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芯片封装测试仪

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  • pcb IC焊接质量测试手段-芯片推拉力测试仪

    pcb IC焊接质量测试手段-芯片推拉力测试仪

    芯片推拉力测试仪 IC焊接强度测试仪 IC推拉力测试仪 功能推拉力测试机: 采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克 推拉力测试机(多功能剪切力测试仪)是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器,是填补国内空白的微电子和电子制造领域的重要仪器设备。该设备测试迅速、准确、适用面广、测试精度高,适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、军工等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。该设备无论测试精度、重复可靠性、操控性和外观设计,均达到世界一流的水平。应用包括:wire pull, ball shear, tweezer pul,cold bump pull 和更专业的stud pull 等等。推拉力测试系统适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 , 原件与基板黏合测试;推拉力测试机特点: 1、重量:65公斤 2、外观:宽620毫米×长520毫米×高700毫米 3、工作台X方向和Y方向最大行程60毫米;解析度0.25微米;运动时速度2.5毫米/秒;;可承受最大力200公斤;Z方向最大行程70毫米; 解析度1微米;运动时速度10毫米/秒;可承受最大力100公斤 4、测量范围:100克/5000克/10公斤/100公斤 5、测量精度:0.1% 6、测量标准:国家鉴定 标准推拉力测试机功能: 1、可实现多功能推拉力测试;2、任意组合可实现多种功能测试; 3、满足单一测试模组; 4、创新的机械设计模式; 5、强大的数据处理功能; 6、简易的操作模式,方便、有效。推拉力试验机应用: 1、可进行各种推拉力测试: 金球、锡球、芯片、导线、焊接点等 2、最大测试负载力达500kg 3、独立模组可自由添加任意测试模组: 4、强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表等功能 5、 X 和 Z 轴可同时移动使拉力角度保持一致 6、程式化自动测试功能拉力测试 ·金/铝线拉力测试 ·非破坏性拉力测试(无损拉克) ·铝带拉力测试 ·非垂直(任何角度)拉力测试 ·夹金/铝线拉力测试 ·夹元件拉力测试 ·薄膜/镀膜/芯片/[color=black

  • 【实战宝典】半导体集成电路芯片封装指的是什么?

    【实战宝典】半导体集成电路芯片封装指的是什么?

    问题描述:半导体集成电路芯片封装指的是什么?解答:[font=宋体][color=black]集成电路封装是半导体开发的最后一个阶段,不仅起着物理包裹、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是芯片内部世界与外部电路沟通的桥梁。封装是将载板技术、芯片封装体、元器件等全部要素按照设备整机的要求进行连接装配,以实现芯片的多方面功能并满足整机和系统的适应性。[/color][/font][align=center][font='Times New Roman','serif'][color=black][img=,386,224]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207041430104834_1301_3389662_3.jpg!w385x224.jpg[/img][/color][/font][/align][align=center][font=宋体][color=black]芯片封装示意图[/color][/font][font='Times New Roman','serif'][color=black]*[/color][/font][font=宋体][color=black]引自[/color][/font][font='Times New Roman','serif'][color=black][5] p12[/color][/font][/align]以上内容来自仪器信息网《[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]实战宝典》

  • 谈谈芯片设计公司为什么要做芯片测试?

    谈谈芯片设计公司为什么要做芯片测试?

    [img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311221551418573_4784_6253876_3.jpg!w690x690.jpg[/img]对于芯片设计公司来说,测试至关重要,不亚于电路设计本身。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发,在整个设计过程中,需要-直考虑测试相关的问题,主要有下面几个原因:1)随着芯片的复杂度原来越高, 芯片内部的模块越来越多,制造工艺也是越来越先进,对应的失效模式越来越多,而如何能完整有效地测试整个芯片,在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2)设计、 制造、甚至测试本身,都会带来-定的失效, 如何保证设计处理的芯片达到设计目标,如何保证制造出来的芯片达到要求的良率,如何确保测试本身的质量和有效,从而提供给客户符合产品规范的、质量合格的产品,这些都要求必须在设计开始的第一时间就要考虑测试方案。3)成本的考量。 越早发现失效,越能减少无谓的浪费 设计和制造的冗余度越高,越能提供最终产品的良率 同时,如果能得到更多的有意义的测试数据,也能反过来提供给设计和制造端有用的信息,从而使得后者有效地分析失效模式,改善设计和制造良率。芯片的测试离不开可靠的测试工具-1C测试座,凯力迪公司致力服务于各大芯片设计、封测公司,为其提供性能可靠,极具性价比的IC测试座产品,封装种类齐全,产品线覆盖范围广,对于非标的新型芯片,更可提供测试座的一件起定制服务。

  • 【原创大赛】福禄克17B万用表软封装主板芯片的更换

    【原创大赛】福禄克17B万用表软封装主板芯片的更换

    Fluke15B、17B、18B(2014年后升级为15B+、17B+、18B+)数字万用表,功能齐全,测量准确,使用2节5#电池,非常方便耐用,市场占有率较大。 Fluke系列万用表做工精细,质量可靠,很少出现故障。早期生产的Fluke15B、17B万用表主板电路上焊接一枚台湾富晶公司生产的FS9721_LP3带微处理的3/4位AD转换芯片,这种硬封装电路,集块损坏后可以直接更换芯片,后期生产的Fluke15B、17B主板电路,主板和芯片软封装在一起,这种电路,芯片损坏后只能更换整块主板。 本文讲述的是在测量过程中因行扫变压器高压放电导致Fluke17B万用表主板上软封装芯片损坏(电阻档、毫伏档失去测量功能),不更换主板的一种修复方法。修复过程如图所示:[img=,601,311]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241727197475_8553_2156493_3.png!w601x311.jpg[/img] 图1 因高压放电损坏的Fluke 17B万用表(电阻档) 正常电阻档位:屏幕应显示“OL”(无穷大)[img=,600,393]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241728322328_9322_2156493_3.png!w600x393.jpg[/img] 图2 因高压放电损坏的Fluke 17B万用表(mv档) 正常毫伏档位:屏幕应显示数字(0.003mv左右)[img=,607,305]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241728395425_8834_2156493_3.png!w607x305.jpg[/img] 图3 Fluke 17B万用表软封装主板电路(芯片损坏)我们看福禄克万用表软封装主板电路,芯片周边预留了FS9721_LP3集块引脚焊接走线,只要我们去除掉损坏的软封装芯片,就可以修复主板。[img=,600,319]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241735000761_2918_2156493_3.png!w600x319.jpg[/img] 图4 用砂轮磨掉主板电路上的黑色软封装芯片 小心操作!不要损伤外围元件!这一步是关键![img=,597,391]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241735568861_9368_2156493_3.png!w597x391.jpg[/img] 图5 精细打磨掉多余引线,减小分布电容,吹净后,用烙铁在预留引脚上上锡[img=,599,373]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241737547011_4500_2156493_3.png!w599x373.jpg[/img] 图6 从网上购买集块FS921_LP3(连邮费我花了45元)[img=,603,381]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241738572525_8500_2156493_3.png!w603x381.jpg[/img] 图7 焊接芯片(注意引脚方向1-100)[img=,599,301]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241739541855_8251_2156493_3.png!w599x301.jpg[/img] 图8 修复好的Fluke 17B数字万用表[img=,600,478]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241740469745_7608_2156493_3.png!w600x478.jpg[/img] 图9 校准器具,VICTOR15+,福禄克287(比对)[img=,606,490]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241742005822_2863_2156493_3.png!w606x490.jpg[/img] 图10 主板内各校准电位器功能说明 R35和R49温度校准,R18直流电压校准,R8交流电压校准,R11电容校准,R64电阻校准(2个大箭头指向点之间电阻9.9-10MΩ),R27毫安电流校准,R29大电流A校准,电压、电流、电容校准电位器调整顺时针旋转—增加数值,逆时针调整—减小数值。[img=,598,366]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241742095971_1277_2156493_3.png!w598x366.jpg[/img] 图11 DC电压校准(校准前,发生100.00mv,显示98.7mv)[img=,597,395]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241742160948_9853_2156493_3.png!w597x395.jpg[/img] 图12 校准后(发生100.00mv,显示100.0mv) 交流电压、电流、电阻、电容档校准不再叙述,从整个校准过程结果看,误差不大,如果没有校准条件,也可以不校准。 小结:正常情况下,电路中的集成电路很少损坏,损坏多为雷击、高压放电、静电或人为原因引起。本文为大家介绍了软封装集成电路损坏的一种修复方法,相比更换整块主板节省了许多费用。

  • 超省电段码驱动芯片VKL144A/B小封装液晶屏驱动-资料

    超省电段码驱动芯片VKL144A/B小封装液晶屏驱动-资料

    VKL144A/B 超低功耗段码LCD液晶显示屏驱动IC简介:产品型号:VKL144A/B 产品品牌:永嘉微电/VINKA封装形式:TSSOP48/QFN48 产品年份:新年份简述:VKL144A/B 是一个点阵式存储映射的LCD 驱动器,可支持最大144 点(36SEGx4COM )的LCD 屏。单片机可通过I2C 接口配置显示参数和读写显示数据,可配置4 种功耗模式,也可通过关显示和关振荡器进入省电模式。其高抗干扰,低功耗的特性适用于水电气表以及工控仪表类产品。(C36-113)[img=,500,440]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311151622137037_331_6207987_3.png!w500x440.jpg[/img]功能★ 液晶驱动输出: Common 输出4线;Segment 输出36线★ 内置Display data RAM (DDRAM)★ 内置RAM容量:36*4 =144 bit★ 液晶驱动的电源电路1/2 ,1/3 Bias ,1/4 Duty★ -许-生-13632814412-Q2885157526-★ 内置Buffer AMP★ I2C串行接口(SCL, SDA)★ 内置振荡电路★ 不需要外围部件★ 低功耗设计★ 搭载等待模式★ 内置Power-on Reset电路★ 搭载闪烁功能★ 工作电源电压: 2.5-5 .5V★ 封装:TSSOP48/QFN48[img=,500,358]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311151622372051_2205_6207987_3.png!w500x358.jpg[/img](永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)LCD驱动、液晶显示IC、LCD显示、液晶显示、显示LCD、段码液晶屏驱动、LCD液晶显示、段码屏LCD驱动、LCD显示驱动芯片、LCD显示驱动IC、液晶驱动原厂、LCD屏驱动、液晶屏驱动、驱动LCD、驱动液晶、LCD驱动控制器、液晶显示驱动原厂、段码LCD驱动、液晶段码屏驱动、液晶显示驱动芯片、点阵式液晶显示驱动、点阵式液晶显示IC、液晶驱动IC、液晶驱动芯片、LCD芯片、液晶芯片、液晶驱动控制器、液晶IC、段码驱动显示IC、笔段式液晶驱动、LCD液晶显示驱动、液晶LCD显示驱动、段码屏驱动厂家、段码驱动IC、段码驱动芯片、段码屏显IC、LCD显示IC、笔段式LCD驱动、LCD显示芯片、段码屏显示IC、段码屏显示芯片、LCD段码液晶驱动、段码LCD液晶驱动、段码驱动原厂、液晶显示芯片、段式液晶驱动、段码显示IC、LCD液晶屏驱动、笔段LCD驱动、LCD段码屏驱动、液晶屏驱动IC、液晶屏驱动芯片、液晶段码LCD驱动、液晶LCD段码驱动、LCD驱动器、液晶驱动电路、LCD驱动IC、断码LCD驱动、段码屏驱动原厂、LCD驱动厂家、LCD屏驱动IC、点阵式LCD驱动、LCD屏驱动芯片、点阵段码屏驱动、点阵液晶屏驱动、段码液晶驱动芯片、段码屏驱动、LCD驱动原厂、LCD驱动芯片、LCD段码驱动、LCD液晶驱动、液晶驱动IC原厂、液晶显示驱动IC、点阵LCD驱动、段式LCD驱动、LCD显示驱动、液晶显示驱动、段码液晶驱动# LCD芯片

