矿浆粒度分析仪

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

矿浆密度计是一种用于测量矿浆密度的仪器。它在矿业领域有着重要的应用。矿浆密度计的精准测量对于矿山的选矿、浮选等工艺过程的优化控制、提高生产效率和产品质量具有关键作用。 矿浆密度计的工作原理通常基于多种技术，如放射性测量、声阻抗衰减法，浮力法、压力差法等。不同类型的矿浆密度计具有各自的特点和适用场景。放射性密度计利用射线穿过矿浆时的衰减程度来测量密度，但使用时需要严格遵循安全规范。浮力法通过测量物体在矿浆中受到的浮力来推算密度。压力差法则是根据不同深度处的压力差异来计算矿浆密度。

产品描述 矿浆密度计/矿浆浓度仪/矿浆密度秤Pulp Density Scale 安装：直径2-1 / 2英寸的支撑环提供了一种在空间中自由悬挂刻度尺机构的方法。调整：用清水将塑料桶填充到溢出孔中。铲斗溢出孔的位置应能容纳略大于1000 cc。将插槽底部填充至适当的高度，以允许在1000 cc处溢出。将其挂在秤钩上，转动秤钩正上方的调零螺钉，直到秤指针垂直，在刻度盘外圈上读取1.000。现在已校准秤。确定干固体的比重：为此，使用标记为确定干固体比重的最里面的圆圈。用于测定的材料样品应该是干燥的，最好是-10目，+ 100目。将干燥的空桶挂在纸浆密度秤上；然后倒入干燥的材料样本，直到指针在表盘的外圈上指示1000克（1.000千克）。此时，铲斗将容纳一公斤干物料。将样品材料倾倒在滚动布或纸上。向桶中注入约1/3的清水。将样品缓慢倒入桶中，确保所有材料被完全润湿，并且消除了所有气泡。将物料以这种方式制浆后，请添加清水，直到铲斗装满溢流水位。取样：将需要测量的果肉或液体装满塑料桶。液位应到达铲斗上的溢出孔。铲斗外部的任何溢出物均应冲洗掉。将铲斗挂在秤上，确定比重或固体百分比。确定纸浆的比重：要获得该测量值，请按比例悬挂悬挂的水桶，并直接在指针停止的白色外圈上读取。 确定固体百分比：将已填充的水桶按比例悬挂。根据材料干固体的比重，选择正确的刻度盘环。例如，材料的干固体比重在中心垂直列处为2.2，表示干固体的比重，外部红圈为2.2，您会看到固体百分比为44。在2.6比重下，在下一个内圈中，固体百分比为39，对于2.8比重，读数为37.25％，在3.2比重下，读数为35％，在3.6：33％，4.0：32％，在4.4下，读数为31％。 更换表盘面：如果刻度盘上的表盘未覆盖您操作所特有的干燥固体比重范围，则可以按以下方式安装任何可互换的表盘面：1.拆下秤，将其平放在桌子上。2.松开秤侧面的指旋螺钉，然后提起透明盖和固定环。3.卸下表盘中心附近的两个螺丝和垫圈。请勿卸下或弯曲指示器。4.当指针直接指向您的身体时，双手握住选定的拨盘，并将拨盘中的缝隙直接放在指针上方。按下指针下方的分离式拨盘右侧，然后将转盘顺时针旋转270°。然后将转盘放在指针下方。用两个螺孔和刻度盘外缘上的四个定位标记将刻度盘转至正确的位置。5.装回两个螺钉和垫圈。装回玻璃盖板和固定环，拧紧翼形螺钉。注意：秤已在工厂设置好。请勿卸下秤的后盖板或进行任何内部调整。该秤已经过精心设计，可实现无故障运行，如果不更改机械装置，它将提供准确的测量结果。纸浆密度标度精确到+/- 10 g。 选项：100A-001 Pulp Density Scale, with set of dial faces and clear plastic container100A-002 Polyethylene clear plastic container100A-004 Stainless steel container100A-005 Set of 12 dial faces100A-001矿浆密度计，带刻度盘和透明塑料容器100A-002聚乙烯透明塑料容器100A-004不锈钢容器 100A-005 12个表盘面

