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织物薄膜静电仪
仪器信息网织物薄膜静电仪专题为您提供2024年最新织物薄膜静电仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括织物薄膜静电仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的织物薄膜静电仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合织物薄膜静电仪相关的耗材配件、试剂标物,还有织物薄膜静电仪相关的最新资讯、资料,以及织物薄膜静电仪相关的解决方案。
织物薄膜静电仪相关的方案
光电/MEMS/半导体薄膜应力表征解决方案
基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量。
薄膜动静摩擦系数测试方法及仪器介绍
薄膜摩擦系数检测通常执行的标准有GB/T 10006-1988、ISO8295-2004这两种标准。标准GB/T 10006-1988规定了塑料薄膜和薄片在自身或其他材料表面滑动时静摩擦系数和动摩擦系数的测定方,本标准适用于厚度在 02mm 以下的非粘性塑料薄膜和薄片。
如何测定薄膜动静摩擦系数
摩擦系数检测仪用于测量纸张、线材、塑料薄膜和薄片(或其它类似材料)的静摩擦系数和动摩擦系数,可直观了解薄膜的爽滑性、开口性。通过测量材料的滑爽性,可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺 指标,满足产品使用要求。
不同直径冲头对薄膜冲击性能测试结果的影响
不同直径冲头对薄膜冲击性能测试结果的影响摘要:薄膜的抗冲击性能是反映其柔韧性的一项重要的性能指标,是评价薄膜质量优劣的重要依据。本文利用Labthink兰光FIT-01薄膜冲击试验仪的不同直径冲头对同一薄膜样品的抗摆锤冲击能进行检测,并对试验原理、设备参数及试验过程进行了描述,试验结果证明不同直径的冲头其测试结果并不相同。企业在比较包材的抗冲击性能时,应使用同一直径的冲头,以防止因冲头直径的不同,对试验结果产生影响。关键词:抗摆锤冲击能、薄膜冲击试验仪、冲头、直径、柔韧性、薄膜了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆www.labthink.com查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
不同直径冲头测试同一薄膜样品的抗摆锤冲击性能分析
薄膜的抗冲击性能是反映其柔韧性的一项重要的性能指标,是评价薄膜质量优劣的重要依据。本文利用Labthink兰光FIT-01薄膜冲击试验仪的不同直径冲头对同一薄膜样品的抗摆锤冲击能进行检测,并对试验原理、设备参数及试验过程进行了描述,试验结果证明不同直径的冲头其测试结果并不相同。企业在比较包材的抗冲击性能时,应使用同一直径的冲头,以防止因冲头直径的不同,对试验结果产生影响。
薄膜太阳能电池的晶体结构分析
使用薄膜附件,采用掠入射衍射几何,可以得到信噪比更高的衍射谱图,并且可以实现分层分析物相。薄膜太阳能电池的结晶状态和界面状态极大的影响电池的性能。
QuanX型荧光能谱仪晶园上薄膜纳米级薄膜厚度均匀度测量
使用X-荧光能谱仪进行多层薄膜厚度测量技术在半导体材料镀层分析上广泛使用。但是纳米级薄膜测量技术仍然是测量技术的难点。本文详细介绍了使用QuanX 荧光能谱仪进行这种分析的全过程
植物油的单喷嘴和多喷嘴静电雾化
采用LaVision公司基于成像测量的SprayMaster和Artium公司相位多普勒粒子干涉仪对植物油的但喷嘴和多喷嘴静电雾化过程进行了全局几何参量测量和单点喷雾液滴运动的二维速度和液滴粒径测量。
全自动折光仪在固体薄膜的测试应用
本实验采用美国鲁道夫Rudolph全自动折光仪J257进行测试:固体薄膜测试应用,样品名称:球型曲面薄膜(隐形眼镜)
薄膜测厚仪的操作文案
薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量
复合薄膜热封试验仪
伴随着包装工业的不断完善,复合薄膜在食品、药品、日化用品等应用领域越来越普遍。为了能确保产品的安全性和产品质量,对复合薄膜实施准确的热封检验就显得尤为重要。下面我们就简单介绍复合薄膜热封试验仪的作用、基本原理、操作方法和利弊,带大家感受热封技术的魅力。复合薄膜热封试验仪是一类专门用来检验复合薄膜热封性能的实验仪器,广泛用于包装工业各个领域。它可以模拟现实运行过程中的热封过程,并检验复合薄膜的热封强度、密封性等数据,为产品质量管理带来重要根据。
