重量分析测厚仪

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍： XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。产品特点：通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点：3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱；使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用：应用● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控产品使用：测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）未知合金的无标准片测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析

采用优质机械加工部件和简单的操作，使得BCT1000球坑测厚仪，特别适合于要求快速测量硬质涂层（1um）的厚度。 球坑测厚仪 主要特点： 球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法，主要用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量，也可对小型的工件进行测量。球磨后，在镀层样品上形成一球坑，通过数码CCD显微镜，结合智能化的测量分析软件，可快速准确的得出镀层的厚度。主要参数：

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

产品介绍：DZ-TGA101是南京大展检测仪器生产一款精度较高的tga热重分析仪，全新的炉体结构设计，开盖式设计，测试样品方便，可实现多段温度设置，彩色触摸屏显示，清晰度高，双向控制系统。测试范围：DZ-TGA101热重分析仪主要测量材料的热稳定性、分解过程、吸附与解吸、氧化与还原、成份的定量分析、添加剂与填充剂影响。应用范围：DZ-TGA101热重分析仪广泛应用于塑料、橡胶、涂料、药品、催化剂、无机材料、金属材料与复合材料等各领域的研究开发、工艺优化与质量监控。性能优势：1.炉体加热采用贵金属镍铬合金丝双排绕制，减少干扰，更耐高温。2.托盘传感器，采用贵金属镍铬合金精工打造，具有耐高温，抗氧化，耐腐蚀等优点。3.供电，循环散热部分和主机分开，减少热量和振动对微热天平的影响。4.采用上开盖式结构，操作方便。上移炉体放样品操作很难，易造成样品杆损坏。5.主机采用水域恒温装置隔绝加热炉体对机箱及微热天平的热影响。6.可根据客户要求更换炉体。技术参数：温度范围室温~1200℃温度分辨率0.01℃温度波动±0.1℃ 升温速率0.1~100℃/min温控方式升温、恒温、降温 冷却时间≤15min (1000℃…100℃)天平测量范围0.1mg～3g ,1mg~2g，可扩展至30g精度0.01mg恒温时间程序设置，可拓展到72h，0～300min 任意设定解析度0.1ug显示方式7寸汉字大屏液晶显示气氛装置内置气体流量计，包含两路气体切换和流量大小控制 (气氛：惰性、氧化性、还原性、静态、动态) 软件智能软件，对TG、DTG曲线进行数据处理、导出EXECL，生产PDF图谱，打印实验报表数据接口标准USB接口，专用软件（软件免费升级）电源AC220V 50Hz（可定制）坩埚类型陶瓷坩埚、铝坩埚软件带有温度多点校正功能，可以满足高低温测试

ACZET安捷特--XRF镀层测厚仪CUBE系列一、功能1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。2. 镀层层数：多至5层。3. 测量点尺寸：（1）准直器φ0.3mm，可测量样品φ0.2-φ0.8毫米（2）准直器φ0.1mm，可测量样品φ0.05-φ0.1毫米4. 测量时间：通常35秒-180秒。5. 样品尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。6. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。7. 可测厚度范围：通常0.01微米到30微米，视样品组成和镀层结构而定。8. 同时定量测量8个元素。9. 定性鉴定材料达20个元素。10. 自动测量功能：编程测量，自定测量；修正测量功能：底材修正，已知样品修正 定性分析功能：光谱表示，光谱比较；定量分析功能：合金成份分析 数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。 二、特点1. 采用基本参数法校准，可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。2. X射线采用从上至下的照射方式，即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之，如果是从下至上的照射方式，遇到表面凹凸的样品，无法调整Z轴距离，导致测量光程的变化，引起测量的误差。3. 具有多种测试功能，仅需要一台仪器，即可解决多种测试4. 相比其他分析设备，投入成本低5. 仪器操作简单，便可获得很好的准确性和重现性6. 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀层分析:可分析四层以上厚度,FP分析软件,无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.技术参数Item项目Part & Ref Number部件号Commodity & Description货物及描述1Cube X射线镀层测厚仪X射线光管 微聚焦，高性能，钨靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm高电压 50千伏（1.2毫安）可根据软件控制优化探测器 SI-PIN 探测器准直器 单一固定准直器直径0.3mm（可选配0.1mm） 样品仓 330 x 200 x 170 mm 样品台 手动Z轴样品台电源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W仪器尺寸 350 x 420 x 310 mm 仪器重量 27KgWindows 10操作系统和计算机主机19寸液晶显示器

