瞬态荧光仪

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo900系列全功能稳态/瞬态荧光光谱仪参数指标型号OmniFluo960主要功能稳态测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围/稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪激发光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@300nm600g/mm BLZ@500nm 通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle® 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度 ? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试 FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

产品关键词：稳瞬态荧光光、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、电致瞬态、TREL、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、变温荧光、时间分辨光致荧光光谱、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、超快光谱、动力学扫描、多发射谱扫描、多同步扫描▌ 产品简介光电一体化时间分辨光谱仪HiLight是东谱科技自主研发的业内首款光电一体化时间分辨光谱仪（又称光致/电致稳瞬态/时间分辨荧光光谱仪TRPL），该设备拥有光致和电致荧光光谱模块，可以对各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）和电致发光样品进行全面的稳、瞬态测试分析，可在200 nm 至5500 nm、宽波长、2.5 ns至1200 s宽时域范围上对微弱发光信号进行精准测量。基于其光电一体的独特优势，HiLight可同时用于材料与器件的研究，从而极大地拓展了传统荧光光谱仪的适用范围。基于模块化的设计理念，HiLight可以提供灵活的配置方案，以适应多样化的测试需求，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 模块化设计，可选配置丰富灵活，易升级维护；□ 光电一体，同时适用于材料与器件； □ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射电致荧光/磷光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光时间分辨电致发光光谱变温荧光比较荧光电致发光响应时间低温荧光时间相关动力学多维光谱显微荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器电致发光部件SMU电压范围±15 V电流范围±40 mA电压设置分辨率10 mV电流设置分辨率10 μA电压测量分辨率1 mV电流测量分辨率1 μA瞬态电致发光驱动源输出电压范围-10V~+10V电压分辨率16 bits信号频率范围10 mHz~10 MHz驱动电压信号类型脉冲、正弦波、三角波、方波等水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 荧光粉□ 上转换材料□ TADF□ 光伏材料□ 荧光微球□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件▌ 产品型号型 号特 点光电一体化时间分辨光谱仪HiLight 990 模块化，可选配置功能；升级与拓展功能强稳瞬态荧光光谱仪HiLight HS15 一体机；稳态和瞬态荧光功能荧光寿命测量仪HiLight T30 寿命测量功能；可选滤光片分光瞬态电致发光光谱仪HiLight E60瞬态电致发光功能荧光光谱仪HiLight S20稳态和磷光功能

TPL300-稳态/瞬态荧光光谱系统采用稳态、瞬态一体化设计，其结构紧凑、稳定性好。可实现稳态、瞬态荧光光谱测量、荧光寿命测量。配有专业数据采集软件、数据分析软件。可实现稳态/瞬态三维数据采集、数据拟合等系统主要技术指标● 稳态荧光模块1） 光谱探测器∶光谱仪+PMT或CCD 2） 光谱采集模式∶波长扫描或CCD一次成谱3）光谱探测范围∶250-900nm；900-1700nm ●瞬态TCSPC模块∶1） 时间窗口∶50ns-5μs，5μs-1ms（取决于激光重复频率）2） IRF（仪器响应函数）∶200ps 3） 时间分辨率：50ps 4） 可见光谱探测范围：350nm-900nm,35%@500mm 5） 近红外光谱探测范围：900nm-1700nm,25%@1550nm●可选配激光器1）波长∶405nm2）光纤耦合输出3）脉冲宽度：100ps4）重复频率可调：0.1MHz-40MHz 5）峰值功率：200mW 6）平均功率：0.4mW@40MHz●配备液态样品池，薄膜样品架和粉末样品夹具●磷光（长寿命）检测拓展模块∶1） 光源闪烁光源2）激发波长选择单色仪3）探测模式∶单点检测器配门控光子计数模式4）检测时间窗口范围∶可将时间窗口范围拓展至秒●数据采集软件∶可实现稳态/瞬态三维数据采集应用实例样品：样品CdSe