  • 4通道水检芯片VK36W4D/封装SOP16电容式触控IC原厂

    4通道水检芯片VK36W4D/封装SOP16电容式触控IC原厂

    概述:VK36W4D具有4个触摸检测通道,可用来检测4个点的水位。该芯片具有较高的集成度, 仅需极少的外部组件便可实现触摸按键的检测。 提供了4路输出功能。芯片内部采用特殊的集成电路,具有高电源电压抑制比,可减少按 键检测错误的发生,此特性保证在不利环境条件的应用中芯片仍具有很高的可靠性。 此触摸芯片具有自动校准功能,低待机电流,抗电压波动等特性,为检测4点水位的应用 提供了一种简单而又有效的实现方法。/ C56-53[img=,600,321]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/02/202402271552590283_5725_6207987_3.png!w600x321.jpg[/img]特点:? 工作电压 2.2-5.5V? 待机电流10uA/3.0V? 上电复位功能(POR)? 低压复位功能(LVR)? 许生13632814412? 4S自动校准功能? 可靠的触摸按键检测? Q2885157526? 4S检测无水进入待机模式? 上电前有水也可以可靠的检测? 4点水位检测? 1对1直接输出? 任意通道有水W_FLAG输出信号? 上电时OPT脚选择输出高有效还是低有效? 专用管脚外接电容(1nF-47nF)调整灵敏度? 极少的外围组件 ? 具备抗电压波动功能? 可用金属探针接触水检测,也可在水箱外面不接触水 检测信号? 封装 SOP16(150mil)(9.9mm x 3.9mm PP=1.27mm) [img=,685,674]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/02/202402271553245370_1501_6207987_3.png!w685x674.jpg[/img]1-8点高灵敏度抗干扰液体水位检测IC-VK36W系列VK36W1D 工作电压/待机电流:2.2V-5.5V/10μA(3V) 水位检测通道数:1 输出方式:直接输出可用于不同壁厚和不同水质水位检测,抗电源及手机干扰 ,可通过专用管脚电容调节灵敏度 封装:SOT23-6 备注:1. 开漏输出低电平有效 2、适合需要抗干扰性好的产品应用VK36W2D 工作电压/待机电流:2.2V-5.5V/10μA(3V) 水位检测通道数:2 输出方式:直接输出可用于不同壁厚和不同水质水位检测,抗电源及手机干扰 ,可通过专用管脚电容调节灵敏度 封装:SOP8 备注:1. 开漏输出低电平有效 2、适合需要抗干扰性好的产品应用VK36W4D 工作电压/待机电流:2.2V-5.5V/10μA(3V) 水位检测通道数:4 输出方式:直接输出可用于不同壁厚和不同水质水位检测,抗电源及手机干扰 ,可通过专用管脚电容调节灵敏度 封装:SOP16/QFN16 备注:1. 开漏输出低电平有效 2、适合需要抗干扰性好的产品应用VK36W6D 工作电压/待机电流:2.2V-5.5V/10μA(3V) 水位检测通道数:6 输出方式:直接输出可用于不同壁厚和不同水质水位检测,抗电源及手机干扰 ,可通过专用管脚电容调节灵敏度 封装:SOP16/QFN16 备注:1. 开漏输出低电平有效 2、适合需要抗干扰性好的产品应用VK36W8I 工作电压/待机电流:2.2V-5.5V/10μA(3V) 水位检测通道数:8 输出方式:I2C输出可用于不同壁厚和不同水质水位检测,抗电源及手机干扰 ,可通过专用管脚电容调节灵敏度 封装:SOP16/QFN16 备注:1. 开漏输出低电平有效 2、适合需要抗干扰性好的产品应用(永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)触摸触控芯片、触摸感应芯片、触摸检测芯片、触控感应芯片、触控检测芯片、电容式触摸芯片、电容式触控芯片、触摸芯片、触控芯片、单键触摸、单键触控、触摸触控IC、触摸感应IC、触摸检测IC、触控感应IC、触控检测IC、电容式触控IC、电容式触摸IC、触摸IC、触控IC、触摸按键、触摸调光、触控按键、触控调光、触控滑条、触摸滑条、专业触摸芯片、触摸方案、触摸感应芯片原厂、触摸感应方案原厂、触感触控方案原厂、触控触感方案原厂、电容式触控IC原厂、电容式触控IC原厂、触摸感应IC原厂、单键/单通道触摸芯片、2/两键触摸触控芯片;3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/17/18/19/20键触摸芯片、抗干扰水位检测、抗干扰液位检测、抗干扰液体检测、抗干扰水检IC、抗干扰水检芯片、水位检测芯片、水位检测IC、液位检测芯片、液位检测IC、液体检测芯片、液体检测IC、水位液位检测芯片、水位液位检测IC、液位水位检测芯片、液位水位检测IC

  • 低电流单通道触摸芯片VKD233HH超小封装单路感应/触摸感应方案原厂

    低电流单通道触摸芯片VKD233HH超小封装单路感应/触摸感应方案原厂

    产品型号:VKD233HH产品品牌:永嘉微电 / VINKA封装形式:SOT23-6产品年份:新年份简述:VKD233HH 是单按键触摸检测芯片,此触摸检测芯片内建稳压电路 , 提供稳定的电压给触摸感应电路使用,稳定的触摸检测效果可以广泛的满足不同应用的需求,此触摸检测芯片是专为取代传统按键而设计,触摸检测 PAD 的大小可依不同的灵敏度设计在合理的范围内,低功耗与宽工作电压,是此触摸芯片在 DC 或 AC 应用上的特性。(C36-23)[img=,690,370]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311031421273717_5810_6207987_3.png!w690x370.jpg[/img]标准触控IC-电池供电系列:VKD223EB 工作电压/工作电流/待机电流:2.0V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/ 锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6;DICE/DIE 裸片(绑定COB) 低功耗VKD223B 工作电压/工作电流/待机电流:2.0V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗VKD233DG/HG 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 低功耗VKD233DB/HB 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗VKD233DH/HH 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗/长按16S复位VKD233DS/HS 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 长按16S复位VKD233DR/HR 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 低功耗/长按16S复位VKD233DQ/HQ 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 长按16S复位VKD233DM/HM 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/5.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:开漏输出(低有效) 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 长按16S复位VKD232C 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接 输出(低有效) 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗/长按16S复位VKD104BR/CR 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SOP8 低功耗VKD104BR-3H/VKD104CR-3H 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:3 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SOP8 低功耗VKD104 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:DICE/DIE裸片(绑定COB) 低功耗;可选择长按16S复位/不复位VKD104BC/CC 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SOP16 低功耗;可选择长按16S复位/不复位VKD104CB/SB 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SSOP16 低功耗;可选择长按16S复位/不复位[img=,690,256]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311031422257347_9849_6207987_3.png!w690x256.jpg[/img](永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC) 许生/1363/281/44/12///Q288/515752/6////触摸触控芯片、触摸感应芯片、触摸检测芯片、触控感应芯片、触控检测芯片、电容式触摸芯片、电容式触控芯片、触摸芯片、触控芯片、单键触摸、单键触控、触摸触控IC、触摸感应IC、触摸检测IC、触控感应IC、触控检测IC、电容式触控IC、电容式触摸IC、触摸IC、触控IC、触摸按键、触摸调光、触控按键、触控调光、触控滑条、触摸滑条、专业触摸芯片、触摸方案、触摸感应芯片原厂、触摸感应方案原厂、触感触控方案原厂、触控触感方案原厂、电容式触控IC原厂、电容式触控IC原厂、触摸感应IC原厂、单键/单通道触摸芯片、2/两键触摸触控芯片;3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/17/18/19/20键触摸芯片、抗干扰水位检测、抗干扰液位检测、抗干扰液体检测、抗干扰水检IC、抗干扰水检芯片、水位检测芯片、水位检测IC、液位检测芯片、液位检测IC、液体检测芯片、液体检测IC、水位液位检测芯片、水位液位检测IC、液位水位检测芯片、液位水位检测IC[align=center]注:具体参数请以最新PDF为准,型号众多未能一一介绍,欢迎索取PDF/样品。[/align]

