激光平面度测量仪

影像测量仪适用于电脑软件操作而且功能强大方便，可满足不同工件的不同需求。影像测量仪的一些测量功能如下：　　1、影像测量仪能记录用户程序、编辑指令、教导执行；　　2、测量仪能巨集指令，同一种工件批量测量更加方便快捷，提高测量效率；另一种是座标平移和座标摆正，同时也能提高测量效率；　　3、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度；组合测量、中心点构造、交点构造，线构造、圆构造、角度构造；　　4、能多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形，提高测量精度；　　5、测量数据直接输入到AutoCAD中，成为完整的工程图，而且测量数据可输入到Excel或Word中，进行统计分析，可割出简单的Xbar-S管制图，求出Ca，等各种参数；　　6、影像测量仪有大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头。　　7、在影像仪下绘制的图像，可以直接保存为dxf文件，该文件可以在autocad软件中直接打开或者是导入到三维软件中；　　8、影像测量仪若是在加了探针的情况下，还可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理！软件可以自由实现探针/影像相互转换!　　9、平面度检测(可通过激光测头来检测产品平面度，推荐使用“七海光电”平面度检测激光测头

有谁知道不平度激光测量仪有哪些品牌，质量较好的？

不同颗粒度测量仪器的测量范围？比如沉降法、筛分法、激光粒度、相干光谱等，有哪位总结出来，给大家参考啊！

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

1,求购管路热损测量仪器--------热流密度仪（焦耳/平方米秒）最好进口表，请提供参数、规格、价格、产地国2，求购便携式---激光流量计--进口表，请提供参数、规格、价格、产地国（大概是美国产品）以上敬请提供合作信息！！！！

机床是制造业的母机，数控机床是机床产品的先进技术体现，特别是高档数控技术是装备制造业现代化的核心技术，是国家工业发展水平、综合国力的直接体现，此次展会汇集了当今世界机床发展和先进制造技术的最新成果，全面展示了我国数控机床产业近几年来高速发展的最新产品和技术。作为数控技术的重要环节——测量设备，在这次展会上展出了一批新技术、新产品，体现了当今测试计量技术发展动向和特点。 测量精度高　　随着现代科技向高精度方向发展，机床作为装备工业的基础发展更应超前，而测量设备更由传统的微米、亚微米精度向着纳米量级精度方向发展。随着超精密加工技术的需要，数控精度愈来愈高，对测量设备的精度要求更高，这次展会展示了一批纳米量级的测量设备，除各种激光干涉仪外，光栅测量技术也达到纳米量级。如海德汉的LIP382超高精度直线光栅尺，其测量步距可以达到1nm。基于测量技术的发展，纳米量级的机床成为现实，如上海机床厂展出的纳米级精密微型数控磨床成为展会的一个亮点。测量速度高　　现代制造业进行的是大规模、大批量、专业化生产，需要多参数、实时在线测量，故要求测试仪器的测量速度高、设备轻便、操作界面直观。如激光干涉测量技术作为精密测量的一种重要方法，各种激光干涉测量系统向着轻巧、便携、高测速的方向发展。雷尼绍XL-80干涉仪款型小巧，可提供4m/s最大的测量速度和50kHz记录速率，可实现1nm的分辨率；激光跟踪仪可实现快速数据采集与处理，有利于测量精度的提高。各种影像测量设备利用触摸屏可以方便直观地实现特征尺寸的测量。三维测量多样化　　三维测量技术向着高精度、轻型化、现场化的方向发展。传统基于直角坐标的三坐标测量机经过50年的发展，其技术愈加成熟，测量更加快捷，功能更加强大。这次参展的国内外数十家坐标测量机生产厂商，各具特色，特别是国内很多厂家推出实用廉价的各种三坐标测量机，说明三坐标测量技术在我国已经走向全面实用化、特色化发展的道路。除直角坐标测量系统外，极坐标测量仪器体现出自身独特的优势，如FARO、ROMER等厂家生产的激光跟踪仪对大尺寸结构的装备现场具有方便灵活的特点。对于小尺寸测量，FARO、ROMER等生产的关节臂测量机因其低廉的成本、较高的精度、现场方便的操作等优势，在汽车等行业展现出广阔的应用前景。测量智能化　　测量设备借助于计算机技术向着智能化、虚拟化的方向进一步发展。测量仪器的虚拟化、接口的标准化以及测量软件的模块化，加速了测量技术的发展，使测量仪器的应用更加方便、直观、智能。根据测量需求以及测量对象的不同，可基于同一软件平台使用不同的仪器协同工作，采用不同的测量软件模块，实现了广普测量仪器的网络化、协同化，提高了测量的自动化水平。在这次展会上，国内一些独立的测量软件公司进行了参展，对于测量设备的智能化、网络化具有推动作用。　　这次展会展示了当今工业测量设备的新技术、新产品。但也同时看到，我国在测量仪器制造特别是高精度仪器制造方面缺乏自主创新的成果，一些高精度测量仪器在国内还没有相关单位能够生产。通过这次展会，对推动我国几何量测量设备的发展具有实际意义。

