圆偏振发光光谱仪

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。系统组成：激发光源+ 样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数● 激发光源：HeCd激光器● 激发光功率：20mW● 激发波长：325nm● 瑞利散射截止滤光片，OD6● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.2nm● 波长重复性：±0.1nm● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“OmniPLMicroS”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。性能特点： 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用 性 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样 品形态 超宽光谱范围**——200nm-1600nm 视频监视光路——可供精确调整测试点 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询；**需根据实际需要进行配置确定。参数规格表*应用:不同制冷温度下GaN材料的PL谱激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机最低制冷温度：10K ZnO材料的PL谱: 激发波长：325nm ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。

PMEye-3000光致发光光谱成像（PL-Mapping）测量系统是卓立汉光最新研制的，用于LED外延片、半导体晶片、太阳能电池材料等，在生产线上的质量控制和实验室中的产品研发检测。该系统对样品的PL谱进行Mapping二维扫描成像，扫描结果以3D方式进行显示，使检测结果更易于分析和比较。该系统的软件窗口界面友好，操作简单，只需简单培训就能使用。测试原理：PL（光致发光）是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。PL是一种用于提供半导体材料的电学、光学特性信息的光谱技术，可以研究带隙、发光波长、结晶度和晶体结构以及缺陷信息等等。应用领域举例：LED外延片，太阳能电池材料，半导体晶片，半导体薄膜材料等检测与研究。 主要特点：◆ PLMapping测量◆ 多种激光器可选◆ Mapping扫描速度：180点/秒◆ 空间分辨率：50um◆ 光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆ Mapping结果以3D方式显示◆ 最大8吋的样品测量◆ 样品精确定位◆ 样品真空吸附◆ 可做低温测量◆ 膜厚测量一体化设计，操作符合人体工学PMEye3000 PL Mapping测量系统采用立式一体化设计，关键尺寸根据人体工学理论设计，不管是样品的操作高度和电脑使用高度，都特别适合于人员操作。主机与操作平台高度集成，方便于在实验室和检测车间里摆放。仪器侧面设计有可收放平台，可摆放液晶显示器和鼠标键盘。仪器底部装有滚轮，方便于仪器在不同场地之间的搬动。模块化设计PMEye-3000 PL Mapping测量系统全面采用模块化设计思想，可根据用户的样品特点来选择规格配置，让用户有更多的选择余地。激发光源、样品台、光谱仪、探测器、数据采集设备都实现了模块化设计。操作简便、全电脑控制PMEye-3000 PL Mapping测量系统，采用整机设计，用户只需要根据需要放置检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，避免了用传统方式固定样品而造成的损坏；可对常规尺寸的LED外延片样品进行精确定位，提高测量重复精度。两种测量方式,用途更广泛系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。监控激发光源,校正测量结果一般的PL测量系统只是测量荧光的波长和强度，而没有对激发光源进行监控，而激发光源的不稳定性将会对PL测量结果造成影响。PMEye-3000 PL Mapping测量系统增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对PL测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差。激光器选配灵活PMEye-3000 PL Mapping测量系统有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个405nm波长高稳定激光器。用户可以根据测量对象选配不同的激光器，使PL检测更加精准。可选配的激光器波长有： 405nm，442nm，532nm、785nm、808nm等，外置选配激光器波长为：325nm。自动Mapping功能PMEye-3000 PL Mapping测量系统配置200× 200mm的二维电控位移台，最大可测量8英寸的样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域、扫描步长、扫描速度等，扫描速度可高达每秒180个点，空间分辨率可达50um。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。 软件功能丰富,操作简便我们具有多年的测量系统操作软件开发经验，,熟悉试验测量需求和用户的操作习惯，从而使开发的这套PMEye-3000操作软件功能强大且操作简便。MEye-3000操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量，给定光谱范围的X-Y Mapping测量及根据测量数据进行峰值波长、峰值强度、半高宽、给定波长范围的荧光强度计算并以Mapping显示，Mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎涵盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。

