流高频率测量仪

在新标准GBZ/T189中对超高频辐射测量使用的仪器要求是“选择量程和频率适合于所检测对象的测量仪器”，对高频电磁场的测量仪器要求是“[font=宋体]量程范围能够覆盖[/font][font=']10V/m-1000V/m[/font][font=宋体]和[/font][font=']0.5A/m-50A/m[/font][font=宋体]，频率能够覆盖[/font][font=']0.1MHz-30MHz[/font]”，对于工频电场的测量仪器要求是“[font=宋体]采用灵敏度球型（球直径为[/font][font=']12cm[/font][font=宋体]）偶极子场强仪进行测量，场强仪测量范围为[/font][font=']0.003kV/m-100kV/m，其他类型的场强仪最低检测限应低于0.05kV/M[font=宋体]”，市场上仪器种类繁多，如何选择测量超高频辐射测量仪器和工频电场的测量仪器，不知大家有没有好的仪器推荐~期待高手答复。[/font][/font]

求助各位朋友，有谁知道以下这个设备是那个生产厂家的，请加我，谢谢非接触式应变位移视频测量仪:一、性能要求1. 非接触式应变位移视频测量分析软件，用于处理摄像机视频图像信息，测量全场应变位移；2. 控制软件配置开放接口，可加配红外热像仪控制节点；3. ★所有测试数据，能够与MTS共享。二、技术参数1. 可测量参数：包括应变、位移、泊松比、拉伸/压缩模量、应力-应变曲线等。2. 仪器专用CCD摄像，象素≥1380x1024，15fps，1394b。3. 专用镜头(6-19mm标距，70mm物距)4. 结构监测镜头焦距50mm，25mm5. 测量间距：不小于500mm6. 标距可调：最小不大于5mm，最大不小于150mm7. 视频扫描频率：不小于100次/秒。8. ★测量位移分辨率：不大于0.05微米（可用MTS检测）；9. ★应变分辨率：不小于5个微应变（可用MTS检测）10. 提供数字和模拟信号的输入和输出。模拟输入： 16单/8双通道；分辨率：16位；电压范围：+/-0.2V到+/-10V 模拟输出：通道：2 ；分辨率：16位电压范围：+/-10V 数字输入：通道：4 ；数字输出：通道：4 三、仪器配置1. ★一体化视频测量仪（含主机、摄像机及镜头、视频光源）；2. 笔记本电脑： 13’屏；CPU i5；硬盘500G ；内存4G；独显2G；配三脚架。

由于测量仪器在不同的频段，即使功能相似的仪器，其工作原理与结构常有很大的不同。而对于不同使用目的，也常使用不同准确度的仪器。例如，作为计量工作标准的计量仪器常具有最高的精度，实验室中一般使用较精密测量仪器进行定量测量，而生产和维修场合，则常使用简易测试仪器进行测量。实际上在选择一台电子仪器时，要考虑的远不止这些，通常选择仪器要考虑的问题一般包括：（1）量程。即被测量的最大值和最小值各为多少？选择何种仪器更合适？（2）准确度。即被测量允许的最大误差是多少？仪器的误差及分辨率是否满足要求？（3）频响特性。即被测量的频率范围是多少？在此范围内仪器频响是否平直？（4）仪器的输入阻抗在所有量程内是否满足要求？如果输入阻抗不是常数，其数值变化是否在允许的范围内？（5）稳定性。两次校准之间容许的最大时间范围是多少？能否在长期无人管理下工作？（6）环境。仪器使用环境是否满足技术条件要求？供电电源是否合适？（7）隔离和屏蔽。仪器的接地方式是否合适？工作环境的电磁场是否影响仪器的正常工作？（8）可靠性。仪器的规定使用寿命有多长？维护方便否？　　当然，实际选择仪器时，不一定要考虑上述全部项目。例如，测量音频放大器的幅频特性，主要考虑测量仪器的频率范围和量程是否合适？测量误差是否在允许的范围内？我们可以根据实验室现有仪器仪表，挑选电子电压表（毫伏表）或示波器作为测量仪器。使用时，注意给仪器预热、调零和校准。为保证等精度测量，实验时应尽可能用同一组仪器。

1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。

电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器　　信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表　　兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪　　该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Ｑ、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。　　除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

电子测量仪器的分类及应用电子测量仪器按其工作原理与用途，大致划为以下几类。　　1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表（即指针式万用表VOM）、数字电压表、数字多用表（即数字万用表DMM）都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。 　　2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器，它可以把被测电压信号随时间变化的规律，用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌，而且可以通过它显示的波形，测量电压和电流，进行频率和相位的比较，以及描绘特性曲线等。 　　3.信号发生器　　信号发生器（包括函数发生器）为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如：产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。 　　4.晶体管特性图示仪 　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器，它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如：晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性；二极管的正向、反向特性；稳压管的稳压或齐纳特性；它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。 　　5.兆欧表　　兆欧表（俗称摇表）是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表，通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电，故称摇表。由于它的刻度是以兆欧（MΩ）为单位，故称兆欧表。　　6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器，它包括光学系统、电子线路，在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种，主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。 　　7.集成电路测试仪 　　该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试，还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。 　　 8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪，不仅能自动判断元件性质，而且能将符号图形显示出来，并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数，且显示出等效电路图形。 　　9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率，测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如：逻辑电路的控制信号、基带信号，射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。 　　除以上常用的电子测量仪器外，还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

”电工仪器“小版面的增加是为了更好地充实仪器信息全面性，争取能有个积极的、发展的作用。1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等

非接触式应变位移视频测量仪在材料力学性能测试领域，对于一些特殊的实验，测量被测物体的变形和位移非常困难。比如： 测量断裂伸长（断裂会破坏传感器） 测量压缩模量 测量疲劳实验（引伸计可能会打滑，或者应变片自身会疲劳）采用非接触式的视频测量仪或许可以解决您的问题。技术参数：1. 测量精度：位移分辨率：0.05微米应变分辨率：5个微应变2.测量参数：应变、位移、泊松比、拉伸/压缩模量、应力-应变曲线等等3.标距可调：可以测量柔软、细小的材料

[align=center][font=-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=16px][b]如何区分实物量具和测量仪器[/b][/size][/font][/font][/align][size=15px][font=-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][color=#0080ff]原创 中国计量 计量资讯速递 8月2日[/color][/font][/size][size=12px][font=-apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &]各位版友，计量资讯速递每周一都会发布计量使用与调修类干货好文哦。如需了解更多内容，请每周一记得阅览哦。[/font] 实物量具在JJF1001-2011《通用计量术语及定义》中的定义为“具有所赋量值，使用时以固定形态复现或提供一个或多个量值的测量仪器。”　　实际工作中及很多计量专业书籍里将“实物量具”简称为“量具”，百度百科上也显示“量具是实物量具的简称”，但JJF1001里并没有给出“量具”这个简称，因此“实物量具”是不是简称为“量具”没有标准回答，只能根据上下文领会。“量具”一词通常在几何量计量中常用，但并不为几何量计量独有，十大类计量里都有“量具”和“仪器”之分。JJF1001之6.5的定义给出的七个实物量具的实例都不是几何量计量中的计量器具，但都称为实物量具。　　JJF1001之6.5给出的实物量具的定义在结尾处使用了“测量仪器”，请注意这里的“测量仪器”在6.1条中与“计量器具”等同，它包含实物量具和非实物量具的仪器，这与通常所说的仪器不是同一个概念。也就是说实物量具是测量仪器(计量器具)的一个种类，与之相对应的另一个种类就是带有放大或(和)量值转换结构的计量器具，所以从大家口头上的习惯来看，一般把这种计量器具才真正称为“仪器”，而把实物量具简称为“量具”。　　判断计量器具是不是实物量具,主要看它是否已经被明确地赋值。比如一个标准电阻、一个信号发生器、化学标准物质等,它们所提供的一些物理量的值都是已知的。比如一个标准频率计就不是实物量具,而一个输出标准频率信号的信号发生器就是实物量具。　　因此，测量设备的结构中不带有量值放大或(和)量值转换结构或元器件的为实物量具，带有量值放大或(和)量值转换结构或元器件的测量设备为测量仪器。例如量块、砝码、光滑量规、螺纹量规、钢直尺、钢卷尺、标准电池、电阻、标准物质等不含有量值放大或(和)量值转换结构或元器件的测量设备，均属于实物量具的范畴。卡尺、千分尺、百分表等虽然也叫游标量具、微分类量具、指示类量具，但因其结构中含有传动放大机构，本质上属于“测量仪器”而不属于“量具”。　　量具可分为单值量具，如砝码、量块、标准电池等；多值量具，如线纹尺、钢直尺、标准信号发生器等；成组量具，如砝码组、量块组等。有些量具必须与其他测量仪器一起使用才能进行测量，例如砝码只有借助天平或质量比较仪才能进行质量的测量，这种量具称为从属量具；有些量具不必借助于其他测量仪器而可单独进行测量，这种量具称为独立量具，例如直尺、量筒。　　有必要提一下测量设备这个术语，它是包含范围最大的概念，包括为实现测量过程所必需的计量器具、标准物质、计算机软件、辅助设备及其组合等所有东西，包括有形的、无形的、硬件的、软件的、看得见和看不见的东西，按概念从大到小分别是测量设备、测量仪器(计量器具)、实物量具。　　最后按一级注册计量师教材把经常接触到的实物量具归纳如下:砝码、量块、标准信号发生器、线纹尺、标准电阻、单刻度量杯、多刻度玻璃量具、电阻箱、可变电容、尺子、量杯、钢卷尺、钢直尺、注射器、铁路计量油罐车、标准硬度块、标准物质等。[/size][size=15px][/size][b][/b][align=center][size=14px][color=#888888]END[/color][/size][/align][align=center][size=14px][color=#888888]本文刊发于《中国计量》杂志2020年第7期[/color][/size][/align][align=center][size=14px][color=#888888]作者：新疆阿克苏地区计量检定所 刘凯 刘晓红[/color][/size][/align]