土地面积测量是工农业生产经常碰到的问题。尽管数学上提供了很多计算平面图形面积的方法，如割补法、积分法等，在进行土地面积的测量过程中，即使是对于数学中的多个方法进行结合使用，但是在使用的过程中依旧是存在很多的问题。而如今市场上有一种GPS面积测量仪，在操作的过程中能够做到测量面积快速、方便。它是全球定位技术、电子技术与数学技术结合的产物。在进行测定的过程中适用范围比较的广泛，主要包括农机作业收费、农田承包测量、企业用地征税、林业湖泊等规则或不规则地域的面积测量。在使用面积测量仪的过程中有一定的注意事项，主要是以下的5各方面：　　1、长时间不用仪器应该将电池取出，放置于干燥安全的地方，避免电池长期放置预期其中对于测亩仪的损坏；　　2、保持仪器干燥。不要湿手接触仪器，水可能造成仪器损坏，直接影响到测量的精度以及使用的寿命；　　3、仪器是复杂的电子设备，防止仪器受到撞击或粗暴的使用，以免造成严重损坏；　　4、遇到恶劣天气时，请适当使用仪器；如遇雷雨天气，最好不要使用仪器，以免对仪器造成损坏；　　　　5、尽量避免在高大建筑物下或信号强干扰地使用仪器，这样会影响仪器搜索卫星并造成测量结果不精准；在进行测定的过程中，先对测量的信号进行查看以及分析以此来了解测量的准确度。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

目前，检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等，而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时，探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏，所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细，但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中，按其传感器类型可以分：电感式、压电式、光电式等；按其指示方式又可分为：积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为：传感器测杆一端装有触针（由于金刚石耐磨、硬度高的特点，触针多选用金刚石材质），触针的尖端要求曲率半径很小，以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上，并使针尖与被测面保持垂直接触，利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动，当触针在被测表面拖动滑行时，将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动，并将运动幅度放大，从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化，并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

【作者】： 【题名】： 基于光散射的水浊度测量仪研制【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10611-1021783383.htm

[size=16px]　　叶面积测量仪通常用来测量植物的叶片表面积，而不是叶片的长度。如果您想测量植物叶片的长度，您可以考虑使用一个普通的尺子或者显微镜测量。以下是如何使用叶面积测量仪来测量叶片表面积的步骤：　　准备工作： 确保您有一台叶面积测量仪，通常它由一个扫描仪和适用于测量的软件组成。您还需要植物的叶片样本。　　准备叶片样本： 从植物中选择您想要测量的叶片样本。尽量选择完整、健康的叶片，并在测量前将其清洁干净。　　扫描叶片： 将叶片放在叶面积测量仪的扫描台上。根据仪器的使用说明，启动扫描仪，它将会自动扫描叶片的表面。　　分析数据： 扫描仪将生成一个叶片的图像，并提供叶片的表面积数据。您可以使用附带的软件或其他图像处理软件来测量叶片的总表面积。通常，这涉及在图像上勾画叶片的边界，然后软件会计算出所勾画区域的面积。　　保存结果： 一旦测量完成，您可以将测量结果保存下来，以备将来参考或记录。　　需要注意的是，叶面积测量仪测量的是叶片的二维表面积，而不考虑其长度、宽度和形状等其他参数。如果您对测量叶片的长度感兴趣，云唐建议您可能需要使用传统的测量工具，如尺子、标定尺或显微镜来进行测量。[/size]

