无线号场强测试仪

LZT-1000 电磁辐射测试仪,电磁场强度检测仪应用范围：1.室外环境电磁辐射测试应用：变电站、高压线、变压器、配电室、电缆、手机信号塔、电视信号塔、广播信号塔等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。2.室内环境电磁辐射测试应用：电脑、电视机、复印机、传真机、空调、冰箱、音响、洗衣机、电线、电源、手机、无线路由器等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。技术指标：尺 寸： 132mm（长）×69mm（宽）×31mm（厚）重 量： 140克读数显示： 3-1/2位液晶显示器档 位： 电场—V/m（伏/米）；磁场—μT（微特斯拉）精 度： 电场：1V/m；磁场：0.01μT量 程： 电场：1V/m—1999V/m；磁场：0.01μT—19.99μT报警阈值： 电场：10V/m；磁场：0.4μT测试频宽： 5Hz—3500MHz取样时间： 约0.4秒感 测 头： 单轴（仪器顶端）过载提示： LCD显示“1”操作温度： -15℃—— +60℃操作湿度： 相对湿度80%以下工作电压： 9V（6F22 9V电池）

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪产品介绍： ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪是一款H/E 低频三维电磁辐射测试仪，并已获得国家。可容易测量交流电场和磁场同时可方向独立单点测量。有了这样一台设备后我们便可以迅速，专业并准确的测量。小传感器可短距离测量干扰源并计算平均值。比一般侧电磁场测量仪器的测量时间减半。例如：我们现在只需要进行测量磁场，当以后我们需要电场的测量数据时只需轻轻按键便可查看数据，无需单独再测量。5Hz-400kHz 的频率范围涵盖了电力行业主要产生电磁场干扰的范围。即使在非常低或者非常高的强度范围使用ESM-100可以很快测量干扰避免环境收到污染。ESM-100软件用于ESM-100于计算机之间的通信, 以及远程控制。测试仪器理想选择. 专门用于ESM-100校正以符合标准。我们只需要点击鼠标便可以轻松察看测量结果并可绘制磁场波形分布图.字体可放大 .通过简单的按键操作可以让仪器显示数字或直接显示图形在屏幕上。产品应用：工频(5Hz-100KHz)：高压输变电系统，配电室、感应炉、地铁、电车等作业场所。射频(100KHz-40GHz)：各种长波、中波、短波和微波辐射，包括：手机机站、医疗设备、雷达、卫星通讯、电视天线、寻呼机站、热合机、烘干设备、电视、电脑等具有电磁辐射的作业场所。技术参数：仅重560克三维电磁场探头同时测量频率范围：5Hz - 400kHz测量范围：磁场1nT - 20mT ，电场 0.1V/m - 100kV/m简单直观的直观操作，较少测量误差高精度±5% ，长时间测量标准化测量符合德国 e.g.: DIN VDE 0848标准长期记录可达24小时, 独立电源供电。大容量记忆，可记录1800笔数据四种可选过滤器可切换为一维测量可编程控制背光液晶显示30小时长时间工作使用三角架固定测量探头防护等级 IP65可扩展连接16个探头进行布点监测(可选)

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

功能简介：ZY-B3 无线应变测试仪可无线采集应变片或力传感器信号，体积 小、功耗低、精度高，支持连续采集、周期采集、定时采集、触发采集、突发采 集等多种模式。工作时间长，可远程休眠唤醒，远程应变调零，无需手动开关。应用领域：起重机、桥梁、隧道、汽车、飞机、船舶等结构的表面静载测试、 动载测试、疲劳测试和载荷测试测量范围± 5000μ?/± 15000μ? 输 入输入接口防水接插件支持桥路120～1000 欧姆，四分之一桥/半桥/全桥桥压2.5V传感器支持电阻桥式传感器：如拉压力、扭矩传感器、测量参数三通道应变+1 路温度AD 分辨率18 位 AD采样频率测控软件程控配置 ，最高 5kHz精 度0.1%示值±2μ?非线性度优于 0.02%分 辨 率±0.2μ?温 漂1μ?/℃零 漂3μ?/4h温度测量内部集成温度测量功能，精度±0.5℃应变调零测控软件程控调零同步精度10us存储容量512MB/1GB通讯距离空旷环境下典型值 500m，室内最小值 200m天 线外置天线，距离远，抗干扰能力强传输频段ISM 2.4GHz工作时间在连续数据采集状态下可持续工作 50 小时；待机时间6 个月充 电micro USB, DC5-9V,充电时间 4 小时尺 寸68mm×65mm×29mm固定方式M3×4/磁力座工作温度-20℃~80℃重 量＜180g

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液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。术语和定义下列术语和定义适用于本标准。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 电气绝缘材料的性能和用途电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

