影像度二次量仪

二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号，对于很多扫描电镜使用者而言，二次电子可以用来表征形貌，背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而，二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天，我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型，各自的特点，以及它们和衬度之间的关系。二次电子 二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子，一般能量小于50eV，产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌，因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而，这种说法并不严谨。二次电子（SE）和其它衬度的关系 二次电子的产额其实和成分也有很大的关系，尤其是在低原子序数(Z图2 碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额 所以，如果对于低原子序数试样，或者原子序数差异非常大时，若要反映成分衬度，并不一定非要用BSE像，SE像有时也可获得上佳的效果。 除了成分衬度外，SE还具有较好的电位衬度，在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低，图像偏暗，反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高，所以产额受电位影响小，因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3 另外，如果遇上试样的导电性不好，出现荷电效应或者是局部荷电，这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下，相对SE图像受到的影响大，BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下，有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。 至于通道衬度，一般来说因为需要将样品进行抛光，表面非常平整，这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向，但是相比BSE来说则要弱很多，所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4 SE和衬度的关系，总结来说就是SE的产额以形貌为主，成分为辅，容易受到电位的影响，取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候，可以参考表1，SE和BSE特点刚好互补，并没有孰优孰劣之分，需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类 刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系，接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此，为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果，我们有必要对SE的类别进行详细的了解。 如果按照国家标准来进行分类的话，SE主要分为四类，分别是：SE1：由入射电子在试样中激发的二次电子；SE2：由试样中背散射电子激发的二次电子；SE3：由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子；SE4：由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。 国标这样定义完全正确，然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢？因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子，探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么，我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用，我们在此不进行讨论。A. SE1： 由原始电子束激发，因此其作用深度最浅，对表面最为敏感，我们知道SE本身也有成分衬度，所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。 其次，正因为SE1信号来自于样品的极表面，作用体积小，所以其出射角度应该相对比较高。因此，SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。 再者，正是因为SE1的出射高度都是高角，所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响，因而其分辨率虽好，但是立体感则相对比较弱。B. SE2和SE3： 由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大，所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多，正因如此， SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。 其次，SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发，它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE，而且它们作用区域较深，也更能体现出试样深处的成分信息。 再者，SE2和SE3由不同方向的BSE产生，因此其出射角度相对也较为广泛，从高角到低角均有分布。C. 另外，我们需要再考虑到荷电因素，荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射，所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。 SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度，荷电SE分布在高角。这样一来，我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即：高角电子以“SE1+荷电SE”为主，低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点，我们分别来看一下。A. 轴向SE： 轴向SE是以接近90° 出射的二次电子，其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小，分辨率相应也是最高，且具有最高的表面敏感度，因此可以分辨极表面的成分差异，但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等，也会一览无遗。同时，因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多，所以，一方面对电位衬度最为敏感，另一方面受到荷电的影响也最为严重。B. 高角SE 高角SE是以较高角度出射的二次电子，也是以SE1为主，不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低，不过由于荷电SE占比减少，所以和轴向SE相比，高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射，所以图像的立体感都比较差。C. 低角SE 低角SE是以较低角度出射的二次电子，其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息，表面灵敏度低，作用体积大，分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好，抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点 这样，我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3，转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后，在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的，我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样，我们现在可以总结一下几种类型SE的特点，如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜，对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号，与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触，很明显两者的立体感相差很大，见图5。图5 低角SE图像（左）和高角SE图像（右） 但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生，虽然前面我们已经对二者进行了介绍，但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6，两张图都是使用镜筒内探测器获得，分辨率和立体感都很类似，总体效果非常接近，但是轴向SE（左图）受到小窗口聚焦碳沉积的影响，而同时获得的高角SE（右图）的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像（左）和高角SE图像（右） 图7的样品为硅片上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右）图8的样品为绝缘基底上的二维材料，左图为高角SE图像，右图为轴向SE图像，可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料，高角SE图像（左）和轴向SE图像（右） 总结一下，我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型，它们没有优劣之分，均有自己的特点，有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势，才能获得最适合的图像。 好了，关于SE的分类相对比较简单，相信您已经完全理解，我们将在下一篇中详细说一下BSE。 为了更好的理解这篇的内容，让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧！ 您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号，并且在什么衬度特点上产生的差异吗？我们将会在下一期文章中公布答案哦！0102030405

上一章（电镜学堂 |细谈二次电子和背散射电子（一））中我们详细的介绍了不同类型的二次电子的特点以及它们与衬度的关系，今天让我们来认识一下扫描电镜中另一个极其重要的信号----背散射电子（BSE）。背散射电子 背散射电子是入射电子在试样中受到原子核的卢瑟福散射而形成的大角度散射后，重新逸出试样表面的高能电子。由于背散射电子的能量相对较高，其在试样中的作用深度也远深于二次电子，通常而言是在0.1-1μm左右。在很多情况下，大家把BSE像简单的认为是试样的成分衬度，但是这种说法并不完全正确。背散射电子（BSE）和衬度之间有些什么关系？A. BSE的成分衬度 背散射电子的产额和成分之间的确存在非常紧密的关系，在整个原子序数范围内，BSE的产额都是随原子序数的增大而提高，而且差异性高于SE（见图1）。所以，这也是大家都用BSE图像来进行成分观察的最主要原因。图1 铜包铝导线截面的SE、BSE像和铝、铜电子产额 不过，这并不意味着BSE的产额仅仅就取决于原子序数，它和试样的表面形貌、晶体取向等都有很大的关系，甚至在部分情况下，BSE在形貌立体感的表现上还要更优于二次电子。B. BSE的形貌衬度 试样表面形貌的起伏同样会影响BSE的产额，只不过BSE产生的深度相对SE更深，所以对表面的细节表现程度不如二次电子。不过，如果对表面形貌不是特别关注的情况下，可以尝试使用BSE图像来进行形貌表征。特别是在存在荷电现象的时候，由于BSE不易受到荷电的干扰，较SE像会有更好的效果（见图2）。在前一章的SE章节中，我们已经介绍过这部分内容，这里不再赘述。图2（左图）5kV， SE图像 （右图）15kV，BSE图像C. BSE的阴影衬度 在进行形貌观察的时候，有时候需要的是图像的立体感。立体感主要来源于在一个凹坑或者凸起处，对其阴阳面的进行判断。在这方面，大角度的SE和BSE因为对称性的关系，在阴阳面的产额及实际探测到的信号量完全一样，所以体现立体感的能力相对较弱。低角SE2信号反而可以较好的体现图像的立体感，处于样品室侧方的ETD探测器在采集低角SE信号时，朝向探测器的阳面信号不受阻碍，背向探测器的阴面的上部分的SE可以绕行后被探测器接收，而下部分则由于无法绕行从而产额降低，此时阴阳面原本产额相同的低角SE信号，在实际采集的过程中发生了接收数量的不一致，从而在图像上表现出阴阳面的亮度不同，我们把这种现象称之为阴影效应。图3 ETD的阴影效应当凸起区域比较高时，阴影效应会显得比较明显，而随着凸起区域高度的逐步降低，当处于阴面的低角SE能够完全绕行时，此时阴影效应就会变得非常微弱。而基于BSE不能绕行的特点，在这种情况下则可以增强阴影效应。BSE产生后基本沿着出射方向传播，不易受到其它探测器的影响。阴阳面的实际BSE产额是相同的，但是如果探测器不采集所有方向的BSE，而是只采集一侧的BSE，阴阳面收集到信号的差异就会变得非常大，而且由于BSE不能像SE那样会产生绕行，所以这种差异要远高于SE。换句话说，利用非对称的BSE得到的阴影效应要强于ETD的低角SE。图4 不同方向接收到的BSE强度及叠加算法除了形貌衬度之外，我们已经在上一章节已经介绍过。对于电位衬度，SE要强于BSE；对于通道衬度，BSE则要优于SE。我们现在再回到SE和BSE的关系上，简单总结一下，BSE以成分为主，兼有一定的形貌衬度，电位衬度较弱，不过通道衬度较强，抗荷电以及阴影衬度也都强于SE，详见表1。表1BSESE能量高低空间分辨率低高表面灵敏度低高形貌衬度兼有为主成分衬度强弱阴影衬度非对称很强低角有电位衬度弱强抗荷电强弱图5 断口材料的SE和BSE图像及衬度对比背散射电子如何分类？在明确了BSE和衬度之间的关系以及与SE的对比之后，接下来介绍一下BSE的分类。不同类型的背散射电子在衬度、作用深度上的表现完全不同，为了能在以后电镜观察中获得最适合的条件，我们也要对BSE细致的分类，并对其各自的特点进行详细的了解。 BSE有弹性散射和非弹性散射之分，弹性散射的BSE能量接近入射电子的能量，非弹性散射的BSE能量要稍低一些，从200eV到接近入射电子能量均有分布。从发射角度来说，从很低的角度到很高的角度也都有分布。无论是能量分布上，还是空间分布上，BSE都表现出不同的特点，在此进行逐一说明。A. 高角BSE： 高角BSE是以接近90° 出射的背散射电子。此类BSE属于卢瑟福散射中直接被反射的情况，经过样品原子散射碰撞的次数也少，且和原子序数衬度也存在最密切的关系。高角BSE相对所包含的原子序数衬度最高，相对作用深度也较小，且和形貌关系较小。因此，高角BSE可以体现最纯的成分衬度。另外，当试样表面有不同取向时，不同取向的原子密度不同，也会影响直接弹性散射的概率。所以，高角BSE也能够很好的体现通道衬度。 因而，在多相的情况下，高角BSE可以表现出最强烈的没有其它衬度干扰的成分衬度；在试样抛光平整的情况下，高角BSE也可表现出对表面很敏感的通道衬度。 不过由于高角BSE的出射角的角度要求很高，因此其立体角很小，所以在所有BSE中相对来说占比也较少，信号相对偏弱。B. 中角BSE： 中角BSE是指那些能进入到镜筒内但达不到高角角度的BSE，角度一般不低于60°。中角BSE由于出射角度降低，因此在其中混有的非弹性散射BSE相对高角BSE而言有所提高，在试样表面的作用深度有所增加，其产额随形貌不同开始受到较大的影响。 中角BSE已经开始兼具成分和形貌衬度，不过由于出射角度依然比较大，作用深度也并不深，分辨率也没有受到太大的影响，依然可以维持在较高水平。而且，由于BSE的抗荷电能力要明显强于高角SE和轴向SE，因此，中角BSE可以作为它们的一个很好的补充。不过中角BSE和高角SE、轴向SE存在一个共同的问题，就是立体感同样不如低角信号。C. 低角BSE 低角BSE是以较低角度出射的背散射电子，通常在20°～60°之间。低角BSE的出射角度进一步降低，因此非弹性散射的电子所占比例也进一步提高，作用深度有了较为明显的加深。相应的，低角BSE的成分衬度较之前二者有了一定的弱化，而对形貌衬度的体现则会进一步的加强。 因此，低角BSE是属于兼具成分和形貌衬度，但是相对能够体现的表面细节不多，且图像分辨率有所降低。不过其抗荷电能力却有了进一步的提高，因此在荷电效应很强时，也可以作为形貌像的重要补充。 以上是按照BSE的出射角度来进行分类，我们把这三种BSE先简单的总结一下，如表2。表2低角中角高角形貌衬度降低成分衬度提高表面灵敏度提高立体感降低抗荷电降低分辨率提高信号强度降低图6 不同角度BSE的衬度对比 前面我们都是按出射角度来进行区分BSE，接下来，我们再看两种比较特别的类型。D. Topo-BSE Topo-BSE是指非对称的低角BSE，具有较为强烈的阴影衬度。由于低角BSE在所有角度BSE中对形貌最为敏感，再根据前面提到的BSE的阴影衬度，将两者结合起来，便可产生强烈的阴影衬度。 例如，对于试样上的一个凸起来说，各个方向产生的BSE信号是对称的，但是低角BSE产额和其形貌有关。如果只采集特定方向的低角BSE，那么朝向这个特定方向的信号量接收就要偏多，而背向这个方向的信号就明显偏少，反映在图像上就会出现明显的阴阳面，从而提高了图像的立体感。(右图)立体感稍弱，且有一定的荷电 试样本身并不会产生这种不对称性，这种不对称性主要是人为故意造成，常用的方法有双晶体或五分割等不对称的BSE探测器的算法、对称BSE探测器的Topo模式采集、试样台的倾斜、以及其它的一些特殊技术。这部分内容将在以后的章节中再为大家详细介绍。 图12 二维材料,Low-Loss BSETopoBSELow-LossBSE形貌衬度弱中强

仪器信息网讯 2023年12月6日，全国工业过程测量控制和自动化标准化技术委员会分析仪器分技术委员会（SAC/TC124/SC6）四届二次会议暨标准送审稿审查会议在海口市召开。海口市市场监督管理局标准化科科长邓仲肖、SAC/TC124/SC6秘书处挂靠单位-中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员李跃光，SAC/TC124/SC6副主任委员金春法、李志刚，以及秘书长马雅娟，SAC/TC124/SC6委员及委员代表、标准主要起草人等100余人出席本次会议。本次会议由海南小而美电商科技有限公司承办，广州禾信仪器股份有限公司、广州科鉴检测工程技术有限公司协办。会议现场科学仪器是科学家的“眼睛”，是高端制造业皇冠上的明珠，其技术发展对科技发展具有重要的战略意义。而仪器标准是评价仪器产品质量的重要依据，对提升产品质量发挥着重要的作用。SAC/TC124/SC6是由国家标准化管理委员会正式批准成立的全国分析仪器专业标准化组织，主要负责物质成分、化学结构和物理特性的分析测量仪器及仪器的测量技术的标准化工作，包括在线分析仪器、便携式分析仪器、实验室用分析仪器及移动式分析仪器等产品的标准化工作。会议开幕式由SAC/TC124/SC6秘书处挂靠单位-中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员李跃光主持。SAC/TC124/SC6副主任委员金春法、李志刚，海口市市场监督管理局标准化科科长邓仲肖等分别致辞。中国仪器仪表行业协会秘书长& SAC/TC124/SC6副主任委员 李跃光致辞并主持会议上海仪电科学仪器股份有限公司、SAC/TC124/SC6副主任委员 金春法致辞汉威科技集团股份有限公司、SAC/TC124/SC6副主任委员 李志刚致辞SAC/TC124/SC6领导在致辞中表示，标准审查任务重，感谢标委会委员们以及秘书处的积极工作！委员的积极参与是标准工作顺利开展的基础，希望未来一如既往支持。海口市市场监督管理局标准化科 科长邓仲肖致辞海口市积极贯彻落实《国家标准化发展纲要》有关部署，结合海口市的经济发展实际情况，切实满足企业需求，跨部门联合，积极推进标准化建设。中国仪器仪表行业协会、SAC/TC124/SC6秘书闫海荣汇报SC6工作情况闫海荣代表SCA/TC124/SC6秘书处向大会汇报了2023年度工作总结，且提出了下一步的工作计划。2023年度SC6标准相关工作进展：共有国家标准制定项目3项，目前处于会审阶段；共有行业标准制修订项目6项，其中计划报批2项、准备送审1项、计划完成征求意见稿3项；申报国家标准7项、行业标准4项；完成与分析仪器相关的团体标准9项；对口IEC/SC65B/WG14，推动由聚光科技代表中国起草的国际标准“IEC TS 63165 光度法工业水质分析系统规范”。2023年，SC6对委员进行调整，增补委员12人，因工作变动或退休免去委员7人，调整后SC6委员人数为125人。2024年度 SC6工作重点包含按计划完成国家标准和行业标准制修订项目共7项、完善本标准委标准体系表、做好2024年度国家标准和行业标准的制修订项目申报工作、加强开展标准的培训和宣贯工作、保持与IEC国际化标准组织的联络、完成上级TC交给的工作任务等。新委员风采本次增补的新委员纷纷表示，非常高兴加入到SC6这个专业又有“温度”的大家庭，接下来将积极参与活动，发光发热，为国家标准化建设贡献力量；并发挥自身的作用助力标准成果转化，帮助国产分析仪器高质量发展。响应国家产业政策，适应分析仪器技术发展，标准化工作也在寻求转变，正从单一产品标准向基础通用深入。 因此，本次会议上也特别安排了两个相关主题的报告。报告题目：国产质谱产业化思考报告人：广州禾信康源医疗科技有限公司 刘平报告题目：质量强国与国产化-可靠性需求报告人：广州科鉴检测工程技术有限公司 文武本次会议对“安全仪表系统 过程分析技术系统”、“液体荧光氧分析仪 性能表示”、“分析仪器系统维护管理”三项国家标准，以及机械行业标准“荧光光度计”送审稿及其相关文件进行了会议审查。SC6副主任委员金春法、李志刚分别主持该环节。会议现场委员们针对编制说明、标准正文逐一仔细审查，展开了激烈讨论，并给出修改建议。经过深入探讨后，参会委员和委员代表们一致表示同意通过本次会议提交的三个国家标准和一个行业标准的审定，标准牵头单位主要起草人按上述修改建议意见进行补充和修改，使标准中文字更严谨，内容更精练，同意起草工作组根据本次会议的意见修改完善后启动行业标准报批程序。

