显微大差射应力仪

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

Xstress DR45是新一代X射线残余应力分析仪，快速、精度高，提供的数据可靠。直观、简捷。DR45X射线残余应力分析仪用于制造业快速测量，甚至适用于生产领域操作员易于使用的软件可用于频繁测量的模板DR45X射线残余应力分析仪用于实验室DR45X射线残余应力分析仪可进行多种计算，包括线性和椭圆回归，应力张量和主应力等功能。峰拟合功能包括互相关，抛物线，高斯，洛伦兹，修改的洛伦兹等。可测量不同尺寸和形状的零件的巨大差异轻松快捷地更换X射线管DR45X射线残余应力分析仪现场使用快速组装，可在10分钟内使用衍射仪和Xstress MU的稳健设计可在不平坦的表面上进行测量；用磁脚固定在不同的位置。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

微针横向应力测试仪仪器介绍微针（Micro needles）MN是指包含多个微型针头的阵列，针的长度一般为几十微米至几毫米，而其直径为几十微米以下。微针是一种高效、安全、新型的经皮给药技术，拥有其他传统经皮给药技术无法达到的优势。一，微针打破了经皮给药中的重大屏障———角质层对药物的阻滞，不仅使药物的递送效率大大提升，还使得大分子药物和亲水性药物的经皮递送成为可能。 由于微针使用过程对穿刺的影响、皮肤与不锈钢板等平面存在较大差异等原因，微针实际的刺入效果是无法通过断裂力或压变性能准确预测的。因此，多数研究采用生物组织( 通常是离体人皮肤或动物皮肤) 来考察微针真实的穿刺性能。 微针横向应力测试仪TA.XTC-20特别适用于高精度材料物性品质研究，反应灵敏，根据样品形态可智能调节追踪速率，对于微针、微球、微胶囊等精细样品力学性能准确测定。可以准确测定微针（MN）应力-应变曲线，获取微针的屈服力，微针屈服强度MNs yielding force；微针破裂强度测定MN breaking force，可应用猪皮穿透测试insertion into pig skin，评估微针（MN）透皮性能，从而对微针机械强度进行分析。 仪器应用于介孔微针强度 mesoporous microneedles (MMN) 应力-应变 stress– strain分析，可对实心微针、空微针、棱形硅 微针silicon microneedle、金涂层固体硅微针脆性测试 ，金属微针硬度测定，聚合物微针强度测定、陶瓷纳米微针、水凝胶微针应力测定、玻尿酸微针弹性模量测定，微针（MN）透皮性能测定。 医疗卫生领域耗材正在精细化发展，如微针、微球、微胶囊、水凝胶微粒等，这种微小耗材在应用过程中，力学性能是影响其使用效果的关键性因素。因此在前期精细耗材研发过程中，需采用高精度力学分析仪器对样品在使用过程中的力学性能进行分析。TA.XTC-20采用高精度电机，具有高频率信号采集能力，同时仪器自带方法库，根据标准要求不断内置应用方案，是一款在微力领域的仪器。 基本参数：Ø 高精度：0.0001gØ 位移精度：0.001mmØ 测试臂移动距离：0-400mmØ 检测速度：0.01~50mm/sØ 数据采集率：不低于2000组/秒，每组4个通道同时读取Ø 力量感应元：100g、500g、1kg、5kg、10kg、20kg、30kg、50kg、100Kg可选，可根据用户需求提供升级产品配置。

压电响应力显微术 (PFM) 生物材料与铁电材料等的成像 许多材料的机电耦合行为，如生物基细胞膜和蛋白质，铁电和压电材料从现在开始都可以用压电响应力显微镜来表征。 这一成像技术在开发基于铁电畴变等的新型电子设备方面引起了极大的关注，在对将来电脑存储等领域的诸多应用方面的发展有着巨大的潜力。 压电响应力显微术是在扫描探针显微镜的基础上，在接触式扫描过程中对探针施加一个交流电压，利用材料自身逆压电效应来探测样品表面形变的一类技术总称（见图1）。压电响应力显微术已经成为铁电材料研究的重要手段，广泛应用于纳米尺度畴结构的三维成像、畴结构的动态研究、畴结构控制和微区压电、铁电、漏电等物理性能表征等领域。其最大的优势就是同时具有极高的分辨率（~10-20 nm）和灵敏度（~0.1 pm/V）。

该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测，可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布，它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统，随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。应用：通信光纤晶体纤维微小透明样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm6视野尺寸142x170um到3.5x4.2mm(×2，×5，×10，×20，×50)7选配镜头视野无8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

压电响应力显微术 (PFM) 生物材料与铁电材料等的成像 许多材料的机电耦合行为，如生物基细胞膜和蛋白质，铁电和压电材料从现在开始都可以用压电响应力显微镜来表征。 这一成像技术在开发基于铁电畴变等的新型电子设备方面引起了极大的关注，在对将来电脑存储等领域的诸多应用方面的发展有着巨大的潜力。 压电响应力显微术是在扫描探针显微镜的基础上，在接触式扫描过程中对探针施加一个交流电压，利用材料自身逆压电效应来探测样品表面形变的一类技术总称（见图1）。压电响应力显微术已经成为铁电材料研究的重要手段，广泛应用于纳米尺度畴结构的三维成像、畴结构的动态研究、畴结构控制和微区压电、铁电、漏电等物理性能表征等领域。其最大的优势就是同时具有极高的分辨率（~10-20 nm）和灵敏度（~0.1 pm/V）。

