非金属厚度测试仪

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非金属厚度测试仪相关的厂商

  • 上海华龙测试仪器有限公司 金牌7年
    400-860-5168转4077
    上海华龙测试仪器有限公司是智能化、数字化、自动化试验机产品专业生产企业，是经国家批准授权的“中华人民共和国进出口企业”。 1999年通过 ISO9001（1994版）国际质量体系认证，2002年通过 ISO9001（2000版）中国和美国国际质量体系认证。2000年被上海市政府认定批准为“上海市高新技术企业”。2008年被国家科学技术委员会等部委认定批准为“国家高新技术企业”。2002年起连续被上海市浦东新区质量技术监督局授予企业 “质量管理先进集体”称号。2007公司研发中心年被上海市浦东新区人民政府认定批准为“浦东新区企业技术开发机构”和2004-2006年度“浦东新区先进集体”，被上海市政府授予2004-2006年度“上海市劳模集体”， 2007年公司被浦东新区人民政府考核评定为“浦东新区科技创新基地”在全国各省区重点城市设置26个营销技术服务中心，在美国、法国、西班牙、新加坡、马来西亚、香港设立了国外营销代理机构。产品广泛应用于航空航天、国防军工、机械制造、车辆船舶、钢铁冶金、电线电缆、塑料橡胶、建筑建材、大专院校、科研院所、商检质检等国民经济各领域，对各类金属、非金属、构件、成品、新材料的各项物理力学性能测试、分析和研究。企业现有员工300余人，其中大专以上学历员工为161人，16年来，企业共研发完成79大系列800余个产品种的试验机，先后有四大系列产品荣获“上海市重点新产品”，两大系列产品荣获“国家重点新产品”，八大系列产品被市科委评定为“上海市高新技术成果转化项目”。产品遍布国内各省区，并远销美国、德国、西班牙、南非、韩国、巴基斯坦、巴布亚新几内亚、马来西亚、泰国、新加坡等国际市场。上海华龙测试仪器有限公司位于上海市浦东新区川沙经济园区，企业占地23500 m2，建筑面积16800m2，绿化面积3800 m2，企业资产总计9600余万元，具有科研办公大楼、电装调试楼、工装工艺楼、总装车间、机加车间、下料车间、冷作车间、计量室、样机室等齐全的生产和办公设施。本公司拥有大型精密镗床、微控线切割、龙门刨床、数控铣床、卧式数控车床、高精外圆磨床、平面磨床、数控氩弧焊、剪板机、折弯机等各类精密加工设备和检测设备386台套。企业年产试验机生产能力可达1500余台。我公司研发的所有产品均具独立自主知识产权，拥有38项“中华人民共和国专利”。在提高产品质量，提升品牌价值的同时，公司注重工艺、工装设计，提高标准化、系列化、规范化能力，将产品研制生产的全过程纳入ISO9001质量体系，全面进行受控管理。公司将竭诚为国内外客户，为世界计量检测工作的发展，做出新的贡献。
    主营产品： 万能试验机   拉力试验机   压力试验机  
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  • 南京厚方贸易有限公司
    公司位于长江大桥入口，建宁路98金海市场，交通方便。经营的产品：工程检测及试验仪器（非金属超声波检测仪，数显回弹仪，楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪，基桩检测仪，低应变检测仪，裂缝测宽仪，裂缝测深仪，钢筋锈蚀仪，工程检测工具）测绘仪器（全站仪，经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪）；建筑装璜仪器（激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺，投点仪）；；勘测仪器（地下管线仪、测深仪）；通讯设备（对讲机，手持GPS,RTK GNSS）；工业检测仪（接地电阻，漏电开关，红外测温仪，风速计，噪音计，照度计，拉拔仪，金属探测仪）
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  • 北京神州华测科技有限责任公司
    北京神州华测科技有限责任公司(Beijing Sinotesting Technology Co.,Ltd.)坐落于风景优美的北京市中关村高科技园区德胜园区，是由一批在无损检测行业从业多年经验丰富的高级研发和销售人员组建而成，除了具有强大的仪器研发能力外，还具有在建工、桥梁、隧道、公路、港口、机场等多个领域丰富的检测经验，通过与首都多所著名高校和科研机构合作，为用户提供高质量工程质量检测设备和检测技术咨询服务。 我公司自主研发的C系列非金属超声波检测仪、C系列声透法自动侧桩仪、R系列钢筋位置及保护层厚度测定仪、锈蚀测试仪、钢筋位置和锈蚀测定仪、H系列非金属板厚度测试仪、Q系列混凝土强度测试仪被国家工程质量检测中心、中国电力科学院、中国冶金建研院、哈尔滨工业大学、辽宁省建科院、广东省建科院、中铁五局、葛洲坝集团试验检测有限公司等众多的权威检测单位和科研院所广泛使用并获得用户的一直好评。 其中C系列非金属超声波检测仪除了自动判读声参量、信号接收能力强、人性化界面设计等优点外，最鲜明的特色是可直接外接回弹仪进行超声回弹综合法检测混凝土强度，此功能已申请国家**。 Q61混凝土强度测试仪除了可以用于普通的回弹测试外，还可以测试声时、声速及回弹值，一机完成超声回弹综合法测试混凝土强度，为国内外首创产品，荣获国家发明**和国家实用新型**。 R71钢筋位置和锈蚀测定仪因可以同时测试钢筋的保护层厚度、钢筋位置及钢筋的锈蚀程度而获国家**。神州华测将致力于国内的无损检测技术、方法研究，并为建筑交通等行业提供高质量的无损检测设备。 我们的口号是：“神州华测仪器--无损精品，誉满神州” 我公司的宗旨是：“开拓、创新、合作、共赢” 我们的服务理念是：“每一台仪器都是精品，每一位用户都是上帝” 我们的服务承诺是：“三分钟之内回复，三十分钟内提供解决方案，三天内完成仪器维修
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非金属厚度测试仪相关的仪器