为了帮助客户更好地选用建筑声学测量仪器，我们根据相关标准要求，提出建筑声学测量仪器解决方案，主要包括以下内容：1 建筑声学测量总的仪器解决方案 适用建筑构件隔声测量、混响室吸声系数测量和室内混响时间测量。 建筑构件隔声测量根据传播途径的不同分为： 1）建筑构件的空气声隔声测量； 2）楼板撞击声隔声测量。 我公司提供的解决方案：选用AWA6290M型双通道分析仪、AWA5870B型功率放大器、AWA5510型12面体声源、AWA5560型标准撞击器，以及建筑声学测量软件。 与传统建筑声学仪器配置的比较： 1）设备少了许多，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪； 2）智能化程度高，由计算机直接计算各项测量指标，省力省时间； 3）混响时间测量既可以按中断声源法，也可按脉冲响应积分法； 4）同时测量出各个中心频率下的混响时间、隔声量和吸声系数，效率大大提高； 5）可以自动生成报表； 6）还可进行噪声的频谱分析等测量。如果用户需要对振动进行测量，只要增加振动测量通道和相应的软件。 7）当测量标准修订了，也可以通过软件升级或增加的办法，使它符合新标准的要求，而不需重新购买。2 测量混响时间简单解决方案 如果仅仅测量混响时间，只需选用AWA6291型实时信号分析仪，配置实时倍频程和1/3倍频程分析软件和混响时间测量软件。该配置的优点：1）使用设备非常简单，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪；2）按脉冲响应积分法测混响时间，准确性高，低频尤其明显；3）同时测量并直接计算所有频带的混响时间，省力省时间；4）该仪器还能进行噪声测量和实时倍频程和1/3倍频程分析。3 阻抗管法材料吸声系数测量解决方案 材料吸声系数的测量除了混响室法，还可采用阻抗管法。阻抗管法材料吸声系数的测量又分为： 1）驻波比法吸声系数测量方法 利用AWA6122A型驻波管吸声系数测试仪，测定垂直入射条件下吸声材料的吸声系数。测试仪软件根据测量到的峰声级值和谷声级值自动计算出吸声系数，并能生成吸声系数与频率的坐标曲线。 该方案的特点： ● 工作原理直观，尤适宜教学使用； ● 不另需要信号发生器、测量放大器、滤波器等设备； ●自动计算吸声材料各频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●只能一个一个频率点测量，而且要寻找波峰和波谷点，费时费力。 2）传递函数法测量吸声系数 选用AWA6290M型双通道分析仪或AWA6290B型四通道分析仪，相位配对的1/4″测量传声器和AWA14634E前置放大器，加上AWA8551系列阻抗管，配置信号发生软件、1/3 OCT分析软件、FFT 分析软件、传递函数吸声系数测量软件和四传声器隔声测量软件。不同测量要求选择选择不同配置。 该方案的特点： ●是一种更为方便、快捷、操作误差小、测量结果一致性好的吸声系数和声阻抗的近代测量技术； ●同时测量并计算所有频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●采用4传声器法还可测量材料的隔声系数； ●设备比较复杂，价格相对较高。

引言 　　通信系统中采用的许多算法和技术都是在线性系统的前提下研究和设计的，一定频率的信号通过这些网络后，往往会产生新的频率分量，称之为该网络的线性失真。失真度分析采取的常用方法有基波抑制法和谐波分析法两种。　　基波抑制法通常用在模拟失真度测量仪中，原理是采用具有频率选择性的无源网络(如谐振电桥、双T陷波网络等)抑制基波，由信号总功率和抑制基波后的信号功率计算出失真度。理想的基波抑制器应完全滤除基波，又不衰减任何其他频率。但实际上，基波抑制器对基波衰减抑制只能达到-60 dB～-80 dB，对谐波却损耗0.5 dB～1.0 dB。这种方式的失真度仪的性能主要依赖于硬件设计，调试和校准工作烦琐，一般只能实现固定1个或几个频率的失真度测量，其测量误差随着失真度降低而加大，并且随着器件老化，电路的稳定性和可靠性降低。　　谐波分析法类似于频谱分析，通常是借助数字方式的以FFF(快速傅里叶变换)为基础的算法，或者采用模拟方式的选频测量方法，从而获得基波和各次谐波的功率，计算出失真度。模拟选频方式的失真度分析仪性能高，但硬件电路复杂。数字方式的失真度分析对硬件的设计要求降低，其性能主要决定于A／D转换的精度和数字信号处理算法。仅仅采用FFT来分析失真度是远远不够的，因为测量精度与其运算量、存储空间的大小和测量速度存在明显的矛盾。 针对以上失真度测量方法的不足，本文以数字谐波分析法为基础，提出了基于DFT(离散傅里叶变换)和过零检测法的失真度分析算法，不仅可满足高精度和任意频率的测试需求，还可降低硬件设计复杂度。　　1失真度算法研究　　1.1算法分析　　失真度定义为： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540898.jpg　　式中：u1，u2，…，uM分别为被测频率的基频、二次谐波、…、M次谐波分量的幅度有效值；E1，E2，…，EM为基频和谐波分量的能量，一般M=5或7。 从失真度定义来分析，要测量信号的失真度，只须设法将被测信号的基波与谐波分离，分别测出它们各自的功率或电压有效值，代入式(1)即可。　　DFT在DSP中通常用于对平稳信号的频谱估计，在应用中，将输入信号截短，得到的行向量X=x(n)与一个相同长度的正弦信号W=w(n)相乘积分，可得到向量X中含有正弦信号W的分量。所以，如果向量W的频率等于失真度测量的各个频率分量和它们的正交分量，则可以计算出输入信号中包含第m次谐波的能量Em： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540809.jpg　　将式(2)值代人式(1)就可得到失真度值。 　　在工程测量中，被测信号的频率往往未知，而DFT计算时是确定的频率，所以应给W提供准确的频率，而且W的频率预测越准确，能量计算也越精确。　　为了准确找到基频，对采样信号采用过零检测法来测量频率，为避免噪声干扰，设置零幅度带，每通过零幅度带即为过零一次。被测信号频率由fx=N／T得到，T为时间基准，N为T内过零点数。过零检测法测频虽准确度较高，但是在标准的时间基准T中如10 ms、0.1 s、1 s等，由于被测信号与门控信号不可能同步锁定，所以存在固有的±1量化误差。本系统中如果选用1 s做时间基准的话，实时性不够。因此综合考虑实时性、存储量、处理速度之间的关系，选择T=0.1 s作为时间基准。这时±1误差被扩大10倍，为±10 Hz。为解决±1量化误差，使用以过零测频为中心，固定带宽(30 Hz)内最大值能量搜索办法(二分法)寻找基频能量最大值，经过5～7次迭代可得到准确的基频。然后直接使用此基频得到各次谐波的准确频率，并将基频和谐波频率提供给W，使用DFT就可直接估计基频和各高次谐波能量，完成失真度计算。　　1.2仿真结果分析　　使用MATLAB对上述算法进行仿真。设输入信号基频为1 kHz，并在±30 Hz范围内随机变动，信噪比20 dB，采样速率为44×103次采样／s，计算到7次谐波能量，基频能量二分法搜索带宽为30 Hz。最大值搜索时，当能量变化小于0.1％时终止，序列运算长度1 024个采样点，使用平方汉宁(Hanning)窗减少频谱泄漏。按这些条件，对500次具有随机频偏和失真特性的输入信号进行算法仿真。结果如图1所示。　　仿真结果表明，采用上述条件时，频率计算误差控制在1 Hz以下(见图1(a))；失真度误差能控制在1％以下(见图1(b))。如果终止条件更严格，测量精度可以更高。通过仿真还发现，当基频搜索时能量变化小于0.01％时终止，失真度测量误差可小于0.1％(见图1(d))。为使失真度算法更有效率，本系统采用能量变化小于0.1％时终止。　　2数字失真度测量仪硬件结构　　该系统硬件结构如图2所示。测量仪主要由信号调理、低通滤波、数据采集系统、主控制器AVR单片机(Atmega64L)、DSP(数字信号处理器)等模块组成。　　2.1信号调理和低通滤波模块　　信号调理和低通滤波的功能是对信号的幅度进行调理和滤波。信号的输入范围是不定的，小信号信噪比较低，大信号会引起A／D转换器对信号进行限幅而失真，所以采用数控可变增益放大器对信号输出电压范围进行调整，将信号的幅度控制在A／D转换器的满幅度附近。保证A／D转换器采集到的波形数据最大值仅占A／D转换器不失真输入范围的80％。低通滤波为20 kHz低通滤波器，其0.1 dB带宽为18 kHz，能有效滤除高频信号，同时保证较好的带内平坦度。　　2.2数据采集模块　　作为电子测量仪器要得到高精度的测量结果，要求A／D转换器的精度必须足够高。系统采用了TI公司的24 bit工业A／D转换器ADS1271，它可以得到低的漂移、极低的量化噪声。经ADS1271采样后的数据由DOUT引脚串行输出，与TMS320C6713的多通道缓冲串口McBSP直接相连。McBSP可支持字长为24 bit的数据，可直接接收A／D转换器输出的24 bit串行数据，并自动将接收数据中的数据位调整为DSP需要的格式。A／D转换器采样速率为44×103次采样／s。A／D转换器的采样脉冲信号由DSP的定时器提供。　　2.3数据处理模块　　DSP模块以TMS320C6713芯片为核心。该芯片是TI公司推出的一款高性能浮点DSP，内核包含了8个功能单元，采用先进的VLIW(甚长指令字)结构，使得DSP在单周期内能够执行多条指令。在225 MHz的时钟频率下，其最高执行速度可以达到1350×106次浮点运算／s。它还集成了丰富的片内外设单元，本系统主要用到的有HPI、EDMA和定时器。　　主机接口为HPI，外部主机可以直接访问内部的存储器和存储器映像存储器，TMS320C6713的HPI通过EDMA控制器实现对DSP存储空间的访问，本系统中Atmega64L是主机，可以直接配置TMS320C6713的EDMA定时器，节省TMS320C6713的查询周期。ED-MA(增强型直接存储器访问)是C621x／C671x／C64x系列DSP特有的访问方式，其启动可以由内部或外部事件触发，本系统采用外部触发。　　2.4外围设备　　失真度测试系统的控制和结果显示通过标准RS-232接口完成。因此该数字失真度测量仪可以作为一个独立测量模块集合在其他综合测试仪中。　　2.5控制模块　　主控制器使用Atmega64L单片机，完成系统的控制。DSP的处理结果由主控制器通过HPI接口获得，并缓存在内存中；当外部命令读取测试结果时，再通过RS-232接口发送出去。控制模块还完成系统的低功耗控制、DSP运行模式等控制。　　3软件实现　　图3是TMS320C6713芯片的软件流程图。该芯片受Atmega64L控制。Atmega64L根据RS-232接口获得指令，然后根据指令参数来控制仪器的运行。TMS320C6713可执行两种操作：一种是自动测量，首先对采集数据使用过零法粗测频率，然后把粗测频率作为参数传递给失真度测量程序，由失真度计算程序完成测量；另一种是定频测量，把Atmega64L传递来的频率参数直接传递给失真度测量程序完成失真度的测量，而不需要事先测量频率。　　失真度测量程序设有一个入口参数fmiddle，以此参数为中心频率在带宽30 Hz内使用最大值搜索法找寻准确的基频频率并完成失真度计算，返回值是实际测量的基频频率、信号电平、失真度。　　DSP处理完数据后，把测试结果缓存在内存中，单片机根据指令通过HPI接口读取测试结果。　　4性能分析　　测量速度是决定仪器实用性的重要因素。每计算一次失真度，基频能量二分法最大值搜索时一般需要5～7次迭代，每次迭代含3次向量乘法(2次乘法，2次加法)，取10次迭代需要30次向量乘累加操作、生成30个W向量；剩余6次谐波计算需要6个W向量，合计36个W向量。　　W向量的生成如果采用直接调用库函数，运送量太大，而

