显微红外仪

仪器简介：2008 Pittcon 隆重推出的Thermo Scientific Nicolet iN10傅立叶变换显微红外光谱仪以全新的集成化设计理念，高效的光学系统和智能的操作方法, 为不同应用领域提供了更高性能方便快捷的显微红外检测分析技术。Thermo Scientific Nicolet iN10&trade 傅立叶变换显微红外光谱仪采用独特高效的一体化光学设计不仅简化显微红外分析操作，且性能更加卓越。 Nicolet iN10显微红外光谱仪OMNIC Picta&trade 能软件的&ldquo 向导&rdquo 技术，能帮助没有显微红外光谱仪使用经验的操作者迅速有效的采集样品微区的光谱数据，同时得到完整的解决方案。一架显微镜，一台光谱仪&mdash 完全一体化这是第一次，在红外显微镜内拥有一台完整的FT-IR光谱仪。Nicolet iN10 不仅节省了时间，金钱和空间，其一体化设计为高性能红外显微镜提供了显著提高的光学效率。 *智能化的机器使您无需学习新仪器操作 *分析样品，立即可见 *低温冷却系统可测量小至10微米的样品 *Micro-ATR 超越了衍射极限&mdash 小至3微米 OMNIC Picta 软件 即使您认为您不具备操作一台红外显微镜的技能，智能化的OMNIC Picta软件帮助您轻松装载材料和定位分析区域。OMNIC Picta 可在分析全过程中帮助您，无需您耗时猜测。或者选择&ldquo 向导&rdquo 设计帮助您一步步分析特定的材料，如颗粒，层状或者随机混合物样品。 OMNIC Picta是第一个能全过程逐步帮助您的红外显微镜任务式界面 解决最具挑战性的应用 Nicolet iN10 显微镜是日常分析的理想选择，适用领域：高分子，橡胶，包装，油漆，涂层，化合物，微电子，制药，水泥，化妆品，纺织品，颜料，纸化工，墨水，粘合剂等等。 纯化合物的辨别 OMNIC Picta 提供了每一步你所需的工具。使用一个自解压向导文件在数秒内建立预览图像；然后只需在化合物名称上单击，就可知道其分布的百分比以及分布地点。如果为未知材料，您可在其名称上立即进行搜索！ 颗粒和纤维分析 OMNIC Picta 为您提供便捷的用户界面，并为您快速轻松的获取数据设置好一切。颗粒向导能为您更加快速的完成任务！寻找样品特征，调至最佳光圈，收集光谱图，然后在您选中的图库中进行搜索。最终结果？特征数目，识别结果和每一材料的相对百分数。OMNIC Picta 提供的是答案，而不仅仅是好的数据。 层状样品和高分子膜 油漆碎片和食品包装的截面分析是红外显微镜的经典应用。OMNIC Picta 帮助您轻松驱动Nicolet iN10 快速获取传统的&ldquo 瀑布式&rdquo 图像。创新在何处？自解压向导文件可辨别每一层材料以及每层厚度。另一个向导文件帮助您知道内含物，凝胶和空洞处的成分，仅当需要时将样品分层或内含物的&ldquo 提取外科手术&rdquo 最小化。同时在2008 Pittcon 隆重推出的还有新型的Thermo Scientific Nicolet iN10MX 成像显微镜, 它包括成像的光学元件和阵列检测器，保证仪器简便快速地获得高保真的化学成像；Thermo Scientific Nicolet iS10 型傅立叶变换红外光谱仪,该产品由新版 OMNIC Specta软件支持。这种易用的系统简化了传统的光谱仪，使得分析和研究型化学实验室的化学家能够充分利用该技术的力量，从而得到更具自信心的实验结果；Thermo Scientific DXR SmartRaman型拉曼光谱仪，这是第一款专为满足质控(Quality Control，QC)实验室的需求和环境而设计的拉曼光谱仪，DXR SmartRaman型光谱仪将首次让质控实验室领略拉曼光谱技术的威力；Thermo Scientific DXR激光共聚焦拉曼光谱仪，该仪器专为帮助非专业人员对小到1微米的颗粒进行快速采样和分析而度身打造，这种新颖的显微镜集卓越的空间分辨率, 出众的性能和无与伦比的高重现性于一体,并且人人均能使用。技术参数：为目标建立的傅立叶红外（FT-IR）显微镜将红外显微镜带入了日常实验室 新的Nicolet iN 10 红外显微镜可满足如下客户的需求：当用户难以掌握此项技术或者觉得成本过高。 *新颖的用户界面为您管理显微镜 *向导软件一步步教您学会不熟悉的过程 *高性能显微镜，无需液氮 *材料科学主要特点：● 高效优化光程设计，配置DTGS检测器，无需液氮即可安全方便的检测样品，有效降低使用成本 ● 显微光谱仪独立使用，无需联机方式，有效提升操作的方便性和维护的简易性 ● 为各种显微技术应用设计的智能化&ldquo 向导&rdquo 功能，采用全新的显微测试理念使操作者简单易行的实施检测分析的全过程，正确得到样品光谱的化学物理分布信息 ● Nicolet iN10显微红外光谱仪的可升级设计，适应高分辨率、快速检测和图像分析等各种应用需求 ● 连接 Nicolet iZ10&trade FT-IR辅助光学台可全面满足红外光谱检测的各种需求Nicolet iN10显微红外光谱仪高度自动化集成技术提供自动照明、软件虚拟操纵杆控制的自动平台、自动聚焦定位、自动光阑、自动背景采集定位 等，以及先进的视频捕获技术和双屏显示设置，简化操作，使操作者能专注于检测分析任务。 可完美适用于： *分析服务 *质量控制 *法庭科学

AIM-9000红外显微镜为岛津公司红外光谱产品60周年之际发布的一款全新力作，让“全自动红外显微分析”的理念更进一步。从观察，定义测量位置，到进行测量，再到鉴别结果的给出，红外显微分析所需的全部操作都能由仪器软硬件自动执行，同时提供高灵敏度的测试数据。 岛津独具匠心的在标准物镜之外，提供了大视野相机的选项。从而实现从宏观目视尺寸（10x13mm）到显微异物尺寸（30x40μm）的330倍连续放大，极大地提高了样品观察、定位的效率和可靠性。同时，基于数字图像识别算法的异物（测量）位置识别功能，让充满经验的专家系统在1秒钟之内帮助分析新手决定哪些位置才是需要进行测试的。 高速的XYZ三轴自动化样品台，为微小样品专门优化的高灵敏度MCT检测器，配合高性能的岛津红外光谱仪主机和高效光路系统，实现了多个样品的超快速自动测量。并能结合特征峰、光谱相似度和多变量分析等功能，实现高质量的红外光谱化学成像（mapping）。 对所测得的显微红外光谱数据，通过岛津独有的异物（混合物）分析程序，可以快速自动判断可能的主要成分和次要成分，而不需要用户预先知道具体的组分数量。让真正的自动化异物分析系统成为可能。