2011年10月12至13日，由方圆标志认证集团有限公司审核专家组对中科科仪公司的质量管理体系ISO9001：2008进行第二次监督审核。在二次审核过程中，审核组围绕公司的组织结构、运作情况、程序文件等进行了深入细致的审核，未发现任何可能导致暂停或撤销认证的不符合或其他情况，质量管理体系运作持续有效，认证机构将颁发确认证书。

2023年4月10日，第十八届中国国际机床展览会（CIMT2023）在中国国际展览中心（顺义馆）盛大开幕。CIMT是中国知名度最高、规模最大、影响力最强的机床工具专业展览会，被国际业界公认为“全球四大国际机床名展之一”。本届展会主题为“融合创新 数智未来”，吸引来自28个国家和地区的约1600家制造商参展。CIMT2023开幕式展会首日，蔡司携多款全新产品技术亮相W3-A211展位，聚焦七大行业应用，全方位集中展示前沿“黑科技”。蔡司展位当天下午，蔡司隆重举办“蔡司重点行业应用专题研讨会-暨蔡司2023新品发布会”，覆盖蔡司医疗行业、电子行业、新能源汽车行业及电力与能源行业质量解决方案，发布VoluMax 9 titan计算机断层扫描系统、O-DETECT光学影像测量仪 、T-SCAN hawk 2三维激光扫描仪、ATOS LRX三维扫描系统四款新品。活动吸引了众多业界同仁出席，与蔡司专家零距离交流互动。VoluMax 9 titan VoluMax 9 titan是一款450 kV的计算机断层扫描系统，其集紧凑型设计和稳定性能于一体。该机器易于使用，可对电池模组等结构紧密的大型部件进行清晰的X射线扫描，从而实现快速、精确的质量控制。O-DETECTO-DETECT传承德国蔡司顶尖的光学技术，操作简便，是一款快速精准的影像测量仪。在需要使用接触式测头测量的情况下，O-DETECT可以选配蔡司XDT触发测头，升级为复合式测量设备。高品质的XDT探头，全面支持大长度多角度探针，具备高稳定性且同时满足多种测力。T-SCAN hawk 2T-SCAN hawk 2是首款由蔡司德国研发和制造的新一代轻量级手持式高精度三维激光扫描仪，在扫描速度和流畅度上带来非凡体验。首次加入卫星模式，颠覆扫描定位方式，提供计量级精度和便携易用的双重加持。您在哪里，测量室就在哪里。ATOS LRXATOS LRX是一款拥有超大测量体积的三维扫描系统，采用全新光源，捕捉高精度可追溯的测量结果，结合易用强大的一体化软件，确保安全、快速、高分辨率地获取大型零件的表面数据，适合航空航天、汽车、造船、模具及风电等多行业应用。在接受媒体采访时，蔡司中国工业质量解决方案总负责人平颉先生表示：“‘制造业高质量发展’标志着中国这个‘世界制造中心’真正意义上从量向质的转型。蔡司素来以‘质量’赋能制造业闻名业界，并且在近年的发展中，不断夯实整体实力，可以提供从研发到生产制造的全流程质量解决方案。除了大家耳熟能详的蔡司优势技术（三坐标接触式测量等），光学扫描检测也正受到越来越多的用户关注。今天，我们推出的两款全新光学扫描设备T-SCAN hawk 2和ATOS LRX，以重磅设计结合领先技术，让各项检测任务更加得心应手，精准高效，无论是轻便手持，还是大型零件扫描，均可按需配置。将国际领先的技术及产品引入中国，蔡司必将得以帮助本土企业解决技术难点，突破创新瓶颈，实现生产流程和产品质量的长期稳定可控，帮助企业降本增效，将更多的精力投入新品研发和市场推广，在提升品牌声誉的同时，实现良性可持续发展的目标。”

前两个章节我们详细分析了二次电子SE和背散射电子BSE，并对这两者进行了更细致的分类，对它们产生的原因和衬度及其它特点也做了详细的说明。相信读者对这些不同的信号已经有了全新的认识。这一章节我们就要把这些不同类别的电子信号再进行一个回顾和总结。我们将常规定义的SE信号分成了低角SE、高角SE和轴向SE三个类别；又将BSE信号划分为低角BSE、中角BSE、高角BSE、Topo-BSE和Low-Loss BSE等五个类别。在这里我们再介绍一种信号，就是样品台减速模式下的电子信号。前两个章节请参看：细谈二次电子和背散射电子（一）细谈二次电子和背散射电子（二）减速模式下的信号现在很多扫描电镜都追求低电压下的分辨率，而样品台减速技术则是一个行之有效的手段。电子束依然保持高电压，在试样台上加载一个负电位，电子在出极靴后受到负电位的作用而不断减速，最终以低能状态着落在样品表面。这样既保持了高电压的分辨率，又因为低着落电压而有很高的表面灵敏度。图1 样品台的负电位对原始电子束起减速作用样品台减速技术各个厂家叫法不一样，有的叫电子束减速技术，有的称为柔光技术。这里我们统一称为BDM (Beam Decelerate Mode)技术。在BDM技术下，产生的电子信号和正常模式会变得有所不同。图2 样品台的负电位对产生的 SE 和 BSE 起加速作用样品台的负电位对于原始电子来说起减速作用，但是对于产生的 SE 和 BSE 来说，却是起到加速作用。SE 和 BSE 受到电场加速后，都会变成高能量电子，而且出射角度都有增大的趋势。二次电子因为能量小，所以受到电场的作用较大，各个方向的 SE 都会被电场推到相对较高的角度；而背散射电子虽然也会被电场往上方推，不过因为能量相对较高，所以出射角增大的衬度不如 SE 明显，低角 BSE 变成中角 BSE、中角 BSE 变成高角 BSE。 受到样品台减速电场作用的结果就是 SE 趋向于集中在高角附近，而 BSE 的分布范围相对 SE 要广泛一些，不过相对不使用减速模式时角度要有所偏高。图3 减速模式下 SE 和 BSE 的出射角度示意图减速模式下的衬度此时，虽然 SE 和 BSE 虽然产生的原因以及携带的衬度不同，但因为样品台的负电位的作用，能量、出射角度都比较接近，因此从探测的角度来说难以完全区分。因此在 BDM模式下，接收到的电子信号基本都是 SE 和 BSE 的混合信号，兼有形貌和成分衬度。如图4，在减速模式下，无论是硫酸盐上的细胞，还是贝壳内壁，一个探测器获得的图像都可以表现出明显的形貌和成分衬度。 图4 硫酸盐上的细胞（左图） 贝壳（右图）不过虽然都是SE和BSE的混合信号，不同角度探测器的实际效果也有一定的差异。越处于高角的探测器接收到的信号中相对SE所占比例较多，有着更多SE信号的特点，如形貌衬度比重更高；反之越是低位探测器接收到的BSE信号相对较多，表现在衬度上有着更多BSE信号的特点，如图5。 图5 减速模式下较高位探测器(左)和较低位探测器(右)的衬度对比 以往为了同时对比形貌和成分衬度，往往需要 SE 和 BSE 同时进行拍摄，通过SE 和 BSE 图像进行对比，以判断试样中的形貌和成分的对应信息；或者利用探测器信号混合，将 SE 和 BSE 的形貌衬度和成分衬度叠加在一张图像上，如图6。图6. 常规模式下的SE(左)、BSE(中)图像，以及将两者混合的图像SE+BSE(右) 而减速模式下获得的图像衬度比常规模式更加复杂，也正因为如此，减速模式的图像往往蕴含了更为丰富的信息。所以，减速模式除了可以提升低电压下的分辨率外，衬度的多样性也是一个重要特点。如图5和图6的对比，在相同的着落电压下，减速模式下仅需要一个探测器就可获得常规模式SE+BSE混合的效果。另外，对于减速模式来说，并不一定非要在低着落电压下才能使用。有时候为了同时获得SE和BSE的混合信号，同时在一张图像上获取形貌和成分衬度，在其它电压下也均可使用减速模式。如下图金相试样，在10kV的BSE下只有成分衬度；而在13kV- 3kV的减速模式下，则增加了很多形貌信息。图7 金相试样在10kV下的BSE图像(左)，和13-3kV减速模式下的混合衬度(右) 不过有一点要特别注意，那就是减速模式下虽然也有成分衬度，但是并不意味着图像越亮的地方平均原子序数越高，这一点和常规模式下的BSE图像不同。越亮的地方只能说是SE+BSE混合后的产额越多，受到多种衬度的影响，而不仅仅是成分的作用。如图8，从左边BSE图像上看，金字塔状的晶体材料是原子序数低于基底的，而在最右边的减速模式下，金字塔状晶体和基底虽然也表现出成分差异，但是晶体却显得更亮。图8 晶体材料在常规模式下的BSE像(左)、SE像(中)，以及减速模式下的图像(右)减速模式的总结根据我们前两章介绍的SE和BSE的衬度和特点，我们也很容易总结出在BDM模式下不同位置探测器接收到的信号以及衬度特点，如下表。高位低位SE占比较多较少高角BSE占比较多较少低角BSE占比较少较多分辨率高低表面敏感度高低立体感低高抗荷电弱强成分衬度弱强形貌衬度强更强电位衬度强弱 在减速模式下各个探测器获得的都是 SE 和 BSE 混合的信号，所以都表现出综合衬度的特点。不过相对来说较高位探测器的高角BSE和SE占比较高，因此对表面的敏感度更高、分辨率也更好，不过相对立体感较差，也更容易受到荷电的影响；而较低位探测器的SE占比较少，中低角BSE占比较多，表面敏感度和分辨率都有所下降，不过立体感和抗荷电能力则更好。 因此减速模式下究竟使用哪个探测器，需要根据样品的实际情况以及关心的问题来进行选择，而不要始终用仪器默认的探测器。减速模式对操作者有较高的要求，除了要学会掌握操作技巧外，也需要对图像的综合衬度进行解读和分离。按照惯例，今天还有一个小问题，答案将在下一期公布噢！文末小问题：这是电池隔膜试样的图片，你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗？上一期答案问题：以下是不同类型背散射电子图片，你能说出分别是由哪种BSE成像吗？ 01 答案： 中角、低角、高角02 答案：低角、高角、中角03 答案：低角、高角、中角

前三章我们详细介绍和分析了在各种模式下，二次电子和背散射电子以及各种衬度之间的特点，本章节内我们会对这些内容行回顾和总结。前三个章节请参看：细谈二次电子和背散射电子（一）细谈二次电子和背散射电子（二）细谈二次电子和背散射电子（三） 信 号 类 型 二次电子（SE）按照其产生的原理可以分成 SE1、SE2、SE3 和 SE4，但是在实际使用的时候会发现难以对 SE1～SE4 进行严格的区分，因此我们把 SE 分成更加实用、更容易从操作上掌握的低角 SE、高角 SE 和轴向 SE 这三种 SE 信号。 背散射电子（BSE）根据角度不同将其区分为低角 BSE、中角 BSE、高角 BSE；又从对称性的角度分离出非对称的 Topo-BSE；以及从能量的角度分离出Low-Loss BSE 信号，分为了五种 BSE 信号。 以上3种 SE 信号和5种 BSE 信号，加上本章介绍的减速模式下的信号SE+BSE (BDM) ，一共有九种信号。这九种信号往往需要不同的电镜条件，也有不同的衬度特点，各自信号有着独特优势的同时也存在相应的缺点，具体请参见表1。表1信号衬度工作距离分辨率表面敏感度抗荷电能力景深立体感二次电子（SE）低角SE形貌为主均可一般好好好高角SE形貌、电位为主短好好差差轴向SE形貌、电位为主短好很好差差背散射电子（BSE）低角BSE成分、形貌、通道、阴影分析距离差差很好好中角BSE成分、形貌、通道短好一般好一般高角BSE成分、通道短好好好差TopoBSE形貌、阴影较短一般差很好很好Low- LossBSE成分短好很好好差减速模式下Signal(BDM)形貌、成分很短很好很好好差 衬 度 类 型 前面我们详细了解各个信号在衬度上的特点，那接下来我们反过来思考一下：为了获得各种类型的衬度，或者针对不同的试样和不同的目的，应该如何选择合适的信号进行采集以获得最佳的效果呢？1. 对于不追求超高分辨率的形貌衬度图像，立体感有时显得格外重要。此时，可以优先选择 Topo-BSE 信号来获得极具立体感的衬度；其次可以选择低角 SE 以及低角 BSE 信号。2. 如需获得高分辨的形貌衬度图像，应该优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号，其次可以选择中角 BSE 信号。3. 如需获得非常纯的成分衬度图像，而不希望有其它衬度的干扰，可以优先选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号。4. 如需获得兼有形貌和成分衬度的图像，可以选择低角 BSE、中角 BSE 信号，有时候减速模式下的信号也可以兼有形貌和成分衬度。5. 如需获得非常表面的成分衬度，如表面污染，二维材料等，可以优先选择轴向 SE、高角 SE 信号，其次可以选择 Low-Loss BSE 以及减速模式下的电子信号。6. 如果不想获得非常敏感的形貌，比如抛光质量不够理想的金相试样，想要进一步减弱划痕影响，可以选择高角 BSE 和 Low-Loss BSE 信号，其次选择中角 BSE 信号。7. 如需获得较深处的成分信号，除了提高加速电压之外，也应该优先选择低角 BSE 和低角 SE 信号。8. 如需获得不同晶粒取向的通道衬度，优先选择立体角最大的低角 BSE 信号。9. 对于很多半导体试样，如果要想获得电位衬度，优先选择轴向 SE 和高角 SE 信号。10. 如需降低荷电效应影响，优先选择 Topo-BSE 和低角 BSE 信号，其次选择低角 SE 和中角 BSE，而避免高角和轴向 SE 信号。归纳一下，参见下表2。表2场景推荐1推荐2分辨率不高的形貌衬度Topo-BSE低角SE低角BSE分辨率较高的形貌衬度轴向SE、高角SESignal (BDT)中角BSE无形貌干扰的成分衬度Low-Loss BSE高角BSE兼有形貌和成分衬度低角BSE中角BSESignal (BDT)极高的表面敏感度轴向SE高角SELow-Loss BSE减弱形貌的干扰高角BSELow-Loss BSE中角BSE深层信息低角BSE低角SE通道衬度低角BSE电位衬度轴向SE高角SE降低荷电Topo-BSE低角BSE低角SE中角BSE̷̷ 这里只列举了一些常见的情况，对于不同的试样或者观察目的，我们要根据这些信号的特点进行灵活运用。甚至当只采集一个信号达不到目的时候，要利用探测器信号混合功能来进一步获得更理想的效果。 信号和探测器的选择 电镜观察中存在这么多的信号，那究竟用什么类型的探测器来区分这些信号呢？对于现在大部分场发射电镜来说，四探测器已经成为一个标准化的配置，即样品室一个ETD探测器，一个极靴下方的BSE探测器，镜筒内有两个探测器。样品室的两个探测器基本上差别不大，镜筒内的探测器会根据物镜的类型以及各厂家的一些特殊技术而有所差别。不过论共性而言，镜筒内的两个探测器，普遍一个位置相对较高，一个位置相对较低。 一台电镜根据自身的设计情况以及工作条件，能够分离出九种电子信号中的部分信号。粗略的进行归纳，可以总结为下表3。（不过需要注意的是，虽然有的探测器在表格中显示可以采集多种信号，但是这只是对大部分电镜做的一个归纳。对于一台具体的电镜而言，并不一定能够实现所有功能）。表3信号推荐探测器1推荐探测器2低角SEETD高角SE镜筒内低位探测器镜筒内高位探测器轴向SE镜筒内高位探测器低角BSE样品室BSE探测器中角BSE镜筒内低位探测器高角BSE镜筒内高位探测器Low-Loss BSE镜筒内能量过滤探测器Topo-BSE特殊优化的ETD非对称样品室BSE探测器 总 结 最后用一首七律对所有章节的内容进行一个总结，希望大家能够对 SE、BSE 信号以及各种衬度之间的关系能够有更深刻的理解，在电镜观察中获得更好的结果。《七律》粉末块体千百状用心制备导电亮半明半暗亮线条积分或能荷电抗二次背散各有用巧用二者图成双高低角度大不同多种模式减速场磁场浸没龙卷降吸汲电子扶摇上电磁静电复合式汇聚角度随能量非是高能分辨强低压窥得俏模样各类衬度分清楚图文相谶好文章元素结构何取向结晶参杂非所长光谱质谱原位解所见所得 All In One上一期答案问题：这是电池隔膜试样的图片，你知道不同角度(左为低角、右为高角)表现出的衬度差异是如何造成的吗？两张图都是在减速模式下拍摄：左图为低角电子，背散射相对占主要部分，表现出形貌衬度，因为材质均匀，所以没有明显的成分衬度；右图为高角电子，二次电子占主要部分，表现为比较明显的电位衬度和形貌衬度。

