小角激光散射仪

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小角激光散射仪相关的厂商

  • 400-860-5168转6108
    安徽国科仪器科技有限公司是一家专业从事X射线结构分析设备研发、生产、销售的创新型企业。自成立以来,国科仪器始终关注国际上新技术、新理念的发展,汇集了一批在X射线结构分析领域经验丰富的高水平研发团队。 国科仪器在高压XRD、高压充气系统、动态加载装置、原位多外场样品环境、小角散射仪(SAXS)、激光小角散射装置、动态光散射装置、国家大科学装置等高端X射线结构分析设备领域,已经顺利实现设备定型与销售,先后与国家级科研单位及上市公司达成合作,为客户提供全集成、高附加值的全方位解决方案,并以良好的性能指标、灵活的定制化能力和超高的性价比赢得了客户的高度认可。 2022年,国科仪器通过ISO9001质量管理体系认证,并荣获AAA级企业信用等级等多项证书。公司自主研发的“小角X射线散射仪”入选2022年度安徽省首台套重大技术装备, “高压X射线衍射仪”成功入选合肥市新技术新产品新模式名单。截至目前,国科仪器已申请24项专利,已授权18项专利。 国科仪器将始终坚守“领航科研设备,为科研发展助力”的使命,秉承“规范守约、活力关爱,扎实创新、引领未来”的价值观,专注科研设备的研发制造与服务,旨在打造中国科研设备的领导品牌,为国家高端仪器的发展作出更大贡献!
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  • 创可激光,隶属于广州新可激光设备有限公司,13年品牌深耕,其三轴动态技术在光纤、co2和紫外激光打标雕刻系统中实现了无可匹配的刻印质量。销量超20,000台,专利认证超50个,荣获高新技术企业。创可激光致力于高端3D光纤,高功率二氧化碳以及紫外激光打标机的研发、生产与销售。满足市场对先进打标设备的需求。创可激光总部位于中国广州,国内拥有数十家分公司及办事处。并在日本、德国、美国、韩国等三十多个国家建立了代理机构,销售数量过万,品牌影响辐射全球。创可激光有一支专业的研发团队,研发内容涉及软件设计、机械设计、光路设计等多个方面。协助客户完成各种工艺难题与技术攻关。持续为客户提供全套的激光解决方案。超过十年的专业激光制造经验,追求完美细节,苛求品质第一。现正招募全球代理商,建立互动共赢的合作关系。
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  • 本公司是一家专业从事激光产品研发的高科技公司,拥有雄厚的技术设计和生产能力,终身致力于为国内外客户提供品质优良、性能出众、价格有竞争力之产品。目前已开发出多种半导体激光产品,其中激光标线器是一种方便实用的标线工具。可广泛用于作服装钉钮点光源定位、裁布机裁布辅助标线、缝纫机/裁剪机/钉钮机/自动手动断布机辅助标线定位、裁床裁剪对格与对条、电脑开袋机标线等等。方便快捷、直观实用。。  产品主要包括:半导体激光器、激光准直光源、激光平行光管、激光标线仪、光学透镜、实验室教学光源、激光功率计等。  半导体激光器主要包括绿光(532nm)系列激光器、红光(635nm、650nm、780nm)系列激光器和红外(808nm、850nm、980nm)系列激光器。  激光准直光源主要包括:D-系列(点状光斑)激光器、L-系列(一字线)激光器、S-系列(十字线)激光器、T1-系列(功率可调)激光器、T2-系列(频率调制)激光器,P-系列(平行光管)激光器,B-系列激光标线仪。其中D-系列激光器光束发散度可达0.1mrad;L-系列激光器线宽最小可达0.3mm;调制(T2)激光器调制范围0-10KHz。P-系列激光平行光管口径可达40mm,光束发散度可达0.02mrad。  激光功率计可标定532nm、635nm、650nm、780nm、808nm、850nm、980nm、1100nm各波段,工作同时可监测电流。  我公司激光产品及光学产品可广泛应用于科研、工业、勘探、测量及医疗等领域。可以根据用户的特殊要求设计加工专用激光器及光学系统,也可以提供激光系统应用和特殊用途的批量供应。“团结、自信、坚韧、进取”是我们的企业宗旨,我们将一如既往地为用户提供高品质的产品。
