透射密度仪

透过率定义即透过光强除以入射光强乘以百分之百。为什么测透过率还要分镜面材料和乳白色材料呢？下面用LS117和LS183测试乳白材料来举例说明。为什么乳白材料测透过率要用LS117光密度仪如上图所示，同一块材料，用LS183测出来的透光率是0.8%，用LS117测出来的数据是45.6%，相差非常大，这是为什么呢？因为当光源照射到乳白材料表面，光会顺着乳白材料散开，LS117光密度仪根据视觉漫透射密度标准，并将光源和接收器两个探头紧密结合，能够接收包括散射光线在内的所有光线（图三），所以透过率会高一些，而这才是准确的数据。但是LS183透光率仪光源和接受器之前会有一定距离，当光源照射到磨砂材料表面时，散开的光线探测器无法接收（图四），透过的光线会少，所以透过率会小，这样的测试数据是不准确的。如图所示：为什么乳白材料测透过率要用LS117光密度仪 所以针对乳白色材料、雾状材料、磨砂材料等的透光率测量，因为光的漫透射，所以一定要用LS117光密度仪来测量。

密度计通常是手持式设备，可以采用透射光测量照相底片的密度，或使用反射光测量印刷品色彩的密度。密度计有两种基本的类型--透射型用来测量胶片的密度;反射型用来测量印刷品的密度;还有一种混合型的密度计，包含前面两种的特性。密度计的使用方法。 使用透射密度计可以测量胶片的最小密度Dmin(胶片上空白部分的密度，理想值为0.05)和最大密度Dmax(图像部分最大的密度值，理想值为4.0)，这些值对于在加网曝光时预测光的阻力和胶片的透光特性是非常有用的。它们还可以测量网点面积百分比和阶调的特性。反射密度计测量印刷品色彩的光学密度，对于观察油墨的墨层厚度的变化是非常有用的。另外，密度计还提供了一些关于图像特性的数据，如色差和灰平衡在网点印刷中，当网点从胶片到网版最终到材料的转移过程中，会发生网点扩大或缩小的现象。两种类型的密度计都允许你理解网点的变化，以便可以对网点进行补偿，并预测最终的结果。但关于网点扩大和其它图像属性的数据，只有在您已经建立了合理的范围后，才是有用的，这时才能通过密度计判断网点百分比在传递的过程中保持一致密度计是丝网印刷中最常用的工具之一.

密度计是印刷厂常用的原稿测量仪器。是测量黑白原稿的灰度值和测量连续调或网点值的光电测量仪器。密度计分为透射式密度计和反射式密度计两种。透射式密度计适于测量透明原稿，反射式密度计适于测量实地原稿。密度计的测量范围是0—2.5，数字越大，黑度越高。 密度计 测量的基本原理是，衡量感光材料曝光和显影后的变黑程度即黑度 密度计。在制版时，感光材料上的溴化银，受到光照作用，显影后还原成金属银，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。带有滤光片的测量计，还可以测量彩色原稿的彩色密度。其测量原理与上述基本原理相近。 　　在物理实验中使用的密度计，是一种测量液体密度的仪器。它是根据物体浮在液体中所受的浮力等于重力的原理制造与工作的。密度计是一根粗细不均匀的密封玻璃管，管的下部装有少量密度较大的铅丸或水银。使用时将密度计竖直地放入待测的液体中，待密度计平稳后，从它的刻度处读出待测液体的密度。 　　常用密度计有两种，一种测密度比纯水大的液体密度，叫重表；另一种测密度比纯水小的液体，叫轻表。

中文名称：光密度计 英文名称：densitometer;photodensitometer 定义：对纸层析、薄层层析或电泳凝胶等所分离的组分进行光密度扫描的仪器。由光源、单色器、样品台、检测器、记录器等部件组成。可测量分布在平面上各组分的相对含量。 应用学科：生物化学与分子生物学（一级学科）；方法与技术（二级学科分析仪器 　　用于纸色谱、薄层色谱、纸电泳等进行组分斑点定量的仪器。由光源、单色器、检测器和记录器等部分组成。 　　有四种测定方式： 　　（1）测量薄层斑点透射光强度的透射法，适用于可见光区，其主要缺点是吸着剂和玻璃板本身会有吸收，而且薄层厚度不均匀会引起基线不稳，对测量的准确度有影响； 　　（2）测量薄层斑点反射光强度的反射法，适用于紫外-可见光区，要求薄层表面十分平整； 　　（3）同时测定透射光和反射光的透射-反射法，记录两种光信号值之和，这种方式较理想，基 　　线平稳，测量误差小，灵敏度高； 　　（4）如果化合物本身有荧光或经过适当处理后生成荧光化合物者也可用荧光测定法。

透射电子显微镜 TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE 利用电子，一般是利用电子透镜聚焦的电子束，形成放大倍数很高的物体图像的设备。 　 电子显微镜（以下简称电镜）属电子光学仪器。由于电子的德布罗意波波长比光波短几个量级，所以电镜具有高分辨成像的能力。首先发明的是透射电镜，由M.诺尔和E.鲁斯卡于1932年发明并突破了光学显微镜分辨极限。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2?m、光学显微镜下无法看清的结构，又称"亚显微结构"。透射电镜 (TEM)　样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000埃的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来. 透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射钵的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。 相位像：当样品薄至100?以下时，电子可以传过样品，波的振幅变化可以忽略，成像来自于相位的变化。 组件 电子枪：发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。 聚光镜：将电子束聚集，可用已控制照明强度和孔径角。 样品室：放置待观察的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热﹑冷却等设备。 物镜：为放大率很高的短距透镜，作用是放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。 中间镜：为可变倍的弱透镜，作用是对电子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流﹐可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 透射镜：为高倍的强透镜，用来放大中间像后在荧光屏上成像。 此外还有二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像。 透射电镜衬度（反差）的来源　 　　TEM衬度的形成,物镜后焦面是起重要作用的部位。电子经样品散射后，相对光轴以同一角度进入物镜的电子在物镜后焦面上聚焦在一个点上。散射角越大，聚焦点离轴越远,如果样品是一个晶体,在后焦面上出现的是一幅衍射图样。与短晶面间距（或者说"高空间频率"）对应的衍射束被聚焦在离轴远处。在后焦面上设有一个光阑。它截取那一部分电子不但对衬度，而且对分辨本领有直接的影响。如果光阑太小，把需要的高空间频率部分截去，那么和细微结构对应的高分辨信息就丢失了（见阿贝成像原理）。 　样品上厚的部分或重元素多的部分对电子散射的几率大。透过这些部分的电子在后焦面上分布在轴外的多。用光阑截去部分散射电子会使"质量厚度"大的部位在像中显得暗。这种衬度可以人为地造成，如生物样品中用重元素染色，在材料表面的复形膜上从一个方向喷镀一层金属，造成阴阳面等。散射吸收(指被光阑挡住)衬度是最早被人们所认识和利用的衬度机制。就表面复型技术而言，它的分辨本领可达几十埃。至于晶体样品的衍衬像和高分辨的点阵像的衬度来源，见点阵像和电子衍衬像。 应用 透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。