薄膜穿刺力试验仪
薄膜穿刺力试验仪主要用于检测薄膜或薄片材料的穿刺强度。通过试验,可以评估材料在受到穿刺时的性能,如抵抗穿刺的能力、穿刺发生时的力和位移等。这对于评估材料的适用性和安全性具有重要意义,例如在医疗、包装、建筑材料等领域中使用的薄膜或薄片材料。薄膜穿刺力试验仪的检测结果可以为材料的设计、生产和应用提供参考,帮助改进材料的性能,提高其安全性和可靠性。同时,通过与其他材料的对比,也可以评估不同材料的优缺点,为材料的选择和替代提供依据。薄膜穿刺力试验仪的检测对于材料性能的评估、质量的控制以及产品的研发和应用都具有重要的意义。
如何用耗散型石英晶体微天平测量薄膜降解
薄膜降解—时而需要时而避免我们周围有许多工艺流程中,包括自发进行的和人为设计的,会有薄膜或涂层的降解或者剥落。一个典型的例子是蚀刻或腐蚀,比如说在管道基础设施中,这是一个不希望的过程,但是在制造电子元件时却是非常需要的。另一个需要薄膜剥落的领域是用洗涤剂去除油污。在这两种情况下,了解材料的降解和剥落就十分重要了,这样便可以对其进行优化和控制。既能防止不必要的降解,又能提高需降解薄膜的脱落速度。为了能够控制这一过程,降解或者剥落必须被模拟和理解。QCM-D,原理上是一个测量微小质量的天平,可以测量和量化这种膜的降解,无论是在数量上还是在动力学方面。定性和定量测量薄膜的降解当薄膜降解时,表面会失去质量。初始表面结合层的厚度也会随之减少。这是两个参数正是QCM-D在纳米尺度所能够实时测量的。
聚乙烯薄膜的应用以及双向拉伸PVA薄膜的检测方法
PVA薄膜根据所用PVA树脂的聚合度、醇解度的不同以及加工生产方法不同,可分为以下3大类型:水溶性PVA薄膜、难溶性PVA薄膜和双向拉伸PVA薄膜.由于PVA薄膜具有众多优良的特性,现已被广泛的应用于各个领域,市场十分广阔,目前,PVA薄膜主要广泛应用于我国农业、食品等行业的包装材料。就现在行业中PVA薄膜的使用情况,Labthink兰光将在本文中结合VAC系列压差法气体渗透仪、有机气体透过率测试系统、智能电子拉力试验机、热缩试验仪等检测仪器,着重介绍双向拉伸PVA薄膜的质量控制检测技术。了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
光学薄膜的测量
功能性薄膜是一种高分子材料,根据其功能性应用在不同的场景中,其中对于薄膜光学性能的表征,是评估薄膜质量的分析方法之一。最常见的是评估其反射率和透过率。日立紫外可见近红外分光光度计UH4150 优异平行光束,确保透过率和反射率的准确测量。
薄膜摩擦系数测定仪
在现代工业生产中,薄膜材料的摩擦系数是一个至关重要的参数。它可以影响产品在运动过程中的稳定性和效率。为了确保产品的质量和性能,工程师们通常会利用薄膜摩擦系数测定仪来准确测量薄膜材料之间的摩擦力。本文将为您深入探讨薄膜摩擦系数测定仪的工作原理、应用领域以及如何选择合适的仪器。
微波消解半导体薄膜材料
半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
微波消解半导体薄膜材料
半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
塑料薄膜穿刺力测定仪
塑料薄膜穿刺力测定仪是一种广泛应用于塑料行业的关键性测试设备。该设备旨在测量塑料薄膜在受到外力作用时的穿刺性能。通过对塑料薄膜的穿刺力进行准确测量,并提供详细的测试结果分析,该仪器在塑料薄膜的生产、加工以及应用过程中起到了重要作用。
GIXRD应用案例——单晶硅上镀100nm的金薄膜衍射分析
薄膜材料是一种具有相对较小厚度的材料,通常在纳米到微米尺度范围内。这些材料具有特定的性质和应用,常常被用于电子、光学、能源、生物医学等领域制造各种器件和技术。薄膜材料的种类多样,用途广泛。常见的有金属薄膜、半导体薄膜、陶瓷薄膜、光学薄膜等。
微波消解薄膜
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为:由原子,分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例如光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器,机械,印刷等行业。薄膜材料是指厚度介于单原子到几毫米间的薄金属或有机物层。电子半导体功能器件和光学镀膜是薄膜技术的主要应用。我们选择一种薄膜样品,将其剪碎后进行微波消解,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
XRD应用分享 | 单晶外延薄膜高分辨XRD表征