MBT-300测厚仪CanNeed-MBT-300是一款接触式测量方法，利用霍尔效应原理对非铁性材料进行可靠且高重复性的厚度测量的便携式测厚仪。仪器的操作非常简单。测量时，在被测材料的一侧按住或移动磁探头，在材料的另一侧放上或在容器里放入一个小目标钢珠。探头的霍尔效应传感器测量探头端部到目标钢珠的距离。测出的距离即刻被作为厚度读数以容易辨读的数字形式显示在屏幕上。该设备满足多项国家和国际标准。广泛应用于航天技术制造业、塑料包装业、汽车产业、玻璃制品包装业、管道测量等范畴。新特征：l 更加坚固耐用的探头l 新增5.00mm磁珠和7.00mm磁珠l 更大的测量范围，可测厚度达25.4毫米l 更大的彩色屏幕，更大的显示字体l RS-232输出l 显示实时厚度值，并自动捕捉厚度最大值、最小值、和平均值。l 快速，达到每秒16次l 准确率可达±1%l 内部数据记录储存达到95000个厚度读数l 保存校准文件并调用所保存的校准文件l 新型机身设计l 新的扩展校准包，可测厚度达25.4毫米l 带有统计数据的带状图视图技术参数 钢珠直径 厚度范围(标准探头) 精度 （基本校准） 精度 （多点校准）1/16”(1.59mm) .0004-.0900”(0.100-2.590mm)±4%±3%1/8”(3.18mm).0004-.1800”(0.100-4.570mm) ±4%±2% 3/16”(4.76mm) .0004-.2500”(0.100-6.350mm) ±3%±1%5.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-19.00mm)±3%±1%7.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-25.4mm)±3%±1% 准确率取决于厚度范围，详细规格说明参阅操作手册扫描速率： 高达每秒16次测量最小值、最大值模式： 快速搜索并显示厚度最小值、最大值分辨率：0.01 mm 或0.001mm（0.001或0.0001英寸） 显示：液晶显示屏，可同时显示实时读数、最小值、最大值、平均值读数、报警状态和数据文件信息 数据记录器：可存储、调用、清除和传输95000个带有数字识别码的厚度读数和文件 数据输出： 带RS-232接口，现场报告：最小值、最大值、平均值、SD 校准：两点标准校准，可达5个参考点的多点校准 差值模式：显示实际厚度和预设参考厚度之差 报警模式：可编程的可发声和可见指示的高、低报警设置点 电源：100/120/220/240 VAC,48-62 Hz 电池：可充电镍镉电池，根据背景灯使用情况可使用8-16小时，充电时间2小时 公制/英制单位：可选英寸或毫米语言： 英语/中文操作温度： 0 - +50℃尺寸： 300×190×50mm重量： 4公斤 标准配置： l 标准探头l 探头支架l 探头连接线l 用户手册l 镍制可充电池l 外部电源与充电器l 钢珠及校准套件, 包括钢珠(1/16英寸，1/8英寸，3/16英寸直径)， 校准快：0.010英寸/0.25毫米, 0.04英寸/1毫米, 0.160英寸/4毫米(测量超过0.160英寸/4毫米,可选附件)

商品说明 工业生产过程中的品质控制，高压隔离开关触头镀银层检测仪，铜镀银，镀锡等厚度快速测试，同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理，确保材料品质；船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别，从而保障产品质量与安全；电力电站等有关国计民生行业中，鉴定设备零部件成分是否达标，保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件，其中隔离开关触头上的镀银层，有耐磨耐腐蚀的性，能降低接触电阻，需如果用不镀银的铜触头，铜触头经过氧化后电阻会明显增加，就会产生电弧烧蚀触点的可能，而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求，高压隔离开关主触头：镀银层厚度应不小于20um，一般触头镀银层厚度应不小于8um，硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说，电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量，所以镀层越厚，对电镀厂家的成本越高，所以一部分不良电镀厂家，就对电镀镀银厚度采用以次充好，以薄充厚，严重影响了高压配电设备的验收工作，甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再，再而三的被通报不良产品，轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格，重则直接被国网招标拉入黑名单。目前，隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪，是一种X射线光谱仪，通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光，可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器，仪器分为手持式和台式两种，都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度，方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件，一键智能操作检测合金成分和镀层厚度； K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分；能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量；仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合金牌号，用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下：（1）智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报，提高生产率，自动识别基材种类，无需手动选择样品类型，然后再测试；降低操作难度，节省测试时间，不管操作人员是否有经验，都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。（2）完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库，标准牌号库包括500多种独特的合金牌号，用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。（3）检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能，可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围：0-50um检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡分析精度：单层电镀相对误差不超过10%检测时间：15-20秒检测窗口：12mm合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素仪器参数：1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法：KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪Bowman BA-100 Optics 机型采用业界领先的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 稳定的X射线管 ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选） 小于100um的测量斑点 ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央 ● 长寿命的射线管灯丝 ● 独有的预热和ISO温度适应程序 多毛细管聚焦光学结构 ● 显著提高X射线信号强度 ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 ● 小于100um直径的测量斑点 ● 经过验证，接近完美的测量精度 应用领域：常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB 引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe 半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 线材 Sn/Cu 珠宝、贵金属 10,14,18Kt 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等 美国博曼高性能XRF镀层测厚仪三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析） 成为越来越多行业的满意选择 可为您提供高精度，快速简便的测量和分析

膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪Simply The Best垂直光路设计，专为镀层厚度分析而设计高分辨率硅针检测器 (Si-pin) ，适合于多元素镀层的高灵敏度分析，比起传统的封气正比计数器，Si-pin探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比）长期稳定性以及更长的使用寿命工业级高清样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度易于使用，新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁，只需点击鼠标即可进行正确的分析背景介绍人们在同腐蚀作斗争中，采取了许多行之有效的措施，电镀就是其中的重要手段之一，电镀能提高金属零件在使用环境中的抗蚀性能；装饰零件的外表，使其光亮美观；提高零件的工作性能，如硬度，耐磨，导电性，电磁性、耐热性，钎焊性及其他特殊性能。英飞思开发的EDX8000T 镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是测试速度快：检测时间快，数秒内可完成检测，可在短时间内进行大量样品测试测试再现性佳：不会因不同人员测试同一样品产生手法差异分析结果异同，相较湿式化学分析较受前处理因素同时分析多元素：一次检测电镀液内的所有金属成分，无元素检测限制。非破坏性检测：样品内若有贵重成分，检测完成后均可回收无复杂样品前处理：不需专业实验室与操作人员及复杂的前处理检测浓度弹性：标准液可根据被测溶液浓度灵活调整，无固定浓度要求膜厚仪EDX8000T 应用场景测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层贵金属成分分析，贵金属镀层，如金基上的铑材料分析分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析膜厚仪EDX8000T产品特点超大样品腔一键测试，一键打印报告与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据，兼容LIMS数据库经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长膜厚仪EDX8000T 可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如可检测铁镀镍、铜镀镍、铁镀铬、铜镀锡、铜镀金、铜镀银等单镀层的厚度和元素成分多涂镀层应用：如Ni/Cu/Fe铁镀铜镀镍，Au/Ni/Cu铜镀镍镀金，Sn/Ni/Cu铜镀镍镀锡等合金镀层应用：如ZnNi/Fe铁镀镍锌合金, ZnAl/Ni/Cu铜镀镍镀铝锌合金等技术参数仪器外观尺寸:400mm*500mm*350mm仪器重量: 34KG镀层分析范围：锂Li（3）- 铀U（92）成分分析范围：硫S（16）- 铀U（92）可分析含量范围：1ppm- 99.99%涂镀层最低检出限：0.005μm，可同时分析5层以上镀层成分分析含量范围：5ppm-99.99%探测器：高分辨率铍窗电制冷Si-Pin Detector 多道分析器:4096道DPP analyzerX光管：50W高功率光管准直器：标配Φ0.5mm，选配Φ0.2mm滤光片：3种可切换可选配纯元素标样，镀层校准片电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10°C到35°C