[align=center]2024年全球及中国电子测试测量仪器行业发展趋势和现状研究[/align][align=center]陈昕[/align][align=center](广州思林杰科技股份有限公司 市场总监)[/align]前言：电子测试测量仪器是利用电子技术来进行测量的装置，是电子制造、电子设计、电子应用等领域不可或缺的工具。随着电子技术的不断发展，电子测试测量仪器的技术水平也不断提高，应用范围也不断扩大。电子测试测量仪器的广泛应用涉及通信、半导体、医疗、能源等多个领域，其性能和技术水平直接关系到各行业的科研、生产和服务水平。在全球范围内，这一领域正经历着巨大的变革，从而催生出新的机遇和挑战。近年来，全球及中国电子测试测量仪器行业保持稳步增长态势。在全球经济发展、工业技术水平提升背景下，全球电子测试测量仪器市场规模持续增长，预计到2025年，全球电子测试测量仪器行业市场规模将增长至172.72亿美元。中国电子测试测量仪器行业市场规模近年来也保持快速增长态势，2022年中国电子测试测量仪器行业市场规模为381.6亿元人民币，预计2023年将逐步扩大至410.4亿元人民币。在我国利好政策驱动下，智能制造、5G通信、汽车电子等下游产业快速发展，电子测试测量仪器行业也实现了快速增长。未来，全球及中国电子测试测量仪器行业将呈现以下发展趋势：[b]智能化[/b]：电子测试测量仪器将向智能化方向发展，以满足工业制造智能化、自动化的需求。智能化电子测试测量仪器将具有更强的自动化、网络化、可视化等功能，能够实现更高效、更精准的测试。[b]集成化[/b]：电子测试测量仪器将向集成化方向发展，以满足工业制造小型化、轻量化的需求。集成化电子测试测量仪器将多种功能集成到一个平台上，能够实现更便捷、更灵活的测试。[b]虚拟化[/b]：电子测试测量仪器将向虚拟化方向发展，以满足工业制造虚拟化、仿真化的需求。虚拟化电子测试测量仪器将通过计算机模拟实现测试，能够实现更安全、更高效的测试。本文章将对全球及中国电子测试测量仪器行业的发展现状、发展趋势及竞争格局进行深入分析，并对行业发展趋势进行展望。[b]1. 电子测试测量技术/仪器的发展历史[/b]电子测试测量技术和仪器的发展历史可以追溯到电子产业的早期阶段，随着电子技术的不断进步和应用领域的拓展，测试测量仪器在推动科技进步和确保电子设备性能的过程中发挥了关键作用。电子测试测量技术/仪器的发展历史可以追溯到19世纪初，以下是电子测试测量技术和仪器的发展历史中一些关键阶段：1820年，德国物理学家Johann Schweigger发明了检流计，这是世界上第一台电子测试仪器。检流计可以用来测量电流强度。1887年，爱迪生发明了真空管，这是电子测试测量技术发展的一个重要里程碑。真空管可以用来放大电信号，这使得电子测试仪器的测量精度和灵敏度得到了大幅提高。20世纪初，电子测试仪器的发展进入了快速发展阶段。1920年，美国的贝尔实验室发明了示波器，这是世界上第一台能够显示电信号波形的仪器。示波器的出现，极大地提高了电子测试技术的水平。20世纪中叶，电子技术的快速发展，推动了电子测试测量仪器的进一步发展。1956年，美国的Tektronix公司发明了数字示波器，这是世界上第一台能够显示数字电信号的仪器。数字示波器的出现，使得电子测试技术更加精准和灵活。20世纪70年代，集成电路技术的出现，使得电子测试测量仪器更加小型化和低成本。1976年，美国的Agilent公司推出了世界上第一台数字存储示波器，这是世界上第一台能够存储电信号波形的仪器。数字存储示波器的出现，使得电子测试技术更加便捷和高效。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d34b9162-414b-4296-88bc-8d2590a7b8e3.jpg[/img][/align][align=center][b]Tektronix 547型示波器[/b] （图片来源 Lazy Electrons，产品来源Tektronix）[/align]随着技术应用发展，电子测试测量技术/仪器广泛应用于电子制造、电子设计、电子应用等领域。电子测试测量技术/仪器的发展，为电子技术的进步和应用提供了重要支撑，如：[b]1. 半导体技术的崛起（1950年代 - 1960年代）：[/b]o 集成电路（IC）的出现推动了测试测量技术的发展，测试复杂度大大提高。o 数字化测试技术开始兴起，数字化示波器、逻辑分析仪等成为主流。[b]2. 微处理器和计算机时代（1970年代 - 1980年代）：[/b]o 随着微处理器的普及，测试测量设备越来越依赖于计算机控制和数据处理。o 自动测试设备（ATE）开始流行，提高了测试效率和精度。[b]3. 高性能和高频率测试（1990年代至今）：[/b]o 通信技术的迅猛发展推动了对高频、高速数字信号的测试需求，射频测试、高速数字通信测试等成为焦点。o 高性能、高灵敏度、高精度的仪器不断涌现，以满足现代电子设备复杂性的测试需求。[b]4. 物联网和5G时代（21世纪）：[/b]o 物联网和5G技术的崛起带动了对更高频率、更大带宽的测试需求，尤其是在通信和无线领域。o 智能化、云端化等技术的融入使得测试数据的处理和分析更为高效。[align=center][img=,600,355]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d8a324a8-b670-4534-b1fb-2ac078b8eaa7.jpg[/img][/align][align=center][b]芯片测试系统[/b] (图片来源：Teradyne，产品来源：Teradyne、Litepoint)[/align]未来，电子测试测量技术/仪器的发展将继续保持快速增长态势。随着智能制造、5G通信、人工智能、量子计算、新型材料等技术的进步，电子测试测量技术/仪器将向智能化、集成化、虚拟化等方向发展。[b]2. 以思林杰的发展历程看行业的时代变迁[/b]广州思林杰科技股份有限公司（后简称“思林杰科技”）成立于2005年，是一家领先的测试测量技术与方案提供商。思林杰科技从2010年开始进入自动化测试行业；2013年推出第一代基于ARM+DSP的仪器模块应用于消费类电子产品生产测试场景；2014年推出第二代 ARM+FPGA 仪器模块平台并推向市场；2019年发布第三代嵌入式仪器平台并投入市场，得到国内外多个知名厂商的批量使用并获得好评；2021推出 Nysa 模块化仪器平台与Archon SDK平台；2022年完成IPO登陆上交所科创板；2023年聚焦在高精密、高速及射频测试测量方向发力，实现更高端测量仪器的样机研发。思林杰科技近年来获得国家第四批专精特新“小巨人”企业，广东省高新技术企业，成立院士专家工作站，并与多所高校建立联合实验室。[align=center][img=,800,376]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/8d626d5c-e1b5-47ed-bb4d-1bbaa6b179a3.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰科技发展历程[/b][/align]思林杰科技进入测试测量领域，顺应了行业发展和时代变迁。可穿戴消费类电子产品设备结构非常精密，测试测量的需求规格高，并需要多台仪器设备的组合才能完成各种信号的采集和激励，譬如传感器端的高灵敏度微弱信号，高速的数字信号，射频频段的信号录播与回放，电源的电压电流数据采集分析等。最开始，客户在研发阶段用了多台传统仪器进行测试系统搭建进行原型机验证与测试，NPI 转产时，客户寻求更高效的测试解决方案，我们和客户一起深入讨论需求和应用场景，自研了基于 FPGA 控制器架构，在自研总线上搭载了多种类型的仪器模块，FPGA控制器与仪器模块间通过底层自研总线互联，采集与激励的信号处理通过 FPGA 数字逻辑进行并行处理与算法加速。得益于选择了异构处理的 FPGA 架构，内部集成了ARM处理器，测试用例的调度、测试结果的判定都在同一颗 FPGA 芯片内完成，测试效率得到了很大的提升，同时在体积、成本上也满足了客户转产的需求。经过多个迭代，思林杰科技发布了Nysa模块化仪器平台：有基于嵌入式架构的板卡形态，体积紧凑易于集成到设备里；有基于插卡式架构的仪器形态，多类型仪器可简单插拔配置相应固件就可完成测试系统的搭建，适用于研发和NPI的原型机验证测试阶段；同时思林杰科技有强大的按需定制能力，可以为客户定制各类综合测试仪和解决方案。[align=center][img=,600,339]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/8e755e19-c44e-40df-a853-be9507d4c4f5.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 Nysa 模块化仪器与 Archon 测试系统管理软件[/b][/align]随着客户对测试测量需求的不断提升，思林杰科技继续完善Nysa仪器模块库，推出了面向高精密测量、高速数字信号测试测量与射频信号测试与处理的解决方案。测试测量解决方案覆盖从验证-试产-量产完整产品周期，与国际领先客户进行深度合作和获得高度认可，其解决方案广泛用于各消费类电子产品原型机测试、NPI、产线测试。近年来，思林杰基于FPGA搭配各类型AD/DA和传感器解决方案开始进入工业、生物医疗、芯片产业等应用场景，有的作为客户产品各阶段的测试测量解决方案，有的甚至作为关键零部件集成到客户产品内部，加深了与客户的紧密合作，对行业发展和对测量需求的提升都有了更深刻的理解。思林杰科技拥有超过200人的专业研发团队，自身具有制造与装配生产线，可保证质量与及时交付，并已通过IS09001,14001和27001等认证，运作成熟规范。[b]3. 全球及中国电子测试测量仪器市场规模及现状[/b]全球电子测试测量仪器市场规模近年来保持稳步增长态势，2022年全球电子测试测量仪器行业市场规模扩大至146.10亿美元。在全球经济发展、工业技术水平提升背景下，全球电子测试测量仪器市场规模持续增长，预计到2025年，全球电子测试测量仪器行业市场规模将增长至172.72亿美元。[align=center][img=1.png,600,351]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/83974d94-9f2f-4e46-874f-7eaa9e377867.jpg[/img][/align][align=center]数据来源：FROST&SULLIVAN[/align]从区域发展情况来看，欧美等发达国家和地区的电子测试测量仪器行业起步早，上下游产业链基础较好，市场规模较大，市场需求以产品升级换代为主，市场将保持中高速增长 而以中国和印度为代表的亚太地区，处于产业转型升级及新兴市场快速发展阶段，对电子测试仪器的需求潜力大，市场规模将以较高的增速增长。[b]中国电子测试测量仪器市场规模[/b]中国电子测试测量仪器行业市场规模近年来也保持快速增长态势，2022年中国电子测试测量仪器行业市场规模为381.6亿元人民币，预计2025年将逐步扩大至410.4亿元人民币。在我国利好政策驱动下，智能制造、5G通信、汽车电子等下游产业快速发展，电子测试测量仪器行业也实现了快速增长。[align=center][img=1.png,600,351]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d09ecc8e-469c-4521-ac84-96ee09073dca.jpg[/img][/align][align=center]数据来源：FROST&SULLIVAN[/align][b]市场规模增长驱动力[/b]全球及中国电子测试测量仪器市场规模的增长主要由以下因素驱动：电子技术的不断发展，推动了电子产品的快速迭代，对电子测试测量仪器的需求不断增加。智能制造、5G通信、人工智能等新兴技术的快速发展，对电子测试测量仪器提出了更高的要求。政府政策的支持，鼓励企业进行技术创新和产业升级，推动了电子测试测量仪器行业的发展。[b]市场竞争格局[/b]全球电子测试测量仪器行业市场格局相对集中，CR5约为45%。其中是德科技、罗德与施瓦茨、泰克、美国国家仪器等海外厂商占据市场主导地位。我国电子测试测量仪器行业起步相对较晚，在技术上与国外优势企业仍有一定的差距。近年来，我国电子测试测量仪器行业发展迅速，涌现出一批具有竞争力的企业。[b]行业发展趋势[/b]未来，全球及中国电子测试测量仪器行业将呈现以下发展趋势：智能化：电子测试测量仪器将向智能化方向发展，以满足工业制造智能化、自动化的需求。智能化电子测试测量仪器将具有更强的自动化、网络化、可视化等功能，能够实现更高效、更精准的测试。集成化：电子测试测量仪器将向集成化方向发展，以满足工业制造小型化、轻量化的需求。集成化电子测试测量仪器将将多种功能集成到一个平台上，能够实现更便捷、更灵活的测试。虚拟化：电子测试测量仪器将向虚拟化方向发展，以满足工业制造虚拟化、仿真化的需求。虚拟化电子测试测量仪器将通过计算机模拟实现测试，能够实现更安全、更高效的测试。[b]4. 思林杰主推产品介绍思林杰科技目前产品主要方向：NYSA模块化仪器平台、高精确度测量、高速信号采集与处理、射频信号测量。[/b]NYSA 模块化仪器平台基于 FPGA 控制器， 搭配丰富灵活的仪器模块， 如万用表、示波器、 信号发生器、 数据记录仪、 音频分析仪等，涵盖了高精度信号、 高速与射频信号测试测量与处理， 提供了从验证到试产到量产的全过程测试测量技术与解决方案，同时与国际领先客户达成深度合作并获得高度认可。 其中嵌入式形态结构紧凑， 方便内嵌设备； 插卡式仪器整机不仅可用于原型开发，也可作为多功能仪器使用；独立式仪器小巧紧凑， 可作为单?功能的仪器使用； 综测仪提供了多功能完整产线测试整机形态，方便部署于产线测试。[align=center][img=,600,375]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/f17b4e21-1207-4830-85f5-bae10e05dd8a.