介质损耗缘油电阻率测试仪本怀推等同采用IEC 602T:2004(搜体范像材料相对电容车,介质担托四数和直德电阻率的侧量》(英文版)。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改。a)用小数点符号*.”代替小数点符号*”b)“本国际标准”一词改为“本标准” 本标准代替GB/T5654-19854液体绝缘材料工照相对介电常数.介质损耗因数和体积电阻率的测量)本标准与GB/T5654-1985相比主要变化如下。a)本标准增加了“引言"及"规范性引用文件"章节 b)在直流电阻车测量中,将“试验电压使液体承受200V~300 V/mm……”改为"试验电压应使液体承受 250V/mm……” 将电化时间“60s”改为“60 s±2 s” 将“注试样 15min后开始测量"齿为"不超过10min开始测量",c)本标准增加了图2.图3.图4.图 5。本部准的附录∧.附录B.附录C为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC 51)归D，木标准起草单位,桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋。本标准历次版本发布情况为:-GB/T5654-1985。介质损耗缘油电阻率测试仪液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量1范围本标准规定了在试验温度下液体绝缘材料的介质损耗因数,相对电容率和直流电阻率的测量方法。本标准主要是对未使用过的液体做参考性试验,但也适用于在运行中的变压器、电缆和其他电工设备中的液体。然而,本标准只适用于单相液体,当做例行测量时可以采用简化方法和附录C所述的方法。对于非碳氢化合物绝缘液体,则要求采用其他请洗方法。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不挂日期的引用文件,其最新版木适用于本标准，GB/T 1409-2006固体绝缘材料在工频,音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方集(U 60B50 1969,MUD)GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法(IEC 60093,1980,IDT)GB/T 21216-2007绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法(IEC61620,1998。IDT)IEC60475液体电介质取样方法3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1(相对)电容率permittivity(relative)绝缘材料的相对电容率是一电容器的两电极周围和两电极之间均充满该绝缘材料时所具有的电容量C.与同样电极结构在真空中的电容量C.之比。用该电极在空气中的电容量C.代替C,对于测量相对电容率具有足够的精确度。3.2介质损耗因数(tan8)dielectric disipation facter (tanh)绝缘材料的介质损耗因数(tan2)是损耗角的正切。当电容器的介质仅由一种绝缘材料组成时,损耗角是指外施电压与由此引起的电流之间的相位差偏离π/2的弧度。注:实际应用中,tan8测得值低于0.005时,uJ和功率因数(PF)基本上相同。可用一个简单的换算公式将两者进料稳靠。功率因数是图耗鱼的正载,动率因救和合感相鲜因着之加的委系可害选为下式。PF--tanl√1+(ta) --------.---------------(1)介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654-2007/IEC 60247:2004式中:PF-一功率因数:tan 介质损耗四数。3.3直流电阻率(体积)dc. resistivity (rolome)绝缘材料的体积电阻率是在材料内的直流电场强度与稳态电流密度的比值。排，由阻率的单位是欧的米(Ω*m).4概述电容率、tan8和电阻率,无论是单一还是全部,都是绝缘液体的固有质量和污染程度的重要指标。这些参数都可用于解释所要求的介电特性发生偏离的原因,也可解释其对于使用该液体的设备所产生的潜在影响。4.1电容率和介质损耗周数(tan)电气吧缘液体的电容率和分质报秏因数(tan8)在相当大程度上取决于试验条件,特别是温度和施加电压的频率,电容率和介质损耗因数都是介质根化和材料电导的度量。在工频和足够高的温度下,与本方法中推荐的一样,损耗可仅归因于液体的电导,即归因于液体中自由载流子的存在。因此,测量高纯净绝缘液体的介电特性,对判别电离杂质的存在很有价值。介质损耗与测量频率成反比,且随介质粘度的变化而变化。试验电压值对测量担耗因数影响不大，它道常只是受电桥的灵敏度所限制。但是,应考虑到高的电场强度会引起电极的二次效应,介质发热。放电等影响。较大的杂质所引起的电容率的变化相对较小,而其介质损耗则强烈地受极小量的可电离溶解杂质或胶体微粒的影响。某些液体有控大的极性,所以对未质的敏感性较之猫氢化音物液体要漏得多。极性还导致它有较高的溶解和电离的能力,因此在操作时要比对碳氢化合物液体更应小心。通常认为初始值能较好地代表液体的实际状态,所以更希望能在一达到温度平衡时就测量介质损耗因数.介质洪耗国数对温度的变化很敏感,通常晶随温度的增加成指数式的增大.因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。下面所述的方法使试样温度在很短的时间内达到与试验池平衡。4.2电阻率用本标准的方法测得的电阻率通常并不是真正的电阻率。当施加直流电压后,由于电荷迁移,将使液体的起始特性发生随时间面变化。真正的电阻率只有在低电压下且在刚施加电压后才可得到。本标准使用比较高的电压且经校长时间,因此,其结果通常是与CB/T 21216--2007所得到的不同。本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有。a)温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。D)电场强度的值给定试样的电阻率可受施加电场强度的影响。为了获得可比的结果,应在近似相等的电压梯度下进行测量,并应在相同极性下进行,此时应注明其梯度值和极性。e)电化时间当施加直流电压时,由于电荷向两电板迁移,流经试样的电流将逐渐减少到一极限值。一般规定电化时间为1min,不同的电化时间可导欧试验坫果明显不同[某些高精度的液体可能需要相当长的电化时间(见 14.2)]。4.3测量次序将直流电压施加在试样上,合改变其随后到量的工频tun子的结果。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5054--2007/TEC 60247:2004当在同一试样上相继测量电容率、提耗四数和电阻率时,上频下圆量应在对试样跑加直流电压以前进行，工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率，4.4导致错误结果的因素虽然只有严重污染才会影响电容丰。但俄量的行染却胞很烈地膨响umð 和电阻率。不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染,由未洗净试验池或吸收了水份，特别是存在不溶解的水份所引起。在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至最小。5 仪器5.1试验池同一试验池可用来测量电容率、介质损耗因数和直流电阻率。适合于这些用途的试验池应符合如下要求。5.1.1试验池应设计成能容易拆洗所有的部件,并易于重新装配而不致明显地改变空池的电容量。同时试验施还应能在所要求的恒定程度下使用,并提供以厨圃档确皮米测量和控制被体温度的力法。外加热的炉(或浴)或内部电加热的试验池都可以使用。5.1.2用来制造试验池的材料应是无气孔的,并能经受所要求的温度,电极的中心对推应不受温度变化的影响。5.1.3与被试液体接触的电极表面应抛光如镜而,以便清洗容易。液体和电极之同应没有相互的化学作用,它们也不应受清洗材料的影响。用不锈钢制造的试验池(电极)对试验所有类型的绝缘液体都是适用的,不应使用倡和铝合全做电极,因为它们合被碱性的洗净剂腐蚀。注:通常在表面上电镀不如一种金属制成的电极好。但表面镀金,镰或铑,只要值得好并保持完好无损也可满意地使用。股钢镀储电极较妤且具有较低热膨胀的优点，也可采用在黄钢上镀俊或金和在不锈钢上镀镍的电极。5.1.4用来支撑电极的固体绝缘材料应具有较低的介质损耗因数和较高的电阻率,这些固体绝缘材料不应吸收参照液体,被试液体以及清洗材料,也不应受它们的影响，拉:透常认为熔融石类是用份试渲感合适的范缘材料,自于普递金属和石美的线膨恭系数不同,它们挂合国之间俑要具有充分的经向间除，但应注意到这间胞会减小电极闰距的精度。5.1.5保护电极和测量电极之间横跨液面及固体绝缘材料的距离应足够大,以便能承受施加的试验电压，5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何试验池均可使用,用于低黏度液体和施加电压不超过2000V的试验池见图1~图5。三端试验池提供了足以屏蔽测量电极的有效保护电极系统。当进行极精密的电容率测量时应选择三端试验池，在这种测量中,如有必要,还要求加上一个可拆卸的特殊屏蔽环,并与连接测量电极和电桥的网轴电缆的外层导体(屏蔽)相逢接(见图 2)。在用两端试验池时,引线屏蔽层通常是接到保护电极的。为了防止屏蔽层同任何其他表而接触,应将它牢牢地夹在电缆的绝缘层上。当用这样的试验池测量电阻率时,空池的绝缘撑环的电阻至少是被测液体电阻的100倍。同样,在文流下测量介质损耗因数也应有相应的比值。对于较好的绝缘液体,可能由于绝缘撑环附加的投耗而改变测量值。为此,建议使用在两电极间无任何固体绝缘材料支撑的试验池,这样的空试验池的报耗因数在50Hz时应低于10°。为了使与液休接触表面的污热影响减到最小,建议采用具有电极表面面积与液休林积之比小的试验池,例如小于5/cm。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654--2097/1EC 60247:200412.2测量试验池非自动加热,当其温度达到所要求试验温度的±1℃时,应于10min内开始测量提耗因数.在测量时施加电压，完成初次测量后(如果需要,也包括测量电容率和电阻率时),倒出试验液体，再用第二份试样充满试验池,操作程序和第一次相同,但省去涮洗。重复测呈,两次测得的an值之差应不大于0.0001加两个值中较大的25%。注 只有鉴定und值较小的产品时才需要重复测量,例行试验不需要重复测量。如果不满足上述要求,剧继缝充埴试样测量,直到相邻两次tan8别量值之差不超过0.0001加两个值中较大的25%为止,此时认为测量是有效的。12.3推告报告两次有效测量值的平均值作为试样的损耗因数(tand)。报告应包括:)电场强度b)施加电压的频率 e)试验掘度。13相对电容率的测量13.1测量首先测量以干燥空气为介质的干净试验池的电容量,然后测量装有已知相对电容率为e的液体的电容量。按下式计算电极常数C和修止电容Cc,5-C.-.--- --- -=s =.=--- --- --- --- ---(3)C,-C-C.**.* ..*..* .** ..* .…* ..*…** **=( 4)式中C一电极常数:C一一充有已知相对电容率为。的校准溶液的试验池的电容量:C.一一以空气作为介质的试验池的电容量:C.一一修正电容，测量装有被试液体的试验池的电容量C,并按下式计算相对电容率e------------------(5)式中，。一被试液体的相对电容率 C.一一被试液体的电容量:C.一--以空气作为介质的试验池的电容量，C,一修正电容。重复试验，直至相邻两次测试值的差不大于较大值的5%,则认为测量是有效的。注1:如果在测定C.值时已知C、C.和c。值,则可获得最高的精度。注2,当用设计很好并预先校正过的三端试验池时或当精度要求较低时,可以忽略G项,而相对电容率可按简化公建计算CB/T5654-2007/UEC 60247.2004当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将杀下的样品在原米的样品容器里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂，当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求进行请洗。如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容卷或辅助的容器委用基子基住,并保证在此容器内有合造的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度5℃~10℃,由丁液体易氧化,因此加热时间应不超过1h。若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,最好保证一个烘箱只用于一种类型的液体。为了取到有代表性的试样,在取样之前.应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀，用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。10条件处理及试验池充填试样10.1试验池的条件处理在选净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很请洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到最小,很重要的一点是要对于燥清洁的试验池进行预处理,即用下次的被试渣体充瞒试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理。10.2试验池充填试样用一部分掖体试样剧冼试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取出内电板，应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需的时间取决于加热方法,通常可能在10 min~60 min范围。在达到所需试验温度的±1℃时,10min内必须开始测试。应特别注意防止液体成试验他的各那件与任何污染煞相搂触。在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移面呈现活性,因此最好限制一试验池只用于一种类型的液体。应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。11试验温度这些试验方法适合于在一个很宽的温度范雨内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规宗，一般试验应在90℃下进行。测量温度的分辨率应在U.25℃以内。12介质模耗固数(tau8)的测量

