一,OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m)OBR 6200 系列是一款便携式、坚固耐用的超高分辨率反射仪,具有后向散射级灵敏度坚固耐用的电池供电集成系统,具有直观的触摸屏用户界面,非常适合现场维护应用。利用光学频域反射计(OFDR)技术,以亚毫米空间分辨率、高精度和高动态范围测量分布式回波损耗(RL)和插入损耗(IL)。OBR 6225 针对航空航天、海军、运输和工业应用中的短光纤网络进行了优化,而 OBR 6235 则非常适合数据中心环境。OBR 6235将测量长度范围扩展到500米,是数据中心互连精密测试的理想选择,用于中短光纤链路和组件的精确测试。OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m),OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m)产品特点完全便携且坚固耐用的OBR跟踪并分析回波损耗(RL)和插入损耗(IL)与长度的关系高精度测量长度和延迟空间采样分辨率低至80μm可提供IP65和MIL-STD认证产品应用&bull 现场光纤组件故障排除&bull 准确定位IL站点、高RL连接、光纤中断等。&bull 维护航空电子、航空航天、海军和工业网络&bull 验证数据中心互连的光纤长度&bull 光纤传感系统故障排除通用参数型号对比-OBR6225OBR6235通道数1 或 21采样分辨率(2 点) 0,080 毫米(@20 m 长)0.20毫米(@200 m 长)Max. 装置长度100 m、200 m 可选。500米中心波长1546.7nmRL 动态范围70dBOBR 6200系列以高分辨率绘制反射与长度的关系图,自动检测超过用户定义阈值的RL反射事件和IL位点OBR 6225参数表参数规格测量 光端口数量OBR 6225-11 portOBR 6225-22 ports测量长度模式20 m50 m100 m200 m1采样分辨率(两点)20.080 mm0.10 mm0.20 mm0.40 mm延迟/延迟测量精度5 ps10 ps20 ps40 ps波长扫描范围10 nm8 nm4 nm2 nm中心波长1546.7 nm测量时间10 s回波损耗测量RL动态范围370 dB总范围40 to -129 dB灵敏度4-129 dB分辨率 5± 0.1 dB精确5± 0.5 dB插入损耗测量IL动态范围,反射模式615 dB分辨率7± 0.1 dB精确7± 0.2 dBGeneral光输出功率4 mW电池3 h runtime 2 h charge time触摸屏显示器10.1”, 1280 x 800 resolution数据I/O端口USB-C, RJ45 Ethernet光学连接器OBR 6225-1FC/APC (SC/APC or FC/APC adapter patch cord)OBR 6225-2Sealed duplex FC/APC (FC/APC adapter patch cord)重量10.1 lb (4.6 kg)尺寸13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm)环境军事认证(OBR 6225-2)MIL-STD-810G入口保护(OBR 6225-2)IP65电磁兼容性(OBR 6225-2)MIL-STD-461G工作温度-20 to 35 °C (0 to 35 °C charging)储存温度-20 to 60 °C工作高度0 to 2500 m (0 to 3000 m storage)CertificationsOBR 6225备注1.具有加长选项2.SMF-28中两个采样点之间的距离。3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.分别以10 cm、12.5 cm、25 cm和50 cm的积分宽度对20 m、50 m、100 m和200 m模式进行测量。OBR 6235参数表参数规格测量光端口数量1 port测量长度模式100 m200 m500 m采样分辨率(两点)10.20 mm0.40 mm1.0 mm飞行时间延迟精度2± 0.1%波长扫描范围4 nm2 nm0.8 nm中心波长1546.7 nm测量时间10 s回波损耗测量RL动态范围370 dB总范围40 to -129 dB灵敏度4-129 dB分辨率5± 0.1 dB精确5± 0.5 dB插入损耗测量IL动态范围,反射模式615 dB分辨率7± 0.1 dB精确7± 0.2 dBGeneral光输出功率4 mW电池运行时间3 h电池充电时间2 h触摸屏显示器10.1”, 1280 x 800 resolution数据I/O端口USB-C, RJ45 Ethernet光学连接器FC/APC重量10.1 lb (4.6 kg)箱子尺寸13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm)环境工作温度-20 to 35 °C (0 to 35 °C charging)储存温度-20 to 60 °CCertificationsOBR 6235备注1.SMF-28中两个采样点之间的距离。2.保证了维安内部NIST可追踪的HCN气体电池的准确性。