一、项目基本情况1.项目编号：1069-234Z20234494（HW2023111501）项目名称：复旦大学高灵敏度药物代谢动力学分析系统预算金额：413.140000 万元（人民币）最高限价（如有）：404.870000 万元（人民币）采购需求：包件号名称数量简要技术规格备注1高灵敏度药物代谢动力学分析系统1套本次采购高灵敏度药物代谢动力学分析系统一套，此系统由三重四级杆质谱仪及数据分析工作站和高效液相色谱仪和组成。★扫描速度≥18000amu/sec。预算金额：人民币413.14万元最高限价：人民币404.87万元合同履行期限：交货期：2024年3月31日前交付。合同履行期限：交货期：2024年3月31日前交付。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号：1069-234Z20234470（HW2023111401）项目名称：复旦大学二次离子质谱仪设备预算金额：430.000000 万元（人民币）最高限价（如有）：421.000000 万元（人民币）采购需求：包件号名称数量简要技术规格备注1二次离子质谱仪设备1套应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征，支持原位实时动态分析。预算金额：人民币430万元最高限价：人民币421万元合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。 合同履行期限：交货期：2024年12月30日前交付。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间：2023年11月18日 至 2023年11月24日，每天上午8:00至12:00，下午12:00至17:00。（北京时间，法定节假日除外）地点：复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）方式：通过复旦大学采购与招标管理系统（网址为：https://czzx.fudan.edu.cn）点击“校外用户登录”在线获取招标文件，逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料：有效授权委托书及被授权人身份证。售价：￥0.0 元，本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问，请按以下方式联系。1.采购人信息名 称：复旦大学　　　　　地址：中国上海邯郸路220号　　　　　　　　联系方式：郭老师 ，021-65645530　　　　　　2.采购代理机构信息名 称：上海中世建设咨询有限公司　　　　　　　　　　　　地　址：中国上海市曹杨路528弄35号　　　　　　　　　　　　联系方式：邢楠、黄梦如、陈豪，021-52555810　　　　　　　　　　　　3.项目联系方式项目联系人：邢楠、黄梦如、陈豪电　话：　　021-52555810

谋求共创共赢高质量发展上海智城二次创业整装再出发“针对越来越成熟的市场，上海智城作为创建于上世纪九十年代科学仪器领域的科技型制造企业，必须本着共创共赢，高质量发展理念，在更高的起点上，整装再出发，进行二次创业“。在2023年4月8日上海智城分析仪器制造有限公司全国代理商大会上，公司创始人沈水兴如是说到。沈水兴表示，智城将继续秉持以智为本，崇尚科技，坚持创新，稳健经营，与代理商共赢发展的理念，瞄准现代生物技术的前沿，加大资金投入和新品研发力度，向市场源源不断地提供高技术、高颜值，高适应性的实验室科学仪器，助力于中国生命科学事业的发展，竭尽全力为之作出新的贡献！沈水兴面对来自全国30多个省市，40多个地区的上海智城150多位优秀代理商代表以及公司“360+2”阳光服务团队的全体售后工程师感慨而言，今天是我们经历三年“愁多知夜长”后，迎来的首个乘兴而行之年。疫情的阻隔妨碍了彼此间的沟通，也切断了彼此间的相聚和言欢，但尽管如此，智城仍能感受到在座各位代理商朋友，在过去三年里给予的源源不断的支持和帮助。去年的三、四月因疫情影响，企业数度停工和停产，但智城公司在这样严峻的经营环境下，能临危不乱，稳健经营，销售业绩保持了稳中有升的态势，这一成绩的取得正是得益于在座各位代理商朋友的倾心帮助和鼎力支撑。在此，他代表公司全体员工向各位代理商朋友表示衷心地感谢和最崇高的敬意！应与会人员要求，会议安排了新产品的培训课程。来自智城产学研“专家工作站”的几位专家、教授向代理商分别介绍了ZWYC-290Z型数据监控型细胞智能培养振荡器和ZWYC-293G型高通量细胞培养振荡器等新产品的技术和应用，深入浅出的讲解受到了代理商朋友的热烈欢迎。下午圆桌会议由上海智城销售总监周经理主持。沈水兴介绍了公司第二次创业的规划以及研发团队的工作计划，并强调智城第二次创业的目标就是瞄准世界科学仪器的高技术前沿，谋划高起点、高质量的发展，既要着力于产品的升级优化，更要研制开发，尽快推出市场急需，用户期待的系列高技术、高品质产品。会上，来自哈尔滨、贵州、浙江、江苏四个地区的代理商代表进行了交流发言，共享在品牌营销，市场拓展，新品推广，客户维护，稳健营销等方面的所得所悟。这些抛砖引玉的典型发言点燃了一场如何稳健经营，如何共享共赢，如何百尺冲杆的头脑风暴。代理商们纷纷表示，在合作共赢的智城第二次创业大舞台上，凝心聚力，携手共进，把唱功和做功提升到一个新高度！2023年4月8日上海智城分析仪器制造有限公司全国代理商大会在智城本址隆重召开。来自全国30多个省市，40多个地区的上海智城约150位优秀代理商代表以及公司“360+2”阳光服务团队的15名售后工程师出席了会议。

由上海科创色谱仪器有限公司**开发的该装置可以与*通用型气相色谱仪器相联，不仅可以解吸活性炭吸附管中苯系物，通过二次热解吸及直接进样方式，很方便地*分析空气中苯，还可以解吸Tenax吸附管中TVOC，通过一次热解吸或二次热解吸直接进样方式，很方便地*分析空气中TVOC，更完善更合理地**标准GB11737、GB50325、GB/T18883中需要解决的分析问题。不仅操作方便，被测组份分离度提高，而且方法检测灵敏度和定量分析*度也大大提高，价格大大低于目前市场上的*二次热解吸仪。填补了国内空白。（*号：2005200454443）本网站栏目中有该设备的图片或到上海科创公司网站查看www.shupkc.com *来电咨询:021-69982681,66529903,66529206,66529775,66529781

2018年8月9日-11日，在这个酷暑的季节，炎热的天气也没有挡住学术人交流学习的脚步。就在金城兰州，“第二次全国计算毒理学学术会议暨中国毒理学会第一届计算毒理专业委员会第二次会议”盛大召开。此次会议中心议题为“计算/预测毒理学：现状与展望”，旨在邀请知名领域专家就计算毒理学自身理论与方法学的发展及其在毒物鉴定和效应评估中的应用前景进行广泛而深入的学术交流，进行专场学术报告和展板交流，促进我国计算毒理学科的健康发展，为计算毒理新思路、新方法与新技术及其在污染与健康研究中的应用进展提供交流平台。为加强与客户之间的联系，同时提供更优质的服务，推进更先进的实验室技术，北京普立泰科仪器有限公司积极参加了这次技术交流会。 普立泰科总经理田莉娟女士与各位专家合影 在会上，普立泰科公司技术服务工程师郝开拓先生从全二维色谱技术的用途出发，详细的阐述了技术相关的原理、特点及应用解决方案。全二维气相技术作为近年来颇受关注的一项新兴色谱分离技术，越来越受到实验室老师的关注。 普立泰科郝开拓先生在会议上介绍全二维色谱技术 “全二维气相色谱技术”被誉为最高灵敏度、最高峰容量以及最高分辨率的分离手段，被广大科研工作者所认可。全球生产出第一套全二维气相色谱产品的美国ZOEX公司，拥有着最顶尖的全二维技术支持。全二维色谱是传统色谱技术的一大突破，发展到今天已经有几十年的历史，对于复杂成份的分析大家经常感觉到一根色谱柱的峰容量不能满足需求，全二维色谱将两根不同极性，不同长度的色谱柱通过调制解调器串联起来，从而大大提高了色谱的分辨率和灵敏度，在石油化工、天然产物、环境化学等领域都得到非常广泛的应用。 全二维气相色谱飞行质谱联用仪 全二维三维谱图普立泰科工作人员展台合影关于普立泰科：北京普立泰科仪器有限公司是一家集生产、研发、代理、销售及售后服务于一身的高新技术企业。公司总部设在北京，在上海、广州、安徽设有分支机构。早年取得美国J2Scientific公司样品前处理仪器中国地区总代理，将全自动前处理概念引入中国，并一直在样品前处理领域保持技术领先地位。此外，普立泰科自主研发的消解仪、全自动固相萃取、氮吹、二噁英处理系统、土壤干燥箱等产品，通过了ISO体系认证，目前有多条自主产品生产线。从2017年开始，普立泰科成为FLIR公司Griffin系列产品在中国市场的总代理商。

