圆偏振荧光光谱仪

假设我的物质没有各项异性，那么 垂直偏振和水平偏振测出来就是0？我看了一下文献，类似的东西即使是膜，各向异性也有0.12，我的做出来象一系列的噪声背景。请问这样正常吗？还是我有什么地方设置得不对。请大家指教。我的一个想法，假如物质有荧光，但是没有各向异性，那么偏振荧光做出来，垂直和水平方向应该至少有一条曲线类似自然光下的荧光光谱。不知道对不对。

对这类仪器我有两个问题,请专家给解释一下,谢谢!1、偏振能量色散型X射线荧光光谱仪中使用偏振光的特点(包括优点和缺点)是什么?2、这种偏振光是指光源是偏振光还是产生的荧光是偏振光?

荧光分光光度计激发偏振器与发射偏振器互相垂直的荧光强度怎么测?（目的是测荧光各项异性）F4500有个荧光偏振附件 两个镜子角度可调 我想问一下 测平行的荧光强度是两个都调到0度， 但测垂直的荧光强度是两个都是90度还是 0°，90°或是90°，0°呢？这样测出的值都不一样啊

为了测RoHS，我们购买了一台SPECTRO XEPOS型台式能量色散偏振X射线荧光光谱仪，使用快五年了，使用一直很好，但近期检测器却出了问题。使用过这款仪器的同仁们，请谈一下使用情况，特别是故障情况，以供学习和借鉴。

想做一下偏振荧光，但从没做过，不知道怎么做才好。1. 关于偏振片我们这边的荧光仪上都没有偏振附件，我如果单独买用在仪器上会不会不好，会消光过多什么的？2. 问了又一个单位他们的荧光仪上有平行和垂直两种滤片，是不是这就够了？不需要其他角度的滤光片？具体荧光怎么操作呢？先谢过大家。

称取研磨后的炉渣试样5.0g,用硼酸8克作粘结剂进行镶边垫底,压制成直径为40mm圆片, 要求压片表面光滑，不能有裂纹；硼酸不能混入测量表面，压制后用吸液球吹去表面浮渣以免掉入光孔损坏Be窗影响测定。试验表明：采用压力为1.96×105N,静压时间为60 s可获得良好的压片效果。经过多次制样分析试验发现,制样时取自然冷却样，破碎后用磁铁吸去渣中金属后过250um（160目）筛，光强值较稳定。因为转炉渣中的成分主要为12-26号的元素，故采用MO和HOPG 2个次级靶即可完成钢渣的分析，为减少轻元素的吸收,两个靶均在真空条件下进行. 用9个标样建立工作曲线，用多重回归的方法同时求取基体校正系数和校准曲线常数，用Luscas-Tooth&Price经验系数法校正元素之间吸收和增强效应。回归曲线方程为 Ci=slope·Ii+corrections+c0,i 式中Ci为分析元素浓度；Ii为分析元素强度；Corrections=∑ajIiIj+∑bkIi2Ik+∑clIiIl2+∑dmIm2 其中Ij, Ik, Il,Im为集体元素强度；aj, bk, cl, dm为校正系数，c0,i为校正偏差。通过实验对各元素校正曲线进行反复拟合，确定了如下系数：Mg(0.9988)，Al(0.9996)，Si(0.9984)，FeO(0.9985)好了，现在你可以用先进的偏振能量色散X射线荧光光谱仪分析转炉渣啦!

适用仪器：岛津RF-5301配件：恒温、偏振。

我的荧光带了偏振附件不知如何使用

X荧光小菜鸟一个，之前有用过斯派克的XEPOS的偏振仪器。从他的元素曲线线性和准确度结果上看，很牛B。对于这一技术很疑惑，有没有大佬帮忙解答一下，特别是他的二次靶怎么能从小Z到后面的重金属都有很好的检测能力。

请问大家，F-4500做自动偏振荧光时，Excitation/Emission Mode 时G的测量有两种，一个是Fixed Value，一个是Spectrum，请问这两个有什么区别？