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

T-350台式XRF镀层分析仪硬件性能及优势超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面仪器性能元素分析范围从硫(S)到铀（U）同时可以分析几十种以上元素，五层镀层分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。仪器配置高压电源 0 ~ 50KV光管管流 0μA ~ 1000μA摄像头滤光片 可选择多种定制切换探测器 美国进口探测器多道分析器 JPSPEC-DPP样品腔尺寸 310*280*60（mm）测试时间 10sec ~ 100sec仪器环境要求环境温度 15°C ~ 30°C相对湿度 35% ~ 70%电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ分析软件 JPSPEC-FP定性定量分析软件外部尺寸 380*372*362（mm）重量 29Kg优势和特点*超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面*易于使用，一键操作，即可获得镀层厚度及组成成份的分析结果*有助于识别镀层成分的创新型功能*机身结构小巧结实，外形十分漂亮，适合放置于陈列展室*按下按钮的数秒之内，即可得到有关样件镀层厚度的精确结果*使用PC机和软件，可以迅速方便地制作样件的检验结果证书*用户通过摄像头及舱内照明系统，可看到样件测试位置，提升了用户测试信心*Thick系列分析仪测试数据可以下载和上传网络，检测结果易于查看和分享*有X射线防护锁，只有在封闭状态下才发射X射线，安全、可靠的保证客户使用联系电话：丁女士

一、 BOWMAN 分析仪器介绍美国博曼是全球涂镀层测厚和元素分析仪器的领军品牌。 博曼拥有超过 30 年的行业经验，并始终保持创新，致力于为市场提供精准、高效 和具有性价比的涂镀层检测设备。目前，博曼已在全球四大洲 20 多个国家建立销 售和服务网络，为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析解决方案。博曼中国在上海设有演示应用中心，备品备件库，并在深圳，杭州，西安设有办事处。可以为中国地区的客户提供极佳的镀层厚度检测方案及快速优质的售后服务。二 、 BOWMAN 产品介绍美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，博曼 XRF 系统搭载拥有自 主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素 厚度和成分。博曼 XRF 系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元 素可以是合金。 博曼 XRF 系统使用高端定制的微聚焦 X 射线管作为能量源，恒温的 Si-PIN 的二极管 作为探测器，然后通过多通道放大器对辐射光子进行分类和统计。最终，博曼 Xralizer 软件经过独特的算法来计算辐射光子的厚度，从而获得测量结果。 通过微焦点相机对准 X 射线光学轴线选择样品的测试区域。由聚焦激光控制的平台 能容纳不同高度的样品。 博曼 XRF 镀层测量系统满足业界对精度，可靠性和易用性的最严格要求。紧凑且符 合人体工程学的设计让应用分析变得更简便，更高效。博曼致力于通过提供合理的 价格和优质的产品满足用户的快速的投资回报。三、 Bowman 的产品优势1、卓越领先的 XRF 系统高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器，提高测量效率。 峰 位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。 紧凑式的几何结构，激发源到样品的距离只有其他同类机型的三分之一，有效提高测量 精度和工作效率。32、直观的用户界面先进的软件将为仪器的性能提供有力的支持 。 博曼镀层测厚仪的分析数据拥有强大的 软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号 进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所 有用户级别都可以设置密码保护。3、广泛的镀层厚度测量范围博曼 XRF 镀层测厚仪 可对 13 号铝元素到 92 号铀元素进行高精度测量分析可分析单层镀层： Au， Ag， Ni， Cu， Sn， Zn 等合金镀层： ZnNi 合金， SnPb 合金等镀层厚度和成分比例同时分析双层镀层： Au/Ni/Cu， Sn/Ni/Cu， Cr/Ni/Fe 等4三层镀层： Au/Pd/Ni/Cu 等最多可分析 5 层镀层可同时分析 25 种元素成分可分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析 ROHS 有害元素4、同类最佳的服务支持博曼为用户提供的 XRF 技术支持和服务享誉业界。目前，除美国芝加哥总部外，博曼已 在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供高质量的现 场技术支持服务，从而成就用户。因此，博曼拥有较高的用户回头率。在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事 处。有能力为客户提供极佳的镀层厚度检测方案和快速优质的售后服务。