产品名称：几何尺寸测量仪产品品牌：EVM-G系列产品简介：本系列是一款高精度影像测量仪，结合传统光学与影像技术并配备功能完备的2.5D测量软件。可将以往用肉眼在传统显微镜下观察到的影像传输到电脑中作各种量测，并将测量结果存入电脑中以便日后存档或发送电子邮件。其操作简单、性价比高、精确度高、测量方便、功能齐全、稳定可靠。适用于产品检测、工程开发、品质管理。在机械加工、精密电子、模具制造、塑料橡胶、五金零件等行业都有广泛使用。产品参数：u 变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X~4.5X，视频总放大倍率40X~400X连续可调，物方视场：10.6-1.6mm，按客户要求选配不同倍率物镜。u 摄像机：配备低照度SONY机芯1/3′彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。可以升级选配1/2′CMOS130万像素摄像机。u 底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。u 光栅尺：仪器平台带有高精度光栅尺（X,Y,Z三轴），解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。u 光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。u 导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高，移动平稳轻松。u 丝杆：X,Y轴工作台均使用无牙光杆摩擦传动，避免了丝杆传动的间隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动，提高工作效率。 工作台仪器型号EVM-1510GEVM-2010GEVM-2515GEVM-3020GEVM-4030G金属台尺寸(mm)354×228404×228450×280500×330606×466玻璃台尺寸(mm)210×160260×160306×196350×280450×350运动行程(mm)150×100200×100250×150300×200400×300仪器重量(kg)100110120140240外型尺寸L*W*H756×540×860670×660×950720×950×1020 影像测量仪是建立在CCD数位影像的基础上，依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后，变成了具有软件灵魂的测量大脑，是整个设备的主体。它能快速读取光学尺的位移数值，通过建立在空间几何基础上的软件模块运算，瞬间得出所要的结果；并在屏幕上产生图形，供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。影像测量仪是一种由高解析度CCD彩色镜头、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线显示器、精密光栅尺、多功能数据处理器、数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。仪器特点采用彩色CCD摄像机；变焦距物镜与十字线发生器作为测量瞄准系统；由二维平面工作台、光栅尺与数据箱组成数字测量及数据处理系统；仪器具有多种数据处理、显示、输入、输出功能，特别是工件摆正功能非常实用；与电脑连接后，采用专门测量软件可对测量图形进行处理。仪器适用于以二维平面测量为目的的一切应用领域。这些领域有：机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器，磁性材料、精密五金、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、计算机（电脑）、液晶电视(LCD)、印刷电路板（线路板、PCB）、汽车、医疗器械、钟表、螺丝、弹簧、仪器仪表、齿轮、凸轮、螺纹、半径样板、螺纹样板、电线电缆、刀具、轴承、筛网、试验筛、水泥筛、网板（钢网、SMT模板）等。ISO国际标准编辑影响影像测量仪精度的因素主要有精度指示、结构原理、测量方法、日常不注意维护等。 中国1994年实行了国际《坐标测量的验收检测和复检测量》的实施。具体内容如下：第1部分：测量线性尺寸的坐标测量机 第2部分：配置转台轴线为第四轴的坐标测量机 第3部分：扫描测量型坐标测量机 第4部分：多探针探测系统的坐标测量机 第5部分：计算高斯辅助要素的误差评定。 在测量空间的任意7种不同的方位，测量一组5种尺寸的量块，每种量块长度分别测量3次所有测量结果必须在规定的MPEE值范围内。允许探测误差(MPEP)：25点测量精密标准球，探测点分布均匀。允许探测误差MPEP值为所有测量半径的值。ISO 10360-3 (2000) “配置转台轴线为第四轴的坐标测量机” ：对于配备了转台的测量机来说，测量机的测量误差在这部分进行了定义。主要包含三个指标：径向四轴误差(FR)、切向四轴误差(FT)、轴向四轴误差(FA)。ISO 10360-4 (2003) “扫描测量型坐标测量机” ：这个部分适用于具有连续扫描功能的坐标测量机。它描述了在扫描模式下的测量误差。大多数测量机制造商定义了"在THP情况下的空间扫描探测误差"。在THP之外，标准还定义了在THN、TLP和TLN情况下的扫描探测误差。 沿标准球上4条确定的路径进行扫描。允许扫描探测误差MPETHP值为所有扫描半径的差值。THP说明了沿已知路径在密度的点上的扫描特性。注：THP的说明必须包括总的测量时间，例如：THP = 1.5um (扫描时间是72 秒)。ISO 10360-4 进一步说明了以下各项定义：TLP: 沿已知路径，以低密度点的方式扫描。THN: 沿未知路径，以高密度点的方式扫描。TLN: 沿未知路径，以低密度点的方式扫描。几何尺寸测量仪工作原理影像测量仪是基于机器视觉的自动边缘提取、自动理匹、自动对焦、测量合成、影像合成等人工智能技术，具有点哪走哪自动测量、CNC走位自动测量、自动学习批量测量的功能，影像地图目标指引，全视场鹰眼放大等优异的功能。同时，基于机器视觉与微米精确控制下的自动对焦过程，可以满足清晰影像下辅助测量需要，亦可加入触点测头完成坐标测量。支持空间坐标旋转的优异软件性能，可在工件随意放置或使用夹具的情况下进行批量测量与SPC结果分类。全自动影像测量仪编辑全自动影像测量仪，是在数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)基础上发展起来的人工智能型现代光学非接触测量仪器。其承续了数字化仪器优异的运动精度与运动操控性能，融合机器视觉软件的设计灵性，属于当今最前沿的光学尺寸检测设备。全自动影像测量仪能够便捷而快速进行三维坐标扫描测量与SPC结果分类，满足现代制造业对尺寸检测日益突出的要求：更高速、更便捷、更的测量需要，解决制造业发展中又一个瓶颈技术。全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段，具有高度智能化与自动化特点。其优异的软硬件性能让坐标尺寸测量变得便捷而惬意，拥有基于机器视觉与过程控制的自动学习功能，依托数字化仪器高速而的微米级走位，可将测量过程的路径，对焦、选点、功能切换、人工修正、灯光匹配等操作过程自学并记忆。全自动影像测量仪可以轻松学会操作员的所有实操过程，结合其自动对焦和区域搜寻、目标锁定、边缘提取、理匹选点的模糊运算实现人工智能，可自动修正由工件差异和走位差别导致的偏移实现精确选点，具有高精度重复性。从而使操作人员从疲劳的精确目视对位，频繁选点、重复走位、功能切换等单调操作和日益繁重的待测任务中解脱出来，成百倍地提高工件批测效率,满足工业抽检与大批量检测需要。全自动影像测量仪具有人工测量、CNC扫描测量、自动学习测量三种方式，并可将三种方式的模块叠加进行复合测量。可扫描生成鸟瞰影像地图，实现点哪走哪的全屏目标牵引，测量结果生成图形与影像地图图影同步，可点击图形自动回位、全屏鹰眼放大。可对任意被测尺寸通过标件实测修正造影成像误差，并对其进行标定，从而提高关键数据的批测精度。全自动影像测量仪有着友好的人机界面，支持多重选择和学习修正。全自动影像测量仪性能使其在各种精密电子、晶圆科技、刀具、塑胶、弹簧、冲压件、接插件、模具、军工、二维抄数、绘图、工程开发、五金塑胶、PCB板、导电橡胶、粉末冶金、螺丝、钟表零件、手机、医药工业、光纤器件、汽车工程、航天航空、高等院校、科研院所等领域具有广泛运用空间。选购方法编辑有许多客户都在为如何挑选影像测量仪的型号品牌所困扰，其实最担心就是影像测量仪的质量和售后。国内影像测量仪的生产商大部分都集中在广东地区，研发的软件功能大部分相似，客户可以不用担心，挑选一款能够满足需要测量的产品行程就行了。根据需要来选择要不要自动或者手动，手动的就比较便宜，全自动的大概要比手动贵一倍左右。挑选影像测量仪最重要看显像是不是清晰，以及精度是否达标(一般精度选择标准为公差带全距的1/3~1/8)。将所能捕捉到的图象通过数据线传输到电脑的数据采集卡中，之后由软件在电脑显示器上成像，由操作人员用鼠标在电脑上进行快速的测量。有的生产商为了节约成本可能会采用国产的，造价比较低，效果就稍微差点。常见故障及原因编辑故障1)蓝屏；2)主机和光栅尺、数据转换盒接触不良造成无数据显示；3)透射、表面光源不亮；4)二次元打不开；5)全自动影像测量仪开机找不到原点或无法运动。原因由于返厂维修周期长，价格昂贵，最重要的是耽误了客户的正常的工作。造成问题出现的原因很多，但无外乎以下原因：1)操作软件文件丢失或CCD视频线接触不良；2)光栅尺或数据转换盒损坏；3)电源板损坏；4)加密狗损坏或影像测量仪软件操作系统崩溃。以上问题可能是只出现一个，也有可能几个问题一起出现。软件种类编辑二次元测量仪软件在国内市场中种类比较多，从功能上划分主要有以下两种：　　二次元测量仪测量软件与基本影像仪测量软件类似，其功能特点主要以十字线感应取点，功能比较简单，对一般简单的产品二维尺寸测量都可以满足，无需进行像素校正即可直接进行检测，但对使用人员的操作上要求比较高，认为判断误差影响比较大，在早期二次元测量软件中使用广泛。　　2.5D影像测量仪在影像测量领域我们经常可以听到二次元、2.5次元、三次元等各种不同的概念，所谓的二次元即为二维尺寸检测仪器，2.5次元在影像测量领域中是在二维与三维之间的一种测量解决方案，定义是在二次元影像测量仪的基础上多加光学影像和接触探针测量功能，在测量二维平面长宽角度等尺寸外如果需要进行光学辅助测高的话提供了一个比较好的解决方案。仪器优点编辑1、装配2个可调的光源系统，不仅观测到工件轮廓，而且对于不透明的工件的表面形状也可以测量。2、使用冷光源系统，可以避免容易变形的工件在测量是因为热而变形所产生的误差。3、工件可以随意放置。4、仪器操作容易掌握。5、测量方便，只需要用鼠标操作。6、Z轴方向加探针传感器后可以做2.5D的测量。测量功能编辑1、多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形，提高测量精度；2、组合测量、中心点构造、交点构造，线构造、圆构造、角度构造；3、坐标平移和坐标摆正，提高测量效率；4、聚集指令，同一种工件批量测量更加方便快捷，提高测量效率；5、测量数据直接输入到AutoCAD中，成为完整的工程图；6、测量数据可输入到Excel或Word中，进行统计分析，可割出简单的Xbar-S管制图，求出Ca等各种参数；7、多种语言界面切换；8、记录用户程序、编辑指令、教导执行；9、大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头；10、可选购接触式探针测量,软件可以自由实现探针/影像相互转换，用于接触式测量不规则的产品,如椭圆、弧度 、平面度等尺寸；也可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理！11、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度；12、平面度检测：通过激光测头来检测工件平面度；13、针对齿轮的专业测量功能14、针对全国各大计量院所用试验筛的专项测量功能15、图纸与实测数据的比对功能维护保养编辑1、仪器应放在清洁干燥的室内（室温20℃±5℃，湿度低于60%），避免光学零件表面污损、金属零件生锈、尘埃杂物落入运动导轨，影响仪器性能。2、仪器使用完毕，工作面应随时擦干净，再罩上防尘套。3、仪器的传动机构及运动导轨应定期上润滑油，使机构运动顺畅，保持良好的使用状态。4、工作台玻璃及油漆表面脏了，可以用中性清洁剂与清水擦干净。绝不能用有机溶剂擦拭油漆表面，否则，会使油漆表面失去光泽。5、仪器LED光源使用寿命很长，但当有灯泡烧坏时，请通知厂商，由专业人员为您更换。6、仪器精密部件，如影像系统、工作台、光学尺以及Z轴传动机构等均需精密调校，所有调节螺丝与紧固螺丝均已固定，客户请勿自行拆卸，如有问题请通知厂商解决。7、软件已对工作台与光学尺的误差进行了精确补偿，请勿自行更改。否则，会产生错误的测量结果。8、仪器所有电气接插件、一般不要拔下，如已拔掉，则必须按标记正确插回并拧紧螺丝。不正确的接插、轻则影响仪器功能，重则可能损坏系统。测量方式编辑1、物件被测面的垂直测量2、压线相切测量3、高精度大倍率测量4、轮廓影像柔和光测量5、圆及圆弧均匀取点测量精密影像测绘仪测量软件简介：绘图功能：可绘制点、线、圆、弧、样条曲线、垂直线、平行线等，并将图形输入到AutoCAD中，实现逆向工程得到1:1的工程图。自动测绘：可自动测绘如：圆、椭圆、直线、弧等图形。具有自动寻边、自动捕捉、自动成图、自动去毛边等功能，减少了人为误差。测量标注：可测量工件表面的任意几何尺寸，不同高度的角度、宽度、直径、半径、圆心距等尺寸，并可在实时影像中标注尺寸。SPC统计分析软件：提供了一系列的管制图及多种类型的图表表示方法,使品管工作更方便，大大提升了品质管理的效率。报表功能：用户可轻易地将测量结果输出至WORD、EXCEL中去，自动生成检测报告，超差数值自动改变颜色，特别适合批量检测。鸟瞰功能：可察看工件的整体图形及每个尺寸对应的编号，直观的反应出当前的绘图位置，并可任意移动、缩放工件图。实时对比：可把标准的DXF工程图调入测量软件中与工件对比，从而快速检测出工程图和实际工件的差距，适合检测比较复杂的工件。拍照功能：可将当前影像及所标注尺寸同时以JPEG或BMP格式拍照存档，并可调入到测量软件中与实际工件做对比。光学玻璃：光学玻璃为国家计量局检验通过之标准件，可检验X、Y轴向的垂直度，设定比例尺，使测量数据与实际相符合。客户坐标：测量时无需摆正工件或夹具定位，用户可根据自己的需要设置客户坐标（工件坐标），方便、省时提高了工作效率。精密影像测绘仪仪器特点：经济型影像式精密测绘仪VMS系列结合传统光学与数字科技，具有强大的软件功能，可将以往用肉眼在传统显微镜下所观察到的影像将其数字化，并将其储存入计算机中作各式量测、绘图再可将所得之资料储存于计算机中，以便日后存盘或电子邮件的发送。该仪器适用于以二座标测量为目的一切应用领域如：品质检测、工程开发、绘图等用途。在机械、模具、刀具、塑胶、电子、仪表等行业广泛使用。变焦镜筒：采用光学变焦物镜，光学放大倍率0.7X～4.5X，视频总放大倍率：40X～400X，可按客户要求选配不同倍率物镜。摄像机：配备低照度SONY机芯1/3”彩色CCD摄像机，图像表面纹理清晰，轮廓层次分明，保证拥有高品质的测量画面。底座：仪器底座采用高精度天然花岗石，稳定性高，硬度高，不易变形。光栅尺：仪器平台带有高精密光栅尺（X、Y、Z三轴）,解析度为0.001mm。Z轴通过二次聚焦可实现对沟槽、盲孔的深度进行测量。光源：采用长寿命LED环形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均匀，边缘清晰，亮度可调。导轨：双层工作平台设计，配备高精度滚动导轨，精度高、移动平稳轻松。丝杆：X、Y轴工作台均使用无牙光杆磨擦传动，避免了丝杆传动的背隙，灵敏度大大提高，亦可切换快速移动提高工作效率。

ATDS-3430型二次（冷阱）热解吸仪新品上市一、仪器简介ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 二、仪器特点和主要功能1、 采用半导体制冷，节约使用成本，电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；2、样品传输管线全部采用进口高惰性脱活管路，无残留，无交叉污染，保证样品进样的重复性和准确性；3、 微机程序控制，主要功能有： ⑴ 方法参数设置、实时动画显示工作状态、运行时间； ⑵ 解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶ 设定好分析程序，按下运行键自动完成样品分析； ⑷ 可以根据用户需求配置为常温二次解吸仪或低温二次解吸仪； ⑸ 可同步启动GC、色谱数据处理工作站，也可用外来程序启动本装置；4、本机自带标样模拟采样的功能，可以更方便的通过热解吸仪制作工作曲线；5、采用高温六通阀，最高使用温度可达240℃；6、通过时间编程，自动实现解吸、吹扫吸附、再解吸、进样、反吹清洗等功能；7、采用电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；8、样品传输管和进样阀有自动反吹功能，避免了不同样品的交叉污染；9、为了配套进口气相色谱仪使用起来更方便精确，本仪器还配有针对各种进口仪器的专用接口，连接方便；10、六通阀与传输管线的连接点处于加热保温箱内，无传输冷点，保证了样品的完整性；11、进样针头更换方便，可连接国内外所有型号的GC进样口；12、一体化设计，整机结构紧凑；微电脑控制，全中文7寸液晶显示，操作简单、方便。13、二次解析升温速率＞3000℃/min，峰宽＜3s 三、仪器主要技术参数1、解吸1温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；2、阀进样系统温度控制范围：室温—2600℃，以增量1℃任设；3、样品传送管线温度控制范围：室温—260℃，以增量1℃任设，采用24V低压供电；4、解吸2温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；升温速率〉3000℃/min；5、冷阱温度控制范围：-35℃—室温，以增量1℃任设，采用最先进的电子制冷装置；6、温度控制精度：、RSD：≤2.5%（0.05μg甲醇中苯）；11、富集时间：0～60min；12、进样时间：0～60min； 13、样品位：1位；14、采样管规格：直径≤6.5mm，长度≥150mm；15、进样方式：六通阀电机驱动；16、仪器尺寸：长×宽×高=380mm×220mm×410mm3；17、仪器重量：约15kg；18、功率：500W 四、仪器应用范围：1、《HJ/644-2013环境空气 挥发性有机物的测定 吸附管采样-热脱附气相色谱-质谱法》；2、《HJ/T400-2007车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法》；3、《GB/T18883-2002室内空气质量标准》；4、《HJ/583-2010环境空气苯系物的测定固体吸附/热脱附-气相色谱》；5、《GB/50325-2010民用建筑工程室内环境污染控制规范》等。6、《HJ734-2014固定污染源废弃 挥发性有机物的测定 固相吸附/热脱附-气相色谱》等。　　北京北分三谱仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、电子皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品。公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量先进的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 北京北分三谱仪器有限责任公司技术部 创新点：ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 北分三谱二次（冷阱）热解吸仪