有没有做过荧光偏振方面的大侠，帮讲解一下，偏振片如何选择？对于偏振的原理看了书，但是不太理解

求助：哪位大侠能不能告诉我偏振荧光免疫分析仪是属于哪仪类医疗器械，还有就是有哪些厂家生产这类仪器啊，万分感谢

请教分子荧光的偏振装置如何使用？？？

单位新进了一台能做三维偏振的荧光仪，以后还要和各位多多交流哦！

我是一个新手，问个很基础的问题：分子荧光光谱仪、原子荧光光谱仪与酶标仪，是怎样的关系呢？区别？酶标仪中也有荧光强度、荧光偏振、时间分辨荧光等等，它与分子荧光、原子荧光有什么区别吗？

今天从网上看到的四个概念，不太明白。偶极矩倒是知道，吸收跃迁矩和发射跃迁矩的夹角和偏振各项异性值r有关r=(I平行－I垂直）/(I平行＋2I垂直）吸收偶极距 absorption dipole moment 吸收跃迁距 absorption transition moment发射偶极距 emission dipole moment发射跃迁距 emission transition moment

X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。　　波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)，是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到观注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。　　随着科学技术的进步，在60年代初发明了半导体探测器以后，对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF)，用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析。　　由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管，又采用滤光片扣除背景和干扰，其背景偏高，分辨率偏小，使得应用范围受到限制，特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生，产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪，既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF，再加上SDD探测器的使用，不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率，免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险，原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高，分辨率差的缺陷，又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低，这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展，越来越受到广泛关注。

请问那位好心人能帮我解释一下偏振X射线荧光光谱仪和能量散射型荧光光谱仪的区别。 另外，哪种荧光光谱分析仪是事先需要用振动磨和压样机制样的？我晕死了。[em06]

本人在偏振定义中看到，荧光偏振度是吸收矩和发射矩之间的角度。请教各位：吸收矩和发射矩的定义如何，如何确定吸收矩和发射矩的方向及其夹角（在固定的某一分子上，如芳香性物质，芘、蒽等）？多谢各位指教！！

外行提问，分子荧光为啥要搞成偏振的，有啥优势？？？

各位老师: 你们好! 请你看一下《中国计量》刚出版的第十一期朱琳等的《影响分光光度计测量准确度的原因》！虽然文章条理不是很清楚，但文中提到的如下两问题很希你赐教！1、“例如：751型分光光度计，……，当狭缝宽度增大时存在一些像差，……”。其中“像差”是怎样一种误差？2、“透射比是分光光度计的一项综合技术指标，……及入射光的偏振状态等也都会引起透射比的随机变化，……”。其中“入射光的偏振状态”由何而来？又是怎样引起透射比变化的？[em09512]

http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪讲座时间：2014年09月16日 10:00 主讲人：武艳红、王锋武艳红，HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。王锋，HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析，它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况，可以分析几纳米~100多微米的深度，深度分辨率1nm。后者是一种无损的分析技术，可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜，并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层，甚至可以获取折射率、消光系数等。 本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料，并对主要应用领域及案例进行深度分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间：2014年09月16日 9:304、报名参会：http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

光度计配置偏振片测试样品在不同偏振光下的光学性能是分光光度计在光学领域一个比较难测试的问题。请大家提供下述资料共同探讨学习：1）光学基础知识和偏振光的介绍；2）偏振器的资料；3）光学镀膜的资料；4）光度计测试样品偏振性能的文献。谢谢大家！！

前几天看到一篇文献中给出的拉曼光谱仪的结构图，如下。不明白里面的偏振旋转器和检偏器的作用。希望专家给解答一下，多谢

现在急做偏振拉曼光谱，急啊！请问哪里可以做偏振拉曼光谱？博士快要毕业了，想做点有用的数据出来发文章，求求各位大侠。

椭圆偏振可以测石墨上自组装有机膜厚度吗？我的实验是做石墨上的自组装膜，可是不知是否可以用椭圆偏振仪来测量？求指教！

最近想用Raman光谱研究一下样品的非一致效应（NCE），需要测样品的平行与垂直光路的Raman光谱，请教一下，天津一带哪里能做偏振Raman光谱？

请问北京什么地方可以做椭圆偏振，我想测薄膜厚度，纳米级厚度，最好能提供电话，多谢了！

大家好，不知这里是否有人做过拉曼光谱的偏振分析。有人有相关的资料吗？可否共享一下，真的谢谢了