激光干涉仪是以激光波长为已知长度，利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量，具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。测量长度的激光干涉仪，主要是以迈克尔逊干涉仪为主，并以稳频氦氖激光为光源，构成一个具有干涉作用的测量系统。 激光干涉仪采用一个双光束激光头和一个双通道的处理器，采用飞行采样方式，在测量过程中无须停机采样检测，节约了测量时间和编程时间；利用RENISHAW动态特性测量与评估软件，可进行机床振动测试与分析，滚珠丝杠的动态特性分析，伺服驱动系统的响应特性分析。激光干涉仪的激光头和靶标反射镜二件之间只要发生相对位移就能进行测量，测量系统中无须分光镜、所以对光极其方便。 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作，并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。激光干涉仪可用来精确测量和校准机床、三座标测量机和X-Y平台的机械精度，也测量轴的定位精度、重复定位精度及反向间隙，测量轴的角偏、直线度，测量平台的平面度。

【作者】： 【题名】：关于“免维护”余氯测量仪和浊度测量仪的优势及应用介绍 【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-STSC201205010.htm

[font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]在现代的生产中，传统的产品直线度尺寸检验是直尺法、准直法、重力法和直线法等离线检测方法。这种检测方法具有滞后性，检测效率低，而生产企业要想得到快速高质量生产，一台在线直线度测量仪是必不可少的。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪是可进行在线无损直线度尺寸检测的设备，可在生产线上监测直线度的微小变化，提供及时的检测数据，在超差时进行声光提醒，从而实现高质量的生产。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪由3台测量仪构成，每台测量仪内采用成90°交叉分布的2路光电测头测量棒材边缘的位置，利用2路测头的位置数据计算测量点在坐标系中的实际偏差。因此，无论被测物的弯曲方向如何，测量仪均可测得真实的直线度尺寸。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]测径工作介绍：棒材通过测量仪的测量区，每台小型测量仪分别实时采集直径数据。当外径测量的数据超过设定的公差范围时，声光报警器自动声光报警。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度工作介绍：3台小型测量仪同时采集各截面边沿的位置，计算圆棒的直线度误差，与测径数据采集不冲突。当直线度超过设定的公差范围时，声光报警器自动声光报警，达到合格判定的目的。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪可兼顾直径与直线度的检测，直线度测量精度≤±0.5mm。整个系统中测量仪安装在轧制现场，控制柜安放在控制室或其它环境适合电脑工作的室内。测量仪的供电电源由控制柜引入，测量仪的测头采用串口服务器合并成1路数据后通过网线或光缆传输至控制柜内的工控机。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪具有检测精度高、响应速度快、抗干扰性好、可靠性高等特点，能够满足棒材生产现场条件的使用要求。能安装于生产线上进行测量，它可实现长距离大范围的连续测量，同时具有精度高，测量准确性好的特点，这种自动化的在线直线度测量仪在现代工业及国民经济建设中有广泛的应用前景。[/color][/size][/font]

明克斯便携式表面粗糙度测量仪T1000A型是高精度的便携式仪器，主要用于机械加工企业和计量部门在生产现场对工件表面质量进行检测。可测量平面、圆柱母线、内孔、曲面等表面的粗糙度。 测量仪T1000A的测量原理为触针法，差动电感传感器，测量范围是触针最大位移：±50μm；Rt≤80μm；Ra≤8μm ，示值精度≤±10%，打印垂直放大比：自动/500/2000/10000倍，打印水平放大比10/40/100倍，驱动箱滑行速度：0.15，0.5，1mm/s，传感器测针：金刚石圆锥，锥角90°，针尖半径5μm ，工作温度：5℃-40℃，电源采用了内置可充电电池组，外接专用充电器。