1．偏振片：通常是指将二向色性物质涂在透明薄片上制成的偏振片，此种偏振片损伤阈值较小，而且无法分离出p偏振光和s偏振光；A. OPSP系列偏振片偏振片(Plastic Sheet Polarizers)选型表：偏振片(Plastic Sheet Polarizers)型号名称尺寸(mm)通光孔径Ф0(mm)波长范围(nm)OPSP12.7偏振片Ф12.7*4mm8.9400-700OPSP25.4偏振片Ф25.4*4mm20.3400-700B. 偏振片（进口）1)偏光板示意图及尺寸图：相关说明： 1.把含有卤化银的玻璃融解，再经过热处理，延伸，研磨和还原工序而制成的偏光器件。其制作过程大致如 下:在热处理工序中沉淀出卤化银粒子，然后把玻璃加热到软化点附近并延伸，这样卤化银粒子就会变成 椭圆形，研磨后再进行氢还原，把卤化银粒子还原为银。 2.玻璃中的银椭圆粒子的长轴方向平行的电场被吸收，具有和其长轴垂直方向的电场的光通过。 3.透过方向：100W/cm2（CW）、6J/cm2、脉冲宽度13ns（脉冲）吸收方向：25W/cm2（CW）、0.1J/cm2、 脉冲宽度13ns（脉冲）有效尺寸（mm）8.5× 8.5PLC系列铬膜分束镜（SIGMA）选型表：型号保护框尺寸（mm）波长范围（nm）最小透过率（%）PLC-10-660ø 30× 6630~70083PLC-10-800ø 30× 6740~86091PLC-10-900ø 30× 6840~96094PLC-10-1060ø 30× 6960~116095PLC-10-1310ø 30× 61275~134598PLC-10-1550ø 30× 61510~1590982)薄膜偏光板示意图及曲线图：相关说明： 1.薄膜偏光板是一种薄膜滤光镜，此膜夹在两块玻璃中间，并安装在一个铝框内； 2.它不仅可以从一个非偏光中提取线偏光，而且，还可以象ND 滤光片一样用作光衰减器； 3.三种波长可选：紫外用（320～400nm）；可见光用（400～700nm）；近红外用（760～2000nm）； 4.使两块偏光板处于通光状态(开)，通过一束直线偏光{两块透过率(平行放置)} 使两块偏光板处于 不通光状态(关)，没有光通过{两块透过率(正交放置)}。我们称此时的透过率为消光比。薄膜偏光板（SIGMA）选型表:型号使用波长（nm）保护框尺寸（mm）厚度（mm）通光孔径（mm）防反射膜NSPFU-30C320~400Ф30× 62.4ø 24SLAR (双面)SPF-30C-32400~700Ф30× 63ø 24BMAR(双面)SPF-50C-32400~700Ф30× 63ø 44BMAR(双面)SPFN-30C-26760~2000Ф30× 63ø 24SLAR (双面) 3)塑料薄膜偏光板(进口)示意图及曲线图：塑料薄膜偏光板（SIGMA）选型表:型号设计波长（nm）D（mm）T（mm）USP-25.4C-38400~700ø 25.40.8USP-30C-38400~700ø 30.00.8USP-50C-38400~700ø 50.00.8USP-100C-38400~700ø 1000.8C. 超快激光用偏振片（进口）曲线图、示意图及相关参数： 选型表：

圆偏振荧光光谱仪CPL-300 在圆二色的基础上，人们发现手性发光体系发射出的左、右圆偏振光强度不同，这种现象称为圆偏振发光（Circularly Polarized Luminescence ,简称CPL），常规的圆二色谱仪CD仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。主要用于研究手性发光体系的发射态（激发态）结构的特征。 主要应用：* 对镧系锕系离子配合物的光学性能研究* 对有机小分子的研究* 对生物体系的研究* 对过渡金属配合物及晶体的研究 测试原理:当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被认为是圆偏振发光性（CPL）。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。 技术特点:-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比

JASCO日本分光株式会社1961年研制生产出圆二色光谱仪投入科研使用后，经多年发展，圆二色光谱仪（ＣＤ）产品技术和各项性能均稳定可靠，随着产品及技术升级，JASCO推出手性全系列产品如圆二色光谱仪、振动圆二色光谱仪、圆偏振发光测量系统、旋光仪等，其先进的技术和更加卓越的性能满足和实现手性物质各方面复杂研究应用。1、应用范围-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究-聚集诱导发光领域研究………2、测试原理手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被称为圆偏振发光现象（Circularly Polarized Luminesence: CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，通过CPL测量可以获取手性分子在激发态的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法，采用标准的无臭氧150W Xe灯或者可更换为Hg / Xe源，仪器双棱镜激发和发射单色器提供极低杂散光，可消除衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。CPL-300是迄今结合手性测定技术而推出的一款高灵敏度圆偏振发光测量装置3、技术特点&bull 双光源设计，软件自由切换标配150W无臭氧氙灯，满足紫外可见近红外波长测试需求；内置汞灯设计，可实时根据需要自主进行波长校准检验。&bull 双棱镜分光系统系统激发侧和发射侧都采用双棱镜单色仪，极大限度的抑制杂散光，同时避免了使用光栅过程二阶衍射、伍德异 常及线偏振的影响，确保测试数据的准确性。&bull 180°非偏振光直接激发样品对于溶液、固体或者难溶性样品，180°直接激发，避免样品激发过程中伪影的产生。&bull 快速数据收集和处理CPL信号和荧光信号同时测量，可一键转换△I和Glum数据。 4、樟脑醌的CPL案例介绍樟脑醌的CPL光谱测量，通过测量CD和CPL对樟脑醌在激发态和基态下手性结构分析。

OLIS CPL Solo UV/Vis小巧、经济且全数字化的圆偏振发光该型号以最高灵敏度CPL和荧光偏振的第一原理设计，价格是竞争对手产品的三分之一，尺寸是竞争对手产品的四分之一，但具有出色的灵敏度和稳定性。使用明亮且稳定的滤波LED 光源实现最大激发 ；使用高通量单色器和门控光子计数检测器可实现最大发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需 G 因子校正。两种型号，一种用于 UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强 UV/Vis 模型以测量磷光寿命，从而测量 CPP。所有配置均可实现极化和非极化激发。应用领域：OLED发展镧系元素表征蛋白质折叠-展开转换光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能：圆偏振光荧光荧光偏振支持升级：极化激励磷光寿命珀耳帖热池支架薄膜支架DeSa永磁体CPL-SOLO.pdf

圆偏振荧光光谱仪 型号：CPL-300概要手性等化合物在单色光激发下，发射出左右圆偏振光强度不同，这样的现象被叫圆偏振发光现象（CPL）。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息，而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法。 标准的无臭氧150W Xe灯可由用户更换为Hg / Xe源。 仪器的双棱镜激发和发射单色器提供非常低的杂散光，并且没有衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷Hg-Xe灯等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)Em (发射)部分均为双棱镜单色仪测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动响应时间扫描扫描速度最大到10000 nm /min测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg量程± 8000 mdeg功率240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包Spectra Manager 2