十二届全国人大常委会第三次会议6月26日起至6月29日在北京举行，备受关注的《环境保护法修正案(草案)》(以下简称《草案》)将进行第二次审议。 　　现行《环境保护法》自1989年正式施行至今，20多年未曾修改。2012年8月召开的十一届全国人大常委会第二十八次会议，对《草案》进行首次审议，并向社会公开征求意见。有专家提出，《环境保护法》作为环境领域的基础性、综合性法律，应当回应环境保护的制度需求，解决环境保护的突出问题，建议采用修订方式对这部法律作全面修改。 　　全国人大法律委员会副主任委员张鸣起6月26日在十二届全国人大常委会第三次会议上作了关于《草案》修改情况的汇报。 　　张鸣起说，《草案》新增以下内容:修正案对企业公开具体环境信息作了强制规定，重点排污单位应当向社会公开其主要污染物的名称、排放方式、排放浓度和总量、超标情况，及污染防治设施的建设和运行情况 重点排污单位应按规定安装使用监测设备，对其排放的污染物进行监测。 　　针对目前环保领域&ldquo 违法成本低、守法成本高&rdquo 的问题，《草案》将追究环境违法行为的刑事责任纳入修改内容，增加规定&ldquo 企业事业单位和其他生产经营者通过暗管、渗井、渗坑、高压灌注或者以其他逃避监管的方式排放污染物，构成犯罪的，依法追究刑事责任&rdquo 。 　　《草案》还规定，&ldquo 企业事业单位违法排放污染物，受到罚款处罚，被责令限期改正，逾期不改正的，依法作出处罚决定的行政机关可以按照原处罚数额按日连续处罚。&rdquo 　　同时，对政府及有关部门的工作人员在执行职务过程中滥用职权、玩忽职守、徇私舞弊的行为，《草案》加大了处罚力度。《草案》明确，对环境违法行为进行包庇的 伪造或者指使伪造监测数据的 应当依法公开环境信息而不公开的 依法应当做出限期治理或者责令停业、关闭的决定而未作出的 将征收的排污费或者环境保护专项资金截留、挤占或者挪作他用的，造成严重后果的，各级人民政府及其有关部门给予负责人撤职或者开除处分，其主要负责人应当引咎辞职。 　　张鸣起说，为将环境保护工作中一些行之有效的措施和做法上升为法律，完善环境保护基本制度，《草案》作如下修改:一是修改完善环境监测制度，增加&ldquo 建立环境信息共享机制&rdquo 的规定。二是增加规定&ldquo 未依法进行环境影响评价的建设项目，不得开工建设&rdquo ，&ldquo 建设单位未依法提交建设项目环境影响评价文件，擅自开工建设的，由环境保护行政主管部门责令停止建设，处以罚款，并可以责令恢复原状&rdquo 。三是明确联合防治协调机制，规定&ldquo 国家建立跨行政区重点区域、流域环境污染和生态破坏联合防治协调机制，实行统一规划、统一监测，实施统一的防治措施&rdquo 。四是增加环境经济激励措施，规定&ldquo 企业事业单位和其他生产经营者，在污染物排放已经达标的基础上，通过采取技术改造等措施，进一步减少污染物排放的，以及按照产业结构和城乡规划布局调整的要求关闭、搬迁、转产的，人民政府应当依法采取财政、价格、信贷、政府采购等方面的政策和措施予以支持&rdquo 。五是进一步强化地方各级人民政府对环境质量的责任，增加规定&ldquo 未达到国家环境质量标准的重点区域或者流域的有关地方人民政府，应当制定限期达标规划，并采取措施按期达标&rdquo 。六是加强对引进外来物种等行为的规范，规定&ldquo 引进外来物种以及研究、开发和利用生物技术，应当采取有效措施，防止对生物多样性的破坏&rdquo 。七是增加规定&ldquo 国家建立、健全生态保护补偿机制&rdquo 。

目前，全国许多地区疫情形势好转，进入到把握好防疫态势组织企业积极复工复产的阶段。在市政供水领域，为了实现防疫目标，供水企业可以采用对水厂和供水生产场所进行严格管控的方法，限制人员进出并保证24小时值班，严防病毒入侵。然而，在供水系统的“人员密集端口”二次供水阶段，以上措施很难生效。二次供水端口疫情期间主要困难：入户作业困难。部分地区的小区实施了封闭式管理，导致供水企业对铺设了二次供水管道的小区的设备检修遭遇重重困难。同时，出于减少人员流动、避免过多人员接触的目的，部分企业也不愿特殊时期派遣员工前往现场作业。对水质监测准确度提出更高要求。疫情期间，城市用水状况与平时相比变化很大。在疫情较轻区，工商行业企业大面积停业，用水量与往年比急剧下降，导致管道中水压增大，水龄难以把控；而在疫情较严重地区，除了工商行业的停业导致的用水量下降外，还有医院的用水量迅速升高的情况，因此市政供水情况更加复杂。面对这样复杂而两难的局面，需要供水企业在二次供水端口的水质监测做到准确、及时的同时，更需要实现自动化、无人化管理，对企业的水质监管能力提出了较大考验。 哈希在线分析仪MS6100作为专为中国用户设计的多参数在线分析仪，可以帮助二次供水企业实现无人化管理。帮助您有效防疫的同时，提高供水效益。 MS6100多参数在线分析仪具有以下特性：l 连续监测7大参数MS6100可连续监测包括余氯、总氯、浊度、PH、ORP、电导率和温度7种水质参数l 全新检测技术360°x90°浊度检测技术让浊度测量进入准确时代l 低维护量，维护间隔长长达3个月的试剂更换周期，减低试剂消耗，满足供水管网/二次供水监测无人值守要求l 自动化运行省心省力停水停电可自动保护和恢复，漏水漏液能自动切断水路防止仪器被淹l 通讯功能齐备配有2个RS485接口，采用标准的RTU Modbus通讯协议，让数据传输更灵活l 专为中国设计一体化设计，安装空间小。IP65级别外壳防护等级，恶劣工况也不用担心。 MS6100 多参数水质分析仪采用一体化设计，安装简易、维护量低、配置灵活、通讯功能齐全，停水停电自动保护、来水来电自动恢复，专为无人值守的应用场合设计。在疫情期间实现无人化管理的同时帮助您快速了解管网水质实时情况，使水厂或者管理中心能及时根据连续监测结果作出及时的工艺调整或者应急预案，先于问题出现之前解决。从而为当地居民提供更优质、更有保障的饮用水，在有效防疫的同时，提高供水效益。

手机热像仪APP二次开发众所周知，菲力尔不断创新的脚步从未停歇，为了更好地服务广大消费者，菲力尔推出一款经过二次开发的超值APP，有哪些不一样呢？一起跟随小菲来看看吧~FLIR ONE手机热像仪自上市以来，大部分客户用的是FLIR ONE使用软件和FLIR TOOLS分析软件。今天就给大家介绍一款经过二次开发的超值APP，具有之前2个软件都没有的功能。在苹果商店搜索THERMAL ANALYSIS就可以下载这款APP了呀。FLIR ONE，FLIR ONE PRO，FLIR ONE PROLT的苹果版都可以使用这款APP哦~此款APP很适合教育人士，在对学生进行热学解说或者在做实验的时候，可以录制特定区域的温度曲线。因此也适合对录制温度曲线有需求的行业客户，比如手机维修、电路板维修等。可以多点测温，还有区域测温，以及线测温，可以生成很酷的温度曲线，并且可以保存视频。可以设定区域的Max温、Min温参考值。这款免费的APP同时还有款收费高级版本——THERMAL ANALYSIS PLUS，适合有更多需求的客户，比如延迟功能，更多内容包括软件的课程可以登陆vernier.com浏览。这款免费的APP同时还有款收费高级版本——THERMAL ANALYSIS PLUS，适合有更多需求的客户，比如延迟功能，更多内容包括软件的课程可以登陆vernier.com浏览。

近政策利好消息推动国内高校、科研院所纷纷启动仪器设备更新改造工作，我国科学仪器行业迎来一波仪器采购大潮。仪器信息网观察发现，高校拟采购的分析仪器中质谱仪器广受关注。　　根据本网跟踪报道，北京航空航天大学11月4日发布了12月的仪器采购意向，预算近5000万元，拟采购纳米飞行时间二次离子质谱仪、超高分辨率多级环形离子淌度质谱系统、高分辨多重四级杆电感耦合等离子体质谱仪、纳米飞行时间二次离子质谱、高分辨多重四级杆电感耦合等离子体质谱仪、超高分辨率多级环形离子淌度质谱系统、超高真空热脱附质谱等7套质谱系统。仪器信息网特别梳理，以飨读者。序号项目名称预算金额(万元)采购单位发布时间预计采购时间查看1北京航空航天大学化学学院纳米飞行时间二次离子质谱仪采购1352北京航空航天大学2022/11/4 14:36Dec-22意向原文2北京航空航天大学化学学院超高分辨率多级环形离子淌度质谱系统采购778北京航空航天大学2022/11/4 14:37Dec-22意向原文3北京航空航天大学化学学院高分辨多重四级杆电感耦合等离子体质谱仪采购259北京航空航天大学2022/11/4 14:59Dec-22意向原文4化学学院纳米飞行时间二次离子质谱仪采购1216北京航空航天大学2022/11/5 11:28Dec-22意向原文5化学学院高分辨多重四级杆电感耦合等离子体质谱仪采购259北京航空航天大学2022/11/5 11:28Dec-22意向原文6化学学院超高分辨率多级环形离子淌度质谱系统采购778北京航空航天大学2022/11/5 11:28Dec-22意向原文7物理学院超高真空热脱附质谱系统260北京航空航天大学2022/11/5 12:39Dec-22意向原文

随着科技的发展，热分析仪在材料科学、化学、物理等领域的应用日益广泛，其对于物质性能的准确测量以及工艺优化的重要性愈发凸显。东华大学作为国内知名的高等学府，一直致力于热分析仪的研发与升级，近期，和晟仪器有幸参与了东华大学的热分析仪二次改造升级项目。东华大学东华大学近年采购我司的热分析仪和差示扫描量热仪在性能和精度上已不能满足现阶段科研的需求。为此，和晟仪器凭借其在热分析领域的深厚技术积累和丰富经验，为东华大学提供了全面的二次改造升级方案。该方案不仅提高了热分析仪的性能和精度，还优化了其操作流程，使得科研人员能够更便捷、准确地获得实验数据。在改造升级过程中，和晟仪器团队首先对原设备进行了深入的检测和分析，找出了存在的问题和需要改进的地方。接着，根据东华大学的实际需求，团队制定了详细的改造计划，并严格按照计划进行实施。改造升级后的热分析仪在测量范围、精度、稳定性等方面都有了显著的提升。此次改造升级的成功，不仅提高了东华大学科研工作的效率和质量，也进一步巩固了和晟仪器在热分析领域的领先地位。我们期待未来能有更多的机会与东华大学等高等学府合作，共同推动科研事业的发展。文章到此结束，感谢阅读。如果您对热分析仪的改造升级有更多的关注或疑问，欢迎随时联系我们。和晟仪器将始终致力于为您提供优质的服务。

二次有机气溶胶(SOA)，是大气细颗粒物(PM2.5)的重要组分，对空气质量，全球气候变化和人体健康有着重要的影响。近年来，越来越多的研究证明有机前体物在云雾滴和含水气溶胶中的液相化学转化是二次有机气溶胶生成的重要途径。由于植物排放前体物(如植物挥发、生物质燃烧)比化石燃料源(如燃煤、机动车排放)前体物的极性更强、更亲水，过去的研究多聚焦于植物排放前体物转化生成液相二次有机气溶胶(aqSOA)的过程，缺乏对液相二次有机气溶胶中人为化石燃料源贡献的精准量化。 　　中国科学院广州地球化学研究所和瑞典斯德哥尔摩大学、日本中部大学合作，通过测定液相二次有机气溶胶单体分子的碳十四(14C)同位素，给出了化石源碳对中国大气中液相二次有机气溶胶生成巨大贡献的关键科学证据。相关研究成果于近日以Large contribution of fossil-derived components to aqueous secondary organic aerosols in China为题在线发表在Nature communications上。 　　14C同位素的半衰期约为5730年，经过漫长地质演化，煤、石油、天然气等化石燃料中的14C已完全衰变，而生物质的14C丰度，却和当前大气基本保持一致。因此，14C可以准确量化液相二次有机气溶胶分子中生物碳源和化石碳源的相对占比。研究团队在位于珠三角西南部的鹤山大气环境监测超级站采集了一整年的大气细颗粒物(图1)，以大气颗粒物中草酸为主的一系列小分子有机酸作为液相二次有机气溶胶的示踪物。14C分析显示，当鹤山站的气团起源于内陆时，液相二次有机气溶胶标志性化合物的化石来源碳占比达到了55%到70%(图2)。相反，当气团起源于南海沿岸时，液相二次有机气溶胶分子中的生物来源碳占比可达近70%，这与内陆气团形成了鲜明对比(图2)。在我国几个重点城市群，研究人员同样观测到化石来源碳在冬季对液相二次有机气溶胶形成的巨大贡献。 　　过去基于整体气溶胶组分的14C分析结果，大多认为有机气溶胶主要由生物质来源碳贡献。该研究表明，在中国典型城市，液相二次有机气溶胶分子可大量来源于化石燃料。这一认识对更好地模拟二次有机气溶胶生成、评价其气候和环境效应，以及更精准地控制空气污染，具有重要意义。 　　相关研究工作获得国家自然科学基金重点项目、“一带一路”科学组织联合研究专项项目等的支持。图1 研究区位置及采样活动中的后向气流轨迹、气溶胶光学厚度(AOD550)和气溶胶基础表征参数。图2 沿海背景和大陆气团中草酸的二维双碳同位素(δ13C、Δ14C/Fm)特征。

二次供水水质在线监测系统将开启“互联网+”时代，未来手机上就能了解所在小区水质实时情况。12月18日，中科院上海微系统所-能讯传感技术联合实验室在上海发布二次供水水质在线监测系统，可实现24小时水质在线监测，明年3月正式投入上海市场。　　水质监测设备进口替代空间大　　2015 新环保法新增加了环境污染公共监测预警机制，对环境监测提出了更高要求。目前，二次供水陷入“最后一公里”水质监控困局。此次发布系统的前端无线传感监测系统外置水箱采样，无采集污染，自动实时监测包括浊度、余氯、ph、溶解氧等主要自来水水质指标，采用的自主研发的光学探头可使用8至10年左右。“在成本方面我们比国外公司大约节约了三分之一。”能讯环保董事长蒋洪明说。　　长期以来，我国环境水质监测仪器主要依赖进口，国产水设备市场占有率不足10%，进口替代空间大。　　前期投入后续收取服务费　　这次中科院能讯联合实验室选择二次供水作为突破口，解决了二次饮用水在线监测系统的一些饮用水安全问题，还有报警功能。公司正在将水质监测做成app或者微信服务，届时人们打开手机就能了解所在小区的实时水质，就像现在了解天气和空气质量。　　管理平台还可实现数据汇聚和共享。负责人金庆辉博士说，“目前有很多家庭安装了净水器，有了在线水质监测和大数据分析，就可以知道某个地区甚至某个小区水质到底如何，是否需要净化，重点从哪方面进行净化，净水器厂家甚至保健品厂商也可以根据不同地区的特点开发出更有针对性的产品。”　　该系统已受到资本市场青睐。据透露，目前有五家投资机构进入了能讯环保公司，洽谈b轮融资。能讯环保也在积极筹备挂牌，可能先登录新三板，随后争取转到新兴战略板上市。蒋洪明表示，将努力在未来五年内建立地方性水污染数据库以及地方水污染应急响应机制，覆盖包括饮用水、地表水、地下水在内的立体水质在线监测网络，成为中国最大的第三方环境监测服务供应商。