应力双折射仪WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO匹配显微镜测量双折射测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体薄膜、金属晶体、不透明基板等材料在显微镜视场下评估和管理双折射分布PHL应力双折射仪器参数：型号WPA-Micro测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm观测到的面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View（for Micro）

研究级透反射偏光显微镜 NP910提供多种类型的补偿器NP900可使用多种光补偿器，它可以强化微弱双折射物质的讯号，使他们更容易被看见。同时，补偿器也可用于定性测量，能够确定多种水平延迟。无应力光学部件使成像更准确随着偏正光研究的不断加深，对数据的准确性和可重复性的要求越来越高，物镜及聚光镜作为显微镜中的重要部件对成像的效果起到至关重要的作用。而作为偏光显微镜，不仅需要成像清晰度高，无应力光学部件也是必不可少的一项，这确保了观察到的双折射现象是来自样品而不是光学元件。中心可调6孔物镜转换器中心可定位转盘，让每个物镜都可以方便快捷地调整到光路的中心。物镜转盘可配备6个物镜并具有不同放大倍率，获取丰富样品信息。高精度圆形旋转载物台台面大、旋转方便，可45°定位旋转中心可调。双层机械移动尺可以轻松安装在旋转载物台上，样品移动更容易，显微操作更高效。中间镜筒内置勃氏镜，可在正像镜检与锥光镜检之间快速切换，干涉图像调节精确、快速。0—360o转动式检偏装置，提供了无与伦比的图像对比度。可变倾角三目观察头可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。转盘式观察模块变换装置最多可放置6个观察模块的转盘式结构，在提供充分扩展能力的同时又可以快速的进行切换。只需轻轻一拨，方便快捷，提高工作效率。图像分析系统今日，研究工作环境要求工具可以适应每个人不同的工作流程。NOVA Basic显微图像分析软件可以让采集、处理、测量和显微镜之间无缝衔接。NOVA Basic可以同时为当今流行的操作系统提供观测工具。可实现多种观察方式透射光观察明视场暗视场相衬反射光观察明视场暗视场偏光荧光微分干涉（DIC）NEXCOPE NP900系列科研级偏光显微镜，专为实验室和教育领域的科研工作而设计，无可争议地将实用性、舒适的操作和出众的NIS光学系统进行了完美的结合，可以进行单偏光、正交偏光、锥光观察，为您提供可信赖的、清晰的、高反差的图像。1、光学系统：NIS45无限远光学系统2、放大倍数：50X—1000X3、目镜：超大视野目镜SW10X/25，高眼点，-5～+5视度可调，带定位销，其中一只带十字分划，其中一只带分划4、镜筒：人机学可变角度铰链式三目观察头，固定视度，瞳距47-78mm，目视/数码三档分光比：100/0、20/80、0/100，能够满足不同的使用需求5、转换器：带分析槽的内倾式内定位五孔转换器，转动舒适，定位准确可靠，中心可调；6、无应力平场半复消色差物镜：5X/0.15/∞/- WD20mm10X/0.3∞/- WD 11mm20X/0.45/∞/0 WD 3.1mm无应力平场复消色差物镜： 50X/0.8/∞/0 WD 1mm100X/0.9/∞/0 WD 1mm7、检偏装置：0—360º 转动式检偏装置，最小刻度0.1º ；8、锥光观察装置：正像镜检与锥光镜检可切换，可调焦9、光程补偿器：λ试板（一级红），1/4λ试板，石英楔子试板；10、圆型旋转载物台：偏光显微镜专用高精度旋转载物台，直径φ190mm，中心可调，360°刻度，刻度格值1°，游标格值6´ ，可45°定位旋转。11、移动尺：移动范围30mmX30mm12、聚光镜：N.A0.9/0.25无应力摆出聚光镜13、调焦系统：同轴粗微调调焦机构，调焦范围32mm，微调格值0.001mm，粗动行程每圈37.7mm，微动行程每圈0.1mm；14、起偏装置：透射：360°旋转，0°位置可调整 反射：固定式15、透射照明（用于NP900-TR机型）：1）聚光镜：偏光聚光镜，N.A 0.65，齿轮齿条调节，可升降2）220V 12V100W卤素灯、光源中心可调，亮度可调3）内置ND6、ND25、色温片16、反射照明：220V 24V100W卤素灯、光源中心可调，亮度可调17、透反射光源一键切换。18、ECO照明系统：人走灯灭功能：操作者离开超过30分钟后，显微镜主机会自动关闭透射光源，节能开关既节约了能源，又保护了光源的使用寿命。

