDHID检测器建立了高纯氦气中微量杂质的分析方法。采用两个吹扫六通阀自动进样,超纯氦气做载气表现出良好的重现性和检出限。氖气最低检出限可达0.10μ L/L,其余10种组分最低检出限均可达0.01μ L/L,完全满足GB/T 4844-2011对超纯氦杂质分析的需求。
利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素
本文检测样品中的铝、硼、钙、铬、铜、铁、锰、镍、磷、钛和钒等,证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯硅中痕量元素的能力。
气相色谱(BID检测器)测定高纯氦气中杂质
本文利用岛津GC-2010 Pro气相色谱仪,结合高灵敏度、通用型BID检测器建立了分析高纯氦气中杂质的方法。该方法采用带隔垫吹扫的六通阀进样,分析高纯氦气中微量H2、O2、N2、CH4、CO、CO2、C2H4、C2H6、C2H2,具有灵敏度高、稳定性强的特点。使用BID检测器方法检出限H2<1.0ppm,其他组分<0.5ppm;重复性好,RSD%≤ 2.0%;使用在线开关阀,连接好标气或者催化反应气,设定方法后,可实现无人值守,快速分析。
Avio 500 ICP-OES 按伦敦金属交易所要求分析铅中的杂质
虽然铅(Pb)对活生物体具有高毒性,已逐渐淘汰出各种产品,但仍广泛用于许多领域,尤其是铅酸蓄电池、合金、辐射屏蔽、建筑行业、弹药,以及工业管道和装载腐蚀性物质的容器。通过不同使用方式,铅的所需等级/纯度有所不同,因此铅以各种纯度要求生产。伦敦金属交易所发布了多种不同铅的规格。本文的重点是利用PerkinElmer Avio® 500 ICP-OES 分析不同纯度的铅,使用“标准铅要求”作为待测元素和浓度的指南。展示了Avio 500 ICP-OES 能够分析伦敦金属交易所规定的纯度范围为99.97%至99.994 纯铅(1%铅溶液模拟)。尽管高基体浓度会导致少数元素的光谱干扰,但是可以通过使用MSF来克服干扰,从而满足测试需要。Avio 500 很容易测量铅中痕量元素,以符合伦敦金属交易所的要求。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中杂质元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Ca元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Fe元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Cu元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
天美赛里安气相在高纯气体的应用——高纯氢测定
本应用采用456i气相色谱仪多阀系统的PDHID测定高纯气体,符合标准GB/T 40045-2021与GB/T 3634.2的测试要求。
高纯绷烷中氢的低温气相色谱分析
高纯硼烷在半导体工艺中是重要的掺杂剂,它的纯度很大程度决定了半导体器件的质量。高纯硼烷的杂质分析一直是电子气的“老大难”。根据半导体工艺的要求,硼烷中的有害杂质主要是指氧、水、一氧化碳、二氧化碳和甲烷等,考虑到提纯方法和制造过程中系统泄漏而造成大气环境中 氧 和 水 对 硼 烷 的 污 染(氧 占 ,!S,水 占!O.S T ,S)。
赛默飞Acclaim C30 色谱柱分析养正消积胶囊中的齐墩果酸与乌苏酸
采用 acclaim C30 色谱柱测定齐墩果酸OA和乌苏酸UA含量,两者分离度3.56,较C18色谱柱上1.54的分离度有较大改善,能够明确地对两化合物进行定量,本方法可应用于其他品种中OA和UA 的含量测定,具有较强的推广意义。
iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铈中 镨、和钆杂质元素
高纯稀土通常是指纯度高于99.99%的稀土金属或其氧化物,具有特殊的物理化学性质, 在高科技领域和军工领域有着广泛的应用。高纯稀土材料中存在的其它稀土杂质元素常会对最终产品的功能产生影响,因此,必须严格控制高纯稀土的杂质。本实验采用iCAPTQ ICPMS测定纯度为99.99999%(6N,行业上通指稀土杂质元素含量)高纯氧化铈中的镨和钆元素杂质。
自动熔点仪法检测遮瑕膏的熔点