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最近发布新修订的《环境空气质量标准》是一个标志性事件，表明我国环境管理开始由以环境污染控制为目标导向，向以环境质量改善为目标导向转变，扣响了环境管理战略转型的“发令枪” 　　3月31日，第二次全国环保科技大会在北京隆重召开，环境保护部部长周生贤出席会议并作重要讲话。中国环境报记者王亚京摄 　　■环境管理转型是加快转变经济发展方式的客观需要 　　■环境管理转型是保障和改善民生的内在要求 　　■环境管理转型是缓解环境压力不断加大的必然选择 　　第二次全国环保科技大会3月31日在北京隆重召开，会议全面总结“十一五”以来环保科技工作取得的进展，研究部署“十二五”环保科技工作。全国政协副主席张榕明出席会议，环境保护部部长周生贤出席会议并作重要讲话。 　　大会宣读了国家环境咨询委员会委员和环境保护部科学技术委员会委员名单，向新任“两委”委员颁发聘书，向“十一五”环保科技工作先进单位和个人、国家环境保护科技奖获得者颁奖，为国家环境保护重点实验室和工程技术中心授牌。 　　周生贤在讲话中指出，2006年召开第一次全国环保科技大会以来，环保科技工作认真贯彻科技兴环保战略，强化科学决策机制，加强科技协作和能力建设，着力建设科技创新体系、标准体系和环境技术管理体系，落实领导、投入、体制、队伍保障措施，取得了显著成绩。 　　一是水专项实现阶段目标。启动了32个项目230个水专项课题，突破了一批关键技术，建立了从“源头到龙头”的饮用水安全保障技术体系，形成了流域水环境监控预警集成技术体系，全国基本实现了“控源减排”的阶段目标。 　　二是环境科研成果丰硕。认真组织实施公益性行业科研、科技支撑计划等国家科技项目300余项，提出环境保护急需的各类技术标准、规范、导则、指南及政策建议600多项，相关技术成果在280多个单位得到实际应用，200多项成果获得国家奖励。 　　三是环保标准成为转方式调结构重要抓手。新发布500多项国家环保标准、70多项地方环保标准。新修订的《环境空气质量标准》，首次将影响公众感受和健康的细颗粒物(PM2.5)纳入监测与评价范围。《火电厂大气污染物排放标准》大幅度收紧排放限值，二氧化硫削减率达18.2%。制定《稀土工业污染物排放标准》，提高了稀土工业的准入门槛，有效促进了稀土产业技术升级和结构调整。 　　四是技术进步提升了污染减排能力。发布《国家环境技术管理体系建设规划》，确立了以技术指导、评估和示范为主要内容的管理框架。发布《国家先进污染防治技术示范名录》、《国家鼓励发展的环境保护技术目录》以及20余项技术政策、30余项工程技术规范和6项最佳可行技术指南，在促进重点行业污染减排中发挥了重要的技术支撑作用。 　　五是环境卫星极大提升了监管水平。环境卫星成功发射运行，进一步丰富了环境管理的技术手段。各地应用卫星遥感成果的能力不断提升，在青岛浒苔暴发、汶川地震、大连新港溢油、玉树地震、舟曲泥石流等自然灾害和突发事件处理过程中，环保部门根据环境卫星提供的重要信息，及时采取科学应对措施，确保了生态环境安全。 　　六是科研投入和基础能力迈上新台阶。“十一五”期间，中央财政累计向环保部门投入科研经费近50亿元，带动各地不断加大科研投入。建成了环境基准与风险评估实验室，环保系统在国家重点实验室建设上实现了零的突破。同时建设国家环境保护重点实验室20个、国家环境保护工程技术中心26个，与科技部联合批准建设国家环境保护科普基地12个。 　　七是环保科技队伍日益壮大。环保系统高层次人才和青年科技领军人才显著增加，部直属科研院所的中高级技术职称人数比例达45%，有两位专家当选中国工程院院士，两人入选国家“千人计划”，6人入选“新世纪百千万人才工程”国家级人选。各地环保部门不断加强与国内外高校和科研院所交流合作，环保科技人才梯队逐渐形成。八是科学决策机制初步形成。设立国家环境咨询委和环境保护部科学技术委，在国家重大环境问题决策中发挥了重要作用。环保科技体制机制改革进一步深化，环保国际科技合作领域不断拓展。 　　周生贤指出，在看到成绩的同时，也要清醒地看到，当前环保科技还存在整体创新能力相对较弱、对新型环境问题探究不深、整装成套环境实用技术缺乏、新兴环保产业培育机制亟待完善等问题，必须引起我们的高度重视，采取有力措施予以解决。 　　周生贤指出，刚结束的全国“两会”和去年底召开的环保“两会”，中央对加强环境保护和生态文明建设作出了新部署，提出了新要求。做好新时期环保工作，必须把思想认识统一到党中央、国务院的最新部署和最新要求上来，始终坚持改革创新，不断完善管理思路，建立与经济社会和环境形势发展需求相适应的管理模式。从环境管理的目标导向来看，环境管理通常有三种模式:一是以环境污染控制为目标导向的环境管理。二是以环境质量改善为目标导向的环境管理。三是以环境风险防控为目标导向的环境管理。这三种模式代表环境管理的不同发展阶段，三者之间相互关联、密切联系，不能截然分开，在一定时期内，一种、两种甚至三种模式并存将是常态，采取什么样的管理模式取决于经济发展水平、公众环境意识和监督管理能力等因素。最近发布新修订的《环境空气质量标准》是一个标志性事件，表明我国环境管理开始由以环境污染控制为目标导向，向以环境质量改善为目标导向转变，扣响了环境管理战略转型的“发令枪”。 　　周生贤说，环境管理转型是加快转变经济发展方式的客观需要。目前，我国每年能源消耗量占全球19.5%，石油消费量一半多依靠进口，煤炭消费量相当于其他国家的总量，如果继续沿用拼资源、拼消耗的发展模式，我国经济将难以持续。必须在进一步强化污染控制的基础上，积极探索污染控制与质量改善兼顾的中国环境管理新模式，以环境质量管理“倒逼”经济发展方式转变，推进经济社会的长期平稳较快发展。环境管理转型是保障和改善民生的内在要求。基本的环境质量、不损害群众健康的环境质量是一种公共产品，是各级政府应当提供的基本公共服务。我们坚持环保为民，必须认真回应人民群众的关切和期待，实现环境管理从污染控制为主转向污染控制与质量改善兼顾，切实满足人民群众喝上干净的水、呼吸上新鲜的空气、吃上安全的食品、在良好的生态环境中生产生活的迫切愿望。环境管理转型是缓解环境压力不断加大的必然选择。当前，我国环境状况总体恶化的趋势尚未根本改变，压力还在加大，形势依然严峻，必须坚持源头防控，紧紧抓住影响环境质量的关键污染因素，有针对性地采取控制措施，从根本上解决突出环境问题。建立以环境质量为核心的管理模式并不意味着不再考虑污染减排和总量控制，而是应采取更严格的污染控制措施。 　　周生贤指出，加快环境管理的战略转型必须坚持科技先行。 　　一要通过科技手段创新管理理念。要继续深化对推进环境保护历史性转变、让江河湖泊等重要生态系统休养生息、建设生态文明的认识，不断深化环境保护与经济社会发展关系的认识，不断深化对自然生态环境演替、污染综合防治和生态环境管理规律的认识，不断深化污染控制、环境质量改善和环境风险防控三者之间关系的认识，夯实环境保护的理论基础。 　　二要深入研究适合国情的环境质量管理模式。要按照在发展中保护、在保护中发展的战略思想，根据不同地区的经济发展水平和环境问题特点，以环境质量目标为核心，抓紧建立与之相配套的环境保护宏观战略体系、全面高效的污染防治体系、健全的环境质量评价体系、完善的环境保护法规政策和科技标准体系、完备的环境管理和执法监督体系、全民参与的社会行动体系。要进一步强化环境质量标准的导向作用，以环境质量标准倒推规划目标，依据规划目标科学确定重点任务，根据任务需求合理配置管理资源。 　　三要大力夯实环境质量管理的科学基础。要掌握环境问题产生、发展的规律，明确各类排放源和相互作用情况，提出改善环境质量优先控制的污染物清单、控制领域，并研究相应的对策措施。要通过环境健康调查和研究，探索建立以人体健康为导向的环境风险防控体系。认真做好环境监测与信息公开工作，及时准确地发布环境质量状况，逐步形成环境风险信息研判和环境质量动态预报能力。四要进一步提高应对全球环境问题的综合能力。大力增强自主创新能力，积极开展环保技术引进、研发和推广，努力抢占环境技术制高点，在国际竞争与合作中赢得主动。 　　周生贤在讲到“十二五”时期环保科技工作时强调，一要以环保标准为抓手，不断提高环境监管水平。要加快完善以环境质量标准为核心，以污染物排放和控制标准、环境监测和环境管理技术规范为重要内容的环境标准体系，不断提高标准体系的科学性、系统系、适用性。要加强标准的基础研究，加强环境技术的研发、推广和应用，通过标准实施带动技术进步和环保产业发展。要加大环境标准宣传培训力度，形成环境管理人员和企业管理者学标准、用标准、守标准的良好风气。要加强环保标准的考核评估。当前，要突出抓好以地表水、土壤环境质量标准为重点的环境标准制修订工作，充分发挥环境标准的“导向、依据、规范”三大作用。 　　二要以环境服务业为重点，大力培育节能环保产业。要进一步强化环境规划的引领作用和政策标准体系的强制作用，引导环保产业发展的重点和方向，推进环境污染治理设施的社会化运营，大力发展环境咨询服务和综合环境服务，促进环保产业的结构升级与优化，不断提高产业化水平。 　　三要以重点科研项目为依托，突破环境质量改善关键技术。要以实现减排任务和环境质量改善为核心，突出抓好重点科研项目，突破一批关键技术，掌握环境污染演变与生态退化机理和调控机制，全面提升科技支撑水平。要按照“一湖一策”、“一河一策”思路，聚焦重点流域，确保“十二五”“减负修复”目标实现。切实做好环境与健康调查研究工作，加快建立国家环境与健康风险评估体系，着力推动污染物和温室气体的协同控制。 　　四要以环境技术管理为支撑，不断提高污染防治科技水平。要通过科学研究、技术研发、标准规范等手段，不断提高污染减排的科技含量，发布一批污染防治技术政策、工程技术规范和最佳可行技术指南，大力推进减排关键技术研发、推广和应用，选取重化工等重点行业、企业开展减排技术创新试点，建立污染防治技术动态更新系统，不断完善环境技术评价制度。 　　五要积极倡导清洁生产与绿色消费，提高全过程环境管理技术水平。要加快建立清洁生产评价指标体系，加强清洁生产的技术指导，建立可持续消费节能减排绩效评价指标体系。进一步扩大政府绿色采购范围，积极推动新闻出版、教育、医疗、零售业等重点领域的可持续消费，鼓励使用环境标志、环保认证和绿色印刷产品，大力倡导可持续消费理念，提升公众绿色消费意识。 　　环境保护部副部长吴晓青主持会议。在4月1日的总结大会上，吴晓青作了会议总结。他说，这次环保科技大会意义重大、内容丰富，为环境科技大发展带来了难得的机遇。各地环保部门要认真传达贯彻会议精神，切实加强对环保科技工作的领导，大力营造学科学、用科学的工作氛围，同时不断加大环保科技的投入力度，加快完善环保科技标准体系，抓住机遇，趁势而上，努力开创环保科技工作新局面。吴晓青还对环境科研、环保标准、环保产业发展、环境健康和气候变化等工作进行了具体部署。 　　环境保护部、全国人大环资委、全国政协人资环委、国家发改委、教育部、科技部、工业和信息化部、财政部、住房和城乡建设部、水利部、农业部、商务部、国家质检总局、国家林业局、中科院、工程院、中国科协、自然科学基金委、国办秘书二局、清华大学等部门和单位有关负责同志出席了会议。 　　国家环境咨询委员会、环境保护部科学技术委员会委员，各省、自治区、直辖市和计划单列市、解放军环境保护局、新疆生产建设兵团环境保护局、辽河保护区管理局主要负责同志，环境保护部机关各部门、各派出机构、各直属单位和省级环科院、各国家环境保护重点实验室、工程技术中心主要负责同志，“十一五”环保科技工作先进单位和先进个人、国家环保科技奖获奖单位代表等出席了会议。

二次离子质谱（简称：SIMS）分化为静态二次离子质谱（S-SIMS）、动态二次离子质谱（D-SIMS）两种，通过扫描，可以得到化学成像、成分定性鉴定。二次离子质谱技术具有非常高的分辨率以及灵敏度，可对有机物进行元素的面分布，深度分布分析，所以被广泛地运用在生物医学的领域当中。SIMS是利用具有一定能量的初级离子束轰击固体材料表面，再通过质谱分析检测被初级离子束溅射出的二次离子的质荷比，从而得到样品信息。如今应用在SIMS中最广泛的质谱检测器是飞行时间质谱仪（TOF），TOF-SIMS的分辨率可以达到5-10nm，微区分辨率达到100nm2，深度分辨率达到0.1-1nm，二次离子浓度灵敏度达到ppm级别。TOF-SIMS以其各种优异的性能和特点被广泛地用于半导体行业，随着半导体硅晶片制程越来越小，SIMS逐渐成为分析半导体器件表面污染缺陷、研究元素掺杂等不可替代的手段。除此之外，SIMS的应用近年来也不断发展到生物医学、材料、化学等领域。 其中在生物医药领域，利用TOF-SIMS技术对生物细胞进行化学成像分析受到越来越多的研究人员关注，例如使用TOF-SIMS研究生物组织或生物薄膜上蛋白质等分子行为、细胞界面特性、药物作用、疾病诊断等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等质谱相比，TOF-SIMS的灵敏度更高且可以进行二维或三维化学成像。 下图为分别使用SSIMS和DSIMS对冠状动脉支架中的药物进行分析的案例。其中的质谱图就是通过SSIMS得到样品表面化学信息，下方的化学成像则是通过DSIMS层层剥离，得到的不同深度下的药物分布图。

尽管质谱仪更多的应用于生命科学相关领域，但是还是有一些质谱(MS)技术是专门用于表面科学研究。其中最突出的是二次离子质谱(SIMS)。像大多数涉及电子或离子光学的表面科学技术一样，二次离子质谱是在真空条件下进行。二次离子质谱用一次离子束轰击表面，将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子，这些二次离子利用质谱分析器进行分析，得到样品的元素组成数据。可用的质量分析器包括单四极、飞行时间和磁分析器等。离子束是扫描过样品，得到一个样品表面的二维图像。离子束还可以逐层溅射样品，进行深度剖面分析。 2012年二次离子质谱行业市场需求分布 　　二次离子质谱广泛应用于分析半导体等材料、数据存储等电子产品，二次离子质谱对表面非常灵敏，使其可以分析沉积在这些材料上的薄膜；二次离子质谱也被用于科研单位及政府机构的实验室；虽然材料分析是二次离子质谱比较常见的，但也可以用于环境领域空气中颗粒物分析。2012年，二次离子质谱的市场总需求不到1亿美元。 　　上述数据摘录于2013年10月SDi发布的市场分析和预测报告&ldquo Mass Spectrometry: Limitless Innovation in Analytical Science&rdquo 。 编译：刘丰秋