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 NYSA 嵌入式模块化仪器平台[/b][/align]Archon 是思林杰科技自主研发的测试系统管理软件，具备图形化低代码方式开发管理运行测试用例和测试计划的功能，支持实时查看测试数据、自定义数据报表模板和可视化数据分析，并为与其他企业系统的连接提供可扩展的插件。Archon 广泛应用在消费电子、军工和芯片测试领域， 降低测试用例开发管理难度，提高生产测试效率。Nysa Toolkit 是 Archon的辅助固件生成工具。其根据不同的项目需求， 可以选择对应的仪器模块并连接到控制模块上，自动生成固件；同时也是 Nysa 系列仪器的管理工具，可以对嵌入式、 插卡式及独立式的 Nysa 仪器集中管理， 可以动态生成仪器的固件，并下载到仪器中。对于不同的仪器模块，显示相应的虚拟仪表界面，方便用户调试。[align=center][img=,800,237]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/ead5ebbb-8bf6-4191-90db-f1ac747cdb5d.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 Archon 测试系统管理软件[/b][/align]近期除了NYSA模块化仪器平台和Archon测试系统管理软件，思林杰科技基于最新的FPGA技术和各类AD/DA解决方案，推出了面向高精度测量、高速信号采集与处理、射频信号测量等解决方案。[b]在高精度测量方面，思林杰科技近期推出了SG2165 SMU和SG2350 LCR。[/b]其中，SG2165 精密型源测量单元（SMU）能够实现四象限操作，精确地输出电压或电流以及同时测量电压、电流和电阻等功能。 它集成了六位半数字万用表 (DMM) 、五位半精密电压源、电流源、电?负载和脉冲发生器的功能，具有功能丰富，体积小巧紧凑，标准测试接口等特点，非常适合集成到测试治具中。 SG2165 源测量单元平台主要用于半导体、传感器、模组等 IVR 测试测量。 其为产线测试量身定制，为产线自动化 ICT 及 FCT 提供高效、高性价比的测试测量解决方案。[align=center][img=,600,338]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/eab2fcd3-4828-4a8c-8ca1-d9d8688a3cd2.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2165 精密型源测量单元（SMU）[/b][/align]SG2350 LCR 阻抗测试平台是?款精密型 LCR 表，其基本测量精度可达 0.1%，且支持多种测试激励模式，拥有 20 Hz 至 2 MHz 连续可调的宽范围测试频率，和 0 至 2 Vrms 或者 0 至20 mArms 连续可调的测试电平，并且具备可调最大 2 V 的直流偏置功能；使用该平台可测试多种阻抗参数，测量精准的同时，可实现最快 5 ms 的测量速度，其紧凑、模块化的设计为产线元器件，材料，半导体，MEMS 等阻抗参数测试测量提供了高性价比的选择。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/c69ee238-6349-445c-ae97-d83823bc4b09.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2350 LCR 阻抗测试平台[/b][/align][b]在高速信号采集与处理方面，思林杰发布了一系列的DAQ数据采集方案与产品和高速总线分析解决方案。[/b]DAQ 数据采集其核心架构由模拟前端 （AFE）、模数转换器 （ADC）、现场可编程门阵列 (FPGA) 及触发(Trigger) 组成。 通过 AFE 对模拟信号进?信号调理后经过核心组件 ADC 实现对模拟信号的数字量化编码，最终通过 FPGA SoC 进行数字信号的采集、处理、分析和存储转发，并可支持内部及外部触发采样模式。其中，FPGA基于Xilinx Zynq 7000系列和UltraScale+系列，采集速率涵盖250KSPS/24bits到5GSPS/8bits等各速率和分辨率解决方案。DAQ数据采集产品有三种产品形态，如数据采集模块、数据采集卡及数据采集盒子三种数据采集系统，方便根据客户需求选择合适的产品形态和提供丰富的解决方案。DAQ 产品主要用于电气、物理、机械、声学和信号路由等应用，可以表征产品、监控过程或产品、以及控制测试过程，在科学研究、工业自动化和测试测量领域起着关键的作用。[align=center][img=,800,222]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/003d1563-4aec-481a-8d21-6c5dcbe65522.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG1227 PCIe 高速采集卡 思林杰 SG2168 高速采集盒[/b][/align]在高速总线分析方面，思林杰科技推出了MIPI D-PHY、C-PHY、RFFE、SPMI、I3C、USB-C、Displayport等高速信号采集、发生与处理解决方案，并可基于FPGA SerDes进行PRBS误码率测试，基于BERT进行高速眼图重构，为高速数据线缆测试、高速连接器测试、高速信号链路测试提供了高效高性价比的信号质量评估测试方案。[align=center][img=,1200,266]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/1fd432a0-7ec8-4cf1-8d6f-f51473f3b3a7.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2153 MIPI Tester PRBS 眼图、误码率&抖动容限分析[/b][/align][b]在射频信号测量方面，思林杰发布了VNA矢量网络分析仪和SDR软件无线电平台。[/b]SG2163 型矢量网络分析仪（ VNA ）是?款四端口8.5GHz频段的射频测量仪器，其能够提供射频信号传输特性和反射特性的测量。本产品由主机单元和基于 Windows 系统的控制与显示界面组成，数据传输采用千兆以太网接口。其广泛应用于微波器件，材料科学，电子通信等基础行业和领域的射频研发测试与生产制造。[align=center][img=,600,316]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/7b832b75-e3f2-4536-9969-c9229591c5c6.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2163 矢量网络分析仪（ VNA ）[/b][/align]SG2277 是?款基于软件无线电技术的射频测试平台。 该平台集主控处理器、FPGA 和射频前端于?体，最多支持 8 个通道的信号生成、8 个通道的信号采样及频谱分析功能。平台有射频直采和上下变频解决方案，覆盖到6.5 GHz频段，该功能使平台在许多场景的应用中更加灵活。[align=center][img=,600,481]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/012045ba-4e00-42a8-bf4b-b9f866cce066.jpg[/img][/align][align=center][b]思林杰 SG2277 射频测试平台（ SDR ）[/b][/align][b]5. 思林杰产品主要应用场景[/b]思林杰科技NYSA模块化仪器最开始应用于消费类电子产品线测试。典型的消费类电子产品FCT测试系统需要若干台传统仪器进行系统搭建，如示波器、信号源、数字万用表、音频分析仪、时序测试仪、程控电源、电子负载、频率计、FW烧写器、数字IO逻辑分析仪、通信接口扩展器、开关与切换等，有的功能由于传统仪器没有现成解决方案或成本高，甚至需要定制化实现。因此，由于消费类电子产品更新速度快、技术应用周期短，基于传统标准仪器的解决方案不能高效满足FCT测试需求，其需要涵盖多类型仪器的测试系统搭建与调试，难度高，周期长，行业内缺乏定制化功能交钥匙解决方案，成本高、体积大、UPH效率低。为了解决消费类电子产品FCT测试这个行业痛点，思林杰科技推出了NYSA模块化仪器的FCT解决方案。其解决方案基于FPGA SOC（ARM+FPGA）控制器，通过底层自定义总线与模块化仪器并行互联。其中FPGA的数字逻辑层，可进行采集和激励信号的处理和算法加速，数字信号的测试测量和一些解决方案的逻辑层面定制，如频率计、FW烧写器、通信接口扩展、数字IO逻辑和总线分析；FPGA的ARM处理器可运行RTOS或Linux，运行Archon测试系统对仪器模块和信号的管理、进行测试序列的执行和测试结果处理和上传。同时，思林杰科技积累了丰富的仪器模块库，如示波器系列、信号源系列、数字万用表系列、音频分析仪系列和相应的IP库，可通过对现有仪器模块选择进行FCT测试系统的搭建。在同等机柜体积下，嵌入式模块化仪器相对于传统标准仪器可以实现总效率、并行通道数、读取、切换、上传效率、测试速率的提高，测试系统体积的大幅减小，总成本的大幅降低。[align=center][img=,1200,638]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/4036335b-73c0-409a-b4b0-e39e1b7b512a.jpg[/img][/align][align=center][b]基于标准仪器的传统 FCT 产线测试方案 思林杰NYSA嵌入式仪器模块FCT产线测试方案[/b][/align]近年来，NYSA模块化仪器除了在消费类电子产品测试FCT站点大规模部署和应用外，在ICT、模组测试甚至芯片测试阶段也开始用NYSA模块化仪器解决方案进行测试系统的搭建，此外也有越来越多的客户在研发阶段的原型机测试、NPI小批量转产验证测试使用此解决方案。在其他行业，如生物医疗、新能源等领域，思林杰科技也基于FPGA和最新的AD/DA解决方案，提供核心模块的研发、验证、批量生产服务，譬如基于FPGA的卷积、反卷积、积分等算法处理与加速，生物医疗传感器微弱信号的共模噪声抑制和降噪处理，高压信号与激光信号的激励与处理，AI视觉检测与成像处理系统等。这些方案与模块除了应用于产品测试领域，更广泛的应用于客户产品核心模块的测量领域，思林杰科技提供了全过程产品研发、验证、批量生产测试交付服务。[align=center][img=,1200,638]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d341c74d-407c-4238-a89b-07796861366a.jpg[/img][/align][align=center][b]生物医疗应用：微生物质谱检测系统应用 新能源应用：激光测风雷达[/b][/align][b]6. 未来电子测试测量技术/仪器发展趋势[/b][align=center][img=,600,400]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/e6ef2360-1f51-43da-823c-9c3a51c767b6.jpg[/img][/align][align=center][b]智慧工厂[/b][/align]未来电子测试测量技术和仪器的发展趋势涉及多个方面，其中包括：[b]高集成度和多功能性[/b]： 未来的测试测量仪器很可能会越来越集成多种功能，以适应复杂系统和设备的测试需求。高度集成甚至多学科融合的仪器可以提高测试效率和减少测试成本。[b]宽频带和高速度[/b]： 随着通信和数据传输速度的不断提高，测试仪器需要具备更高的频带和速度来适应新兴技术和标准，如5G通信、物联网和高速数字总线。[b]自动化和智能化[/b]： 自动化在测试领域一直是一个重要的趋势。未来的仪器很可能会更加智能，具备自动识别、配置和执行测试任务的能力。机器学习和人工智能技术可能会应用于测试数据分析和故障诊断。[b]量子技术的应用[/b]： 随着量子技术的发展，未来的测试测量仪器可能会受益于量子传感器和量子计算的应用。这可能导致更高的精度和灵敏度。[b]更小型化和便携性[/b]： 随着设备越来越小型化，测试仪器也需要变得更小巧轻便，以适应便携性需求。这对于现场测试和移动设备的测试非常重要。[b]绿色技术[/b]： 环保和能源效率是未来技术发展的关键方向之一。测试仪器可能会采用更为节能和环保的设计，以减少对环境的影响。[b]云服务和远程访问[/b]： 云服务和远程访问技术的发展使得测试数据的存储、管理和分析更加便捷。未来的测试仪器可能会更加集成云服务，实现远程访问和协作。[align=center][img=,600,318]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/08791105-58bd-4737-8e29-c18f181414a2.jpg[/img][/align][align=center][b]AI 人工智能[/b][/align]总体而言，未来电子测试测量技术和仪器的发展趋势将在高度集成、自动化、智能化、便携性和环保方面取得进展，以适应不断变化的技术和市场需求。随着人们对生活品质需求的提升、新技术应用的产品导入，测试测量市场将保持高速发展趋势，测试测量市场规模将越来越大，各芯片厂商、仪器仪表厂家、测试测量方案集成商将在此市场拥有很好的发展空间，结合市场需求和自身产品、解决方案优势持续迭代，获得长远发展。[b]作者简介[/b]陈昕(1982)，男，2006英国约克大学获得通信工程硕士学位，毕业后分别从事基于FPGA的通信系统设计与研发、FPGA芯片系统应用、电子测试测量系统与应用设计与市场发展主管，现任思林杰科技市场总监、北美与线上营销总监。[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