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

仪器简介：美国Defelsko公司的PosiTector 6000涂镀层测厚仪是精确耐用的测厚仪,适用于所有金属底材.技术参数：1-基本型 2-统计型 具有1型所有功能，新增： 可存储250个读数； 读数超出设定范围时有声光提示； 显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数； 内置红外传输口 USB接口，可连接计算机 可选配PosiSoft for Windows统计分析软件和USB连线 3-存储型 具有1和2型所有功能，新增： 储存10000个读数，可分成1000组 内置时钟 可存储校准 SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值 提供PosiSoft for Windows统计分析软件和USB连线 F型探头 用于钢铁等磁性基体上的非磁性涂镀层，如油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等 N型探头 用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的所有绝缘层，如阳极氧化膜、油漆、涂料等 FN型探头 为两用探头，可以在磁性和非磁性基体上自动转换测量 PosiSoft for Windows软件 功能强大使用简单 订购存储型随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据，如ASCII码 方便监察和分析膜层厚度 包括所有仪器的校准步骤.主要特点：简单 -直接测量(无需校准即可满足大部分应用) -单手菜单操作 --灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果 -重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 耐用 -耐磨探头 -防酸、防油、防水、防溶剂、防尘，符合或超过IP5X标准 -耐磨防腐蚀液晶显示屏 -防撞击橡胶保护套 精确 -每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 -内置温度补偿以确保测量精度 -高分辨率模式可提高显示分辨率 -符合美国和国际标准，包括ISO和ASTM标准 多功能 -多种校准模式，包括一点、两点、零点校准 -多种语言显示，包括中文 -背光显示 -公制英制单位互换 -可定制最长75m的电缆线

3V仪器电镀层测厚仪0-50us金属镀层厚度分析EDX6600能量色散X荧光光谱仪EDX66600镀层测厚仪目录1.产品名称及特点:2.仪器硬件主要配置2.1 Si-pin电制冷半导体探测器2.2 X光管（专用小焦点X光管）:2.3 高低压电源:2.4 多道分析器:2.5光路过滤模块2.6 准直器自动切换模块2.7滤光片自动切换模块2.8准直器和滤光片自由组合模块3.金属镀层专用分析软件4.附件5.产品保修及售后服务产品资料1.产品名称及特点: 1.1. 产品名称及型号：（3V x-ray）能量色散X射线荧光光谱仪-------EDX66001.2. 制造商：苏州三值精密仪器有限公司1.3 仪器总价值： 数量 单位 金额（人民币） 1 套 RMB(含税)1.4 产品图片 EDX6000E型1.5. 工作条件：● 工作温度：15～30℃● 相对湿度：40%～80%● 电 源：AC220V±5V1.6.产品特点 1.6.1 EDX6600可专门针对金属镀层厚度及成分含量进行分析。 1.6.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器简洁大方。 1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，测量更准确。 1.6.5七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.6.6多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级。 1.6.7一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。 1.6.8机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.6.9多重仪器部件保护系统，并可通过软件进行全程监控，仪器工作更稳定安全。 1.6.10专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。 1.6.11采用USB2.0接口，有效保证数据准确、高速的传输。2.仪器硬件主要配置2.1 Si-pin电制冷半导体探测器 2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率:149±5eV。 2.1.2. 放大电路模块：对样品特征X射线进行探测，将探测采集的信号进一步放大。2.2 X光管（专用小焦点X光管）: 2.2.1 灯丝电流：1mA。 2.2.2 属于半损耗型部件，设计使用寿命大于10000小时。2.3 高低压电源: 2.3.1.电压输出：≤50kV。 2.3.2.5kv可控调节。 2.3.3.自带电压过载保护。2.4 多道分析器: 2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。 2.4.2 通道数：4096。 2.4.3 包含信号增强处理。2.5光路过滤模块 2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。 2.5.2 将准直器与滤光处组合；2.6 准直器自动切换模块 2.6.1 多种选择，口径分别为8、4、2、1、0.5mm。2.7滤光片自动切换模块 2.7.1五种滤光片的自由选择和切换。2.8准直器和滤光片自由组合模块 2.8.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。3.金属镀层专用分析软件 3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）。 3.2 分析检出限可达0.1-99.99% 3.3 分析厚度一般为0.1μm至30μm之间。 3.4 多次测量重复性可达0.1μm（对于小于1μm的最外层镀层）。 3.5 长期工作稳定性为0.1μm（对于小于1μm的最外层镀层）。4.附件 4.1 样品腔：开放式大样品腔。 4.2 标准样品：镀层标样。5.产品保修及售后服务 5.1 免费对客户方操作人员进行培训。 5.2 安装、调试、验收、培训及售后服务均为免费在用户方现场进行。 5.3正常使用，经本公司确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修壹年。 5.4 产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。 5.5 免费提供软件升级。 5.6 提供最有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，24小时内派人上门维修和排除故障。3V仪器电镀层测厚仪0-50us金属镀层厚度分析EDX6600苏州三值X射线荧光光谱仪厂家