在线矿浆浓度计T-BD5xCD-EMC1204，北京北斗星工业化学研究所专业生产在线矿浆浓度计特点 Advantages 全量程保持高的灵敏度储罐,管道,反应釜 直接插入安装方便,使用简单 在线测试高准确度和重复精度无机械易损部件部, 无维护 应用 Applications 石油化工，有机液体常量浓度测试水相液体，浆体浓度测试双组分混合物浓度测试 在线矿浆浓度计技术参数 Specifications 变送器 Transducer 常用变送器：BD5CC/室内，BD5IC/室外标准型号： 螺纹连接:T-BD5xCD+EMC1204pp/c_T100_R60_P1.6 法蓝连接:T-BD5xCD+EMC1204pmF150_T100_R60_P1.6 * 注：其它工作温度，压力，连接的变送器可以订货。准确度: +/-1.0%FS 相对或 0.1%, 大者为准重复精度：+/-0.1 % 分辨率： 0.1% 量程： 0-60%(到反相) 0-100.0% 工作温度 (传感器): -40℃ to 300℃工作压力： 1.6MPa (标准) , 可提供 4.0Mpa, 需订货 安装连接：ZG1” (标准) 可以订做法蓝式(标准 150mm) 总长： 680mm 重量： 2.5~4 kg 接触材料：1Cr18Ni9Ti, 聚酰亚胺. 特殊要求可以订货 安全性： Ex ia 本安设计 使用环境: Class 1,Group A/B/C/D Class II,Group E/F/G；NEMA 7 NEMA 8；NEMA 9 应用要求：油水混合必须均匀一致 其它液体浓度/浓度测试,需要工程咨询 安装方式：迎着来油方向,直管安装 数据处理器 STIM Signal Processor 处理单元: BD5xCD (标准,带现场显示) /BD5xC(不带现场显示) 供电要求: 9-24v d.c.@100mA x5V(标准变送器总功耗) 模拟输出: 0/4 - 20mA, 全副,可设置 通信接口: RS232 and R5422/485, IEEE1451.2 STIM 智能变送器标准协议, 支持 ModBus 仪器网络. 其它现场总线支持 可以订货 报警/开关: 1 路光电隔离动力驱动，3A * 380V 在线矿浆浓度计常用接线柱图：可选配件 Accessaries BD4CCD 测控器: 通信采集模式，可以支持 STIMcom/Modbus，管理多至 247 台变送器 XMT3.5 数字化仪: 标准信号远传数字显示器 电源: 9-24V DC 直流电源 在线矿浆浓度计应用说明 Application Notice： a) 适用于均匀稳定液体测试。 b) 混合不稳定的体系，尽量垂直地面安装。液流向上流动。建议选用 EMC1204pm，EMC1204H。 另外，设置数据处理功能里的平均功能，采取长时间平均，可以使测试结果稳定一些。 c) 如果环境温度与样品温度差异较大，或黏度较大时，蕞好采取保温措施。 d) 如果样品温度变化频繁, (1 C/min), 蕞好订购在线温度调理器，或用户自己设计恒温措施。 e) EMC1204 传感技术对压力或流速不敏感。但是注意压力波动往往会影响温度稳定性，间接影响测试精度。 f) 矿化度/盐度是这类技术最敏感的影响因素，蕞好的解决办法是针对样品标定。 g) 注意环境温度，特别是室外安装时，推荐选用宽温型或工业型变送器。如果还达不到要求，可以订变送器恒温器，消耗功率50W，以保持变送器电路板正常工作（注意，这种配置可能会影响防爆等级）。 h) 变送器上部 300mm 内保留空间，以便于维护。 i) 高温测试型变送器未部将增长约 50-150mm。 j) 对有机物浓度测试, 1%浓度的含盐量变化的体系,该浓度计不适用