基于计算机的测量仪器具有很大的灵活性，应用因而日益普及。通过控制仪器功能，可以开发满足特殊要求的测量系统。对任何测量系统来说，成本是第一个考虑因素。开发一个基于计算机的测量仪器的费用常常比购买一个独立的台式仪器要便宜几倍。这是由于硬件成本较低、软件可重复使用，且一个测试仪器常常可代替若干独立的测量仪器的缘故。 基于计算机的测量仪器与计算机行业联系紧密，它们得益于计算机技术的进步，这包括开放的通信标准、网络服务器和在仪器和桌面应用之间进行电子制表和字处理的简单界面。这些测量仪器也因计算机性能的稳定及价格的降低而获益，从而使基于计算机的测量仪器在没有加价的条件下性能得到持续的提高。 采用校准实现精确测量 大部分测量仪器以精度表的形式提供有关某一测量仪器的测量线路精确性的信息。精度规范表有助于确定测量仪器总的不确定性，然而，这些精确规范仅适用于被成功校准的电路板，因此，你必须在测量调整前后均要运用这些规范来验证板的工作。 测量仪器准确测量物理量变化的能力是按照一定的因子变化的。使用寿命、温度、湿度和暴露在外部环境的情况及误用都会影响测量的准确性。通过对所得测试结果与己知标准进行比较，校准将测量的不确定性进行了量化。它要验证测量仪器是否工作在规定的指标范围内。如果仪器的测量值超过了所公布的不确定性，那么就要调整测量电路以使之符合业已公布的规范。 经过一段时间，用户要对传统的测量仪器进行校准，基于计算机的测量仪器也一样需要校准。用户应当选择具备内部校准(也称自动校准)和外部校准工具的的基于计算机的测试仪器。 内部校准 如果你使用了如示波器这样的仪器，那时你已经完成了内部校准。事实上，当你改变垂直范围设置的时候，大部分示波器已完成了内部校准。基本上仪器将高精确度和板上电压源进行数字化，并将其读数与己知值相比较，然后将校准因子保存在仪器自身携带的电可擦除只读存储器中，这个自身携带的板上电压源也被校准为如NIST之类的大家所知的标准，进行内部校准的主要目的是补偿工作坏境的变化、内部校准温度的变化和可能影响测量的其它因素。 同传统的测量仪器一样，基于计算机的测量仪器应当支持内部校准。基于计算机的测量仪器的内部校准由调用校准测量电路的软件功能来启动。由于测量可立刻进行，并且无须等待这个内部校准无论何时调整垂直范围，因而由软件控制的内部校准技术可节省测试时间。 基于计算机的测量仪器被安装在桌面计算机、PXI/CompactPCI机箱，或VXI/VME 机箱这样的环境中，因为基于计算机测量仪器被安装于多种不同的计算机环境当中，设计人员应当记住基于计算机的测量仪器会受到电磁干扰和电源电压的变化的影响，还要在宽的温度范围下工作。传统的测量仪器由于同个人电脑的集成日益紧密，也面临类似的挑战。 消除电磁干扰的最基本的方案包括：将数字和模拟信号的地平面分开、对电源信号的进行局部过滤、对敏感元件进行屏蔽。为了补偿电压源的变化，可以采用DC-DC转换器提升电源电压，采用电压调节器控制板上电源的电压，采用大电容消除板上电源的谐波。可以采用板上温度传感器和内部校准来完成在操作环境下不同温度的校准。关于上述设计技术的资料，可查询NI网站上一篇题为“以基于PC的数据采集硬件来进行精确测量”的白皮书。

市面上都有哪些涂层厚度测量仪器

公司的很多尺寸规定的公差是万分之一英寸，即0.0001in，需要十万分之一精度的测量仪器，即0.00001in精度的测量仪器，请教各位量友，有没有什么推荐？单位目前使用的是显示为0.0001in的激光测径仪和显示为0.00001in，精度为0.0003in的二次元，不能保证0.0001in的公差。

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

[align=center][size=18px][b]激光粒度仪测量原理及应用选型[/b][/size][/align][align=center][size=14px]会议时间[/size][size=14px]：[/size][size=14px]2020年[/size][size=14px]5[/size][size=14px]月[/size][size=14px]21[/size][size=14px]日1[/size][size=14px]4[/size][size=14px]:00[/size][/align][size=16px][b]内容[/b][/size][size=16px][b]介绍：[/b][/size]主要内容：1.颗粒相关样品的多种特性及表征方法；2.激光粒度仪的测量原理；3.如何根据质控的需要选择合适的测量仪器、测试方法；4.激光粒度仪的新发展趋势。[size=16px][b]讲师[/b][/size][size=16px][b]介绍：[/b][/size][size=14px][b]沈兴志[/b][/size][size=14px][b]:[/b][/size][size=14px]于2004年毕业于武汉大学，珠海欧美克仪器有限公司销售应用经理，中国颗粒学会青年理事会理事，主要从事粒度仪和[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url]在多种不同领域的测试应用解决方案研究、培训推广等方面工作。协助粒度测试需求者开发和优化合适的粒度测试方法，使粒度测试结果更可靠，粒度仪能真正为客户所用，发挥其最佳的功能。为近红外化学成份的定性定量预测需求者提供技术支持和化学计量学支持工作[/size][size=14px]。[/size]报名地址：[url]https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_13679.html[/url]