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

膜厚仪EDX-8000T Plus型XRF镀层测厚仪Simply The Best微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。膜厚仪EDX8000T Plus产品特点全新的下照式一体化设计，测试快速，无需样品制备可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面等）的异型件的精准测试备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品可覆盖元素周期表Mg镁到U铀SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率自动切换准直器和滤光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm）膜厚仪EDX8000T Plus应用场景EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，金属电镀镀层分析；测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层电路板和柔性PCB上的涂层插头和电触点的接触面贵金属镀层，如金基上的铑材料分析分析电子和半导体行业的功能涂层分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析技术参数仪器外观尺寸:560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm仪器重量: 40Kg元素分析范围：Mg12-U92镁到铀，可同时分析并测量24种元素可分析含量范围：1ppm- 99.99%涂镀层最低检出限：0.005μm，可同时分析5层以上镀层成分分析含量范围：5ppm-99.99%探测器：AmpTek高分辨率电制冷SDD Detector多道分析器:4096道DPP analyzerX光管：50W高功率微聚焦光管准直器：Φ0.15mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm，可选配0.1*0.2mm高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ样品平台：手动高精度移动平台样品对焦:手动测距对焦环境温度：-10°C到35°C膜厚仪EDX8000T Plus可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Ag/Cu,Zn/Fe，Cr/Fe, Ni/Fe等多涂镀层应用：如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe，Au/Ni/Cu等合金镀层应用：如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度

菲希尔电解法测厚仪Couloscope CMS2 STEP简介：CouloScope CMS STEP在电镀行业中，对多层镍镀层中各自层的同时的厚度和电极电位的测定变成了一个越来越重要的需求。的多镀层组成为不含硫的半光亮镍层和含硫的光亮镍层。这两个镍层间足够的电位差导致了光亮镍层优先腐蚀于半光亮镍层。这种次序也就延迟了整个镍层的穿透速度，并且给了基材相对于单镀层更好的防腐保护。 COULOSCOPE CMS STEP多层镍测厚仪器根据库仑电量分析法进行测量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764标准通过电位差测试仪器可以简便的对镍镀层之间的电化学的电位差进行测量。 可以用于测量铜基层、镍多层涂层和铬涂层的厚度。COULOSCOPE CMS STEP可以通过定位于电位-时间表中相关部分的双指针来方便地测出镀层厚度和电位差。这个图表能够外部保存或通过RS232转换到PC电脑中。特性：吸引人的设计，大的液晶显示器和清晰安排的键盘。操作简单，菜单指引的操作提示。电解区域直径从0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。大约100个预先定义好的应用程式适用于大多数的金属镀层，包括测量线材。特点：吸引人的设计，大的液晶显示器和清晰安排的键盘。操作简单，菜单指引的操作提示。电解区域直径从0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。大约100个预先定义好的应用程式适用于大多数的金属镀层，包括测量线材。标准：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504大屏幕点阵液晶显示屏，可显示文字与图形：126 * 70 mm可设置和储存：50个应用程式、600个数据组；3 000个数据统计：平均值、zui大值、zui小值、标准偏差、测量次数、Cp、Cpk 和直方图使用多层菜单和软键，使操作更方便RS232 接口可通过电缆和传输软件将数据传到 PC模拟输出： 0 ～ -18V输入阻抗： ＞ 2 KΩ工作温度： 10 ℃ ～ 40 ℃仪器重量： 6 kg 电源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA尺寸： 350W * 140H * 200D mmCOULOSCOPECMSCOULOSCOPECMS STEP库仑镀层厚度测试仪分步测量： 镀层厚度和电位差无锡骏展仪器有限责任公司经过多年的运作，建立了完善的产品体系。通过传统渠道与互联网渠道的结合，形成完整的营销语境，使得交易模式更加高效和丰富。无锡骏展仪器有限责任公司视高品质的服务为企业的生命，为了让广大用户享受到完善的配套服务、完善的技术咨询和完善的售后服务，多年来产品服务不断升级，深受广大用户的好评!欢迎到我们公司实地考察!

