轻烧氧化镁检测

产品名称：氧化镁(MgO)晶体基片产品简介：氧化镁（MgO）是极好的单晶基片而广泛应用于制作铁电薄膜、磁学薄膜、光电薄膜和高温超导薄膜等，由于它在微波波段的介电常数和损耗都很小，且能得到大面积的基片（直径2英吋及更大），所以是当前产业化的重要高温超导薄膜单晶基片之一。 可用于制作移动通讯设备所需的高温超导微波滤波器等器件。科晶公司用一种特殊的电弧法生长出高纯度的尺寸约2”x2”x 1”的低成本的MgO单晶，采用化学机械抛光制备出高质量原子级表面的基片。技术参数：晶体结构立方晶格常数a=4.216?生长方法电弧法熔点2850℃密度3.58g/cm3莫氏硬度5.5 Mohs热膨胀系数12.8×10-6/℃介电常数9.8光学透过 90% @ 200 ~ 400 nm 98 % 500 ~ 1000 nm晶体解理面100 产品规格：常规尺寸：10 x 10 x 0.5 mm、5x5x0.5mm、dia 1″x0.5mm、dia 2″x0.5mm；常规晶向： 100 、110、111、晶向公差：+/-0.5度抛光情况：单抛或双抛 （111 Ra15A，100和110 Ra5A）注：可按照客户要求加工尺寸及方向。 标准包装：1000级超净室100级超净袋或单片盒装 相关产品： LSAT LaAlO3MgO NdCaAlO4 NdGaO3SrTiO3SrLaAlO4SrLaGaO4 YSZ

产品名称：氧化镁(MgO)晶体基片产品简介：氧化镁（MgO）是极好的单晶基片而广泛应用于制作铁电薄膜、磁学薄膜、光电薄膜和高温超导薄膜等，由于它在微波波段的介电常数和损耗都很小，且能得到大面积的基片（直径2英吋及更大），所以是当前产业化的重要高温超导薄膜单晶基片之一。 可用于制作移动通讯设备所需的高温超导微波滤波器等器件。科晶公司用一种特殊的电弧法生长出高纯度的尺寸约2”x2”x 1”的低成本的MgO单晶，采用化学机械抛光制备出高质量原子级表面的基片。技术参数：晶体结构立方晶格常数a=4.216?生长方法电弧法熔点2850℃密度3.58g/cm3莫氏硬度5.5 Mohs热膨胀系数12.8×10-6/℃介电常数9.8光学透过 90% @ 200 ~ 400 nm 98 % 500 ~ 1000 nm晶体解理面100产品规格：100, 110, 111公差：+/-0.5度dia2"x0.5mm, 10x10x0.5mm, 10x5x0.5mm单抛或双抛，（111 Ra15A，100和110 Ra5A）注：可按客户需求定制相应的方向和尺寸。标准包装：1000级超净室，100级超净袋或单片盒封装 相关产品： LSAT LaAlO3MgO NdCaAlO4 NdGaO3SrTiO3SrLaAlO4SrLaGaO4 YSZ

氧化镁/无活性白土/机化工产品堆积密度测定仪FT-103A活性白土堆积密度测定装置升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；量杯有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上。是依据国家标准GB/T 25571-2010食品国家安全标准，食品添加剂 活性白土的规定设计、生产。本装置适用于食品添加剂 活性白土堆积密度的测定。同时也满足HGT2764-2008工业过氧碳酸钠之行业标准关于堆积密度测定装置要求。还满足GBT 23771-2009 无机化工产品中堆积密度的测定。HG/T2573-2006工业轻质氧化镁(HG\T2573-2006代替HG\T2573-1994)堆积密度测定要求；同时满足HG/T2770-2008工业聚磷酸铵，主要用作涂料、造纸、塑料、橡胶、纺织、木材及有机建材等制品的阻燃添加剂，6.11堆积密度的测定要求.FT-103A活性白土堆积密度测定装置原理：粉尘从漏斗口在一定高度自由落下充满量杯；测定松装状态下量杯内单位体积的质量，即堆积密度。将待测的试样装入漏斗，顺着漏斗的下端口自然下落并流入到测量筒中，将落入到测量筒中的试样刮平，在天平上称取刮平后测量筒中的试样质量，再除以测量筒的容积，就可以测出待测产品堆积密度。FT-103A活性白土堆积密度测定装置仪器结构：2.1：漏斗流出口直径30mm；漏斗高度为：135mm，漏斗采用不锈钢材料制成，2.2：量筒直径为：80mm，容积：500ml瑞柯伟业仪器：是一家专业从事分析仪器研发、生产、销售、售后维修服务为一体化之实业公司。，公司目前的业务范围主要涉及化工、石油、分子材料、粉末冶金、粉末粉体、制药、电池、塑胶、建筑材料、线材（线束）加工、等相关行业， 测量方法1. 试样的制备：将待测试样置于烘箱中，于1100C的温度下干燥1小时，测量前冷却至室温。2. 用一个250mL的烧杯装满待测试样。关闭漏斗的排放口并将测量筒置于其出口中心。将试样倒入漏斗，打开漏斗的排放阀使磨料自由地下落，直到全部流完，此过程应避免振动。3. 用一直尺刮去测量筒上多余的试样，刮料时直尺与测量桶上口平面约成450角，相互垂直刮四次。这一过程应防止压实测量筒中的试样，避免振颤。然后称量测量桶中试样的质量。4. 按下式计算堆积密度： Pap ＝ m1/V 式中：Pap -------待测试样的堆积密度，单位：g/cm3；m1--------测量筒中试样的质量，单位：g； V---------测量筒的容积，单位：cm3。5. 一个试样应重复测量三次，取三次测量结果的算术平均值作为被测试样的堆积密度值。6. 同一操作者用同一台仪器重复测定的结果，其误差不得超过±0.02g/cm3。