产品综述 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪频率范围可达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz，集双端口矢量网络分析、电缆和天馈线测试、矢量电压测量、频谱分析（通道功率、邻道功率、占用带宽、干扰分析、频率计数）、场强测量、功率测量等多项功能于一体，为您提供强大的综合测试能力！双端口矢量网络分析：可快速准确地对射频微波网络参数进行测量，提供对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等多种显示格式，且提供时域测量选件。电缆和天馈线测试：可实现对天馈线、传输线、电缆等射频微波网络的驻波比、回波损耗、阻抗、电缆损耗等参数进行测量，具有不连续点定位（DTF）功能，可方便地测量馈线、电缆中的阻抗不连续点。矢量电压测量：采用一体化方案代替传统的矢量电压计，可对电缆及其他一些被测件的电长度进行测试。频谱分析：可对电磁环境下频谱特性进行测量，是一台标准功能的频谱分析仪。 场强测量：用户界面友好、测试灵敏度高，配合相应的测试天线，可有效监视电磁波谱，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。 功率测量：配置USB功率探头，可实现大动态范围、高精度功率测量，也可通过频谱输入口进行功率监测。主要特点测试功能丰富：天馈线测试、矢量网络分析、频谱分析、场强测量、功率监测、矢量电压测量、USB功率测量等体积小、重量轻、三级环境适应性，便于机动携带和特殊场合测试8.4寸液晶触摸屏，操作简便，人机界面友好，结果显示直观测试数据可存储调用，提供三种存储介质：内部存储器、USB外部存储器、SD外部存储器可电池供电，适合野外使用，智能电源管理，具有剩余电量指示和低电量告警功能，具有休眠节能功能具有八个独立光标显示功能，光标位置可随手指滑动具有数据存储、回放和比较功能具有USB、LAN等接口，可实现程控和数据传输网络分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列网络分析频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，提供标准的S参数矢量网络分析测量能力，可进行放大器、滤波器、衰减器、双工器等器部件S参数测试，显示格式包括对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等。频谱分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列频谱分析功能（频谱分析、通道功率、占用带宽、邻道功率比、频率计数）频率范围为9kHz~6.5GHz、100kHz~18GHz/26.5GHz/40GHz，具有频率范围覆盖宽、灵敏度高、动态范围大、相位噪声好等特点，可实现快速、高效的信号侦测和测量。可同时显示3条迹线，并且有标准、取样、正峰值、负峰值、均值等不同的检波器模式选择。具有干扰分析、频谱图、瀑布图、数据记录和回放功能。电缆和天馈线测试（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪作为电缆和天馈线测试仪能够对电缆、馈线等被测件的回波损耗、电压驻波比、阻抗、电缆损耗、故障点距离进行测量，回波损耗和故障点距离测量将帮助您确定天馈线系统中导致系统性能下降的具体原因。内置一些常用电缆、馈线参数，方便使用。矢量电压测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列矢量电压测量频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，可对被测件的电长度和相移进行匹配测量，可进行反射和传输测试。USB功率测量(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列可通过选用电科思仪872XX系列USB连续波/峰值功率探头进行功率测量，可以测试频率高达40GHz的射频/微波功率。功率监测(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪也可通过频谱输入口进行功率监测测量，频率范围10MHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz。场强测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列配合相应的测试天线还可进行场强测量，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。支持用户天线，允许用户定义自己的天线。支持列表扫描频谱分析、天馈线测试、网络分析等除频率扫描外，还都支持列表扫描方式，各个段内参数相互独立。支持上下极限线频谱分析、天馈线测试、网络分析都支持极限线测试。极限线可以作为一个可视的参考，也可作为PASS/FAIL判断的依据，如果测试数据超过上极限线或者低于下极限线，扬声器将发出“滴”的声音来提醒用户数据已经超差。中英文菜单，易使用机内提供中英文两种菜单，一键切换，非常方便。休眠节能功能具有休眠节电功能，休眠时间可设置，休眠功能开启时，若在一定时间没有操作，会自动关闭显示或关机，节省电能，有效延长电池工作时间和电池使用寿命。更多的光标数提供多达8个独立的光标，可显示光标所在位置的参数，也可进行最大、最小或峰值的搜索，每个光标都提供△模式，使测试读数更加容易。另外显示屏左侧的标尺可方便对测试结果的好坏进行判断。U盘自动软件升级4957B/D/E/F提供可用于软件升级及数据备份的USB接口，您可以方便地利用U盘对仪器进行软件升级及维护，只需几步操作，简单快捷，升级完毕重启仪器即可。典型应用 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列体积小、重量轻、携带方便，测试参数多，测试功能全面，非常适合多参数测试场合，可电池供电，是各种微波电子设备现场工程安装、调试、日常维护维修的有力工具，可广泛运用于雷达、通信、广播电视、无线电管理等各领域，也是高校教学的选择。雷达主要性能参数测试作为功能齐全的综合测试仪，4957B/D/E/F在高达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz频率可完成雷达天馈、发射和接收等分系统的主要性能参数测试，包括天馈分系统的驻波比、反射系数、插入损耗、回波损耗和阻抗特性等，发射分系统的发射信号频率、频谱特性等，接收分系统的中心频率、增益、差损、带宽、动态范围等。有线电视、无线通信等领域多参数测试有线电视、蜂窝电话系统、数字移动通信运营商和设备制造商等利用4957B/D/E/F在现场对频谱分布、天馈线接触性能、器部件的S参数、馈通功率等进行一体化测试。

罗德与施瓦茨 无线电通信测试仪R&SCMP180 无线电通信测试仪是面向未来的非信令测试解决方案，可在研发、验证和生产中用于无线设备测试。此测试仪具有先进的频率、带宽和射频功能，能够测试 Wi-Fi 6E、Wi-Fi 7、5G NR FR1 等多种全新无线技术。此外，矢量信号分析仪 (2 x VSA)、矢量信号发生器 (2 x VSG) 和射频端口 (2 x 8) 数量翻倍，能够通过 VSA/VSG 一体化测试仪同时测量技术和设备。

一、产品简介高压输电线路绝缘子绝缘电阻值的大小，是直接关系到线路安全稳定运行的大问题。绝缘子一旦出现零值或脏污，就必须进行清洗或更换，否则就会造成闪络跳闸事故。目前，检测绝缘子的方法和工具很多，但是都属于定性检测，不能准确检测出每一片绝缘子的绝缘状况，起不到预防检测的作用。而HB-RT20无线绝缘子带电电阻测试仪是高性能定量检测与分析的仪器，该仪器操作方法简单、快捷，能够带电定量地准确测量出每一片绝缘子的电阻值，同时能准确区分已经漏电但尚未击穿处于临界损坏的绝缘子，并将测量结果以数据形式实时记录存储显示，对低值绝缘子能自动报警。二、功能特点1 带电测试功能本检测仪采用特殊技术实现了带电情况下检测绝缘子电阻的功能，使仪器不再局限于停电检测，应用更为广泛。2 报警提示功能本检测仪根据电力检测安全标准规程设置低于500MΩ即为低值绝缘子，检测时自动报警提示。在原产品的声音报警的基础上增加了光报警，避免了野外检测报警不够明显的情况。3测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并分析低零值绝缘子片数占整串的比例。三、HB-RT20无线绝缘子带电电阻测试仪的技术指标产品名称绝缘子电阻带电检测仪型 号HB-RT20适用范围35-500kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电（或停电）检测测量范围1-5000MΩ测量误差±10%显示方式3.5寸触摸屏电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间30小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