  • 推荐一款封装SSOP28的数显LED驱动芯片VK1640A/数码管驱动原厂

    推荐一款封装SSOP28的数显LED驱动芯片VK1640A/数码管驱动原厂

    产品品牌:永嘉微电/VINKA,产品型号:VK1640A,封装形式:SSOP28简述:VK1640A是一种数码管或点阵LED驱动控制专用芯片,内部集成有数据锁存器、LED驱动等电路。SEG脚接LED阳极,GRID脚接LED阴极,可支持8SEGx16GRID的点阵LED显示。适用于小型LED显示屏驱动。采用SSOP28的封装形式。 (C28-235)特点:工作电压 3.0-5.5V内置 RC振荡器8个SEG脚,16个GRID脚SEG脚只能接LED阳极,GRID脚只能接LED阴极2线串行接口8级整体亮度可调内置显示RAM为8x16位内置上电复位电路封装:SSOP28(150mil) (9.9mm x 3.9mm PP=0.635mm)[img=,630,483]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310301153370671_2736_6207987_3.png!w630x483.jpg[/img][img=,630,342]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310301153195418_2265_6207987_3.png!w630x342.jpg[/img]内存映射的LED控制器及驱动器:VK16D32 3.0~5.5V 驱动点阵:96 共阴驱动:8段12位 共阳驱动:--- 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:<1mA<10μA 按键:--- 封装:SSOP24 恒流驱动VK16D33 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:8段16位 共阳驱动:--- 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:<1mA<10μA 按键:--- 封装:SOP28 恒流驱动VK16K33A 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:16段8位; 共阳驱动:8段16位 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:typ.1mA/1μA 按键:13*3 封装:SOP28 驱动电流大,适合高亮显示场合VK16K33AA 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:16段8位; 共阳驱动:8段16位 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:typ.1mA/1μA 按键:13*3 封装:SSOP28 驱动电流大,适合高亮显示场合VK16K33B 3.0~5.5V 驱动点阵:96 共阴驱动:12段8位; 共阳驱动:8段12位 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:typ.1mA/1μA 按键:10*3 封装:SOP24 驱动电流大,适合高亮显示场合VK16K33BA 3.0~5.5V 驱动点阵:96 共阴驱动:12段8位; 共阳驱动:8段12位 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:typ.1mA/1μA 按键:10*3 封装:SSOP24 驱动电流大,适合高亮显示场合VK16K33C 3.0~5.5V 驱动点阵:64 共阴驱动:8段8位; 共阳驱动:8段8位 通讯接口:SCL/SDA 静态电流/待机电流:typ.1mA/1μA 按键:8*3 封装:SOP20 驱动电流大,适合高亮显示场合VK1640 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:8段16位 共阳驱动:16段8位 通讯接口:CLK/DIN 静态电流/待机电流:<0.1mA/-- 按键:--- 封装:SOP28VK1640A 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:8段16位 共阳驱动:16段8位 通讯接口:CLK/DIN 静态电流/待机电流:<0.1mA/-- 按键:--- 封装:SSOP28VK1640B 3.0~5.5V 驱动点阵:96 共阴驱动:8段12位 共阳驱动:12段8位 通讯接口:CLK/DIN 静态电流/待机电流:<0.1mA/-- 按键:--- 封装:SSOP24VK1650 3.0~5.5V 驱动点阵:32 共阴驱动:8段4位 共阳驱动:4段8位 通讯接口:CLK/DAT 静态电流/待机电流:typ.0.3mA/50μA 按键:7*4 封装:SOP16/DIP16VK1Q60 3.0~5.5V 驱动点阵:32 共阴驱动:8段4位 共阳驱动:4段8位 通讯接口:CLK/DAT 静态电流/待机电流:<0.1mA/--- 按键:7*4 封装:QFN16VK1651 3.0~5.5V 驱动点阵:28 共阴驱动:4段7位 共阳驱动:7段4位 通讯接口:CLK/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:7*1 封装:SOP16/DIP16VK1637 3.0~5.5V 驱动点阵:48 共阴驱动:6段8位 共阳驱动:8段6位 通讯接口:CLK/DIO 静态电流/待机电流:--/-- 按键:8*2 封装:SOP20/DIP20VK1616 3.0~5.5V 驱动点阵:28 共阴驱动:7段4位 共阳驱动:4段7位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:--- 封装:SOP16/DIP16 抗干扰能力强VK1618 3.0~5.5V 驱动点阵:35/36/35/32 共阴驱动:5段7位;6段6位;7段5位;8段4位 共阳驱动:7段5位;6段6位;5段7位;4段8位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:5*1 封装:SOP18/DIP18 抗干扰能力强VK1620B 3.0~5.5V 驱动点阵:48/45/40 共阴驱动:8段6位;9段5位;10段4位 共阳驱动:6段8位;5段9位;4段10位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:--- 封装:SOP20 抗干扰能力强VK1624 3.0~5.5V 驱动点阵:77/72/65/56 共阴驱动:11段7位;12段6位;13段5位;14段4位 共阳驱动:7段11位;6段12位;5段13位;4段14 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:--- 封装:SOP24/DIP24 抗干扰能力强VK1S68C 3.0~5.5V 驱动点阵:70/66/60/52 共阴驱动:10段7位;11段6位;12段5位;13段4位 共阳驱动:7段10位;6段11位;5段12位;4段13位 通讯接口:CLK/STB/DIO静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:10*2 封装:SSOP24 抗干扰能力强VK1Q68D 3.0~5.5V 驱动点阵:70/66/60/52 共阴驱动:10段7位;11段6位;12段5位;13段4位 共阳驱动:7段10位;6段11位;5段12位;4段13位 通讯接口:CLK/STB/DIO静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:10*2 封装:QFN24 抗干扰能力强VK1668 3.0~5.5V 驱动点阵:70/66/60/52 共阴驱动:10段7位;11段6位;12段5位;13段4位 共阳驱动:7段10位;6段11位;5段12位;4段13位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:10*2 封装:SOP24/SSOP24 抗干扰能力强VK1628 3.0~5.5V 驱动点阵:70/66/60/52 共阴驱动:10段7位;11段6位;12段5位;13段4位 共阳驱动:7段10位;6段11位;5段12位;4段13位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<1mA/-- 按键:10*2 封装:SOP28 抗干扰能力强VK1S38A 3.0~5.5V 驱动点阵:64 共阴驱动:8段8位 共阳驱动:8段8位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*3 封装:SSOP24 抗干扰能力强VK1638 3.0~5.5V 驱动点阵:80 共阴驱动:10段8位 共阳驱动:8段10位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*3 封装:SOP28 抗干扰能力强VK1629 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:16段8位 共阳驱动:8段16位 通讯接口:CLK/STB/DIN/DOUT 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*4 封装:LQFP44(QFP44正方形); 抗干扰能力强VK1629A 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:16段8位 共阳驱动:8段16位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:--- 封装:SOP32 抗干扰能力强VK1629B 3.0~5.5V 驱动点阵:112 共阴驱动:14段8位 共阳驱动:8段14位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*2 封装:SOP32 抗干扰能力强VK1629C 3.0~5.5V 驱动点阵:120 共阴驱动:15段8位 共阳驱动:8段15位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*1 封装:SOP32 抗干扰能力强VK1629D 3.0~5.5V 驱动点阵:96 共阴驱动:12段8位 共阳驱动:8段12位 通讯接口:CLK/STB/DIO 静态电流/待机电流:<5mA/-- 按键:8*4 封装:SOP32 抗干扰能力强VK6932 3.0~5.5V 驱动点阵:128 共阴驱动:8段16位 共阳驱动:16段8位 通讯接口:CLK/STB/DIN 静态电流/待机电流:<0.1mA/-- 按键:--- 封装:SOP32 抗干扰能力强———————————————————————————————————(永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)LED驱动、LED屏驱动、数显驱动IC、LED芯片、LED驱动器、数码管显示驱动、LED显示驱动、LED数显驱动原厂、LED数显驱动芯片、LED驱动IC、点阵LED显示驱动、LED屏驱动IC、数显驱动芯片、数码管芯片、数码管驱动、数显屏驱动、数显IC、数显芯片、数显驱动、LED数显IC、数显驱动原厂、LED屏驱动芯片、LED数显驱动IC、LED数显驱动IC、LED驱动电路、数显LED屏驱动、LED数显屏驱动、LED显示屏驱动、LED数码管驱动、数显LED驱动、LED数显驱动、数码管显示IC、数码管显示芯片、数码管驱动芯片、LED显示驱动芯片、显示数码管驱动、LED控制电路、数显LED驱动芯片、数显LED驱动IC、LED驱动芯片、数码管显示屏驱动、数码管驱动原厂、LED驱动厂家、LED驱动原厂、LED数码驱动、LED数码屏驱动、LED数显芯片、数码管驱动IC、显示LED驱动、数码管LED驱动、LED显示IC、点阵数显驱动、点阵数码管驱动、点阵LED驱动、点阵数显驱动芯片、点阵数显驱动IC、点阵LED驱动芯片、点阵LED驱动IC、LED数显原厂、点阵数码管显示芯片、数码管驱动厂家、数显LED原厂

  • Hypertronics堆栈封装测试芯片- Euclid系列

    [url=http://www.ldteq.com/article/3027.html]Hypertronics[/url][font=宋体][font=宋体]的堆栈封装([/font][font=Calibri]PoP[/font][font=宋体])测试解决方案具备行业顶级的设计制造。由于设计比较复杂,[/font][font=Calibri]PoP[/font][font=宋体]检测中需要同时连结[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]顶端和底部。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]Euclid[/font][font=宋体]手动测试解决方案则应用了装置至处理器顶端接触器器件。这一器件将包括[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体],[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体]在顶端接触器周边两侧提供多种目标。底部接触器则具备弹簧探针框架,这一结构将源自检测仪端口[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体]的信号前往顶端[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体],从而使得信号从检测仪发送至位于封装顶部的内存配件特征。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]针对[/font][font=Calibri]Euclid[/font][font=宋体]产品设计而言,因为封装各侧校准需要通过各种情况下的验证,因此[/font][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体]品类齐全的设计验证设备系列是极为重要的;这些工具可以判断和解释热、应力、容差产生的影响。[/font][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]Euclid[/font][font=宋体]手动测试产品囊括手动式压盖器件,堆栈封装测试芯片中所含的顶端接触器,以替换处理器。在诸多设计上,这款压盖还乘载内存设备。[/font][/font][font=宋体]特征[/font][font=宋体]搭载内存、无内存及手动式测试解决方案[/font][font=宋体]针对顶层和底层设备的先进校中功能性[/font][font=宋体]严谨细化的预测工具,确保可制成解决方案[/font][font=宋体]可控性阻抗,实现最高信号完整性[/font][font=宋体][font=宋体]具备[/font][font=Calibri]ATE[/font][font=宋体]和手动测试功能[/font][/font][font=宋体]深圳市立维创展科技有限公司授权代理销售[/font][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体]连接器产品,[/font][font=Calibri] Hypertronics[/font][font=宋体]连接器面向高可靠性市场,以其独有的[/font][font=Calibri]Hypertac[/font][img=,1,]file:///C:/Users/Administrator/AppData/Local/Temp/ksohtml18276/wps1.png[/img][font=宋体]双曲面连接专利技术,为连接器产品提供性能优异的可靠连接。[/font][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体]产品主要为全球军用、航空航天、医疗、舰载领域服务,欢迎咨询。[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]Hypertronics[/font][font=宋体][font=宋体]请点击:[/font][font=Calibri]http://www.ldteq.com/brand/75.html[/font][/font]

  • 恒温恒湿试验箱对芯片测试的耐受性怎样?

    恒温恒湿试验箱对芯片测试的耐受性怎样?

    [url=http://www.instrument.com.cn/netshow/C27540.htm]恒温恒湿试验箱[/url]按标准CJB548B方法1010.1.测试条件:(-65°C~150°C)的要求进行进行。  该芯片电路共进行了温度循环试验100次,每100次温度循环试验后对电路进行X射线检查,其中10只电路完成了全部的1000次温循试验,其他电路由于要进行破坏性的键合拉力和芯片剪切力试验,温循次数依次递减。X射线检测按照GJB548B的相关要求进行,由于该电路采用平行封焊I艺,因此在X射线检测中仅针对芯片的空洞缺陷进行检查。[align=center][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/05/202205061559293316_885_1385_3.jpg!w600x600.jpg[/img][/align]  温度循环试验造成了芯片粘接可靠性的退化,并且具备累计效应,在温度剧烈变化时,会加快芯片粘接性能退化速度。但该结构电路的芯片、管壳粘接材料间的热匹配较好,抗温度变化的性能较高,在1000次温度循环试验后,没有出现剪切强度不合格的情况,粘接强度的退化比较轻微,在正常使用情况下可以保证长期的粘接可靠性。  恒温恒湿试验箱过程中由于封装材料间的热膨胀系数不样,在温度变化过程中材料间的接触面可以因热膨胀系数的差异产“生剪切应力,当剪切应力作用试验足够长、应力足够大时,可以对产品的结构产“生影响温度循环试验可能造成芯片粘接空洞的扩大,造成产品芯片粘接强度的降低,影响产品的使用可靠性。从试验前后X射线检测图片对比可以看到,该电路在1000次温度循环试验前后的空洞缺陷没有出现扩大恶化的情况,试验前后的空洞面积基本致参考芯片剪切强度测试结果,芯剪切强度未出现明显的退化。说明在经过1000次温度循环后,产品的结构和可靠性没有出现异变,测试结果均满足标准的要求。  恒温恒湿试验箱对引线拉力强度有一定的影响,温度循环试验次数少的电路引线拉力强度优于温度循环试验次数多的电路。在1000次温度循环试验中引线拉力强度至少出现了一次拉力强度退化的过程,这个结果与GJB548B中试验前合格拉力判别值高于试验后合格拉力判别值的规定值相符合的。但随着温度循环试验的持续进行,引线拉力强度是否会出现,二次退化,由于试验次数的限制,不能进行进一步的验证。