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

产品介绍：原位应力腐蚀环境通过在腐蚀液浸渍环境中对金属材料、高分子材料、复合材料及其它非金属材料进行拉伸、压缩、弯曲、剪切等试验，得到材料在应力条件下的腐蚀演化行为。设备采用单轴拉伸或单轴压缩加载方式，可实现恒变形、恒应力或慢应变加载方式。配合X射线显微镜，轻松获得腐蚀层及裂纹发展和分布的三维显微特征结构。参数：产品优势原位应力腐蚀环境通过在腐蚀液浸渍环境中对金属材料、高分子材料、复合材料及其它非金属材料进行拉伸、压缩、弯曲、剪切等试验，得到材料在应力条件下的腐蚀演化行为。设备采用单轴拉伸或单轴压缩加载方式，可实现恒变形、恒应力或慢应变加载方式。配合X射线显微镜，轻松获得腐蚀层及裂纹发展和分布的三维显微特征结构。

产品介绍随着二维材料研究的蓬勃发展，其材料性能及器件工作机制都与传统半导体材料和器件有很大差异，光电流成像显微系统成为研究材料性能和检测材料光电流强度分布的重要设备，既可以用于测量光电材料的光电响应信号，又可以表征材料的光电性质。托托科技致力于开发具有高性能、高稳定性和高灵活度的微区光电流成像显微系统，系统采用双层平台机构，空间大，提供更多组合可能性，可搭配激光合束模组、高精度XY运动台、电磁场系统、低温恒温系统、锁相放大器、光谱仪系统等。系统兼容磁场、电场、低温，实现对二维材料磁、光、电、温度的调制。我们提供完整的NI Labview控制程序以方便用户的使用。软件包将所有系统中的测试设备统一控制，可以实现四种变量任意组合的光电流测试，即可以一次性测量不同变量下的光电流信号。系统结构图增强版系统外观如下，各个产品应客户要求，略有区别。产品亮点1、超宽谱激光兼容2、高精度XY运动台3、光路准直共路4、可搭配源表/探针台5、可搭配光谱仪系统/探测器6、高稳定性，操作便捷扫描数据参考Bi2Se3薄膜的光电流扫描数据(Nat. Comm. 9, 2492 (2018)) WTe2薄膜的光电流映射数据 (Nano Lett. 19, 2647 (2019)) 系统升级选项 1、搭配低温恒温系统 (5k -500k) 2、时间分辨光电流 3、荧光测试功能 4、磁场整合关键技术指标(TTT-03-PC)成像系统显微镜Carl Zeiss 正置式显微镜照明光源LED照明光源物镜5X、20X、100X，可选配多种倍率、超长焦距物镜反射式物镜，覆盖全波段相机彩色CMOS相机 (1920*1080 像素)激光耦合输入常规波长范围400 ~ 2000 nm (典型可见光：405nm、473nm、532nm、671nm，近红外：808nm、1064nm、1342nm、1550nm、1950nm)可选波长中红外激光器：4um-12um，间隔1um其他选配光源可选配光纤接口，支持光纤导入准直激光装配类型单个激光器，或者激光合束模组(支持四个激光器准直共路)扫描平台位移台类型高负载、高精度XY运动台，直线驱动，闭环反馈扫描范围100mm*100mm扫描精度50nm双向可重复性±0.5um广泛测试环境Keithley 2400或用户需求可选配探针台或者PCB板连接源表，提供电压输入及探测可搭配电磁铁、低温恒温系统可选配锁相放大器、斩波器可搭配光谱仪系统、各种探测器等检测设备其他参数软件基于labview的全自动软件设备尺寸140 cm * 100cm * 170cm附属配件光学平台、电脑、无线鼠标备注:1、订购时指定激光类型。2、设备可配置多种电学仪表。安装要求温度20 – 40℃湿度RH 60 %电源220 V, 50 Hz应用实例系统的典型应用包括但不限于：1、表征自旋累积、自旋寿命2、表征光电流3、表征反射谱

XPL-3230透反射偏光显微镜的产品特点：XPL-3230透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜性能特点:▲ 采用无限远光学系统及模块化功能设计。▲ 配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲ 广角平场目镜：视场直径Ф22mm。▲ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。▲ 偏光观察装置可移入或移出光路，起偏器与检偏器均可360°旋转。▲ 旋转式载物台，360°等分刻度,游标格值6' ，中心可调，带锁紧装置，工作台垂直有效行程可达 30mm。▲ 宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明，亮度可调。▲ 三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可100通光，适合低照度显微图像拍摄。透反射偏光显微镜透反射偏光显微镜透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜标准配置:型号XPL-3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离：26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离：20.2 mmPL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mmPL L60X/0.70（弹簧） 工作距离：3.18 mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360?旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光阑、上光源带有旋片式滤光镜（蓝、黄、磨砂玻璃）载物台旋转式圆形载物台直径达160mm；可360度等分刻度，游标格值6' ，中心可调，带锁紧装置，垂直行程可达30mm转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30?, 可进行100透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm透射照明起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 30W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 N.A. 1.25 可上下升降 插入式滤色片（蓝、黄、磨砂玻璃）