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小角激光散射仪相关的仪器

  • 仪器简介:SAXSpace(Small & Wide Angle X-Ray Scattering System)是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下,SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射,所测的2&theta 角度最大值为74° ,是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例:表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液:胶束尺寸,胶束形状,相行为,囊泡壁的内部结构等。生物材料:蛋白质在溶液中的形状和尺寸,内部结构,聚集状态,分子量等。分散体系:分散颗粒的形状和尺寸分布,分散体系的稳定性,颗粒集结成核现象,聚集状态等。纤维:内部结构,结晶度,取向度等。催化剂:比表面积,颗粒尺寸及分布,结晶度等。乳液:液滴的形状和内部结构,液滴的尺寸分布,不同温度时乳液的稳定性,胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物:结晶度,周期性纳米结构,取向度等。液晶:周期性结构的尺寸和形状,取向度等。技术参数:测量范围:0.13 ~ 200 nmX-射线光源:标准:密封管(线聚焦和/或点聚焦),其它光源:可选。光束尺寸:线光源为20 × 0.3 mm2,点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压:40 kV工作电流:50 mA样品量:固体只需几毫克,液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围:-150 ~ 300 ° C,灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间:1 ~ 60 min。主要特点:真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器:0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。
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  • 仪器简介:采用TurboCorr数字相关器,通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况,通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第二维里系数。经国内外众多顶级实验室使用,证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系最理想的测试仪器。技术参数:1.粒度范围:1nm-6um2.分子量范围:500~109Dalton3.分子大小范围:10~1000nm4.角度范围:8-162° ,± 0.01° 5.温控范围:-20 ~ 80℃(选件-20 ~ 150℃),± 0.1℃6.滤光片轮:632.8nm, 532nm, 514.5nm,488nm7.孔径轮:100 um,200 um,400um,1 mm,2 mm,3mm主要功能:1.动态光散射(DLS)功能 动态光散射又被称为光子相关谱法(PCS)或者准弹性光散射法,该方法使用自相关方程,自相关方程中包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散系数的平均值及其分布等信息。