激光测振仪（进口）位移分辨率高达0.008纳米。非接触测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率.全场激光测振实现整面物体的XY轴的振动测量可以彩色动画输出。三维激光测振可以实现三轴振动测量。多点激光测振可以同时实现16个振动点振动并可以测量物体瞬间振动和实时的振动模拟.激光测振可以实现对振动幅值、频率测量。使用激光进行非接触式测量，记录被测体在振动过程中的运动轨迹，并用最大值减去最小值得到振幅。当振幅超过界定值时，可通过软件设置输出报警信号。采样频率高，能精确还原被测体运动轨迹并通过图像显示出来。传统振动测量仪都会对机械振动带来的影响，而激光测振动测量系统使用各种滤波器，使测量结果更加稳定准确。还可以测量高频振动加速度峰值和平均值，测量低频振动速度有效值。应用于如磁盘振动，压电陶瓷振动，汽车玻璃振动，桥梁振动，油罐车振动，机床精密加工振动等等微小振动的测量。非接触高精密测量精密机械加工微小振动 如压电陶瓷，硬盘振动，山体滑坡，桥梁振动，汽车发动机输油管振动，汽车玻璃振动，高压器振动，水面振动激光多普勒测振仪最大测量速度可达20m/s，最大频率范围可达2.5MHZ，可以检测到纳米级别的振动.激光多普勒测振仪采用非接触式的测量方式，可以应用在许多其他测振方式无法测量的任务中。频率和相位响应都十分出色，足以满足高精度、高速测量的应用。使用非接触测量方式，无需耗时安装调节传感器、无质量负载，且不受被测物体的尺寸、温度、位置、振动频率等的限制。还可以检测液体表面或者非常小物体的振动，同时，还可以弥补接触式测量方式无法测量大幅度振动的缺陷。 应用：如磁盘振动，压电陶瓷振动，汽车玻璃振动，桥梁振动，油罐车振动，机床精密加工振动等等微小振动的测量。 非接触高精密测量 精密机械加工微小振动如压电陶瓷，硬盘振动，山体滑坡，桥梁振动，汽车发动机输油管振动，汽车玻璃振动，高压器振动，水面振动 整片不规则金属大型结构、高温、柔软物体等接触式测量无法满足的振动测量领域的振动情况

