薄膜四探针测试仪

四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

请问那个学校有四探针测试仪？最好是京津塘这边的，离的比较近，急需试验用！

四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

本单位欲购买双电测四探针测试仪器和霍尔效应仪器，做科研用。谁能提供一些厂家和型号?谢谢。

想对薄膜的电阻率进行检测，四探针测试仪也可。如果能检测其他的性能包括Hall mobility当然更好。国外哪几个厂家比较好？谢谢！

样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]

ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试，探针是电测试的接触媒介，是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金；二是弹簧，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金；三是针头，主要是工具钢（SK）镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素： 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的，也就是说若是探针的质量是存在问题的，那么不仅会造成测试结果存在问题，还会造成其他的问题出现，因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作，要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况，不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同，我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍，希望可以帮到大家，本文出自：http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪（TR-518FE、TR-518FR、TR518FV）、ICT测试治具，功能（FCT）测试治具、DIP/SMT过炉治具（载具）、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具，提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

我现在用AFM测量一种薄膜的力学性质，由于目前所用的探针都比较尖，所以薄膜特别容易破，请教各位高手，有没有知道那里有卖不太尖的探针，比如说曲率半径是200~400nm的探针。多谢了！

自己去做实验的时候，发现大部分实验室的电子探针都是配的四道波谱，有些则配了五道，请教一下，电子探针四道波谱和五道波谱的工作效率差别有多大？四道是不是应付一般的实验就够了？谢谢！

求助： 很久以前见过一个专卖二手测试仪器的网址，但是现在找不到了。请知道的朋友告诉一声。我想买一台二手的台阶仪（探针接触式）的。

有没有哪位大神，总结过关于探针磨损的注意事项以及损坏掉的探针的特征之类的问题，求分享一下。最近试验总是出现测出的图像很奇怪的现象，拉长，斜向拉长，或者图形轮廓不明显，以及波形不匹配等等问题，求教哪些是参数引起的，那些可能是探针已经损坏了。

各位专家各位朋友大家好！请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题（纤维直径20um左右，由于不是成品导电性不好）我的测试方法，是将纤维（直径20um左右）埋在树脂里制成金相，打磨抛光后，露出纤维截面，喷碳后，用导电胶粘在电子探针样品台上，在显微镜里观察纤维，但纤维总是飘动，且看不清，原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上，没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢？这个问题也困扰了我很久，期待大家的回复。

[font=Calibri][font=Calibri]【第[/font]5季仪器心得】[/font][font=宋体][font=宋体]普瑞克[/font][font=宋体]TM2101-T5平整摩擦系数测试仪 薄膜纸张光滑度检测[/font][/font][font=宋体] [font=宋体]使用心得体会[/font][/font][font=宋体] [/font][img=,444,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/04/202404230818484218_3161_2227357_3.png!w444x333.jpg[/img][font=宋体] [/font][font=宋体] [/font][font=宋体]关于[/font][font=宋体][font=宋体]普瑞克[/font][font=宋体]TM2101-T5平整摩擦系数测试仪 薄膜纸张光滑度检测[/font][/font][font=宋体]的使用经验[/font][font=宋体]这个设备在购买的时候我们当时内部的争议很大，大家先看一下关键参数，可用于[/font][font=宋体][font=宋体]平整度测试仪适用于薄膜[/font] [font=宋体]纸张[/font] [font=宋体]薄片光滑度检测[/font] [font=宋体]砝码重量[/font][font=宋体](g) :200+2 g 滑块移动速度(mm/min) : 100+10 试验力精度(N) :+0.02 试件至大尺寸(mm) :上试样63*63下试样80*200外形尺寸(宽x长x高) (mm) : 300x400x180 重量(kg) [/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]当时我们在购买时大家不是很推荐这款产品，但是长期使用发现这个设备买的很划算。我们日常主要用于包材的平整度的检测，对于日常样品量大的实验室，这个设备功不可没。[/font][font=宋体]自己的使用感悟；[/font][font=宋体]我把日常使用的[/font][font=宋体]技术特点[/font][font=宋体]和大家分享一下，这个设备的软件很人性化，[/font][font=宋体][font=宋体]主界面主要包括以下几大部分：标题栏、菜单栏、工具栏、当前量显示栏、各显示界面[/font][font=宋体](测试前设置项、力-变形，力-时间、变形时间等曲线界面、档案数据库、测试结果)、控制界面，取点界面。[/font][/font][font=宋体][font=宋体]需要批量对比测试结果时，请增加多组试样资料。如果每次只需要输出一条测试结果，试样资料请只输入[/font][font=宋体]1组[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体]如果是[/font][font=宋体][font=宋体]增加：按选中的材料增减一个新的试样信息；如果是删除：删除选中的试样信息；还可以往下复制：将选中的参数数据依次复制到其下所有列。要是录入错误了还可以修改，[/font][font=宋体]“测试种类”和“形状”通过点击右键来修改[/font][/font][font=宋体] [/font][font=宋体]仪器的优点和不足[/font][font=宋体]这个设备在买的时候质保期限是一年，但是当时谈的是终生免费维修。这个在设备中太可以了。我们实验室买了大量的国产设备，部分是大客户的采购需求，所以在售后这方面国产设备有待提高。[/font][font=宋体]总结[/font][font=宋体]设备性价比很高，建议大家在购买前一定要看好参数。全面考虑一下设备的性能和参数。另外这个设备的备件在购买时要谈好，尽量一次性购买。后期单独购买的价格会略高一些。[/font]

扫描探针显微镜标准样品表面有微米级结构，一段时间后，脏了，怎么办？怎么清洗？我想会有朋友有这方面的困扰。目前有一种叫First Contact的溶液，是一种清洁保护剂，使用起来像面膜一样方便，不会有二次污染，溶液本事能渗透进50nm or 更小的缝隙，也可用于清洗微米级光栅，纳米级光栅，溶液完全干燥之后形成一层薄膜，可以很容易被揭掉，得到干净的表面。