孔铜测厚仪产品用途：手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。孔铜测厚仪适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ）孔铜测厚仪产品特点：手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合DIN EN ISO21968标准可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60KHZ或240KHZ的探头ESD20Cu）可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头ESL080）可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告。孔铜测厚仪技术参数:涡流相位测厚仪 PHASCOPE PMP10手提式镀层测厚仪器，采用相位灵敏测试方法，3个可选择的测试频率特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080下拉式菜单和对话框简化操作大容量：100个应用程式，20，000个测量数据，4，000个数据组3级显示精度自动关机功能密码保护、按键锁定功能自动、连续、外部触发3种特殊测量模式科学、统计、上下限、模拟分析4种显示模式您可能对以下产品也感兴趣：X射线荧光测厚仪，涂层镀层测厚仪菲希尔测厚仪

电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

X荧光光谱分析仪iEDX-150WT产品介绍（镀层测厚仪）一、产品概述产品类型： X荧光光谱仪 产品名称： 镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS检测，合金分析功能）型 号： iEDX-150WT 生 产 商： 韩国ISP公司产品图片：镀层厚度检测分析仪 - iEDX-150WT二、产品优势镀层检测，最多镀层检测可达5层。对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，可同时进行选配合金成分分析功能。开槽式超大可移动全自动样品平台620*525 (长*宽)，样品移动距离可达220*220X10mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。激光定位，可以连续自动多点程控测量；可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。可检测固体、液体、粉末状态材料；运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；标配德国AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。软件支持无标样分析。相对于传统镀层，开机不需要预热，直接可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。标配选配X射线管高稳定性X光管，使用寿命长（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。高稳定性微焦点X光管，使用寿命（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸50um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。平台固定平台软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤，控制程序进行持续性自动测量。平台尺寸：620*525mm (长*宽*高)样品移动距离：220*220X10 mm(X*Y*Z)准直器单准直器系统 0.2/0.3MM选1个0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸，可定制特殊尺寸准直器。探测器半导体Si-PIN 探测器，分辨率159eV，高分辨率硅漂移SDD探测器，分辨率可达到125eV.滤光片初级滤光片：Al滤光片，自动切换/样品定位显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能/视频系统高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。观察范围：3mm x 3mm。放大倍数：40X。/附件含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标/软件标配Multi-Ray镀层分析软件1、选配ROHS分析软件2、选配合金分析软件3、选配药水分析软件 检测元素范围Al (13) ~ U(92)/分析样品类型液体/固体/粉末/三、产品配置及技术指标说明四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能1) 软件应用- 单镀层测量- 线性层测量，如：薄膜测量- 双镀层测量- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析- 三镀层测量。- 无电镀镍测量- 电镀溶液测量- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2 - 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量2) 软件标定- 自动标定曲线进行多层分析- 使用无标样基本参数计算方法- 使用标样进行多点重复标定- 标定曲线显示参数及自动调整功能3) 软件校正功能：- 基点校正（基线本底校正）- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等- 密度校正4) 软件测量功能： - 快速开始测量- 快速测量过程- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）5) 自动测量功能（软件平台）- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）- 确认测量位置 (具有图形显示功能)- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）- 测量开始点存储功能、打印数据- 旋转校正功能- TSP应用- 行扫描及格栅功能6) 光谱测量功能- 定性分析功能 （KLM 标记方法） - 每个能量/通道元素ROI光标- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）7） 数据处理功能- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 最大值。- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，- 独立曲线显示测量结果。- 自动优化曲线数值、数据控件 8）检测厚度（正常指标）：- 原子序数 22 - 24 : 6 – 800 微英寸- 原子序数 25 - 40 : 4 – 900 微英寸- 原子序数 41 - 51 : 6 – 2000 微英寸- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸9）其他功能- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境- 独立操作控制平台- 视频参数调整- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......- 数据库检查程序- 镀层厚度测量程序保护。仪器维修和调整功能- 自动校准功能；- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。五、软件界面镀层软件分析图谱界面备注: 以上图片仅供参考六、部分国外客户名单，和国内Company公司名称Note备注TE CONNECTIVITYhyundai cooperate 现代合作公司INNO FLEXsamsung cooperate三星合作公司RAYTRON CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KOREA ELECTRIC TERMINALsamsung cooperate三星合作公司SHINHWA CONTECH CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KYOUNGILsamsung cooperate 三星合作公司KAVASsamsung cooperate 三星合作公司TAEKWANG ENSsamsung cooperate 三星合作公司PULSE ELECTRONICS KOREAsamsung cooperate 三星合作公司SIT CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司LUMENS CO.,LTDsamsung , LG cooperate三星、通用合作公司JEONGMIN ELECTRIC CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HANSUNG COLOR CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HWANAM TECH CO.,LTDLG cooperate通用合作公司 SAEBOK CO.,LTDLG cooperate通用合作公司HANSHIN TERMINAL CO., LTDLG cooperate通用合作公司JINTECLG OEM 通用合作公司DAESHIN METALSEMICS INCWOOSOOROSWIN INCPOSCOJuAhnBEE-RYONGMECHARONICSSAMMI METAL PRODUCTS CO.,LTD　部分国内客户名单：深圳爱升精密电路科技有限公司宏创电子惠州有限公司昆山同心表面科技有限公司 深圳路通达科技有限公司联想集团深圳市记忆科技有限公司湖北建浩科技有限公司航天科技集团乐清市东方科信网络有限公司富士康集团比亚迪东莞市鑫华电镀厂上海正泰电器公司深圳市誉升恒五金科技有限公司珠海汇鑫垣电子有限公司扬宣电子（清远）有限公司航天长征睿特科技有限公司大连吉星电子科技有限公司昆山三星电机有限公司广东南方宏明电子科技股份有限公司深圳市恒威电子公司太康精密（中山）有限公司信泰电子（西安）有限公司湖北台基半导体股份有限公司惠州富电电子有限公司康跃科技股份有限公司武汉奥科电子有限公司元悦科技（珠海）有限公司深圳市鼎正电路板有限公司深圳市星之光实业发展有限公司湖北金禄科技有限公司惠州威健电路湖北龙腾电子科技有限公司赣州市金顺科技武平飞天电子科技有限公司深圳市恩德鑫电路技术有限公司珠海市鸿天万达电子