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

布鲁克始终致力于使任何技术水平的用户都能更轻松地使用先进技术。LUMOS II 傅立叶变换红外显微镜始终秉承这一信条。它的硬件、软件和用户界面都是围绕这个理念构建的，即使是初学者也可以在最短的时间内获得出色的结果。为什么？因为傅立叶变换红外显微成像技术的普遍适用性提供了太多的优点，这些优点即使使用复杂设备也很难获取。LUMOS II 使傅立叶变换红外显微和成像更快、更容易、更好 — 而且更有趣！技术事实焦平面阵列 (FPA) 检测器凭借无与伦比的速度和准确度，FPA 检测器在红外光谱成像方面奠定了最高基准。 PermaSure+ 优势PermaSure+ 可确保稳定的性能并持续监控所有光谱仪参数。此外，它通过逐像素激光波数校准（专利申请中）提高了仪器的效率。 可视化检查LUMOS II 令人印象深刻的是它的视野有 1490 x 1118 μm2,也提供了一种亚微米 0.6 μm /像素的空间分辨率。 检测器灵活性LUMOS II 配有三个检测器位置。TE-MCT 非常灵敏，不需要液氮。当然，也可以使用 DTGS 和液氮冷却的 MCT 检测器。 自动化为了实现最高精度，LUMOS II 完全由电机驱动，通过软件控制。只需单击一下即可切换光阑、检测器或测量技术，并确保您的硬件完全准备好进行分析。 无需吹扫在许多工作环境中供应干燥空气或氮气可能非常麻烦。LUMOS II 光学元件紧密密封，能够抵御环境变化，无需干燥空气吹扫。标准的 ZnSe 光 学元件使 LUMOS II 可以完全抵抗高湿度。 无需液氮也许并不是所有 FTIR 显微镜用户都能方便的使用液氮。这就是为什么LUMOS II 配备了 TE-MCT 检测器，它不需要液氮，但与DTGS相比仍然为灵敏的单点测量提供了卓越性能。 低功耗现代精密电子元件和硬件组件降低了 LUMOS II 的功耗和运行成本。各组件使用寿命长LUMOS II 只使用最高质量的材料。这就是为什么我们能为中央光谱仪组件（干涉仪、激光器、光源）提供延长保修的原因。 占用体积小，易于取放样品LUMOS II 不仅采用最新技术。此外，它还针对拥挤的实验室环境进行了优化，并提供了非常方便的取样进出通道。真正的通用抽样LUMOS II 提供了为显微镜制备样品所需的所有配件。即使是复杂而敏感的样品也可以快速进行分析。例如，特殊的锗半球可以获得特别粘稠、易脆或柔软材料的 ATR 成像。用不同类型的支架可以分析片剂、红外透明窗片、过滤片、层压板或非常大的样品。LUMOS II 可轻松处理高达 40 mm 的样品。由于可自由取放的样品台，您几乎可以将任何东西放在显微镜下，仍然可以获得完美的结果。除此之外，它还配备了标准的目视分析工具，如偏振器、暗场照明和其他对比度增强功能。FTIR 显微技术和成像的应用多样性非常显著。无论是产品开发，故障分析还是识别古代文物的成分，LUMOS II 都能以优雅和高效的方式完成所有工作。 符合药品法规LUMOS II 及其软件满足 cGMP、所有主要药典的严格要求，并遵循 ALCOA+ 原则。此外，广泛的用户和签名管理功能使管理变得简单，而所有数据都以其原始形式安全存储，并符合 21 CFR 第 11 部分。

仪器简介：Nicolet Continuum红外显微镜是代表世界上最高水平的红外显微镜。首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。专利双光阑系统极大减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。技术参数：1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察；2.四位物镜，最多可同时放置四个不同的物镜；3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外；4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱；5.面扫描(Mapping)最小步长1微米,具有极高的可见光分辨能力。主要特点：1.首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光；2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域；3.专利复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光；4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴；5.可变或固定厚度补偿物镜。

布鲁克HYPERION II是第一款结合了尖端红外激光成像的红外显微镜，具有无与伦比的成像速度，并且在同一台的设备中结合了经典和通用的FT-IR显微镜。布鲁克HYPERION II不负盛名，彰显了我们引领创新的实力。它首次实现在一台仪器中集FT-IR和QCL技术于一体。HYPERION II囊括所有基本技术，首先是应用最广泛的FT-IR显微镜。它可用于一般研究、法医鉴定、故障分析、生命科学和电子学等领域：热电和液氮冷却MCT检测器视觉和红外对比度增强工具提供各式各样的物镜和配件集成了压力传感器的专用ATR物镜借助焦平面阵列（FPA）检测器技术，将化学FT-IR成像提升至新的高度。它可在各种测量模式下实现卓越的空间分辨率和光谱灵敏度： 焦平面阵列技术实现真正的红外成像高空间分辨率，全面兼容ATR低倍物镜用于快速化学概览高倍物镜用于观察最微小的细节布鲁克激光红外成像模块（ILIM）打开了一扇新的大门，有助于进一步增强现有应用和探索新的应用。HYPERION II结合QCL技术和FT-IR于一体：以前所未有的速度采集高对比度红外图像无缝组合FT-IR和QCL测量可在实时红外成像下实时观察样品 在所有测量模式下均可进行QCL成像：透射、反射和ATR

红外热成像显微镜 随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 应用检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻装激光二极管性能和失效分析 产品特点20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 热及缺陷infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度， 表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。 自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。 红外热成像配套软件红外热成像显微镜软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，高温度区域内围交界处测量。

红外光学显微镜如果您需要SWIR成像放大，我司提供的SWIR相机可以配置显微镜光学元件，以实现您所需的放大范围和视野。普遍的应用包括生命科学和测试工程等项目。可选择不同照明（LED、激光、宽带），支持双色显微观测。我们还可以为检测等应用配置卧式显微镜。生物医学研究使用SWIR显微镜进行荧光成像应用，包括活体动物SWIR成像，也可使用激光激发荧光。测试工程师利用SWIR显微镜来识别近红外透明组件中的缺陷，尤其是半导体材料。另外，也可以根据应用要求配置合适的热成像显微系统。我们根据您对放大率、视野和样品照明的精确要求配置SWIR显微镜。 ? 放大倍率67X至1000X ? 选择所需的视野、工作距离和放大范围? 定制配置以满足您的需求? 水平和机动配置可用? 可提供两种波段通道显微镜配置? LED、激光器和宽带光源的同轴照明? 灵活的体系结构支持未来需求的变化红外光学显微镜主要应用：■ 半导体产品或材料的缺陷测试 ■ 活体动物成像 ■ 红外荧光显微成像 ■ 文物鉴定 ■ 法医取证关于具体配置要求，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