3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.分别在100米、200米和500米模式下,以25厘米、50厘米和125厘米的积分宽度进行测量。二,光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)Luna OVA 5000是用于现代光网络设备的损耗、色散和偏振测量的快、准确、经济的工具。它是单连接、全参数表征光纤组件的理想设备,从耦合器到特种光纤,以及介于两者之间的一切(光纤布拉格光栅、阵列波导光栅、自由空间滤波器、可调谐器件、放大器等),所有这些只需要可调谐激光器的一次扫描.Luna Innovations正在推出OVA 5100产品,包括用于C和L波段的OVA 5100型号,以及用于O波段操作的OVA 5113。OVA 5100是具有同等功能和性能的OVA 5000系统的直接替代品。除了提供更便携的外形外,OVA 5100还代表了Luna对质量的承诺,并持续提供光学矢量分析仪(OVA)的不一样功能。光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪),光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)产品特点&bull 对长度不超过150 m的设备进行单次测量、全参数分析&bull 在不到3秒的时间内对无源器件进行quan面表征&bull 完全偏振响应&bull 单次扫描,同时测量完整的参数范围--插入损耗(IL)--偏振相关损耗--偏振模色散(PMD)和二阶PMD--色散(CD)--组延迟(GD)--光时域响应--Jones矩阵元素--光学相位响应&bull 高分辨率C和L波段(OVA 5000)或O波段(OVA 5013)能力&bull 实时测量&bull 用户友好界面产品应用&bull 分析平面光电路和硅光子器件&bull 表征光纤组件&bull 测量频谱响应和时延响应&bull 通过完整的传递函数改进设备模拟和模型通用参数型号OVA 5100OVA 5100 (C & L band) OVA 5113 (O band)OVA 5000OVA 5000 (C & L band) OVA 5013 (O band)图片 机箱尺寸36.6 x 34.5 x 16.5 cm(14.4 x 13.6 x 6.5 in)47 x 42 x 21 cm(18.6 x 16.5 x 8.1 in)重量11.4 kg (25 lb)16.2 kg (35.8 lb)功能和规格等效的功能、软件、性能规范和配置。产品状态建议新购买维护模式 OVA 5100–OVA 5000的新外壳和名称Luna OVA 5100本质上是一款OVA 5000,封装尺寸较小,并进行了一些内部更新,以提高其可制造性和长期可支持性。在功能上,OVA 5100/5113系统是OVA 5000/5013的替代品,具有同等的功能、规格、功能和软件。OVA 5000/5013的所有选项均适用于OVA 5100/5113,零件号不变。重要可能影响系统与客户应用程序集成的变化将是系统的物理尺寸和重量的减少。维护OVA 5000和OVA 5013OVA 5000和OVA 5013型号已进入维护模式,这意味着Luna将继续全力支持和服务这些系统,并遵守产品保修。通过1次扫描,OVA 5000可以同时测量光子器件和子系统的完整传递函数。此屏幕显示IL和组延迟与波长的关系。参数快速模式 1平均模式 2单位OVA 50001525 - 1610nmOVA 50131270 - 1340nm波长:分辨率1.61.6pm精度3±1.5±1.5pm重复精度±0.1±0.1pm光学相位误差:30 m mod±0.05±0.0075radians损耗特性:动态范围6080dB纹波4±0.05±0.01dB分辨率±0.05±0.002dB插损精度±0.1±0.05dB回损精度±0.2±0.1dB色散:精度±10±5Ps/nm群延迟:量程(Range) 366ns精度±0.2±0.1ps损耗范围44560dBPMD:量程566ns精度(一阶)±0.03 (100pm steps)±0.15 (30pm steps)±0.08ps精度(二阶)±10±2ps损耗范围44050dBPDL:消光比4050dB精度±0.05±0.03dB测量速度:激光扫描速度7070nm/s全参数测量速度63030ms/nm全规格扫描速度71255s实时刷新率1NAHzMax. 测试长度:透射150150meters反射7575meters物理:重量16.2411.4 (5100新款)kg操作功率100W1级激光器10mW规格(W*D*H)470 X 420 X 21366 x 345 x 165 (5100新款)mm1.快速模式:无平均校准扫描,4次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。2.平均模式:4次平均校准扫描,64次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。3.由NIST内部可追踪的HCN气室保持精度。IL、GD和PMD在“平均模式”下的4.80、60和50 dB动态范围已安装并启用“高动态范围”选项。5.指出可以捕获的总设备脉冲响应持续时间。6.根据每次扫描的组合激光扫描和分析时间计算的速率。7.