全自动X光沉降粒度分析仪SediGraph III PLUS SediGraphⅢ Plus全自动X光沉降粒度分析仪 SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。• 仪器与配件报价 • 联系我们 • 产品培训 久经考验的技术和可靠性 在过去的四十多年中，美国麦克仪器公司的SediGraph是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1~300μm。 产品应用软件和数据报告应用笔记、文献和参考书目ASTM测试方法智能设计特色SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。• 简化泵系统，确保快速分析和易于维护• 降低噪声，提供更加安静的工作环境• 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护• 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性• Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作• 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）多项功能完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时最小化颗粒分离所需的时间全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分析结果多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如：与参考样品或基线叠加，或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加数据比较图，能够提供两套数据组（不同于参考图）图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度（指定图以外）能够使用同一台计算机同时控制两SediGraph，节约宝贵的实验室空间，方便数据存储

HT-SQ 连续水析器 五管水析装置 HT-SQ连续水析器操作部分1、本连续水析器的给料为-200目矿样，处理量约50g（干样重），处理量增大产生的干涉沉降会影响水析结果，也容易堵塞软管。干样要预先用水浸泡12小时并充分搅拌分散，配成浓度小于10%的矿浆。水玻璃溶液配制成1%的浓度储存在盛水玻璃溶液箱（23）里待用。2、将高位水箱注满水并保持满水位。3、将高位水箱的供水管放入连续水析器的恒压水箱（25）的储水格内，使储水格内总是保持满水位并有溢流满出，满出的溢流进入溢流格排走。储水格内有2个供水口，如只有一套分级管则关闭一个供水口。溢流格内有一个出水口用于排放满出溢流。4、将连续水析器的5个分级管（14、13、12、11、10）注满清水至软管（9）有溢流淌出，然后观察分级管和各连接软管内是否有气泡并仔细排出。将恒压水箱（25）的供水软管（29）和盛水玻璃箱的供水软管（20）放入漏斗（16），调节恒压水箱（25）的初始供水量为70ml/min左右，水玻璃溶液流量调至5ml/min左右。注：流量调节后应在软管（9）处测量，恒压水箱的供水软管口位置不能改变，否则液位改变会影响流量。5、将矿样装入盛矿浆筒（18），开启搅拌电机（19）使矿样保持悬浮状态。调节盛矿浆筒（18）的底阀使矿浆均匀缓慢给入漏斗（16），要避免带入空气，矿浆给料流量应小于25ml/min，以保证软管（9）的总流量不超过100ml/min。给料完毕后，调节恒压水箱（25）的供水量，使软管（9）的总流量始终保持100ml/min（应时常监测）开始水析过程。若漏斗（16）内液位异常高出，或者软管（9）排放的溢流小甚至断流或不稳定，说明连接软管内有气泡或者被矿粒堵塞，需立即将气泡排出或疏通淤塞。6、软管（9）排出的溢流为-5微米粒级，水析刚开始溢流为清水，变浑后排入搜集桶，至该溢流再次变清，水析过程结束，停止给水。水析时间应持续6小时以上，细粒级含量越多，持续时间越长。7、水析完成后，各分级管内的矿浆排放至相应容器内，如果水析矿样为-200目产品，则+74um粒级应并入-74+37um粒级。排放完毕将各分级管清洗干净，并将连接软管取下置于无光处存放，以延长使用寿命。 8、+10um、+5um、-5um级别产品可加入少量絮凝剂加速沉淀。 9、各级产品烘干后称重装袋。10、水温对矿浆黏度影响较大，天气寒冷水温较低时，水析结果偏差较大，应尽量保证20℃的水温。11、如果水析产品有絮团，说明矿浆内有残余絮凝剂或过程中混入了微量絮凝剂，应排除后重新水析。如果生产用水本身为含残余絮凝剂的回水，致使矿浆中含有絮凝剂，则水析不能进行。