锅炉燃烧测试，需要高温探针，要耐高温材料的，起码1500摄氏度的。谁有这样的探针，帮忙介绍一下。

提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

在紫外-可见-近红外区有特征荧光，并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质，如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子，包括有机试剂或金属螯合物。 　 最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体，亦可用于微环境，如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大，荧光量子产率高；荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移；用于免疫分析时，与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。 　也可用于标记待定的核苷酸片断，用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针：钙黄绿素（Calcein）,Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针：Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

摩擦系数测试仪是指测量塑料薄膜和薄片、纸张等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数的测试仪器。摩擦系数测试仪通过对材料滑爽性的测量，可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺指标，能够满足产品的使用要求。 摩擦系数测试仪利用将试验样品夹住，放在传感器上，在一定的接触压力下，使两试验表面相对移动，这时传感器将所测得的力信号，送入记录器，同时分别记录动摩擦系数和静摩擦系数这一原理工作。摩擦系数测试仪采用微电脑控制，液晶显示数据、结果、曲线，可自动测定和显示动、静摩擦系数并可以多组数据计算统计、分析并储存，具有性能稳定、测试精确、操作方便等特征。摩擦系数测试仪可选择动摩擦、静摩擦、动静摩擦试三种验模式，具有对单件、成组试验的结果统计分析处理多种报告模式功能。 摩擦系数测试仪主要用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和摩擦系数测试仪动摩擦系数。

我是新手，做过钨灯丝shu-150，jsm6700，但是一直不知道能谱的点扫是不是就是电子探针？问了很多做sem-eds的老师，他们也说不清楚什么是电子探针？电子探针就是能谱的点扫？还是电子探针是波谱的点分析（做标样的精确点分析）？还是都不是？求助大神解释。谢谢

接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。　　接地电阻测试仪注意事项如下几点：　　1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置，应使接地棒处于零电位的状态。　　2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行，如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候，以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。　　3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护，为避免电源短路，必须串接限压元件。　　4.用作差模保护的直流高压发生器件，其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。　　5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。　　6、接地线路要与被保护设备断开，以保证测量结果的准确性。　　7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体，其中电流极应远离10m以上，电压极应远离50m以上，如上述金属体与接地网没有连接时，可缩短距离1/2~1/3。　　8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。　　9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时，可将电位探针电压极插入土壤中浅一些，当检流计灵敏度不够时，可沿探针注水使其湿润。　　10、连接线应使用绝缘良好的导线，以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于：http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

Hi，各位大侠好。我们提供各种规格的氮化硅薄膜窗口产品，主要应用于：软X射线显微术、透射电镜、微加工、SEM、UV等等，具有良好的透光性、平整性、耐高温、耐化学腐蚀、亲水性、实用性、稳定性。因为有一批产品工艺摸索更新，目前有价值500元的免费氮化硅薄膜窗口试样可以提供。也正是因为工艺摸索阶段的产品，所以希望拿到免费试样的大侠，能够在短期能给予回复，评论产品的优缺点，以便我们进行工艺改进，生产出更好的产品。免费试样领取名额有限，原则上限定前20名联系人，特殊情况，适当放宽。其他参与者，有机会另外获得AFM/STM 探针免费赠送鼓励。领取条件：1、提供单位名称、联系方式（包括电话、邮箱）；2、研究/工作方向，希望用氮化硅薄膜窗口主要应用于什么方向；3、最好能够在收到试样一个月内回复使用情况的；附件是氮化硅薄膜窗口的一些资料，及部分应用成果。站内联系，留下联系方式，前20名，我们会很快联系您，并将免费试样寄给您。（来信请注明：氮化硅薄膜窗口试样免费领取）寄语版主：版主大虾，您好……鉴于我们也是出于为产品质量考虑，借用下群众雪亮的眼睛，在贵宝地求证，还望多多照顾。不要以广告论处！谢谢您的谅解！如果您也支持的话，不妨偶尔将帖子置顶下，谢谢啦。

[b][size=4]荧光探针提供了方便、快捷、廉价的分析测试手段,并具有很高的灵敏度和选择性,因而在分析化学、临床生物化学、医学以及环境科学等领域有广泛的应用前景。氟硼二吡咯(BOD IPY)是一种光物理和光化学性能优异的荧光染料,本文综述了近年来BOD IPY类阳离子荧光探针的最新研究进展和发展趋势。[/size][/b]

我现在用的是镀金的探针，不知道如何判断探针上的镀金层已经磨损？谢谢大家

大家做液相实验，轻敲模式下用的是什么探针，以前实验室一直用的是Vecco的那个NP-20的那个弹性系数0.58N/m的那个探针针，不过现在那个新的NP的针好像比以前的薄了不少，反正液相下的轻敲模式总是不稳定，大家分享一下经验

1、 气体渗透仪――用于各种膜，片材气体透过试验之溶解度、扩散、渗透系数的测定，自控温，全自动，压差法。2、 透气性测试仪(透气仪)－适用于薄膜、复合膜等材料的O2、N2、CO2等气体透过率的测试。3、 透氧仪(容器/薄膜透氧仪)――适用于容器和包装膜的氧气透过量的测定。执行标准ASTM F 1307、ASTM　D3985，等压法。4、 透湿性测试仪（透湿仪）－ 适用于薄膜、复合膜等各种包装材料、聚合物产品的水蒸气透过率的测试。 5、 T3型透湿性测试仪－　适用于薄膜、复合膜等各种包装材料、聚合物产品的水蒸气透过率的测试,十二腔测试。

我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!