1、应用范围：-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究2、测试原理当发光手性分子被光激发后，产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性，这种现象被认为是圆偏振发光性（CPL）。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性，而该仪器能检测材料激发态的手性信息。3、技术特点：-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比 规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷HgXe等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)和 Em (发射)部分均为双棱镜单色器测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配 PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动反应(D.I.T)扫描扫描速度10000 nm /分钟测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL)，DC (DC 电子元件=荧光)，HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg满量程± 8000 mdeg功率100 - 240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包光谱管理器2

该产品基于第一原理设计，具有极高的圆偏正和荧光偏振特性，价格非常有竞争力，尺寸仅为竞争对手产品的1/4，且具有出色的灵敏度和稳定性。 明亮且稳定的滤波LED源可实现最大的激励；使用高通量单色仪和门控光子计数检测器可实现最大的发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能，即无需锁定放大器，无需G因子校正。两种型号，一种用于UV/Vis，另一种用于NIR。可以增强UV/Vis型号以测量磷光寿命，从而测量CPP。所有配置均可以实现极化和非极化激励。

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。 产品简介：S2 POLAR仪器为台式偏振式能量色散X 射线荧光 (POLARIZED EDXRF) 光谱仪，采用了偏振激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备分析性能，特别是油品之类轻基体样品中的S, Cl, Si, Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等元素有着优异的分析效果和检测限。S2 POLAR针对油品等轻基体油品，通过偏振方式增强其功能，符合ASTM D6481 ASTM D7751 ASTM D7220 ISO 13032 ASTM D4294 ISO 20847 ISO 8754 IP 336, 496, 532 JIS K2541-4和GB/T 11140等诸多国内外标准，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，可适用于包括现场检测等各种应用场合。 S2 POLAR• 通过偏振激发和检测设计实现优异的灵敏度和检出限• 仪器可预置油中硫，油中氯以及润滑油中Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等诸多元素的曲线• SampleCare保护系统，最大程度确保核心部件安全性，不受液体影响• 确保X 射线安全• 完全的数据可追溯性• 符合法规• 全球在线支持• 高度灵活的分析工具，可适用于现场检测需求 S2 POLAR 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。

全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑，覆盖全谱段，利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高，安装维护简便5. 一键式操作软件，快速简单6. 自动MAPPING扫描，分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围：450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术，可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解：1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：≤1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±1nm和±0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05°主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集，双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点，使得数据采集分析更加简便，易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验，UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制，可用于各种样品的精确测量，最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍，从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计，可灵活拓展，以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商，UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术，相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90，Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus：190 - 885 nmUVISEL Plus NIR：190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动：55º - 90º，步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器

位于美国新泽西的HAAS公司，成立于1992年，做为一个世界上最大的提供激光束传输类器件与装置的公司，以其产品的创新性.优质.可靠而获得业界和客户认可。 　　HAAS拥有经验丰富的工程设计团队，高效的加工生产组织以及最先进尖端的加工中心，为工业客户提供最高标准的易于集成且模块化的激光传输类产品。并有为使用广泛的二氧化碳激光器光纤激光器设计的标准产品，还可根据客户的要求设计定制产品。 圆偏振器系统 将线偏振光转化成圆偏振光

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列光致发光（photoluminescence）即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光。PL 荧光测量系统通常是用较强的单色光（如激光器等）激发样品/ 材料（如GaN/ZnO 等）产生荧光，通过对其荧光光谱的测量，分析该材料的光学特性。典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。OmniPL 系列稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计，在满足PL 光谱测量的同时，用户可以根据不同的实验需求，选择不同的配件，灵活的进行系统功能的扩展。系统组成：激发光源+ 样品室＋荧光光谱仪＋数据采集及处理系统＋软件＋计算机OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数● 激发光源：HeCd激光器● 激发光功率：20mW● 激发波长：325nm● 瑞利散射截止滤光片，OD6● 荧光光谱仪光谱范围：300-850nm（可扩展至2500nm）● 荧光光谱分辨率：优于0.2nm（@1200g/mm光栅）● 波长准确度：±0.2nm● 波长重复性：±0.1nm● 光探测器：科研级制冷型背感光CCD，300-1000nm● 可选配闭循环超低温制冷机，最低温度可达2K● 系统扩展性：系统采用模块化设计，可扩展至近红外波段光谱测量● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能，可随时储存和提取图谱，并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

圆偏振片400 – 700nm #3624 光学仪器透射率超过42%备有料和膜基片材质供选择备有左旋及右旋偏振两种设计圆偏振器非常适用于减少各种成像应用中的眩光，以及提高显示器在光亮环境中的可见性。这些圆偏振器能为波长介于400 – 700nm的可见光提供卓越的透射率。塑料基片能提高该产品的耐久性能，而膜基片则能提高灵活性，并根据应用需求轻松裁剪。圆偏振器备有左旋及右旋偏振两种设计供选择。通用规格波长范围 (nm):400 - 700Polarization Efficiency (%):99.90工作温度 (°C): -40 to +80Heat Resistance (°C x Hours):80 x 500