在快速模式(Fast Mode):40 nm范围和平均模式(Average Mode):2.5 nm范围内进行全规格测量(见注释4)。不包括校准时间。单次扫描中的完整特征OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系统的光学特性,提供quan面的表征一次扫描和一次连接。OVA 5000使用干涉测量法直接测量线性传递函数(Jones矩阵),并同时测量其在每个波长下的四个复数元素。根据该数据,所有标准线性参数测量,包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL,都可以以z高的动态范围和可用的精度进行提取。其结果是实现了极其快速、高分辨率和精确的器件表征,是硅光子学和其他集成光子学器件的理想选择。高分辨率“零死区”反射计OVA 5000还可以作为具有光学频域反射计(OFDR)选项的高分辨率反射计进行操作。具有OFDR选项的OVA 5000可提供20μm采样分辨率、“零死区”和高灵敏度(95 dB)的反射计测量。使用此选项,您可以轻松“向内看”微型光子器件,并在波导内通常发生的规模上区分反射事件和杂质。完全偏振分析通过可选的偏振分析软件插件,OVA 5000可以测量、计算和显示光学组件对模拟输入偏振态的响应,从而消除了偏振对准的繁琐和困难任务。该软件显示插入损耗、群延迟和对用户定义的输入极化状态的脉冲响应。易于使用的滑块允许用户将模拟输入偏振调整到任何所需状态。anlaysis软件还绘制了偏振主态(PSP)的Min. 和Max. 插入损耗、群延迟和色散,以及偏振平均量(IL、GD、CD等),PMD、PDL、Jones矩阵元素和时域信息。使用单一仪器进行quan面表征OVA 5000是业界重要一款通过单次连接和单次高速测量扫描测量光学组件完整光谱和时间延迟响应的仪器。OVA 5000简化了测试设置,缩短了测试时间通过将多个光学仪器和组件的功能集成到单个仪器中。用单个OVA 5000替换所有这些仪器。型号说明型号 Description IncludesOVA 5000光学矢量分析仪,1525 nm-1610 nm用于C和L波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。OVA 5013光学矢量分析仪,1270 nm-1340 nm用于O波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。OPT02003桌面分析软件提供OVA 5000所有分析和数据可视化的软件,仅使用保存的OVA测量数据文件。OPT02004OFDR选项用于执行高分辨率反射测量的光学频域反射计(OFDR)软件。OPT02005极化分析软件分析对模拟输入极化状态的响应。OPT02006扩展的动态范围启用增强的动态范围(请参阅性能表)。 OPT02007自定义软件开发工具包带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。三,OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)光学后向散射反射仪(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屡获殊荣的光学后向反射仪TM产品线的一部分。OBR 4600专为组件和短期网络测试和故障排除而设计,可实现具有反向散射水平灵敏度的超高分辨率反射计。OBR 4600具有低至10微米的采样分辨率、零死区、极低的噪声基底,以及扩展范围和分布式温度和应变传感的选项,提供了行业优秀的反射计技术,使您能够所未有地“看到”您的组件和系统内部。OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室),OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)产品特点&bull “Zero Dead Zone零死区”反射计&bull 以10μm采样分辨率测量30 m&bull 80 dB动态范围&bull 后向散射级灵敏度(-130 dB)&bull 高速扫描(1 m段,z高3 Hz)&bull 增程提供2公里无死区的续航里程&bull 测量IL、RL、分布损耗、距离、极化状态、相位导数和群延迟&bull 高分辨率C和L波段(OBR 4600)或O波段(OBR-4613)能力产品应用方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障定位各点的插损,对小型化组件所未有的可见性轻松定位、识别和排除宏观弯曲、拼接、连接器和断裂,深入期间内部,评估每个接口的RL和IL,将IL点定位在网络或组件中的每个点上——消除削减(assembly – eliminate cutbacks)7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量以3Hz的频率连续测量1米的范围可测试并定位2千米的光纤网络故障光纤组件的自动检验器件或模块内温度及应力的监测光纤或无源器件的故障定位光纤温度传感、光纤应力传感通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)点扫描模式点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域,从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。点扫描测量速率Mode-30 m mode70 m modeExtended Range (2000 m)扫描的子区域-1 or 2 m1 or 2 m80 m波长范围3.2 nm--0.15 Hz5 nm3.7 Hz2.9 Hz-20 nm1.8 Hz1.2 Hz-80 nm0.5 Hz--z佳采样分辨率10 μm20 μm0.25 mm示例应用硅光子器件构建在硅光子平台上,代表了一种高水平的功能,可小型化为极高的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。例如,UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路(PIC)内部的分布损耗,该电路的尺寸仅为1cm2。波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米,清晰可见。1米的螺旋波导显示在扫描波导中,与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗,包括水平波导交叉处的散射。OBR 4600背光反射计参数表参数规格指标单位Max. 测量长度:标准模式30或70meters长量程模式2000meters空间分辨率(两点间)1:10um(30米内)um20um(70米内)mm1mm(2000米内)mm死区:等于两点间的空间分辨率波长范围2:1270-1340 或 1525-1610nm波长分辨率(Max. )0.02pm精度3±1.5pm回损:动态范围470dB总范围0~-125dB灵敏度-130dB分辨率± 0.05dB回损精度± 0.1dB插损:动态范围518dB分辨率± 0.05dB插损精度± 0.10dB群延时:精度1.0ps分布式传感6:空间分辨率±1.0cm温度精度7±0.1℃应力精度7±1.0μstrain测量时间8:标准模式快速扫描11定点模式115nm扫描时间31.60.3s时间与扫描波长速度2.1s+0.14s/nm1.3s+0.06s/nm0.15s+0.02s/nm长量程(2km)扫描时间20s所有参数适用于单模光纤。对于多模光纤,参数仅为名义值1. 在整个长度内。2. 名义范围。3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。4. 对于2千米的选项,回损动态范围是60dB。5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平(~-100dB/mm)低于背景噪声(~-118dB/mm)前的单程损耗。分布式传感分布式传感作为一种选择,允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度,用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者,Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化,并提供易于使用的,可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。型号说明Catalog #DescriptionIncludesOBR 4600光学后向散射反射计,1525 nm-1610 nmOBR 4600主机,适用于C和L波段和标准长度模式(30米和70米),仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。OBR 4613光学后向散射反射计,1270 nm-1340 nm用于O波段和标准长度模式(30米和70米)的OBR 4600主机、仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。OPT060092000m测量扩展型号可选择扫描长度不超过2km、样本间距为1mm的设备。OPT06004桌面分析软件仅使用保存的OBR测量数据文件,提供OBR 4600的所有分析和数据可视化的软件。OPT06008自定义软件开发工具包带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。四,OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)光学后向散射反射仪TM OBR 5T-50是一款快速、简单易用、低成本的精密反射仪,可测量无源光学组件和模块(包括PLC、光缆、连接器、开关、耦合器等)的插入损耗(IL)和回波损耗(RL)分布。该仪器利用扫频干涉测量法测量作为距离函数的后向散射光,灵敏度为-125 dB,采样分辨率为20微米。OBR 5T-50通过使用单个仪器测量RL、IL和长度,降低了成本和复杂性,同时提高了测试吞吐量。OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线),OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)产品特点业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合&bull 12 Hz采集速率&bull 8.5米测量范围&bull 0.0034%的飞行时间延迟精度&bull 20微米采样分辨率包括简化的用户界面和软件开发工具包(SDK)&bull 通过定制界面优化吞吐量自动定位反射事件并生成RL、IL和事件位置产品应用&bull 故障定位-自动RL、IL和长度测量&bull 亚皮秒分辨率的倾斜测量&bull 精密光缆和连接器&bull PLC和波导设备&bull 耦合器、开关和分束器&bull 实时光学对准通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)OBR 5T-50参数表参数单次扫描10次扫描单位长度:Max. 测量长度8.5meters空间分辨率 120um长度测量精度 2±0.034%死区:Dead zone20um波长:波长范围40nm波长精度 21.5pm中心波长1546.69nm回损:动态范围6065dB回损量程-14~-120-14~-125dB灵敏度-120-125dB分辨率± 1.0± 1.0dB回损精度± 1.0dB插损:动态范围1015dB分辨率± 0.5dB插损精度± 0.5dB扫描速度:12HzMax. 光功率:8mW其他:光纤接头FC/APC重量7.85kg规格(W*D*H)360 x 320 x 170mmMax. 功耗50W1.SMF-28中沿长度轴的两个采样点之间的距离。2.通过NIST内部可追溯的HCN气室保证准确度。3.最强反射大于-30 dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.以10cm的集成宽度测量。基于MEMS的光开关的回波损耗与长度测量。前两个反射相距5.0毫米。该测量是以20微米的采样分辨率记录的。业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合五,OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工)Luna OBR 4200是业界一款具有反向散射灵敏度( backscatter-level sensitivity)的便携式超高分辨率反射计,旨在测试短网络。在一个小型、坚固、易于运输的平台中,OBR 4200能够“查看”500米外光纤组件或网络中的任何事件,无死区,分辨率为毫米。OBR 4200在便携式平台中具有业界优秀的灵敏度和分辨率,是光纤网络制造、现场检查和故障排除的最终工具。Luna OBR 4200为光纤模块和短期网络的制造商和安装商提供了所未有的现场便携式诊断功能。1OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工),OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工)产品特点<3毫米空间分辨率500米测试长度内无死区-120dB的灵敏度0.1dB的插损分辨率OBR4200为光纤模块及短程网络的制造商和安装者提供了前未有的现场诊能力。产品应用光纤或无源器件的故障定位及检验光纤网络故障的现场诊断及排查光纤组件、连接器和短程网络的品质检验方便地定位及诊断光纤的弯曲、熔接、连接头及断裂等各类故障定位各点的插损,可节省大量故障排查时间光纤组件的多点位回损检验或光纤带缆的同步检验可用户自定义的用于光纤组件合格检验的图形界面软件开发工具(GUI SDK)光纤组件的自动检验器件或模块内温度及应力的监测通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)OBR 4200参数表参数规格指标单位Max. 测量长度:0~500meters空间分辨率:低分辨率高分辨率事件分辨率(Event resolution)1<50<3Mm采样分辨率250.3mm中心波长3:1542±2nm回损:动态范围450dB总范围-10~-120dB灵敏度-120dB分辨率5± 0.2dB回损精度5± 0.4dB插损:动态范围616dB分辨率5± 0.1dB插损精度5± 0.2dB扫描速度:低分辨率高分辨率每次扫描前有2.6秒间隔时间0.010.12s/m光学输出:接口类型FC/APC输出功率10W输出条件标准单模光纤,可通过模式调节器来获得多模输出环境:工作温度0~40℃储存温度-20~60℃电源7电池续航时间5hr电池充电时间5hr规格重量规格8.5(L) x 10.7(W) x 3.85(H)in重量9.8lbs所有参数适用于单模光纤。多模光纤的测量需要通过模式调节器来获得。1. 50米长的SMF-28e光纤中14.5dB的FWHM峰宽,峰宽随着距离和模态分散的增加而增加。2. 轴向上两个采样点之间的距离。3. 扫描了以此为中心的3纳米宽的波长范围。4. 比最强反射大-30dB和背景噪声之间的范围。5. 2米整合宽度下的测量。6. 在散射达到背景噪声前的可允许的双程损耗和插损的测量将不再可能。7. 便携计算机的电池续航能力及充电时间,请参看便携计算机的数据手册。损耗测试上图:具有弯曲损耗和拼接损耗的光纤线束的OBR 4200测量下图:连接前7厘米处易于区分的弯曲损耗公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。
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