品牌：久滨型号：JB6100-B品名：干湿一体激光粒度分析仪一、产品概述： 　JB6100-B是一款完全由计算机控制的全自动激光粒度仪，采用国际Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。优yuè的光路自动校对系统、干湿一键切换系统、干法电脑远端控制喂料系统等jīng心设计彰显出JB6100-B独tè yōu势。 二、应用范围：　　干湿一体激光粒度分析仪可以用来测量各种固态颗粒的粒度分布。该仪器是水泥，石油化工、陶瓷粉末、染料、颜料、煤粉、研磨料、金属粉、泥沙、矿石粉、药品、乳液、涂料、粉尘、细胞、细菌、食品、感光材料、添加剂、农药、炸药、石墨、燃料、墨汁、碳酸钙、高岭土、水煤浆、铝银浆等粒度分析的 lǐ 想仪器。

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。 　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

产品概述 KMY301矿浆石灰浆液在线智能音叉密度计可实时在线的进行密度检测。它可以运用于以密度为基本参数产品的过程控制或者以固体百分比或浓度百分比为参照质量控制。典型行业包括，石油化工行业，酿酒业，食品行业，制药行业和矿物加工（如粘土，碳酸盐、硅酸盐等），具体应用于以上行业中的多产品管道中的界面检测，搅拌混合物的密度检测，反应釜终点监测，离析器界面检测。产品原理 传感器基于元器件振动原理工作，元器件部分为浸入被测液体中的音叉部分。音叉部分通过内在的固定于叉体底部一端的压电设备感应振动。震荡频率由固定于叉体另一端的二次压电设备来检测，然后通过顶部的电路放大信号。液体密度和被测液体流动时的震动频率密切相关，当被测液体密度变化时，液体流动时的振动频率也随之改变。通过以下方程，被测液体的密度可以被计算出来。 D= K0+K1T+K2T2D=未校准的被测介质密度(kg/m3) T=振动频率(μs).K0、K1、K2=常量 在密度检测过程中，KMY301 插入式密度计可以自动补偿温度对被测介质密度（D）的影响，压力对密度没有显著的影响产品特点 1、采用4线制变送器4-20mA输出 2、五位密度值实时显示（四位小数位）；电流值及温度实时指示 3、可现场直接进入仪表菜单设定参数及调试，操作方便 4、具有纯水标定校准、测量值微调及温补功能 5、在线实时测量，可直接用于生产过程控制 6、接触液体部件为316不锈钢、锆材等，安全，卫生，防腐性好。KMY301矿浆石灰浆液在线智能音叉密度计产品选型KMY301音叉式密度计代码类型A标准螺纹型B标准法兰型C标准卫生型代码过程连接GG1.5"螺纹（标准）F法兰安装DN50（标准）K1.5"卡盘/2"卡盘C其它（用户自选需另行注明）代码插深01128mm（标准）02杆式加长128mm～3000mm可选（标准）03缆式加长分体1～8000mm可选（标准）代码连接材质1304（标准）23163其它（用户自选需另行注明）代码电压D24V DC±10%代码其它参数A常温 °CB常压 kpaC高温 °C (高温散热片可选)DE防护等级IP65F隔爆Exd ia IIC T5 GaG压力Kpa or MpaH输出：4-20mA/RS-485/MODBUS（用户注明选择）（）用户其他要求KMY301AG011AAB（标准螺纹型选型举例）