利用电子，一般是利用电子透镜聚焦的电子束，形成放大倍数很高的物体图像的设备。 电子显微镜（以下简称电镜）属电子光学仪器。由于电子的德布罗意波波长比光波短几个量级，所以电镜具有高分辨成像的能力。首先发明的是透射电镜，由M.诺尔和E.鲁斯卡于1932年发明并突破了光学显微镜分辨极限。透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2?m、光学显微镜下无法看清的结构，又称"亚显微结构"。透射电镜(TEM)　样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000埃的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来. 透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射钵的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。 相位像：当样品薄至100?以下时，电子可以传过样品，波的振幅变化可以忽略，成像来自于相位的变化。 组件 电子枪：发射电子，由阴极、栅极、阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速、加压的作用。 聚光镜：将电子束聚集，可用已控制照明强度和孔径角。 样品室：放置待观察的样品，并装有倾转台，用以改变试样的角度，还有装配加热﹑冷却等设备。 物镜：为放大率很高的短距透镜，作用是放大电子像。物镜是决定透射电子显微镜分辨能力和成像质量的关键。 中间镜：为可变倍的弱透镜，作用是对电子像进行二次放大。通过调节中间镜的电流﹐可选择物体的像或电子衍射图来进行放大。 透射镜：为高倍的强透镜，用来放大中间像后在荧光屏上成像。 此外还有二级真空泵来对样品室抽真空、照相装置用以记录影像。 透射电镜衬度（反差）的来源　 　　TEM衬度的形成,物镜后焦面是起重要作用的部位。电子经样品散射后，相对光轴以同一角度进入物镜的电子在物镜后焦面上聚焦在一个点上。散射角越大，聚焦点离轴越远,如果样品是一个晶体,在后焦面上出现的是一幅衍射图样。与短晶面间距（或者说"高空间频率"）对应的衍射束被聚焦在离轴远处。在后焦面上设有一个光阑。它截取那一部分电子不但对衬度，而且对分辨本领有直接的影响。如果光阑太小，把需要的高空间频率部分截去，那么和细微结构对应的高分辨信息就丢失了（见阿贝成像原理）。 　样品上厚的部分或重元素多的部分对电子散射的几率大。透过这些部分的电子在后焦面上分布在轴外的多。用光阑截去部分散射电子会使"质量厚度"大的部位在像中显得暗。这种衬度可以人为地造成，如生物样品中用重元素染色，在材料表面的复形膜上从一个方向喷镀一层金属，造成阴阳面等。散射吸收(指被光阑挡住)衬度是最早被人们所认识和利用的衬度机制。就表面复型技术而言，它的分辨本领可达几十埃。至于晶体样品的衍衬像和高分辨的点阵像的衬度来源，见点阵像和电子衍衬像。 应用 透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷冻超薄切片法、冷冻蚀刻法、冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。

密度测量法中使用的密度仪有透射式和反射式两种，一般常用的密度仪都有如下功能：胶片的透射密度测量；印刷实地密度；网点面积百分比，网点增大的测量；油墨叠印率的测量；相对反差值（K值).当然在密度检测时还有一些需要注意的地方：使用同一[url=http://www.xrite.cn/categories/portable-spectrophotometers/exact-basic][color=#000000]密度仪[/color][/url]；正确校准与测量；滤色片和响应状态的选择；控制干湿密度差异。

