高功率参数分析仪

SPM600 系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。功能：■ 光谱响应度■ 单色光/变功率IV；■ 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）■ 不同偏压下的IT曲线■ LBIC，Mapping■ 线性度测试■ 响应速率测试■ 瞬态光电压（载流 子迁移率）■ 瞬态光电流（载流子扩散长度）光源选项卓立汉光根据样品光谱相应范围选择适合的光源，如EQ 光源，氙灯光源，氙灯溴钨灯复合光源。EQ光源特点：■ 光谱范围宽：190-1700nm宽光谱范围；■ 光源本身发光点小，百微米级别；■ 紫外波段亮度高；■ 寿命长，理论寿命可达9000h；■ 体积小，重量轻；散热好；氙灯光源特点：■ 光谱范围宽：250-1700nm宽光谱范围；■ 光源本身发光点较小，mm级别；■ 总功率大，亮度高；适合紫外-可见-近红外光谱测试；■ 灯泡更换简单，成本低；氙灯卤素灯双光源特点：■ 光谱范围：250-2500nm■ 适合紫外、可见、近红外，且可见、近红外波段光谱平滑■ 灯泡更换简单，成本低。数采选项测试案例

水质五参数分析仪 XY-2080水质五参数分析仪 XY-2080的产品概述XY-2080型便携式水质多参数分析仪（下称分析仪）是依据国标要求，结合客户的需求，所研发的水质分析仪。该分析仪适用于大、中、小型水厂及工矿企业、生活或工业用水、浊度，pH（酸碱度）和溶解氧、电导率、温度的检测，以便控制水质的pH（酸碱度）和溶解氧、电导率、浊度、温度指标达到规定的要求。水质五参数分析仪 XY-2080的执行标准GB 3838-2002 《地表水质量标准》GB T 5750.1-2006 《生活饮用水标准检验方法 总则》HJ T 96-2003 《pH水质自动分析仪技术要求》HJ T 97-2003 《电导率水质自动分析仪技术要求》HJ T 98-2003 《浊度水质自动分析仪技术要求》HJ T 99-2003 《溶解氧(DO)水质自动分析仪技术要求》产品特点1．小巧便携：手持式设计，内置锂电池供电，方便现场携带。2．多种组合：五种传感器探头课自由组合连接测量。3．操作简单：全彩液晶触摸屏，全中文系统，界面简洁易操作。4．数据导出：可连接便携式蓝牙打印机，无线打印测量数据，方便快捷(选配)。5．测量迅速：传感器测量迅速，相应快，精度高。6．超大容量：历史数据记录可查询，可以存储10000组采样数据。技术参数主要参数参数范围电池工作时间≥8h主机工作温度5~40℃电池容量18.5V 1100mAh电源适配器DC21V 2A浊度测量范围0~1000NTU测量误差±5%FS响应时间≤10sec工作温度0~40℃测量原理90°光散射法使用寿命正常使用2年防水等级IP68外壳材质耐腐蚀塑料pH测量范围0.00~14.00pH工作温度0~60℃零点电位7±0.5pH（25℃）电导电极50~2000μS/cm百分理论斜率（PTS）≥98.5%（25℃）内阻≤250MΩ（25℃）碱误差0.2pH（1mol/L Na+pH14）（25℃）响应时间≤1分钟质量保证期（储存期）1年电导率测量范围50~2000μS/cm电导池常数K1±0.2测量误差±1%质量保证期（储藏期）1年溶解氧测量范围0.00~19.99mg/L测量精度±0.3mg/L响应时间30sec（20℃时，90%响应）被测样品温度5~45℃质量保质期（储存期）1年温度长度1米测温范围-50~200℃测量误差±0.35℃导线材质内部镀银屏蔽线，外壳防水环氧树脂整机功率≤6W外形尺寸长×宽×高=250×135×60mm整机重量约1.2kg

半导体参数分析仪概述：SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计，SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现高效和可重复的器件表征 也可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。产品特点：30μV-1200V；1pA-100A宽量程测试能力；测量精度高，全量程下可达0.03%精度；内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；免费提供上位机软件及SCPI指令集；典型应用：纳米、柔性等材料特性分析；二极管；MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；第三代半导体材料/器件；有机OFET器件；LED、OLED、光电器件；半导体电阻式等传感器；EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；电阻率系数和霍尔效应测量；太阳能电池；非易失性存储设备；失效分析；系统技术规格半导体电学特性测试系统CV+IV测试仪订货信息模块化构成：低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V，Z大直流1A或3A可选-最小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线，四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选，Z大脉冲电流10A或30A可选-最小电流分辨率1pA-最小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线，四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1% -Z大电压1200V,Z大直流100mA-最小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V，Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-最小电流分辨率10pA-最小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz，可选配至10MHz-支持高压DC偏置，Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试，C-V、 C-f、 C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征，往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试，都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU)，具有四象限，多量程，支持四线测量等功能，可用于输出与检测高精度、微弱电信号，是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配，实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案 针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点，可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiC MOS、GaN等单管，模组类产品的测试 也可与探针台连接，实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图