X射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程（如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理）制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作，又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计，提高工艺效果，检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合，于此列举如下事例： 在现代机械工程中，由于焊接技术的进展，使许多巨大金属机构的制造成为可能，但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题，它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上，对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件，以及航空、航天、核工业的有关设备，各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力，传统的热时效方法还在普遍采用，而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然，检测构件时效前后，特别是振动时效前后各部位残余应力的变化，对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度，材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言，这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此，无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目，用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明，应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件，残余应力是正或是负，以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因，就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性，也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处，测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中，X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟，方法完善，经历了七十余年的进程，在国内外广泛应用于机械工程和材料科学，取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置，因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件，而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响，这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理: X射线应力测定仪测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时，会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值（即所谓衍射峰），这便是X射线衍射现象（如左图所示）。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释： 众所周知，对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说，在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒， 其中必有许多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于试样表面，晶面法线与表面法线夹角ψ为0；也必有许多晶粒，其（h k l）晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先，如图A所示，以试样表面某点(o点)法线为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地指向该点O，并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律，可以找到平行于试样表面的（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面，衍射晶面的法线必在扫描平面内，并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住，此时扫描平面与试样表面垂直，衍射晶面与试样表面平行，ψ＝0（如图B）。然后，扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角（如图C），同样也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ，这时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ（如图D)。 图A 图 B 图 C 图 D 在无应力状态下，对于同一族晶面（h k l）来说，无论它居何方位，即无论ψ角等于何值，晶面间距d均相等；根据布拉格定律，相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时，譬如沿图中OX方向存在拉应力，则平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其间距d会因泊松比的关系而缩小（见图B）；随着ψ角的增大，晶面间距d会因拉应力的作用而增大（见图D）。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律，d 变小，则2θ变大；d 变大，则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料，在平面应力状况下，依据布拉格定律和弹性理论可以导出，应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M，即 σ＝KM ????2θ M＝ —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数， E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2（1+μ） 180式中E为杨氏模量，μ为泊松比，θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料，K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样，测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 X射线应力测定仪三、仪器结构： 本仪器主机由以下五部分组成：PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器，以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV～30kV电压，通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描，二者各前进一个 θ，则衍射角改变 2θ，故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中，衍射晶面法线保持不动，准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中，且处在与试样表面垂直的平面里。这样，可以直观地看出，当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时，该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪，其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件，运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构，均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点，便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°，在采用了吸盘之后，旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点： X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性；从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来，即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说，不论衍射峰是否漫散，它的背底都不会倾斜，峰形基本对称，而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化（如图所示）。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识：侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而，除了国产X-350A型以外，迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说，虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法，但是由于仪器机构和功能的限制，总会伴随诸多困难和麻烦，更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号：98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下： １、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计，使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素；另外，又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主，实现理想的测量方法；同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围：120°～170°，在侧倾法的条件下，测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外，还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性，特别是对于齿轮的齿根部位。 ２、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中，X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点，三者随时同处在一个聚焦圆上，当然，随着扫描过程，聚焦圆的大小是逐步变化的。 ３、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°～170°， 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰，无需另外安装延长扫描范围的附件，测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定，以便探测织构的影响。必要时，可以做到残奥含量和残余应力同时测定，亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能，对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 ４、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构，这样即可测定主应力的大小及其方向，测定剪切应力。 ５、应用PC微电脑，Windows 环境操作，界面友好，使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件，丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告；根据用户要求，还可以生成英文版实验报告。 ６、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 ７、为X光管配置高压开关电源，最大功率30KV×10mA，稳定度优于0.1% 。 ８、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 应力测定仪五、主要技术参数:★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描最小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg最简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