  • 高速粗铝线焊接强度测试仪 拉脱力测试设备

    [color=#ff6600]问[/color]:贵阳董副总,从事粗铝线的客户想采购焊接强度测试仪,寻找焊接强度测试仪,希望推荐比较好的焊接强度测试仪厂家?[color=#ff6600]答:[/color]小编为了方便大家想采购焊接强度测试仪,给大家推荐一下科准测控的焊接强度测试仪,方便大家做想采购焊接强度测试仪时候的参考:科准测控制造厂是一家以研发制造焊接强度测试仪为核心的高新技术型企业,主要经营疲劳拉伸力焊接强度测试仪、电脑式焊接强度测试仪、芯片焊接牢固度焊接强度测试仪。拥有完整、科学的质量管理体系。焊接强度测试仪广泛应用于微电子封装、SMT焊接器件、0402元件、晶片、光电子元器件、ic焊点、金丝键合研究所材料力学研究、材料可靠性测试等应用领域,是Bond工艺、SMT工艺、键合工艺等不可缺少的动态力学检测仪器,能满足包含有:金属、铜线、合金线、铝线、铝带等拉力测试、金球、铜球、锡球、晶圆、芯片、贴片元件等推力测试、锡球、BumpPin等拉拔测试等等具体应用需求,功能可扩张性强、操控便捷、测试高效准确。可根据要求定制底座、夹具、校验治具、砝码和测试工具满足各种不同尺寸的样品。科准测控有限责任公司以诚信、实力和产品质量获得业界的认可。欢迎朋友莅临参观、指导和业务洽谈。[b]焊接强度测试仪设备特征:[/b]1、采用测试工位自动模式,在软件选择测试工位后,系统自动到达对应工作位。2、每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。3、三个工作传感器,采用独立采集系统,保证测试精度。4、软件自动生成报告及存储功能,支持MES系统。5、荷重单位显示N、Ib、gf、kgf可自由切换。6、人性化的操作界面,人员操作方便。7、每项测试工作采用独立安全限位及限速功能。8、智能数据分析软件,自动记录并计算多点测试数据的Cpk值,可记录单点测试的力值、时间曲线。9、根据客户测试需求,非标定制各种精密测试夹具,有效确保用户测试数据的真实性。[b]焊接强度测试仪产品优势:[/b]1、电脑自动选取合适的推拉刀,无需人手更换2、采用进口传动部件结合独特力学算法,确保机台运行稳定性及测试精度。3、多功能精密四轴自动控制运动平台,采用进口传动部件,确保机台的高速、长久稳定运行。4、旋转盘内置三个不同量程测试传感器,满足不同测试需求,避免因人员误操作带来的设备损坏。5、优异的可操控性,左右双摇杆控制器,可自由摆放手感舒适,操作简单便捷。6、 强大分析软件进行统计、破断分析、QC报表,测试数据实时保存与导出,方便快捷。7、机载统计数据按照等级,平均值,标准差和CPK分布曲线显示测试结果。8、弧线形设计便于调整显微镜支架。9、显微镜光源为双光纤LED,冷光源,不发热,可随意弯曲。10、XY平台,可以根据要求定制,满足更广泛的测试范围。11、图像采集系统,快速简单的设置,安装在靠近测试头位置,以便帮助更快地测试。提高测试自动化速度。[b]设备成功案例:[/b]在上海、河南、安徽、北京、嘉善、苏州、昆山、四川、江苏、厦门、徐州、浙江、陕西、深圳等地区均有科准测控焊接强度测试仪的相关成功案例,欢迎大家前往实地考察。[b]设备常见系列:[/b]1、常用类型:自动焊接强度测试仪、功率强大焊接强度测试仪、全自动焊接强度测试仪、单柱焊接强度测试仪、数显焊接强度测试仪.....2、常见型号:mfm1000焊接强度测试仪、dage焊接强度测试仪、fm1200焊接强度测试仪.....3、试验功能:剪切力、钝化层剪切力、推力、拉力、粘合力.....[b]测试机的采购渠道:[/b]1、线下:可以找直接生产厂家定制、经销商可以批发代理。2、线上:京东、淘宝、知乎商家、抖音等合法线上渠道3、电话:直接拨打厂家销售人员的电话或者400电话,免费服务热线等方式[b]品牌有哪些?[/b]目前焊接强度测试仪市场的常用及认可品牌有(非官宣):科准测控、克拉克、德瑞茵、达格、力新宝、博森源.....等厂家及品牌[b]采购前需要注意的事项:[/b]一般在采购一个产品之前,先找到正规靠谱的生产厂家,然后需要咨询价格以及详细了解焊接强度测试仪的维修手册、维护、板卡驱动、夹具定制、拉力测试耗材、操作原理、相对湿度、力值显示售后服务等条件,可以找供应商提供焊接强度测试仪的产品图片、效果图、彩页、案例图、视频综合进行参考,对各方面都满意后,就可以直接下单采购了。上述内容就是关于焊接强度测试仪的全面解析介绍,从原理到怎么使用、校准方法以及注意事项,仅供您参考了解,如有不足之处欢迎各位用户及同行探讨交流互相补充,如需要详细了解其他相关封装测试设备,可以拨打我们的电话,了解更多!

  • 不同材质的微流控芯片封合工艺

    在微流控芯片制作过程中, 封装是一个重要步骤。优良的封装技术可以提高芯片的寿命,可靠性和降低环境对产品性能的影响。在微流控芯片封装工艺中,常见的问题是芯片粘接中的空隙, 引线键合中较低的键合强度, 塑料封装后的界面剥离等等。所有这些问题均与材料的表面特性有关。等离子封合(键合)硅片+PDMS、玻璃+PDMS、PDMS+PDMS热压封合(键合)PMMA+PMMA、PC+PC胶粘封合(键合)玻璃+PMMA、PMMA+PMMA阳极封合(键合)硅片+玻璃、硅片+硅片化学处理封合(键合)PDMS+PMMA、PMMA+PMMA其他非常材质封合(键合)铌酸锂基底和PDMS芯片封合

  • 芯片老化测试解决方案

    芯片老化测试解决方案

    芯片又称集成电路,或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。前述将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件,集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。  芯片老化测试对于芯片测试至关重要,但是需要注意哪些要点?对其测试又是可以做为什么试验项目呢?[align=center][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206211700528596_4941_1385_3.jpg!w600x600.jpg[/img][/align]  芯片的温湿度试验方法如下:  高温高湿耐候性:  a.芯片测试环境:温度方面,一般室温,70℃,125℃,155℃,175℃甚至更高,根据不同级别的测试要求来安排;湿度方面,80/85%的相对湿度,其他的湿度要求根据测试要求来定。  b.芯片测试时长,一般分为24H,168H,1000H等。  c.将芯片置于老化架上,然后连同老化架放入[b][url=http://www.instrument.com.cn/netshow/C27540.htm]恒温恒湿试验箱[/url][/b]中。条件设置为45℃(2h),70℃(2h)、-20℃(2h),45℃(2h)(五个循环,对于普通型)和60℃(2h),80℃(2h),-40℃(2h),60℃(2h)(五个循环,对于中耐久型)环境中老化。  一般来说,贴合实际使用的测试是比较符合要求的,但是由于需要在短时间内搞定测试要求,所以需要测试要求和环境条件超级加倍。  芯片行业的老化数据会对行业的发展产生特别积极的影响,会不断的推动这个行业朝着好的方向发展。

  • 低电流3路感应/超强抗干扰触摸芯片VK3603/SOP8-EP超小封装3键触控

    [size=17px]产品品牌:永嘉微电/VINKA[/size] [size=17px]产品型号:VK3603[/size] [size=17px]封装:SOP8-EP(150mil)(4.9mm x 3.9mm PP=1.27mm)[/size] [size=17px]VK3603具有3个触摸按键,可用来检测外部触摸按键上人手的触摸动作。该芯片具有较 高的集成度,仅需极少的外部组件便可实现触摸按键的检测。 提供了3路直接输出功能。芯片内部采用特殊的集成电路,具有高电源电压抑制比,可 减少按键检测错误的发生,此特性保证在不利环境条件的应用中芯片仍具有很高的可靠性。 此触摸芯片具有自动校准功能,低待机电流,抗电压波动等特性,为各种触摸按键+IO 输出的应用提供了一种简单而又有效的实现方法。C112-55 [img=,625,479]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408210934241871_1839_6207987_3.png!w625x479.jpg[/img] [size=17px]特点 [/size] [size=17px]? 工作电压 2.4-5.5V [/size] [size=17px]? 待机电流7uA/3.0V,14uA/5V [/size] [size=17px]? 上电复位功能(POR) [/size] [size=17px]? 低压复位功能(LVR) [/size] [size=17px]? 触摸输出响应时间: 工作模式 48mS 待机模式160mS [/size] [size=17px]? CMOS输出,低电平有效,支持多键 [/size] [size=17px]? 有效键最长输出16S [/size] [size=17px]? 无触摸4S自动校准 [/size] [size=17px]? 专用脚接对地电容调节灵敏度(1-47nF) [/size] [size=17px]? 各触摸通道单独接对地小电容微调灵敏度(0-50pF). [/size] [size=17px]? 上电0.25S内为稳定时间,禁止触摸. [/size] [size=17px]? 封装 SOP8-EP(150mil)(4.9mm x 3.9mm PP=1.27mm)[/size] [img=,554,334]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408210934441460_4671_6207987_3.png!w554x334.jpg[/img] [size=17px](永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)[/size] [size=17px]抗干扰低功耗触控IC-高性价比系列[/size] [size=17px]VK3601 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/4μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOT23-6[/size] [size=17px]VK3601SS-1 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/3μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:--- 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,三段调光/无极调光 封装:SOP8/DIP8[/size] [size=17px]VK3602XS 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/8μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:锁存输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰 封装:SOP8[/size] [size=17px]VK3602K/KA 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/8μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰 封装:SOP8[/size] [size=17px]VK3603 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:3 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:ESOP8[/size][size=17px]VK3604A 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOP16[/size] [size=17px]VK3604B 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SSOP16[/size] [size=17px]VK36E4 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/6μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:ESSOP10[/size] [size=17px]VK36Q4 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/6μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:DFN10(3*3超小体积)[/size] [size=17px]VK3606D 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:6 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOP16[/size] [size=17px]VK3610I 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/9μA(3V) 感应通道数:10 输出方式:I2C输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可调节灵敏度 封装:SOP16[/size][/size]