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

Rise-2202型全自动激光粒度分析仪此型号是一种智能型激光粒度仪，所有操作在电脑控制下自动完成，并具有自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动保存和自动打印等特殊功能。总之，只要把样品加进循环池中后点击鼠标，所有的操作全部由电脑完成，其综合性能达到国内外同类产品的先进水平。该仪器具有易于操作、便于掌握、测试速度快、结果准确性可靠、重复性好、省时省力等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。特别适合高等院校、研究院所、大型企业的实验室选用。技术参数1、测量范围：0.1~600微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：39KGRise-2202型全自动激光粒度分析仪工作原理： Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。大功率超声器（100W）、样品分散池（400ml）与主机一体，能够充分的对被测样品进行分散。操作简便：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪是一种智能型激光粒度仪，只需把样品加进循环池中后，所有的操作全部由电脑自动完成:自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动清洗、自动保存和自动打印等。测试信息设置：可根据被测样品的不同特性，预先设置超生时间、搅拌速度、循环泵速等信息并保存，下次测试时无需再次设置。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

SediGraphⅢ Plus全自动X光沉降粒度分析仪 SediGraph全自动Χ光沉降粒度分析仪使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。 久经考验的技术和可靠性 在过去的三十多年中，麦克仪器公司的SediGraph沉降粒度分析仪是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1-300μm。智能设计特色SediGraph III Plus沉降粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。 简化泵系统，确保快速分析和易于维护 降低噪声，提供更加安静的工作环境 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性 Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）多项功能完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时最小化颗粒分离所需的时间全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分析结果多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如：与参考样品或基线叠加，或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加数据比较图，能够提供两套数据组（不同于参考图）图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度（指定图以外）能够使用同一台计算机同时控制两台SediGraph，节约宝贵的实验室空间，方便数据存储

Rise-2016型干法激光粒度分析仪技术指标：1、测量范围：0.1～800微米2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：950×330×300mm6、重量：40KGRise-2016型干法激光粒度分析仪仪工作原理： Rise-2016型干法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。 无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2016型干法激光粒度分析仪采用优质的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。分散方法 Rise-2016型干法激光粒度分析仪是一款高性能的仪器。系统包括激光粒度仪、自动干法分散系统、静音无油空气压缩机、高效冷凝器等部分组成。在干法状态下，样品通过自动干粉进样器均匀输送到高压气流中，在高压气流的带动下连续高速喷射到分散器中，在到达分散器出口处样品已经被充分分散，穿过激光束之后样品进入收集器中，同时电脑立刻显示出粒度分布信息。1. 干法分散，不需要任何分散剂和溶剂。分散原理如下图所示 分散管摩擦产生的剪切力 颗粒间碰撞产生的摩擦剪切力 颗粒和分散管壁之间的碰撞2. 采用静音无油空气压缩机，配以高效冷凝器，保证产生纯净压缩空气；3. 瞬时分散、瞬时测量，测试精度快，分析效率高，从进样到出结果一分钟内完成；Rise-2016型干法激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2016型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测样品的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到105度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。功能强大的分析软件：PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2016型干法激光粒度分析仪硬件简介： 硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

技术指标：1、测量范围：0.1～1200微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：950× 330× 300mm6、重量：40KGRise-2018型干法激光粒度分析仪仪工作原理：Rise-2018型干法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2018型干法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2018型干法激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2018型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到135度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。操作键都在智能化触摸式操作面板上，标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2018型干法激光粒度分析仪硬件简介： 硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。。分散方法 Rise-2018型干法激光粒度分析仪是一款高性能的仪器。系统包括激光粒度仪、自动干法分散系统、静音无油空气压缩机、高效冷凝器等部分组成。在干法状态下，样品通过自动干粉进样器均匀输送到高压气流中，在高压气流的带动下连续高速喷射到分散器中，在到达分散器出口处样品已经被充分分散，穿过激光束之后样品进入收集器中，同时电脑立刻显示出粒度分布信息。1.干法分散，不需要任何分散剂和溶剂。分散原理如下图所示 分散管摩擦产生的剪切力 颗粒间碰撞产生的摩擦剪切力 颗粒和分散管壁之间的碰撞2. 采用静音无油空气压缩机，配以高效冷凝器，保证产生纯净压缩空气；3. 瞬时分散、瞬时测量，测试精度快，分析效率高，从进样到出结果一分钟内完成；