透射电子显微镜实验课讲义第一部分：仪器介绍透射电子显微镜用高能电子束作为照明源。利用从样品下表面透出的电子束来成像。原理上及结构上与透射式光学显微镜一样。世界上第一台透射电子显微镜是德国人鲁斯卡1936年发明的。他与发明扫描隧道显微镜的一起获得1982 年的诺贝尔物理奖。目前透射电子显微镜的生产厂家有日本的日立（HITACHI）、日本电子（JEOL）、美国的（FEI）、德国的（LEO）。我校的这台是1985年购买的。型号是日本电子的JEM—2000EX。透射电子显微镜主要由电子光学系统、真空系统、电源系统（包括高压系统）、附件系统组成。电子光学系统一般就是指镜筒。从上到下依次为电子枪、聚光镜、样品台、物镜、中间镜、投影镜、荧光屏、照相室。电子枪的功能是产生高速电子。它由灯丝（阴极，处于负高压，即加速电压）、栅极（电位比灯丝还要负几百到几千伏，数值可调）、阳极（处于0电位）组成。根据加速电压的数值，透射电子显微镜一般分为低压电镜（小于120KV）、中压电镜（200~300KV）、高压电镜（大于400KV）。低压电镜主要用在医学和生物学方面。后面的两种主要用在材料科学上。电子枪发出的电子束的亮度和尺寸与灯丝的类型有关。从钨灯丝到六硼化镧单晶灯丝再到场发射电子枪，电子束的质量越来越好。但价格及使用成本也同样越来越高。由电子枪发出的电子束接着进入聚光镜系统。它包括两个聚光镜和一个活动聚光镜光阑。它们的作用是调节即将照到样品上的电子束的尺寸和亮度。聚光镜是电磁透镜。简单地讲，它的构造就是在铁筒外面绕线圈，线圈中有电流。于是在筒内产生磁场。该磁场能使电子偏转并聚焦，好比光学中的凸透镜。光阑是在中央有小孔的钼片。根据小孔的直径（100微米、200微米、400微米），从小到大依次称为小号、中号、大号。现代高性能电镜可以将电子束斑最小聚到小于1nm。电镜的样品台是用来放置装有样品的样品杆的。为了不破坏镜筒的真空。样品台都带有进样间。它有内门和外门。装样品杆时，内门关闭，外门开。样品杆到一定位置时，关外门。对样品间抽气。待样品间抽完气，再开内门，把样品杆送到底。电镜的样品台和样品杆是非常精密的装置。因为电镜的放大倍数很高，外界对样品杆的微小干扰反映到荧光屏上就会很可观。所以使用时要非常小心。电镜的样品杆有单倾和双倾之分。所谓单倾是指样品只能绕X轴旋转，双倾则既可绕X轴又可绕Y轴旋转。双倾杆是非常有用的东西，因为它可以让你从不同的方向观察样品。另外还有加热台、低温台、拉伸台。关于透射电子显微镜样品的制备见下一章。现在假设样品已制备好并已装入电镜中。从聚光镜来的电子束打到样品上。与样品发生相互作用。如果样品薄到一定程度，电子就可以透过样品。透过去的电子分成两类。一类是继续按照原来的方向前进，能量几乎没有改变。我们称之为直进电子。另一类是方向偏离原来的方向。我们称之为散射电子。这些电子中有的能量有比较大的改变。我们称之为非弹性散射电子。有的电子能量几乎没有改变。我们称之为弹性散射电子。所有这些电子通过物镜后在物镜的后焦面上会形成一种特殊的图象。我们称之为夫琅禾费衍射花样。如果被电子束照射的区域是非晶，则花样的特点是中央亮斑加从中央到外围越来越暗的光晕。如果被电子束照射的区域是一块单晶，则花样的特点是中中央亮斑加周围其它离散分布、强弱不等的衍射斑。如果被电子束照射的区域包括许多单晶，则花样的特点是中央亮斑加周围半径不等的一圈圈亮环。至于为什么会形成这些花样。可以从入射电子的散射来解释。对非晶样品，从不同原子上散射出的同一方向上的电子波之间没有固定的相位差，且随着散射角的增大，散射的电子数量少，能量损失大，它们通过物镜后，直进的电子形成中央亮斑。散射的电子形成周围的光晕。越往外，光晕越来越弱。对晶体样品，由于原子排列的规律性，不同原子的同一方向的散射波之间存在固定的相位差。某些方向上相位差为2π的整数倍。根据波的理论，在这些方向上的散射波会发生加强干涉。我们称之为衍射。同一方向的衍射波在物镜后焦面上形成一个亮斑。我们称之为衍射斑。直进的电子形成中央的透射斑。整个后焦面的图象称之为电子衍射花样。至于哪些方向上会出现衍射波，这可由布拉格公式决定。详细内容见教材。由于电子衍射花样与晶体的结构之间存在对应关系，如果我们记录下衍射花样，就可以对晶体结构进行分析。这正是透射电子显微镜能够进行晶体结构分析的原因之一。对多晶样品，每个单晶形成自己的衍射花样。由于各个单晶的取向不同，每个单晶上相同指数的衍射波出现在以入射电子方向为中心线的圆锥上，它们通过物镜后形成衍射圈。通过分析这些衍射圈的半径和亮度，也可以对多晶样品进行结构分析。把透射电镜的工作方式切换到衍射模式，则在物镜后焦面上形成的花样在荧光屏上可以观察到，也可以用底片或相机记录下来。仪器在物镜的后焦面位置有一个活动光阑。我们称之为物镜光阑。它是上面开有不同直径小孔的钼皮。小孔的直径从小到大依次是50微米、100微米、200微米。这个光阑的作用是控制到物镜像平面参与成像的电子束。我们可以不插入物镜光阑，让所有电子束到像平面成像。也可以插入光阑，让一束或多束电子到像平面成像。这里就涉及到透射电子显微镜的两种成像模式。只让一束电子通过物镜后焦面进而到像平面成像的模式称为衍射衬度（又称振幅衬度）模式。让一束以上通过物镜后焦面进而到像平面成像的模式称为高分辨模式（也称相位模式）。在衍射衬度模式中，如果让透射束到像平面成像，则称为明场像。如果让衍射束到像平面成像，则称为暗场像。对非晶样品，由于没有衍射束，所以一般也只有明场像之说。对晶体样品，不但有暗场，根据光路的不同，还有中心暗场与弱束暗场之分。中心暗场是让强衍射束通过。弱束暗场是让弱衍射束通过。通常观察样品的形貌、颗粒大小、组织结构、晶体缺陷等采用衍射衬度模式。如果需要观察晶体的原子排列特征，如晶格像、原子结构像等，就要采用高分辨模式。在衍射衬度模式中，像平面上图象的衬度来源于两个方面。一是质量、厚度因素；一是衍射因素。所谓质量因素，是指由于样品的不同部位的密度不同（其它都相同），同样强度的电子束打到该样品后，密度高的区域透过去的直进电子束弱于密度低的区域。于是到达荧光屏上的效果是密度高的区域暗，密度低的区域亮。这就形成了衬度。所谓厚度因素，是指由于样品的不同部位的厚度不同（其它都相同），同样强度的电子束打到该样品后，厚区域透过去的直进电子束弱于薄的区域。于是到达荧光屏上的效果是厚区暗，薄区亮。这也形成了衬度。所谓衍射因素，是指由于样品上不同的部位产生电子衍射的情况不同（其它都相同），同样强度的电子束打到该样品后，产生强衍射的区域透过去的直进电子束弱于产生弱衍射的区域。于是到达荧光屏上时，产生强衍射的区域暗，弱衍射的区域亮（明场像）。利用衍射因素，加上电子衍射花样，可以对材料中的许多内容进行研究，如晶界、位错、层错、孪晶、相界、反相畴界、析出相、取向关系等。