从扩散系数的分布中可以得到:1)粒度大小及其分布2) 其它动力学参数2.静态光散射(SLS)功能: 对于悬浮于液体中的颗粒,利用Mie散射形成光强与角度的函数关系,从而得到颗粒粒度大小与形状的信息。 对于高分子溶液,光强与角度、浓度形成的依赖关系(即浓度依赖性与角度依赖性),利用Zimm图(或其他类似的方法)可以得到以下参数:1)Mw绝对重均分子量2)Rg均方根回旋半径或均方末端矩3)A2第二维里系数主要应用:高分子特性研究(以动静态、静态光散射原理为基础)一、囊泡及脂质体 微胶囊技术在现代科技与日常生活中有重要作用,如药物、染料、纳米微粒和活细胞等都可以被包埋形成多种不同功能的微胶囊。利用动静态光散射表征技术,可以对微胶囊的几何形状、粒径大小和分子量大小进行表征,进而人为对微胶囊的囊壁组成和结构进行精确的控制与调控,从而调控微胶囊的各种性能。二、胶束的研究 胶束的大小、结构、温敏性、pH值敏感度等决定着胶束的性能及应用前景。而胶束体系DLS测量时具有明显的角度和浓度依赖性,将不同角度和不同浓度的DLS数据外推才能得到准确的扩散系数D0。三、聚电解质共聚物的研究 聚电解质具有高分子溶液的特性,例如粘度、渗透压和光散射等。由于它带有电荷,并且这三方面的性质又不同于一般的高分子。在光散射测量方面,通常把聚电解质溶解在一定浓度的盐溶液中,再在不同角度下测量样品光强,从来评价样品是否已被屏蔽掉库伦力影响。四、体系聚集与生长 由于体系的变化可以通过粒度、光强、扩散系数、相关曲线等的变化加以表征,所以通常我们可以用光散射的方法来表征,从而得到体系的聚集、解离以及生长等信息。如在蛋白质晶体生长过程中,连续采集其光散射信号,通过对其光强、粒度、扩散系数及相关曲线等变化数据进行对比与分析,了解蛋白质晶体生长的情况及其性能变化的情况。如外加温控设备可以进一步研究体系的相变温度等溶液行为。五、超高分子量聚合物的表征 超高分子量聚合物(如PAM、烯烃等)因其具有极高的粘度性,采用传统的测量方法(如GPC与光散射联用技术,粘度法等)难以保证准确性,而采用特殊匹配液池设计的广角光散射仪完全避免了管路堵塞、杂散光影响等问题,成为此类样品测量最适合的仪器。六、自组装影响组装体系稳定性的因素有:分子识别、组分、溶剂、温度及热力学平衡状况。而通过测定组装体系的扩散系数、粒径、分子量、均方根回旋半径,第二维利系数等变化,可以方便地表征自组装体系的这些性能。七、DLS和SLS技术还可以用来进行以下表征:1)微乳液2)液晶3)本体聚合物及晶体转变4)复杂聚合物与胶体体系蛋5)白质和DNA
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  • 一、前言作为物质存在的第四种状态的等离子体通常由电子、离子和处于基态以及各种激发态的原子、分子等中性粒子组成。等离子体中带电离子间库伦相互作用的长程特性,是带电粒子组分的运动状态对等离子体特性的影响起决定性作用,其中的电子是等离子体与电磁波作用过程中最重要的能量与动量传递粒子,因此,等离子体中最重要的基本物理参数是电子密度及其分布以及描述电子能量分布的函数以及相应的电子温度。而对于中高气压环境下产生的非热低温等离子体来说,等离子体中的主要组分是处于各种激发态的中性粒子,此时除了带电粒子外,中性粒子的分布和所处状态对等离子体电离过程和稳定性控制也起着非常重要的作用,尤其是各种长寿命亚稳态离子的激发。为了可以充分描述等离子体的状态,在实验上不仅要对带电粒子的分布和运动状态进行诊断,如电子温度、电子密度、电离温度等参数,还需要对等离子体中的中性粒子进行必要的实验测量,来获得有关物种的产生、能量分布以及各个激发态布居数分布等信息,如气体温度、转动温度、振动温度、激发温度等参数。