荧光偏振仪型号：FLUPO VII 检测原理：采样独特的荧光偏振检测原理，利用偏振光测量其旋转时间，检测血清中含有抗体，根据 FPA检测仪显示的mp读值判断结果阴阳性；荧光偏振测定法是均一、无需清洗步骤或去除未反应的成分的检测方法。 主要应用：用于实验室和采样现场人抗布鲁氏菌抗体检测分析。 适用样本：血清及其它样品如全血、血浆、脑脊液、淋巴液、奶液等。 仪器特点：1、中国自主知识产权的一种简捷的针对荧光偏振测定方法的仪器，结合德国先进技术，仪器简单、轻巧、便携、耐用；用于流行病学调查和疫情处置现场检测、临床实验室和疾控实验室疑似样本的快速检测。2、可检测人血清中的全部布鲁氏菌抗体，包括IgG1，IgG2、IgG3、IgG4、IgM、IgA、IgD等全部类型的抗体。3、采用计算机软件驱动，无需额外电源，仪器自带校正功能，仪器稳定，软件操作简单。4、光源：发光LED及LCD复合光源，水平及垂直方向双向检测。5、滤光器：电子滤光片。激发光：485nm；发射光：520 nm和535nm。6、测量时间：样品孵育2分钟，仪器1秒钟完成检测。7、精度：使用1nM荧光素连续测量，结果稳定，差异小于0.1nM。8、仪器自带校正功能，使用单个试管完成全部试验，无清洗步骤。 主要配置：1、主机1台2、漩涡震荡仪一台3、连续加样器一套4、计算机工作站1套5、手提箱一个

多功能光栅光谱仪实验装置，YTR-6308简介YTR-6308多功能光栅光谱仪是一款以光栅作为分光元件的光谱仪，其基本原理是当不同波长的光束以相同的入射角入射到光栅上时，不同波长的光束同一级衍射的主极大位置不同，从而达到分光的目的。其优点是具有较宽的光谱测量范围和较高的分辨率，综合性能突出，是目前使用最为广泛的光谱仪器。该光栅光谱仪专为物理实验教学开采用开放式的结构设计，学生可以直观的观看光谱仪的内部光路和结构。同时采用了光电倍增管和线阵式CCD作为光电传感器，既可以获得高分辨率光谱，也可以快速获得宽光谱。使学生更加充分理解和掌握光谱仪的工作原理。该仪器可以很好的使用在氢氘光谱实验，钠原子光谱等实验。特点对称式C-T光路结构，采用可视化的结构设计，帮助学生理解和掌握光谱仪结构组成和工作原理双光路设计，分别使用高品质光电倍增管和线阵CCD作为光电探测器，使得学生更能深入的理解和掌握探测器的性能和实验仪器优缺点和用途专业的光谱分析实验软件，包含：光谱测量、透过率测量、反射率测量、吸光度测量和色度学测量等多种实验模块（有些实验模块需要另配附件）实验内容热辐射光源光谱测定波长准确性的测定和修正氢原子光谱测定及里德堡常量测量吸收光谱的测量CCD测量的波长定标颜色测透过率测量吸光度测量浓度测量透镜焦距测量实验，YGP-6212简介YGP-6212透镜焦距测量实验学习的知识点有几何光学基本定律、透镜成像、显微镜、望远镜。几何光学是光学的重要分支之一，它的应用十分广泛，尤其是在设计光学仪器的光学系统等方面显得十分方便和实用。透镜作为光学仪器的基本元件，可以组建各种光学系统，在成像系统、图像摄取、遥感等领域中已经得到广泛应用。光学显微镜是一种常见的助视光学仪器，它对推动科技进步，尤其是生物学和医学，起到了重要作用；望远镜是另一种常见的助视光学仪器，它对天文学及物理学的发展起到了重要的推动作用。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中透镜焦距测量实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点器材丰富，可以组建各种光学系统；实验内容满足分层次教学要求；通过配置COMS相机及相应的软件，使实验既有鲜明的数字化特点，又保留了手动读数的特色实验内容a)基础内容用自准直法、位移法测量凸透镜焦距；物像距法测量凹透镜焦距。b)提升内容自准直法测量凹透镜焦距；光学成像系统共轴的粗、细调节；透镜成像的景深、成像位置判断与视差消除。c)进阶内容用薄透镜自组显微镜和望远镜；探究常用显微镜结构和性能参数。d)高阶内容观测凸透镜的球差和色差；观测显微成像系统的像散。光的干涉和衍射实验，YGP-6213简介光的干涉和衍射现象是波动光学的重要内容。光干涉现象曾经是奠定光波动性的基石，在波动光学中有重要的意义。而光衍射现象，则是光束传播中，几何光学无法解释的现象，是光波动性的主要标志之一。研究光的干涉和衍射不仅有助于进一步加深对光的波动性的理解，同时还有助于进一步学习近代光学实验技术，如光谱分析、晶体结构分析、全息照相、光信息处理等。本实验同时用单缝、多缝、圆孔、方孔等进行实验，能够明显地展现出衍射、干涉的特征，并利用光强分布探测器测量光强的相对分布，实时给出光强与位置的关系曲线，以及用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况，实现实验的数字化。特点采用光强分布探测器，无需扫描结构，实时测量光强一位置的分布曲线，响应时间最快可达毫秒级。利用光强分布探测器可以精确测量8级以上衍射条纹，位置测量精度可达0.01mm。利用面阵相机可以研究衍射图像的两维光强分布情况。一体化狭缝组设计，切换方便，易于实验。实验内容a) 基础内容 研究激光通过双缝后形成的干涉图案，测量双缝形成的干涉光强分布，说明干涉条纹的极大值位置与理论预见的一致性。 研究激光经过单缝后形成的衍射图案，测量单缝形成的衍射光强分布，说明衍射条纹的极小位置与理论预见的一致。b) 提升内容 研究激光通过多缝后形成的干涉图案，理解多缝衍射与多光束干涉的原理。c) 进阶内容 观察激光经过圆孔和方孔后的衍射现象，利用面阵相机研究衍射图像的两维光强分布情况。d) 高阶内容 利用COMS相机研究激光经过多孔后形成的衍射图案，利用COMS相机研究衍射图像的两维光强的分布情况光的偏振实验，YGP-6214简介光的偏振现象是波动光学的重要内容。利用这种现象研制的各种光学元件和仪器，在探测物质结构、激光与光电子技术领域有着极其重要和广泛的应用。YGP-6214光的偏振实验装置主要包含：光传感器、转动传感器、激光光源、精密调节架、升降调节架、连接杆、托板和观察屏组成。该实验装置利用先进的传感器技术和智能软件，可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线，极大的提升了实验效率，使学生将更多的精力用于实验本身的原理学习、数据分析和结果讨论上，更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线光传感器，USB2.0和蓝牙通讯，3档可调，适用于不同强度光源的测量。无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。安全的激光光源。数字实验室分析软件，编辑性强，通用程度高。实验内容理解和掌握偏振片的基本原理，使用方法。理解和掌握激光器的偏振特性。通过研究和验证马吕斯定律，掌握光的起偏和检偏原理和方法。研究3片偏振片光强与偏振片角度的关系曲线，进一步掌握光的偏振特性。等厚干涉实验（含牛顿环实验），YGP-6215简介YGP-6215等厚干涉实验（含牛顿环实验）学习的知识点有牛顿环、等厚干涉、光程差、曲率半径。牛顿环和空气劈尖的等厚干涉原理在生产实践中具有广泛的应用，它可以用于检测透镜的曲率，测量光波的波长，精确的测量微小长度、厚度和角度，检验物体表面的光洁度、平整度等。本实验装置可完成《理工科类大学物理实验课程教学基本要求（2023版）》中牛顿环实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点开放的构架，可以让学生看到所用镜片的类型和位置。可以让学生练习搭建各种光学系统。配套有测微目镜与CMOS相机两种读数方式，即实现实验数字化的同时，保留了传统手动读数的方式。多种光源，更多的分立器件，便于师生开展各种探索研究，比如：同时观察透射和反射的牛顿环，波长测量等实验内容a)基础内容测定平凸球面透镜的球面半径。b)提升内容用劈尖干涉测量细丝直径。c)进阶内容测定平凹球面透镜的球面半径。d)高阶内容用透射和反射两种方法观察牛顿环，并测量绿光、紫光、黄光的波长。更多精彩，请关注下方！的P-tP