  • 工业仪表LCD驱动液晶芯片VK0256/B/C段码屏芯片厂家高稳定LCD驱动

    工业仪表LCD驱动液晶芯片VK0256/B/C段码屏芯片厂家高稳定LCD驱动

    型号:VK0256,品牌:永嘉微电/VINKA,封装形式:多种封装,年份:新年份概述:VK0256是一个点阵式存储映射的LCD驱动器,可支持最大256点(32EGx8COM)的LCD 屏。单片机可通过3/4线串行接口配置显示参数和发送显示数据,也可通过指令进入省电模式。(C36-39)特点:? 工作电压 2.4-5.2V? 内置32 kHz RC振荡器(上电默认)? 可外接32kHz时钟源(OSCI)? 许/生13/6/3//28/14/4//1/2//? 偏置电压(BIAS)固定为1/4? COM周期(DUTY)固定为1/8? 内置显示RAM为32x8位? /q//28/8//515///75///26//? 蜂鸣器频率可配置为2kHz、4kHz? 省电模式(通过关显示和关振荡器进入)? 时基和看门狗共用1个时钟源,可配置8种频率? 时基或看门狗溢出信号输出脚为/IRQ脚 (开漏)? 3/4线串行接口? 软件配置LCD显示参数? 写命令和读写数据2种命令格式? 读写显示数据地址自动加1? VLCD脚提供LCD驱动电压(<VDD)? 封装 QFP64(20.0mm x 14.0mm PP=1.0mm).[img=,650,512]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311061048364838_2198_6207987_3.png!w650x512.jpg[/img]型号:VK0256B,微电/VINKA,封装形式:多种封装,年份:新年份概述: VK0256B是一个点阵式存储映射的LCD驱动器,可支持最大256点(32EGx8COM) 的LCD屏。单片机可通过3/4线串行接口配置显示参数和发送显示数据,也可通过指令进入 省电模式。特点 :? 工作电压 2.4-5.2V? 内置32 kHz RC振荡器(上电默认)? 可外接32kHz时钟源(OSCI)? 偏置电压(BIAS)固定为1/4? 许/生13/6/3//28/14/4//1/2//? COM周期(DUTY)固定为1/8? 内置显示RAM为32x8位? //q/28/8//515///75///26//? 蜂鸣器频率可配置为2kHz、4kHz? 省电模式(通过关显示和关振荡器进入)? 时基和看门狗共用1个时钟源,可配置8种频率? 时基或看门狗溢出信号输出脚为/IRQ脚 (开漏)? 3/4线串行接口? 软件配置LCD显示参数? 写命令和读写数据2种命令格式? 读写显示数据地址自动加1? VLCD脚提供LCD驱动电压(<VDD)? 封装 LQFP64(7.0mm x 7.0mm PP=0.4m[img=,650,392]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311061049177624_6967_6207987_3.png!w650x392.jpg[/img]型号:VK0256C,微电/VINKA,封装形式:多种封装,年份:新年份概述:VK0256C是一个点阵式存储映射的LCD驱动器,可支持最大256点(32EGx8COM)的LCD 屏。单片机可通过3/4线串行接口配置显示参数和发送显示数据,也可通过指令进入省电模式。特点? 工作电压 2.4-5.2V? 内置32 kHz RC振荡器(上电默认)? 可外接32kHz时钟源(OSCI)? 偏置电压(BIAS)固定为1/4? COM周期(DUTY)固定为1/8? 许/生13/6/3//28/14/4//1/2//? 内置显示RAM为32x8位? /q//28/8//515///75///26//? 蜂鸣器频率可配置为2kHz、4kHz? 省电模式(通过关显示和关振荡器进入)? 时基和看门狗共用1个时钟源,可配置8种频率? 时基或看门狗溢出信号输出脚为/IRQ脚 (开漏)? 3/4线串行接口? 软件配置LCD显示参数? 写命令和读写数据2种命令格式? 读写显示数据地址自动加1? VLCD脚提供LCD驱动电压(<VDD)? 封装 LQFP52(14.0mm x 14.0mm PP=1.0mm)[img=,650,355]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311061049383968_7098_6207987_3.png!w650x355.jpg[/img](永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)LCD驱动、液晶显示IC、LCD显示、液晶显示、显示LCD、段码液晶屏驱动、LCD液晶显示、段码屏LCD驱动、LCD显示驱动芯片、LCD显示驱动IC、液晶驱动原厂、LCD屏驱动、液晶屏驱动、驱动LCD、驱动液晶、LCD驱动控制器、液晶显示驱动原厂、段码LCD驱动、液晶段码屏驱动、液晶显示驱动芯片、点阵式液晶显示驱动、点阵式液晶显示IC、液晶驱动IC、液晶驱动芯片、LCD芯片、液晶芯片、液晶驱动控制器、液晶IC、段码驱动显示IC、笔段式液晶驱动、LCD液晶显示驱动、液晶LCD显示驱动、段码屏驱动厂家、段码驱动IC、段码驱动芯片、段码屏显IC、LCD显示IC、笔段式LCD驱动、LCD显示芯片、段码屏显示IC、段码屏显示芯片、LCD段码液晶驱动、段码LCD液晶驱动、段码驱动原厂、液晶显示芯片、段式液晶驱动、段码显示IC、LCD液晶屏驱动、笔段LCD驱动、LCD段码屏驱动、液晶屏驱动IC、液晶屏驱动芯片、液晶段码LCD驱动、液晶LCD段码驱动、LCD驱动器、液晶驱动电路、LCD驱动IC、断码LCD驱动、段码屏驱动原厂、LCD驱动厂家、LCD屏驱动IC、点阵式LCD驱动、LCD屏驱动芯片、点阵段码屏驱动、点阵液晶屏驱动、段码液晶驱动芯片、段码屏驱动、LCD驱动原厂、LCD驱动芯片、LCD段码驱动、LCD液晶驱动、液晶驱动IC原厂、液晶显示驱动IC、点阵LCD驱动、段式LCD驱动、LCD显示驱动、液晶显示驱动、段码液晶驱动

  • Ironwood射频微波芯片性能高速信号测试座

    [url=http://www.leadwaytk.com/article/4717.html]Ironwood[/url][font=宋体][font=宋体]针对[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]QFN[/font][font=宋体]或[/font][font=Calibri]LGA[/font][font=宋体]技术应用,[/font][font=Calibri]GTP[/font][font=宋体]接触技术提供[/font][font=Calibri]94GHz[/font][font=宋体]信号速度,而且也可以用于高循环寿命技术应用,例如[/font][font=Calibri]ATE[/font][font=宋体]。?[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速信号测试座适用[/font][font=Calibri]0.2mm[/font][font=宋体]至[/font][font=Calibri]1.27mm[/font][font=宋体]间距。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]GT[/font][font=宋体]插座特别适合原型设计图和测试绝大多数[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]设备技术应用。这些[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]插座提供优异的信号完整性,同时保证成本效率。[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速电路测试座使用了创新性的弹性体互连技术,同时提供低信号损耗([/font][font=Calibri]94GHz[/font][font=宋体]时为[/font][font=Calibri]1dB[/font][font=宋体])并提供节距降至[/font][font=Calibri]0.2mm[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]封装。[/font][font=Calibri]GTBGA[/font][font=宋体]插座采用适度部位处的安装及对准孔以机械方式设置在目标体系的[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]焊层上。[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速电路测试座每边仅比实际[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]封装大[/font][font=Calibri]2.5mm[/font][font=宋体](行业内最小封装)。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]GTP[/font][font=宋体]插座特别适合绝大多数[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]QFN[/font][font=宋体]或[/font][font=Calibri]LGA[/font][font=宋体]设备应用的原型设计图和产品测试。[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速电路测试座提供优异的信号完整性和高机械耐久性。创新性的弹性体互连技术,同时提供低信号损耗([/font][font=Calibri]94GHz[/font][font=宋体]时为[/font][font=Calibri]1dB[/font][font=宋体]),并提供节距降至[/font][font=Calibri]0.2mm[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]QFN[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]LGA[/font][font=宋体]封装。通过添加独特的金冠,如果配置正确,[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]GTP[/font][font=宋体]插座还能够提供超出[/font][font=Calibri]200,000[/font][font=宋体]次循环系统。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速电路测试座适用主体规格从[/font][font=Calibri]70mm[/font][font=宋体]到[/font][font=Calibri]1mm[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]器件。较大的设备规格通常需要背板。如果目标[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体]的背面包括电容器和电阻器,则能够以设计一块订制绝缘板,并且为这些器件切割出空腔。该绝缘板嵌在背板和目标[/font][font=Calibri]PCB[/font][font=宋体]之间。插座选用高精密设计,将[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]转移到各个球连接的精准位置,通过使用铝制散热螺钉提供压缩应力。[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]射频微波芯片性能高速电路测试座的设计功能损耗高至几瓦,不需要附加的散热器,同时通过订制散热器可解决高至[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]瓦的功率。用户可以将[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]导入插座中,摆放压缩板,转动盖子,然后根据散热器螺钉增加扭矩就能连接[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]GT[/font][font=宋体]是一种新型弹性体技术,将银颗粒安装在像按键一样的导电性柱中,以适度的间隔内嵌非导电聚合物基板中,从而提供高适应性和极端环境范围。[/font][font=Calibri]GT[/font][font=宋体]主要用于[/font][font=Calibri]BGA[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]PoP[/font][font=宋体]和其它[/font][font=Calibri]0.2mm[/font][font=宋体]至[/font][font=Calibri]1.27mm[/font][font=宋体]间隔的封装。回路电阻[/font][font=Calibri]30[/font][font=宋体]毫欧。弹性体的温度范围为[/font][font=Calibri]-55C[/font][font=宋体]至[/font][font=Calibri]+160C[/font][font=宋体]。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]GTP[/font][font=宋体]使用与[/font][font=Calibri]GT[/font][font=宋体]同样的优异弹性体技术,同时增加独特的金冠,以获取全球领先的信号性能和高耐用度。[/font][/font][font=Calibri]Ironwood Electronics[/font][font=宋体]产品已通过[/font][font=Calibri]ISO 9001[/font][font=宋体]:[/font][font=Calibri]2015[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]RoHS[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]ITAR[/font][font=宋体]认证。[/font][font=Calibri]Ironwood Electronics[/font][font=宋体]电子产品线包括插座、适配器、测试系统定制等。[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体]深圳市立维创展科技授权代理[/font][font=Calibri]Ironwood Electronics[/font][font=宋体]产品,在中国区销售与技术服务支持。欢迎咨询。[/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]Ironwood[/font][font=宋体]请点击:[/font][url=http://www.leadwaytk.com/brand/45.html][font=Calibri]http[/font][/url][font=Calibri] : [/font][font=Calibri][url=http://www.leadwaytk.com/brand/45.html]//www.leadwaytk.com/public/brand/45.html[/url][/font]

  • 抗噪单键检测芯片VK3601/SOT23-6单通道触摸直接输出/专业触摸芯片厂家

    抗噪单键检测芯片VK3601/SOT23-6单通道触摸直接输出/专业触摸芯片厂家

    产品品牌:永嘉微电/VINKA,产品型号:VK3601,封装形式:SOT23-6产品年份:新年份原厂直销,样品免费,技术支持,价格优势。概述:VK3601具有1个触摸按键,可用来检测外部触摸按键上人手的触摸动作。该芯片具有较 高的集成度,仅需极少的外部组件便可实现触摸按键的检测。 提供了1路直接输出功能。芯片内部采用特殊的集成电路,具有高电源电压抑制比,可 减少按键检测错误的发生,此特性保证在不利环境条件的应用中芯片仍具有很高的可靠性。 此触摸芯片具有自动校准功能,低待机电流,抗电压波动等特性,为各种触摸按键+IO 输出的应用提供了一种简单而又有效的实现方法。 (C36-120)[img=,550,206]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311171045061671_6988_6207987_3.png!w550x206.jpg[/img][img=,551,281]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311171045060770_9936_6207987_3.png!w551x281.jpg[/img]特点? 工作电压 2.4-5.5V? 待机电流4uA/3.0V,8uA/5V? 上电复位功能(POR)? 低压复位功能(LVR)? 触摸输出响应时间 工作模式 48mS ,待机模式160m? 许生13632814412Q2885157526? CMOS输出,可通过AHLB脚选择低电平有效还是高电平有效? 无触摸4S进入待机模式? CS脚接对地电容调节灵敏度(1-47nF)? 各触摸通道单独接对地小电容微调灵敏度(0-50pF)? 上电0.25S内为稳定时间,禁止触摸? 上电后4S内自校准周期为64mS,4S无触摸后自校准周期为1S? 封装 SOT23-6(3mm x 3mm PP=0.95mm)[img=,550,286]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311171045280927_145_6207987_3.png!w550x286.jpg[/img]抗干扰低功耗触控IC-高性价比系列:VK3601 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/4μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOT23-6VK3601SS-1 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/3μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:--- 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,三段调光/无极调光 封装:SOP8/DIP8VK3602XS 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/8μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:锁存输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰 封装:SOP8VK3602K/KA 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/8μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰 封装:SOP8VK3603 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:3 输出方式:直接输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:ESOP8VK3604A 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOP16VK3604B 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SSOP16VK36E4 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/6μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:ESSOP10VK36Q4 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/6μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:DFN10(3*3超小体积)VK3606D 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/7μA(3V) 感应通道数:6 输出方式:直接输出 抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可通过CAP调节灵敏度 封装:SOP16VK3610I 工作电压/待机电流:2.4V-5.5V/9μA(3V) 感应通道数:10 输出方式:I2C输出抗干扰/待机电流小,抗电源及手机干扰,可调节灵敏度 封装:SOP16——————————————————————————————————(永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)触摸触控芯片、触摸感应芯片、触摸检测芯片、触控感应芯片、触控检测芯片、电容式触摸芯片、电容式触控芯片、触摸芯片、触控芯片、单键触摸、单键触控、触摸触控IC、触摸感应IC、触摸检测IC、触控感应IC、触控检测IC、电容式触控IC、电容式触摸IC、触摸IC、触控IC、触摸按键、触摸调光、触控按键、触控调光、触控滑条、触摸滑条、专业触摸芯片、触摸方案、触摸感应芯片原厂、触摸感应方案原厂、触感触控方案原厂、触控触感方案原厂、电容式触控IC原厂、电容式触控IC原厂、触摸感应IC原厂、单键/单通道触摸芯片、2/两键触摸触控芯片;3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/17/18/19/20键触摸芯片、抗干扰水位检测、抗干扰液位检测、抗干扰液体检测、抗干扰水检IC、抗干扰水检芯片、水位检测芯片、水位检测IC、液位检测芯片、液位检测IC、液体检测芯片、液体检测IC、水位液位检测芯片、水位液位检测IC、液位水位检测芯片、液位水位检测IC[align=center]注:具体参数请以最新PDF为准,型号众多未能一一介绍,欢迎索取PDF/样品。[/align]