光密度仪基本用于测量胶片，X光片，镀铝膜一些材料的光密度值。林上的LS117型号的光密度仪还可以显示透过率值，采用JJG 920-1996 漫透射视觉密度计的国家标准来做，所以它还能测试毛面，磨砂的玻璃，乳白灯罩这类特殊的材料。 有客户打电话来问，我需要测量面膜的透过率，可以吗？面膜纸有很多种质地，有纯棉的，有化纤的，还有无纺布的。这些材料都有一个特点，那就是有纹路，可拉伸，拉伸之后的孔径和纹路会有变化。 这样的材料能使用LS117光密度仪来测试吗？比较起磨砂玻璃和雾状材料，毕竟面膜纸的纤维太过于粗糙。精准值我们不敢保证，参考值还是有的吧。客户给我们寄来了他们需要测试的几张样品。 A样品拆开，面膜纸很紧密，纤维洞很小，水分也不多，使用LS117光密度仪测试的透过率值有45.2%。B样品比较松软，面膜水分也一般，使用LS117光密度仪测试的透过率值是54.9%，C样品质地与A样品差不多，但是面膜水分很丰富，使用LS117光密度仪的测试值只有40.4%。从测试结果可以看出，光密度仪测试面膜纸，跟面膜纸的质地有很大的关系，纤维的粗细直接影响透过率值，另外，面膜纸上的水分也是很重要的一个因素，水分少，光线受折射和改变就小，数据也会高一些。 这样的测试结果可以看出，如果你只需要比较面膜们之间的差别，这个数据还是可以参考的。您了解了吗？

今天我将为大家带来一篇关于透射电镜原理、行业应用以及一些令人惊叹的实例的详细探讨。透射电镜作为一种强大的微观成像工具，在科学研究、材料科学和生命科学领域发挥着不可替代的作用。[color=#ff0000][b]透射电镜原理解析[/b][/color]透射电镜是一种通过物质透过性样本的薄片进行观察的高分辨率显微镜。其原理基于电子的波动性，与传统光学显微镜不同，透射电镜使用电子束而非可见光线，因此具有更高的分辨率。[list=1][*][color=var(--tw-prose-bold)]电子源：[/color]透射电镜使用电子枪产生高速电子束。这个电子束的能量通常在几千至几百千伏之间，相比可见光波长更短，因此具有更高的分辨率。[*][color=var(--tw-prose-bold)]透射样本：[/color]样本需要被制备成极薄的切片，以确保电子能够透过样本，形成透射电镜图像。样本通常使用特殊的染色方法，以增强对比度。[*][color=var(--tw-prose-bold)]透射：[/color]电子束透过样本后，通过一系列的电磁透镜系统进行聚焦，最终形成高分辨率的影像。这些影像具有比传统光学显微镜更高的放大倍数。[*][color=var(--tw-prose-bold)]成像系统：[/color]透射电镜的成像系统可以捕捉电子束透过样本后的相互作用，生成高质量的二维或三维图像。[/list][b][color=#ff0000]透射电镜在科学研究中的应用[/color][/b][list=1][*][color=var(--tw-prose-bold)]材料科学：[/color]在材料科学领域，透射电镜被广泛用于研究纳米结构、晶体缺陷和材料的微观性质。通过高分辨率的图像，科学家们能够深入了解材料的原子结构和相互作用。[*][color=var(--tw-prose-bold)]细胞生物学：[/color]在细胞生物学研究中，透射电镜揭示了细胞内部结构的微观细节，如细胞器的形态、核糖体的排列等。这对于理解细胞功能和疾病机制至关重要。[*][color=var(--tw-prose-bold)]纳米技术：[/color]透射电镜在纳米技术研究中扮演着关键角色，帮助科学家们观察和操纵纳米尺度下的材料。这对于纳米电子学、纳米材料和纳米医学的发展具有深远影响。[/list][b][color=#ff0000]透射电镜的新领域探索[/color][/b][list=1][*][color=var(--tw-prose-bold)]生命科学的前沿：[/color]在生命科学领域，透射电镜正在探索单个生物分子的结构和相互作用。这为药物设计和生物医学研究提供了宝贵的信息。[*][color=var(--tw-prose-bold)]量子领域的启示：[/color]透射电镜在量子领域的研究中也展现了巨大潜力。科学家们正在利用透射电镜来观察和分析量子物质的行为，推动了量子信息和计算的发展。[/list][color=#ff0000][b]行业前景和挑战[/b][/color]透射电镜作为一项关键的实验室工具，其应用领域日益拓宽。然而，面临的挑战包括对样本制备的要求高、仪器昂贵以及操作技能的需求。未来，随着技术的不断创新，这些挑战有望逐渐得到解决，推动透射电镜在更多领域中的广泛应用。[b][color=#ff0000]结语[/color][/b]透射电镜的发展和应用为我们提供了一扇探索微观世界的窗户。从材料科学到生命科学，透射电镜的应用范围不断扩大，为科学研究、工程创新和医学进步提供了重要支持。通过深入了解透射电镜的原理和应用，我们有望揭开更多微观世界的奥秘，推动科学的边界不断拓展。如果你对透射电镜领域有更多疑问或想要分享相关经验，请在评论中留言，我们共同探索这个令人着迷的科学领域。

现阶段FEI,蔡司的双束FIB系统用于透射取样设备，基本上是3轴方向： 伸缩，“左右”移动，“上下”倾斜而做过透射制样的人都会发现，如果在微操作手臂拿起透射薄片时，如果能360度旋转的话将对于透射样品的减薄具有非常重要的意义，也更加提高了透射样品制备效率。即一般FIB取样设备只能从透射薄片的一侧一直减薄Polish, 而此特殊Lift Out装置是可以让操作控制取出来透射薄片全方位（360度）任一角度进行减薄。即为4轴方向的移动。X 20mm Y 20mm Z 5mm R unlimited Tilt +/- 10 其他更大的移动范围可以定制