国家重大科研仪器研制项目（21427808）产学研成果GCFG-BⅡ型电/化学发光光谱分析仪 (单分子检测 )化学发光、生物发光和电化学发光等非稳态辐射与自发光辐射的光谱分析正在化学、生物和医学等领域获得广泛应用。山东国晨生物科技有限公司和山东大学电化学发光团队于 2022年成立化学发光技术联合研发中心，于2024年推出开展电化学发光光谱与化学发光光谱定量分析研究的新型科研设备—GCFG-BⅡ型电/化学发光光谱分析仪。GCFG-BⅡ型电/化学发光光谱分析仪采用动光栅设计，是GCFG-B的升级版。该设备采用山东大学电化学发光团队的专利技术(ZL20202194766.9)，突破了总光强测量型化学发光和电化学发光科研设备的局限性，能够为化学发光和电化学发光技术在化学与生命科学领域的更广泛应用提供支持。GCFG-BⅡ型电/化学发光光谱分析仪采用色散分光和曝光摄谱原理实施光谱分析，曝光摄谱时间可调，具有长时间持续曝光摄谱和时间分辨在线摄谱等功能。该仪器适用于化学成分的识别与检测、核酸分析、肿瘤诊断、兴奋剂检测及多指标分析等。仪器特点● 硬件系统由色散装置、光学检测装置和专用型电化学工作站构成，适用于实施化学发光光谱、生物发光光谱、电化学发光光谱和其他超弱自发光光谱的定性分析与高灵敏定量分析研究 ● 光谱分辨率高、光强测定准确度高，适用于以光谱分辨、组分分辨或发光团分辨等模式，实施分子发光与纳米发光的高精度定量分析和单分子检测研究● 仪器运行采用山东国晨生物科技自主研发的专用科学仪器软件● 光学检测系统、色散系统和电化学系统同步运行，实施电化学发光光谱分析应用领域● 多组分或多指标型免疫检测与分子诊断研究 ● 超微弱辐射光谱研究● 化学发光单分子检测 （时间积分模式） ● 免疫检测与分子诊断新技术● 光谱型电/化学发光分析技术与生物传感 ● 体外诊断与传染性疾病研究 ● 电/化学发光机理研究与新体系开发 ● 量子点电荷注入与转移机制研究● 超微弱非稳态光谱分析与定量检测 技术参数● 光谱分析: 光学响应范围: 400-1050纳米 单次采谱时间: 50 毫秒 -10 分钟 时间分辨率: 10 毫秒 -10 分钟 波长分辨率: 1.5 纳米 连续摄谱次数: 1-50 次 ● 光强检测准确度: RSD0.5%(标准汞谱线 )● 面阵CCD(制冷温度 -65 ℃) 空间分辨率: 2048x263 像素 像素尺寸: 15x15 微米 暗电流: 0.02 electron/pix/s ● 最大曝光摄谱时间: ≥3000s ● 电化学发光检出限: 10 pmol/L Ru(bpy)3 2+ ● 防尘效果: 整机无静电防尘