产品简介 欧奇奥（Occhio）仪器公司是欧洲一家专业制造图像法粒径粒形分析仪器的公司，拥有强大硬件设计和颗粒图形统计处理能力，能够在几分钟内完成数万颗粒的图像采集、统计处理，为您快速提供准确的粒径粒形信息。?在由欧盟各国颗粒表征、光学、数学形貌学、统计学、工程、图形处理、信息科学等众多领域精英组成的跨界团队的协作下，全面的颗粒形貌学研究已经变成现实。我们骄傲地为您损供多达80种系统内置形貌参数以及用户自定义参数窗口。您可以轻松地对由数以万计颗粒组成的充分体现代表性的样品进行多形貌参数复合计算，从而全面掌握样品特性。? 如果您需要对颖粒的形貌有更深入的了解和研究、如果您需要通过颗粒的形貌细分产品的应用市场、需要根据颗粒的形貌微调生产工艺.… 那么，欧奇奥（Occhio）图像法颗粒表征是您的不二选择。 产品简介 欧奇奥 Zephyr ESR 2 图像法粒度分析仪将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品。 测试范围 粒度粒形分析仪Zephyr系列仪器型号：Zephyr LDA：干法：7μm~5mm；湿法：1μm~3mmZephyr ESR：30μm~3cm 功能参数 欧奇奥 Zephyr ESR2图像法粒度分析仪 （1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，体积（2）粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像（9）外部数据分析：可输入、分析外部数据 应用领域 欧奇奥 Zephyr 图像法粒度分析仪是筛分法的理想替代方案。适合颗粒，如金刚石、烟草、盐/糖、塑料、催化剂、研磨剂、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、药物、金属粉末、标准品、水泥、矿石等的质量控制。可在线应用

FC200TC （高温物料）粒度粒形分析仪 粒度粒形分析仪将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品FC200TC（高温物料）粒度粒形分析仪FC200系列是应用于悬浮液和乳液的全电脑控制粒度粒形分析仪。配置包括连接显微镜头的数字工业相机和背光系统。通过在流动池中的分析, 用户可以进行粒径测量，粒形分析及计数（颗粒数/毫升）。为了得到准确的颗粒计数，仪器内置特殊的泵系统，实现较佳的流速控制。未经稀释的乳液经过位于成像装置和光源之间的固定厚度的玻璃样品池单元。通过在流动池中的分析, 用户可以测定粒径及其分布，粒形及其分布及颗粒计数。粒径测量范围0.2μm-3mm。粒径和粒形参数定义近50个。FC200TC（高温物料）粒度粒形分析仪Occhio FC200S＋HR图像法粒度分析仪 ( 湿法) ，采用1000 万像素的照相机，拍摄分散在液体中的颗粒或液滴的高分辨率照片，可拍摄到粒径小于 200 nm 的颗粒，可以循环分散测定，进行粒度分布和粒形分布的分析。FC200M配置标准计量隔膜泵。其它搅拌分散或超声分散装置可选 FC200TC是针对高温下（控温可达140°C)物料的粒度粒形分析 对于放射性颗粒材料，有特殊粒度粒形分析仪(FC 200 BAG)供您选择。

仪器简介：激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射(散射)谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高，操作方便，测试速度快，测量结果准确、可靠、重复性好。是石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿石、雾滴、乳浊液等粒度分析的理想仪器。技术参数：主要技术指标 准 确 度：体积(重量)不确定范围达到GBW(E120009C)标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求 测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟 测量方式：静态、液态、液态循环 结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度 型号 分数级 浓度要求 测量范围 特点 JL-9100型 32级 0.002%--0.2% 0.1-111.6um 激光衍射法 JL-9000型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7um 适合（D501.um） JL-9200型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7&mu m 具有自动制样装置 SKL-06型 32级 0.002%-0.2% 0.1-111.6 半导体激光器适合教学使用 SKL-07型 36级 0.002%-0.2% 0.1-334.7um 米氏散射理论,多量程颗粒测量