应力检测仪_残余应力分析仪_x射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程（如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理）制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作，又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计，提高工艺效果，检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合，于此列举如下事例： 在现代机械工程中，由于焊接技术的进展，使许多巨大金属机构的制造成为可能，但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题，它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上，对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件，以及航空、航天、核工业的有关设备，各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力，传统的热时效方法还在普遍采用，而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然，检测构件时效前后，特别是振动时效前后各部位残余应力的变化，对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度，材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言，这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此，无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目，用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明，应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件，残余应力是正或是负，以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因，就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性，也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处，测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中，X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟，方法完善，经历了七十余年的进程，在国内外广泛应用于机械工程和材料科学，取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置，因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件，而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响，这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理:测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时，会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值（即所谓衍射峰），这便是X射线衍射现象（如左图所示）。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释： 众所周知，对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说，在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒， 其中必有许多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于试样表面，晶面法线与表面法线夹角ψ为0；也必有许多晶粒，其（h k l）晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先，如图A所示，以试样表面某点(o点)法线为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地指向该点O，并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律，可以找到平行于试样表面的（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面，衍射晶面的法线必在扫描平面内，并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住，此时扫描平面与试样表面垂直，衍射晶面与试样表面平行，ψ＝0（如图B）。然后，扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角（如图C），同样也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ，这时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ 在无应力状态下，对于同一族晶面（h k l）来说，无论它居何方位，即无论ψ角等于何值，晶面间距d均相等；根据布拉格定律，相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时，譬如沿图中OX方向存在拉应力，则平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其间距d会因泊松比的关系而缩小（见图B）；随着ψ角的增大，晶面间距d会因拉应力的作用而增大（见图D）。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律，d 变小，则2θ变大；d 变大，则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料，在平面应力状况下，依据布拉格定律和弹性理论可以导出，应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M，即 σ＝KM ????2θ M＝ —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数， E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2（1+μ） 180式中E为杨氏模量，μ为泊松比，θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料，K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样，测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 三、仪器结构： 本仪器主机由以下五部分组成：PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器，以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV～30kV电压，通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描，二者各前进一个 θ，则衍射角改变 2θ，故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中，衍射晶面法线保持不动，准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中，且处在与试样表面垂直的平面里。这样，可以直观地看出，当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时，该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪，其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件，运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构，均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点，便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°，在采用了吸盘之后，旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点： X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性；从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来，即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说，不论衍射峰是否漫散，它的背底都不会倾斜，峰形基本对称，而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化（如图所示）。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识：侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而，除了国产X-350A型以外，迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说，虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法，但是由于仪器机构和功能的限制，总会伴随诸多困难和麻烦，更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号：98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下： １、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计，使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素；另外，又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主，实现理想的测量方法；同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围：120°～170°，在侧倾法的条件下，测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外，还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性，特别是对于齿轮的齿根部位。 ２、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中，X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点，三者随时同处在一个聚焦圆上，当然，随着扫描过程，聚焦圆的大小是逐步变化的。 ３、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°～170°， 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰，无需另外安装延长扫描范围的附件，测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定，以便探测织构的影响。必要时，可以做到残奥含量和残余应力同时测定，亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能，对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 ４、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构，这样即可测定主应力的大小及其方向，测定剪切应力。 ５、应用PC微电脑，Windows 环境操作，界面友好，使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件，丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告；根据用户要求，还可以生成英文版实验报告。 ６、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 ７、为X光管配置高压开关电源，最大功率30KV×10mA，稳定度优于0.1% 。 ８、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 五、主要技术参数:★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描最小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg最简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

XPL-3230透反射偏光显微镜的产品特点：XPL-3230透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜性能特点:▲ 采用无限远光学系统及模块化功能设计。▲ 配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲ 广角平场目镜：视场直径Ф22mm。▲ 粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。▲ 偏光观察装置可移入或移出光路，起偏器与检偏器均可360°旋转。▲ 旋转式载物台，360°等分刻度,游标格值6' ，中心可调，带锁紧装置，工作台垂直有效行程可达 30mm。▲ 宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明，亮度可调。▲ 三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可完全通光，适合低照度显微图像拍摄。透反射偏光显微镜XPL-3230透反射偏光显微镜标准配置:型号XPL-3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离：26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离：20.2 mmPL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mmPL L60X/0.70（弹簧） 工作距离：3.18 mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360?旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光阑、上光源带有旋片式滤光镜（蓝、黄、磨砂玻璃）载物台旋转式圆形载物台直径达160mm；可360度等分刻度，游标格值6' ，中心可调，带锁紧装置，垂直行程可达30mm转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30?, 可进行完全透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm透射照明起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 30W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜 N.A. 1.25 可上下升降 插入式滤色片（蓝、黄、磨砂玻璃）

全角度X射线应力测定仪 仪器的核心部件：微型X射线管、线阵探测器、超高速、紧凑型六轴机器手，分别来自，美国、瑞士、日本，全球领先的品质得到了完全的保证。一、描述： 以一个X射线管和两个线阵探测器和为核心器件，通过必要的内部支架及外壳组合而成为宝盒。两个探测器的中心线和与入射线夹角分别设为2η，夹角顶点为测试点S。盒内还安装左右两个激光器，两束激光和交汇于S点。另外配以微调升降机构和多段式万向支架，即可用于应力测试。只需使用两束激光对准测试点S，调整宝盒外壳参照平面使之平行于试样测试面，开机后没有测量动作，采集数据几秒至十几秒即可完成测试。 这里2η依据不同待测材料和X射线管的靶材确定。 二、与现有X射线应力设备的比较： 现在所有的X射线应力测试设备都必须有两种运动机构：（1）通过机械扫描测定衍射角2θ的机构；（2）改变Ψ角的机构。测试过程都是在若干个不同的Ψ角分别测定衍射角2θ，然后计算应力。本仪器却没有这样两种机构，无需这两种测量动作。开机直接采集数据，计算应力值，瞬间给出测试结果。 三、技术参数： 1、X线管靶材：Cr（可定制）。 2、X射线管功率：60kv,200uA。 3、高压电源：与X射线管集成。 4、线阵探测器：厚320Um，宽50UM，*4mm*640mm。 5、2θ范围：144°-168°。 6、ψ角：可选择35°、40°、45°。

应力仪 双折射测量系统 应力测量 应力双折射 应力测试 应力检测 玻璃应力 birefringence Hinds Instrument Hinds仪器 双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 最早的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在国际领先的平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。我们的系统是无与伦比的！了解更多产品信息以及价格请联系北京昊然伟业光电科技有限公司！