【作者】： 【题名】：关于“免维护”余氯测量仪和浊度测量仪的优势及应用介绍 【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-STSC201205010.htm

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

[align=center] [/align] [font=Tahoma, Helvetica, SimSun, sans-serif][size=18px][color=#444444]实验室分析测量仪器的校准周期，受其使用频繁程度、准确度要求、使用环境、使用性能等多因素的影响，可以说，确定校准周期是一项复杂的工作。很多分析人员在以下几个问题常有疑问，比如，如何确定校准周期的原则和方法? 确定校准周期有哪些现行的标准依据？实验室内部可以随意更改仪器设备的校准周期吗？ 标准文件中关于校准周期如何解释？ CNAS-CL01中5.10.4.4校准证书（或校准标签）不应包含对校准时间间隔的建议，除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后，第二次校准时间先规定1年，1年后送校准实验室校准还是很“准”（与第一次校准比较在误差范围内），就可定2年了，依次类推，最长不能超过5年，但期间一定需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。 校准周期的确定要有理有据 先说校准周期，也就是确认间隔，它是衡量计量工作质量的关键环节，关系到在用测量仪器的合格率。只有严格执行校准周期，才能保证科研生产等各项活动的顺利进行。为保证量值准确可靠，必须科学的确定校准周期。 校准周期不合理会怎样？ 随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录，可将其作为最基本的依据。但随着时间的变化或是操作环境的变化，或者是测量仪器使用方式和条件的变化，可能导致仪器失准。因此，当测量仪器的一个校准周期过后，就该立即校准。另外，在有效校准期内，也应不定期抽查仪器偏离的状态。根据上述信息对校准周期做适当调整，适当延长或缩短校准周期。 确定校准周期的原则 确定校准周期必须遵循两条对立的基本原则： 一是在这个周期内测量仪器超出允许误差的风险尽可能最小； 二是经济合理，使校准费用尽可能最少。为了寻求上述风险和费用两者平衡的最佳值，必须使用科学的方法，积累大量的实验数据，经分析研究后确定。 必须按照校准规程规定的周期进行校准吗？ 用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难保证所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，必须按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要绝对正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。 注意：盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。 确定校准周期的依据 校准周期的确定需要各种专业知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。 确定校准周期的依据是： 使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。 测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失；但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。 使用单位的维护保养能力，如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期；反之，则长一些。 测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。 对产品质量关系较大的， 以及有特殊要求的测量仪器， 其校准周期则相对短一些；反之， 则长一些。 如何科学地确定校准周期？ 统计法： 根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器， 统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。 小时时间法： 这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。 但是，这种方法在实践中有下列缺点： (1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法； (2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。 比较法： 当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期 如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。 图表法： 测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出最佳的校准周期。 常见疑问解惑Q&A 1.实验室设备的校准周期可以自己规定吗？ 一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？ 最好是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求（如果你们申请的是CNAS认可）。其实在标准（ISO/IEC 17025）5.10.4.4中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们必须给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。 2.校准的问题应该问仪器设备公司吗？ 校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期相对不合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次；另一把钢尺，随便放工作台上，一天8个小时都在用；校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对第一把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要检定。 3.校准周期和期间核查的联系？ 国家有规定在校准周期内，设备维修、跟关键换零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来保证设备的稳态和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于国家规定的周期。 实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要保证设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，不确定度性越大。 小结 计量校准是提高实验室效率的重要环节，而确定校准周期是计量工作的一项关键环节，对产品质量和服务质量方面起着十分重要的作用，在确定测量仪器的校准周期时，要对测量仪器的实际使用情况进行科学分析后评估决定。[/color][/size][/font]

