荧光射线测厚仪

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成，西安威思曼高压电源有限公司推出，欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪（是安装在镀锌线的出口处）能够对钢带的金属涂层（涂层成分：锌，锌/镍，锌/铝，铝，锡，铅）重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站： www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。 　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾护航

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：150W。

XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-7332 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 规格：双开端口 特点：进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

唐海红 13120400643 451B多功能射线检测仪 451B多功能射线检测仪 主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商：美国ARMI公司主要分析方法：X射线荧光法用途：校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质，是封装在PE或PVC材料中，用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%

这款电镜X射线发生器是专门为电子显微镜设计的X射线发生器，广泛用于电子显微镜的X射线荧光光谱分析，是理想X射线荧光光谱X射线发生器。电镜X射线发生器紧凑的设计和滑动安装允许与样品非常接近。 专利的多毛细管光学聚焦x射线激发下降到10μ的样品斑点尺寸。 Xb提供10μm和40μm的斑点尺寸。 集成的高压电源最大功率为50瓦（35-50千伏，取决于阳极材料为1.0毫安）。 紧密耦合提供与传统“桌面”或“独立”单元相当的XRF分析结果。 Xb被设计成不干扰电子显微镜的正常操作，包括在同一样品上使用电子束，同时收集所有元素。不需要特殊的冷却电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用Xb低ppm级别的元素可以轻松识别，量化，甚至产生痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。电镜X射线发生器应用：艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品电镜X射线发生器规格 ?X 规格 阳极类型 侧窗 目标材料 Ag，Cu，Mo，Rh＆W 加速电压 0-50kV 光束电流 最大1mA阳极点尺寸 10，20，40μm 准直器尺寸 专利聚毛发聚焦光学 源过滤器 可应要求提供 冷却要求 风机冷却功率 100瓦 控制/安全 可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示，内部互锁快门。 联锁到SEM，键控上电开关，HV-On灯，警示灯

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线高压电源XRM30P50X3059，XRW30P50X3059，配套的X射线总成RM535E,由西安威思曼高压电源有限公司推出，现有多家钢厂使用中，欢迎来电咨询。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站： www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

多功能射线检测仪 900型多功能射线检测仪是市面上有售的性能价格比最好的数字盖革计数器。它是在2002年最新设计的成果，符合人体工程学的设计。在功能十分强大，可以提供可靠和精确的测量数据。900型多功能数字辐射仪体积小，重量轻，十分坚固，可检测&alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线，采用美国标准局制造的辐射传感器，此传感器是目前市场上性能最好的辐射传感器。 使用场合 多功能射线检测仪可广泛用在制药厂，实验室，发电厂，采石场，紧急状况营救站，金属处理厂，地下油田和供油管道装备，环境保护等部门，用于： 1.检查局部的辐射泄露和核辐射污染 2.检查周围环境的氡辐射 3.检查石材等建筑材料的放射性 4.检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场 5.检测从医用到工业用的X射线仪器的X射线辐射强度 6.检查地下水镭污染 7.检查地下钻管和设备的放射性 8.监视核反应堆周围空气和水质的污染 9.检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射 10.检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性 11.精确定位辐射源 12.家居装饰的检测 功能介绍 仪表符合人机工程学原理的外形，手感舒适 操作面板为10个薄膜开关，功能丰富，防尘防雨（不可浸入水里使用） 操作方便，只要按一个键，马上开始检测并显示大量的数据 通过辐射类型选择开关，可以分别测量&alpha 、&beta 、&gamma 射线的辐射值 可以显示当前的辐射值和所设定时间的平均辐射值 大屏幕显示，可以在同一屏幕上获得足够的信息 屏幕带时间和日期显示，待机时仍然显示时间和日期 屏幕带电池电压的显示，避免在使用过程中电量突然不足 使用锂电池，保证电池10年的使用寿命 可以设定采样时间和采样间隔，自动存储采样数据到仪表自带的大容量存储器 提供电脑接口，采样数据可以传输到电脑用专用软件进行分析 提供一个数据分析软件，功能丰富，可以显示，存储并分析辐射计获得的数据 每一个仪表都经过美国辐射保护委员会的检测，并带有唯一的检测号码 只需要每5年进行一次校准 小型化抗冲击设计，携带方便 技术参数 测量射线种类 &alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线 能量响应：&gamma &ge 20Kev；&beta &ge 0.2MeV；&alpha &ge ４MeV 测量范围 0.05 µ Sv/h - 10000 µ Sv/h 灵敏度 在1uSv/h的钴60下，108个脉冲. 或1000 cpm/mR/hr 射线选择开关 &gamma ，&beta +&gamma ，&alpha +&beta +&gamma 盖格管尺寸 长度38mm,直径9mm 模拟输出端口 RS232串行端口 显示 大屏幕LCD显示，可显示数字和棒图 报警功能 带声音报警功能 精度 1% 内部存储容量 2K 工作温度 -40℃ 到 75℃ 尺寸 163 mm× 72 mm× 30 mm 使用寿命 10年（常温下使用） 锂电池工作寿命 10年