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

透射偏光显微镜MHPL1500偏光显微镜MHPL1500是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。产品配置无应力平场消色差物镜与大视野目镜，高精度偏光载物台，优良的偏振观察附件等。可在透射偏光、反射偏光与透/反射偏光状态下获得良好的显微图像，仪器机械性能优良，观察舒适，操作方便。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。产品展示：实拍效果图：偏光显微镜MHPL1500产品参数：1. 标准配置型号MHPL1500 (透射照明)目镜大视野 WF10X (Φ18mm)分划目镜 10X (Φ18mm) 0.10mm/div物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 4X/0.10无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 10X/0.25无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 40X/0.65 (弹簧)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm)PL 60X/0.85 (弹簧)透射照明起偏器可360°旋转，有0、90、180、270四个读数集光器卤素灯照明适用光源6V 20W 卤素灯,亮度可调阿贝聚光镜N.A. 1.25 可上下升降目镜筒三目镜,倾斜30&ring ,可进行100%透光摄影中间接筒内置检偏器, 可自由切换正常观察与偏光观察,90°旋转，带刻度,游标格值12'推入式勃氏镜，中心可调λ补偿器λ/4 补偿器石英锲补偿器转换器四孔(外向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置载物台旋转式载物台,直径：Φ150mm，360°等分刻度,游标格值6'，中心可调，带锁紧装置2.选配件:名称类别/技术参数 目镜大视野 WF16X(Φ11mm)物镜 (中心可调)无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 20X/0.40 无应力平场消色差物镜(盖玻片:0.17mm) PL 100X/1.25 (油,弹簧)无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 20X/0.40无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 50X/0.70无应力平场消色差物镜(无盖玻片) PL L 80X/0.80无应力平场消色差物镜(干式) (无盖玻片) PL L 100X/0.85 (弹簧)转换器四孔(外向式滚珠内定位),可调节物镜中心移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900摄影装置2.5X/4X变倍摄影装置带10X取景目镜4X对焦摄影装置MD卡环PK卡环数码相机接头CANON (A610,A620,A630,A640)外形尺寸：偏光显微镜,透反射偏光显微镜,偏光显微镜价格,偏光显微镜厂家,偏光显微镜参数,矿相偏光显微镜，联系广州市明慧科技有限公司。

双折射分析仪的应用非常广泛，如钢化玻璃的应力分布分析、晶圆内结晶缺陷测量、塑料或玻璃镜片的双折射测量、薄膜生产的工程分析、透明成型品的注塑条件或模流分析等。WPA-Micro的应用主要是在材料的研究上，现在最主流的薄膜或镜片材料为塑料（高分子材料），而塑料本身具双折射，这双折射的大小及均匀性是决定产品品质的主要因素之一，于是高分子材料的研究上，双折射的分析是必须的任务。WPA-Micro能以快速且高精度来测量视野范围内的大双折射分布，测量对象为玻璃、蓝宝石、薄膜、塑料件等产品的原材以及产品本身，透过显微镜便可对微小区域进行高分子配向的定性分析，如面板像素里的配向膜均匀性分析。技术参数：感应器--大双折射测量用偏光图像传感器像素--11万像素测量波长--523/ 543/ 575nm测量范围（双折射大小）--0~3500nm允许的产品尺寸范围--80*110um~2.0*2.7mm（如需更大范围，请与我们联系）再现精度--σ1nm

BK-POL系列偏光显微镜广泛应用于地质、矿产、冶金、化工、医疗、药品和刑侦等领域的研究检验及高等院校教学使用...... BK-POL透射偏光显微镜 性能特点● 又叫矿相或岩相显微镜，是对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备工具● 广泛应用于地质、矿产、冶金、化工、医疗、药品和刑侦等领域的研究检验及高等院校教学● 透射及反射两套无限远无应力偏光物镜供选择● 超大视野目镜，视场数可达到22mm，观察更加平展舒适 校正目镜筒，可使右侧的目镜十字线方向始终保持不变● 检偏装置：可360°旋转、锁定、移出光路，带刻度● 偏光移动尺：实验室专业设计旋转载物台时可避免碰撞物镜 ● 摇出式聚光镜，使用高倍物镜观察干涉图像时，摆入锥光镜，从而获得优良效果 规格参数光学系统OTICS无限远色差校正光学系统目镜10×大视野、高眼点平场目镜，视场数Φ22mm/Φ20mm物镜无限远无应力平场物镜（透射）：4×/10×/20×(S)/40×(S)/60×(S)无限远无应力平场物镜（反射）：5×/10×/20×/50×(S)观察筒铰链式双目观察筒，30°倾斜，瞳距调节48 mm～76mm，右侧目镜筒联动铰链式三目观察筒，30°倾斜，瞳距调节48 mm～76mm，右侧目镜筒联动两档转换：100%观察；20%观察，同时80%摄影转换器内倾式五孔可调中心转换器中间体360°可旋转检偏器组（模块式，可锁定）内置中心可调的可调焦勃氏镜起偏器起偏器（可360°旋转，带刻度，可锁定）插片λ插片（一级红），λ/4插片，石英楔插片（Ⅰ~ Ⅳ级）调焦系统粗微同轴调焦，粗调行程25mm，微调每圈0.2mm，格值2μm，粗调带松紧调节，并有调焦上限位装置载物台360°旋转偏光载物台，中心可调，刻度格值1°，游标格值6′聚光镜N.A.0.9/0.13摇出式聚光镜透射照明系统6V/20W卤素灯（宽电压输入：100V～240V），6V/30W卤素灯可选反射偏光装置带视场光阑、孔径光阑、起偏器，12V/50W卤素灯（宽电压输入：100V～240V）移动尺偏光专用移动尺摄像接筒0.5×/ 1×摄像接筒（C-Mount）数码照相装置可配置CANON、NIKON、OLYMPUS等多种数码相机数码摄像系统DV/TP系列数码摄像系统偏光显微熔点测定仪恒温台技术指标控制方式： 触摸屏控制显示温度范围： 室温—400℃测量精度： 全范围≤±0.5℃数据保存： 可以通过触摸屏控制保存测量温度热台外体最高温度： 当热体400℃ 室温25℃时≤70℃可设置升温速度范围：分/0.1-10℃自行设置即刻恒温响应时间： ≤0.01秒输入电源： AC 100-240 50-60HZ热台加热工作电源： 直流 24V 3A功耗： 75W热体最大载物重量： 200克工作方式： 连续工作台外型尺寸： Φ109mm，厚度：15mm工作台工作面尺寸： Φ31.5mm。可用于透射光和反射光两种。