真空镀铝膜生产几经波折后如今又在全国迅速发展，主要看重的是真空镀铝膜复合材料不仅在包装上具有很大前途，而且在工农业、通讯、国防和科研领域中得以广泛应用；真空镀膜产品在以后必将形成主流，具有很大的市场空间。 然而，在国内所有的真空镀膜生产厂家中能够生产出品质好的镀铝膜很少，所以才会出现上马快，下马也快的现象。 究其原因主要是真空镀膜行业还是处于一个发展的阶段，目前所有的真空镀膜厂家，都还没有使用一款合适的真空镀膜监测设备---真空镀膜光密度在线检测仪。所以在生产过程中很难控制好镀膜层厚度的均匀性，造成镀膜产品质量不过关，以至于镀膜品质不够好；而且生产效率低，真空镀膜生产厂家往往需要投入较大成本。 真空镀膜质量的影响因素较多，除了跟设备有关，还与操作人员的水平，技术人员的指导和合适的工艺条件有很大关系。 但是不可否认，决定真空镀膜产品品质的最重要因素是镀膜层厚度的均匀性；镀铝薄膜通常应用于具有阻隔性或遮光性要求的包装上使用，因此，镀铝层的厚度和表面状况以及附着牢度的大小将直接影响其镀铝膜性能。镀铝膜的检测主要体现在厚度、镀铝层牢度和镀铝层的表面状况等方面。 如果对镀铝膜检测方法有所了解的，就一定知道检测镀铝膜品质有一种方法叫光密度测量法，目前市场上深圳市林上科技已经研发生产出一款专门的光密度仪，它是用于直接测量镀铝膜的光密度值来判定镀铝膜产品品质的优劣。 薄膜表面镀铝的作用是遮光、防紫外线照射，既延长了内容物的保质期，又提高了薄膜的亮度，从一定程度上代替了铝箔，也具有价廉、美观及较好的阻隔性能。目前应用最多的镀铝薄膜主要有聚酯镀铝膜（VMPET）和CPP镀铝膜（VMCPP）。 由于真空镀铝薄膜上的镀铝层非常薄，因此不能用常规的测厚仪器检测其厚度，通常都是需要使用光密度法来检测。光密度（OD）定义为材料遮光能力的表征。它用透光镜测量。光密度没有量纲单位，是一个对数值，通常仅对镀铝薄膜和珠光膜进行光密度测量。 光密度是入射光与透射光比值的对数或者说是光线透过率倒数的对数。计算公式为D=log10（入射光/透射光）或OD=log10（1/透光率）。通常镀铝膜的光密度值为1－3（即光线透过率为10％－0.1％），数值越大镀铝层越厚，美国国家标准局的ANSI/NAPM IT2.19对试验条件做了详细规定。 但是对于国内众多真空镀膜厂家而言，需要在大批量的生产线上就能控制好镀膜产品的镀膜层厚度均匀性。那就需要使用透光率光密度在线检测仪，在真空镀膜生产线上实行连续监测，才能保证真空镀膜产品的质量，同时提高真空镀膜设备的在线生产效率，减少生产成本。

有哪位用过透射电镜中加配纳米压痕仪的吗？具体实现起来，效果如何呢？

[size=3][font=宋体]密度计是印刷厂常用的原稿测量仪器。是测量黑白原稿的灰度值和测量连续调或网点值的光电测量仪器。密度计分为透射式密度计和反射式密度计两种。透射式密度计适于测量透明原稿，反射式密度计适于测量实地原稿。密度计的测量范围是[/font][font=Times New Roman]0—2.5[/font][font=宋体]，数字越大，黑度越高。测量的基本原理是，衡量感光材料曝光和显影后的变黑程度即黑度。在制版时，感光材料上的溴化银，受到光照作用，显影后还原成金属银，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。带有滤光片的测量计，还可以测量彩色原稿的彩色密度。其测量原理与上述基本原理相近。[/font][/size][font=宋体][size=3]　　在物理实验中使用的密度计，是一种测量液体密度的仪器。它是根据物体浮在液体中所受的浮力等于重力的原理制造与工作的。密度计是一根粗细不均匀的密封玻璃管，管的下部装有少量密度较大的铅丸或水银。使用时将密度计竖直地放入待测的液体中，待密度计平[/size][/font][font=宋体][size=3]　　稳后，从它的刻度处读出待测液体的密度。常用密度计有两种，一种测密度比纯水大的液体密度，叫重表；另一种测密度比纯水小的液体，叫轻表。[/size][/font][font=宋体][size=3]　　[b]密度计原理[/b][/size][/font][size=3][font=宋体]　　物体的重力将物体拉向地面，但是如果将物体放在液体中，一种名为浮力的力量将产生反方向的作用力。[/font][font=Times New Roman] [/font][font=宋体]浮力的大小等同于物体取代的液体的重量，或者说是排开的水的重量。[/font][/size][font=宋体][size=3]　　密度计根据重力和浮力平衡的变化上浮或下沉。[/size][/font][font=宋体][size=3]　　一个功能完好的密度计仅能处于漂浮状态，因此浮力向上推的力量要比重力向下拉的力量稍微大一点。但在平衡的时候，其受的重力大小等于浮力。[/size][/font][size=3][font=宋体]　　因为密度计的体积没有发生变化[/font][font=Times New Roman], [/font][font=宋体]其排开水的体积相同[/font][font=Times New Roman]*[/font][font=宋体]。但是，因为其中包含了更多的水而变得更重。[/font][font=Times New Roman] [/font][font=宋体]当重力大于浮力时，密度计会下沉。[/font][font=Times New Roman] [/font][font=宋体]密度计的重量小于相同体积水的重量，所以密度计重新浮起。[/font][/size][font=宋体][size=3]　　密度计的读数是下大上小，当它浸入不同的液体中，体积不变示数发生变化，密度计底部的铁砂或铅粒是用来保持平衡的！[/size][/font][size=3][font=宋体]　　测量流体密度的物性分析仪器。与它相似的比重计是测量流体比重的仪器。密度是单位体积物质的质量[/font][font=Times New Roman] [/font][font=宋体]比重是液体或固体与水或者气体与空气在规定温度和压力时的密度比。水和空气在一定温度和压力时的密度是已知的，因此，在规定条件下的比重和密度是可以互换的。物质的密度或比重与物质的成分有关，所以常用密度计和比重计来检测如酒精、石油产品、酸碱溶液、煤气和天然气等的品质。密度计还可用于这类产品生产和加工过程的监测和控制。[/font][/size]