[size=4][B][color=#DC143C]如何选配测量仪器[/color][/B][/size][center]重庆市计量测试学会主任 周兆丰[/center] 各单位在科研、生产、试验投入和提供用户服务前，依据需要对购入测量仪器进行策划和采购。目前，大多数单位购置测量仪器都严格遵守标准测量器具和被测量器具准确度比列关系（即三分之一原则），但在科研、生产和试验检测中使用的测量仪器大多数未进行测量、技术和经济特性评定，特别是有的单位仅仅满足测量仪器有无的问题，至于测量仪器是否满足预期使用要求，（如准确度、稳定性、量程和分辨力等）进行确认。因此，掌握测量仪器的选配原则、相关要求及评定方法是很有必要的，对确保测量质量、降低成本和提高效率都有好处。[B]一、测量仪器的选配原则[/B]选配时应坚持与本单位科研、生产、试验和经营相适应的原则，即要考虑仪器的先进性又不盲目追求高技术指标，还要注意经济实用，以达到“满足预期使用要求的目的”。选配决策时，应综合考虑企业、事业单位的规模、产品类型或服务对象、技术指标、工艺流程等特点。其具体原则是： 1.实用原则。坚持按被测对象的实际需要选配测量仪器，如：产品的结构、批量、技术性能参数；生产工艺过程中需要测量和监督的有关参数；化学分析中需要检测、控制和调节的参数；进料、出库、投入以及经销方面测量需要；能源计量、安全与环境监测的需要；建立计量标准开展量值传递的需要等进行配备。 2.选配测量仪器应从测量、技术、经济特性综合考虑。 （1） 测量特性 明确测量仪器的计量特性以及为确保计量特性的必要条件是： 1﹥测量仪器应具有预期使用要求的测量特性，包括准确度、稳定性、测量范围、分辨力和灵敏度等，保证测量结果可靠是首要条件。 2﹥测量仪器应能实现量值传递和量值溯源要求。测量仪器的检定或校准能符合现行有效检定规程或校准技术规范的要求。 3﹥接受检定或校准方法和对测量对象进行测量的方法要科学、合理、可行、简便。 4﹥具有合理的检定周期（或确认间隔）。 5﹥能对测量结果进行评价。

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

实验室分析测量仪器的校准周期，受其使用频繁程度、准确度要求、使用环境、使用性能等多因素的影响，可以说，确定校准周期是一项复杂的工作。很多分析人员在以下几个问题常有疑问，比如，如何确定校准周期的原则和方法? 确定校准周期有哪些现行的标准依据？实验室内部可以随意更改仪器设备的校准周期吗？ [b]标准文件中关于校准周期如何解释？[/b] CNAS-CL01中5.10.4.4校准证书（或校准标签）不应包含对校准时间间隔的建议，除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况，本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后，第二次校准时间先规定1年，1年后送校准实验室校准还是很“准”（与第一次校准比较在误差范围内），就可定2年了，依次类推，最长不能超过5年，但期间一定需安排期间核查，如果发现不稳定情况，就需重新校准。 [b]校准周期的确定要有理有据[/b] 先说校准周期，也就是确认间隔，它是衡量计量工作质量的关键环节，关系到在用测量仪器的合格率。只有严格执行校准周期，才能保证科研生产等各项活动的顺利进行。为保证量值准确可靠，必须科学的确定校准周期。 [b]校准周期不合理会怎样？[/b] 随着时间的推移，测量仪器的校准周期是否合理，取决于校准合格率，也取决于仪器的历史校准记录，可将其作为最基本的依据。但随着时间的变化或是操作环境的变化，或者是测量仪器使用方式和条件的变化，可能导致仪器失准。因此，当测量仪器的一个校准周期过后，就该立即校准。另外，在有效校准期内，也应不定期抽查仪器偏离的状态。根据上述信息对校准周期做适当调整，适当延长或缩短校准周期。 [b]确定校准周期的原则[/b] 确定校准周期必须遵循两条对立的基本原则： 一是在这个周期内测量仪器超出允许误差的风险尽可能最小； 二是经济合理，使校准费用尽可能最少。为了寻求上述风险和费用两者平衡的最佳值，必须使用科学的方法，积累大量的实验数据，经分析研究后确定。 [b]必须按照校准规程规定的周期 进行校准吗？[/b] 用户的使用情况是千差万别的，若不加区别的一律机械的按照校准规程规定的周期进行校准，很难保证所有的测量仪器在校准周期内都是合格的。因此，必须按照测量仪器的实际使用情况确定校准周期。但是，由于实际情况相当复杂，要绝对正确确定校准周期，是难以办到的，只能要求大体上正确、合理，使实际情况更加完善、科学，更加经济合理。 注意：盲目的缩短校准周期将造成社会资源的浪费，对测量仪器的寿命、准确度及生产和人力也将带来不利影响。而单纯由于资金缺乏或人员不够而延长校准周期将是十分危险的，可能由于使用不准确的测量仪器带来更大的风险甚至严重的后果。 [b]确定校准周期的依据[/b] 校准周期的确定需要各种专业知识，考虑多种因素。若超过一个周期，可能引起质量特性的恶化，那是由于机械磨损、灰尘、性能和实验频次等所致。对这些因素变化的敏感性取决于测量仪器的类型。质量好的，可能受的影响小一些；质量不好的，可能受的影响大一些。因此，各个实验室应根据实际情况，确定每种测量仪器的校准周期。 确定校准周期的依据是： [list][*] 使用的频繁程度。使用频繁的测量仪器，容易使其计量性能降低，故可以缩短校准周期来解决。当然，提高测量仪器所用的原材料性质、制造工艺和使用寿命也是重要的手段。 [*] 测量准确度的要求。要求准确度高的单位，可适当缩短校准周期。各个单位要根据自己的实际情况决定，需要什么准确度等级，就选择什么等级。该高就高，该低就低，不盲目追求高准确度，以免造成不必要的损失；但精度过低，满足不了使用要求，给工作带来损失，也是不可取的。 [*] 使用单位的维护保养能力，如果单位的维护保养比较好，则适当缩短校准周期；反之，则长一些。 [*] 测量仪器的性能，特别是长期稳定性和可靠性的水平。即使同类型的测量仪器，稳定性、可靠性差的，校准周期应短一些。 [*] 对产品质量关系较大的， 以及有特殊要求的测量仪器， 其校准周期则相对短一些；反之， 则长一些。 [/list] [b]如何科学地确定校准周期？ 统计法：[/b]根据测量仪器的结构、预期可靠性和稳定性的相似情况，将测量仪器初步分组，然后根据一般的常规知识初步确定各组仪器的校准周期。对每一组测量仪器， 统计在规定周期内超差或其他不合格的数目，计算在给定的周期内，这些仪器与该组合格仪器总数之比。在确定不合格测量仪器时，应排除明显损坏或由用户因可疑或缺陷而返回的仪器。如果不合格仪器所占的比例很高，应缩短校准周期。如果证明不合格仪器所占的比例很低，则延长校准周期可能是经济合理的。如果发现某一分组的仪器(或某一厂家制造的或某一型号)不能和组内其他仪器一样工作时，应将该组划为具有不同周期的其他组。 [b]小时时间法：[/b]这种方法是确认校准周期以实际工作的小时数表示。可以将测量仪器与计时指示器相连，当指示器达到规定值时，将该仪器送回校准。这种方法在理论上的主要优点是，进行确认的仪器数目和确认费用与使用的时间成正比，此外可自动核对仪器的使用时间。例如我们使用某公司的示波器，不用连接计时器，可以直接在示波器上查到连续使用了多长时间，很方便管理。但是，这种方法在实践中有下列缺点： (1)当测量仪器在储存、搬运或其他情况发生漂移或损坏时，则不应使用本方法； (2)提供和安装合适的计时器，起点费用高，而且由于可能受到使用者干扰而需要在监督下进行，又增加了费用。 [b]比较法：[/b]当每台测量仪器按规定的的校准周期进行校准，将校准数据和前几次的校准数据相比，如果连续几个周期的校准结果均在规定的允许范围内，则可以延长它的校准周期 如果发现超出允许的范围，则应缩短该仪器的校准周期。 [b]图表法：[/b]测量仪器在每次校准中，选择有代表性的同一校准点，将它们的校准结果按时间描点，画成曲线，根据这些曲线计算出该仪器一个或几个校准周期内的有效漂移量，从这些图表的数据中，可推算出最佳的校准周期。 [b]常见疑问解惑Q&A 1.实验室设备的校准周期可以自己规定吗？[/b] 一般设备校准后证书上都会推荐一年一校准，有人说一些设备事完全不用每年都校准的。设备的校准周期可以自己规定吗？如果按自己规定的周期校准的话评审组认可吗？ 最好是自己规定校准周期，因为校准周期是和设备的使用情况相关的。校准周期可以自己确定，但同时还要参照国内的计量法要求（如果你们申请的是CNAS认可）。其实在标准（ISO/IEC 17025）5.10.4.4中明确指明，校准证书不应该包含校准间隔的建议，但是如果与客户有协议，或被法律明确规定的除外。所以，可以调整设备校准周期，但前提是你们必须给出调整后的合理依据，否则，审核时仍然不会被接受。 [b]2.校准的问题应该问仪器设备公司吗？[/b] 校准公司不了解设备的使用频率、保养情况、使用环境等因素，他给你定的校准周期相对不合理，比如一把钢尺，保管得很好，一年就用两三次；另一把钢尺，随便放工作台上，一天8个小时都在用；校准公司给的校准周期肯定都是1年1次，这样对第一把尺子校准周期太短了，对第二把尺子校准周期又太长，三五个月可能就失准了。仅对于企业实验室，第三方实验室因为要通过资质认定，要求不一样，可能很多设备都需要检定。 [b]3.校准周期和期间核查的联系？[/b] 国家有规定在校准周期内，设备维修、跟关键换零部件、仪器迁移等要重新校准，在校准周期内还要进行设备的期间核查，来保证设备的稳态和准确性。如果设备，这里指的是设备而不是尺子、圆规等，自己定义校准周期则要小于国家规定的周期。 实验室可以根据仪器特点，使用频率等等特性，自定义校准周期，只要保证设备处于正确使用状态，能达到预期使用即可。通常需要提供期间核查等措施，来证明仪器处于良好状态。但校准周期也不是越长越好，因为时间越长，不确定度性越大。 [b]小结[/b] 计量校准是提高实验室效率的重要环节，而确定校准周期是计量工作的一项关键环节，对产品质量和服务质量方面起着十分重要的作用，在确定测量仪器的校准周期时，要对测量仪器的实际使用情况进行科学分析后评估决定。