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

口服液瓶壁厚测厚仪药瓶壁厚底厚测试仪是一种用于检测药用玻璃瓶壁厚和底厚的专业仪器。它采用高精度测量传感器和先进的数据分析技术，能够快速、准确地获取瓶壁和底部的厚度数据。 该仪器具有操作简便、测量精度高、速度快、安全可靠等特点。它对于控制药品包装质量、保障药品的安全性和有效性具有重要意义。药瓶壁厚底厚测试仪已经成为医药行业中不可或缺的检测工具之一，为制药企业和药品研发机构提供了强有力的支持。 在医药行业中，药瓶壁厚底厚测试仪广泛应用于以下场景： 1.生产过程中的质量控制：在玻璃瓶制造过程中，测厚仪能够对瓶壁厚度进行实时监测，确保瓶子的质量符合标准。 2.药品审核：对于制药企业来说，药品包装的容器质量直接关系到药品的安全性和有效性。测厚仪能够为药品审核提供准确的数据支持。 3.稳定性研究：在药品研发阶段，需要对药品的稳定性进行深入研究。测厚仪能够通过检测玻璃瓶壁厚度，评估药品包装的稳定性，从而为药品研发提供有力支持。 4.失效分析：当药用玻璃瓶出现问题，如破裂、泄漏等，测厚仪能够帮助分析原因，为解决问题提供线索。 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准口服液瓶壁厚测厚仪此为广告

包装薄膜测厚仪 纸板纸张测厚仪 药用铝箔测厚仪CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A测厚仪技术指标：负荷量程：0 ～ 2 mm（常规）　　　　　0 ～ 6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・ 重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kgKurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。&bull 小型、轻量自由携带,可测量钢板上的任意位置。内置打印机因内部设置了打印机，数据的整理变得极为简单。

无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡，以制造、贸易一体发展，产品——在线镀锌锌层测厚仪；——在线钢丝镀锌测厚仪；——在线硅钢干膜测厚仪，以“区别于其余产品”的设计原理，存于行业，以“为您提供一步到位的产品”为已任，为仪器制造产业争光增彩。 企业原则：以质量，诚信为根为本；企业宗旨：为您提供一步到位的产品。 服务产品：在线镀层测厚仪，在线镀锌层测厚仪，在线镀铝锌层测厚仪，在线镀锡层测厚仪，在线金属镀层测厚仪（镀锌测厚仪，锌层测厚仪，镀锌层测厚仪，镀铝锌层测厚仪，锡层测厚仪，镀银层测厚仪，锌层厚度检测仪，镀锌在线测厚仪） 在线钢丝镀锌层测厚仪，钢丝镀锌测厚仪，钢丝镀层测厚仪，钢丝在线检测仪，钢丝在线测厚仪，钢丝测厚仪，镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪，硅钢干膜测厚仪，干膜厚度测厚仪，涂层干膜测厚仪，在线干膜测厚仪，干膜测厚仪，干膜涂层测厚仪