  • 非金属材料介电常数测试仪GCSTD-A/Bb 400-860-5168转5928
    GCSTD-A/B高频介电常数及介质损耗测试仪 非金属材料介电常数测试仪GCSTD-A/Bb主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
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    厂商： 北京中科微纳精密仪器有限公司
    品牌： 中科微纳/ZKWN
    型号： GCSTD-A/Bb
    价格： 1.3万元
  • 厚度测试仪 400-860-5168转4961
    PTT-03A厚度测试仪产品简介：产品特征：PTT-03A厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量；可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制；嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验标准化，模块化，系列化的设计理念，可大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 高精度测厚传感器，精度高重现性好可采用标准厚度计量工具标定、检验多种测试量程可选实时显示测量结果的最-大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断高精度薄膜厚度测试仪技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选)分辨率 0.1μm （1μm可选）测试速度 1～25次/min测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验）精度 ±＜0.3μm测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)约净重 30Kg
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    厂商： 山东普创工业科技有限公司
    品牌： 普创/paratronix
    型号： PTT-03A
    价格： 1000元
  • 冠测仪器非金属介电常数测试仪GCSTD-AB 400-860-5168转2010
    冠测仪器非金属介电常数测试仪GCSTD-AB主要用途:主要用于测量非金属材料的介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）应用对象:该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。满足标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量GB/T 21216-2007绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法GB/T 1693-2007硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法方法概述：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。备注说明:三种不同型号的仪器,主要区别是频率不同,根据自己测试频率,选择合适的型号电极规格固体：材料测量直径Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）粉体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）试样要求：固体样品厚度要求：0.5-15MM产品配置：1、测试主机：一台2、测试电感：9个3、测试夹具：1套（标配固体测试夹具一套）其它规格：1、环境温度：0℃～+40℃； 2、相对湿度：80％； 3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。4、消耗功率：约25W； 5、净重：约7kg；6、外型尺寸：（长宽高）：380×280×132（mm）
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    厂商： 北京冠测精电仪器设备有限公司
    品牌： 冠测仪器
    型号： GCSTD-AB
    价格： 4715元
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非金属厚度测试仪相关的资讯