定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条，以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力，即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在，通常任何测量是不可能完善的，所以实际上真值是不可知的，当然接近于真值的能力也是不确定的，因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度，所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能，因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果，实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念，但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述，以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的，如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求，使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别，如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级，具体说就是该测量仪器满量程的引用误差，如1.0级指示仪表，则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级，则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器，当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值)，则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计，就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标，则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述，因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差，这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的，如长度用半径样板，它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的，实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小，通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式，这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意，从名词术语的名称和定义来看，测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的，测量仪器准确度术语是定性的概念，严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力，则应该指明给出量值是什么量，是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级，不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称，测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述，这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级，准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述，表头则也可写“准确度”，表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点，测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能，人们关心的就是是否准确可靠，如何来确定这一计量性能大小？通常它是用其它的术语来定量表述而已。

[b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前，首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量，大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机，在用户中逐渐兴起，到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域，1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像，再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向，在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起，大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们，当时也没有规范的市场，大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了，失败，一点点的进步，喜悦，分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备，特性是放大倍数低，成像面积大，光线均匀的亚显微成像设备，抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大，只是还没有开发出来。比如：微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测；机械行业中洁净度检测，精密配件的形态差异；环保领域：藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数；农林业：种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等；医药行业中用到成像的地方就更多了，我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比（R/G/B法）。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分：现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式，作用是把微生物培养出可计算的物质后，扫描出高质量电子图片，有透射光、反射光、紫外荧光成像，（抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄；菌落计数用的是反射光扫描；凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描）逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机，一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图，而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。（电脑的内存要大）逐行扫描因是移动扫描，所以光线是一条直线光源，扫描出图像光很均匀；成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分： 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版，此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件，可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能：随意对图象切割、测量、计数、分类；HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算；电泳条带分析；荧光强度分析等，可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少，抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目，以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说，抑菌圈测量仪是计算机的外部设备，是随着计算机的技术进步而进步，十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命，现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大，所以现在的高端抑菌圈测量仪，这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。（显微镜最大缺点是成像面积小）目前这个技术方向研究的人很少，国外的设备也不多，国内就北京和杭州有几个老师在研究，各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法：[/b]抑菌圈法的分类：1.KB法（纸片法）；2.管碟法；3.打孔法首先要了解用户是用什么方法，药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析；疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析；各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