高频Q表是一种通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。本机是老产品QBG-3B高频Q表、AS2851、AS2852高频Q表的换代产品。它的测试回路采用了优化的设计、优质的介质材料和优良的涂覆工艺使残值减少。其高频信号源、Q值测定和显示部分运用了微机技术和智能化管理，数码锁定信号源频率，谐振回路自动搜索，测试标频自动设置技术，使得测试精度更高，使生产线分选测试速度大增。 Q值测量：1-999 三位数显，自动切换量程，可手动设置测量量程 固有误差≤5%±满度值的2% 工作误差≤7%±满度值的2% 电感测量：0.1μH-1000mH 误差5%±0.03μH 测试频率:25kHz-50MHz 五位 数显, 具有频标自动设置,自动搜索谐振点,Q值合格设置,声光指示 分辨率1×10 -4 ±1个字 调谐电容：主电容：40-500PF 误差±1%或 1PF 微调电容：±3PF 分辨率0.2PF

影像测量仪在行业内又被称为视频测量仪，前期习惯叫它二次元；它是将工件的投影和视频图像集合在一起，进行影像传送和数据测量的光、机、电、软件为一体的非接触式测量设备。适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域，机械、电子、仪表、五金、塑胶等行业广泛使用。　影像测量仪的分类如下：　　一.影像测量仪按原理分类　　A、手动型：手动移动工作台，影像测量仪具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；仪器备有RS-232接口，与电脑连接后，采用专用测量软件可对测绘图形进行处理及输出。　　B、全自动型：全自动光学影像测量仪是最新推出的一款光学测量仪器，专为高端全自动量测市场量身定制。大幅度减少阿贝误差，提高的测量准确度，有效保证各轴稳定性。同时引进日本伺服全闭环控制系统，采用我司最新开发的MCINS自动量测软体，具有CNC编程功能，能够大幅度提高了定位精准度及重复性、且测量速度快。　　　　二.影像测量仪按结构分类　　A、小型影像测量仪：工作台行程范围比较小，适合较小工件的检测。一般行程在150mm以内。　　B、普通型影像测量仪：工作台行程150mm—600mm之间，一般Y轴方向，行程在300mm范围内性价比是最好的。　　C、增强型影像测量仪：在普通型的基础上加探头，从而到达三维测量的效果，可以检测高度。　　D、大行程影像测量仪：大工作平台，根据客户的需求定制，奥秋目前可以制作1200mm左右行程，交货周期一般在3个月左右。

[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403070915305401_3453_5604214_3.jpg!w690x690.jpg[/img]　　ATP测量仪是一种用于测量环境中ATP(三磷酸腺苷)浓度的仪器。ATP是生物体内能量转换的重要分子，广泛存在于各种生物体内，包括细菌、病毒、真菌等微生物。因此，ATP测量仪通常被用于环境监测、食品安全、医疗卫生等领域，以检测微生物的存在和数量。　　ATP测量仪的工作原理是基于荧光素酶和荧光素的反应。荧光素酶能够催化ATP与荧光素发生反应，产生荧光信号。荧光信号的强度与ATP的浓度成正比，因此可以通过测量荧光信号的强度来推算ATP的浓度。　　ATP测量仪具有快速、简便、灵敏度高、可重复性好等优点，因此在环境监测、食品安全、医疗卫生等领域得到了广泛应用。在环境监测方面，ATP测量仪可以用于检测水、土壤、空气等环境中的微生物污染情况，为环境保护提供科学依据。在食品安全方面，ATP测量仪可以用于检测食品中的微生物污染情况，保障食品的安全性和卫生质量。在医疗卫生方面，ATP测量仪可以用于检测医疗器械、手术室、病房等环境中的微生物污染情况，为医疗卫生提供有效的监测手段。　　除了以上应用领域，ATP测量仪还可以用于其他领域，如生物研究、制药工业等。在生物研究方面，ATP测量仪可以用于研究细胞代谢、微生物生长等方面的问题。在制药工业方面，ATP测量仪可以用于检测药品生产过程中的微生物污染情况，确保药品的质量和安全性。　　总之，ATP测量仪是一种重要的环境监测仪器，具有广泛的应用前景。随着科学技术的不断发展，ATP测量仪的性能和应用范围也将不断提高和扩大，为环境保护、食品安全、医疗卫生等领域的发展提供有力的支持。

[b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前，首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量，大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机，在用户中逐渐兴起，到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域，1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像，再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向，在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起，大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们，当时也没有规范的市场，大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了，失败，一点点的进步，喜悦，分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备，特性是放大倍数低，成像面积大，光线均匀的亚显微成像设备，抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大，只是还没有开发出来。比如：微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测；机械行业中洁净度检测，精密配件的形态差异；环保领域：藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数；农林业：种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等；医药行业中用到成像的地方就更多了，我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比（R/G/B法）。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分：现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式，作用是把微生物培养出可计算的物质后，扫描出高质量电子图片，有透射光、反射光、紫外荧光成像，（抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄；菌落计数用的是反射光扫描；凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描）逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机，一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图，而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。（电脑的内存要大）逐行扫描因是移动扫描，所以光线是一条直线光源，扫描出图像光很均匀；成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分： 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版，此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件，可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能：随意对图象切割、测量、计数、分类；HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算；电泳条带分析；荧光强度分析等，可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少，抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目，以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说，抑菌圈测量仪是计算机的外部设备，是随着计算机的技术进步而进步，十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命，现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大，所以现在的高端抑菌圈测量仪，这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。（显微镜最大缺点是成像面积小）目前这个技术方向研究的人很少，国外的设备也不多，国内就北京和杭州有几个老师在研究，各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法：[/b]抑菌圈法的分类：1.KB法（纸片法）；2.管碟法；3.打孔法首先要了解用户是用什么方法，药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析；疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析；各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

由于流量测量仪表的种类多，适应性也不同，因此正确选用流量测量仪表对保证流量测量精度十分重要： (1)选用流量测量仪表时要考虑工艺允许压力损失，最大最小额定流量、使用场合特点以及被测流体的性质和状态(如液体、气体、蒸汽、粉末、导电性、压力、温度、数度、重度、腐蚀、气泡和脉动流等)，还要考虑对仪表的精度要求，以及测量瞬时值、积算值等。 (2)节流装置或其他差压感受元件与差压计配套，可用于测量各种性质及状态的液体、气体与蒸汽的流量，一般用在大50mm管径的流量测量；标推孔板适用于测量干净的液体、气体或蒸汽流量;喷嘴可用于测量高压、过热蒸汽的流量；文丘里管适用于精密测量干净或脏污的液体或气体；偏心孔板和圆缺孔扳适用于介质含有沉淀物、悬浮物的流量测量；1／4圆喷嘴适用于测量黏度大、流速低、雷诺数小的流体；毕托管适用于流量较大而不允许有显著压力损失的场合，但测量精度较低。 (3)计量部门应选用精度等级较高的仪表，如椭圆齿轮流量计、旋转活塞流量计流量计、涡轮流量计、旋涡流量计、侧贴式液位开关等。 (4)电磁流量计只能用于导电液体的测量，如酸、碱、盐、泥砂状流体等。 (5)金屑转子流量计和靶式流量计可以测量高黏度、腐蚀性介质的流量，它可远传和自动调节。 (6)差压流量计和靶式流量计是均方根刻度。在选择刻度时，最大流量为满刻度的95％，正常流量为满刻度的70％—80％，最小流量为满刻度的30％；其他流量仪表是线性刻度，在选择刻度时，最大流量为满刻度的90％，正常流量为满刻度的50％—70％，最小流量为满刻度的10％—20％。

我公司热锻加工坯料采用中频加热，请大家推荐几种好的温度在线测量仪。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

视频光学表面接触角测量仪有哪些日常维护，要注意什么事项呢

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。