451B多功能射线检测仪 主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

451B多功能射线检测仪 仪器简介： 451B /451P应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。 451B/451P适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。 技术参数： 检测器（电离室） 230 cc 容积加压的空气电离室（451P） 349 cc 容积加压的空气电离室（451B） 技术指标 测量范围: （451P） 　　　0～500&mu R/h或0～5&mu Sv/h 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～50mR/h或0～500&mu Sv/h 　　　0～500mR/h或0～5mSv/h 　　　测量范围: （451B） 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～5R/h或0～50mSv/h 　　　0～50R/h或0～500mSv/ 　　　精度 : 小于 10%（在任何范围读数） 　　　校准源：137 Cs 　　　开关 : 开/关和模式 　　　451B 型电离室多功能射线仪具有 　　　451P的全部特性，还可直接与计算机通讯，增强仪器功能。 主要特点： 451B多功能射线检测仪451B多功能射线检测仪 高灵敏度&mu R测量剂量和剂量率 得到的剂量等于能量响应（SI）单位 快速响应测量泄露，扩散，针孔 环境改造，抗疲劳把手和手腕带 Windows下Excel进行数据处理和选择操作参数 低噪音室，斜线提供快速的背景读数 选择明亮的，明显的颜色 自动特性: 自动调零点，自动距离休正，自动背景照明 能量：451B 型电离室多功能射线仪&alpha 大于4 MeV　&beta 大于100 KeV　&gamma 大于7 KeV

AT6130射线检测仪 简单介绍 AT6130射线检测仪 X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 一、AT6130射线检测仪的技术参数 ： X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 内部测量误差:± 20% 二、主要特点 1 尺寸小，重量轻 2 对话式操作模式 3 剂量，剂量率或流量密度阈值超标视听报警 4 剂量率变化迅速响应（开始新测量） 5 固定场中可选&beta 和&gamma 辐射测量 6 场条件下操作温度范围广（IP65） 7 电离辐射源&gamma 谱图可听信号跟踪 8 最大可存带有测量日期及时间的测量结果1000个 9 LCD可显示测量结果、当前日期及时间充电状态 10 可由IrDA软件将数据传输到电脑 三、仪器介绍 外观小巧的手持式辐射测量仪。 可测X射线同位素及&gamma 射线辐射剂量，&beta 射线颗粒流量密度。 四、应用： 辐射放射研究，应急监测，民防，消防，海关，潜在非法辐射源监测，工业、医药及其它企业剂量测量，钞票污染监测 五、标准配置： 测量主机AT6130（AT6130A，AT6130B），仪器专用包，操作手册，电池。 可选配件：读数器，应用软件，全套蓄电池充电器.

FJ403型个人剂量率仪主要用来检测&gamma 和X射线对人体照射的计量当量和剂量率当量率。该仪器以GM计数管为探测器，有灵敏度高，体积小，功能多等优点。适于核设施，核及辐射技术应用部门，科研等单位的个人计量检测，户外应急检测，也可用于辐射场调查和侦测 探测辐射: &gamma 射线和X射线 个人剂量当量：0.01uSv/h-9999mSv 个人剂量当量率：0.01uSv/h-200mSv/h 响应时间：1S-300S 固有误差：小于5% 相对误差；小于20% 能量响应：小于30% 外形尺寸：75mm× 52mm× 21mm 重量：小于90g