影像测量仪是集光、机、电、计算机图像技术于一体的新型高精度、高科技测量仪器。精确、便捷的性能使其成为其它同类仪器的辅助换代产品。特别适合于小件为对象的精密测量或逆向测绘，适用于对塑料零件、五金模具、电子组件、光纤器件、精密零件、钟表零件、小五金,LCD,玻璃,色彩分析等的测量检测分析。广泛应用于模具、螺丝、金属、配件、橡胶、PCB板、弹簧、五金、电子、塑料等领域，在机械、电子、仪表、塑料等行业及高等院校、科研院所等领域具有一定的运用空间。　　影像测量仪是复杂而又精密的光学仪器，在野外和矿井坑道内进行作业时，经常要道受风雨、日晒和煤尘、湿气等有害因素的侵蚀。因此，正确的使用、妥善的保养，对于保证仪器的精度、延长其使用期限具有极其重要的意义。那么影像测量仪在使用中容易遇到哪些故障呢?怎么解决故障怎么保养影像测量仪，从而减少仪器故障呢?影像测量仪常见故障分为升降传动故障、工作台故障、投影屏故障、投影成像故障、影像成像故障、电气故障、电子故障以及精度故障等。　　1、升降传动故障。常见的有升降有异响、无法上升,下降、下降有坠落感,弹跳、传动时空回间隙大、微调不传动、投影屏框松动等。　　2、工作台故障。一般容易出现光杆空转、光杆传动有弹跳、磨擦传动时不顺、工作台运动有响声、工作台运动有卡滞现象等。解决故障时，要要找出故障原因，再对症下药。可调整弹簧的螺丝松紧、更换轴承、新上油、加润滑油、更换光杆、调节或更换光杆支架等方式来解决。　　3、投影屏故障。旋转有声响时，可清理端面上的杂质(如锈渍)，换新定位轴承等。旋转时磨擦力大，可松开锁紧螺丝，或换磨擦转。旋转时不均匀时，可换新度盘座、磨擦轮、磨擦轮轴等。投影屏旋转不计数时，可扭紧角度磨擦机械，焊接好信号线，接好接插等。　　4、投影成像故障。成像模糊、成像有暗区、影像有黑斑、成像对比光线暗等，可以对物镜、投影屏、工作台玻璃、聚光镜、反光镜等进行清洗。对灯丝进行调节或更换，如果灯泡电源电压过低，则加装总电源稳压器。　　5、影像成像故障。显示黑屏时可查看电源线是否接好，电源电压等，插紧显示器信号线，如有零件损坏则需要更换显示器或者十字线产生器。当物镜变倍时十字线与描准点偏移大时，重调锁镜筒的螺丝钉，或者换镜筒。当出现被测工作的某一边有暗影时，可调节摄像机或者玻璃四个角上的螺丝，摆正工件。　　6、电气故障。常见故障有灯泡不亮、轴流风机不转动、易烧灯泡、易烧保险丝、变压器过热，损坏等。　　7、电子故障。如电箱按键失灵，可系统总清、换新面膜;如轴不计数，可换滑座或OP板或整个尺、重新接一下信号线、换主机板等。如数码管缺笔划，则需更换或维修。　　8、精度故障。包括a.x.y轴精度不准、两坐标测量精度差、角度示值误差大、不同平面测量误差大等。应对此类故障，要注意校正和调整。　　如果想让影像测量仪少发生故障，就要注重平时对仪器进行保养。仪器存放环境相当重要，最好能够放置在清洁干净的场所，放在清洁干燥的房间里避免光学零件表面发霉、金属零件生锈、尘埃杂物剥落等。零件表面要保持清洁，不可以用手触摸，要经常进行清洁。在装卸工件时要特别小心玻璃平台，测量平台上不可放置过重的测量工件。当测量平台附着水气及油雾层时，请使用清洁剂清除污垢。机身外壳遭污染时，用软布擦拭干净。机身外壳的污染并不会影响测量精度，但污染可能扩散至线性滑轨或平台等，对测量精度有影响的机身其他部分。玻璃工件应保持清洁，不可沾上污垢，否则可能导致影像测量仪的成像不清晰，造成测量精度下降。切忌不可用手触碰镜头。如果镜头表面有手纹或油污，可用长纤维脱脂棉球或专用的镜头纸，蘸专用的镜头清洁剂擦拭，也可用纱布浸湿酒精轻轻擦拭。如果灰尘较多，则用吹气球吹掉，或专用的气体清洁剂，镜头毛刷，不可嘴吹。另外，放置测量工件时容易划伤玻璃面，需要特别注意 若沾上油垢或灰尘用软布擦拭。　　此外，影像测量仪应放在清洁干燥的室内(室温20℃±5℃，湿度低于60%)，避免光学零件表面污损，金属零件生锈，尘埃杂物落入运动导轨，影响仪器机能。而影像仪含有精密部件，如影像系统、工作台、光学尺以及Z轴传动机构等均需精密调校，所有调节螺丝与紧固螺丝均已固定，客户请勿自拆卸，如有问题请通知专业人员，如果自行拆卸会造成影像测量仪出现故障或精度降低，不在保修范围内。需要注意的是，影像测量仪的所有电气接插件，一般不要拔下，如已拔掉，则必须按标记正确插回并拧紧螺丝，不正确的接插，轻则影响仪器功能，重则可能损坏系统。

电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表　　模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器　　示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器　　信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪　　晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表　　兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪　　红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪　　该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪　　电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Ｑ、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪　　频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。　　除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

厚度的测量方法有多种，总体上分为非接触式与接触式，非接触式包括射线，涡流，超声波，红外等多种类型，接触式行业中也称为机械式测厚，分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。　　在选择厚度测厚仪这样的机械设备时，往往都通过比较做出选择，知名品牌也是参考的一点，但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家，在国内来说，他们做的是相当不错的，自主研发生产，质量高，进一步确保了高精度，高效率，高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]　　厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　厚度测量仪哪个品牌比较好？不同类型的测厚仪，对应不一样的行业，适用范围也有所不同，那么大家在选购测厚仪时，就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们，欢迎来电大成精密公司来咨询。