荧光上转换系统 FluoMax是研究溶液、固体样品和hin薄膜中的荧光动力学的关键系统。它的时间窗为2ns，具有低于100fs的固有时间分辨率。该检测方法依赖于利用飞秒光选通技术对非线性光学晶体进行和频生成。FluoMax的光谱范围覆盖了可见光和近红外区域。它被设计用于匹配任何类型的飞秒钛蓝宝石振荡器(1 - 100mhz, SC版本)和再生放大器(0.5 - 10kHz, MP版本)。 高性价比 操作简单 拓展光谱 由光谱学专家设计 多样化的工具和配件探测荧光波长范围(350-1300 nm)100fs内在时间分辨率 全电脑操作 时 间 窗 口 2 n s （标 配） 4ns（可选） 排放各向异性测量 超高信噪比 激光诱导荧光是由飞秒激光脉冲产生，并指向一个光学非线性晶体。只有在存在延迟飞秒栅脉冲时，非线性晶体才会产生和频辐射。由于光学延迟扫描的结果，荧光上升或衰减动力学被测量在一个波长由单色仪和非线性晶体调整。系统灵敏度取决于荧光激发光的平均功率、脉冲重复率、发射寿命的样本,转换有效率光谱仪的暗计数的光子计数系统,和测量时间。有机化学:合成化合物中的电荷转移 瞬态排放获得动力学与FluoMax-MP TAA-based有机化合物在溶液中与激发Clark-MXR CPA2010™ 倍频输出。用2uj, 1kHz, 388 nm脉冲激发。时间动力学拟合(实线)是用复指数函数和高斯函数进行的。

产品关键词：稳瞬态荧光光谱、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、时间分辨光致荧光光谱、分光光度计、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、动力学扫描▌ 产品简介稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15，该设备采用一体式设计，包括稳态、瞬态等模块，工作波长200 nm 至5500 nm,时间范围2.5 ns至1200 s（时间分辨精度305fs）。适用于各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）进行全面的稳、瞬态测试分析，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 一体式设计，具有高稳定性、高灵敏性优点；□ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射变温荧光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光多维光谱变温荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

优势特点表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。 瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。产品应用光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。详细介绍瞬态表面光电压实验光源为激光器, 激光脉冲半宽为5 ns, 激光波长为355 nm. 脉冲激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器(100 MΩ的输入阻抗, 1 kΩ输出阻抗的放大器)放大进入500MHz 的数字示波器(Tektronix)进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极(直径为5 mm, 透光率为70%), 云母(厚度约10 μm), 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于Ti O?电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。规格参数1) 瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为 2)可分析样品为催化剂粉末材料,采用三明治结构样品池3) ※可分析样品为光电器件，在溶液状态下分析TPV信号，测试样品的表面光电压信号和电子扩散长度；4)※Nd:YAG激光器：脉冲宽度：8ns @1064 nm, 7ns@532 nm, 6nm@355 nm，6nm@266 nm；光斑尺寸：7 mm 激光输出能量：200 mJ@1064 nm, 100 mJ@532 nm, 40 mJ@355 nm，20mJ@266 nm 频率1~20Hz；稳定性3%，RMS1ns 5)前置放大器，2通道，DC~350MHZ带宽，升降时间1ns，噪音6.4nv/HZ；6)数字荧光示波器，500 MHz 带宽，2 条模拟通道，所有通道上实时采样率高达 5 GS/s，所有通道记 10k 记录长度，3,600 wfms/s 连续波形捕获速率，高级触发套件，前面板 USB 主机端口，可以简便地存储和传送测量数据25 种自动测量标配 FFT，多语言用户界面，自动检测异常波形， 接口支持有源探头、差分探头和电流探头，自动定标和确定单位，配备 USB 主控端口，可以轻松将测量信息存储和传输到个人计算机中，个人计算机通信软件使您能够轻松将屏幕图像和波形数据拖入独立桌面应用程序或直接拖入 Microsoft Word 和 Excel。7)※光功率计，测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw，四挡量程自动分辨，可切换光功率密度，配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能，可以根据参数自动计算出光源强度和产氢效率，计算输出：光催化反应产氢速率mol/s ，入射光子数，平均产氢量子产率百分比，平均光-氢能量转化效率百分比。8)配置不锈钢粉末样品池，石英溶液样品池各一套，分别用于粉末样品和器件样品分析。9)所有光路均置于封闭暗箱内，无外届光源影响分析测试，内部配有导轨、反射镜、精密升降台平台，可以实现水平光路，也可以实现垂直光路。10)系统包含光学平台（900*1200mm）、暗箱、品牌电脑、控制及数据采集软件。11)※专用瞬态定制软件，专用的硬件、软件降噪算法，实时采集并分析数据出谱图，分别完成粉末样品和溶液样品的分析。12)安装、调试及技术培训，培训内容包括仪器的技术原理、操作、数据处理、基本维护等。