GCSM-A超灵敏化学与生物发光光谱分析仪化学发光免疫检测的常规科研设备和体外诊断产品通常采用光电倍增管 /光子计数器检测器类点式探测器，仅能无差别 型检测不同波段的光子总数，已到达其器件灵敏度和分析通量极限。GCSM-A/B超灵敏化学与生物发光光谱分析仪采用色 散曝光摄谱原理，以条带 (A)和方形 (B)面阵探测器与色散装置复配方式，同步检测不同波段 /波长化学发光辐射的强度分布。 GCSM-A/B超灵敏化学与生物发光光谱分析仪具有检测灵敏度高、光学响应范围宽和硬件噪声背景低的装备技术优 势，适用于深入开展超灵敏与全光谱化学发光光谱分析的基础与应用研究。仪器特点●硬件高度集成，光路设计精密，超低温热电制冷技术充分抑制探测器背景噪声，曝光时积间分和面阵探测器纵向积分技术相结合，适用于实施超弱、非稳态辐射的光谱分析●超弱与非稳态辐射的信号响应灵敏度高，光谱分辨率高 (1纳米)，光强测定准确度高(RSD 0.5%)，适用于实施自发光与免激发光源类辐射的定性分析与高灵敏定量分析●仪器运行采用国晨生物科技自主研发的专用科学仪器软件，兼容LightField等商业软件；硬件支持与其它科研设备的同步启动与联用，软硬件的开放性和兼容性良好●单分散态钌联吡啶的电化学发光检测限10pM，能够灵敏检测表面固定态CdSe纳米粒子的电化学发光光谱，检出限可达单颗粒水平●光谱响应范围宽300-1050纳米，单次采谱宽幅优于500纳米，采用转动光栅设计调整光学响应波段，适用于在指定波段灵敏检测超弱辐射，实施超灵敏的基础与应用研究2、应用领域● 超灵敏的激素、炎症因子和肿瘤标志物检测技术 ● 超微弱化学发光过程研究● 超弱辐射光谱的动态检测及其辐射过程动力学 ● 免疫检测多组分分析● 化学发光机理研究 ● 化学发光物质开发 ● 核酸分析与肿瘤标志物检测 ● 量子点电荷注入与转移机制研究2、技术参数 ● 光谱分析: 光学响应范围 : 300-1050 纳米 单次采谱时间 : 50 毫秒-60 分钟 波长分辨率 : 1.5 纳米 连续摄谱次数 : 1-50 次 ● 光强准确度 : RSD0.5% (标准汞谱线 ) ● 防尘效果 : 整机无静电防尘● 面阵 CCD(制冷温度 -65 ℃) 空间分辨率 : 1024x 400/1024 最大曝光摄谱时间 : ≥ 60 分钟 最小曝光摄谱时间 : 优于 10 微秒 ● 电化学发光检出限 : 10 pmol/L Ru(bpy)3 2+

偏振态测量仪校准套装仅使用液晶可变波片技术的宽带宽、高测量精度的偏振态测量仪！ 美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期的优势和信誉，超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）结合了Meadowlark Optics公司液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。液晶偏振态测量仪因为没有旋转的波片、马达或其它运动部件，不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。偏振态测量仪，Polarimeter，Liquid Crystal Polarimeter，液晶偏振态测量仪，SOP，DOP，偏振度，偏振态，偏振态测定仪系统，偏振态测量系统，偏振测量仪，LCPM，偏振分析仪，偏振态分析仪 美国Meadowlark Optics公司的偏振态测量仪校准套装可产生6个本征偏振态：0,90，+45，-45deg的线偏振、左旋圆偏振及右旋圆偏振。这些本征偏振态是由分别封装在下图黑色外壳里面的精密二向色性线偏振片和封装在蓝色外壳中的精密四分之一波片产生，这些外壳都是由数控机床加工以保证其角精度小于1角分。在磁铁提供夹持力的同时，外壳上面的销子以准运动方式配合V型槽和扁平槽，这样的机械结构有利于简单快速的索引本征偏振态；外壳上的箭头标明了偏振片的偏振方向及波片的快轴，以便于使用。偏振态测量仪的可用波长范围为450-1700nm。 同时，Meadowlark付费提供用于偏振态测量仪和偏振态测量仪校准套装的本征态波片，这样可保证终端用户在任何波长实时实地对偏振测量仪实现校准。 Meadowlark Optics在精密偏振态控制和测量方面一直保持长期的优势和良好的信誉，Meadowlark Optics的便携型超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）运用了Meadowlark Optics公司液晶可变相位延迟器/波片技术和偏振技术，具有宽带、高精度、高可靠性及无运动部件等特点。由于Meadowlark Optics的超宽带液晶偏振态测量仪没有采用旋转波片、马达或其它运动部件，因此不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。 Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪可直接通过计算机的USB接口进行控制，提供了测量的速率和便捷性，Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪在计算机的控制下每秒的测量10次可量化偏振态的斯托克斯（Stokes）参数，同时将偏振态图形化地显示成邦加球（Poincaré Sphere）、偏振椭圆（Polarization Ellipse）或者运行图；Meadowlark Optics的偏振测量仪控制软件采用独特算法，其提供了高精度和多功能校正；可以说Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪是一套简便紧凑和精密的偏振态测量系统。Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪的偏振度测量精度≤1%，斯托克斯矢量的分辨率为0.001，测量频率为10Hz，波长的校正精度为±3nm，在保证测量精度的情况下可对光功率为1μW的光波实现偏振态的测量；由于液晶材料对温度比较敏感，为了保证Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪配有温度控制选项，可以实现实时实地的恒温状态。Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪有可见光（450-1100nm）和近红外（900-1700nm）两种版本，及光纤耦合和自由光路两种不同配置。 优势：超宽带（450-1100nm和900-1700nm可选）无运动部件偏振度测量精度≤1%斯托克斯矢量分辨率0.001偏振态跟踪LabVIEW VI程序库图形化操作界面光纤和自由光路版本可测量功率为1μW的光束偏振态规格：订购信息：可选配件：本征态校准套装尺寸：