高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD) 是一种强大的无损检测方法,其研究对象主要是单晶材料、单晶外延薄膜材料以及各种低维半导体异质结构。
塑料薄膜摩擦系数仪测试要求及步骤
包装机运转过程中,一般要求薄膜内层摩擦系数比较小,但不能过小,否则可能引起制袋成型时叠料不稳定而产生错边;而薄膜外层与包装机拖动金属面摩擦系数需适中,太大会引起包装过程中阻力过大致使材料拉伸变形,太小可能又会引起拖动机构打滑造成电眼跟踪和切断定位不准。因此必须有效地控制塑料薄膜摩擦系数的大小,使它在适当的范围内,同时有助于提高企业的生产效率。
热收缩薄膜收缩力的测试与探讨研究
热收缩薄膜收缩力的测试与探讨研究摘要:热收缩薄膜是近年来被广泛使用的一种塑料包装材料,收缩率和收缩力是衡量薄膜收缩性能的两个重要指标。本文选择部分结晶的LDPE、非结晶的OPS和结晶材料PET改性后的PETG三种不同类型的热收缩膜进行收缩力试验,并分析了热缩温度与材料的关系、热缩力与时间的关系及生产工艺对热缩力的影响,希望能对热收缩薄膜收缩力的研究起到抛砖引玉的作用。关键词: 热收缩膜 ,热缩力 ,冷缩力 ,结晶度 ,ISO 14616
微波消解薄膜
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为:由原子,分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例如光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器,机械,印刷等行业。薄膜材料是指厚度介于单原子到几毫米间的薄金属或有机物层。电子半导体功能器件和光学镀膜是薄膜技术的主要应用。我们选择一种薄膜样品,将其剪碎后进行微波消解,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
金相显微镜MHML3230:助力工厂薄膜污点检测,实现高质量产品生产
在工厂中,薄膜污点检测显微镜通常用于生产线上,用于检测薄膜表面的质量,以确保产品的质量和可靠性。金相显微镜在工厂薄膜污点检测中具有广泛的应用前景和优势,可以帮助工厂更好地控制产品质量和提高生产效率,减少不合格产品的数量,提高客户满意度和市场竞争力。近日,明慧科技的金相显微镜MHML3230助力东莞某工厂进行薄膜污点检测,帮助检测人员更准确地发现和判断薄膜表面的污点和缺陷,以确定其大小、形状和分布情况。其出色的成像效果得到了老师的高度评价,助力工厂在生产过程中实现更高的精度和质量标准。
扫描探针显微镜(SPM)表征二氧化硅薄膜材料的表面形貌以及粗糙度
二氧化硅薄膜具有良好的硬度、光学、介电性质及耐磨、抗侵蚀等特性,在光学、微电子等领域有着广泛的应用前景,是目前国际上广泛关注的功能材料。本文采用岛津扫描探针显微镜(SPM)技术对二氧化硅薄膜样品的表面形貌以及粗糙度进行了表征,对二氧化硅薄膜的制备方法和制备工艺优化提供了一定的指导。
扫描探针显微镜(SPM)用于CoCrFeNi基高软磁熵薄膜的磁畴结构表征
磁畴是指铁磁体材料在自发磁化的过程中为降低静磁能而产生分化的方向各异的小型磁化区域。磁畴的存在对铁磁材料的磁性具有重要影响。由于配位数、晶格常数和价电子分布等的差异,目前关于块状软磁高熵合金的理论推导结果不能直接应用于软磁高熵合金薄膜,因此需要深入的研究来揭示软磁高熵合金薄膜(HEATFs)的磁性。本文采用扫描探针显微镜SPM-9700HT的磁力模式测试了软磁高熵合金薄膜的磁畴结构,发现其呈现典型的迷宫状磁畴分布。这一方法直观地反映了薄膜厚度及成分对磁畴大小的影响。
ASTM D1894塑料薄膜和薄片的摩擦测定方法
本标准等同采用国际标准ISO 8295—1986《塑料——薄膜和薄片——摩擦系数的测定》。规定了塑料薄膜和薄片在自身或其他材料表面滑动时静摩擦系数和动摩擦系数的测定方法。适用于厚度在0. 2 mm以下的非粘性塑料薄膜和薄片。
扫描探针显微镜(SPM)用于金属玻璃薄膜材料的加工硬化行为表征
金属玻璃薄膜的原子无序结构使其表现出许多独特且优良的物理、化学和力学性能,如高强度、高韧性、高电阻率、高磁性等,可广泛应用于微机电系统器件。本文采用扫描探针显微镜SPM-9700HT结合Nano 3D Mapping软件测试了三种不同沉积衬底温度下制备的金属玻璃薄膜的粘附力,在一定程度上揭示了沉积衬底温度对金属玻璃薄膜加工硬化行为的影响,从而对金属玻璃薄膜制备工艺具有一定的指导意义。
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