环境保护部办公厅文件 环办会[2012]10号 关于召开第二次全国环保科技大会的通知 各有关单位： 　　为贯彻科学发展观，落实第七次全国环保大会精神，全面总结“十一五”以来环保科技工作进展，部署“十二五”环保科技工作任务，为探索环保新道路提供强大坚实的科技支撑，我部决定召开第二次全国环保科技大会。现将有关事项通知如下： 　　一、 会议时间：2012年3月31日-4月1日（会期一天半，3月30日全天报到）。 　　二、 会议地点：北京友谊宾馆（地址: 北京市海淀区中关村南大街1号，电话：010-68498888） 　　三、 主要内容：全面总结“十一五”环保科技工作、交流经验、部署“十二五”环保科技工作。 　　四、出席人员 　　（一）邀请全国人大、全国政协领导出席； 　　（二）邀请全国人大环资委、全国政协人资环委、发展改革委、教育部、科技部、工业和信息化部、财政部、住房城乡建设部、水利部、农业部、商务部、质检总局、林业局、中科院、工程院、中国科协、自然科学基金委负责同志出席； 　　（三）邀请国家环境咨询委员会和环境保护部科学技术委员会委员出席； 　　（四）环境保护部领导、总工、核总工，各省（市）环境保护厅（局）、副省级城市环境保护局、解放军环境保护局、新疆生产建设兵团环境保护局、辽河保护区管理局主要负责同志、科技处主要负责同志，部机关各部门、各派出机构、直属单位主要负责同志； 　　（五）省级环科院主要负责同志，各国家环境保护重点实验室、工程技术中心主要负责同志各一人； 　　（六）“十一五”环保科技工作先进单位代表和先进个人代表，国家环保科技奖获奖单位代表。 　　五、注意事项 　　（一）会议代表除（一）、（二）、（三）、（四）外，其他人员会议食宿费用自理。 　　（二）报到地点：30日友谊宾馆怡宾楼，31日友谊宾馆友谊宫。 　　（三）请参会人员填写会议回执（见附件二），务必于2012年3月23日前传真至环境保护部科技标准司。 　　会议代表（四）会议回执传真至（010）66556204/66556224，联系人：李晓丽、李海东，联系电话：（010）66556205/66556224。 　　会议代表（五）会议回执传真至（010）66556218，联系人：李磊、刘婷，联系电话：（010）66556217。 　　会议代表（六）只参加3月31日上午大会，会议回执传真至（010）66556206，联系人：孙启宏、陈胜，联系电话：（010）66556206/66556209。 　　附件：1.会议议程 　　　　　2.第二次全国环保科技大会会议回执.doc　　 二○一二年三月十九日 　　 主题词：环保 科技 大会 通知 　　 附件一： 会议议程 　　一、3月31日上午9：00-12：00，大会开幕。 　　主持人：环境保护部 吴晓青副部长 　　地 点：北京友谊宾馆友谊宫 　　议 程： 　　（一）介绍与会领导并宣读国务院领导贺信 　　（二）宣读国家环境咨询委员会和环境保护部科学技术委员会专家名单并颁发聘书 　　（三）宣读“十一五”全国环保科技工作先进单位和先进个人表扬决定并颁奖 　　（四）宣读国家环保科技奖获奖名单并颁奖 　　（五）宣读国家环境保护重点实验室和工程技术中心名单并授牌 　　（六）获奖单位和个人代表发言 　　（七）科技部领导讲话 　　（八）环境保护部周生贤部长讲话。 　　二、3月31日下午，分组讨论 　　三、4月1日上午，大会经验交流及会议总结

阿美特克子公司CAMECA发布两款新型超高灵敏度二次离子质谱仪，两款仪器均为满足环境和地质学家的分析需求而设计，满足其对小粒子、同位素等分析的高精度和高通量要求。　　IMS 1300-HR3是CAMECA最新一代的大型磁质谱二次离子质谱仪，可以同时保证高重现性、高空间分辨率、高质量分辨率。KLEORA是在IMS 1300-HR3的基础上改进并同期推出的一款产品，主要是优化了离子探针而适用于地质学定年。　　“我们非常自豪可以同时推出这两款新型的二次离子质谱仪，我们相信这两款仪器均代表了微量分析技术的重大进步。”CAMECA副总裁和业务部经理Jean-Charles Chen，“在引进独特的、创新的特点的同时，这两款仪器也继承了以前CAMECA大型磁质谱二次离子质谱仪产品的优点，这些产品曾被世界上顶级的实验室所选用。”　　重大的突破使IMS 1300-HR3和KLEORA成为市场上最强大和灵活的离子探针，使其应用范围更加广泛，如地质年代学、细胞生物学和材料科学。　　CAMECA超高灵敏度二次离子质谱仪优势明显：超大尺寸的设计保证了高质量分辨率条件下的最优敏感度，灵活多用的多接受系统保证了高准确度的同位素测量，高分辨磁场控制保证了高质量分辨率条件下的高重现性，可以实现较好的离子成像功能。除此之外，CAMECA还可以提供全球的上门售后支持。　　IMS 1300-HR3和KLEORA均配有自动样品室，可实现无人值守状态下的多样品分析，使用更加方便。新的紫外灯光学系统提高了光学成像，提高了样品定位的准确度和降低了样品移动的难度。　　除此之外，CAMECA在这两款仪器上实现了空间分辨率和数据重现性的较大提高，还有一大突破是使用了高亮度的射频离子源。　　由于这些改进，IMS 1300-HR3可以应用于更多的分析，如硫化物中36S/32S的比率，复杂结构的高空间分辨率离子成像，复杂地质样品中低浓度微量元素的检测等。　　KLEORA配有高通量、方便使用的离子探针，此离子探针专为地质年代学家而设计，为高空间分辨率和高质量分辨率的铀-钍-铅同位素分析提供了高基线敏感度。来源于希腊语的Key和Hour，KLEORA的名字代表了可以帮助科学家追踪地球的历史。　　通过在高空间分辨率和高质量分辨率的前提下实现高重现性，IMS 1300-HR3和KLEORA离子探针帮助环境、地质和同位素研究者进行更多的研究。

p 　　 strong 仪器信息网讯 /strong 2019年3月30日， 中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议在北京友谊宾馆贵宾楼召开。会议由中国仪器仪表学会副理事长吴朋主持，出席会议理事113人，监事会及各分支机构秘书长列席了本次会议。仪器信息网作为支持媒体和理事单位参加了本次会议。 /p p 　　此次会议听取了中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长做的《2018年工作总结和2019年工作重点报告》 中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华向大家宣读了法人委托函 中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊向理事们通报了《2018年中国仪器仪表学会财务报告》。大会审议表决通过了增补郭云彩、李彤、徐地华三位同志为中国仪器仪表学会第九届理事会理事的议案。随后，中国仪器仪表学会副秘书长张建向理事们宣贯了《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》 张彤副理事长兼秘书长宣读聘任张建、沙旋两位同志为学会秘书处副秘书长。最后由上海交通大学仪器系主任崔大祥教授向理事们介绍了承办2020学会学术年会的情况。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/d6df3d88-ce98-4e3e-bbc9-1a993abc0c0f.jpg" title=" 图1.jpg" alt=" 图1.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　会议现场 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/e43159c4-6c5c-46dd-a40a-d3e4f8ccdac2.jpg" title=" 图2.jpg" alt=" 图2.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长作《2018年工作总结和2019年工作重点报告》 /p p 　　报告从“数字看2018”、“会员组织力”、“学术引领力”、“战略支撑力”、“科普传播力”、“国际影响力”六大方面对中国仪器仪表学会2018年的工作作了总结。2018年中国仪器仪表学会的工作可谓是硕果满满，在2018年，中国仪器仪表学会获得了中国科协“世家一流学会建设项目”二等奖，学会党支部被中国科协科技社团党委评为“九星”级党组织。2019年，中国仪器仪表学会将从学会内部建设、会员服务产品以及学术活动等多方面继续开展工作。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/f9874277-c08a-41bd-aa5b-7fadba99817b.jpg" title=" 图3.jpg" alt=" 图3.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华宣读法人委托函 /p p 　　中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华受中国仪器仪表学会理事长尤政委托宣布中国仪器仪表学会副理事长兼秘书长张彤担任中国仪器仪表学会法定代表人。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/2a1d5492-ff11-4bfd-b15c-e457b7bb9ab7.jpg" title=" 图4.jpg" alt=" 图4.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊作《2018年中国仪器仪表学会财务报告》 /p p 　　报告中指出，2018年中国仪器仪表学会会费收入占总收入的比例偏低，在对项目资金管理上的监管以及对分支机构的财务管理监督缺乏力度，2019年将会针对现存问题不断作出完善。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/aea32967-c000-4d3d-82b6-f1a6e04dd91a.jpg" title=" 图5.jpg" alt=" 图5.jpg" / /p p 　　中国仪器仪表学会副秘书长张建宣贯《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/348f2447-91a9-43bf-bda2-91aed2cd7699.jpg" title=" 图6.jpg" alt=" 图6.jpg" / /p p style=" text-align: center " 　　上海交通大学仪器系主任崔大祥教授 /p p 　　崔教授在会议上作了《申请承办中国仪器仪表学会2020年会暨仪器院长论坛汇报》，最终会议现场以掌声表决通过上海交通大学承办中国仪器仪表学会2020年学术年会。 /p p 　　至此，中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议圆满完成各项议程! /p