  • 【原创大赛】板级封装测试方法及过程

    【原创大赛】板级封装测试方法及过程

    板级封装测试焊膏—回流焊工艺如图1所示:在PCB板上印刷焊膏,贴装(靠焊膏的粘性)并暂时固定SMD、SMC,然后通过回流焊焊接,最后进行清洗(可根据焊膏的类型及产品的应用范围选择清洗或不清洗)。http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509281041_568241_3042675_3.png图1 焊膏—回流焊工艺图本实验进行测试的封装方式有QFP、PGA。QFP封装技术的中文含义是方形扁平是封装技术,该技术实现的芯片引脚之间距离很小,管脚很细。该技术主要适用于SMT表面安装技术在PCB上安装布线。PGA封装技术的中文含义是插针网格阵列封装技术,由这种技术封装的芯片内外有多个方阵形的插针,每个方阵插针沿芯片的四周间隔一定距离排列,根据管脚数目的多少,可以围成2-5圈。模板印刷过程:1)将模板与PCB精确对准;2)模板上放置焊膏;3)刮刀以一定角度、压力及恒定速率刮过模板;4)将模板与PCB分离,即脱模。印刷图形在室温下放置30分钟,进行焊接。回流焊过程:在SMT生产流程中,回流炉参数设置的好坏是影响焊接质量的关键,通过温度曲线,可以为回流炉参数的设置提供准确的理论依据。回流温度曲线分为四段。1)预热段,这一段的目的是把室温的电路板尽快加热; 2)保温段,这一段溶剂不断蒸发,同时保证电路板上的全部原件在进入焊接段之前达到相同的温度;3)回流焊阶段,这一段把电路板带入铅锡粉末熔点之上,让铅锡粉末微粒结合成一个锡球并让被焊金属表面充分润湿;4)冷却段,这一段焊膏中的铅锡粉末融化并充分润湿被焊接表面。板级封装回流焊实验结果1 QFP回流焊实验结果SYS305焊膏形成的焊点不能铺展、浸润焊盘,形成润湿不良。见图2a。SYS305-G焊膏形成焊点铺满焊盘,但有回流现象,没有流平。见图2b。W焊膏形成焊点没有铺满焊盘,没有回流现象。见图2c。http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509281047_568243_3042675_3.png图2 QFP回流焊实验结果(20倍)(a- SYS305;b-SYS305-G;c-W焊膏)4.5.2 BGA回流焊实验结果SYS305焊膏焊后焊点表面不光滑、有凹凸。见图3a。SYS305-G焊膏焊后焊点表面光滑、无凹凸,铺满整个焊盘。见图3b。W焊膏焊后焊点表面光滑、无凹凸,没有铺满整个焊盘。见图3c。http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509281048_568244_3042675_3.png图3 BGA回流焊实验结果(20倍)(a- SYS305;b-SYS305-G;c-W焊膏)

  • 【原创】LED芯片

    LED(Light Emitting Diode,发光二极)芯片是一种固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光。LED的心脏是一个半导体(MB95F168)的晶片,晶片的一端附在一个支架上,一端是负极,另一端连接电源的正极,使整个晶片被环氧树脂封装起来。

  • 半导体芯片失效分析实验室汇总

    半导体芯片失效分析实验室汇总随着半导体技术的发展,芯片已经成为现代电子产品中不可缺少的部分。然而,芯片在长时间运行后可能会出现失效或故障,这将导致电子产品无法正常使用。为了解决这个问题,半导体芯片失效分析实验室应运而生。半导体芯片失效分析实验室是一种专门用于分析芯片故障原因和找出解决方案的实验室。它主要由多种设备和技术组成,包括光学显微镜、扫描电子显微镜、离子注入系统、穿透电子显微镜、电子束刻蚀机等。半导体芯片失效分析实验室可以用于以下方面的分析:1.失效分析如果芯片出现了故障,失效分析可以用来找出导致问题的原因。分析的过程通常包括对芯片进行非常规测试,如X射线衍射、扫描探针显微镜和热分析等,以找出故障根源,如堆积缺陷、擦除缺陷、漏电等。2.质量控制半导体芯片失效分析实验室也可以用于质量控制,以确保每个芯片都符合准确的规格和标准。质量控制分析通常包括对芯片进行成品检验,如外观检查、电性能测量和可靠性测试等。半导体芯片失效分析实验室汇总1.北京软件产品质量检测检验中心芯片失效分析实验室(简称:北软检测)成立于2002 年7月。北软芯片失效分析实验室可以进行全流程的失效分析,可靠性测试,安全验证等。主要包括点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测(2D X-ray,3D X-ray)、超声波扫描显微就(SAT)、缺陷切割观察系统(FIB系统)、体式显微镜、金相显微镜、研磨台(定点研磨,非定点研磨,封装研磨)、激光黑胶层取出系统(自动decap,laser decap)、自动曲线追踪仪(IV)、切割制样模块、扫描电镜(SEM)、能谱成分分析(EDX)、交变温湿度试验箱、高温储存试验、低温存储试验、温湿度存储试验等。通讯地址:北京市海淀区东北旺西路8号中关村软件园3A楼联系人:赵工?2.南京微电子技术研究所半导体芯片失效分析实验室南京微电子技术研究所半导体芯片失效分析实验室是国内最早成立的芯片失效分析实验室之一。实验室配备有先进的设备和技术,可对芯片的物理结构、器件参数、芯片性能、线路连接等方面进行全面的分析和测试。3.上海半导体研究所失效分析实验室上海半导体研究所失效分析实验室成立于2005年,是一家具备IC生产能力的高新技术企业。实验室在芯片失效分析领域积累了丰富的经验和成果,并不断引入先进的设备和技术,为客户提供高水平的技术支持和服务。4.北京中科微电子有限公司失效分析实验室北京中科微电子有限公司是一家专业从事半导体封装测试与分析的公司。实验室配备有一批优秀的专业技术人员和一流的设备,能够为客户提供全面、高效的失效分析服务。5.惠州半导体失效分析中心惠州半导体失效分析中心是惠州市政府支持的创新创业平台,依托留学海归、国内外知名院校科研机构等优势资源,致力于半导体失效分析领域的研发和服务。6.中国电子科技集团公司第十四研究所该实验室成立于20世纪80年代,针对集成电路芯片的失效问题,建立了先进的实验室设备和完整的芯片失效分析技术流程。这些技术流程包括非常规样品处理、样品制备、分析测试和故障分析定位等。该实验室能够对各种类型的芯片进行失效分析,如DRAM、NOR FLASH、SRAM、Flip Chip等。7.中国电子科技集团公司第五十五研究所该实验室成立于20世纪90年代,主要研究领域是空间电子电路可靠性和失效分析。在芯片失效分析方面,该实验室研究了很多芯片失效的根本原因和解决办法。例如,该实验室率先提出了在高温下检测集成电路失效的方法,推出了系列失效分析和故障定位技术。8.中国航天科工集团有限公司第六十所该实验室成立于20世纪90年代初期,由中国第一位半导体芯片设计师胡启恒教授领导,主要研究集成电路的失效分析和检测。该实验室在失效分析方面的主要技术包括侵入式和非侵入式技术、信号分析、快速失效分析以及优化分析等。此外,该实验室还开创了集成电路失效分析的新技术领域。9.南京微米尺度材料分析与应用国家级实验室该实验室拥有完整的半导体芯片失效分析实验平台及技术团队,能够进行芯片性能评估、芯片分析、缺陷定位和失效机理研究等多方面的工作,可为企业提供完整的半导体芯片失效分析服务。10.北京微电子所半导体芯片失效分析实验室该实验室依托于北京微电子所,能够利用所拥有的半导体芯片分析技术和完善的实验平台,提供专业的半导体芯片失效分析服务,包括芯片失效原因分析、失效机理研究、失效模拟与验证等多方面的服务。11.武汉微纳电子制造国家工程研究中心半导体芯片失效分析实验室武汉微纳电子制造国家工程研究中心依托于华中科技大学,其半导体芯片失效分析实验室拥有全套高端的半导体芯片失效分析仪器,为企业提供完整的半导体芯片失效分析服务,涉及芯片失效原因分析、失效机理研究、失效模拟与验证等多方面的服务。12.上海微电子设备有限公司半导体芯片失效分析实验室该实验室作为上海微电子设备有限公司的技术支持,结合上海微电子设备有限公司的芯片检测与分析设备,可为企业提供完整的半导体芯片失效分析服务,包括芯片失效原因分析、失效机理研究、失效模拟与验证等多方面的服务。以上仅是部分中国半导体芯片失效分析实验室,随着技术的不断更新和进步,相信未来将会涌现更多实验室,并且实验室之间也将进行更多的协作与交流,加速半导体芯片失效分析技术的发展和普及。国内较为知名的半导体芯片失效分析实验室还有中芯国际、台积电、联芯科技等。这些实验室拥有一流的实验设备和技术人才,可以开展多种类型的半导体芯片失效分析工作,并为客户提供专业的技术支持和服务。此外,在国际上也有多家著名的半导体芯片失效分析实验室,如SiliconExpert、IEEE Components Partitioning and Analysis Center等。这些实验室不仅具备高水平的技术装备和技术人才,还通过与多家知名公司合作,积累了丰富的经验和数据资源。同时,这些实验室还开展了大量的研究工作,不断推动半导体芯片失效分析领域的发展。总之,半导体芯片失效分析实验室在提高半导体芯片可靠性方面起着至关重要的作用。希望通过本文的介绍,可以帮助大家了解半导体芯片失效分析实验室的相关情况,为半导体芯片失效分析工作提供参考和支持。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/05/202305240713065889_2888_3233403_3.png[/img]