铝合金双喷制备透射样时，薄区出现许多小孔（筛孔）导致透光影响衬度，请问是什么原因引起的，应该怎样避免？另外样品为变形后的试样，位错密度很高。

透射电镜的样品制备是一项较复杂的技术，它对能否得到好的ＴＥＭ像或衍射谱是至关重要的．投射电镜是利用样品对如射电子的散射能力的差异而形成衬度的，这要求制备出对电子束＂透明＂的样品，并要求保持高的分辨率和不失真．　　电子束穿透固体样品的能力主要取决加速电压，样品的厚度以及物质的原子序数．一般来说，加速电压愈高，原子序数愈低，电子束可穿透的样品厚度就愈大．对于１００～２００ＫＶ的透射电镜，要求样品的厚度为５０～１００ｎｍ，做透射电镜高分辨率，样品厚度要求约１５ｎｍ（越薄越好）．　　透射电镜样品可分为：粉末样品，薄膜样品，金属试样的表面复型．不同的样品有不同的制备手段，下面分别介绍各种样品的制备．　　（１）粉末样品　　因为透射电镜样品的厚度一般要求在１００ｎｍ以下，如果样品厚于１００ｎｍ，则先要用研钵把样品的尺寸磨到１００ｎｍ以下，然后将粉末样品溶解在无水乙醇中，用超声分散的方法将样品尽量分散，然后用支持网捞起即可．　　（２）薄膜样品　　绝大多数的ＴＥＭ样品是薄膜样品，薄膜样品可做静态观察，如金相组织；析出相形态；分布，结构及与基体取向关系，错位类型，分布，密度等；也可以做动态原位观察，如相变，形变，位错运动及其相互作用．制备薄膜样品分四个步骤：　　ａ将样品切成薄片（厚度１００～２００微米），对韧性材料（如金属），用线锯将样品割成小于２００微米的薄片；对脆性材料（如Ｓｉ，ＧａＡｓ，ＮａＣｌ，ＭｇＯ）可以刀将其解理或用金刚石圆盘锯将其切割，或用超薄切片法直接切割．　　ｂ切割成φ３ｍｍ的圆片　　用超声钻或ｐｕｎｃｈｅｒ将φ３ｍｍ薄圆片从材料薄片上切下来．　　ｃ预减薄　　使用凹坑减薄仪可将薄圆片磨至１０μｍ厚．用研磨机磨（或使用砂纸），可磨至几十μｍ．　　ｄ终减薄　　对于导电的样品如金属，采用电解抛光减薄，这方法速度快，没有机械损伤，但可能改变样品表面的电子状态，使用的化学试剂可能对身体有害．　　对非导电的样品如陶瓷，采用离子减薄，用离子轰击样品表面，使样品材料溅射出来，以达到减薄的目的．离子减薄要调整电压，角度，选用适合的参数，选得好，减薄速度快．离子减薄会产生热，使样品温度升至１００～３００度，故最好用液氮冷却样品．样品冷却对不耐高温的材料是非常重要的，否则材料会发生相变，样品冷却还可以减少污染和表面损伤．离子减薄是一种普适的减薄方法，可用于陶瓷，复合物，半导体，合金，界面样品，甚至纤维和粉末样品也可以离子减薄（把他们用树脂拌合后，装入φ３ｍｍ金属管，切片后，再离子减薄）．也可以聚集离子术（ＦＩＢ）对指定区域做离子减薄，但ＦＩＢ很贵．　　对于软的生物和高分子样品，可用超薄切片方法将样品切成小于１００ｎｍ的薄膜．这种技术的特点是样品不会改变，缺点是会引进形变．　　（３）金属试样的表面复型　　即把准备观察的试样的表面形貌（表面显微组织浮凸）用适宜的非晶薄膜复制下来，然后对这个复制膜（叫做复型）进行透射电镜观察与分析．复型适用于金相组织，断口形貌，形变条纹，磨损表面，第二相形态及分布，萃取和结构分析等．　　制备复型的材料本身必须是＂无结构＂的，即要求复型材料在高倍成像时也不显示其本身的任何结构细节，这样就不致干扰被复制表面的形貌观察和分析．常用的复型材料有塑料，真空蒸发沉积炭膜（均为非晶态物质）　．　　常用的复型有：ａ塑料一级复型，分辨率为１０～２０ｎｍ；ｂ炭一级复型，分辨率２ｎｍ，ｃ塑料－炭二级复型，分辨率１０～２０ｎｍ；ｄ萃取复型，可以把要分析的粒子从基体中提取出来，这种分析时不会受到基体的干扰．　　除萃取复型外，其余复型只不过是试样表面的一个复制品，只能提供有关表面形貌的信息，而不能提供内部组成相，晶体结构，微区化学成分等本质信息，因而用复型做电子显微分析有很大的局限性，目前，除萃取复型外，其他复型用的很少．