HP8921A -Agilent8921A原装，现货 现代无线电综合测试仪测量的重心由传统模拟制式电台转向数字制式系统，包括主流应用的蓝牙、TETRA、WIFI、CDMA/EVDO、W-CDMA、GSM、TD-SCDMA等。这些信号不是宽带信号，就是时分的脉冲信号，测量要求、测量方式、测量项目都有别于传统模拟信号，要测量这些数字信号需要使用为测量数字信号设计的综合测试仪。备注： 本公司十年专业销售、租赁、维修、回收二手仪器，公司货源广阔，绝大部分直接从国外引进，成色新，价格低，资金雄厚，库存充足，售前严格，售后快捷是我们的特点：致力于为客户提供更专业，方便，快捷的人性化服务是我们的宗旨；勇于创新，敢于探索是我们的优势；凡在我司购买的仪器免费送较准服务一年！-鹏庆电子

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

IQ FLEX 无线网络测试仪器型号： IQflex JIANG产品类别： 无线通信测试仪-LitePointIQ FLEX 无线网络测试仪器 适用于生产阶段的单台测试仪，支持802.11a/b/g/n BT ZigBee生产测试 单一平台视频测试仪器, 针对无线网络产品 (例如: 网卡, 路由器, 嵌入组件) 矢量信号分析仪代替传统的功率计和频谱分析仪 可分析产品输出质量和误差矢量幅度 (EVM) 避免多台仪器和烦复设置 包含简单易用软件 (IQSignal), 单键便可捕捉和分析所有数据在2.4GHz 和 5GHz 频段作测试 IQFLEX 802.11a/b/g测试方案 适用于生产阶段 单一平台视频测试仪器, 针对802.11a/b/g无线网络产品的产线测试 (选件: 蓝牙测试) IQFLEX代替了一般被使用在WLAN 产线上的传统测试仪器包括功率计和频谱分析仪 配合自动化的测试程序, 提供快速的参数测试结果 可利用双头模式来提高产线测试效率, 减低生产成本 在2.4GHz 频段作测试 (选件: 5GHz) IQnxn 802.11n MIMO测试系统 研发测试系统包含多台矢量信号分析仪和矢量信号源于,针对测试802.11n MIMO 产品 灵活的测试系统: 利用IQnxn 扩展单位来设定不同的配置包括 2X, 3X, 4X Litepoint 和市场上主导的MIMO芯片厂家拥有紧密的合作关系, 给予完整的认可测试方案 I/Q 基带输入和输出端口 – 可测试和验证基带信号 容许更快的把产品投入市场 IQmax 802.16 WiMAX测试系统 单一平台 WiMAX 测试系统,针对测试 802.16e-2005 (流动WiMAX) 和802.16d-2004 (固定WiMAX) 产品 內置矢量信号分析仪和矢量信号源, 主要测试WiMAX产品的物理层信号 I/Q 基带输入输出端口: 支持 I/Q 基带信号分析 支持 2.15 to 2.7GHz, 3.3 to 3.8GHz, 4.9 to 6.0GHz频段 自动化测试程序: 提供快速测试,减低生产成本 TrueChannel 模拟器 双头,双向,可伸缩, 动态通道模拟器,针对802.11a/b/g和802.11n MIMO质量测试 帮助芯片厂家调试芯片性能和参考设计 帮助产品制造商优化产品质量 选择环境条件后便可自动运行 简单易用GUI 和 API 进行自动操作编程 支持 2.4GHz, 5GHz 频段和 20MHz, 40MHz 带宽 IQFACT 自动测试生产软件 自动测试程序包括调试和验证, 针对不同芯片在产线上 的测试規格和要求 预先制定不同芯片的个别设置 用户可自行定义测试流程和参数合格指标 支持双头模式来提高产线测试效率, 减低生产成本 Litepoint 蓝牙测试软件 提供产线上的蓝牙测试方案, 包括蓝牙v1.1, v1.2, v2.0和EDR产品 配合一台 IQVIEW 或 IQFLEX 单一平台测试仪器 可达到单台仪器测试具备蓝牙和WIFI的模块, 因此提高生产效率

薄膜击穿电压测试仪在强电场作用下，固体电介质丧失电绝缘能力而由绝缘状态突变为良导电状态。导致击穿的最低临界电压称为击穿电压，在均匀电场中，击穿电压与固体电介质厚度之比称为击穿电场强度，它反映固体电介质自岩芦身的耐电强度。薄膜击穿电压测试仪不均匀电场粗拍带中，击穿电压与击穿处固体电介质厚度之比称为平均击穿场强，它低于均匀电场中固体电介质的介电强度。不同电介质在相同温度下，其击穿场强不同。当电容器介质和两极板的距离d一定后，由U1-U2=Ed知，击穿场强决定了击穿电压。薄膜击穿电压测试仪打内压属于破坏性试验，当电压升到规定的内压数值时保持一定的时间，绝缘体击穿，说明绝缘体不合格，不能继续使用了。如果达到内压数值时维持一定的时间没有击穿就表示合格，可以继续使用。薄膜击穿电压测试仪 ，相线与地之间，承受的电压值。献艺交流码销键设备为例，交流设备又分为额定工频短时耐受电压和额定雷电冲击耐受电压。不通电压等级的设备其耐受电压值不同，电气设备在相应斗闷规定的耐压值下，在规定的时间内，绝缘不迟巧可以被破坏，不可以有击穿，这样设备才达到规定的耐压强度。薄膜击穿电压测试仪耐电压击穿试验仪针对绝缘材料的绝缘性能进行测试，材料的能承受的最大电压。电压击穿指的是电介质在足够强的电场作用下将失去其介电性能成为导体，称为电介质击穿，所对应的电压称为击穿电压。通过这一项实验，能得出电压击穿样品时的电压，而这个电压是该样品的上限值。当设计产品时岩册凳，通过耐高电压测试得到的上限值，就可以知道该材料的抗压性能，然而，影响击穿电压的因素有很多，又分为试样本身状态方面和试验条件方面的。输入电压： 交流 220 V输出电压： 交流/直流 0--50kv电器容量： 10KVA高压分级： 0-50kv升压速率： 0.1-5kv试验方式：交/直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验试验介质：空气/绝缘油电压试验精度： ≤1%电源：220v±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率升压装置：采用先进的无触点原件匀速升压淘汰前款机械调压耐压时间：0-999小时（软件设定）漏 电 流：5- 200MA耐压式样：固体；液体。定做 高温环境 高温油控制方式：无线安全控制　　——影响因素——　　1、试样本身的状态影响击穿电压的因素比较典型的有：　　a.试样的厚度：试样的厚度不平均，每个点的击穿电压的大小就会不一样，厚度大的地方击穿电压往往会比薄的地方大。　　b.试样的表面状况：试样是否存在着孔隙，也会影响击穿电粗旅压的测量。若样品存在着有孔隙，样品中的孔隙，可能会使得电场畸变，测量出的击穿电压，会比实际的电压要大。　　c.机械应力：当样品受到太多的机械应力时，介质承受着机械应力，当样品承受的机械应力过大时，可能会导致样品表面有微微的开裂，从而使得测得的击穿电压偏小。　　d.样品的前处理：同种类型的样品，预处理时的条件不同，也可能使得测得的击穿电压与实际值有偏差，所以，遇到需要预处理的样品时，保证同组的样品，要在相同的环境下进行预处理。

聚合物绝缘材料介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司其他产品有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪

概述：ZJD-B介质损耗因数测试仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至0低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 ZJD-B介质损耗因数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。适用领域： ZJD-B介质损耗因数测试仪器可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。技术参数：信号源频率范围：DDS数字合成 10KHz-70MHzQ测量范围：1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比：6000:1Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度：3×10-5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差：5%电感测量范围：15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH调谐电容：主电容30-500PF电感测量误差：5%调谐电容误差和分辨率：±1.5P或1%标准测量频点：全波段任意频率下均可测试Q合格预置范围：5-1000声光提示谐振点搜索：自动扫描Q量程切换：自动/手动谐振指针：LCD显示LCD显示参数：F,L,C,Q,波段等夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm介电常数与耗散因数间的关系 介电常数又称电容率或相对电容率， 是表征电介质或绝缘材料电 性能的一个重要数据，常用 ε 表示。 介质在外加电场时会产生感应 电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介 电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力， 例如一个电 容板中充入介电常数为 ε 的物质后可使其电容变大 ε 倍。介电常数愈 小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中， 场的强度会在 电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度， 宏观 的介电常数的大小， 反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极 化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1 ，液体、固体的介 电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关有些物质介电常数具有复数形式， 其实部即为介电常数， 虚数部 分常称为耗散因数。通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切， 其可表示材料 与微波的耦合能力， 耗散角正切值越大， 材料与微波的耦合能力就越 强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。介质损耗是指置于交流电场中的介质， 以内部发热的形式表现出 来的能量损耗。介质损耗角是指对介质施加交流电压时， 介质内部流 过的电流相量与电压向量之间的夹角的余角。介质损耗角正切是对电 介质施加正弦波电压时， 外施电压与相同频率的电流之间相角的余角 δ 的正切值--tg δ. 其物理意义是：每个周期内介质损耗的能量//每个周期内介质存储的能量。介电损耗角正切常用来表征介质的介电损耗。介电损耗是指电 介质在交变电场中, 由于消耗部分电能而使电介质本身发热的现象。 原因是电介质中含有能导电的载流子,在外加电场作用下,产生导电电 流,消耗掉一部分电能,转为热能。任何电介质在电场作用下都有能量损耗，包括由电导引起的损耗和由某些极化过程引起的损耗。用 tg δ作为综合反应介质损耗特性优劣的指标， 其是一个仅仅取 决于材料本身的损耗特征而与其他因素无关的物理量， tgδ的增大意 味着介质绝缘性能变差， 实践中通常通过测量 tgδ来判断设备绝缘性 能的好坏。由于介电损耗的作用电解质在交变电场作用下将长生热量， 这些 热会使电介质升温并可能引起热击穿， 因此， 在绝缘技术中， 特别是 当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因 数， 即电介质损耗角正切 tgδ较低的材料。但是， 电介质损耗也可用 作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3--300兆赫兹）对介 电常数大的材料（如木材、纸张、陶瓷等） 进行加热。这种加热由于 热量产生在介质内部， 比外部加热速度更快、热效率更高， 而且热均 匀。频率高于300兆赫时，达到微波波段，即为微波加热（家用微波 炉即据此原理）。在绝缘设计时， 必须注意材料的 tgδ值。若 tgδ过大则会引起严 重发热，使绝缘材料加速老化，甚至导致热击穿。一下例举一些材料的 ε 值：石英-----3.8绝缘陶瓷-----6.0纸------70有机玻璃------2.63 PE-------2.3PVC--------3.8高分子材料的 ε 由主链中的键的性能和排列决定分子结构极性越强， ε 和 tg δ越大。非极性材料的极化程度较小， ε 和 tg δ都较小。当电介质用在不同场合时对介电常数与耗散因素的大小有不同 的要求。做电容介质时 ε 大、 tg δ小；对航空航天材料而言， ε 要小 tg δ要大。另外要注意材料的极性越强受湿度的影响越明显。主要原因是高 湿的作用使水分子扩散到高分子的分子之间， 使其极性增强； 同时潮 湿的空气作用于塑料表面， 几乎在几分钟内就使介质的表面形成一层 水膜， 它具有离子性质， 能增加表面电导， 因此使材料的介电常数和 介质损耗角正切 tgδ都随之增大。故在具体应用时应注意电介质的周 围环境。电介质在现代生活中经常被用到， 而介电常数与耗散因素是电介 质的两个重要参数， 根据不同的要求， 应当选用具有不用介电常数与 耗散因数的材料， 以达到最佳的效果。同时还应当注意外界因素对介 电常数与耗散因数的影响。

莱特波特IQxel-80 无线连接测试仪 JIANGIQxel 连接测试系统实现全覆盖，WLAN（802.11a/b/g/n/ac）和蓝牙（1.0?4.0）的设备的物理层测试。IQxel超过要求的带宽和误差矢量幅度（EVM）的802.11ac设备的要求。IQxel涵盖了80和160 MHz的版本的802.11ac。一个系统，所有关键的连接标准，包括关键的连接在一台测试标准的802.11ac，802.11a/b/g/n/p和蓝牙1.0?4.080和160 MHz的版本，支持所有的802.11ac的信道带宽的组合使用多个同步IQxel单位Litepoint IQxel 应用WLAN和蓝牙芯片组的验证WLAN路由器和接入点无线局域网模块和网络接口卡（NIC）WLAN /蓝牙SiP（系统级封装）设备平板电脑和智能手机 Litepoint IQxel 规格:输入频率范围: 2150 至2600 MHz: 49000至6000 MHz输入功率+30 dBm峰值+25 dBm平均输出功率范围+9到-95 dBm（CW）输出功率精度 ±0.50 dB（0到-95 dBm）LitePoint IQxel wireless connectivity test systems莱特波特IQxel-80|IQxel-160无线连接测试仪IQxel™ 联机能力测试系统可提供涵盖完整范围的WLAN （802.11a/b/g/n/ac）与蓝牙 （1.0-4.0）设备的物理层测试。IQxel超越了802.11ac设备严格的带宽要求与错误向量幅度（EVM）要求，并能提供802.11ac的80与160 MHz版本。可满足所有主要联机能力标准的单机系统在单一测试仪中，涵盖802.11ac、802.11a/b/g/n/p与蓝牙1.0-4.0等主要联机能力标准。支持所有802.11ac信道带宽组合的80与160 MHz版本。差动式模拟基频I与Q信号可用于收发用途。弹性的MIMO测试解决方案凭借使用多个同步化IQxel装置的互不关联的独立信号，达到真正的MIMO（多重输入多重输出）科技测试。采用弹性架构，可随MIMO订购量增加，将MIMO需求从SISO需求（单一装置）扩大至多部装置。制程优化IQxel可为2部装置提供完全校准的RF连接，简化多部装置的制造测试，达到最高的测量精确度。精简的2U架高底架，节省设备机架的空间。易于部署——完全整合的处理功能可缩短数据传输时间，从而不需安装外部PC控制器与软件链接库即可进行管理。LitePoint IQxel+应用范围WLAN与蓝牙芯片组验证WLAN路由器与无线基地台WLAN模块与网络适配器（NIC）(NIC)WLAN／蓝牙SiP（系统级封装）装置平板电脑与智能手机LitePoint IQxel特点：专为制造环境设计IQxel是第一部专为802.11ac装置设计的单机测试仪（OBT），可轻松部署于严格的量产装置用途的自动化测试解决方案。IQxel采用精简的2U架高底架，不需外接PC处理，并使用标准的Gigabit以太网联机，内建操作系统的独立式网络图形用户接口与SCPI兼容的控制指令，能提供最迅速、简便的出厂测试功能。 IQxel可提供最大产量，具备原始的双重DUT RF联机能力，因此不需连接可能降低制造环境精确度并导致可靠度问题的外接RF组件。IQxel 160 MHz版本则可用于测试两部80 MHz带宽装置，将测试站的装置测试量提高一倍，进一步节省运作成本。客户信赖度绝大多数广受肯定的大量测试联机装置制造商都使用LitePoint测试设备——LitePoint设备迄今测试过的设备数量已超过10亿。IQxel更将测量的可靠度与客户信赖延伸至更新的802.11ac装置。IQxel由全球主要制造中心的当地LitePoint人员提供协助支持，可在必要时提供实时的客户支持与设备服务。LitePoint拥有100多个IQfact芯片组测试解决方案的链接库，确保客户可获得源自校准与验证主要供货商的先进联机能力芯片组解决方案的套件软件解决方案。