  • 胶条发泡设备在芯片上应用

    胶条发泡设备在芯片上应用

    [font='微软雅黑','sans-serif']胶条发泡设备在芯片上应用[/font][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']芯片封装点胶工艺(电子产品芯片点胶加工)在电子产品PCB线路板与芯片组装领域有着重要地位,主要是对电子产品PCB芯片进行粘接密封加固以及防水保护工作,可以很好的地延长电子产品PCB线路板上芯片的使用效果和工作寿命,为电子产品行业增添新动力,在进行电子产品芯片点胶加工封胶过程中,一般情况下使用的是精密点胶机,精密点胶机应用于这一领域能执行以很好的效率工作。[/font][/align][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']芯片点胶加工常见工艺:[/font][/align][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']芯片点胶加工所用点胶机采用了多轴联动点胶的工作模式,进行封装点胶过程中能对一些不规则缝隙进行封胶填充点胶加工工作,可执行单程高速打点、线、面、弧等路径点胶,能更好的满足电子产品芯片封胶的要求,通过适当调整参数就能更有效地完成点胶工作。[/font][/align][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']采用了等比例控制系统,支持多种混合方式,根据实际工作需求可选用合理的泵,完成参数设定后,点胶机就可根据所设定的参数进行电子产品芯片点胶加工工作,可在一定程度上的降低了厂家的生产成本以及人力成本。[/font][/align][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']芯片点胶封胶大多数应用的是环氧树脂胶或UV胶等胶水进行封胶工作,一般喷射式点胶机都会配有点胶头加温设备,通过调试设备的温度能控制胶水的流动性,冬季低温环境此工艺特别重要,点胶设备恒温头可使胶水一直处于最佳的使用状态。点胶温度需要根据胶水的性质和室温环境进行适当调整。[/font][/align][align=left][font='微软雅黑','sans-serif']某些点胶封胶设备还配备了精密回吸阀,可预防电子产品芯片点胶加工封装过程中可能出现的拉丝问题,保证了点胶机封胶工作的一致性与稳定性,使良品率大大提高,提高生产效率。[/font][/align][img=,500,500]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/06/202106230933441943_7985_4017671_3.jpg!w500x500.jpg[/img][font='微软雅黑','sans-serif'] [/font]

  • 【实战宝典】半导体集成电路芯片制造工艺是怎样的?

    【实战宝典】半导体集成电路芯片制造工艺是怎样的?

    问题描述:半导体集成电路芯片制造工艺是怎样的?解答:[font=宋体][color=black]半导体集成电路芯片需要经过设计、制造(包括硅片制造、晶圆制造)、封装测试才能最终应用到终端产品。[/color][/font][align=center][font='Times New Roman','serif'][color=black][img=,298,258]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207041424528880_8629_3389662_3.jpg!w298x258.jpg[/img][/color][/font][/align][align=center][font=宋体][color=black]芯片制造流程示意图[/color][/font][font='Times New Roman','serif'][color=black]*[/color][/font][font=宋体][color=black]引自[/color][/font][font='Times New Roman','serif'][color=black][5] p6[/color][/font][/align]以上内容来自仪器信息网《[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]实战宝典》

  • 半导体芯片高低温测试机中真空泵的使用说明

    半导体芯片高低温测试机在运行的过程中,每个配件的性能都是很关键的,无锡冠亚的半导体芯片高低温测试机中真空泵一旦发生故障的话,就需要及时维修以及保养,这些都是不可少的。  半导体芯片高低温测试机真空泵完好标准是机体整洁,零部件完整齐全,质量符合要求。真空表、电流表等仪表齐全、灵敏、准确,并有定期检验标志。基础稳固可靠,地脚螺栓和各部螺栓连接紧固、齐整,丝扣外露长度符合规定。管线、阀门等安装合理,标志分明,符合要求。各零部件的安装间隙应达到规定要求。半导体芯片高低温测试机真空泵运行性能要求要注意半导体芯片高低温测试机的润滑良好,油质符合要求,实行“五定”,设备运转平稳无杂音,其振动和噪声不应超过有关规定,设备负荷运转时,温度、压力、流量、电流等参数应符合相关标准。  半导体芯片高低温测试机真空泵设备及环境要求需要注意泵体清洁,外表无尘灰、油垢。基础底座表面及周围无积水、废液及其他杂物等。阀门及管件接头等处不得有泄漏。填料密封处泄漏不超过规定。  半导体芯片高低温测试机真空泵日常维护需要注意半导体芯片高低温测试机周围环境应保持清洁、干燥,通风良好,检查冷却水路是否畅通,检查各润滑部位的润滑油是否符合规定。每班必须检查各部紧固螺栓,不得有松动现象,经常检查真空罐中的液位是否正常有效,并进行必要紧固。随时检查真空表、电流表的读数是否正常。随时注意观察半导体芯片高低温测试机运转有无异常声响或振动,必要时可报告有关部门进行状态。操作人员必须严格按《操作规程》进行操作,巡回检查发现问题必须及时处理。  半导体芯片高低温测试机中真空泵的故障解决也是影响整个半导体芯片高低温测试机运行的效果的,以及后期真空泵的保养也是很重要的,这些都是不可忽视的,望悉知。

  • 【热分析仪】【金鉴出品】为什么有的芯片是正电极更热,有的芯片是负电极更热?

    【热分析仪】【金鉴出品】为什么有的芯片是正电极更热,有的芯片是负电极更热?

    [align=left]案例分析(一):有的芯片是正电极更热,有的芯片是负电极更热。[/align]以下为两个厂家22mil*35mil尺寸大小芯片光热分布的对比。对于该尺寸大功率正装芯片,电流在芯片中横向扩展的路径较长,导致电流聚集效应更加明显,因此必须具备合理的电极图形设计以及较好的欧姆接触特性,才能使注入电流在LED芯片的有源层中均匀分布。目前许多与大功率 LED 芯片制造相关的关键技术问题还有待解决,各芯片厂家对于问题的解决能力有高有低,使得不同家芯片的性能存在巨大差异![b]从以下两家同尺寸芯片的光热分布对比中可以看出:[/b][align=left][b][/b]1. 对比11*30mil芯片,该大尺寸大功率芯片电流密度均匀性相对较差,这也是目前大功率水平结构LED芯片发展的技术瓶颈之一。[/align][align=left]2. 金鉴通过大量测试发现,不同款的芯片,正负电极热度不同,有的芯片是正电极更热,有的芯片是负电极更热,如下图该两款芯片。电极过热会导致电极金属出现熔融,欧姆接触特性变差,降低芯片性能和可靠性。关于电极热度,大家关注的并不多,也许芯片厂也没做过那么细的研究。[/align][align=left]3. 本案例芯片A出现比较奇怪的现象:负电极更热,但发光不强,而正极区域更亮,但温度又不高。这表明此款芯片负电极附近量子效率低,电能在该处过多的转化为了热能,负电极欧姆接触可靠性弱。[/align][align=left]目前大家大多关注的是LED芯片的整体性能,如亮度、结温、电压,对于芯片光热分布、电流密度分布等方面关注过少,而失效往往是从局部薄弱处开始的,强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据![b]做好光热分布来料检验,可以使LED最亮,温度最低,而成本最低,质量更可靠。[/b][/align][align=center][img=,143,112]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/06/201906161539559916_956_3158333_3.jpg!w143x112.jpg[/img] [/align][b] 案例分析(二):不同家小尺寸芯片电流密度均匀性差异大[/b][align=left][b][/b]以下为不同厂家11mil*30mil尺寸大小芯片光热分布的对比。对于该小尺寸芯片,电流在芯片中横向扩展的路径较短,理论上电流聚集效应较轻微。但是,不同厂家的工艺技术存在差别,芯片电流密度均匀性仍存在较大差异,甚至出现不同厂家芯片高低温度相差数十度![b]从以下三家同尺寸芯片的光热分布对比中可以看出:[/b][/align][align=left][b][/b]1. 芯片A发光最强,发热量最小,光热分布最均匀,说明该芯片电流密度均匀性好,量子效率高,应用在高端LED中,该款芯片是首选。[/align][align=left]2. 芯片B和芯片C均为正极区域发光发热弱,负极区域发光发热强,推断该两款芯片为电流扩展不良导致的光热分布不均。该两款芯片量子效率低,存在局部高温现象,性能和可靠性都不如芯片A。[/align][align=left]3. 不同厂家芯片微观区域高低温度可以相差数十度![/align][align=left]通过对来料芯片进行光热分布检验,可以清楚判断芯片电流密度是否均匀,是否存在局部过热,亮度和温度孰高孰低,产品性能和可靠性孰优孰劣,从而对芯片进行全面的评估,帮助客户选择最合适的芯片提供有力的数据支撑。[/align][align=left][/align][align=center][img=,690,301]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/06/201906161540136121_4915_3158333_3.jpg!w690x301.jpg[/img][/align][align=left]LED灯具无非解决两个问题,一个是光,另外一个是热,你看那庞大的研发部门无非就是研究怎样提高LED的亮度和均匀度,并降低散热成本。因此了解LED芯片的光热分布情况对提高LED灯具质量性能至关重要![/align][align=left]然而由于缺乏相应的检测经验和设备,无论是芯片厂还是封装灯具厂,都未对芯片光热分布性能做相关的检测,导致市场上出现大量光热分布不均的芯片,而这些产品有相当大的亮度提高和发热量降低等性能提高的潜力。[b]那如何采购亮度又高,热量又低的LED芯片呢?金鉴给出以下几个建议:[/b][/align][align=left][b][/b]1. LED芯片光热分布一定要均匀,不存在微观区域过暗过热的现象。[/align][align=left]用金鉴显微光热分布系统观察到芯片微观区域过暗过热,很有可能此处电流拥挤,电能过多转化为热能而不是光能,量子效率低,表明此芯片的设计还存在改进的空间。[/align][align=left]2. 用金鉴显微光热分布系统比较在灯具使用温度下芯片的亮度值和热度值。LED光源的光热性能受温度的影响较大,温度升高,芯片亮度降低发热量增加,因此脱离实际工作温度所测试的结果准确性较差,甚至毫无意义。[/align][align=left]3. 建议芯片厂LED规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据!从源头上管控质量,做好光热分布来料检验,可以使LED最亮,温度最低,而成本最低,质量更可靠。[/align][align=left][b]为什么来料LED芯片一定要做金鉴光热分布测试?[/b][/align][align=left][b][/b]1. 目前市场上使用最多的水平结构芯片,欧姆接触电极在芯片的同一侧,电流不可避免的要横向传输,电流密度会随着电极距离的远近而发生变化,即正负电极靠近的地方,电流密度会较大,使得电流密度不均匀已成为水平结构LED固有的技术瓶颈。[/align][align=left]2. 许多与LED芯片制造相关的关键技术问题尚未完全解决,特别是大功率LED芯片的设计、制造工艺中材料的选择以及工艺参数等问题,使得电流密度均匀性存在较大的可优化空间,各家芯片(无论是水平结构还是垂直结构)在电流密度均匀性方面会存在较大的差异。[/align][align=left]3. 芯片内部产生电流聚集效应,会导致LED芯片电注入效率下降、发光不均匀、局部热量集中等不良现象,从而影响 LED芯片的性能及可靠性。[/align][align=left][b]通过金鉴光热分布测试,能清晰观察到芯片电流密度均匀性问题,更加全面的评估芯片质量,有效辨别各家芯片质量好坏。[/b][/align]