偏光显微镜MHPL3230（透反射）偏光显微镜MHPL3230是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。产品配置无应力平场消色差物镜与大视野目镜，高精度偏光载物台，优良的偏振观察附件等。可在透射偏光、反射偏光与透/反射偏光状态下获得良好的显微图像，仪器机械性能优良，观察舒适，操作方便。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。偏光显微镜MHPL3230（透反射）产品展示：偏光显微镜MHPL3230偏光显微镜MHPL3230（透反射）性能特点：▲采用无限远光学系统及模块化功能设计。 ▲配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。▲广角平场目镜：视场直径Ф22mm。▲粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。 ▲偏光观察装置可移入或移出光路，起偏器与检偏器均可360°旋转。▲旋转式载物台，360°等分刻度,游标格值6'，中心可调，带锁紧装置，工作台垂直有效行程可达30mm。▲宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明，亮度可调。▲三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可完全通光，适合低照度显微图像拍摄。偏光显微镜MHPL3230（透反射）外形尺寸：偏光显微镜MHPL3230（透反射）参数配置：1.标准配置型号MHPL3230（透反射照明）目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格 物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离：26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离：20.2 mmPL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mmPL L60X/0.75（弹簧） 工作距离：2.03 mm落射照明系统12V30W卤素灯，亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360&ring 旋转,带刻度和微动游标内置视场与孔径光栏转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30&ring , 可进行100%透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm2.可选配件: 名称类别/技术参数物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L 20X/0.40工作距离：8.80mmPL L50X/0.70（弹簧） 工作距离：3.68 mmPL L80X/0.80（弹簧） 工作距离：1.25 mmPL L100X//0.85(弹簧) 工作距离：0.4 mm转换器五孔 (内向式滚珠内定位)移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X,0.5X,1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)

有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。X射线残余应力分析仪采用了X射线衍射法，是比较流行，准确，可靠的测量方法。其轻便精巧的设计扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 多点曝光模式，互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 X射线残余应力分析仪测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。北京华欧世纪光电技术有限公司代理各类X射线应力分析仪，残余应力检测分析仪，残余应力测定仪，残余奥氏体检测仪，激光小孔法应力分析仪，磨削烧伤检测仪，热处理硬度分拣仪，曲轴表面质量检查仪，凸轮轴表面质量检查仪，轴承表面质量检查仪，齿轮表面质量检查仪，变速箱烧伤检测仪，飞机起落架烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪 主要技术参数:采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