前天遇到一台721分光光度计在质监局检定，在波长440nm处的透射比准确度不过。说明：透射比准确度就是仪器检定指标里的光度准确度。遇到这个问题，其实我也是一点概念都没有。只是硬着头皮去试试看。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/02/201202170747_349619_1786353_3.gif721的光路如上图。这台仪器是上海航空研究所什么的，跟精科的721结构一样，至于电路上，可能不同，没看。先看了看上图中的棱镜和准直镜，看着非常洁净，没有灰尘。然后就百无聊赖的去看看其他光学元件。看着钨灯有很多灰尘，就清洁了干净。这台仪器保养得还是非常的好，其他的光学元件都非常干净。清洁好了后，再调整了下光路，样品室看到的光斑更大更亮了。到这里，我也只能做这些了。索性让质监局的再检定一下。没想到440nm处的透射比准确度过了。其他波长处的透射比准确度也问题。如果清洁了光路还是不行的话，我就怀疑是不是光电管的光谱特性变化了。这算是光度准确度问题解决的一例吧。给遇到相同问题的同胞一个启示。

1. Table Top TEM 特点桌上型低压透射电镜（Low Voltage Tem5,LVEM5）是DELONG INSTRUMENTS为了在5KV低压、小型化下实现超高的性能、多样应用，并且集中其各方面电子显微镜领先技术而设计出来的。低压桌上型电镜（Low Voltage Tem5）近年在欧美已应用于高端生命科学、材料科学研究机构，已被高端用户所接受。现在将全面向用户推广，包括大学生命科学、材料科学研究机构、医学中心、制药、病理等等。2. LVEM5优势又称迷你型透射电镜。2.1 多模式（TEM/STEM/SEM/ED）四种模式间简单快捷切换一台透射电镜——集成四种图像模式。2.2 对比度高（生物/轻材料非染色应用）对生物、轻材料，传统电镜难以优化样品本身的结构差异，而难以获得好的反差。因为高能电子束不能区分轻材料中的密度和原子序数。Low Voltage Tem5在低能电子束下对密度和原子序数有很高的灵敏度，在0.005g/cm³这样小的密度差别中仍能显示很好的反差。2.3 避免染色剂危害尽管传统电镜应用中，样品经重金属染色剂染色后，提高了反差，但是事实上所有重金属染色剂对我们人体是有害的，操作必须非常小心并需严格控制；重金属染色剂与样品互相作用，并歪曲样品本身真实结构；重金属染色剂由于其强碱性，可能完全破坏样品。2.4 操作简单培训操作简单，易于全面理解；软件提供用户友好操作界面，如那件有很好的防错设计；操作确保简单易懂，无繁琐过程。2.5 低成本无场所改装要求；无冷却水、防震、外加电源要求；无须专职操作人员；耗材几乎为零。3. 先进技术3.1 低电压——高对比度LVEM5采用低电压设计，最高电子能量只有5KeV，大幅降低电子能量时，可达到较传统TEM更高对比度的图像。举例来说，对20nm碳膜样品，当加速电压由100kV降到5kV时，电子散射大大加强，对比度提高10倍以上。其独特的设计，使元素（H，C，N，O，S，P）样品能达到高对比度的观察效果，而且完全不需要染色或定影（Staining or shadowing）。而当样品由更重的元素组成时，只要其状态满足以下要求，也可以采用本仪器。纳米量级；聚合状态，并置于适合的包埋基质中（此时放大率较低）；直接置于碳涂层网格之上。在所有模式下，LVEM5的空间分辨率约为2nm。3.2 电子、光学双级放大设计 LVEM5设计上与传统TEM的最大不同之处是电子、光学双级放大设计：电镜所成的TEM图像经过LVEM5中纯光学显微镜的二次放大。最大放大倍数近150000倍，其中TEM电镜放大36360倍，光学显微镜40400倍。 LVEM5中的YAG（钇铝石榴石）屏就是电子、光学图像的转换器，TEM电镜成像于YAG屏上，该图像包含纳米量级的细节信息，并经过光学显微镜进一步放大。由于TEM电镜仅放大360倍，而且电压低（X-Ray防护要求低），因此该TEM为小型透射电镜，与普通光学显微镜大小相当。TEM模式下的最大放大率接近200,000，其ijieguo能够通过屏幕（采用数字照相机）或双目镜观察到。3.3 [font='STXihei','sans-serif

光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。　　　　绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。　　　　曾经研究过光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系。所有这些测量都指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。

赌玉，能否用光谱仪进行扫描，透射，然后进行判断包括核桃的赌青皮等

这个可是国内第一家哦，耗时2年，终于下来了 单晶硅红外透射比标准物 GBW(E)130413、 标准值 不确定度单位波长（cm-1）(4000)0.537 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(3500)0.538 0.007 红外透射比值波长（cm-1）(3000)0.540 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2500)0.541 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2000)0.542 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1300)0.519 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1000)0.500 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(500)0.456 0.008 红外透射比值以前还有红外透射比标准物质 GBW(E)130391、不过那是10%的

我的粉末在扫描电镜下看到有开口，猜测是空的，但是不能保证，想做透射电镜看一下，粉末20-30微米，能不能做透射电镜阿？我先包埋后抛光用SEM看看不行的话就切片谢谢大家

近红外透射技术测定糙米和精米的直链淀粉，在育种选育中具有很好的应用并为国际水稻中心IRRI所采用。近红外透射技术具有省时，完全不需样品研磨的优点，因而避免了样品研磨时所产生的灰尘和噪音，实验过程不需任何化学试剂和人工的数据计算等因素，在育种研究中具有很好的应用。