国家重大科研仪器研制项目（21427808）产学研成果仪器简介：化学发光、生物发光和电化学发光等非稳态辐射与自发光辐射的光谱分析正在化学、生物和医学等领域获得广泛应用。山东国晨生物科技有限公司和山东大学电化学发光团队于2022年成立化学发光技术联合研发中心，推出实施化学发光、生物发光和电化学发光定量分析研究的新型科研设备GCFG-B型电/化学发光光谱分析仪。该设备采用山东大学电化学发光团队的专利技术(ZL20202194766.9)，突破了总光强测量型化学发光和电化学发光科研设备的局限性，能够为化学发光和电化学发光技术在化学与生命科学领域的更广泛应用提供支持。GCFG-B型电/化学发光光谱分析仪采用散分光和曝光摄谱原理实施光谱分析，曝光摄谱时间可调，具有长时间持续曝光摄谱和时间分辨在线摄谱等功能。GCFG-B适用于化学成分的识别与检测、核酸分析、肿瘤诊断、兴奋剂检测及多指标分析等。 仪器特点●光学元器件集成度高、光谱检测灵敏度高，适用于实施化学发光、生物发光、电化学发光和其他超弱自发光光谱的定性分析与高灵敏 定量分析研究，推动非稳态和自发光辐射研究由“黑白型”总光强测量模式跨越至“彩色型”光谱分析模式●光谱分辨率高、光强测定准确度高，适用于以光谱分辨、组分分辨或发光团分辨等方式，实施分子发光与纳米发光的高精度定量分析和创新研究●仪器运行采用山东国晨生物科技自主研发的专用科学仪器软件；●光学探测器、单色仪和电化学系统(用户另配)同步运行，电化学分析和光谱分析兼容 应用领域 ●多组分或多指标型免疫检测与分子诊断研究●生物分子相互作用研究●电/化学发光机理研究●电/化学发光传感●非稳态辐射光谱检测●核酸分析与肿瘤标志物检测●体外诊断与传染性疾病研究●超微弱非稳态光谱分析与定量检测●电/化学发光光谱的实时检测●电/化学发光过程与动力学研究●量子点电荷注入与转移机制研究技术参数●光谱分析：光学响应范围：400-900 纳米 单次采谱时间：50毫秒-10分钟时间分辨率：10毫秒-10分钟波长分辨率：1.5纳米连续摄谱次数： 1-50 次●面阵CCD (制冷温度-65 ℃)空间分辨率： 2048*263像素像素尺寸：15*15微米暗电流：0.02electron/pix/s●最大曝光摄谱时间：≥3000s●电化学发光检出限：50 pmol/L Ru(bpy)3 2+●光强检测准确度：RSD＜0.5%（标准汞谱线） ●防尘效果：整机无静电防尘

OLIS DSM 245CPL Solo plus Circular Dichroism使用这个紧凑的全新分光光度计系统测量处于基态和激发态的手性分子。将其视为 带有 CPL的OLIS DSM 20 CD或 带有圆二色性的 OLIS CPL Solo；两者都是正确的。单光束吸光度、荧光、荧光偏振、圆偏振发光和圆二色性。有两个光谱范围可用，UV 优化或红移。应用领域：光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能：吸光度荧光荧光偏振圆偏振荧光圆二色性支持升级：CLARiTY磷光寿命珀尔帖热控制薄膜支架自动滴定仪OLIS-DM-245.pdf

GCHW-A近红外化学发光光谱分析仪化学发光免疫检测的常规科研设备和体外诊断产品通常采用光电倍增管/光子计数器检测器类点式探测器，其光学响应的上限为900~1000 纳米。围绕突破化学发光基础研究的可见光和近红外I区限制，山东国晨生物科技采用国产化技术整合 色散装置、近红外面阵探测器和超低温热电制冷器件，主导开发了光学响应位于900-1700 纳米波段的科研级近红外化学发光光谱分析仪。仪器特点●光学系统高度集成，精密光路自主设计，整机国产化程度高，超低温热电制冷、曝光时间积分和面阵探测器纵向积分技术相结合，适用于实施超弱、非稳态辐射的近红外光谱分析●信号响应灵敏度高，光强测定准确度高 (RSD 0.5%)，推动近红外区域自发光与免激发光源类辐射的定性分析与高灵敏定量分析●仪器运行采用国晨生物科技自主研发的专用科学仪器软件，兼容 LightField等商业软件●硬件支持与其它科研设备的同步启动与联用，软硬件的开放性和兼容性良好●光谱响应范围宽 900-1700 纳米，单次采谱宽幅优于 300 纳米，采用转动光栅设计调整光学响应波段，适用于在指定波段实施近红外辐射的基础与应用研究应用领域● 超微弱与近红外化学发光过程研究● 长波段化学发光物质与发光体系开发 ● 量子点化学发光机理研究● 长波段化学发光免疫检测研究 ● 超越禁带宽机制的量子点化学发光 ● 长波段化学发光分子诊断研究