遮瑕膏的作用很多,例如遮盖痘印,减轻色斑或局部晦暗,减轻黑眼圈等。遮瑕霜的最常见成分是滑石粉、澳洲坚果油和云母粉;此外,还可以在许多遮瑕膏中找到二氧化钛和乳木果油。在化妆品行业中,熔点不仅赋予产品以稠度,还影响其使用时的铺展性和皮肤的感觉。因此,在配方设计时需先掌握其熔点。遮瑕膏的熔点通常通过测定滑动熔点的方法来测量。滑动熔点是个温度指标,在一定加热温度条件下,样品软化并且在敞开的毛细管中能充分流动。本文采用全自动油脂熔点仪法来检测遮瑕膏的滑动熔点,测量过程简单、快速、结果可靠。
如何用红外光谱快速准确测定液体折射率
液体折射率是重要的光学参数,在物理、化学、生物、医学等领域对其进行精确地测量有着十分重要的意义。对折射率测量方法的研究一直受到科学工作者的关注。目前,测量液体折射率的方法主要有几何光学法和光学干涉法两种。几何光学法有掠入射法和全反射法,光学干涉法有牛顿环法、迈克尔逊干涉法等。几何光学法主要用于学生实验,其测量精度不高。光学干涉法的测量精度虽然比几何光学法高,但是,其测量结果很容易受外界干扰,其测量的精度(准确性)一定程度上要依靠光学平台的稳定性。
谱育科技SUPEC 7000测定高纯钽中6种元素
SUPEC 7000测定高纯钽中6种金属元素含量,通过方法检出限、加标回收率、精密度验证仪器性能;实验结果表明:元素检出限在0.002~0.353 ?g/Kg之间,方法精密度(n=5)2.54%~6.77%之间,加标回收率91.6%~106.5%之间;该方法检出限低、重现性好、准确度高,满足高纯钽检测需求。
福立高纯气体分析方案
在高纯气体行业或在煤化工、石油化工等行业,对气体纯度要求非常高,普通色谱检测器无法满足要求,本方案选用原装进口Valco公司高灵敏度的氦离子化(PDHID)检测器,采用中心切割与反吹技术,配置具有吹扫保护气路的进样切换阀和进口氦气纯化器,可以实现一次进样检测高纯气体中微量H2、O2(Ar)、N2、CH4、CO、CO2杂质
莱伯泰科:离子色谱-膜去溶-ICP—MS法测定高纯钨粉中痕量金属杂质
摘要:灵敏地检测了高纯钨粉中的痕量金属杂质。钨粉用 02溶解后进入离子色谱的阳离子交换柱,经水淋洗后,用HN03洗脱,洗脱后的溶液经过膜去溶装置雾化去溶后进入电感耦合等离子体质谱检测。除B,V,Sb外,其它杂质元素如Mg,Al,Ti,Cr,Be,Fe,Mn,c0,Ni,cu,zn,Ga,Sr,Cd,Ba等的回收率均在90% 一107%之间,检出限在0.0ol~0.5 gg/g之间。关键词:痕量元素;高纯钨粉;离子色谱;阳离子交换柱;膜去溶装置;电感耦合等离子体质谱
力扬:牙膏中二甘醇的薄层色谱鉴别
FDA现公布初步检测牙膏中可能含有的二甘醇(DEG)的薄层色谱(TLC)方法。提供这一筛选方法的目的在于给出一种快速和经济的方式来测试大范围的样品。该TLC程序作为替代方法可检测牙膏中0.1%含量的二甘醇。一旦该方法证实牙膏中含有二甘醇,继而可采用GC-MS等方法来进行验证并获得更精确的结果。GC-MS方法现正为FDA实验室所采用,来对FDA调查部门所收集的牙膏样品中所含有的二甘醇进行含量测定。Kenyon等[1]采用薄层色谱法对牙膏中的二甘醇进行定量检测,这种方法可以从牙膏中检出最低0.1%含量的二甘醇。下面是对原方法中的样品制备及展开步骤进行改进后的方法的简单描述。
AGC 600DID氦离子气相色谱仪负压进样高纯砷烷、磷烷分析
本文主要介绍配置DID氦离子化检测器、样品管道采取负压方式进样分析磷烷的原理及方法,一次进样同时检测出高纯磷烷中的微量杂质H2、O2+Ar、N2、CH4、CO、CO2、SiH4、AsH3。并验证方法的可行性。
高纯硅烷中痕量CO、CO2、H2O转化色谱分析
本文叙述高纯SiH4 中痕量杂质的转化色谱分析条件、装置及流程。通过弱极性有机担体柱有效地将PPM硅烷中级杂质与主组份分离。分离后的主组份经氢气氛下高温还原和电石转化生成烃类, 送高FID灵敏检测, 当进样量为1毫升, 记录仪为1毫伏(250毫米)时, 本试验所得灵敏度,CO.0.15vpm/min 。CH4 0.08vpm/, ,(样品直接送FDI检测灵敏度)。CO2.0.5vpm/min ,H2O 0.3vpm/min 同时,确定了较满意的分析操作参数, 提出了相应的分析流程。
液相色谱法分析山楂药材中齐墩果酸的提取与HPLC含量测定
齐墩果酸的分析采用岛津InertSustain AQ-C18 色谱柱(4.6 mm× 250 mm,5 μ m 订货号5020-89731);流动相:A:甲醇B:乙腈C:0.5 %醋酸铵溶液,按下表(表1)程序进行梯度洗脱;检测波长360nm(0-80 min)、210 nm(80-105 min);柱温25 ℃;流速0.8 mL/min;进样量:20 μ L。
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