美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

技术指标：1、测量范围：0.1～600微米2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：950×330×300mm6、重量：40KG工作原理： Rise-2012型干法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。 无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2012型干法激光粒度分析仪采用优质的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。分散方法 Rise-2012型干法激光粒度分析仪是一款高性能的仪器。系统包括激光粒度仪、自动干法分散系统、静音无油空气压缩机、高效冷凝器等部分组成。在干法状态下，样品通过自动干粉进样器均匀输送到高压气流中，在高压气流的带动下连续高速喷射到分散器中，在到达分散器出口处样品已经被充分分散，穿过激光束之后样品进入收集器中，同时电脑立刻显示出粒度分布信息。1.干法分散，不需要任何分散剂和溶剂。分散原理如下图所示 分散管摩擦产生的剪切力 颗粒间碰撞产生的摩擦剪切力 颗粒和分散管壁之间的碰撞2. 采用静音无油空气压缩机，配以高效冷凝器，保证产生纯净压缩空气；3. 瞬时分散、瞬时测量，测试精度快，分析效率高，从进样到出结果一分钟内完成；技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2012型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测样品的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2012型干法激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

● 具有优良的测量重复性及大颗粒、小颗粒测量准确性。● 采用简洁的系统结构，可靠性好，可免维护或更少的维护（免费保修两年）。● 强大的软件功能，支持报告设计及自定义计算，可使用编程语言。● 超高性价比，为中小企业精心打造的，用得起、用得好的激光粒度分析仪。● 超强的纳米颗粒测量。结构原理PL600型智能激光粒度分析系统，是根据颗粒对光的散射原理，从散射光能的分布中反演出被测颗粒的粒度分布。颗粒在激光束的照射下，其散射光的角度与颗粒的大小成反比关系，大颗粒的散射角较小，小颗粒的散射角较大。该仪器采用全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构。具有测量的重复性好、动态范围宽、测量速度快、操作简单方便及稳定可靠、易维护等优点，是一种适用面较广的粒度分析仪；可以用来测量各种固体粉末、乳液颗粒的粒度分布。适用领域该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种颗粒粒度大小的测量。性能指标1. 测试范围：0.02～1000μm2. 重复性误差：1% （D50偏差）3. 进样方式：湿法4. 采集频率：3000次/秒5. 测试时间：1～2分钟6. 探测单元数：55个7. 激光器：进口半导体激光器8. 工作环境： 5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）9. 输出数据： 粒度分布表、粒度分布图、平均粒径、中位径、比表面积等10. 外观尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主机）11. 超声波功率： 120W功能特征● 简洁可靠的光路及结构1. 全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构，大幅度提高了样品测量的重复性及大小颗粒测量的准确性。2. 透镜后傅立叶变换结构，使最大接收角不受傅立叶镜头口径限制。3. 进口半导体激光发射器，低电压供电，具有更快、更好的稳定性及可靠性（预热5分钟后即可进行测量，远远优于氦-氖激光器30分钟以上的预热时间）。4. 精密超低偏置电流的数据处理电路，能够处理极其微弱信号，扫描频率达到3000次/秒。5. 独创的一体化激光器及后置对中调节锁紧机构，可实现免维护及防止运输或挪动过程中零环移位造 成的测试偏差。6. 窗口材质采用超硬光学玻璃及不锈钢，耐磨、易清洗，维护方便。7. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。8. 水平直线光路布置，光路结构稳定可靠。9. 底座采用硬铝制作，结构轻便稳定性好；10. 外壳采取了防震、防尘、防潮、防辐射设计，便于运输和在恶劣环境下工作。11. 结构紧凑，占用空间小，能够节约宝贵的实验室空间。12. 湿法进样系统采用离心增压泵，低电压供电，更安全并可连续线性调速。● 强大易用的软件系统1. 具有手动及SOP标准操作流程功能，可以大大减少人为因素的影响，使测试流程标准化。2. 多种分析模式：单峰模式、通用模式、增强模式、多重窄峰。3. 支持结果模拟，能将当前分析结果模拟成其它原理仪器的测量结果（如库尔特、图像仪等）。4. 支持报告设计及自定义计算，用户可根据需要自定义报告模板，并可使用编程语言进行计算，完成各种特殊要求。5. 超过百种的样品折射率；并提供光学参数优化功能，对样品折射率进行优化调整。6. 采用类似“文件资源管理器”的文件浏览方式，报告文件打开、查找更加简便快捷。7. 多种报告窗口：记录、分析结果、百分报告、筛分报告、拟合报告、统计报告、趋势报告、平均报告等；并可对记录进行排序，使用多种方式调整报告窗口大小（整页、页宽、100%等）。8. 可任意输入样品折射率（包括实部和虚部），系统自动完成参数计算，无需用户额外操作。9. 支持报告数据导出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多种文件格式。10. 支持多种界面外观设置。