超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 Chemplex样品薄膜 型号：090，250 品牌：Chemplex 产地：美国 一、产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？ 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美同达为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！ 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X 射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。 x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416、CAT.NO：426等Cat. No. Type Thickness Format Size Qty/Pack446-5 Kapton? 7.5 μm (0.3mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 50090 Ultra-Polyester? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)95 Etnom? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100-PP Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)106 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500107 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000150 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)150-PP Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)156 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500157 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000250 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)250-PP Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)256 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500257 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来，一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域，拥有多系列独有的特色产品线以及产权，以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、、服务周到、准时交货为原则，几乎所有的产品有库存。美同达代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品：XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物（块/粉）、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室，是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家！

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 （Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术，而不是基于传统微光子技术，它不需要维护，不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology，这种技术的探测器噪音较大，而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题，法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器，使用钢合金替代原有材料，使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。

各种相关耗材，用于X射线衍射仪上使用。

PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜，铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速，重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头，标准塑料片，坚固的存放盒，1 x AAA 电池，说明书 和 一年质保 符合以下标准： ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。

N93-DABG 型 &alpha 、&beta 、X、&gamma 射线检测仪 N93-DABG 型 &alpha 、&beta 、X、&gamma 射线检测仪 产品型号：N93-DABG 产品简介：仪器采用进口的大面积MICA盖革探测器，具有较高探测效率，可进行&alpha 、&beta 辐射表面污染检测和X、&gamma 辐射剂量率的监测。 N93-DABG 型 &alpha 、&beta 、X、&gamma 射线检测仪 采用高速嵌入式微处器作为数据处理单元，点阵式大屏幕LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。仪器采用进口的大面积MICA盖革探测器，具有较高探测效率，可进行&alpha 、&beta 辐射表面污染检测和X、&gamma 辐射剂量率的监测。 适用场合： - 物体的表面污染放射性检测 - 核医学科、放射化学、分子生物学 - 可疑物体探测 - 反恐与核安全领域 - 核原料运输储存 - 环境污染调查 - 建材放射性测定 - 出入境商检 - 辐照加工等场所 仪器特点 - 采用高效率的进口MICA 盖革探测器 - 剂量率报警阈值设置，超阈值报警 - 采样时间设置 - 声光报警和粒子脉冲提示报警 - 实时时钟功能 - 超低功耗设计，电池电量实时指示 - 全中文操作界面 - 单位显示 CPM、CPS、&mu Gy/h、&mu Sv/h、mR/h、Bq/cm2 - 800组超大容量数据存储，断电后不丢失 - 采用模拟标尺和数字显示，更清晰直观 - USB接口功能 - 便携式手柄设计 主要技术指标 - 测量范围：计数率0&mdash 500000 CPM ，0&mdash 8000 CPS： ， 剂量率0.01&mdash 10000 uSv/h，0.01～1000mR/h - 探 测 器：进口薄窗型盖革计数管，有效直径：45mm - 能量范围：40KeV～7MeV - 探测效率：Sr-90（546kev,2.3MeV &beta max）约75% Am-241（5.5MeV &alpha ）约36% - 灵 敏 度： 3500CPM/ mR/h（对于Cs-137） - 仪器本底： &le 60CPM - 相对误差：&le 15% - 供电电源：3节普通5号电池或充电电池 - 功 耗：整机电流&le 20mA - 温度范围：-15℃～50℃ - 湿度范围：相对湿度&le 90%（40℃） 尺寸重量：0.5kg；200× 100× 35mm 可选配外置探测器 （责任编辑：众核仪器） 相关产品： · N93-DABG 型 &alpha 、&beta 、X、&gamma 射线 · N93-A 型 &alpha 、&beta 、X、&gamma 射线检测 · MicroCont II（RGZ-190）大面积 · N93-BG 型 &beta 、&gamma 射线检测仪 · N93-DBG 型 &beta 、&gamma 射线检测仪