1.中瑞祥无线氧化锌避雷器带电测试仪ZRX-27221测量全过程由人机界面控制 一、产品用途 ZRX-27221氧化锌避雷器测试仪该仪器适用于各种电压等级的氧化锌避雷器的带电或停电检测，从而及时发现设备内部绝缘受潮及阀片老化等危险缺陷。 仪器操作简单、使用方便，测量全过程由人机界面控制，可测量氧化锌避雷器的全电流、阻性电流及其谐波、工频参考电压及其谐波、有功功率和相位差，大屏幕可显示电压和电流的真实波形。仪器运用数字波形分析技术，采用谐波分析和数字滤波等软件抗干扰方法使测量结果准确、稳定，可准确分析出基波和3～9次谐波的含量，并能克服相间干扰影响，正确测量边相避雷器的阻性电流。 二、产品特点 1.彩色触摸屏：800×480的7寸高清彩色触摸屏、人机对话。 2.无线距离大：兼容无线同步，无线传输信号超过1000米. 3.同步方式多：支持485有线同步、无线同步；无电压方式通过软件计算找到电压基准三种同步方式。 4.带电停电兼容：适用于避雷器带电、停电或试验室等场所使用。 5.大量程采集：电压采集范围0-250V，电流采集0-20mA。 6.三相同测：真正做到三相电流、三相电压同时测试，提高工作效率；同时支持单相测试或二相测试，选择方便。 7.安全可靠：仪器内部只带弱电，电压不超过8.4V；电流、电压传感器完全隔离，安全可靠。 8.电压方式可选：支持取三相或取B相电压基准为电压参考。 9.电流方式可选：可以用线接避雷器计数器两端采样泄漏电流，也可以用电流钳采集避雷器的接地线的泄漏电流（选配）。 10.标配边配抗干扰处理：带抗干扰计算功能和角度补偿功能，完全解决三相互相干扰的情况220KV及上电压等级需要。 11.内置锂电池：标配内带高能锂离子电池，特别适合无电源场合。 12.高速采样：高速的采样频率，先进的数字信号处理技术，抗干扰性能强，测量结果精度极高。 13.内置日历时钟：内置日历时钟，为打印、保存数据提供时间依据。 14.海量存储试验数据：本机配有大容量存储，海量存储数据。具有数据存储与数据浏览功能，并具有掉电保护功能。 15.U盘导出试验数据：配有U盘导出数据功能，导出word文件。 16.背景颜色方便切换：可以设置屏幕颜色，可以改成图纹蓝底、图纹黑底，可以设置背景亮度，待机亮度和待机时间。 17.内置培训资料：屏幕内部配有各种接线方式，指导现场使用。 18.中文输入试验信息：可以中文输入相关站点、设备、人员、备注等，方便标识保存试验数据，方便标识打印试验数据。 19.中英切换：可以直接界面切换中英文界面，兼容中外使用场合（选配）。 20.携带方便：主机和单元两部分组成，外加防尘、防腐一体机箱，体积小，重量轻，便于携带。 三、技术指标 1.电源：内部锂电池供电或DC8.4V适配器 2.测量范围： 泄漏电流： 0-20mA ； 电压： 30-250V ； （选配：电场强度输入范围：30kV/m~300kV/m。） 角度：0-360º 阻性电流：0-20mA ； 容性电流：0-20mA ； 3.测量准确度： 电流：全电流100μA时： ±5%读数±1个字； 电压：基准电压信号30V时： ±5%读数±1个字。 4.测量参数： 泄漏电流：全电流波形、基波有效值、峰值。 泄漏电流阻性分量：波形 1、3、5、7、9次有效值。 正峰值Ir+ 负峰值Ir-。 容性电流基波。 电压：电压波形、电压有效值。 相角差、功耗。 5.电压基准信号取样方式： 有线同步：40米（可扩展） 无线同步：1500米（可扩展） 6.锂电池参数： 充电时间 2.5小时 连续工作时间 7小时 间断工作时间 7×24小时 7.整箱尺寸： 主机42cm×34cm×18cm 8.整箱重量： 主机7.5kg2.氯离子自动电位滴定仪 型号:ZRX-29511根据GB/T176-2017 ZRX-29511仪器用途 ZRX-29511氯离子自动电位滴定仪是根据GB/T176-2017《水泥化学分析方法》中氯离子电位滴定方法研发的一种智能化的检测氯离子的仪器。主要用于各检验机构，水泥企业，混凝土搅拌站，科研院所等实验室，具有操作简便，准确度高，智能化的优点。全套仪器设备由国家水泥质量监督检验中心研制，生产，调试。 ZRX-29511仪器特点： 该仪器具有直读滴定毫升数和毫伏数的功能，采用7寸彩色触摸屏，导航式操作，并且显示滴定过程的滴定曲线图 采用阀门滴定管一体化设计，采用10ml滴定管，细分驱动，提高滴定液计量精度 空白试验测定功能，可随时设定空白溶液的体积并自动记录 滴定校准功能，自动测量硝酸银标准滴定溶液的浓度值 智能化自动滴定，能根据电位变化快慢而改变滴定速度 自动停止滴定功能，当仪器检测到了化学计量点后，会停止滴加硝酸银标准滴定溶液，节省资源及时间 自动计算功能，采用二次微计算出氯离子（CI）含量 具有数据存储功能，仪器配有USB功能，可随时将数据保存到仪器或者U盘中，可在测量完溶液后，查看滴定曲线及滴定数据。 3.悬浮物测定仪 型号:ZRX-29472 ZRX-29472技术指标 1. 测量范围：0-1000mg/L 2. 示值误差：≤± 2% (满量程) 3. 重现性 ：≤ ± 2 % (满量程) 4. 最小分辨率：0.01 mg/L 5. 每小时漂移：＜ 0.1 mg/L 6. 外形尺寸:266×200×130mm 7. 重量:1kg 8. 仪器在开机通电半小时后可在下列环境下连续运行： ⑴环境温度: 5～40℃ ⑵相对湿度: ≤70% ⑶供电电源: AC(220±10%)V； 50Hz ⑷避免强光直接照射，无显著的振动及强电磁干扰 4.便携式储存氨气气体检测仪 型号：ZRX-29451可存储26万条数据 ZRX-29451产品描述：便携式氨气气体检测仪配备电化学式氨气传感器，是一款专注于检测空气中氨气含量的便携式气体检测报警设备。它具有高清晰的液晶显示屏及声、光报警提示等功能，可保证在恶劣的工作环境下检测出氨气的含量，并及时提示操作人员进行预防。 ZRX-29451产品特点 采用国外进口传感器，检测灵敏度高小巧、轻便、坚固大屏幕液晶显示实时数据及气体名称开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警功能进行自检大容量可充电式锂电池供电配备标准Mini USB充电接口出众的声、光报警提示功能可 带数据存储（选配）：1、大容量可存储数据空间，可存储26万条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、专业的可视化数据分析上位软件维护费用低 ZRX-29451技术参数 检测气体：氨气（NH3）量程：0-100ppm基本误差：＜±3%（F.S）最小读数：1ppm响应时间：≤50秒传感器寿命：24个月传感器类型：电化学电池：3.7V锂离子充电电池电池工作时间：连续工作大概200小时左右显示：大屏幕液晶显示报警：声、光、震动报警直接读数：瞬时值、峰值、电池电压、最小值防爆标志：Ex ibdIICT3防护等级：IP45工作温度：-20℃∽55℃工作湿度：5%RH -90%RH尺寸：130mm（长）×68mm（宽）×32mm（厚）重量：200g （净重） 680g（含充电器、包装箱） 5.大屏幕二氧化碳检测报警仪 型号:ZRX-29452液晶显示屏 ZRX-29452产品介绍 超大液晶显示屏，同时显示和记录co2等级，温度， 相对湿度，日历（y/ m / d）和时间（时钟） 壁挂式/台式数字！ 32000个记录数据的内存 二氧化碳超标警告！ 稳定co2浓度ndir传感器 ndir(非分散红外)与abc波导技术 (自动背景校正) 高/低阈值设定 报警输出驱动继电器控制系统 背光功能 max和min阅读 长时间校正补偿 自带电源适配器(从可用塞选一个: 美国/英国/金/欧元) ZRX-29452技术参数 大屏幕液晶显示 3.5"（8.9cm）带背光液晶显示记录模式： 启动/停止，立即， 调度，实时和滚动二氧化碳（co2）范围： 0 ~ 9999ppm精度: 5%±50ppm±rdg（0 ~ 2000）响应时间： 10秒温度范围： - 10 ~70℃（14 ~ 158°f）分辨率： 0.1℃ / f精度： ±0.6℃/±0.9°f（0 ~ 50℃ /32 ~ 122°f)，其他1.2±°c湿度范围： 0.1-99.9rh%分辨率： 0.1%精度 ±3%（10 ~ 90%范围内）记录： 32000笔 6.微电脑粉末流动和密度测试仪 型号：ZRX-29458 一、概述：ZRX-29458微电脑粉末流动和密度测试仪解决粉体物料在工艺性能特性方面测试需要，通过质量流速，体积流速，松装密度（松散堆积密度或自然堆积密度），振实密度测量(可设定振次或时间来测量)，可以获得卡尔指数和豪斯纳比，配备自动搅拌器，自带打印功能，依据产品本身流动能力可以选择适合出口孔径的漏斗，自动测量及自动数据处理解决测试过程中因外在干扰因素及操作带来的误差，高精度的集成电路系统及模块化电路结构，液晶显示.薄膜按键操作，当然可以选购PC软件来解决流速测试过程中数据的变化曲线图位，更好的解决测试过程中数据的分析，统计，管理，报表等为产品建立数据模型和原始数据分析，更多应用于改善产品配备和品质管理.二、本品广泛用于粉体和颗粒物生产企业、质检所、科研院所和大专院校实验室对粉体材料分析和测量使用。对产品研发和新品配方改进及批次质量管控提供数据依据.三、本仪器满足国际标准和国标GB1482-2010-T； GB1479-84；GB1482-84；ISO902-1976 ISO4324 GB6521-86 ISO4490-1978 ISO903-1976 GB6522-86 GB11986标准规范制作的规定设计、生产。其检测方法与结果和国际上通用的检测方法具有通用性。四、技术参数1．漏斗：由圆柱形量筒配置多个可转换漏斗组成，漏斗材质为不锈钢材料制成，且具有足够的壁厚、硬度、光滑、以防变形和过度磨损。2. 可转换漏斗口径mm：2.5；4.0；5.0；6.0；7.0；8.0；9.0； 10；14；15；16；17；18；25（根据用户需求选配规格，标准配置为5个）3.时间范围：0-9999.9S任意设定，精度为0.1s4.称量范围：0-2000.0g；精度0. 1g5.漏斗容积： 200ml6. 配备接收容器：25ml、100ml、200ml、250ml、500ml（根据用户需求选配规格，标准配置为1个）7.质量流速：0-999.99g/s8. 体积流速：0-999.99g/s9.松装密度：0-999.999g/ml10.振实密度：0-999.999g/ml11.温湿度范围：18-40℃ 相对湿度在35-80% 10.模拟电路实验箱 型号：ZRX-29446 ZRX-29446本实验箱可完成模拟电路课程所规定的各种实验(本机提供二十多种模拟电路实验)及课程设计。由直流电源，信号源，电路开发区和电路试验区等组成，外配5块低频实验板（标配），并根据用户的不同需求设计两款外插式面包板（为选配件，需另购）。本机突出特点是使用灵活，便于管理与维修，并可随意扩充实验内容（根据用户要求另行设计实验板），随机附有实验指导书。 ZRX-29446技术性能1．电源 输入：AC220V±10%输出：DC：① +1.3V～＋15V／0.5A；1.3V～－15V／0.5A（两路）连续可调② +12V／0.5A；－12V／0.5A（两路）③ +5V／0.5A；－5V／0.5A（两路）AC：三抽头14V、16V、18V（一组）2．信号源： ① 函数发生器输出波形：方波、三角波、正弦波幅 值：正弦波Vp-p：0～10V，三角波Vp-p：0～10V，方 波Vp-p：0～20V，频率范围：分四档10Hz～100HZ、100Hz～1KHZ、 1KHz～10KHZ，10KHz～100KHz ② 直流信号源：双路 －0.5V～+0.5V，－5V～+5V两档连续可调。3．独立电位器组：８个电位器。4．元件库：电阻、电容、二极管、稳压管、各种三极管、喇叭、集成稳压器件等。5．接插件：两种分别为Φ2自锁紧可叠插式插座和Φ0.5的弹性插孔6．电路实验板：共五块。7．实验箱箱体：铝合金框架式结构，外形尺寸500mm×340mm×160mm。