一、分析信号1、扫描电镜扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动（声子）、电子振荡（等离子体）。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息；对X射线的采集，可得到物质化学成分的信息。2、透射电镜根据德布罗意（De Broglie,20世纪法国科学家）提出的运动的微观粒子具有波粒二象性的观点，电子束流也具有波动性，而且电子波的波长比可见光要短得多（例如200千伏加速电压下电子波波长为0.00251纳米），显然，如果用电子束作光源制成的显微镜将具有比光学显微镜高得多的分辨能力。更重要的是，由于电子在电场中会受到电场力运动，以及运动的电子在磁场中会受到洛伦兹力的作用而发生偏转，这使得使用科学手段使电子束聚焦和成像成为可能。二、功能 1、扫描电镜1）扫描电镜追求固体物质高分辨的形貌，形态图像（二次电子探测器SEI)-形貌分析(表面几何形态，形状，尺寸） 2）显示化学成分的空间变化，基于化学成分的相鉴定——化学成分像分布，微区化学成分分析1)用x射线能谱仪或波谱（EDS or WDS）采集特征X射线信号，生成与样品形貌相对应的，元素面分布图或者进行定点化学成分定性定量分析，相鉴定。 2)利用背散射电子(BSE）基于平均原子序数(一般和相对密度相关）反差，生成化学成分相的分布图像；3)利用阴极荧光，基于某些痕量元素（如过渡金属元素，稀土元素等）受电子束激发的光强反差，生成的痕量元素分布图像。4)利用样品电流，基于平均原子序数反差，生成的化学成分相的分布图像，该图像与背散射电子图像亮暗相反。5)利用俄歇电子，对样品物质表面1nm表层进行化学元素分布的定性定理分析。3）在半导体器件（IC)研究中的特殊应用：1）利用电子束感生电流EBIC进行成像，可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究2）利用样品电流成像，结果可显示电路中金属层的开、短路，因此电阻衬度像经常用来检查金属布线层、多晶连线层、金属到硅的测试图形和薄膜电阻的导电形式。3）利用二次电子电位反差像，反映了样品表面的电位，从它上面可以看出样品表面各处电位的高低及分布情况，特别是对于器件的隐开路或隐短路部位的确定尤为方便。4）利用背散射电子衍射信号对样品物质进行晶体结构（原子在晶体中的排列方式），晶体取向分布分析，基于晶体结构的相鉴定。2、透射电镜 早期的透射电子显微镜功能主要是观察样品形貌，后来发展到可以通过电子衍射原位分析样品的晶体结构。具有能将形貌和晶体结构原位观察的两个功能是其它结构分析仪器（如光镜和X射线衍射仪）所不具备的。透射电子显微镜增加附件后，其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察（TEM）、原位的电子衍射分析（Diff），发展到还可以进行原位的成分分析（能谱仪EDS、特征能量损失谱EELS）、表面形貌观察（二次电子像SED、背散射电子像BED）和透射扫描像（STEM）。结合样品台设计成高温台、低温台和拉伸台，透射电子显微镜还可以在加热状态、低温冷却状态和拉伸状态下观察样品动态的组织结构、成分的变化，使得透射电子显微镜的功能进一步的拓宽。透射电子显微镜功能的拓宽意味着一台仪器在不更换样品的情况下可以进行多种分析，尤其是可以针对同一微区位置进行形貌、晶体结构、成分（价态）的全面分析。三、 衬度原理1、扫描电镜1）质厚衬度质厚衬度是非晶体样品衬度的主要来源。样品不同微区存在原子序数和厚度的差异形成的。来源于电子的非相干散射，Z越高，产生散射的比例越大；d增加，将发生更多的散射。不同微区Z和d的差异，使进入物镜光阑并聚焦于像平面的散射电子I有差别，形成像的衬度。Z较高、样品较厚区域在屏上显示为较暗区域。图像上的衬度变化反映了样品相应区域的原子序数和厚度的变化。质厚衬度受物镜光阑孔径和加速V的影响。选择大孔径（较多散射电子参与成像），图像亮度增加，散射与非散射区域间的衬度降低。选择低电压（较多电子散射到光阑孔径外），衬度提高，亮度降低。支持膜法和萃取复型，质厚衬度图像比较直观。 2）衍射衬度衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异。例如电压一定时，入射束强度是一定的，假为L，衍射束强度为ID。在忽略吸收的情况下，透射束为L-ID。这样如果只让透射束通过物镜光阑成像，那么就会由于样品中各晶面或强衍射或弱衍射或不衍射，导致透射束相应强度的变化，从而在荧光屏上形成衬度。形成衬度的过程中，起决定作用的是晶体对电子束的衍射。2、透射电镜晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究，这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候，观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量，对相衬图像的识别更加复杂。非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，即质量厚度衬度（质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量），也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的，对电子的吸收散射作用强，使电子散射到光栏以外的要多，对应较安的衬度。质量厚度数值小的，对应较亮的衬度。四、对样品要求1、扫描电镜SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度极小的薄层来说，造成的误差更大

求助！纳米粉体做透射观察形貌问题： 1、一种粉体是亲水的，可以直接用离子水做稀释溶解溶剂吗？ 2、不亲水的纳米粉体用乙醇？ 3、铜网用微珊的还是只是普通碳膜的？ 粉体的大小在10nm-50nm之间，之上的一般浓度是多少最为合适？

用分光光度计测得了透射光谱怎么才能够从这些数据得出禁带宽度呢

活跃在透射电子显微镜领域内的名家，可分为两种类型：从事电子显微学研究的和使用透射电镜的。无论是国内国外，大多数是后者，前者风毛麟角。其中的最主要的原因是做材料或生物研究，远比做职业电镜研究容易弄到经费；也更容易跟随世界的潮流，准晶、超导、纳米、HIV、SARS、禽流感，什么热就做什么，既提高文章引用率，也提高知名度；更何况电子显微学被视为边缘物理学科，不为正宗的物理接纳。现代材料研究几乎已经离不开透射电镜，即使透射不重要，文章上贴一两张透射照片，也似乎提高文章的档次。透射电镜在生产界，除了传统的冶金业、化工业等，时髦的半导体业也开始使用透射电镜。一个透射电镜高手，不是靠听几节课就可造就的，而需要长期的经验积累。有了透射电镜的一招鲜，找到一个混饭吃的地方还是比较容易的。实际上，国内一些好仪器没能充分发挥，跟缺少有经验的人手很有关系。如果你觉得你的功底不错，有雄厚的晶体学、光学、原子物理、量子物理（还有什么我忘掉的？）基础，而又不在乎磅锤磨针之功，你可选择职业电子显微学研究。其优点在于，有了基础，你可较容易地改换门庭去做其它材料研究。