451B /451P多功能射线仪 451B /451P多功能射线仪 451B /451P 应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。 451B/451P 适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。 仪器特点： 高灵敏 451B /451P应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。 451B/451P适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。 仪器特点： 高灵敏度&mu R测量剂量和剂量率 得到的剂量等于能量响应（SI）单位 快速响应测量泄露，扩散，针孔 环境改造，抗疲劳把手和手腕带 Windows下Excel进行数据处理和选择操作参数 低噪音室，斜线提供快速的背景读数 选择明亮的，明显的颜色 自动特性: 自动调零点，自动距离休正，自动背景照明 能量：451B 型电离室多功能射线仪&alpha 大于4 MeV　&beta 大于100 KeV　&gamma 大于7 KeV 技术参数： 检测器（电离室） 230 cc 容积加压的空气电离室（451P） 349 cc 容积加压的空气电离室（451B） 技术指标 测量范围: （451P） 　　　0～500&mu R/h或0～5&mu Sv/h 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～50mR/h或0～500&mu Sv/h 　　　0～500mR/h或0～5mSv/h 　　　测量范围: （451B） 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～5R/h或0～50mSv/h 　　　0～50R/h或0～500mSv/ 　　　精度 : 小于 10%（在任何范围读数） 　　　校准源：137 Cs 　　　开关 : 开/关和模式 　　　451B 型电离室多功能射线仪具有 　　　451P的全部特性，还可直接与计算机通讯，增强仪器功能。

ADM－300放射性检测仪(多功能射线检测仪) 世界最为广泛采用的军用放射性检测仪器系列，也广泛用于 核设施 环保 反恐 海关 辐射应急 商品检验 卫生 辐射防护等领域 包括ADM-300主机和一系列智能化探头，能够快速、灵活地配置实现多功能测量&alpha ／&beta ／&gamma ／中子／X射线辐射 结实、可靠，抗震抗电磁干扰设计，适合恶劣环境，满足军标规范要求 智能化探头可单独对探头刻度，并保存相关信息，实现探头与主机自由互换 智能探头包括： ABP 100 大面积&alpha ／&beta 闪烁探头 BGP 100 &beta ／&gamma 探头 BP 100 &beta 探头 GP110 宽量程&gamma 探头 GSP 100 NaI(Tl)&gamma 探头 NP 100 中子探头 PCD 100 密闭气体正比计数管&beta ／&gamma 探头 UWP100 水下&gamma 探头 XP100 低能X探头用于测量Pu XP 110 NaI(Tl)低能X射线探头 其它附件可供选择： 通信软件 手提箱 检查源与定位器 手柄 耳机 挎包 电源转换器 腰带 ADM－300便携式辐射检测仪 采用内置双GM管测量 &beta 和&gamma 辐射 采用&ldquo Time-to-count&rdquo 专利技术，实现宽量程和高精度&gamma 剂量测量，可从环境水平到事故水平跨9个量级，直到1000Sv/h不饱和。 结实、可靠，抗震抗电磁干扰设计，适合恶劣环境，满足军标规范要求 铸铝、抛光法郎外壳以及密封膜开关，使仪器易于去污 操作简单，6个密封膜按键，实现设置、控制等多种功能 LCD显示探头参数和测量结果，并具有背光显示功能 全量程可设报警阈值，并可按剂量限值设置报警 可存储100个以上数据，具有定标器和低电压数据保护功能 可与计算机通过RS232通信 &gamma 测量范围：0.1&mu Sv/h&ndash 100Sv/h，0.1&mu Sv&ndash 10Sv &gamma 能量响应：80keV&ndash 3MeV &beta 测量范围：0.1&mu Sv/h&ndash 50mSv/h &beta 能量下限：200keV 精度：± 10%。非线性：± 5% 响应时间：5s(0.1&mu Sv/h)，2s(0.1&mu Sv/h) 电池：100h(0.1Sv/h，25℃) 温度：-30 - +50℃ 湿度：95%(RH) 外形尺寸：101.6x44.5x190.5mm 质量：1.17kg

X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用，温度范围高达-196度（液氮）到1500摄氏度，是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑，温度可变，温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度，适合所有类型的显微镜，材料科学，光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm，可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度，可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口（包括光学窗口和X射线窗口），用于真空环境，从而使得样品台用于任何显微镜，傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射，拉曼光谱，材料科学，张力测量，热分析，SEM,TEM， FTIR，SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1： 室温-60摄氏度范围2： -5到99摄氏度范围3：-25到120摄氏度范围4：-40到120摄氏度范围5：-196到420摄氏度范围6：-196到600摄氏度类型7：室温到1000摄氏度类型8：室温到1200摄氏度类型9：室温到1200摄氏度类型10：室温到1400摄氏度类型11：室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸：13x13x2cm电源：115-220V, AC重量： 约800g温度分辨率：0.1摄氏度材料：铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。