MP41透反射偏光显微镜（亦称矿相显微镜或矿石显微镜）是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户进行单偏光观 察，正交偏光观察，锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验，也可进行液态高分子材料，生物聚合 物及液晶材料的晶相观察，是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。MP41透反射偏光显微镜性能特点：采用无限远光学系统及模块化功能设计。配置无穷远无应力长工作距离平场物镜。广角平场目镜：视场直径Ф22mm。粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带限位锁紧装置，微动格值:2μm。偏光观察装置可移入或移出光路，起偏器与检偏器均可360°旋转。旋转式载物台，360°等分刻度,游标格值6'，中心可调，带锁紧装置，工作台垂直有效行程可达 30mm。宽电压电源(85-265V 50/60Hz). 6V30W卤素灯照明，亮度可调。三目镜筒可自由切换目视观察与显微摄影，摄影时可通光，适合低照度显微图像拍摄。什么是矿相显微镜？矿相显微镜亦称反射偏光显微镜或矿石显微镜，它是矿相学研究工作的基本工具。矿相显微镜实际上是由一台偏光显微镜加一套“垂直照明系统”组成。矿相显微镜的镜体与一般偏光显微镜（岩石显微镜）基本相同。它是地质、矿产、冶金等部门和高等院校相关学科的专业实验仪器之一。适合电子、地质、矿产、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资,如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非鑫属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。透反射式矿相显微镜不仅能实时观察动态图像，还能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。透反射式矿相显微镜广泛应用于生物学、细胞学、组织学、药物化学等研究工作。优势：可为广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察，放大倍数50X-1000X，可满足不同需求。实拍图片纤维观察岩石偏光观察岩石偏光观察产品参数项目 规格 目镜WF10X/22分划目镜 10X/22，格值0.1mm/格目镜筒30°倾斜，三目镜，两档分光物镜长工作距离平场消色差物镜 PL L5X/0.12 工作距离：26.1mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 10X/0.25工作距离：20.2mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 40X/0.60(弹簧)工作距离：3.98mm长工作距离平场消色差物镜 PL L 60X/0.70(弹簧)工作距离：3.18mm物镜转换器四孔内向式滚珠内定位转换器载物台旋转式载物台 ，直径Ф150mm，360°等分刻度，游标格值6’，中心可调，带锁紧装置落射照明系统5W LED光源，色温6000K，亮度可调（6V30W卤素灯可选）内置视场光阑、孔径光阑(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置检偏器，可360°旋转，带刻度和微动游标起偏器，可360°旋转中间接筒推入式勃氏镜，中心可调石膏λ补偿器；云母λ/4补偿器；石英楔补偿器调焦机构粗微调同轴，配有限位装置和锁紧装置，微调手轮格值2μm透射照明系统5W LED光源，色温6000K，亮度可调（6V30W卤素灯可选）阿贝聚光镜，可上下升降，NA1.25蓝滤色片磨砂玻璃起偏器，可360°旋转，有0、90、180、270四个读数相机接口1XC

偏光显微镜可以观察岩石中不同矿物的晶体形态、解理、裂隙和包裹体等特征，以及岩石的显微构造和组分分布等。在地质学研究中，偏光显微镜是研究岩石微观结构和成分的重要工具之一。透反射偏光显微镜MHPL3230是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。透反射偏光物镜，无限远光学系统，透射光6V30W卤素灯、落射光6V30W卤素灯，配备5X,10X,40X,60X无应力偏光物镜。数码型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。反射偏光显微镜主要用于研究矿物的反射率、反射色、光泽等特性，常用于金属矿物和宝石学的观察和研究。观察和研究矿物的晶体形态、生长习性、内部结构和光学性质等，有助于矿物的分类和鉴别。偏光显微镜MHPL3230技术参数：1.标准配置型号MHPL3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离：26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离：20.2 mmPL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mmPL L60X/0.75（弹簧） 工作距离：2.03 mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360&ring 旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光栏转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30&ring , 可进行100%透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm2.可选配件:名称类别/技术参数物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L 20X/0.40工作距离：8.80mmPL L50X/0.70（弹簧） 工作距离：3.68 mmPL L80X/0.80（弹簧） 工作距离：1.25 mmPL L100X//0.85(弹簧) 工作距离：0.4 mm转换器五孔 (内向式滚珠内定位)移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头 0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)

主要特点 1. 小型化轻量化的紧凑型设计小型化设计的测试头单元测试头尺寸：114 mm(W)×248 mm(D)×111 mm(H)重量：3 kg是目前世界上最小最轻的X射线应力分析仪可以对内径200 mm圆筒内壁进行测试 2. 使用半导体型二维探测器进行快速测试使用两张半导体面探实现装置的小型化可以一次得到大量的二维信息测试时间大大缩短 3. 操作安全，X射线照射的防护措施激光定位仪测算相机长度3轴加速度传感器测定测试头倾斜情况可以提供X射线遮蔽外罩（在实验室使用，选件） 4. 触屏平板电脑控制操作简单便捷可进行作业现场测试从而保证工作效率通过有线LAN或无线LAN（Wi-Fi）*1控制测试操作

芬兰品质X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。芬兰品质X射线残余应力分析仪采用固态线性探测器技术， 可将X射线直接转换成电信号。起基本构成如下：— 采用改进的Ψ衍射几何（对称侧倾法）的紧凑测角仪G2，具有双侧512 通道线性成像探测器。标准Ψ角范围是 –45°至 +45°，单点曝光几何、 扩展Ψ角（–45°至 +60°）和Φ旋转为可选功能。所有动作由计算机控制的高 精度直流伺服马达执行。芬兰制造X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。作为一个单一紧凑的便携式装置并配置了各种安全锁系统的设计和制造满足对辐射装置的所有工业安全标准。芬兰品质X射线残余应力分析仪主要应用领域：航天、航空、船舶、汽车制造、3D打印、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。

北京华欧世纪光电技术有限公司是主要代理便携式X射线残余应力分析仪，残余应力分析仪，应力测定仪，X射线应力分析仪，X射线应力检测仪，便携式X射线应力分析仪，曲轴磨削烧伤检测仪，轴承磨削烧伤检测仪，凸轮轴磨削烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空，石化、电力，锅炉压力容器，机械加工与制造，汽车制造，科研机构等领域。 便携式X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低，延长工件使用寿命，避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。便携式X射线残余应力分析仪中央系统，包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。— 笔记本或台式电脑。配置了各种安全锁，满足工业安全标准。Stresstech Oy总部设在芬兰，是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂，自成立以来，就服务于各地的客户，提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。