瞬态光电流/瞬态光电压测量系统（TPC/TPV），用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

简介：瞬态光电流（TPC)/瞬态光电压（TPV）测量系统主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC； 主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

产品介绍：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪是南京大展仪器生产的一款热分析仪器，采用瞬态热源法，具有测量速度快，测试广泛广，采用双向的控制系统，操作便捷，并且配有软件分析，可以直接出数据报告，采用全新的外形设计，简约小巧。测试方法：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。测试范围：DZDR-S瞬态法导热系数测试仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。性能优势：1、测量方法。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用非稳态法中的瞬态热源法，与其他测试方法相比，测量速度更快，准确性高。2、测量速度快。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪能够在5~160s内测量出导热系数，提升实验的效率。3、多功能性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪适用于不同类型材料的导热系数测试，其中包括：液体、固体、金属、膏体、胶体、薄膜、粉末和复合材料等等，适用性广泛。4、易用性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪采用双向操作控制系统，仪器和计算机同时操作，彩色触摸屏操作，使得使用和操作设备变得简单和便捷。5、数据准确性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪拥有配套的分析软件，能够提供准确可靠的导热系数测试数据，可直接提供数据报告。6、重复性。DZDR-S瞬态法导热系数测试仪对样品实行无损检测，样品可以重复使用。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle® 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

飞秒瞬态吸收光谱仪 瞬态吸收光谱仪通过用“泵浦”脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。 我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。 特点&优势 1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。 2. 全电脑控制 3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm） 4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项） 5. 瞬态吸收各向异性测量 6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现 技术规格 激发 SHG THG Rainbow 20F 泵浦光谱范围 230-12,00nm 探测光源 连续白光 探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional 扫描范围 2ns，1fs resolution； （4ns，2fs optional） 时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth 噪音级别 1.3 x 104OD typical 软件 Standalone and Lab ViewTM 尺寸 89L*64W*25H cm 重量 34Kg 输入参数 能量 ＞0.3mJ 脉冲宽度 30—150fs 光束直径 5---10mm （near TEM） 偏振 Linear，horizontal 重复率 0.3---3kHz 波长 750---850nm 光束高度 110nm 应用领域 1.三线态吸收2.分子动力学3.材料科学4.光催化5.激光晶体6.太阳能晶体

产品介绍：DZDR-S瞬态导热系数测定仪是南京大展检测仪器推出一款新导热仪，采用瞬态热源法，具备测量速度快、测试范围广，采用全新的外形设计，简约小巧，双向操作系统，操作便捷性高等优势。测试范围：DZDR-S瞬态导热系数测定仪可测量块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等不同材料。测试方法：DZDR-S瞬态导热系数测定仪采用的是瞬态平面热源技术（TPS），可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。性能优势：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；3.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；4.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；5.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；6.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；7.探头上的数据采集使用了数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；8.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃（可拓展到-40~300℃）探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

瞬态吸收光谱仪通过用&ldquo 泵浦&rdquo 脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量最广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择&ldquo 泵浦&rdquo 和&ldquo 探测&rdquo 脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。特点&优势1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。2. 全电脑控制3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm）4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项）5. 瞬态吸收各向异性测量6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现激发 SHG THG Rainbow 20F泵浦光谱范围 230-12,00nm探测光源 连续白光探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional扫描范围 2ns，1fs resolution；（4ns，2fs optional）时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth噪音级别 1.3 x 104OD typical软件 Standalone and Lab ViewTM尺寸 89L*64W*25H cm重量 34Kg输入参数能量 ＞0.3mJ脉冲宽度 30&mdash 150fs光束直径 5---10mm （near TEM）偏振 Linear，horizontal重复率 0.3---3kHz波长 750---850nm光束高度 110nm