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

Rise-2002型激光粒度分析仪 Rise-2002型激光粒度分析仪技术参数：1、测量范围：0.1~600微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：38KGRise-2002型激光粒度分析仪工作原理：Rise-2002型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2002型激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2002型激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2002型激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2002型激光粒度分析仪超声分散系统能够对被测样品进行充分的分散。大功率超声器（100W）与主机一体，超声时间全自动操作和触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~9分50秒连续可调, 可根据样品分散的难易程度设置超声时间，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。样品分散池（400ml）与主机一体,不锈钢材质，设计独特，呈圆形，循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。分散液均化：分散液的均匀程度是向探测系统提供稳定散射光信号的前提，Rise-2002型激光粒度分析仪采用连续可调的搅拌和循环充分保证了分散液的均匀度。搅拌系统：根据被测样品的特性选择合适的搅拌速度，防止颗粒沉淀，使分散液混合均匀，搅拌转速全自动操作和触摸式按键连续可调，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，测试过程中同时开启超声可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。循环系统：根据被测样品的特性选择合适的循环泵速，防止循环管路中颗粒沉淀，循环泵速全自动操作和触摸式按键连续可调，设置速度数字显示，循环泵速0~5000转/分钟连续可调，测试过程中同时开启超声既可避免因循环速度过快产生气泡造成的测试误差，又能够防止颗粒在循环过程中产生团聚。功能强大的分析软件：PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。 在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上，标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2002型激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

Rise-2006型激光粒度分析仪 Rise-2006型激光粒度分析仪技术参数：1、测量范围：0.05~800微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：38KGRise-2006型激光粒度分析仪工作原理：Rise-2006型激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2006型激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2006型激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2006型激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到105度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2006型激光粒度分析仪超声分散系统能够对被测样品进行充分的分散。大功率超声器（100W）与主机一体，超声时间全自动操作和触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~9分50秒连续可调, 可根据样品分散的难易程度设置超声时间，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。样品分散池（400ml）与主机一体,不锈钢材质，设计独特，呈圆形，循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。分散液均化：分散液的均匀程度是向探测系统提供稳定散射光信号的前提，Rise-2006型激光粒度分析仪采用连续可调的搅拌和循环充分保证了分散液的均匀度。搅拌系统：根据被测样品的特性选择合适的搅拌速度，防止颗粒沉淀，使分散液混合均匀，搅拌转速全自动操作和触摸式按键连续可调，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，测试过程中同时开启超声可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。循环系统：根据被测样品的特性选择合适的循环泵速，防止循环管路中颗粒沉淀，循环泵速全自动操作和触摸式按键连续可调，设置速度数字显示，循环泵速0~5000转/分钟连续可调，测试过程中同时开启超声既可避免因循环速度过快产生气泡造成的测试误差，又能够防止颗粒在循环过程中产生团聚。 功能强大的分析软件：PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上，标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2006型激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。