  • 芯片高低温测试机运行原理说明

    芯片高低温测试机运行是具有制冷和加热的仪器设备,无锡冠亚芯片高低温测试机采用专门的制冷加热控温技术,温度范围比较广,可以直接进行制冷加热,那么除了加热系统,制冷系统运行原理如何呢?  压缩空气制冷循环:由于空气定温加热和定温排热不易实现,故不能按逆向循环运行。在压缩空气制冷循环中,用两个定压过程来代替逆向循环的两个定温过程,故可视为逆向循环。工程应用中,压缩机可以是活塞式的或是叶轮式的。  压缩蒸汽制冷循环:压缩蒸汽的逆向制冷循环理论上可以实现,但是会出现干度过低的状态,不利于两相物质压缩。为了避免不利因素、增大制冷效率及简化设备,在实际应用中常采用节流阀(或称膨胀阀)替代膨胀机。  压缩蒸汽制冷循环采用低沸点物质作制冷剂,利用在湿蒸汽区定压即定温的特性,在低温下定压气化吸热制冷,可以克服上述压缩空气、回热压缩空气循环的部分缺点。  芯片高低温测试机吸收式制冷循环:吸收式制冷循环利用制冷剂在溶液中不同温度下具有不同溶解度的特性,使制冷剂在较低的温度和压力下被吸收剂吸收,同时又使它在较高的温度和压力下从溶液中蒸发,完成循环实现制冷目的。  芯片高低温测试机是可供各种行业使用,比如:制药、化工、工业、研究所、高校等行业中使用,当然,无锡冠亚的其他制冷加热控温设备使用的范围也比较广。

  • 科学家研制“芯片上的器官”测试药物疗效

    2013年06月20日 来源: 腾讯科学 腾讯科学讯(悠悠/编译) 据国外媒体报道,人们可以不再对小白鼠进行实验了,目前,科学家采用一种硅芯片进行医学测试,这将提供一个更好的方法理解药物的治疗效果。http://www.stdaily.com/stdaily/pic/attachement/jpg/site2/20130620/00241dd2ff15132c901e46.jpg美国科学家工程设计一种芯片能够模拟人体肺器官 科学家们正在研制“芯片上的器官”,在一个硅芯片上“缠绕”重要的细胞,例如肺细胞,之后模拟该器官的关键性功能。之后研究人员测试分析哪种药物将对肺器官具有显著的疗效,这种“芯片上的器官”并不大,仅有几厘米长。 美国默克公司研究人员在实验室使用微芯片模拟设计成一个功能不健全的肺器官,进行一系列药物实验寻求新型哮喘治疗方法。该公司呼吸药物研究部负责人唐-尼科尔森(Don Nicholson)称,公司的科学家们希望“芯片上的器官”帮助他们更好地理解哮喘疾病的生物特征,鉴别发现疗效最好的药物。 如果默克公司的这项医学实验效果显著,药物制造商将拥有一个新的工具,能够节省数百万美元。美国国家推进转化科学中心主管克里斯多夫-奥斯汀(Christopher Austin)称,芯片上的肺器官证实这个概念的可行性。据悉,奥斯汀所在机构致力于复制多样化人体组织和器官。 美国康奈尔大学生物工程系主任迈克尔-舒勒(Michael Shuler)说:“最终我们将建立一个‘10个芯片上的器官’。” 目前为止,这项技术仍在研究之中,药物监管部门尚未准备完全废止动物实验,或者采用当前的方法对临床患者进行药物安全性和有效性测试。 多家药物制造商仍在审核这项技术的可行性,期间多个实验室开始芯片模拟肾脏、肝脏和其它器官的功能。

  • 【原创】简介介绍L7800系列芯片

    L7800系列芯片三端可在TO - 220和TO - 220FP和TO - 220FM的TO - 3和D2PAK封装和几个固定的输出电压。这些稳压器能够提供本地卡上调节,消除了分布规律与单点问题。每种类型采用内部电流限制,热关断和安全区的保护,使得它基本上不被出现意外情况。如果有足够的散热提供,他们可以提供超过1A输出电流。虽然主要设计为固定电压调节器,这些器件可用于获得与外部元件的电压和电流调节。对于L7800芯片的详细介绍可以参考库IC网关于L7800的介绍。

  • 触摸触控IC-VKD233HH该芯片具有较高的集成度/电容式触控芯片

    触摸触控IC-VKD233HH该芯片具有较高的集成度/电容式触控芯片

    产品品牌:永嘉微电/VINKA产品型号:VKD233HH封装形式:SOT23-6概述:VKD233HH具有1个触摸按键,可用来检测外部触摸按键上人手的触摸动作。该芯片具有 较高的集成度,仅需极少的外部组件便可实现触摸按键的检测。 提供了1路输出功能,可通过IO脚选择输出电平,输出模式。芯片内部集成了稳压电路, 提供稳定的电压给触摸检测,可减少按键检测错误的发生,提高了可靠性。 此触摸芯片具有环境变化自校准功能,低待机电流,宽工作电压等特性,为各种单触摸 按键+IO输出的应用提供了一种简单而又有效的实现方法。(C26-180)[img=,555,229]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309221512453686_3859_6034453_3.png!w555x229.jpg[/img]特点:? 工作电压 2.4-5.5V? 待机电流 1.5uA/3V? 工作电流 4.0uA/3V? 低压复位功能(LVR)? 内置触摸检测专用稳压电路? 触摸输出响应时间:工作模式 46mS ,待机模式160mS? 通过AHLB脚选择输出电平:高电平有效或者低电平有效? 通过TOG脚选择输出模式:直接输出或者锁存输出? 各触摸通道单独接对地小电容微调灵敏度(0-50pF)? 触摸防呆功能,最长输出时间约16S? 上电0.5S内为稳定时间,禁止触摸? 根据环境变化自校准参数? 封装SOT23-6L(3mm x 3mm PP=0.95mm)[img=,555,376]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309221513110142_9105_6034453_3.png!w555x376.jpg[/img][img=,555,358]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309221513114021_3983_6034453_3.png!w555x358.jpg[/img]标准触控IC-电池供电系列:VKD223EB 工作电压/工作电流/待机电流:2.0V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6;DICE/DIE 裸片(绑定COB) 低功耗[align=left]VKD223B 工作电压/工作电流/待机电流:2.0V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗[/align][align=left]VKD233DG/HG 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 低功耗[/align][align=left]VKD233DB/HB 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗[/align][align=left] [/align][align=left]VKD233DH/HH 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗/长按16S复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD233DS/HS 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 长按16S复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD233DR/HR 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/1.5μA(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:DFN6(2*2超小体积) 低功耗/长按16S复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD233DQ/HQ 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/4.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 长按16S复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD233DM/HM 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/5.0μA/---(3V) 感应通道数:1 输出方式:开漏输出(低有效) 最长响应时间快速模式46ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 长按16S复位[/align][align=left]VKD232C 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接 输出(低有效) 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式220ms @VDD=3V 封装:SOT23-6 低功耗/长按16S复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD104BR/CR 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:2 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式46ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SOP8 低功耗[/align][align=left] [/align][align=left]VKD104BR-3H/VKD104CR-3H 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:3 输出方式:直接/锁存输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:SOP8 低功耗[/align][align=left] [/align][align=left]VKD104 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V 封装:DICE/DIE裸片(绑定COB) 低功耗;可选择长按16S复位/不复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD104BC/CC 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V封装:SOP16 低功耗;可选择长按16S复位/不复位[/align][align=left] [/align][align=left]VKD104CB/SB 工作电压/工作电流/待机电流:2.4V-5.5V/13μA/2.5μA(3V) 感应通道数:4 输出方式:直接/锁存/开漏输出 最长响应时间快速模式60ms,低功耗模式160ms @VDD=3V封装:SSOP16 低功耗;可选择长按16S复位/不复位[/align][align=left]————————————————————————————————————[/align][align=left](永嘉微电/VINKA原厂-FAE技术支持,主营LCD驱动IC; LED驱动IC; 触摸IC; LDO稳压IC; 水位检测IC)[/align][align=left]触摸触控芯片、触摸感应芯片、触摸检测芯片、触控感应芯片、触控检测芯片、电容式触摸芯片、电容式触控芯片、触摸芯片、触控芯片、单键触摸、单键触控、触摸触控IC、触摸感应IC、触摸检测IC、触控感应IC、触控检测IC、电容式触控IC、电容式触摸IC、触摸IC、触控IC、触摸按键、触摸调光、触控按键、触控调光、触控滑条、触摸滑条、专业触摸芯片、触摸方案、触摸感应芯片原厂、触摸感应方案原厂、触感触控方案原厂、触控触感方案原厂、电容式触控IC原厂、电容式触控IC原厂、触摸感应IC原厂、单键/单通道触摸芯片、2/两键触摸触控芯片;3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/17/18/19/20键触摸芯片、抗干扰水位检测、抗干扰液位检测、抗干扰液体检测、抗干扰水检IC、抗干扰水检芯片、水位检测芯片、水位检测IC、液位检测芯片、液位检测IC、液体检测芯片、液体检测IC、水位液位检测芯片、水位液位检测IC、液位水位检测芯片、液位水位检测IC[/align][align=left]注:具体参数请以最新PDF为准,型号众多未能一一介绍,欢迎索取PDF/样品。[/align]

  • AMAT与Ushio共同开发线宽为2μm的小芯片数字光刻系统

    2023年12月12日,应用材料公司(Applied Materials, Inc.)和牛尾公司(Ushio, Inc.)宣布建立战略合作伙伴关系,以加速将小芯片异构集成到3D封装中的行业路线图。两家公司正在联合向市场推出首款数字光刻系统,该系统专为人工智能(AI)计算时代所需的先进基板图案化而设计。快速增长的 AI 工作负载推动了对具有更强大功能的更大芯片的需求。随着 AI 的性能要求超过了传统的摩尔定律扩展,芯片制造商越来越多地采用异构集成(HI)技术,将多个小芯片组合在一个先进的封装中,以提供与单片芯片相似或更高的性能和带宽。该行业需要基于玻璃等新材料的更大封装基板,以实现极细间距的互连和卓越的电气和机械性能。应用材料公司和 Ushio 之间的战略合作伙伴关系将两家行业领导者聚集在一起,以加速这一转变。应用材料集团副总裁兼半导体产品事业部HI、ICAPS和外延总经理Sundar Ramamurthy博士表示:“应用材料公司的新型数字光刻技术(DLT)是首款直接满足客户先进基板线路图需求的图形化系统。“我们正在利用我们在大型基板加工方面无与伦比的专业知识、业界最广泛的HI技术组合以及深厚的研发资源,在高性能计算领域实现新一代创新。Ushio集团执行官兼光子学解决方案全球业务部总经理William F. Mackenzie表示:“Ushio在为封装应用构建光刻系统方面拥有20多年的经验,在全球交付了4000多种工具。通过这种新的合作伙伴关系,我们可以通过可扩展的制造生态系统和强大的现场服务基础设施加速DLT的采用,并扩大我们的产品组合,为包装技术快速发展的挑战提供更多解决方案。新的DLT系统是唯一能够实现先进基板应用所需分辨率的光刻技术,同时提供大批量生产所需的吞吐量水平。该系统能够形成小于 2 微米的线宽,可在任何基板上实现最高的小芯片架构面积密度,包括由玻璃或有机材料制成的晶圆或大型面板。DLT系统经过独特设计,可解决不可预测的基板翘曲问题并实现覆盖精度。生产系统已经交付给多个客户,并且已经在玻璃和其他先进的封装基板上展示了 2 微米图案化。应用材料公司开创了DLT系统背后的技术,并将与Ushio一起负责研发和定义可扩展的路线图,以实现1微米线宽及以上先进封装的持续创新。Ushio将利用其成熟的制造和面向客户的基础设施来加速DLT的采用。此次合作将共同为客户提供最广泛的光刻解决方案组合,用于先进封装应用。[来源:仪器信息网译] 未经授权不得转载[align=right][/align]

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