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 【作者按】上一篇详细介绍了物质的组成以及高能电子束轰击样品产生二次电子和背散射电子的过程。并对与扫描电镜成像有关的各种衬度信息做了较为详细的阐述。【 span style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong 延伸阅读： /strong /span a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " strong 二次电子和背散射电子的疑问（上） /strong strong /strong /span /a 】 /p p style=" text-indent: 2em " & nbsp 二次电子和背散射电子都呈现出怎样的样品信息？如何利用这些信息对样品进行分析？在表面形貌像的形成过程中起怎样的作用？对表面形貌像的细节分辨有何影响？是否存在假象？这些问题都将在本文加以详细的探讨。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 二次电子与背散射电子成像 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 传统观点认为：二次电子带有样品的表面形貌信息，形成样品的表面形貌像；背散射电子给出样品的成分信息，是形成样品成分像的主要信号源。这种观点是否片面？会不会产生假象？ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下面将围绕这些问题展开讨论。 /p p style=" text-align: center text-indent: 2em " strong 一、二次电子 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子源自高能电子束对样品原子核外的介电子激发。能量低（& lt 50ev）、溢出深度浅（& lt 10nm）、溢出样品表面的分布不均。与样品表面夹角较大的二次电子（高角度二次电子），在样品中行走的自由程较短，溢出几率高，溢出量也较多。与样品表面夹角较小的二次电子（低角度二次电子），由于在样品中的自由程较长，因此损耗大、溢出几率较低、溢出量也较少。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/408e3c43-65b2-463f-9615-0a91b6981fd2.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 一直以来对于二次电子的认识存在很多问题，下面将选取以下几个问题来进行详细的探讨：二次电子主要来自核外的那一层电子激发？是形成表面形貌像的最佳选择吗？为啥易受荷电影响？会产生假象吗？有无Z衬度信息？SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？电位衬度和二次电子有什么关联？ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.1二次电子主要来自原子核外那一层？ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 传统观念认为介电子（最外层）最容易被激发，所以二次电子主要来自最外层。那么一个疑问是：如果最外层电子是二次电子的主要来源，那么大量的特征X射线来自那里？& nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 我们先看一个加速电压的变化对能谱谱线强度影响的实例。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/599eb752-6862-4d29-b3ad-0000bf07d804.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 能谱谱线的峰位对应着电子结合能，结合能对应电子层。那一层电子激发多，对应峰位的谱峰就高。从上面两张谱图可以看到，加速电压的增加，铜和锌的K线占比也增大。这说明加速电压增加，结合能高的K层电子，激发量的占比也增加。 因此从能谱看，似乎二次电子主要源于核外那一层电子并不固定，而是与加速电压和轨道电子激发能（结合能）的比值（过压比）有关。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 但是有充分的事例表明，特征X射线与二次电子在激发量上存在巨大的差距，这意味着内层电子的激发量极少。因此推测内层电子的激发与最外层电子的溢出可能并不是一个体系，即与特征X射线激发有关的内层电子，是以光电子形式溢出样品。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 故二次电子可能只能来自最外层轨道也就是介电子层。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 所谓光电子就是指由光电效应产生的电子。即轨道电子全面接收入射电子的能量，克服轨道结合能的影响而溢出。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 光电子的最大初动能与光的频率（能量）有关。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong Ek=hv-A & nbsp & nbsp h是普朗克常数，v是频率，A是逸出功 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 主流观念认为内层电子的激发在过压比为3-4时达最佳。个人观点：不同元素这个值也不同，10左右都存在最佳激发的可能。充分认识到这一点，将有利于能谱测试时，对加速电压的选择。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2二次电子是否是形成样品表面形貌像的最佳信息源？ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 传统理念认为二次电子是形成样品表面形貌像信息源的最佳选择。这个观点基于以下两点： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.& nbsp 二次电子能量弱，在样品中自由程短，浅表层溢出，横向扩散极小，因此对表面细节的影响小，含有表面信息多。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.& nbsp 二次电子的溢出量随平面斜率变化较大，边缘处溢出最多，由此形成二次电子衬度及边缘效应。样品的表面形貌可看成不同斜率的平面组合，因此二次电子衬度就带有大量形貌信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/9bc7d100-8ccc-4ea6-bceb-992f0df9311d.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" / br/ /p p style=" text-indent: 2em text-align: justify " 二次电子衬度是否是形成样品表面形貌像的主导因素？二次电子形成的表面形貌像细节是否就一定最丰富？ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2.1 样品表面形貌像是否取决于二次电子衬度？ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 先看一个实例：用日立regulus8230的样品仓探头（L）和镜筒内探头（U）分别对硅片上刻蚀的倒金字塔图形进行观察。由于EXB系统的分离，使探头（U）接收的信息为较纯的二次电子。样品仓探头（L）因位置原因含有大量背散射电子。结果如下： /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/171072a0-5b72-45d7-9e7b-562a06ac0a5a.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 由上例可见，图像中二次电子衬度充足但表面形貌像并不好，& nbsp 形貌衬度（参见上篇）充足形成表面形貌像才十分的优异。因此形貌衬度才是形成形貌像的基础。形貌衬度的主要形成因素，依所观察样品的特性及所需获取的样品信息不同，分为两个层面： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 层面一：样品做低倍观察或样品表面起伏较大。探头、样品、电子束三者夹角将是影响形貌衬度的主导因素。大工作距离下使用侧向的样品仓探头获得表面形貌像，细节更丰富。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dadb4366-061a-4b04-939b-6071ade9322b.jpg" title=" 5.png" alt=" 5.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 层面二：高倍观察样品的几纳米细节。这些细节起伏小，采用不同角度的电子信息形成的形貌衬度即满足要求。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 小工作距离下选择镜筒探头从顶部获取较多的二次电子信息，减少信息扩散对细节的影响，是形成形貌像的关键。此时测试条件的选择，应当以尽可能多的获取低角度信息为目标。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/024fc5d0-42ae-4342-9376-1f2c0d6614cc.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 镜筒探头（U），利用不同角度的信息形成形貌衬度，只能面向起伏较小的样品细节，对较大细节的观察效果差。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4b96227b-8219-4354-9919-c6063716e8dc.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" / /p p style=" text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 探头（U）位于顶部，造成形貌衬度不足，无法分辨亮、暗衬度的空间形态。探头接收的二次电子占主导地位，二次电子衬度的影响使得斜面与平面有明显的亮、暗差异。亮部易被误认为是另一种物质所形成的Z衬度。采用探头（L）进行观察，情况刚好相反，故真实的孔洞信息表现充分。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong B)二次电子的边缘效应也会对某些样品的细节分辨提供帮助 /strong /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " 两张不同材料的多层膜照片，各膜层的材料相近，Z衬度较差。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/30cfea12-6d69-4487-b960-7ebe49305d3a.jpg" title=" 4.png" alt=" 4.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上几个实例表明：形成样品表面形貌像的基础是形貌衬度，而非二次电子衬度。二次电子衬度会带来形貌假象，但也会帮助我们观察并区分一些特殊的样品信息。不同的样品信息适合用不同的衬度信息来表现，故辩证的关系无处不在。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2.2二次电子对图像细节分辨能力的影响 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 形貌衬度是形成扫描电镜表面形貌像的基础，其他的各种衬度信息叠加在形貌衬度上，才能形成完整的表面形貌像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 无论表面形貌像是如何构成的，信息源都是二次电子和背散射电子。其在样品表面的溢出区大小，必然会对表面形貌像的细节分辨产生影响。电子信息的能量越大、影响也越大。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子能量弱，对样品表面细节影响小，是对松散样品（如介孔、气凝胶）的几纳米细节观察的首选信息。它的含量越大这类信息表现得就越充分。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/31aa0262-e51d-443f-a364-08789d18ec66.jpg" title=" 5.png" alt=" 5.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 低倍下，观察细节受信号扩散的影响减弱，充足的形貌衬度将成为主体。此时选择样品仓探头从侧面观察，结果更佳。 /p p style=" text-align:center" span style=" text-indent: 2em " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/a3eed5c6-6b8c-406f-841c-5d6e833fe40b.jpg" title=" 6.png" alt=" 6.png" / /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 以上多个实例表明，形成样品表面形貌像的基础在于形貌衬度。其余的各种衬度信息叠加在形貌衬度之上共同形成完整的表面形貌像。不同的信息需求必须采用不同的应对方案，才能获取最佳的测试结果，这是一个辨证的关系。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.3 荷电现象与二次电子 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面因电荷累积形成静电场，影响电场及周边电子信息的正常溢出，产生所谓的荷电现象（这一现象今后将有专文探讨）。二次电子由于能量弱因此更容易被该静电场所影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " /span br/ /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/f0392819-a938-40e5-8c23-1632be9b39e1.jpg" title=" 6.png" alt=" 6.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 荷电场对高角度二次电子的溢出影响更为明显，因此样品信息中高角度二次电子含量越多，图像的荷电现象会更严重。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下面以介孔硅KIT-6图像为例来说明。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/e8c31c1e-1dfe-47c7-9c45-6cbc63323c92.jpg" title=" 7.png" alt=" 7.png" / /p p style=" text-indent: 2em " 采用样品仓探头接收样品信息，工作距离也会影响荷电现象。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/3ee8d1e3-a752-4eb9-ab69-a1abc9e4de99.jpg" title=" 8.png" alt=" 8.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.4二次电子是否拥有Z衬度信息？ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 同一个加速电压下，样品的不同密度及原子序数，二次电子的激发量还是存在衬度差异，但该衬度差异不如背散射电子强烈。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/ade275e0-9420-49b5-8370-039102e48b70.jpg" title=" 9.png" alt=" 9.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.5 SE1\SE2\SE3\SE4指的是啥？对测试结果有啥影响？ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 依据目前各电镜厂家的描述：SE1指的是电子束直接激发并溢出样品表面的二次电子，SE2是样品内部各种散射电子激发并溢出样品表面的二次电子，SE3\SE4是散射电子、入射电子所激发的样品仓内的各种二次电子信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp SE1是形成高分辨表面形貌像的关键信息。其扩散范围小，基本在电子束直径的周边，对样品表面形貌细节影响也最小。同等条件下该信息含量越充足，图像清晰度及细节分辨力越优异。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp SE2离散度较高，加速电压越高其产额和离散度也会越大。当SE2成为样品表面形貌像的主导信息时，表面形貌像的图像分辨力会大大降低。这是过高加速电压图像分辨能力差的主要缘由。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp SE3\SE4是杂散信息，产额越多对结果影响越大。电镜厂家在镜筒设计过程中都会将这一因素的影响压倒最低。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 选择加速电压时要充分考虑其对SE1\SE2产额的影响。在满足测试所需的电子束发射亮度的情况下，加速电压越低越好。要获得这样的结果，扫描电镜的本证亮度就要大。（可参看经验谈1） /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.6二次电子与电位衬度 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 样品表面的少量静电场会引发该处信号异常溢出，当静电场弱小到不对图像的形态产生影响时，就形成了所谓的电位衬度。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 电位衬度主要影响的是能量较弱的二次电子，对背散射电子的溢出量影响较小。电位衬度可以在材料缺陷的分析上提供帮助。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下面是我在为某单位进行样品测试时遇到的两个实例。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/4ac1d2e5-0460-4c65-8665-53c12c818eeb.jpg" title=" 10.png" alt=" 10.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 从左至右，探头选择依次是U\UL\L，背散射电子含量依次增多。但图像Z衬度却反常的依次减弱，直至消失。因此考虑这是否是少量有机物形成轻微荷电场所产生的电位衬度，并不是我们日常所见到的Z衬度信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 放大后看到有亮点经电子束轰击后消失，图像缩小可看到明显碳污染的存在，故可判断该现象是有机物污染所形成。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202008/uepic/1b672cd4-42ee-463f-83bd-eba4761cab2f.jpg" title=" 11.png" alt=" 11.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 上述现象如同上例所存在的探头切换时Z衬度的异常变化，只是高倍轰击并没有出现碳沉积现象。说明此处异常亮并非有机物附着形成，可能已经被有机物氧化，能谱分析此处氧含量偏多。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 用户对设备清洗后这些现象都消失。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 二、背散射电子 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 与入射电子束方向相反的散射电子，称为背散射电子。其能量与入射电子相当，在样品中扩散范围较大，加速电压越大扩散体也越大，对图像细节影响也越大。背散射电子在样品表面溢出范围也不均衡。由于高角度背散射电子形成几率小，因此溢出量少，低角度背散射电子产生的几率较高，因此溢出量较多。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/dd47d4a8-592f-477d-8a4c-2dec993cd022.jpg" title=" 12.png" alt=" 12.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子图像拥有如下特点：Z衬度与晶粒取向衬度好、受荷电影响小、信号扩散区大、极表层信息缺乏、电位衬度较差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.1背散射电子和二次电子的图像对比： /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c95317fd-f9ce-4958-8c78-563d172684fa.jpg" title=" 13.png" alt=" 13.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.2背散射电子进行的晶粒结构及取向分析 /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/7aeb4551-2ef4-47d5-91fb-99fc1df796e7.jpg" title=" 14.png" alt=" 14.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子的溢出量不仅受到样品原子序数及密度的影响，晶体材料的晶体结构及取向也会对背散射电子的溢出量及溢出方向产生影响，形成的晶粒取向衬度（电子通道衬度）更明析。但是要形成足够的衬度差异，需要晶粒存在较大的取向差、足够的体积、密度及整体平整度。要获取该种类的样品信息，样品平整度处理十分重要。切割、抛光处理是常备的制样方式。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 利用背散射电子衍射（EBSD）所形成的菊池花样对晶粒取向及构造进行分析，所获得的取向精度得到极大的提升，达到0.1° ，分析内容也更为充分。是目前利用扫描电镜进行晶粒结构和取向分析最权威、最充分且是最常用的技术手段。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/5e34d2af-f814-40d7-9c7a-b8be561439d8.jpg" title=" 15.png" alt=" 15.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 无论是直接利用背散射电子获取晶粒取向衬度还是通过EBSD来对晶粒进行观察和分析，信息源都是背散射电子。离开背散射电子，扫描电镜将无法充分的进行晶体材料结构及取向分析。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.3背散射电子图像的分辨力 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 加速电压、样品特性、信息需求、探头的性能和位置都影响着背散射电子图像的分辨力。在谈论图像分辨力时不能脱离条件的限制。比如观察样品的Z衬度信息，背散射电子形成的图像比二次电子形成的图像拥有更好的细节分辨；要观察样品内部的信息，加速电压低了是无法观察到的； YAG材质的探头比半导体材质的探头更适合低加速电压观察，样品表面信息分辨好。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 但总体来说背散射电子在样品中的扩散比二次电子来的大。对样品表面形貌像的细节干扰较强、较为明显。背散射电子含量越大，高倍率图像的清晰度也越差。 /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 三、结束语 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子是扫描电镜形成样品表面形貌像的两个重要信息源。但形成表面形貌像的基础却是探头所获取的样品表面各种信息的衬度，而不是选用了那个信息源。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如同用不同颜色的光去观察一个物体。无伦选用哪种颜色的光，形成物体图像形态的关键都是对物体的观察角度。不同的观察角度，图像的形态不同。而不同颜色的光只是给这个物体染上了颜色。不同亮度的光可以在一定程度上影响物体图像细节的辨晰度，却无法影响物体图像的形态。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 图像上的明、暗差异被称为图像衬度，是形成图像的基础。噪点及亮度、对比度的调整也会对其产生影响，但与成像有关的是各种信息衬度。图像的衬度主要由各种信息的衬度所形成。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度（电子通道衬度）、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度是形成扫描电镜图像的几个主要衬度信息。其中形貌衬度是基础，其余的衬度信息叠加在该衬度之上，共同形成扫描电镜的各种图像。不同的样品表面信息需要用不同的衬度信息来表现，才能获得最佳的效果。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 样品表面形貌的高低位置差异形成扫描电镜图像的形貌衬度。形貌衬度主要受探头接收样品信息的角度影响。对形貌衬度产生主要影响的因素分为两个层次： /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.倍率越低，形貌的高低位置差异越大，要求的形貌衬度较大，探头、样品和电子束三者间形成一定的夹角才能满足形貌衬度的形成需求。此时这个夹角就是关键因素，对样品仓探头的充分运用才能保证我们获取更为丰富的表面形貌像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.高倍下形貌高低位置差异减少。对形貌衬度的要求较小，样品信息的溢出角度所形成的形貌衬度即满足形貌像的需求，此时信息扩散对细节的影响成为主导因素。采用小工作距离、镜筒探头这一组合观察时，接收的二次电子较多，对形貌细节的影响较少，此时形成形貌衬度的主导因素是样品的低角度电子信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 二次电子和背散射电子做为形成样品表面形貌像的信息源，必然会对表面形貌像形成影响，其影响主要表现在信号扩散对细节的掩盖，相对来说二次电子对样品表面细节的影响较小。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子形成的各种衬度信息（Z衬度、晶粒取向衬度、边缘效应、二次电子衬度电位衬度等）是我们进行样品表面形貌观察及分析的重要依托。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子有利于减少信号扩散的影响，其电位衬度、边缘效应、二次电子衬度极为充分，利于展示样品的某些特殊信息，但这些衬度也会带来一些假象。必须辩证的认识，合理的使用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子的溢出量容易受到样品表面荷电场的影响，形成样品表面的荷电现象。高角度二次电子更加容易受到荷电场的影响，它的含量越大，样品表面的荷电现象越严重。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子有利于表现Z衬度、晶粒取向衬度等信息。因其本身能量较大，溢出量不易受样品表面荷电场的影响，被视为应对样品荷电现象的有效方法之一。但也正是因为能量较大，在样品中扩散范围也相对较大，使得高倍时图像清晰度较差，不利于低于20纳米的样品细节的展现。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 我们在运用二次电子和背散射电子作为信号源来形成样品表面形貌像时，应当依据样品特性以及所需获取的信息特性，对症下药用辩证的思维方式来指导我们选择合适的测试条件。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 参考书籍： /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 华南理工出版社 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 《微分析物理及其应用》 丁泽军等& nbsp & nbsp & nbsp 2009年1月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 中科大出版社 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 《自然辩证法》& nbsp 恩格斯& nbsp 于光远等译 1984年10月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 人民出版社& nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《显微传》& nbsp 章效峰 2015年10月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 清华大学出版社 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 北京天美高新科学仪器有限公司& nbsp 高敞 2013年6月 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " strong & nbsp 作者简介： /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 100px height: 154px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/057cf6d3-2db1-4141-b27e-367cdc453e09.jpg" title=" 林中清.jpg" alt=" 林中清.jpg" width=" 100" height=" 154" border=" 0" vspace=" 0" / 林中清，87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累，渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论，使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案，在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破，其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /p p br/ /p

近日，药典委发布关于近红外分光光度法标准草案的公示（第二次），对2024 年 2 月公示的《近红外光谱法首次公示稿》进行了进一步的修订。此次公示为期一个月，相关人员可在线对草案进行反馈。近红外光谱法在药物分析中具有广泛的适用性，是在 780~2500 nm（12800~4000cm-1）波长范围测定物质的吸收光谱，用于定性分析和定量分析的方法。此次草案，是近红外光谱法首次作为方法通则进入中国药典。起草单位包括中国食品药品检定研究院、天津大学、江苏省食品药品监督检验研究院、宁夏回 族自治区药品检验研究院、广州市药品检验所、清华大学等，云南省食品药品监督检验研究院、哈尔滨市药品和医疗器械检验检测中心、湖南省药品评审与不良反应监测中心、上海市食品药品检验研究院、安徽省食品药品检验研究院、 山西省检验检测中心等也参与其中， 赵瑜、尹利辉、李晨曦、黄朝瑜、朱会琴、张立雯、李睿、孙素琴等担任主要起草人。本次草案，在第一次公示稿的基础上修订了部分内容，包括概述、测量模式、仪器性能确认、定性分析、 定量分析、近红外光谱的影响因素和关键技术要求、近红外光谱在 PAT 中的应用要求部分，详见附件公示稿。附件：近红外光谱法草案公示稿（第二次） (2).pdf

ATDS-3430型二次（冷阱）热解吸仪一、仪器简介ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 二、仪器特点和主要功能1、 采用半导体制冷，节约使用成本，电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；2、样品传输管线全部采用进口高惰性脱活管路，无残留，无交叉污染，保证样品进样的重复性和准确性；3、 微机程序控制，主要功能有： ⑴ 方法参数设置、实时动画显示工作状态、运行时间； ⑵ 解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶ 设定好分析程序，按下运行键自动完成样品分析； ⑷ 可以根据用户需求配置为常温二次解吸仪或低温二次解吸仪； ⑸ 可同步启动GC、色谱数据处理工作站，也可用外来程序启动本装置；4、本机自带标样模拟采样的功能，可以更方便的通过热解吸仪制作工作曲线；5、采用高温六通阀，最高使用温度可达240℃；6、通过时间编程，自动实现解吸、吹扫吸附、再解吸、进样、反吹清洗等功能；7、采用电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；8、样品传输管和进样阀有自动反吹功能，避免了不同样品的交叉污染；9、为了配套进口气相色谱仪使用起来更方便精确，本仪器还配有针对各种进口仪器的专用接口，连接方便；10、六通阀与传输管线的连接点处于加热保温箱内，无传输冷点，保证了样品的完整性；11、进样针头更换方便，可连接国内外所有型号的GC进样口；12、一体化设计，整机结构紧凑；微电脑控制，全中文7寸液晶显示，操作简单、方便。13、二次解析升温速率＞3000℃/min，峰宽＜3s 三、仪器主要技术参数1、解吸1温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；2、阀进样系统温度控制范围：室温—2600℃，以增量1℃任设；3、样品传送管线温度控制范围：室温—260℃，以增量1℃任设，采用24V低压供电；4、解吸2温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；升温速率〉3000℃/min；5、冷阱温度控制范围：-35℃—室温，以增量1℃任设，采用最先进的电子制冷装置；6、温度控制精度：0ml/min（连续可调）；10、RSD：≤2.5%（0.05μg甲醇中苯）；11、富集时间：0～60min；12、进样时间：0～60min； 13、样品位：1位；14、采样管规格：直径≤6.5mm，长度≥150mm；15、进样方式：六通阀电机驱动；16、仪器尺寸：长×宽×高=380mm×220mm×410mm3；17、仪器重量：约15kg；18、功率：500W 四、仪器应用范围：1、《HJ/644-2013环境空气 挥发性有机物的测定 吸附管采样-热脱附气相色谱-质谱法》；2、《HJ/T400-2007车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法》；3、《GB/T18883-2002室内空气质量标准》；4、《HJ/583-2010环境空气苯系物的测定固体吸附/热脱附-气相色谱》；5、《GB/50325-2010民用建筑工程室内环境污染控制规范》等。6、《HJ734-2014固定污染源废弃 挥发性有机物的测定 固相吸附/热脱附-气相色谱》等。　　北京北分三谱仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、电子皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品。公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量先进的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 北京北分三谱仪器有限责任公司技术部 创新点：ATDS-3430型热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便。 北分三谱ATDS-3430二次（冷阱）热解吸仪新品上市