  • 发布热阻测试、热流法导热系数测试仪新品
    DRL-III导热系数测试仪（热流法）一、产品概述 该导热系数仪采用热流法测量不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔。测量参照标准 MIL-I-49456A高分子材料，陶瓷，绝缘材料，复合材料，非金属材料，玻璃，橡胶，及其它的具有低、中等导热系数的材料。仅需要比较小的样品。薄膜可以使用多层技术准确的得到测量。二、主要技术参数：1：热极温控： 室温～200℃, 测温分辨率0.01℃2：冷极温控：0～99.99℃，分辨率0.01℃3：样品直径：Ф30mm，厚度0.02-20mm；4：热阻范围：0.000005 ～ 0.05 m2K/W5：导热系数测试范围： 0.010-50W/mK， 6：精度 ≤±3%7：压力测量范围：0～1000N8: 位移测量范围：0～30.00mm9：实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、老化可靠性测试。10：配有完整的测试系统及软件平台。11：操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告打印输出。三、仪器配置：1.测试主机 1台, 2.恒温水槽 1台， 3.测试软件 1套，4.胶体粉体样品框1个，*4.计算机（打印机）用户自备典型测试材料：1、金属材料、不锈钢。2、导热硅脂。3、导热硅胶垫。4、导热工程塑料。5、导热胶带(样品很薄很黏，难以制作规则的单个样品，一边用透明塑料另外一边用纸固定)。 6、铝基板、覆铜板。 7、石英玻璃、复合陶瓷。8、泡沫铜、石墨纸、石墨片等新型材料。创新点：样品夹在两个热流传感器中间测试，温度梯度固定或可调。使用内嵌的控制器或外部电脑测得样品的导热系数与热阻。自动上板移动与样品厚度测量，所有测试参数与校正数据可存于电脑内。对校正测试与样品测试进行温度程序编制、数据查看与储存。
    时间： 2019-07-22
    作者： 新品发布
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期，国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》，这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步，另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此，作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津，按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明，岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器：岛津SPM-9700HT02图像分析软件：WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下：利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线，轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向（X轴）。将3条轮廓线数据导出，利用EXCEL软件进行处理，分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算：利用标准中的公式计算公式图片来源：《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm，由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
    时间： 2021-09-01
    作者： 岛津
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时，我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说，如果你想要更多的保护，你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是，如果你将材料的厚度增加一倍，阻隔水平也会增加一倍，相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大？很少有人去了解的是，较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是，厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下，每次材料厚度增加一倍，渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中，1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day）。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day)，需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到，对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时，最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时，整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍，测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加，需要更多的时间（超过5倍）来测试样品以达到平衡。如图所示，渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件（例如WVTR和CO2TR的流速）和测试持续时间以确保平衡值时，需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
    时间： 2024-02-26
    作者： 膜康
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  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持，天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪，为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技，并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案，增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司（中国）特举办—— 注：1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司（中国）所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

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非金属厚度测试仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • 残余应力测试仪器
    JHMK多点残余应力测试仪器JHMK多点残余应力测试仪器是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统，在软件进行设置后，自动实时计算残余应力，并实时显示和保存应力应变数值，使测量直观明了，精度高。JHMK多点残余应力测试仪器应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力：各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求，仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。5.适合各种应变花，设置简单方便，并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡，不损失测量范围，程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线，并生成残余应力报告；8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息，可搜南京聚航网查看详情，电联聚航。
    供应商： 南京聚航科技有限公司
    品牌： 聚航科技
    价格： ¥99999
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