仪器简介： 美国高分辨深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具有很高检测灵敏度的实验方法，能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过对样品的温度扫描，给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS谱，集成多种全自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布。 也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。 感谢中国科学院宁波材料研究所,国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 南昌大学 西安电子科技大学成为此设备的专业用户！！ 此设备在全球用户众多，比欧洲设备性能价格比高，是研究材料深能级领域的理想工具！！使用闭循环液氦制冷机，从低温到高温只需要升温一次，就能完全得到所有频率的曲线，不同频率不再需要再做一次升降温, 这是其它设备所不具有的功能！Semetrol 的DLTS系统温度范围：25K - 700K，液氦制冷，性能价格比高系统配置:DLTS数据采集及分析软件 (DLTS, ODLTS, DDLTS)Semetrol型快速电容测试器自动电容零点界面数据采集卡及中断箱 ODLTS穿导件机柜安装硬件及电缆设备机柜GPIB 接口卡电脑是双核, 2GB 内存, 19”显示器. USB 接口, CD书写用于数据传输.可调节探针(2)闭环液氦制冷机 (25-700K)温度控制器 电容测试器指标:型号: Semetrol电容零点界面: Yes全自动电容补偿: Yes全自动范围设置: Yes响应时间: ~25μsec补偿范围: 256pF测试频率: 1MHz测试信号级别: 15, 30, 50, 100 mV电容范围: 2000pF灵敏度: 1fF电压范围: +100V to –100V (Boonton) +10V to –10V (数据采集卡)灵敏度: 1mV (电压小于 20V时), 10mV (电压大于 20V时) 0.3mV (数据采集卡)脉冲宽度: 15ms to 0.1sec (Boonton内置偏压) 5μs to 0.1sec (数据采集卡)脉冲幅度: 到 200V, slew rate 20V/ms (Boonton) 到 20V, slew rate of 20V/μs (数据采集卡)电流: 5mA 数据采集卡瞬时记录:采样速率: 可至 1μs. 一般使用 50μs 采样次数: 10,000.记录分辨率: 50ns暂时分辨率, 优于 50aF 电容分辨率过滤: 全自动检测及正弦噪音消除

产品介绍：DZDR-S是南京大展检测仪器生产一款瞬态热源法导热仪，采用全新的外形设计，简约小巧，配备天平，具有测量速度快，操作简单。测试方法：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。性能优势：1.测试范围广泛，测试性能稳定；2.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；4.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；5.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；6.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；7.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；9.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；11.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；12.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

纳秒/微秒瞬态吸收光谱系统系统设计和飞秒-纳秒激光相结合，与超快瞬态吸收系统不同，纳秒 瞬态吸收系统采用电控延迟系统和独立超连续白光光源，用于检测样品在亚纳秒 到毫秒尺度的光诱导动力学演化过程。Micro-TA100系统配备独立的pump-probe 闪光光源，用于检测样品在微秒到秒尺度的光诱导动力学演化过程。检测模式：透射、反射模式可切换光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器采用法国LEUKOS-DISCO（ＵＶ）超连续白光激光器白光光谱范围380 - 1800 nm 、重频2KHz、平均功率5mW采用双通道（采集和参比）光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率时间检测窗口范围： 450μs时间分辨率：1ns检测灵敏度：≤0.1mOD（可见和近红外）可在超快瞬态吸收光谱系统上拓展纳秒系统，共用检测器微秒瞬态吸收光谱拓展模块(选配):激发光源：滨松脉冲氙灯光源（脉宽2.9μs）氙灯平均功率60W ；波长范围：240-2000nm；重频范围：100到1Ｈｚ探测光源：滨松CW探测氙灯光源，平均功率35W，光谱范围： 240-2000nm光谱检测：光谱仪配高速CMOS线阵传感器，光谱范围一次采集（无需扫描单色仪） （与ns或飞秒系统共用光谱检测部件）光谱探测范围：可见光300-950nm；近红外850-1700nm检测时间窗口：～35μs－s时间分辨率（CMOS相机最小门宽决定）：～35μs（可见光）；～14μs（近红外）采用双通道采集和参比光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率数据采集软件系统：2D/3D数据采集模式，实现采集数据实时观测分析。专业数据分析软件：动力学曲线拟合、时间零点矫正、均一化处理等多种强大功能（可根据用户需求添加自定义功能）

瞬态光电流/光电压测试系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度 ? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试 FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

产品介绍：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪，可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。性能优势：1.测试范围广泛，测试性能稳定，在国内同类仪器中，处于优先水平；2.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；4.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；5.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；6.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；7.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；9.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套DZDR-S 瞬态热源法导热仪的操作方法：DZDR-S导热系数测试仪测试方法对比：

产品介绍：DZDR-S是南京大展检测仪器生产一款瞬态平面热源法导热仪，采用一体化的机型设计，小巧轻便，同时测量速度快，一键计算导热系数，准确度高等优势。测试范围：DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。测试方法：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。性能优势：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间； 2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；3.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；4对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；5.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；6.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；7.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；8.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；9.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；10.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

产品介绍： DZDR-S 导热系数测试仪是采用了瞬态平面热源法，仪器由南京大展检测仪器研发、生产，采用了一体化的机型设计，能够实现一键测量，同时进口芯片，测量速度快5~160s出结果，操作简单。测量范围: DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪测试样品种类较多，包括：金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料、纸、泡沫和玻璃钢面板复合板材等。测试方法介绍： DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便，可以选配有粉末测试容器、液体杯。优势特点：1、直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2、主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；3、探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；4、智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；5、仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；5、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。测试步骤：技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

德国Phystech 深能级瞬态谱仪FT1230德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230（DLTS） 我们在1990年推出了首台数字DLTS，随着电脑技术的发展，使得在短时间内进行复杂计算成为可能。在纯指数发射过程模型的基础上，用各种数学模型分析测量到的瞬态过程，如傅里叶转换、拉普拉斯转换、多指数瞬态拟合、ITS（等温瞬态光谱）信号重叠法、温度扫描信号重叠法（重折叠）。与其他系统相比， 深能级瞬态谱仪FT230具有无法比拟的能量分辨率。 德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230特点l 自动接触检查l 常规测试和加强软件l 自动电容补偿l 三终端FET电流瞬态测量l 大电容和浓度范围l 灵活性高、模块化硬件l 支持各种冷却仓和温度控制器l 傅里叶转换（F-DLTS），比例窗口和用户自定义校正功能l DLTFS（深层瞬态傅里叶光谱仪）评价 德国Phystech深能级瞬态谱仪FT1230操作模式l C-DLTS(电容模式)l CC-DLTS(定电容模式)l I-DLTS（电流模式）l DD-DLTS（双关联模式）l Zerbst-DLTSl O-DLTS（光激发模式）l FET-Analysisl MOS-Analysisl ITS（等温瞬态光谱仪）l 缺陷分析l 俘获截面测量l I/V, I/V(T) 查理森Plot分析l C/V, C/V(T)l TSC/TSCAPl PITS（光子诱导瞬态谱）l DLOS(特殊系统)

加拿大C-Therm公司的Trident导热仪，可采用Flex TPS配置，通过瞬态平面源的柔性双面传感器，给予测试灵活性。用户可自由设置测试时间和功率参数，测定固体、液体、粉末、胶体的导热系数、热扩散系数和比热，并配有专门测试薄板、薄膜以及各向异性材料的模块，适应ISO 22007-2:2015, GB/T 32064-2015标准。 除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。 技术参数：可选测试方法： 瞬态平面源（Flex TPS）、改良瞬态平面热源法（MTPS）和探针法（TLS Needle）导热系数：0-2000 W/mK热扩散系数：0-1200 mm2/s比热：0-5 MJ/m3K吸热系数：0 - 40,000 Ws?/m2K精确度：优于5%重复性：优于1%测试时间：0.8 – 180秒测试材料种类：块状材料，复合材料，薄膜材料，薄板材料，各向异性材料 如想了解更多关于应用、参数和报价的信息，欢迎来电或留言咨询。

瞬态光电压（TPV）、瞬态光电流（TPC）测试是揭示光伏、光催化等光电器件微观工作机理的关键手段。利用TPV 和TPC 检测的数据进行分析，可以得到器件内部载流子的传输、积累、复合等动力学过程的相关信息。TPV 和TPC 的测试是直接基于最终的工况器件进的，因而得到的参数可以直接反映工况条件下的光物理过程，这是一个相对于其它检测手段的很大的优势。TranPVC基于东谱科技的MagicBox主机研制而成，是专为有机太阳能电池（OSCs）、燃料敏化太阳能电池（DSCs）、钙钛矿太阳能电池（PSCs）、碲化镉纳米晶太阳能电池等研究领域开发的高性能瞬态光电流/光电压测量平台，集成了数种文献中常见的、前沿的瞬态测量模式，为TPV/TPC的研究提供了强有力的、便捷的测试工具。瞬态光电压（TPV）测试主要应用：有机太阳能电池 钙钛矿太阳能电池；染料敏化太阳能电池 碲化镉纳米晶太阳能电池；硅基太阳能电池 其它光伏、光催化、光电导器件等。