凭借前所未有的卓越元素分析性能,新型SPECTRO XEPOS光谱仪重新定义了ED-XRF能量色散X射线荧光光谱仪分析技术。SPECTRO XEPOS光谱仪这一令人称奇的全新仪器采用了元素激发和光谱检测技术的最新研究成果，具有最无与伦比的灵敏度和最优秀的检测极限，同时具有极高的检测精度和准确度。SPECTRO XEPOS光谱仪的出色性能足以将价格昂贵的WD-XRF波长色散X射线荧光光谱仪“挑落马下”，同时还大大降低了成本。此外，经过深度优化、重新设计的操作软件也能够帮助客户大幅简化操作，独一无二的新一代TurboQuant II软件则支持各种先进功能，可以更快速、更精确地分析各种类型的未知液体、固体或粉末。

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。 传统的显微光致发光光谱仪都是采用标准的显微镜与荧光光谱仪的结合，但是传统的显微镜在材料的PL 谱测量中，存在很大的局限性，比如无法灵活的选择实验所需的激光器（特别对于UV 波段的激光器，没有足够适用的配件），无法方便的与超低温制冷机配合使用，采用光纤作为光收集装置时耦合效率太低等等问题，都是采用标准显微镜难以回避的问题。 北京卓立汉光仪器有限公司结合了公司十余年荧光光谱仪和光谱系统的设计经验和普遍用户的实际需求，推出了“OmniPLMicroS”系列显微光致发光光谱仪，有效的解决了上述问题，是目前市场上最具性价比的的显微PL 光谱测量的解决方案。性能特点： 一体化的光学调校——所有光学元件只需要在初次安装时进行调校，确保高效性和易用 性 简单易用的双光路设计——可随意在水平和垂直光路上进行切换，适用于各种常见的样 品形态 超宽光谱范围**——200nm-1600nm 视频监视光路——可供精确调整测试点 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性 多种激发波长可选**——325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 自动mapping功能可选*——50mm×50mm测量区间，可定制特殊规格 电致发光(EL)功能可选*——扩展选项 显微拉曼光谱测量功能可选*——扩展选项 超低温测量附件可选*——提供10K以下的超低温测量*选配项，请详细咨询；**需根据实际需要进行配置确定。参数规格表*应用:不同制冷温度下GaN材料的PL谱激发波长：325nm，功率：20mW，制冷机最低制冷温度：10K ZnO材料的PL谱: 激发波长：325nm ZnO 薄膜样品在382nm 处有一个特别强的荧光谱带，而在500 ～ 600nm 波段，有个弱的可见光荧光谱带。通过研究这些谱带，可以反映ZnO 表面态对荧光的影响以及晶型和缺陷信息。

结晶石英波片- Altechna S波片材料：结晶石英表面质量：S-D : 10-5透射波前失真，P-V：λ/ 10 @ 632.8 nm延迟公差@ 20°C:： ±λ/ 300光圈清晰: ?5 - 76.2毫米增透膜:每个表面的Ravg 0.2％LIDT: 10 J /cm?@ 1064 nm，10 ns，10 Hz安装: 黑色或者白色阳极氧化金属支架深圳因诺尔科技有限公司代理的Altechna S波片由具有双折射的材料制成。通过双折射材料的非常和普通光线的速度与它们的折射率成反比。当两个光束重新组合时，这种速度差异产生相位差。在任何特定波长下，相位差由延迟器（波片）的厚度决定。半（λ/ 2）波片。入射在半波晶体石英波片上的线性偏振光束作为线性偏振光束出现，但是旋转使得它与光轴的角度是入射光束的两倍。因此，半波片可用作连续可调的偏振旋转器。这种波片用于旋转偏振面，以及用于电光调制，并且当与偏振立方体结合使用时用作可变比率分束器。四分之一（λ/ 4）波片 - 薄膜补偿器。如果线性偏振入射光束的电场矢量与四分之一波片的延迟器主平面之间的角度是45°，则出射光束是圆偏振的。当四分之一波片被双重通过时，例如通过镜面反射，它起到半波片的作用并将偏振面旋转到一定角度。四分之一波片用于从线性极化产生圆形，反之亦然，以及椭圆光度法，光泵浦，抑制不需要的反射和光学隔离。零级波片通常是优选的，因为它们对波长，入射角和温度的变化***不敏感。标准波片基于空气间隔结构，可用于高功率应用。对于10ns脉冲10ns，损伤阈值大于20J / cm 2。Altechna波片由优质激光级晶体石英材料制成。深圳因诺尔科技有限公司另提供Altechna 高能波片（High Energy Waveplates）,消色差波片（Achromatic Waveplates）,中红外波片（Mid-IR Waveplates）, Dieletric涂层光学器件, 金属涂层光学元件, 镜头, 棱镜, 过滤器, 旋转三棱镜, 偏振光学, 波片, 薄膜偏振器, 格兰型偏振器, 偏光立方体, 激光晶体, 非线性晶体, 无源Q开关晶体, 光折变晶体, 激光配件, 扩束器, 电动衰减器, 手动衰减器, 大孔径衰减器