MT8870A无线测试仪概述通用无线测试仪MT8870A是一个适用于大规模生产各种无线通信设备和模块的测量平台。主单元可容纳四个高性能测试模块，每个模块完全独立工作，可同时测量多达四个无线设备或模块。通用无线测试套件 MT8870A 专为蜂窝通讯和短距离连接通讯系统的大批量生产测试而设计，支持5G NR sub-6GHz、支持LTE、LTE-V2X、NB-IoT、Cat-M、V2X 802.11p、WLAN、Bluetooth等技术。一台 MT8870A 仪器主机多可包含 4个可通过外接 PC 独立控制的 TRX 测试模块 MU887000A/01A。每一个模块都集成矢量信号发生器和矢量信号分析仪，可执行发射器和接收器 RF 测试。内置 MU887000A/01A 测试模块的 MT8870A 可通过外接 PC 控制。一体化平台可容纳 4个测试模块一个主机内多可安装 4 个测量模块，每个模块可独立受控。每个模块安装后共享同一个电源；底座和内部总线接口有助于降低基础设施成本。可同时测量 4个设备，可并行测量一台设备中的多个无线通信系统MT8870A 内安装 4个模块后，可同时并行连接并测量 4台测试设备。不同的无线通信系统可并行测量，这有助于缩短测量时间，减小生产线测试设备占用空间。标配160 MHz测量带宽TRX 测试模块 MU887000A/01A 可执行 WLAN 802.11ac 模块的 RF 发射器/接收器测试。支持多种无线标准MT8870A 是测量多种无线通信系统 (如 5G，LTE/LTE-Advanced，V2X，WLAN，Bluetooth 等) TX 功率的一体化设备，并可进行传输模块准确性的 TX 测试，RX 灵敏度的 RX 测试等。支持的标准：5G NR sub-6GHz、LTE/LTE-Advanced、LTE-V2X、NB-IoT、Cat-M、W-CDMA/HSPA、TD-SCDMA、GSM/EDGE、CDAM2000/1xEV-DO、WLAN 802.11a/b/g/n/p(V2X)/ac/ax、蓝牙 v5.0、ZigBee、Z-Wave、FM/RDS、GPS/Galileo/GLONASS/BeiDou/QZSS、DVB-H、ISDB-T/ISDB-Tmm支持本机和 SCPI 远程控制命令：本机命令基于 MT8820C 远程控制命令集且具有高兼容性，特别适合序列测量和 RF 校准。内置音频分析仪和发生器MT8870A 支持立体声和单声道，拥有数字和模拟接口。可以减少无线模块生产所用的设备。佳时通（）主营通讯测试仪器租售业务：综合测试仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、WIFI蓝牙测试仪、程控电源、示波器、万用表、功率计、频率计。

2）极化损耗在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。电离损耗电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