显微红外热点定位测试系统半导体器件作为现代科技社会的一大进步，却因为各种原因停滞不前，其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题，多种多样的环境因素，五花八门的故障形式，使得制造商不知所措，针对此问题，金鉴实验室联合英国GMATG公司推出显微红外热点定位系统，采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出高精智能化的测试体系，专为电子产品FA设计，整合出一套显微红外热点定位测试系统，价格远低于国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”。金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微光热分布系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术，可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式，通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度，软件数据算法改善信噪比。在IC分析中， 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管，以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的，无需遮光箱。金鉴显微红外热点定位测试系统优点：高灵敏度的锁相热成像缺陷定位配合电测，XRAY等对样品作无损分析选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片对短路及漏电流等分析效果佳0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCHOBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻，但挑战性低于10欧姆金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围，降低漏电阻金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常金鉴显微红外热点定位系统测试依据：GB/T 28706-2012 无损检测 金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷热点锁定（lock in）功能：温度最高点定位聚焦过程只需要一秒应用领域：PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、正向点亮漏电LED芯片,Vf偏低（左图）。反向测试芯片漏电流显示漏电流较大（右图）测试结果：显微红外热点定位热分布测试结果显示：漏电芯片上热分布不均，存在异常热点，热点即为芯片漏电缺陷点。span font-size:14px white-space:normal background-color:#bcd3e5 "="" style="color: rgb(102, 102, 102) font-family: Arial, Helvetica, sans-serif font-size: 14px text-align: justify white-space: normal "存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微红外热点定位热分布系统，利用新型高分辨率微观缺陷定位技术，可在大范围内高效而准确地确定关注区域（异常点）位置。图示为在金鉴显微红外热点定位测试布设备下LED芯片漏电图：LED芯片热点定位图在金鉴显微红外热点定位测试系统中，不同模式调色板下的芯片漏电图如图所示显示：不同调色板下的LED芯片热点定位图对于受损LED来说，缺陷引起的非辐射复合几率增加，在加压增强的情况下，局部的高电场或强复合所引起的红外辐射能量被金鉴显微红外探测系统所接收，可以看到明亮的发光点或者热斑，再经过CCD图像转换处理，将其与器件表面的光学发射像叠加，就可以确认漏电造成发光点的位置。可见光与红外双重成像技术精确定位细微缺陷！案例二：金鉴显微红外热点定位系统查找紫外垂直芯片漏电点客户反馈其紫外垂直芯片存在漏电现象，送测裸晶芯片，委托金鉴查找芯片漏电点。 可见光图和热成像图融合，精准定位LED芯片热点取裸晶芯片进行外观观察，发现芯片结构完整，无击穿形貌，表面干净无污染。通过金鉴探针系统对裸晶芯片加载反向电压后，在暗室中使用显微红外热点定位系统的热点自动搜寻功能定位到了芯片上若干热点。经过可见光与热成像双重成像融合后，可以清晰观察到热点所在，即为芯片漏电缺陷处。案例三：客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH不同加载电流下LED芯片热分布图灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。案例四：某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。对漏电灯珠通电光学显微镜观察：金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。LED芯片光分布图对漏电灯珠显微红外观察：使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。LED芯片热分布图死灯芯片正极金道FIB切割：金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。LED芯片正极金道FIB切割及截面形貌观察案例五：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。对大尺寸的倒装芯片进行观察：开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。加载电流变化下大尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图对小尺寸的倒装芯片进行观察：样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。加载电流变化下小尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图案例五：电源失效分析之热点定位委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试，定位到电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。电源热分布图及热点定位案例六：测试原理：PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下，通常会表现出异常局部功耗分布，最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ，可快速而准确地探测细微缺陷（异常点）位置。 室温24.5℃条件下，对待测区域施加5V电压，此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示，其中红色三角形标识处即为热点所在，红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置，该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。局部漏电PCB样品红外热点定位测试 红外热点定位图 可见光图（测试区域） 红外-可见光融合图

产品详情IRT-7200 多通道红外显微镜型号: IRT-7200 FT/IR-6800装置介绍IRT-7200搭载了16通道MCT检测器，通过与高速自动样品台的结合，与以往单元检测器的Mapping测定相比，所需的测定时间可缩短至以往的1/100。同时，为了对应多样化测量，准备了种类丰富的检测器。分步扫描（FT/IR-6000 选配）与IRT-7200的连用，可实现时间分辨成像功能。特点●高速扫描和高速样品台的组合，1秒可完成160个点光谱测定 ●阵列检测器和单元素MCT检测器同时搭载 ●标配x16, x32两种卡塞格林镜 ●标配可视化成像分析程序●观察型ATR可实现样品测定IRT-5200 红外显微镜型号: IRT-5200装置介绍微小范围的红外显微测定法，是产品研发、品质管理以及生物医学领域中，一种不可或缺的分析手段。IRT-5200搭载了智能mapping功能，即使使用手动样品台亦可进行mapping测定、多点测定以及ATR成像测定。特点●Smart mapping功能, 可进行mapping测定 ●搭载高分辨率CMOS相机和高亮度LED照明, 实现高清晰观察 ●智能观测功能, 可同时观测样品图像和红外光谱 ●解析程序可对应多种表示形式 ●观察型ATR可实现样品测定IRT-1000 红外显微镜型号: IRT-1000装置介绍IRT-1000是一款同时具备红外显微镜功能以及轻便外观的红外附件。适合微小微量样品的便捷测量。它通常设置与FT/IR主机样品仓内使用，与其他附件一样便于安装与拆卸。特点●设计精巧，不占空间 ●通过ATOS方式, 被光圈遮光的部分亦可同步观察 ●利用智能监控器可观察测定中的样品 ●观察型ATR可实现样品测定 ●标配专用PC软件, 可同时保存测定数据和显微画像

红外热成像显微镜随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 产品特点检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻封装 应用激光二极管性能和失效分析20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 红外热成像配套软件软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 热点及缺陷链接方法infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度，表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使最大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。 这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，最高温度区域内围交界处测量。

红外热成像显微镜随着电子器件的不断缩小，热发生器和热耗散变得越来越重要。微型热显微镜可以测量并显示温度分布的半导体器件的表面，使热点和热梯度可显示缺损位置，通常导致效率下降和早期故障的快速检测。 产品特点检测芯片的热点和缺陷电子元件和电路板故障诊断测量结温甄别芯片键合缺陷测量热电阻封装 应用激光二极管性能和失效分析20微米/像素固定焦距50度广角聚焦镜头320*240非制冷探测器30帧/秒拍摄和显示速度0—300摄氏度测量范围室温测量便于使用——1分钟安装测量待命 红外热成像配套软件软件提供了一套广泛的分析工具帮助客户非常容易而快速获取温度信息。实时的带状图、拍摄及回放序列不同视角和建设性的数据分析手段 热点及缺陷链接方法infrasight MI的红外摄像机的灵敏度高结合先进的降噪和图像增强算法提供检测和定位的热点在半导体器件消耗小于1毫瓦的功率和升高温度，表现出只有0.05摄氏度。短时间试验中，设备通常是供电的5到10秒。I/O模块使最大功耗是与软件测试同步。测试平均电阻低于一欧姆短路检测。因为低电阻短路消失，只有少量的电和热，一系列的测试可以一起平均提高测试灵敏度。自动停止功能打开I/O模块继电器自动切断电源，对设备/板作为一个预先定义的阈值以上的短温度升高。 这种安全功能可以帮助防止对设备/板损坏，同时定位时间。微量可用于测量功能的器件结温。为了准确测量结温，一个模具的表面发射率的地图必须首先被创建。该装置是安装在保温阶段控制在均匀的温度。然后计算thermalyze软件的表面，适用于热图像纠正发射率的变化在死像素的发射率的地图像素。测量结温，设备供电，最高温度区域内围交界处测量。

OPTOTHERM红外热成像显微镜,Optotherm Micro红外热成像显微镜，这是一台专为微观热成像设计，这是一台专为高端科研设计，用来测量微观热分布情况，除具有传统红外热成像的优势外，还具有如下特点：1. 高分辨率红外热成像：640*480像素，60hz高帧数，最高5um分辨率2. 专为科研设计的选配件：1）XY高精度移动平台，120*120mm,步进精度为10um2）自动控制上电的继电器（八通道）：可以精准控制上电及开关，比如设计上电30s后断电，这个过程同步录像或拍照3）两种可选高精度热台：可以控制真正0℃-80℃，0℃–130℃，可以给样品均匀加热或降温，设置一定实验环境4）探针台：微小器件的上电工具，扎针上电5）发射率涂层套件：对于发射率低的器件，可以通过喷枪施加薄（1-2微米）聚合物涂层以增加表面的发射率。可承受高达200°C的连续温度3，功能强大的软件：1) 点，线，面的温度分析，最高点显示跟踪，研究。2）发射率校正：像素级发射率校正，修正发射率导致的温度测量偏差，制作发射率表3）可见光及其他照片叠加，可以调节红外图像和可见光图片的透明度4）一秒拍摄60张照片，生成照片，结合上述功能，可全面的观测分析温度与时间的关系，温度于空间的关系Optotherm Micro红外显微镜，作为一台专为微观红外热成像研发和设计的专业系统，是做微观热分析不可或缺的一个有力工具，其专为作为热成像显微镜做的优化，牺牲掉普通热成像便携性，可充电等各种方便宏观热成像的功能，同时，为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，这使得其成为MEMS,电子器件，激光器件，LED，传感器，氮化镓器件，SIC，IGBT，微观医疗器件等等，MEMS热成像分析， 光纤热像检测，测量微型换热器的传热效率， 半导体气体传感器的热分析，微反应器的温度特性，微致动器的温度测量，生物样品的温度分析， 材料热检验，热流体分析等等，是关注微观热分布的科研或生产必不可少的一个工具。对于Optotherm Micro 红外显微镜相关的应用或调研，可以联系optotherm中国区应用实验室进行送样和评估。

全新设计的SurveyIRTM红外光谱仪显微镜体积小巧，放入红外光谱仪样品仓内，即刻将普通红外光谱仪升级为显微红外光谱仪。通过对普通红外光谱的升级，扩大了仪器的使用范围，实现了微米级样品的测试。采用高清晰度的CCD摄像头代替传统的目镜，配合eSpotTM软件，可以在计算机屏幕上清晰地观察到当前样品的位置，形状。利用软件内丰富的工具，可以存储所观察到的图像，测量样品的大小，对样品进行标注等。SurveyIRTM采用金刚石物镜镜头，可以清晰准确地找到样品测试点，并不必担心使用中样品对镜头的损坏。测试方式有透射，反射，ATR法，满足不同样品的不同要求。

失效分析检测公司推荐的设备，功能多多，科研利器！显微红外热分布测试系统金鉴显微红外热分布测试系统（GMATG-G5）由金鉴实验室和英国GMATG公司联合推出，采用法国的非晶硅红外ULIS探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出一套高精智能化的显微红外热分布测试体系。这套测试体系专为微观热成像设计，价格远低于国外同类产品，除传统红外热成像的优势外，还具有更高精度的成像系统、更高的温度灵敏度，更便捷的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。金鉴显微红外热分布测试系统已演化到第五代：配备20um的微距镜，可用于观察微米级别芯片的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5μm，能看清芯片金道；高低温数显精密控温体系，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，根据被测物上的不同材质，设置不同发射率，才能得到最真实的温度值；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉，性能卓著，值得信赖。与传统红外热像仪相比，金鉴显微红外热分布测试系统优点显著：应用领域：适用于LED、半导体器件、电子器件、激光器件、功率器件、MEMS、传感器等样品的研发设计、来料检验、失效分析、热分布测量、升温热分布动态采集。金鉴显微热分布与传统设备大PK：金鉴显微热分布测试系统特点：1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。 LED芯片热分布图 2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效。电子元器件性能受温度的影响较大，金鉴显微热分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题 3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测。金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，可全面的观测分析温度与时间的关系、温度与空间的关系，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。灯具温升变化图 灯珠芯片温升变化图4. 热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小温差和更小目标，提供更清晰的热像。 专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。5. 定制化的热像分析软件，为科研和分析提供专业化的数据支持。金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR，针对不同测试样品开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，纠正多种错误测温方式，具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。（1） PC和手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。 手机软件主界面 PC软件主界面（2）支持高低温自动捕捉，多个点、线、面的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。 （3）多达15种调色板，适用于不用的测试样品和场景需求，显示颜色的变化不影响温度的测试。（4） 微小器件由不同材质组成，不同材质、不同粗糙度等都影响发射率，图像上大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起的，因此发射率校正显得尤为重要。金鉴显微热分布测试系统可灵活设置不同区域的发射率，实现不同材质单独测量，温度测试更加准确。 （5）视频录制触发与自由定义帧频，最快25帧/秒，可精准捕捉有效的温度数据和视频图像。 （6）切换图像模式，可实现热像图和可见光图融合，可查看画面中高温区域或温度变化较大区域。 图像模式热成像-可见光融合图（7）导出热像图全部像素点温度数据值，为专业仿真软件建立温度云图等分析提供原始建模数据。 （8）温差模式，可直观获取任意两张热像图的温度差异，分析更快速精准。测试案例:案例一：不同环境温度下热分布测试金鉴显微热分布测试系统配备高精度控温体系，可实现器件在不同温度下的热分布测试。本案例模拟灯具芯片在不同环境温度下的结温及热分布状态，测试结果表明，控制环境温度达到80℃时，芯片结温122℃，继续升高环境温度可能导致芯片发光效率低下甚至芯片受损。案例二：不同厂家芯片光热分布差异以下案例中A款芯片发光最强，发热量最小，光热分布最均匀，量子效率最高。强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据！做好光热分布来料检验，可以使LED最亮，温度最低，而成本最低，质量更可靠。 案例三：多芯片封装，电流密度均匀性需把控某款灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 案例四：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，金鉴显微热分布测试分析显示，芯片负极焊盘区域温度比正极焊盘区域温度高约15℃。因此，推断该芯片电流密度均匀性较差，导致正负极焊盘位置光热分布差异较大，局部热膨胀差异过大从而引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例五：显示屏模组热分布监测PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！ 案例六：IC器件热分布测试未开封的IC器件也可观察到表面热分布图。无需化学或激光开封，金鉴的红外热分布测试系统使用更高灵敏度的探头以及更先进的图像优化技术，即可了解器件内部热分布高点和低点的区域，真正实现无损检测。案例七：LED灯具热分布测试日常使用的灯具过热容易引起电子器件故障，缩短产品使用寿命，严重甚至造成安全隐患，检测LED灯具发热均匀情况能帮助设计产品，合理布置发热部件，有效防止过热。LED灯具热分布 案例八：定位电源失效区域电源失效案例中，金鉴使用红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。 电源热分布图及热点定位 案例九：OLED热分布测试OLED发光材料像素在不同温度下表现出不同的发光特性，温度的分布不均会使得OLED显示面板中各处的薄膜晶体管的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进而导致整个显示面板出现发光亮度不均。 案例十：集成电路芯片温度测试通过金鉴显微红外热分布测试系统可测试封装后集成电路芯片工作时的温度及温度场分布，也可以直接测试芯片微米大小区域的温度数据，观察芯片的温度场分布，轻松发现温度聚集点，并且能够测试芯片开启后的温升曲线，判断芯片达到热稳定的时间。 集成电路芯片工作时的热分布及局部放大热分布图 集成电路芯片通电开启后的温升曲线 集成电路芯片通电开启热分布瞬态图案例十一：热分布测试应用于PCB领域红外热分布测试用于PCB板的检测，可直观显示电路板各区域和元件的温度分布，设计阶段可用于分析电路板布局设计是否合理，最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。生产阶段也可及时发现可靠性隐患，因为异常组件的升温速度通常比正常的要快，通过热分布测试，许多缺陷在出厂前就能被发现。案例十二：热分布系统全辐射视频录像功能应用于GaN器件领域 电子元器件器件实际应用过程中，进行单一热像图的分析往往是不够的，例如某GaN器件，其工作时的各项性能参数受温度影响较大，因此需要监控器件开始工作瞬间直至稳定的整个温度变化过程，这就涉及到金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像功能。金鉴显微红外热分布测试系统全辐射视频录像功能采样速率可达到25帧/秒，可实现1TB单个视频录制，轻松捕捉器件通电瞬间温升变化。通过逐帧分析器件的升温过程全辐射视频录像可以看出，器件通电瞬间开始升温，这个瞬间时长仅有几十个毫秒左右，并在开始通电后2分钟左右达到温度稳定，同时各项电性参数也达到稳定。GaN器件工作过程温升变化曲线 GaN器件工作过程电流变化曲线案例十三：电器开关柜红外热分布测试电气设备在生产中已广泛采用，而电气故障是不可避免的，如何排查电气故障是面临的一大问题。电气设备的初期异常通常伴随温度的变化迹象，采用红外热分布测试可在不断电状态下进行检测工作，及时发现和诊断问题。

流体包裹体红外显微系统是针对不透明矿物中流体包裹体分析而特殊配置的系统，可通过摄像头观察的波长范围为400-2200un。主要由三大部分组成：1. 经过改造的奥林巴斯BX53-IR系列红外显微镜。此部分主要包括可见光透射分析光路、荧光反射分析光路和经过改造的红外透射分析光路。可见光主要用于样品观察，矿物鉴定；荧光主要用于含油包裹体或荧光矿物鉴定；红外光主要用于不透明矿物中包裹体的观察和测温。经改造后的聚光镜采用10X物镜作为聚光镜，使得聚光效果更好，也利于看不透明矿物时视域光强的增加。2. 红外测温冷热台THMSG600。此部分主要包括T95温度控制器、LN95冷却系统和THMSG600测温台。主要用于不透明矿物中红外包裹体的测温。3. 红外图像系统。红外光在目镜下是无法观察的，只有借助于红外摄像头。红外摄像头有波长范围的要求，对于1100nm以下波长的红外光、荧光以及普通白光采用Q-imaging R2000高速摄像头。对于1100nm到2200nm波长范围的红外光采用红外模拟摄像头。我公司工程师在该套红外显微镜下对不透明矿物黄铁矿和半透明矿物辉锑矿做了详细观察，两种矿物中的包裹体都清晰可见。图1 黄铁矿样片 图2 黄铁矿 50X镜下观察图3 辉锑矿样片图4 辉锑矿 40X镜下观察

红外拉曼显微镜红外拉曼显微镜基于两种分析技术的组合，可以提供互补的分子信息。本装置优化了显微分析操作所涉及到的从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流效率。解决问题示例 仅用红外显微镜无法识别的异物成分。 根据红外和拉曼的结果可以定性确定成分。 希望用红外和拉曼测定样品的同一位置。 AIRsight红外拉曼显微镜可以无需移动样品，快速测定样品的相同位置。 目标区域太小，无法用红外显微镜测定。 AIRsight可以对更小的区域进行瞄准和有效测定。 需要对有机和无机成分进行详细分析。 通过红外光谱和拉曼光谱的结合来进行材料解析。无需移动样品，分别得到样品的红外光谱和拉曼光谱因为样品无需移动，可以准确的对微小样品相同位置进行红外光谱和拉曼光谱的测试。这意味着可以获取相同位置的有机物和无机物信息，显著提高定性分析准确度。而且，岛津特有的大视野相机、红外物镜、拉曼物镜自动切换设计，可以提高样品观察的效率。大视野相机可以直接观察大至10X13mm区域的全貌，同时提供数字变焦功能。此外，大视野相机、红外物镜、拉曼物镜之间共享位置信息，可以实现视野中心位置锁定。用同一个软件实现红外和拉曼的测试及分析软件可一键切换红外模式和拉曼模式。而且红外光谱和拉曼光谱可以在同一软件界面内叠加显示，并进行各种分析。操作人员同时掌握这两种显微光谱分析技术的过程也变得更为容易和高效。用同一个显微镜获取有机和无机的信息红外显微镜可以分析有机物，但对于某些无机物较难获取有用信息。 拉曼显微镜除可分析有机物外，还可以很容易的得到无机物的信息，如二氧化钛和碳；但易受样品荧光干扰。AIRsight用一套显微镜即可得到红外光谱和拉曼光谱，可以有效的分析有机物、无机物及有机无机混合物。而且，有助于节省实验室空间和设备管理工作量。AIRsight拉曼模式的特点共聚焦光学设计实现出色的空间分辨率 标配532nm和785nm双波长激光器532nm：拉曼信号更强785nm：受荧光影响更小装备50倍和100倍拉曼物镜根据待测区域选择不同倍率的物镜多物镜自动切换各拉曼物镜、红外物镜和大视野相机之间进行了XYZ三轴校正，以实现样品观察和红外/拉曼测到相同的位置 测长功能 Infrared Raman AMsolution软件提供测长功能，可以对红外和拉曼显微图像中指定的对象进行自动长度测定，并可实现一键输出。 深度扫描功能 Raman 获取样品深度方向（Z方向）的信息拉曼模式下，如果样品有一定深度（厚度），可对指定单点或线进行深度扫描。如果是透明样品，如塑料或玻璃，激光可以穿透样品来测量样品内部。即使样品是有颜色或浑浊的，也有可能通过这种无损方法获取样品内部信息。AMSOLUTION软件AMsolution包括测试软件（AMsolution Measurement）和分析软件（AMsolution Analysis），可以自由分屏显示。测试软件可以在同一个软件窗口内控制完成红外和拉曼光谱的测定。整个过程，从图像采集到同一位置的红外光谱和拉曼光谱测定，都可以顺畅的完成。分析软件可以叠加显示并检索红外和拉曼光谱，自建谱库等。红外模式下测得的数据也可以导入LabSolutions IR软件并进行分析。 仪器验证AMsolution软件自带仪器验证功能，可以检查和验证AIRsight红外拉曼显微镜的性能。红外模式根据中国药典、美国药典、欧洲药典、日本药典用聚苯乙烯薄膜进行验证。拉曼模式根据美国药典、欧洲药典、日本药典用聚苯乙烯颗粒进行验证。这意味着分析人员可以很方便的自己来检查仪器的基本性能，以确保获得高可靠度的数据。 自建谱库功能AMsolution软件有自建谱库功能。分析人员可以用获取的红外和拉曼光谱来生成自己的谱库，并用于检索。将产品中使用的材料和生产过程中会使用的物质建成谱库，往往能改善检索的准确度。 测量点（异物）位置自动识别提供测量点（异物/污染物）位置自动识别功能。分析人员仅需点击一下按钮，软件即可自动识别异物。红外模式下还可提供两种类型：标准模式和小样品模式，可根据分析目的来选用。可在自动识别之后直接开启自动测试，分析人员也可在此基础上增加或者删除待测点再开始自动测试。会为每张光谱图自动存储样品图像，这为之后确认样品或测试位置提供了方便。

AIM-9000红外显微镜为岛津公司红外光谱产品60周年之际发布的一款全新力作，让“全自动红外显微分析”的理念更进一步。从观察，定义测量位置，到进行测量，再到鉴别结果的给出，红外显微分析所需的全部操作都能由仪器软硬件自动执行，同时提供高灵敏度的测试数据。 岛津独具匠心的在标准物镜之外，提供了大视野相机的选项。从而实现从宏观目视尺寸（10x13mm）到显微异物尺寸（30x40μm）的330倍连续放大，极大地提高了样品观察、定位的效率和可靠性。同时，基于数字图像识别算法的异物（测量）位置识别功能，让充满经验的专家系统在1秒钟之内帮助分析新手决定哪些位置才是需要进行测试的。 高速的XYZ三轴自动化样品台，为微小样品专门优化的高灵敏度MCT检测器，配合高性能的岛津红外光谱仪主机和高效光路系统，实现了多个样品的超快速自动测量。并能结合特征峰、光谱相似度和多变量分析等功能，实现高质量的红外光谱化学成像（mapping）。 对所测得的显微红外光谱数据，通过岛津独有的异物（混合物）分析程序，可以快速自动判断可能的主要成分和次要成分，而不需要用户预先知道具体的组分数量。让真正的自动化异物分析系统成为可能。

IMA-IR™ 近红外高光谱显微成像系统 IMA-IR™ 近红外高光谱显微成像系统快速多合一高光谱显微镜IMA IR 提供了无与伦比的图像和数据质量。该高光谱平台针对红外 光谱范围进行了优化 。特点快速全局映射（非扫描）高空间和光谱分辨率完整的系统（源，显微镜，相机，滤镜，软件）无损分析可定制从900 nm到1700 nm的灵敏度应用领域 NIR高光谱显微镜覆盖900-1700 nm的检测范围，是 空间和光谱识别以及二区窗口中发射的荧光团测量的理想选择 。例如，单壁纳米管 （SWNT）的发射带很窄（?20 nm），每个带对应于唯一（n，m）种（手性）。借助红外高光谱显微镜， 可以在活细胞（体内）和体外以单一的SWNT空间分辨率分离这些物种 。PUBLICATIONSCarbon Nanotubes as Optical Sensors in BiomedicineA Carbon Nanotube Optical Reporter Maps Endolysosomal Lipid FluxA Carbon Nanotube Optical Sensor Reports Nuclear Entry via a Noncanonical PathwayA carbon nanotube reporter of microRNA hybridization events in vivoHyperspectral Microscopy of Near-Infrared Fluorescence Enables 17-Chirality Carbon Nanotube Imaging 如需索取更多资料请联系：佰泰科技有限公司电子邮件联系电话：或直接联系 常经理

红外辐射显微成像系统（微观温度分布成像）IRLabs的IREM-IV红外显微镜系统使您能够更快、更准确、更可靠地进行半导体故障分析和调试。IREM-IV相机提供超低噪声扩展波长PEM成像，在工作电压为400 mV的10 nm设备上具有经验证的发射成像灵敏度。自行设计和制造的相机，用于低维护操作，具有卓越的功能，包括6位透镜转盘和超过20小时的LN2持续制冷时间。光学扩展端口为外部激光扫描OBIRCH、LADA、TIVA和其他成像模式提供了升级路径。3.3NA SIL物镜是定制设计的透镜家族中的新产品，经过优化，可在整个视场上提供卓越的衍射限制成像。自对准SIL尖端可自动调平，以符合被测设备的局部轮廓。独特的尖端弯曲设计提供了低的接触力，因此适用于成像安装器件或裸晶圆。集成轮廓传感器，测量器件表面轮廓，高度分辨率优于10 um。使用与精密x-y-z平台集成的尖端倾斜台，可以直接测量和补偿从翻转边缘或器件弯曲产生的局部表面倾斜。跟自对准SIL尖端相结合，以实现安全可靠的SIL成像。扩展波长PEM成像通常是热背景噪声受限的。IREM-IV提供两个内部冷却的滤光轮，因此光谱滤光器或背景限制孔径适用于任何测量场景。红外辐射显微成像系统（微观温度分布成像）指标参数：相机 运动系统● 1016×1016 液氮制冷MCT阵列 ● 25nm分辨率● 像元尺寸 18um ● 100mm运动范围 （X-Y-Z）● 400-2500nm 光谱响应范围 ● 阻尼振动隔离● 6个位置自动物镜转盘 ● 电动样品尖端倾斜选项● 6个位置制冷滤光片/孔径转轮● 大于20小时液氮维持时间系统尺寸● 显微镜 810mm x 876mm x 813mm， 160kg● 控制系统 610mm x 1283mm x 762mm，90kg物镜选项：参考图例**详细技术参数可参考Datasheet或咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

红外吸收光谱仪AIM-8800显微镜系统化学有机物分析仪商品描述AIM-8800 红外显微镜系统 自动化的红外显微镜可方便的控制样品台移动，光圈设置以及聚焦，所有操作都可通过电脑软件完成，同时它支持显微透射、显微反射和显微ATR测量模式，这大大扩展了AIM-8800的应用领域，在仪器设计时不但精心考虑到了测量微小样品时还能获得高的灵敏度，同时考虑到了易用性和操作的简单化。AIM-8800红外显微镜代表了新一代红外显微镜的设计理念。 通过AIM View实现对红外显微镜的全面控制自动光阑—根据样品大小最大程度的利用红外能量光阑为电机控制，其大小和角度可利用鼠标操作，进行自由设定。只需在样品目标区域上拖拽光阑框，即可对光阑进行设定，并在之后的测量中自动记忆，保持不变。自动X-Y样品台—简化样品精确定位多达10个样品位置和2个背景位置可自动置于储存空间中，样品台可以小到1µ m的步长进行精确移动，以实现高质量mapping成像。自动聚焦—仅需点一下鼠标再也不用进行费时费力的手动样品聚焦调节了，仅仅轻松的点一下鼠标，就能自动实现对样品的良好聚焦。自动定中心—观察寻找样品，再也简单不过了！在可见的观察屏幕界面的任何位置双击，可将该位置点自动移动到视野中央。备注：AIM View是控制岛津AIM-8800红外显微镜的软件的注册商标) 高灵敏度，免维护MCT检测器高灵敏度---当然！！AIM-8800可以在最苛刻的真实红外显微实验条件下得到的良好质量的光谱数据。而且，使用了带玻璃杜瓦瓶的高灵敏度MCT探测器，可不必进行每一到两年的重新抽真空（使用金属杜瓦瓶的MCT探测器为保持性能，往往会有此要求） 准确货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

产品概要：LUXET Thermo100 是一款全国产化的锁相红外显微成像系统。基本信息：LUXET Thermo100配备了全自动运动系统、高灵敏度制冷型中波红外相机、广角镜头与大倍率显微镜头、高压源表，可以适用于晶圆、电路板等多种不同种类器件的失效点定位。技术优势：应用方向：主要应用于电极之间的短路、漏电和击穿、器件电阻异常、器件上的温度分布。

产品介绍实时瞬态锁相红外热分析系统(RTTLIT)，采用高频高灵敏度红外探测器，结实时高速图形算法，可以获取极其微弱的红外光谱信号,实时瞬态锁相红外分析技术具备超高灵敏度、实时同步输出、无损检测等优点，温度灵敏度可达0.0001C功率检测限低至luw，可用于PCB/PCBA/IC/MOSFET/IGBT/MLCC/LED等各类电子、集成电路及半导体器件的失效分析及缺陷定位。系统主要特点完全自主研发 独有的实时瞬态锁相功能 热灵敏度低至0.1mk 自动对焦和一键相机切换 可做结温、热分布、真实温度测量 制冷/非制冷可选，灵活多变的配置，一套设备可以集成三套系统(可见光显微镜、热红外显微镜) 极简的操作控制: 可实现自动镜头转换自动相机切换。案例展示

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

AIRsight是岛津业内首创的红外拉曼“二位一体”显微镜（Infrared Raman Microscope，Micro-FTIR-Raman），用同一套设备和同一个软件实现显微红外和显微拉曼两种光谱技术从样品观察、定位标记、多模式测定到数据分析的全工作流。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的同一位置快速获得互补的红外和拉曼光谱信息。 【核心特点】：1. 同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。2. 能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的红外（有机）和拉曼（无机）信息，以实现对微量样品和样品微区的多维度光谱表征。3. 搭载岛津创造性设计的大视野相机和多物镜自动转台，可以与红外物镜和拉曼物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱测定的效率和可靠性。4. 显微镜与红外光谱仪主机联用，因此整套系统也同时拥有红外光谱仪主机的所有功能，可在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的红外光谱表征。【技术原理】：本设备将傅里叶变换红外光谱技术、显微红外光谱技术、激光共聚焦显微拉曼光谱技术和可视显微镜技术融合为一体，实现一台设备即可实现显微红外、显微拉曼和常规红外多个光谱技术于一身，特别是对微小样品（微米级别）和微量样品（纳克级别）能在不移动样品的情况下，实现红外光谱和拉曼光谱的测试表征；并结合可见的显微镜形貌观察和样品微区的光谱特征，实现样品多光谱信息和分子结构/成分/特性的可视化表达。在相对成熟的红外光谱仪和红外显微镜基础上，在不增加设备外在物理尺寸的情况下，集成了基于多波长激光的显微拉曼功能，并通过同一个软件同一种界面实现显微红外、显微拉曼模式的统一控制、统一显示和数据处理、仪器性能验证等功能。【仪器先进性】：同一个显微镜，同一个软件，实现红外和拉曼两种光谱的测试和分析。能够在不移动样品的情况下，对同一样品的微小区域分别获得互补的有机和无机信息，以实现多维度的光谱表征。同时，本显微镜搭载了岛津创造性设计的大视野相机，可以和红外显微物镜和拉曼显微物镜共享位置信息，极大地提高了样品观察、定位和光谱分析的效率和可靠性。此外，保留了红外光谱仪主机的所有功能，可以在微小样品之外，实现各种类型常规尺度样品（固、液、气）的多种形式红外光谱表征和原位分析。【用途必要性】：红外光谱和拉曼光谱都是用来表征化合物的分子结构、化学键、官能团、晶型等信息的有力工具，且能相互提供有意义的互补性信息。红外拉曼显微镜将常规红外和拉曼的测试对象从宏观尺度大样品扩展到微观尺度小样品或样品的局部微区。通过将傅立叶变换红外光谱技术、多波长激光拉曼光谱技术与全自动多物镜转台显微镜结合，实现对微量、微区样品的红外光谱和拉曼光谱的多维度化学信息测量。不仅仅是能够看到微小样品的形貌和自动读取计算样品的物理大小尺寸，而且还可以直接对微小样品进行多光谱化学维度的定性定量分析和化学成像。红外显微镜和拉曼显微镜已经成为现代分析实验室使用较广泛的高端分析仪器之一，将红外显微镜和拉曼显微镜融合在同一套设备和同一个软件中则进一步提高了操作便利性和实验室空间利用效率。

红外光晶圆检查显微镜 IR Light Wafer Inspection Microscope红外显微镜装有长工作距离的物镜，三步变焦可以很容易选择视野。红外传感器镜头通过USB将图像传输到电脑。在物镜5倍的条件下，分辨率可以优于3 μm。另配有顶部光源，既可以作为传统模式使用，又能进行晶圆上面检查。XY移动台可以ZUI大可以检测8英寸以内的晶圆，移动台用一个操纵杆进行全自动控制。实验室环境下，可以替换为精密的手动调节台。由于红外光可以透过硅，所以红外显微镜被广泛应用于硅片上图形的检测。idonus红外显微镜装有长工作距离的物镜，三步变焦可以很容易选择视野。红外传感器镜头通过USB将图像传输到电脑。在物镜5倍的条件下，分辨率可以优于3 μm。另配有顶部光源，既可以作为传统模式使用，又能进行晶圆上面检查。XY移动台可以ZUI大检测8英寸以内的晶圆，移动台用一个操纵杆进行全自动控制。实验室环境下，可以替换为精密的手动调节台。应用：以下两张图片是用红外光显微镜拍摄的。在绝缘体上硅(SOI)晶圆片上制作的部分微结构的俯视图。红外图像相同的地区经过60分钟的高频气相腐蚀。掩埋的二氧化硅的蚀刻变得可见，这使得可以确定释放和非释放部分 idonus红外显微镜的特点：1、背面红外光源2、顶部光源3、XY移动台ZUI大可检测晶圆尺寸8英寸4、长工作距离物镜5、三步变焦6、红外传感器镜头7、通过计算机查看idonus红外显微镜的应用：1、释放后的MEMS器件的检查2、填埋材料的蚀刻速率测试（如SOI晶圆）3、融熔接合的检查4、硅晶圆/碎片的背面校准5、质量控制idonus红外显微镜的优点：1、在较高的填充因子下的可靠的加工更小的MEMS图案2、顶部和背部光源3、高分辨率（5倍物镜下分辨率优于3 μm）4、更小的印迹5、操作简单，快速显示结果产品型号：IRM 200-auto可放置晶圆尺寸：200mm（8英寸）以内XY台移动距离：200 X 200 mmXY台移动方式：通过操纵杆全自动控制产品型号：IRM 100-man可放置晶圆尺寸：100mm（4英寸）以内XY台移动距离：100 X 100 mmXY台移动方式：手动其他参数：光学分辨率：5倍物镜下分辨率优于3 μm工作距离：32mm放大倍数：2.5X , 5X , 10X （5倍物镜下）变焦：三步变焦0.5X , 1X , 2X摄像头：黑白，USB接口输出，分辨率140万像素红外光源波长：1 μm可选配件：2.5X,10X,20X物镜；10mm,150mm晶圆适配环；图像识别软件

AIM-9000红外显微镜为岛津公司红外光谱产品60周年之际发布的一款全新力作，让“全自动红外显微分析”的理念更进一步。从观察，定义测量位置，到进行测量，再到鉴别结果的给出，红外显微分析所需的全部操作都能由仪器软硬件自动执行，同时提供高灵敏度的测试数据。 岛津独具匠心的在标准物镜之外，提供了大视野相机的选项。从而实现从宏观目视尺寸（10x13mm）到显微异物尺寸（30x40μm）的330倍连续放大，极大地提高了样品观察、定位的效率和可靠性。同时，基于数字图像识别算法的异物（测量）位置识别功能，让充满经验的专家系统在1秒钟之内帮助分析新手决定哪些位置才是需要进行测试的。 高速的XYZ三轴自动化样品台，为微小样品专门优化的高灵敏度MCT检测器，配合高性能的岛津红外光谱仪主机和高效光路系统，实现了多个样品的超快速自动测量。并能结合特征峰、光谱相似度和多变量分析等功能，实现高质量的红外光谱化学成像（mapping）。 对所测得的显微红外光谱数据，通过岛津独有的异物（混合物）分析程序，可以快速自动判断可能的主要成分和次要成分，而不需要用户预先知道具体的组分数量。让真正的自动化异物分析系统成为可能。

红外光是最适合硅晶圆检测的光！因为硅它能透射红外光，却不能透射可见光，当使用近红外光进行成像时，硅这种特定的材料是可以透射并成像的，因此红外显微检测是硅晶圆缺陷检查用得最多的检测方式。瑞士idonus红外显微镜装有长工作距离的物镜，三步变焦可以很容易选择视野。红外传感器镜头通过USB将图像传输到电脑。在物镜5倍的条件下，分辨率可以优于3 μm。另配有顶部光源，既可以作为传统模式使用，又能进行晶圆上面检查。XY移动台可以最大可以检测8英寸以内的晶圆，移动台用一个操纵杆进行全自动控制。 idonus红外显微镜的特点 ：1、背面红外光源2、顶部光源3、XY移动台最大可检测晶圆尺寸8英寸4、长工作距 离物镜 5、三步变焦6、红外传感器镜头 7、高分辨率（5倍物镜下分辨率优于3 μm）8、操作简单，快速显示结果idonus红外显微镜的应用：1、MEMS器件的检查2、填埋材料的蚀刻速率测试（如SOI晶圆）3、融熔接合的检查4、硅晶圆/碎片的背面校准5、质量控制

全自动高分辨纳米红外成像与光谱系统 ——10nm以下空间分辨红外成像与光谱采集用于化学分析和材料成像的纳米红外光谱系统Park FX200-IR 有效融合了崭新的红外光谱技术、美国Molecular Vista 的光诱导力显微镜（PiFM)以及行业前沿的 Park AFM技术。PiFM 红外光谱采用非接触式检测技术，在空间分辨率、测量可靠性和样品安全性方面皆优于现有的光谱技术，包括轻敲PTIR(光热诱导共振）。Park FX200-IR 中的 PiFM不仅能够进行高分辨率红外光谱分析，还能进行高质量的红外吸收材料成像，以进行准确的化学成分测量。高分辨率红外光谱与传统的FTIR(傅里叶变换红外）光谱保持着密切的相关性。此外，Park FX200-IR 还可以通过检测技术、直接驱动和边带双峰检测的变化提供不同深度的有价值的材料信息。FX200-IR纳米红外依托于原子力显微镜平台，利用光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的红外光源，从而实现10nm以下空间分辨红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及干涉仪。 FX200-IR纳米红外所采集的PiFM红外光谱与标准FTIR光谱高度吻合，这使得科研人员可以将PiFM纳米红外光谱与FTIR红外光谱图库中的数据进行对比分析。样品为聚醚砜薄膜(Polyethersulfone, PES film)FX200 IR 纳米红外成像与光谱案例光诱导力显微镜突破性的采用检测探针与样品之间的偶极交互(dipole interaction)，使其不受到样品横向热膨胀对于空间分辨率带来的负面影响。因此，基于光诱导力显微镜的纳米红外能真正意义上的实现10nm以下空间分辨纳米红外成像！下图PS-PMMA嵌段共聚物纳米红外成像与光谱案例，红色和绿色分别代表PMMA与PS的分布情况。摘自“Nanoscale chemical imaging by photoinduced force microscopy，Sci. Adv. 2016”基于光诱导力显微镜的纳米红外不仅适合有机高分子材料，也适合无机材料。下图为不同Si/Al比的ZSM-5沸石分子筛的纳米红外骨架振动峰在1100cm-1处的蓝移及劈裂情况，以及通过碳氢化合物在1480cm-1的C=C伸缩振动峰来反映ZSM-5参与甲醇制碳氢化合物（MTH)催化反应后结焦的分布情况。