基于这种要求,结合相关学科的各种技术形成了一个专门针对等离子体开展诊断研究的技术门类,如对等离子体中电子组分的诊断技术有朗缪尔探针法(Langmuir Probe),干涉度量法(Interferometer),全息法(Holographic Method),汤姆逊散射法(Thomason Scattering, TS),发射光谱法(Optical Emmission Spectroscopy, OES)等,对离子组分的光谱诊断技术有光腔衰减震荡(Cavity Ring-Down Spectroscopy, CRDS)和发射光谱法(OES),而对中性粒子的光谱诊断技术包括了吸收光谱法(Absorption Spectroscopy, AS),发射光谱法(OES),单光子或者双光子激光诱导荧光(Laser Induced Fluorescence, LIF)等。二、汤姆逊散射(Thomson Scattering)基于激光技术发展起来的汤姆逊散射诊断原本用于高温聚变等离子体的测量,借助激光技术和光电探测技术的突飞猛进,汤姆逊散射在近年也大量应用于低温等离子体的密度和电子温度的测量。汤姆逊散射具有空间分辨率高(局域测量),测量值稳定可靠等优点。测量的物理量:电子温度:下限0.1e密度:下限1019m-3.图1. 汤姆逊散射分析系统结构示意图2.1、激光束在等离子体中的束斑大小(束径DLP)激光束经过透镜聚焦,等离子体应该位于透镜的焦点,以达到激光束在等离子体中有最小的束径,最高的功率密度。DLP = f´ q其中f是聚焦透镜的焦距,q是激光束发散角,考虑各种综合因素,实际束径是上述公式的2倍左右。假设使用f=1000mm的聚焦透镜和q=0.5mrad的激光束,DLP大约是1mm。2.2、收集光学系统的光纤的像斑(fP)与等离子体中激光束径DLP的匹配为了有效的收集激光束上的散射光子,光纤的像斑fP应该完全覆盖激光的束径。理想情况是光纤的像斑与DLP尺寸完全相同,并且二者完全重合,这样激光的散射光最大,同时背景非散射光最小。但是考虑到实际的准直的难度,这样的理想条件在有限的资金投入下很难实现。建议fP是DLP的两倍,既能有效的收集散射光子,也能比较容易准直。如果DLP =1mm, fP =2mm是比较合适的。2.3、光纤的芯径、布局和光谱仪以及ICCD的选择汤姆逊散射谱线展宽与温度的关系如下:汤姆逊散射角度 Theta=90度;me是电子质量,c是光速,kB是玻尔兹曼常数,公式右边分母下面:是激光的波长 532nm;分子是谱线展宽,不过是1/e展宽因此汤姆逊散射光谱的半高宽△λ1/e(nm)与等离子体温度Te(ev)的关系可以简化为△λ1/e=1.487×Te1/2Te eV0.10.20.30.4124510△λ1/e nm0.470.530.810.941.492.102.973.324.70表1. 电子温度与汤姆逊散射谱半高宽对应值在光谱仪没有入射狭缝或者入射狭缝宽度超过光纤的芯径的情况下,光纤的芯径实际决定了谱仪的实际分辨率(仪器展宽):△λof = fof ´ LSPfof是光纤的芯径,LSP是谱仪的倒线色散率。针对于此应用,可以考虑选择两款光谱仪,分别是:1、Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni系列 750mm的谱仪,如果使用1200l/mm的光栅,LSP = 1nm/mm。测量电子温度的原则是仪器展宽应该与最低温度的展宽相当,才能有效的测量到最低温度。2、选用207(670mm焦距)光谱仪,在搭配1200l/mm光栅的情况下,LSP=1.24nm/mm,可以满足要求。同时可以考虑搭配1800l/mm光栅,这样的话可以兼容高电子温度和低电子温度的同时测量,以及同时兼顾高分辨和宽光谱。原则上,使用芯径400mm的光纤,△λof=0.4-0.48nm,完全符合0.1eV的测量要求。但是还是建议谱仪安装入射狭缝,靠狭缝来控制分辨率,不仅确保0.1 eV的测量要求,还能实现更低的温度测量。同时在调试阶段,靠狭缝来控制通光量,以免532nm的激光杂散光太强,对ICCD造成破坏。另一方面ICCD的尺寸决定了光纤的排布数量。光纤数量越多,对汤姆逊散射这种微弱光测量是越有利的。在信号很弱的时候,可以把几道合成一道使用,以增加信噪比,提高信号质量。因此在波长覆盖范围(CCD的横向尺寸)满足要求的情况下,ICCD的纵向尺寸应该尽量大一些,以便容纳更多的光纤。选用iStar 334T探测器,这款CCD的尺寸是13.3 ´ 13.3 mm,对焦距目前的光谱仪无论是Omni-750还是207在搭配1200l/mm光栅的情况下,波长覆盖范围是13nm左右,同时纵向13.3mm,容纳的光纤数量也更多,可以做更多的多道光谱。如果已有更大面阵的CCDsCMOS或高速相机,可以考虑使用Zolix 卓立汉光的IIM系列镜头耦合像增强模组与之配合,达到类似ICCD的功能和效果,同时获得更大的相机选取自由度;IIM 内部可以选择25mm 尺寸的增强器,1:1耦合到CCD, 可以获得更大的成像面,双层增强器也可以获得更高的增益;光纤的布局是一字型密集排布,在13mm的长度内,尽量的密布尽可能多的光纤。同时光纤应该严格排列在一条直线上,整排光纤的偏心距小于20mm。2.4、收集透镜的选择等离子体中心到透镜的距离L和光纤的芯径,及像斑决定了收集透镜的焦距。举例如下:如果像斑要求是fP =2mm,光纤芯径400mm, 则物像比是4,如果L=320mm, 则透镜的焦距就是320/4=80mm。同时如果观测的等离子体范围是50mm,那光纤一字排开的范围就是50mm/4=12.5mm。这个宽度和连接谱仪一侧的光纤束的尺寸很接近了,连接收集透镜一侧光纤也应该是密集排布,这样两端容纳的光纤数量就是匹配的。2.5、瑞利散射的滤除与使用瑞利散射信号通常也可以用来测试重粒子的相关信息比如中性原子。但是相比于瑞利散射法来说,作为弹性散射的汤姆逊散射法更多用于自由电子的测试。和离子与原子相比,由于自由电子的速度更快,质量更轻,因此具备更宽的光谱展宽。比较强的杂散光信号与更强的瑞利散射信号则可以通过例如布儒斯特窗、笼式结构或者黑丝挡板的方式滤除掉。图2 滤除瑞利散射的笼式结构示意光路因此在实际的测试过程中,如何合理地使用这些信号为等离子体诊断服务,则是另一个相关的话题。如图3[1]所示,为实际测试过程中得到的瑞利与汤姆逊散射信号如图4[2]所示,为实际测试过程中得到的滤除瑞利散射后的汤姆逊散射信号图3 包含瑞利散射与汤姆逊散射的实测信号图4 滤除瑞利散射后的汤姆逊信号2.6其他附属部件光电倍增管谱仪第二出射口配宽度可调的狭缝三维调整光学支架,用以调节镜头的方位和方向三、整体解决方案汇总推荐根据用户需求,一般推荐的配置如下:光谱仪:Zolix 北京卓立汉光仪器有限公司的Omni-500I 或750i光谱仪搭配1200l/mm和1800l/mm的全息光栅高光通量光谱仪,搭配120*140mm 或110*110mm 的大尺寸,高分辨率的1200l/mm光栅和1800l/mm光栅探测器:ICCD, 18mm 增强器,13*13mm 探测面;Zolix卓立汉光 公司的IIM-A系列 镜头耦合像增强模组,配合更大面阵的CCD或sCMOS相机, 18mm或25mm 的大面积增强器,灵活的CCD 相机选择; DG645数字延迟脉冲发生器:用于系统触发控制标准A光源,用于系统强度校准其他的配件:包括多道光纤,收集光路,可以后续一并考虑,先购买标准部件参考文献[1] Yong WANG, Cong LI, Jielin SHI, et al. Measurement of electron density and electron temperature of a cascaded arc plasma using laser Thomson scattering compared to an optical emission spectroscopic approach[J]. Plasma Sci. Technol. 19 (2017) 115403 (8pp) [2] Ma P, Su M, Cao S, et al. Influence of heating effect in Thomson scattering diagnosis of laser-produced plasmas in air[J]. Plasma Science and Technology, 2020.
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小角激光散射仪相关的资讯

  • 大塚电子发布大塚电子小角激光散射仪PP-1000新品
    小角激光散射仪 PP-1000 PP-1000小角激光散射仪利应用了小角光激光光散射法(Small Angle Laser Scattering,简称SALS),可以对高分子材料和薄膜进行原位检测,实时解析。与SAXS和SANS的装置相比,检测范围更广。利用偏光板的Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价,解析结晶性胶片的球晶半径,Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。 特点l 0.33 ~ 45°散射角度的测量,最短测试时间10 毫秒l 检测范围0.1μm ~数十微米l 可以在专用溶液单元中测量溶液样本l Hv散射,Vv散射测量可以在软件上轻松切换 用途l 高分子材料评价→结晶性胶片结晶化温度、球晶直径、结晶化速度配光、光学异方性→聚合物混合相分离过程和相关距离(分散度)→高分子凝胶三维架桥结构的大小→树脂热硬化树脂和UV硬化树脂的硬化速度 l 粒子物性评价粒子直径,凝聚速度 检测原理 小角激光散射仪由光源、偏振系统、样品台和记录系统组成。单色激光照射到样品时发生散射现象,散射光投射到屏幕上并被拍摄下来,得到样品的散射条纹图。操作过程:1.在样品台上放置样品。2.根据想要测量的对象调整检偏片。3.来自样品的散射图案会被相机记录下来。 当起偏片与检偏片的偏振方向正交时,得到的光散射图样叫做Hv散射;当起偏片与检偏片的偏振方向均为垂直方向时,得到的光散射图样叫做Vv散射。从这些散射图形中可以获取球晶半径、相分离结构、分散相颗粒平均粒径、配向状态等信息。l Hv散射 球晶半径解析:R = 4.09 / qmax(R:球晶半径,qmax:散射光强度最大的散射向量) q = 4πn/λsin(θ/ 2)(q:散射向量, λ:介质中的波长,n:样品折射率,θ:散射角) l Vv散射 对聚合物混合的相分离过程的评价连续相与分散相的大小,分散相颗粒平均粒径(分散度)粒子直径的评价相分离构造与相关距离检测 技术参数 应用案例 l PVDF球晶半径分析 溶融温度230℃結晶化温度160℃PP-1000散射图样 偏光显微镜图样 各时间45°方向的散射向量提取 球晶半径计算创新点:1.0.33 ~ 45° 散射角度的测量,最短测试时间10 毫秒 2.检测范围0.1μ m ~数十微米 3.可以在专用溶液单元中测量溶液样本 4.Hv散射,Vv散射测量可以在软件上轻松切换 大塚电子小角激光散射仪PP-1000
  • CSNS微小角中子散射谱仪成功出束
    2023年1月4日下午,中国散裂中子源(CSNS)微小角中子散射谱仪成功出束,开始带束调试。微小角中子散射谱仪由广东省科技厅资助,是国际首台飞行时间多狭缝微小角中子散射谱仪,兼具常规小角、极化小角和多狭缝微小角模式,配备液体、高温、流变、停-留、磁场、小角/广角X射线等样品环境和实验条件,可同时测量0.3-1000纳米的多尺度范围,获取样品的中子衬度分布、绝对质量、基本形状以及散射体之间相互作用等信息。微小角中子散射谱仪是CSNS第四台出束的合作谱仪,2019年11月开始建设,时逢疫情,微小角中子散射谱仪项目组、中子科学部相关专业组、高能所东莞研究部相关部门团结奉献,协力创新,克服谱仪建设期间疫情的多重影响,攻克激光辅助多狭缝位置调节、陶瓷基体高位置分辨GEM探测器等首创关键技术,保证了谱仪设计、研制、安装与调试的顺利实施。首次出束测试获得的小角模式样品处中子飞行时间谱、微小角模式VSANS探测器处中子强度分布等结果表明谱仪光路与设计相符,标志着谱仪多狭缝技术方案有效实现,机械设备研制与安装成功。微小角中子散射谱仪将应用于关系国计民生的重大前沿科学问题攻关,例如:生命科学领域信使疫苗结构和作用机理、化学领域高分子基特种纤维加工成型关键技术、材料科学领域量子材料结构和性能关系、能源科学领域电池隔膜形貌调控等。微小角中子散射谱仪也将与CSNS已运行的小角散射谱仪互补,广泛应用于生物、医药、化学、材料、环境、物理等多学科领域研究,为粤港澳大湾区和我国的相关产业技术升级提供先进的研究平台支撑。
  • 帕纳科推出X射线小角散射附件及专机专用的XRF
    仪器信息网讯 2013年10月23日-26日,第十五届BCEIA举行。会议期间帕纳科展示了最新推出的ScatterX78 小角/广角附件及Epsilon 1能量色散型X射线荧光光谱仪。仪器信息网编辑特别采访了帕纳科中国区经理薛石雷,请他介绍了这两款新产品的最新特点。 帕纳科中国区经理薛石雷   X射线小角散射是研究纳米粒子的大小、形状及分布的重要工具。与激光粒度仪测试纳米粒度相比,X射线小角散射仪测定结果为一次颗粒的粒度分布,即使纳米颗粒不能很好的分散形成团聚,测试结果也不会受到影响。 ScatterX78小角/广角附件   薛石雷介绍说:&ldquo ScatterX78小角/广角附件虽然是一个附件,但是也可以当做一台仪器来看。它可以配置于Empyrean锐影多功能衍射仪系统上,完成过去一台专用的小角散射仪能够完成的所有工作内容,能够满足专业X射线小角散射研究人员的研究需求。该附件拥有0.08-78° 的连续角度范围,易于安装,不需要校准。&rdquo   &ldquo 从我们的观察来看,随着化工材料、食品科学以及新兴材料的研究,越来越多的材料科学研究人员利用X射线小角散射技术进行材料研究。在过去,如果要深入研究X射线小角散射信息,需要专门X射线小角散射仪来做,帕纳科以前也有这类仪器,做这方面研究的人员同时还得配备X射线衍射仪来研究晶体结构。而现在帕纳科推出ScatterX78 小角/广角附件,用户只要在原来的X射线衍射仪上配置该附件就可以满足研究要求,这样不仅节约经费、节省了仪器的占地面积。同时用户可以很好的借助X射线衍射仪这一平台,实现二维X射线小角散射,在使用的方便性方面将有很大优势。&rdquo Epsilon 1能量色散X射线荧光光谱仪   Epsilon 1是帕纳科最新推出能量色散X射线荧光光谱仪。据介绍,该仪器在全球发布还不到一个星期。   薛石雷介绍说:&ldquo 目前,能量色散X射线荧光光谱仪的发展颇受关注,其中一个比较重要的发展方向就是&ldquo 小型化、专机专用&rdquo 。Epsilon 1就是迎合这种发展趋势推出的仪器,它是一个系列,包括专用于油中硫、润滑油、制药、矿业、科研等不同行业的应用的仪器。它的特点是体积小、拥有内置的触屏计算机。另外,Epsilon 1在出厂前已经进行了预先校准,固化了无标定量软件,可以直接进行分析应用,操作人员只要按一个键就可以得到想要的分析结果,大大降低了对分析操作人员的专业要求。 帕纳科展位现场

小角激光散射仪相关的方案

  • 土壤粒径的激光散射法和沉淀法分析及模拟转化
    土壤质地是土壤最基本的物理性质之一,它能表明不同的土壤的粒径分布和粒径组分比例。目前,有多种通过物理方法对土壤粒径进行测试,其中的吸管法是根据不同大小粒子的沉降速度来测粒径,是目前认为的标准方法。随着科技的发展,激光散射等光学测试法也逐渐被用于土壤粒径的测试。但不用的物理方式(此文基于激光散射)测得的结果与传统的沉降法的结果不是1:1的关系,这导致很多研究者不愿意接受激光散射技术。随着多线性回归模型的发展,使得传统沉降法的结果可以与激光散射法之间进行转化。因此我们对河床深度在15-20cn和40-45cm的河床土壤132个样本用激光散射法进行了分析,再将结果与吸管法对比。并应用线性函数、指数函数、幂函数、多项式推导回归关系,并对回归系数(R2)较高的函数进行了进一步的研究。 发现最符合的是多项式回归模拟。从结果来看, 0.01mm的黏土的多项式回归函数模拟得到了一个比较可信的值(R2),例如在15-20cm深度的土壤是0.72-0.95,在40-45深度的土壤是0.90-0.96。由于粘粒是土壤类型的重要指标,在利用激光散射分析时,我们推荐使用土壤科学的模拟推导关系进行分析。激光散射分析耗时短、用量少、适用多粒径组分、各种土壤类型和广的测试范围,所以有必要在此领域做一个深度的研究,以强调土壤科学研究的急需性,并用先进的激光散射方法代替传统的吸管法。
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