MT8821C概述：即刻装备未来无线测试功能无线电通信分析仪 MT8821C 旨在研发移动设备 (用户设备：UE)，如智能手机、平板电脑和 IoT 模块。本产品以前一代 MT8820C 的技术为基础，MT8820C 受到全球 UE 和芯片组供应商的广泛采用。支持从 LTE-Advanced 至 3G/2G 的所有技术，更有方便易用的测量功能，可在单一设备中实现更为高效的射频调整和测试。不止LTE-Unlicensed（LTE-U）/License-Assisted Access（LAA），LTE-Advanced 2CC 4x4 MIMO和4CC 2x2 MIMO的测试也仅用1台MT8821C即可完成。此外，2台可进行LTE-Advanced 4CC 4x4 MIMO和6CC 2x2 MIMO的测试， 3台可进行5CC 4X4 MIMO的测试。射频 TRX 测量3GPP UE 射频测量MT8821C 内置 UE 射频 TRX 测试支持功能，而且遵从 5 GHz 无许可频带等各种通信标准，是适用于各种测试场景的理想测试解决方案。支持的通信技术：LTE/LTE-Advanced、Cat-M1/NB-IoT、W-CDMA/HSPA、GSM/EGPRS、TD-SCDMA/HSPA一键式设置及“通过/失败”判定MT8821C 利用基于 3GPP 射频测试标准案例的预设测量参数，简化了测量过程。此外，也可根据测试标准条件对测量结果自动执行“通过/失败”判定。远程控制自动测试工具MT8821C 可通过 GPIB 或以太网远程控制，在自动化测试系统中进行配置。Anritsu 也提供遵从 3GPP 射频测试标准的自动远程控制自动测试工具。其操作极其简单，只需从远程控制自动测试工具的射频测试项目中选择所需的测试案例即可；即使是新用户也能轻松配置自动化测试环境。灵活的参数设置MT8821C 利用 3GPP/3GPP2 射频测试标准指定的参数运行 TRX 测量。此外，参数设置灵活，可支持射频参数和简单协议测试。射频校准凭借芯片组供应商支持的高速测量，MT8821C 可缩短射频校准所需的时间，从而提升测量效率。增强型 GUI 及大尺寸触模板配备下一代增强型 GUI 和方便易用的大尺寸触摸板，改进操作性和可见性。操作轻松简便，用户通过触摸和轻扫即可操作屏幕，还可一键式切换分组/个别图形列表以及简略/详细结果显示。此外，还配备参数搜索功能、常用参数书签功能和测试参数一键设置功能，提升复杂设置工作的效率。功能测试MT8821C 也非常适合OTA (空中) 测试比吸收率 (SAR) 测试功耗测试Inter-RAT 测量、DSDA 射频测试終端至終端通信测试支持 VoLTE 语音/视频回环测试向后兼容性/ MT8820C 至 MT8821C 升级由于 MT8821C 远程命令具有与旧款 MT8820 系列良好的向后兼容性，因此过去使用的远程工具均受支持，有助于降低配置自动化测试环境的成本。Anritsu 也提供 MT8820C 升级至 MT8821C 的途径，以使用户善加利用现有的 MT8820C 硬件和软件，发挥先前 MT8820C 投资的效益，同时降低 MT8821C 的投入成本。支持动态频谱共享（DSS）为了更有效地使用通信频段，DSS会根据需要调度和动态分配同一频段内的4G和5G信号。MT8821C特征：用于研发 UE 的无线通信测试仪对所有遵从 3GPP/3GPP2 UE 射频 TRX 测试：LTE/LTE-Advanced、Cat-M1/NB-IoT、W-CDMA/HSPA、GSM/EGPRS 和 TD-SCDMA/HSPA 标准的蜂窝技术提供支持支持在单一设备中进行 LTE-Advanced载波聚合 5CCs SISO 测试支持在单一设备中进行 LTE-Advanced载波聚合 2CCs 4x4 MIMO 和 4CCs 2x2 MIMO 测试支持在2台设备中进行 LTE-Advanced载波聚合 4CCs 4x4 MIMO 和 6CCs 2x2 MIMO测试支持在3台设备中进行 LTE-Advanced载波聚合 5CCs 4x4 MIMO 测试支持 VoLTE 语音/视频回环测试支持 6 GHz160-MHz 宽频带 (发生器/分析仪)增强型 GUI 及大尺寸触模板向后兼容 MT8820 系列技术：LTEWCDMA/HSPA/HSPA EvolutionConnecting the IoT World Testing with Anritsu佳时通（）主营通讯测试仪器租售业务：综合测试仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、WIFI蓝牙测试仪、程控电源、示波器、万用表、功率计、频率计。产品型号：CMW100 、CMW500、2306、2303、MT8821C、N9020B 、MT8820C、MT8862A、MT8870A、MT8852B、MT8862A、66319D、66309D、IQxeI-80、IQstream-5G、IQ2011、IQ2010、ZVB、ZND、ZNB、E4438C、E5071C、E7515B、N4010A、N5182B、N5182A、N9020A

玻璃介电常数测试仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。玻璃介电常数测试仪性能特点：1. 平板电容器 极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm 极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器 电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极玻璃介电常数测试仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。玻璃介电常数测试仪介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。玻璃介电常数测试仪许多不同物质的介电常数都大于1。这些物质通常被称为绝缘材料或绝缘体。常用的绝缘体包括玻璃、纸、云母、各种陶瓷、聚乙烯和特定的金属氧化物。绝缘体用于交流。泡沫由聚苯乙烯2.2.6与聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚氨酯等树脂制成。介电常数可分为相对介电常数和有效介电常数。通常我们说的介电常数是相对介电常数，硅的相对介电常数是11.9。(AC)，声波(AF)和无线电波(RF)的电容器和传输线。

HI-3604配件测量任何ELF磁场源所产生的磁场，包括单、多相电气电路，视频显示终端，家用电线，设施和输电线等。响应频率范围5-2000Hz磁场强度范围0.2mG-20 gauss全向探头，真有效值读数满足国际标准和瑞典测试标准

各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。2）极化损耗在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。电离损耗电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。

聚合物材料介电常数介质损耗测试仪宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图聚合物材料介电常数介质损耗测试仪从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等聚合物材料介电常数介质损耗测试仪陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。 [3]高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据12.试验报告：可根据用户要求进行编辑打印13.限位保护：具有程控和机械两级限位保护14.过载保护：当负荷超过额定值3～5%时，自动停机15.报告显示：自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户16.添加试验方法：用户可跟据试验要求，添加试验方法聚合物材料介电常数介质损耗测试仪软件说明a.软件系统：中英文Windows2000/XP/Win7平台下软件包b.自动储存：试验条件、试验结果、计算参数、标距位置自动储存。c.自动返回：试验结束后，试验机横梁会自动返回到试验初始位置。d.连续试验：一批试验参数设定完成后，可连续进行测试。e.多种曲线：同一图形上可显示多种不同的曲线：荷重--位移、荷重-时间、位移--时间、应力—应变、荷重—两点延伸等到多种曲线。f.曲线对比：同组试样的曲线可在同一张图上叠加对比。g.报告编辑：可按用户要求输出不同的报告形式。h.动态显示：测试过程中，负荷、伸长、位移及选中的试验曲线随着测试的进行，实时动态显示在主控屏幕上。i.自动变标：试验中负荷、伸长等曲线坐标，如果选择不当，可根据实测值的大小，自动变换座标。保证在任何情况下 曲线以大的形式显示在屏幕上。j.峰值保持：在测试的整个过程中，测试项目的大值始终随着试验的进行，在屏幕窗口上显示。k.执行标准：满足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多种试验方法和标准。试验机仪表：本仪表采用国际比较先进的放大器，A/D、微处理器、高性能高清晰的液晶显示屏构成，整个系统采用类似手机PDA键盘，光标导航，全中文显示，浮点数数据处理，结构简单操作方便，自动计算存储，适合于企业，质检单位材料力学仪表。工作环境条件1 在室温100C～350C范围内，相对湿度不大于80%；2 在稳固的基础或工作台上正确安装，水平度为0.2/1000；3 在无震动、无腐蚀性介质和无较强电磁场干扰的环境中；4 电源电压的波动范围不应超出额定电压的±10%。结构特征及工作原理本机由机械、电气二大部分组成。1机械部分结构及工作原理：本机采用电动加载方式，底部是整机结构承载支架，内部包含有电机驱动器、加载电机、减速机构、动力传动机构等部件；上部是试样夹持及力值、位移测量机构，包含有试样拉伸夹具、测力传感器、位移传感器等主要部件。聚合物材料介电常数介质损耗测试仪本机采用机电一体化设计 ，主要由测力传感器、变送器、微处理器、负荷驱动机构、计算机及彩色喷墨打印机构成。它具有宽广准确的加载速度和测力范围，对载荷、位移的测量和控制有较高的精度和灵敏度，还可以进行等速加载、等速位移的自动控制试验。落地式机型 ，造型涂装均充分考量了现代工业设计，人体工程学之相关原则。主要特点:采用进口光电编码器进行位移测量，控制器采用嵌入式单片微机结构，内置功能强大的测控软件，集测量、控制、计算、存储功能于一体。具有自动计算应力、延伸率（需加配引伸计）、抗拉强度、弹性模量的功能，自动统计结果；自动记录大点、断裂点、点的力值或伸长量；采用计算机进行试验过程及试验曲线的动态显示，并进行数据处理，试验结束后可通过图形处理模块对曲线放大进行数据再分析编辑，并可打印报表。品质保证：3年保修，终身维护！注意事项1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。使用本机之前，请认真阅读使用说明书，充分理解之后，再开机使用。请爱护本机，正确使用，以便使该机永远保持较高的精度和良好的运行状态。技术参数：Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz