日立高新开发“NEXTA STA系列”同步热分析仪 四大亮点抢先看
p strong 仪器信息网讯 /strong 2019年5月9日,日立高新技术公司旗下全资子公司、分析仪器制造商和营销商——日立高新技术科学公司(HHT Science)开发了新的“NEXTA STA系列”同步热分析仪并将在日本和海外市场推出。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201907/uepic/3f360265-8f3d-4c84-8698-0726b1a26d39.jpg" title=" NEXTA STA.png" alt=" NEXTA STA.png" / /p p style=" text-align: center " strong NEXTA STA /strong /p p 热分析仪器广泛应用于科学研究和质量控制等领域,涵盖了有机材料(如塑料、复合材料)和无机材料(如陶瓷、合金)。热分析技术包含了测量质量变化的热重分析法和测量温度变化的差示扫描量热法。近年来,由于材料的功能化和复杂化现象日益广泛,对热分析仪器的性能要求也越来越高。 /p p 传统的热分析仪可以同时进行TG-DTA测量。然而,DSC可以比DTA更精确地量化样品热流的变化。因此,用户对TG-DSC同步测量的需求增加了。由于热流测量精度的改进提高,HHT科学研发了能同时进行TG-DSC测量的NEXTA STA系列。 /p p strong 高测量灵敏度 适用于微量样品分析测试和成分分析 /strong /p p NEXTA STA系列继续采用“水平数字双光束系统”,仪器具备高灵敏度 引入新的机制消除了炉温变化造成天平的微小质量误差,从而呈现一流的基线表现。 /p p NEXTA STA支持流行的Real View& reg 样品观察热分析。 /p p br/ /p p strong 四大亮点 /strong /p p span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 一流的TG基线性能 /strong /span /p p 通过引入天平温度控制机制,最大程度减小了加热炉温度变化对测量结果的影响,使得在室温到1000° C范围内因加热引起的最大重量波动仅10µ g,呈现出一流的基线表现。 /p p strong span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 最新的TG-DSC测量技术 /span /strong /p p 与传统TG-DTA方法相比,TG-DSC技术在量化热流(温度)变化方面具有优势。该仪器支持多种质量变化和热流变化的同步定量分析。 /p p strong span style=" color: rgb(255, 0, 0) " 改善气体置换性能 /span /strong /p p 通过对气路的重新设计,提高了气体置换性能。 /p p strong /strong span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 质量流量控制 /strong /span /p p 质量流量控制是日本制造商首次提供的标准功能,可以改善气体控制的可靠性和可操作性。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201907/uepic/9fe8bb13-4357-43e7-9107-69e6a01e7924.jpg" title=" Digital horizontal differental System.png" alt=" Digital horizontal differental System.png" / /p p style=" text-align: center " strong Digital horizontal differental System /strong /p